JP2017000482A

JP2017000482A - Ｘ線診断装置

Info

Publication number: JP2017000482A
Application number: JP2015118398A
Authority: JP
Inventors: 由康林; Yoshiyasu Hayashi
Original assignee: Toshiba Medical Systems Corp
Current assignee: Canon Medical Systems Corp
Priority date: 2015-06-11
Filing date: 2015-06-11
Publication date: 2017-01-05
Anticipated expiration: 2035-06-11
Also published as: US10206636B2; US20160361034A1; JP6647806B2

Abstract

【課題】操作および手技の効率化を可能とするＸ線診断装置の提供すること。【解決手段】第１機器１１は、検査室に設けられＸ線診断に用いられる。第２機器１３は、検査室に設けられＸ線診断に用いられる。入力デバイス５７は、第１機器１１の目的位置への移動指示を入力する。第２位置検出回路２５は、第２機器の位置を検出する。駆動制御回路６５は、第１機器１１を移動指示に従い目的位置へ移動させるために第１機器１１と第２機器１３とを制御する。駆動制御回路６５は、第１機器１１が移動指示を受けて目的位置への移動を開始し、第１機器１１が第２機器１３と所定の間隔に近づいたことを契機に第２機器１３を退避させながら第１機器１１の目的位置への移動を続行し、その後、第２機器１３を第２位置検出回路２５により取得された位置である前記退避前の位置に戻す。【選択図】図１

Description

本発明の実施形態は、Ｘ線診断装置に関する。

主にバイプレーン型のＸ線診断装置では、アーム同士の衝突を防ぐために干渉制御が行われる。図５は、干渉制御について説明するための模式図である。第１アームが動き第２アームと所定の間隔以内に近づくと干渉制御が行われ、減速やアラーム通知などが行われる。

干渉制御として、第１アームを動かすと第２アームが連動して動き、アーム同士が干渉しないように相対角度を維持したまま動作する技術がある。また、第１アームを動かしたときに第２アームが部分的に退避動作を行い干渉しにくくする技術がある。

干渉制御では第１アームの動作終了後、第１アームの動作に連動して動いた第２アームは第１アームの邪魔になるため、手動で任意の位置に移動させる必要がある。

特開２００４−２７５７４５号公報

目的は、操作および手技の効率化を可能とするＸ線診断装置を提供することにある。

本実施形態に係るＸ線診断装置は、検査室に設けられ、Ｘ線診断に用いられる第１機器と、前記検査室に設けられ、Ｘ線診断に用いられる第２機器と、前記第１機器の目的位置への移動指示を入力するための移動指示入力デバイスと、前記第２機器の位置を検出する位置検出回路と、前記第１機器を前記移動指示に従い前記目的位置へ移動させるために前記第１機器と前記第２機器とを制御する制御回路と、を具備するＸ線診断装置であって、前記制御回路は、前記第１機器が前記移動指示を受けて前記目的位置への移動を開始し、前記第１機器が前記第２機器と所定の間隔に近づいたことを契機に前記第２機器を退避させながら前記第１機器の前記目的位置への移動を続行し、その後、前記第２機器を前記位置検出回路により取得された位置である前記退避前の位置に戻す。

本実施形態に係るＸ線診断装置の構成図本実施形態に係る自動退避機能および自動復元機能の模式図本実施形態に係る自動退避機能および自動復元機能の典型的な流れを示す図本実施形態に係る優先順位表の一例を示す図従来例に係る干渉制御について説明するための模式図

以下、図面を参照しながら実施形態に係るＸ線診断装置を説明する。なお、以下の説明において、略同一の機能及び構成を有する構成要素については、同一符号を付し、重複説明は必要な場合にのみ行う。

説明を簡単にするために、本実施形態に係るＸ線診断装置はバイプレーン型のＸ線診断装置であるとする。Ｘ線診断装置は、検査室に設けられる。なおＸ線診断装置はもちろんバイプレーン型にとらわれず他のＸ線診断装置でも良い。

