JP2017011267A - リアクタのためのサセプタ配置、及びリアクタのためのプロセスガスを加熱する方法 - Google Patents

リアクタのためのサセプタ配置、及びリアクタのためのプロセスガスを加熱する方法 Download PDF

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Abstract

【課題】熱伝達効率のよいリアクタのためのサセプタ配置を提供する。【解決手段】リアクタのためのサセプタ配置は、リアクタ中で使用されるプロセスガスを加熱するように構成されたヒータエレメントを含む。また、ヒータエレメントの径方向内向きに配置され、径方向内側プロセスガス経路に沿ってその中にプロセスガスをルーティングするように構成された内側サセプタ部分が含まれる。更に、ヒータエレメントの径方向外向きに配置され、径方向外側プロセスガス経路に沿ってその中にプロセスガスをルーティングするように構成された外側サセプタ部分が含まれ、径方向内側プロセスガス経路と径方向外側プロセスガス経路とは、流体結合され、ヒータエレメントから実質的に流体分離される。【選択図】なし

Description

本明細書には、リアクタ、より詳細には、熱交換リアクタのためのサセプタ配置、並びにリアクタのためのプロセスガスを加熱する方法が開示される。
ある特定のリアクタは、その中で使用するためにプロセスガスを加熱することを必要とする。リアクタは、プロセスガスを加熱し、互いに反応させるサセプタスタックを含み得る。そのような加熱を必要とするリアクタの1つの特定のタイプは、テトラクロロシラン(SiCl4)の水素化反応を促進にするための、高温でのテトラクロロシラン及び水素(H2)を使用したトリクロロシラン(SiHCl3)及び塩化水素の生成に関する。得られたトリクロロシランは、高純度(例えば、電子グレード及び/又はソーラーグレード)のポリシリコンを生成する、又は高純度化されて最終的に生成する、ために使用される。
上述の反応を得るために、プロセスガスは、サセプタの外側に配置されるヒータエレメントを用いて加熱される。ヒータエレメントは、サセプタの外壁を加熱し、放射及び対流エネルギーを介して熱伝達が生じる。熱エネルギーは次いで、サセプタ壁を通って、対流及び伝導性の熱伝達によってプロセスガス中へと伝導する。
上述の外部配置型ヒータエレメントは、サセプタスタックに面して実際に発生する放射熱のおよそ半分になり、それにより、最適な熱伝達効率よりも少ない結果となる。更に、上述の構成におけるヒータエレメントの動作は、構造応力の増大につながる温度にヒータエレメントを維持することを必要とし、それにより、構成要素寿命が短くなる。
例示的実施形態によれば、リアクタのためのサセプタ配置は、リアクタ中で使用されるプロセスガスを加熱するように構成されたヒータエレメントを含む。また、ヒータエレメントの径方向内向きに配置され、径方向内側プロセスガス経路に沿ってその中にプロセスガスをルーティングするように構成された内側サセプタ部分が含まれる。更に、ヒータエレメントの径方向外向きに配置され、径方向外側プロセスガス経路に沿ってその中にプロセスガスをルーティングするように構成された外側サセプタ部分が含まれ、径方向内側プロセスガス経路と径方向外側プロセスガス経路とは、流体結合され、ヒータエレメントから実質的に流体分離される。
別の例示的実施形態によれば、リアクタのためのプロセスガスを加熱する方法が提供される。方法は、ヒータ領域内に配置されたヒータエレメントを加熱することを含み、ヒータ領域は、外側サセプタ部分と内側サセプタ部分と端部サセプタ部分とにより少なくとも部分的に画定される。方法はまた、外側サセプタ部分と内側サセプタ部分と端部サセプタ部分とにより画定され、それら各部分を通って延びるプロセスガス経路を通してプロセスガスをルーティングすることを含み、プロセスガス経路はヒータエレメントから流体分離される。
本発明としてみなされる主題が具体的に指し示され、本明細書の末尾の特許請求の範囲において明確に特許請求される。以下の詳細な説明を添付図面と合わせて解釈すると、本発明の前述及び他の特徴部及び利点は明らかである。
リアクタの端部の部分概略図である。 図1の線A−Aにおけるリアクタの断面図である。
図1及び図2を参照すると、リアクタ10の一部分が概略的に示されている。本明細書で開示する実施形態は、多数の種類の企図されたリアクタと共に採用され得るが、実施形態は、テトラクロロシランとも称されるシリコンテトラクロロシランの水素化に関連するリアクタとの使用において特に有益である。そのようなリアクタは、約600℃よりも高い温度で水素ガスとテトラクロロシランとを接触させるプロセスを含む。同時に、反応する水素ガスとテトラクロロシランとの組み合わせはプロセスガスと称されるが、プロセスガスはまた、トリクロロシランなどの1つ以上の追加のクロロシラン、塩化水素、ヘキサクロロジシランなどのポリシラン、窒素、アルゴン、メタン、及び/又は、メチルトリクロロシラン若しくはメチルジクロロシランなどの炭素含有クロロシランを含み得ることを了解されたい。約600℃を上回る温度におけるテトラクロロシランの水素化は、プロセスを行うためのリアクタとして知られている。しばしば、プロセスは、動作効率を増大させるために、約800℃から1,400℃の範囲内の温度で実行されるが、1,600℃までの温度が採用され得る。リアクタに供給されるテトラクロロシラン、又は、テトラクロロシラン及び上述のその他のクロロシラン類と水素ガスとのモル比は、ここでの実施形態の実施には重要でない。高温において、プロセスガスの反応はテトラクロロシランを水素化して、上記で説明したように、電子グレート及びソーラーグレードのコンポーネントとしての価値を有するポリシリコンの生成において有用であるトリクロロシランを伴って、トリクロロシラン及び塩化水素を生成する。
リアクタ10は、水素ガスとテトラクロロシランとの間の反応中にプロセスガス14を収容するサセプタ配置12を含む。従って、プロセスガス14は、加熱及び反応のためにそこを通してルーティングされる。サセプタ配置12は、第1の内側サセプタ壁18と第2の内側サセプタ壁20とを有する内側サセプタ部分16を含む。第1の内側サセプタ壁18と第2の内側サセプタ壁20とは、本明細書では径方向内側プロセスガス経路22と称するプロセスガス経路と共に、プロセスガス流路回路全体の一部であるプロセスガス経路を画定する。サセプタ配置12はまた、第1の外側サセプタ壁26と第2の外側サセプタ壁28とを有する外側サセプタ部分24を含む。第1の外側サセプタ壁26と第2の外側サセプタ壁28とは、本明細書では径方向外側プロセスガス経路30と称するプロセスガス経路と共に、プロセスガス流路回路全体の一部であるプロセスガス経路を画定する。サセプタ配置12の端部位置に近接して端部サセプタ部分32が配置され、径方向外側プロセスガス経路30と径方向内側プロセスガス経路22とを流体結合する端部プロセスガス経路34を画定する。サセプタ配置12は、多数の構成で形成され得る。例示的な図示の実施形態では、サセプタ配置12は、全体的に円筒形の幾何学的形状を有し、端部サセプタ部分32は、構造全体の頂部に近接して配置されるが、端部サセプタ部分32は、端部プロセスガス経路34が径方向外側プロセスガス経路30と径方向内側プロセスガス経路22を流体結合する限り、底部位置又はそれらの間の何らかの領域を指し得ることを了解されたい。
サセプタ配置12は、高温リアクタに好適な材料で構築される。例えば、サセプタ配置12は、黒鉛、炭化ケイ素被覆黒鉛、炭化ケイ素被覆炭素繊維、炭化ケイ素を含む炭化ケイ素系化合物、又はそれらの組み合わせで形成され得る。前掲のリストは例示的なものにすぎず、限定を意図するものではない。