撮影機構１０は、第１機器１１と第２機器１３とを備える。第１機器１１と第２機器１３とは、例えばアーム、モニタ台、天板、寝台、各種台およびフットスイッチ等である。以下の説明をわかりやすくするため、第１機器１１と第２機器とは、アームであるとする。なお第１機器１１と第２機器とは、Ｘ線コンピュータ断層撮影（Ｃｏｍｐｕｔｅｄ＿Ｔｏｍｏｇｒａｐｈｙ：ＣＴ）装置および磁気共鳴イメージング（Ｍａｇｎｅｔｉｃ＿Ｒｅｓｏｎａｎｃｅ＿Ｉｍａｇｉｎｇ：ＭＲＩ）装置でも良い。

図１は、本実施形態に係るＸ線診断装置の構成図である。Ｘ線診断装置１は、撮影機構１０とコンソール５０とを有する。第１アーム１１と第２アーム１３とは、金属や強化プラスチック等により形成される。第１アーム１１は、第１Ｘ線管１５と第１Ｘ線検出器１７とを互いに向き合うように支持する。第１アーム１１は、第１Ｘ線管１５と第１Ｘ線検出器１７とを移動自在に支持する。第１Ｘ線管１５は、高電圧発生器１６から高電圧の印加とフィラメント電流の供給とを受けてＸ線を発生する。第１Ｘ線検出器１７は、例えば平面検出器（Ｆｌａｔ＿Ｐａｎｅｌ＿Ｄｅｔｅｃｔｏｒ：ＦＰＤ）により実現される。ＦＰＤは、２次元状に配列された複数の画素を有する。各画素は、第１Ｘ線管１５から発生されたＸ線を検出し、検出されたＸ線を電気信号に変換する。第１Ｘ線検出器１７は、変換された電気信号を後述するデータ収集回路５１に出力する。また第２アーム１３は、第２Ｘ線管１９と第２Ｘ線検出器２１とを互いに向き合うように支持する。第２アーム１３は、第２Ｘ線管１９と第２Ｘ線検出器２１とを移動自在に支持する。第２Ｘ線管１９は、高電圧発生器１６から高電圧の印加とフィラメント電流の供給とを受けてＸ線を発生する。第２Ｘ線検出器２１は、例えば平面検出器（ＦＰＤ）により実現される。ＦＰＤは、２次元状に配列された複数の画素を有する。各画素は、第２Ｘ線管１９から発生されたＸ線を検出し、検出されたＸ線を電気信号に変換する。第２Ｘ線検出器２１は、変換された電気信号を後述するデータ収集回路５１に出力する。

なお具体的には、第１アーム１１はＦ（Ｆｒｏｎｔａｌ）側アーム１１、第２アーム１３はＬ（Ｌａｔｅｒａｌ）側アーム１３である。また、Ｆ側アーム１１とＬ側アーム１３とは可逆である。

また、第１アーム１１には、第１位置検出回路２３が設けられる。第１位置検出回路２３は、第１アーム１１の位置を検出する。第１アーム１１の位置は例えば、回転軸回りの角度で定義される。なお第１機器１１が寝台または天板の場合は水平位置で定義される。位置の定義は機器の種類によって異なる。第１位置検出回路２３は具体的には、位置センサ、磁気センサおよびＧＰＳ（Ｇｌｏｂａｌ＿Ｐｏｓｉｔｉｏｎｉｎｇ＿Ｓｙｓｔｅｍ）等により実現される。第１位置検出回路２３は例えば、第１アーム１１の先端位置を検出する。同様に、第２アーム１３には、第２位置検出回路２５が設けられる。第２位置検出回路２５は、第２アーム１３の位置を検出する。第２アーム１３の位置は例えば、回転軸回りの角度で定義される。なお第２機器１３が寝台または天板の場合は水平位置で定義される。位置の定義は機器の種類によって異なる。第２位置検出回路２５は具体的には、位置センサ等により実現される。第２位置検出回路２５は例えば、第２アーム１３の先端位置を検出する。

また、第１アーム１１には、第１干渉検出回路２７が設けられる。第１干渉検出回路２７は、第１アーム１１に対する他の機器の干渉を検出する。具体的には、第１干渉検出回路２７は位置センサ等により実現される。第１位置検出回路２３は例えば、第１アーム１１に所定の間隔（以下、干渉領域と呼ぶ）まで第２アーム１３が近接したことを検出する。また第１干渉検出回路２７または第２干渉検出回路２９は、第２アーム１３の検出された位置（退避動作を行う前の元の位置）と、第１アーム１１が目的位置に到達したときの第２アーム１３の位置との間における障害物の有無を検知する。第１干渉検出回路２７は、第１アーム１１に対する他の機器の干渉を検出する機能を利用して、障害物の有無を検知する。同様に、第２干渉検出回路２９は、第２アーム１３に対する他の機器の干渉を検出する。具体的には、第２干渉検出回路２９は位置センサ等により実現される。また第２位置検出回路２５は、第２アーム１３が目的位置に到達したときの第１アーム１１の位置との間における障害物の有無を検知する。第２干渉検出回路２９は、第２アーム１３に対する他の機器の干渉を検出する機能を利用して、障害物の有無を検知する。第２位置検出回路２５は例えば、第２アーム１３の干渉領域まで第１アーム１１が近接したことを検出する。

第１アーム駆動回路３１は、後述する駆動制御回路６５の制御により、第１アーム１１を回転させるための動力を発生する。第１アーム１１は、第１アーム駆動回路３１からの動力を受けて回転する。第１アーム駆動回路３１は、例えばサーボモータ等のモータにより実現される。第２アーム駆動回路３３は、後述する駆動制御回路６５の制御により、第２アーム１３を回転させるための動力を発生する。第２アーム１３は、第２アーム駆動回路３３からの動力を受けて回転する。第２アーム駆動回路３３は、例えばサーボモータ等のモータにより実現される。

また、本実施形態に係るＸ線診断装置は、撮影機構１０の他にコンソール５０を有する。コンソール５０は、データ収集回路５１と、画像発生器５３と、画像処理回路５５と、入力デバイス５７と、主記憶装置５９と、ディスプレイ６１と、インターフェース回路６３と、駆動制御回路６５と、Ｘ線制御回路６７と、システム制御回路６９と、を備える。

データ収集回路５１は、第１Ｘ線検出器１７の各画素の電気信号を読み出し、読み出した電気信号をディジタル変換してディジタルデータ発生する。データ収集回路５１は、プログラムを実行するための例えばメモリと所定のプロセッサとの組み合わせによって実現される。具体的にはデータ収集回路５１は、第１Ｘ線検出器１７の各画素の電気信号を電圧に変換するＩ−Ｖ変換器と、この電圧信号をＸ線の曝射周期に同期して周期的に積分する積分器と、この積分器の出力信号を増幅するアンプと、このアンプの出力信号をディジタル信号変換するアナログ・ディジタル・コンバータとを有する。データ収集回路５１は、ディジタルデータを画像発生器５３に出力する。データ収集回路５１は、第２Ｘ線検出器２１の各画素の電気信号を読み出し、読み出した電気信号をディジタル変換してディジタルデータ発生する。具体的にはデータ収集回路５１は、第２Ｘ線検出器２１の各画素の電気信号を電圧に変換するＩ−Ｖ変換器と、この電圧信号をＸ線の曝射周期に同期して周期的に積分する積分器と、この積分器の出力信号を増幅するアンプと、このアンプの出力信号をディジタル信号変換するアナログ・ディジタル・コンバータとを有する。データ収集回路５１は、ディジタルデータを画像発生器５３に出力する。

画像発生器５３は、データ収集回路５１から出力されたディジタルデータにログ変換等の前処理を施して、Ｘ線画像を発生する。画像発生器５３は、発生したＸ線画像を主記憶装置５９に出力する。

画像処理回路５５は、画像発生器５３により発生されたＸ線画像に対して画像処理を行う。画像処理回路５５は、プログラムを実行するための例えばメモリと所定のプロセッサとの組み合わせによって実現される。画像処理回路５５は例えば、アーチファクトの補正処理等を行う。

入力デバイス５７は、操作者等からの各種指示、命令、情報、選択、設定等をシステム制御回路６９に入力する。具体的には入力デバイス５７は、操作者等からの第１アーム１１の目的位置への移動指示の入力を受け付ける。入力デバイス５７は、トラックボール、スイッチボタン、マウス、キーボード等によって実現される。