サセプタ配置12を形成するために使用される高精度な材料にかかわらず、内側サセプタ部分16は、それらの間に空間を設けて外側サセプタ部分24の径方向内向きに配置される。より詳細には、第2の内側サセプタ壁20は、第1の内側サセプタ壁18の径方向外向きに配設され、第1の外側サセプタ壁26は、第2の内側サセプタ壁20の径方向外向きに配設され、第2の外側サセプタ壁28は、第1の外側サセプタ壁26の径方向外向きに配設される。内側サセプタ部分16と外側サセプタ部分24との間にヒータエレメント36が配置される。特に、ヒータエレメント36は、第2の内側サセプタ壁20と第1の外側サセプタ壁26との間に配置される。従って、ヒータエレメント36は、サセプタ配置12の内部位置に配設され、内部位置は本明細書においてヒータ領域38と称される。
ヒータエレメント36は、例えば、炭素、黒鉛又は炭化ケイ素被覆炭素複合物を含む、多数の好適な材料で形成され得る。ヒータエレメント36の構成は、典型的には、内側サセプタ部分16及び外側サセプタ部分24の幾何学的形状と同様の円筒構造である。図示の実施形態では、ヒータエレメント36は、サセプタ配置12の底部部分40に近接した位置から、端部サセプタ部分32に近接した位置まで延びている。ヒータエレメント36の高さは図示されるものから変動し得るが、典型的には、図示のように延び、以下に詳細に記載するように、ヒータエレメント36からプロセスガス14への熱伝達を最適化することを了解されたい。ヒータエレメント36は、単一の単体構造として称され、示されているが、構造全体を形成するための複数の部品でヒータエレメント36を形成し得ることを了解されたい。
いくつかの実施形態では、ヒータエレメント36は、径方向外側プロセスガス経路30及び径方向内側プロセスガス経路22内を流れるプロセスガス14への熱伝達を最適化するために、ヒータ領域38内の、第2の内側サセプタ壁20及び第1の外側サセプタ壁26から実質的に等距離の位置に配置される。そのような配置は典型的には、プロセスガス14に対する実質的に等しい熱分布を促進するが、特定の実施形態は、代替配置を用いて実質的に等しい熱分布を達成することができる。更に、内側サセプタ部分16又は外側サセプタ部分24のいずれかにより多くの熱を伝達することが望ましいことがある。従って、ヒータエレメント36の精密な位置は、特定の適用例に応じて変動し得る。内側サセプタ部分16及び外側サセプタ部分24に対するヒータエレメント36の厳密な位置にかかわらず、外側サセプタ部分24は、電極44がそこを通ってルーティングされ得る少なくとも1つの開口部42を含む。プロセスガス14に伝達される熱を発生させるために、電極44は、外部エネルギー源(図示せず)に接続され、ヒータエレメント36に電気接続される。図示の実施形態では、2つの電極44の接続を可能にするために、2つの開口部42が提供されている。外部電源をヒータエレメント36に電気接続するために、より多くの又はより少ない電極及び開口部が採用されることが想到される。具体的には、2〜10個の対応する電極の接続を可能にするために、2〜10個の開口部をどこかに設け得るが、より典型的には、2〜4個の対応する電極の接続を可能するために、2〜4個の開口部が設けられる。
図2は、プロセスガス14がそこを通してルーティングされる流路、即ち、径方向外側プロセスガス経路30、端部プロセスガス経路34及び径方向内側プロセスガス経路22を示している。ヒータエレメント36の配置に基づいて、ヒータエレメント36からの放射熱伝達は、上記経路部分に実質的に均等に分布される。放射熱は、第1の外側サセプタ壁26、第2の内側サセプタ壁20及び内側端部部分壁46を通して伝導される。プロセスガス14の流路内の放射熱伝達及び対流熱伝達は次いで、プロセスガス14に伝達され、それらを加熱する。サセプタ配置12の外部にヒータエレメント36を配置するのとは対照的に、サセプタ配置12内のヒータエレメント36の包囲されているという性質に基づいて、熱伝達の全てがプロセスガス14に向けられる。