主記憶装置５９は、入力デバイス５７から供給される操作者からの指示を記憶する。主記憶装置５９は、種々のデータを記憶する。また、主記憶装置は、画像発生器５３で発生されたＸ線画像等を記憶しても良い。主記憶装置５９は、記憶したＸ線画像を適宜、ディスプレイ６１およびインターフェース回路６３等へ出力する。

ディスプレイ６１は、種々の情報をモニタに表示する。ディスプレイ６１は例えば、画像発生器５３により発生されたＸ線画像を表示する。またディスプレイ６１は、主記憶装置５９に記憶されている任意の画像を読み込み表示しても良い。

インターフェース回路６３は、ネットワークを介して図示していないＰＡＣＳ（Ｐｉｃｔｕｒｅ＿Ａｒｃｈｉｖｉｎｇ＿ａｎｄ＿Ｃｏｍｍｕｎｉｃａｔｉｏｎ＿Ｓｙｓｔｅｍｓ）や他のコンピュータに接続される。

駆動制御回路６５は、入力デバイス５７を介した操作者の移動指示に従い第１アーム１１を目的位置へ移動させるために、第１アーム１１と第２アーム１３とを制御する。駆動制御回路６５は、プログラムを実行するための例えばメモリと所定のプロセッサとの組み合わせによって実現される。駆動制御回路６５は、第１アーム１１が移動指示を受けて目的位置への移動を開始した後に、第２アーム１３に後述する自動退避機能を実行させる。駆動制御回路６５は、第１アーム１１が目的位置に到達したことを契機に、第２アーム１３に後述する自動復元機能を実行させる。

Ｘ線制御回路６７は、システム制御回路６９からの指示に従って、高電圧発生器１６を制御する。Ｘ線制御回路６７は、プログラムを実行するための例えばメモリと所定のプロセッサとの組み合わせによって実現される。

システム制御回路６９は、Ｘ線診断装置１の中枢として機能する。システム制御回路６９は、プログラムを実行するための例えばメモリと所定のプロセッサとの組み合わせによって実現される。システム制御回路６９は、Ｘ線診断装置１に含まれる各構成要素を統括的に制御し、本実施形態に係る各種動作を実現する。
（自動退避機能および自動復元機能）
図２を参照しながら、本実施形態における自動退避機能および自動復元機能について説明する。図２は、本実施形態に係る自動退避機能および自動復元機能の模式図である。

第１アーム１１が回転するに際して、第２干渉検出回路２９は常に第１アーム１１の干渉領域への侵入を検出可能な状態にある。第１アーム１１が回転し（状態Ｓ１１）、第２アーム１３の干渉領域に達すると、システム制御回路６９は駆動制御回路６５を制御し、第２アーム１３の自動退避機能を開始させる（状態Ｓ１２）。状態Ｓ１２において第２アーム１３の自動退避機能が開始されると、第２アーム１３を退避させながら第１アーム１１の目的位置への移動を続行する。上記第２アーム１３の退避動作を、自動退避機能と呼ぶことにする。自動退避機能により、第１アーム１１を第２アーム１３との干渉を気にせずに目的位置に動かすことができる。なお、モニタ台など他の機器と併せて動かす必要のない機器は、主記憶装置５９に予め記憶された所定の位置へ退避される。

自動退避機能により第１アーム１１が目的位置へ辿り着いた時点（状態Ｓ１３）に第２アーム１３が動作可能かつ元の位置に戻ることが可能な場合（状態Ｓ１４）、システム制御回路６９は駆動制御回路６５を制御し、第２アーム１３を元の位置に戻させる（状態Ｓ１５）。上記第２アーム１３の元の位置に戻る動作を、自動復元機能と呼ぶことにする。自動復元機能により第２アームが退避した位置から元の位置に戻っているため、第１アーム１１の次の動作を行う際に第２アームが邪魔にならずに済む。

次に、図３を参照しながら、本実施形態における一連の動作例を説明する。図３は、本実施形態に係る自動退避機能および自動復元機能の典型的な流れを示す図である。なお第１アーム１１が回転するに際して、第２干渉検出回路２９は常に第１アーム１１の干渉領域への侵入を検出可能な状態にある。

まずシステム制御回路６９は、駆動制御回路６５を制御し、第１アーム１１を回転させる（ステップＳ２１）。

ステップＳ２１が行われるとシステム制御回路６９は、第２干渉検出回路２９に、第１アーム１１が第２アーム１３に所定の間隔（干渉領域）まで近づいたことを契機に第１アーム１１が干渉領域に侵入したことを検出させる（ステップＳ２２）。

ステップＳ２２が行われるとシステム制御回路６９は、駆動制御回路６５を制御し、第２アーム１３が退避動作可能か否かを判定させる（ステップＳ２３）。ステップＳ２３において駆動制御回路６５は、第１アーム１１と第２アーム１３とが干渉領域に近づいたことを契機に、第２アームが後述するステップＳ２５において取得された位置から退避しながら第１アーム１１の目的位置への移動を続行させる退避動作ができるか否かを判定する。退避する第２アーム１３が他の機器に干渉して動けない場合には退避動作はできない。また、照射野の支持部またはモニタ台は照射中の退避動作はできない。なお、各機器の優先順位の関連付けが主記憶装置５９に記憶されても良い。図４は、本実施形態に係る優先順位表の一例を示す図である。各機器の優先順位の関連付けとは、第２機器が第１機器よりも優先順位が高い場合には第２機器は自動復元機能を発動せず、第２機器が第１機器よりも優先順位が低いまたは優先順位が等しい場合には第２機器は前記復元動作を受けるということを示すものである。具体的には、モニタ台を動かした場合、モニタ台よりも優先順位の高い第１アームは動かない。逆に第１アームを動かした場合、優先順位の低いモニタ台は動く。絶対に動いてはいけない物は、優先順位最上位に位置づけられる。駆動制御回路６５は、第１機器が移動指示を受けて移動を開始し、第２機器と所定の間隔に近づいたことを契機に第２機器を第１機器と前記所定の間隔を保ちながら退避させ、第１機器が前記目的位置に到達したことを契機に第２機器を前記優先順位に従って動作する。

ステップＳ２３が行われるとシステム制御回路６９は、駆動制御回路６５を制御し、第２アーム１３の自動退避機能を開始にさせる（ステップＳ２４）。ステップＳ２４において第２アーム１３との自動退避機能が開始されるとその後、第１アーム１１は第２アーム１３を退避させながら目的位置への移動を続行する。

ステップＳ２４において自動退避機能が開始されたことを契機に、システム制御回路６９は第２位置検出回路２５に、第２アーム１３の現在位置を取得させる（ステップＳ２５）。

ステップＳ２５が行われ第１アーム１１が目的位置に達すると、第１アーム１１の動作は終了する（ステップＳ２６）。

ステップＳ２６が行われるとシステム制御回路６９は、駆動制御回路６５を制御し、第２アーム１３の一連の自動復元機能を開始させる（ステップＳ２７）。ステップＳ２７において駆動制御回路６５は、第１アーム１１の動作が終了したことを契機に、第２アーム１３がステップＳ２５において検出された位置に戻る復元動作を行うよう第２アーム１３を制御する。駆動制御回路６５は、Ｘ線管が照射中でない場合または照射準備完了の状態でない場合に、第２アーム１３をステップＳ２５において取得された位置に戻すよう第２アーム１３を制御する。

ステップＳ２７が行われると入力デバイス５７は、操作者による自動復元機能の中止指示を待機する（ステップＳ２８）。ステップＳ２８において入力デバイス５７は、第２アーム１３が自動復元機能を開始した後に、自動復元機能の中止が入力されることを待機する。ステップＳ２８において操作者による自動復元機能の中止指示が入力された場合、一連の動作は終了する。その後駆動制御回路６５は、第２アーム１３をステップＳ２５において検出された位置に戻す。なお駆動制御回路６５は、第２アーム１３をその場に停止させても良い。また、操作者による任意の中止操作の他に、移動先で照射された場合などにも自動で中止指示が入力される。なお自動の中止指示は設定により動作可否いずれに設定されても良い。