ヒータ領域38内のヒータエレメント36は、反応性プロセスガス14から実質的に流体分離されている。これにより、ヒータエレメント36の寿命が延びる。用語「実質的に」は、少量のプロセスガスがヒータ領域38に漏出するという事実に基づいて用いられるが、想到される僅かな漏出量により、本明細書で説明される実施形態を意図された目的について実施できなくなるものではないことを理解されたい。流体分離を更に向上させるために、ヒータ領域38は、ヒータエレメント保護流体47を用いてパージされる。パージは、ヒータ領域38内の圧力を増大させて、プロセスガス14のいくらかがヒータエレメント36に直接的に接触する可能性を低減する。ヒータエレメント保護流体47は、ガス状の四塩化ケイ素、トリクロロシラン、ジクロロシラン、モノクロロシラン、窒素、アルゴン及び塩化水素のうちの少なくとも1つを含み得る。いくつかの実施形態では、ヒータエレメント保護流体47は、排他的に、又は多量部のテトラクロロシランである。上記の保護流体は、水素ガスと比較して、典型的なヒータエレメント材料との反応性がより低いという特性に基づいて選択される。典型的には、プロセスガスの多量部は水素ガスであるが、これは必須ではない。水素ガスは、ヒータエレメント材料に対して極めて有害であることが分かっており、従って、ヒータ領域への水素ガスの漏出の低減又は防止が望ましい。前掲のリストは例示的なものにすぎず、限定を意図するものではない。ヒータエレメント保護流体47に加えて又はその代わりに、何らかの他の好適な様式でヒータ領域38を加圧してもよい。加圧が行われる様式にかかわらず、典型的には、ヒータ領域36にプロセスガス14が漏出するよりも、反応区画にヒータエレメント保護流体47が漏出する可能性を高くするように、ヒータ領域38内の圧力は、プロセスガス14の反応区画内の圧力よりも高い。
所望の位置に多くの熱エネルギーを収容するように、サセプタ配置12の径方向外向きの位置に熱シールド48(図2)が固定され得る。具体的には、図示のとおり、熱シールド48は、第2の外側サセプタ壁28の径方向外向きに配置され得る。熱シールド48は、ヒータエレメント36の熱伝達効率を増大させるために、サセプタ配置12に向かって熱を反射させる。アセンブリの反射特性を向上させるために、熱シールド48の外部表面に沿って断熱材が配置され得る。
有利なことに、リアクタ10の上述の実施形態は、より具体的には、サセプタ配置12及びヒータエレメント36は、ヒータが、外部配置型ヒータエレメント36を有する実施形態におけるよりも低い最大温度で動作することを可能にする。これはプロセスガス14に対するより効率的な熱伝達に起因し、それにより、ヒータエレメント36に対する需要が低くなる。より低い温度における動作は、ヒータエレメント材料に対する損傷を低減し、経時的なヒータエレメント36の故障を遅らせる。更に、本明細書で説明する実施形態が、ヒータエレメント36内の温度勾配を外部配置型ヒータエレメントよりもおよそ30%低減することをモデリングが示した。これが有益なのは、ヒータの異なるセクションが別様に膨張することに起因して、熱勾配がヒータ中に応力をもたらすためである。従って、より低い熱勾配は、関連する応力を著しく低減し、ヒータエレメント36の寿命はるかに延長することにつながる。
本明細書に開示される構造及び方法は、少なくとも以下の実施形態を含む。
実施形態1:リアクタのためのサセプタ配置は、リアクタ中で使用されるプロセスガスを加熱するように構成されたヒータエレメントを含む。また、ヒータエレメントの径方向内向きに配置され、径方向内側プロセスガス経路に沿ってその中にプロセスガスをルーティングするように構成された内側サセプタ部分が含まれる。更に、ヒータエレメントの径方向外向きに配置され、径方向外側プロセスガス経路に沿ってその中にプロセスガスをルーティングするように構成された外側サセプタ部分が含まれ、径方向内側プロセスガス経路と径方向外側プロセスガス経路とは、流体結合され、ヒータエレメントから実質的に流体分離される。