ステップＳ２８においてＮＯの場合システム制御回路６９は、自動復元機能が続行可能か否かを判定させる（ステップＳ２９）。ステップＳ２９においてＮＯの場合、ステップＳ２８に戻る。なお、第２アーム１３が自動復元機能を開始した後にＸ線管が照射された場合、自動復元機能を途中で取り消し第２アーム１３をその場に停止させる。

ステップＳ２９においてＹＥＳの場合システム制御回路６９は、駆動制御回路６５を制御し、第２アーム１３の復元動作を行わせる（ステップＳ３０）。ステップＳ３０において駆動制御回路６５は、移動してきた経路を辿って第２アーム１３をステップＳ２５において取得された位置に戻す。また、駆動制御回路６５は、第１アーム１１が目的位置に到達したときの第２アーム１３の位置から第２アーム１３のステップＳ２５において取得された位置への複数の経路にかかる時間を計算しても良い。複数の経路にかかる時間は、複数の経路における距離と移動速度を用いて計算される。駆動制御回路６５は、複数の経路のうち、最短時間の経路を決定する。駆動制御回路６５は、最短時間の経路を通って前記第２機器を自動復元させる。

上記のとおり、本実施形態に係るＸ線診断装置は、第１機器１１が第２機器１３と所定の間隔に近づいたことを契機に、第２機器１３を退避させながら第１機器１１の目的位置への移動を続行する自動退避機能を実現することができる。自動退避機能により、第１機器１１を第２機器１３との干渉を気にせずに目的位置に動かすことができる。また本実施形態に係るＸ線診断装置は、第１機器１１が目的位置に到達したことを契機に位置検出回路により取得された位置に戻す自動復元機能を実現することができる。自動復元機能により第２機器が退避した位置から元の位置に戻っているため、第１機器１１の次の動作を行う際に第２機器が邪魔にならずに済む。かくして、本実施形態によれば、操作および手技の効率化を可能とするＸ線診断装置を提供することができる。

なお、上記説明において用いた「プロセッサ」という文言は、例えば、専用又は汎用のprocessor, circuit (circuitry), processing circuit (circuitry), operation circuit (circuitry), arithmetic circuit(circuitry)或いは、特定用途向け集積回路（Application Specific Integrated Circuit : ASIC）、プログラマブル論理デバイス（例えば、単純プログラム論理デバイス(Simple Programmable Logic Device : SPLD)）、復号プログラマブル論理デバイス(Complex Programmable Logic Device : CPLD)）、及びフィールドプログラマブルゲートアレイ(Field Programmable Gate Array : FPGA)）等を意味する。また、本実施形態の各構成要素（各処理部）は、単一のプロセッサに限らず、複数のプロセッサによって実現するようにしてもよい。さらに、複数の構成要素（複数の処理部）を、単一のプロセッサによって実現するようにしてもよい。

本発明のいくつかの実施形態を説明したが、これらの実施形態は、例として提示したものであり、発明の範囲を限定することは意図していない。これら新規な実施形態は、その他の様々な形態で実施されることが可能であり、発明の要旨を逸脱しない範囲で、種々の省略、置き換え、変更を行うことができる。これら実施形態やその変形は、発明の範囲や要旨に含まれるとともに、特許請求の範囲に記載された発明とその均等の範囲に含まれるものである。

１…Ｘ線診断装置、１０…撮影機構、１１…第１機器、１３…第２機器、１５…第１Ｘ線管、１６…高電圧発生器、１７…第１Ｘ線検出器、１９…第２Ｘ線管、２１…第２Ｘ線検出器、２３…第１位置検出回路、２５…第２位置検出回路、２７…第１干渉検出回路、２９…第２干渉検出回路、３１…第１アーム駆動回路、３３…第２アーム駆動回路、５０…コンソール、５１…データ収集回路、５３…画像発生器、５５…画像処理回路、５７…入力デバイス、５９…主記憶装置、６１…ディスプレイ、６３…インターフェース回路、６５…駆動制御回路、６７…Ｘ線制御回路、６９…システム制御回路

Claims

検査室に設けられ、Ｘ線診断に用いられる第１機器と、
前記検査室に設けられ、Ｘ線診断に用いられる第２機器と、
前記第１機器の目的位置への移動指示を入力するための移動指示入力デバイスと、
前記第２機器の位置を検出する位置検出回路と、
前記第１機器を前記移動指示に従い前記目的位置へ移動させるために前記第１機器と前記第２機器とを制御する制御回路と、を具備するＸ線診断装置であって、
前記制御回路は、前記第１機器が前記移動指示を受けて前記目的位置への移動を開始し、前記第１機器が前記第２機器と所定の間隔に近づいたことを契機に前記第２機器を退避させながら前記第１機器の前記目的位置への移動を続行し、その後、前記第２機器を前記位置検出回路により取得された位置である前記退避前の位置に戻す、
Ｘ線診断装置。
前記第２機器の前記検出された位置と、前記第１機器が前記目的位置に到達したときの前記第２機器の位置との間における障害物の有無を検知する検知デバイスをさらに備える、請求項１記載のＸ線診断装置。
前記第１機器は、アーム、モニタ台、寝台または天板である、請求項１のＸ線診断装置。
前記第２機器は、アーム、モニタ台、寝台または天板である、請求項１のＸ線診断装置。
前記第１機器は第１のＸ線管と第１のＸ線検出器とを支持する第１アームであり、
前記第２機器は第２のＸ線管と第２のＸ線検出器とを支持する第２アームである、請求項１記載のＸ線診断装置。
前記位置検出回路により検出される前記位置は、前記アームの回転角度により規定される、請求項５記載のＸ線診断装置。
前記制御回路は、前記Ｘ線管が照射中でない場合または照射準備完了の状態でない場合に、前記アームを前記取得された位置に戻すよう前記アームを制御する、請求項５記載のＸ線診断装置。
前記第１機器と前記第２機器とが前記所定の間隔に近づいたことを契機に、前記第２機器が前記取得された位置から退避しながら前記第１機器の前記目的位置への移動を続行させる退避動作ができるか否かを判定する退避動作可否判定回路をさらに備える、請求項１記載のＸ線診断装置。
前記制御回路は、前記第１機器の動作が終了したことを契機に、前記第２機器が前記検出された位置に戻る復元動作を行うよう前記第２機器を制御する、請求項１記載のＸ線診断装置。
前記第２機器が前記復元動作を開始した後に、前記復元動作の中止を入力する中止入力デバイスをさらに備える、請求項９記載のＸ線診断装置。
前記中止入力デバイスを介して前記復元動作の中止が入力された場合、前記制御回路は、前記復元動作を途中で取り消し前記第２機器を前記検出された位置に戻す、請求項１０のＸ線診断装置。
前記中止入力デバイスを介して前記復元動作の中止が入力された場合、前記制御回路は、前記復元動作を途中で取り消し前記第２機器をその場に停止させる、請求項１０のＸ線診断装置。
前記制御回路は、前記第２機器が前記復元動作を開始した後に前記Ｘ線管がＸ線を照射した場合、前記復元動作を途中で取り消し前記第２機器をその場に停止させる、請求項１０記載のＸ線診断装置。
前記第２機器が前記第１機器よりも優先順位が高い場合には前記第２機器は前記復元動作を受けず、前記第２機器が前記第１機器よりも優先順位が低いまたは優先順位が等しい場合には前記第２機器は前記復元動作を受けるということを示す優先順位と、前記第１機器および前記第２機器に対応する機器とを関連付けて記憶する記憶装置をさらに備え、
前記制御回路は、前記第１機器が前記移動指示を受けて移動を開始し、前記第２機器と所定の間隔に近づいたことを契機に前記第２機器を前記第１機器と前記所定の間隔を保ちながら退避させ、前記第１機器が前記目的位置に到達したことを契機に前記第２機器を前記優先順位に従って動作する、請求項９のＸ線診断装置。
前記復元動作は、移動してきた経路を辿って前記第２機器を前記取得された位置に戻す動作である、請求項９記載のＸ線診断装置。
前記第１機器が前記目的位置に到達したときの前記第２機器の位置から前記第２機器を前記取得された位置への複数の経路にかかる時間を計算する計算回路と、
前記複数の経路のうち、最短時間の経路を決定する決定回路と、をさらに備え、
前記復元動作は、前記最短時間の経路を通って前記第２機器を戻す動作である、請求項９記載のＸ線診断装置。