実施形態2:内側サセプタ部分が、第1の内側サセプタ壁及び第2の内側サセプタ壁を備え、第1の内側サセプタ壁と第2の内側サセプタ壁とが、径方向内側プロセスガス経路を画定し、外側サセプタ部分が、第1の外側サセプタ壁及び第2の外側サセプタ壁を備え、第1の外側サセプタ壁と第2の外側サセプタ壁とが、径方向外側プロセスガス経路を画定する、実施形態1のサセプタ配置。
実施形態3:径方向外側プロセスガス経路と径方向内側プロセスガス経路とを流体結合する端部プロセスガス経路を画定する端部サセプタ部分を更に備える、実施形態1又は2のサセプタ配置。
実施形態4:内側サセプタ部分及び外側サセプタ部分が、黒鉛、炭化ケイ素被覆黒鉛、炭化ケイ素被覆炭素繊維、及び炭化ケイ素を含む炭化ケイ素系化合物のうちの少なくとも1つで形成される、上記実施形態のいずれかのサセプタ配置。
実施形態5:外側サセプタ部分により画定される少なくとも1つの開口部であって、その開口部が、その中にヒータ電極を受けるように構成される、開口部を更に備える、上記実施形態のいずれかのサセプタ配置。
実施形態6:リアクタが、テトラクロロシランと水素とを反応させてトリクロロシランと塩化水素とにすることによって、トリクロロシランを生成するように構成された水素化リアクタである、上記実施形態のいずれかのサセプタ配置。
実施形態7:ヒータエレメントが、内側サセプタ部分と外側サセプタ部分とにより径方向に画定されたヒータ領域内に配設される、上記実施形態のいずれかのサセプタ配置。
実施形態8:ヒータ領域が、ヒータエレメント保護流体を用いてパージされる、実施形態7のサセプタ配置。
実施形態9:ヒータエレメント保護流体が、ガス状のテトラクロロシラン、トリクロロシラン、ジクロロシラン、モノクロロシラン、窒素、アルゴン、及び塩化水素のうちの少なくとも1つである、実施形態8のサセプタ配置。
実施形態10:ヒータエレメントが、内側サセプタ部分及び外側サセプタ部分に熱を均等に分布させるように配置される、上記実施形態のいずれかのサセプタ配置。
実施形態11:ヒータエレメントが、内側サセプタ部分及び外側サセプタ部分から等距離に配置される、上記実施形態のいずれかのサセプタ配置。
実施形態12:内側サセプタ部分、外側サセプタ部分及びヒータエレメントがそれぞれ、円筒形である、上記実施形態のいずれかのサセプタ配置。
実施形態13:端部サセプタ部分が、サセプタ配置の頂部領域に近接して配置される、実施形態3のサセプタ配置。
実施形態14:外側サセプタ部分と内側サセプタ部分との間に延びる底部サセプタ部分を更に備え、端部サセプタ部分と底部サセプタ部分と内側サセプタ部分と外側サセプタ部分とが、ヒータエレメントを包囲する、実施形態13のサセプタ配置。
実施形態15:外側サセプタ部分の径方向外向きに配設された熱シールドを更に備える、上記実施形態のいずれかのサセプタ配置。
実施形態16:プロセスガスが、多量部の水素と、少量部の、テトラクロロシラン、クロロシラン、塩化水素、ポリシラン、及び炭素含有クロロシランのうちの少なくとも1つとを含む、上記実施形態のいずれかのサセプタ配置。
実施形態17:リアクタのためのプロセスガスを加熱する方法が提供される。方法は、ヒータ領域内に配置されたヒータエレメントを加熱することを含み、ヒータ領域は、外側サセプタ部分と内側サセプタ部分と端部サセプタ部分とにより少なくとも部分的に画定される。方法はまた、外側サセプタ部分と内側サセプタ部分と端部サセプタ部分とにより画定され、それら各部分を通って延びるプロセスガス経路を通してプロセスガスをルーティングすることを含み、プロセスガス経路はヒータエレメントから流体分離される。
実施形態18:ガス状のテトラクロロシラン、トリクロロシラン、ジクロロシラン、モノクロロシラン、窒素、アルゴン、及び塩化水素のうちの少なくとも1つを含むヒータエレメント保護流体を用いて、ヒータ領域をパージすることを更に含む、実施形態17の方法。
内側サセプタ部分及び外側サセプタ部分に対して等分布でヒータエレメントから熱を分布させることを更に含む、実施形態17の方法。
実施形態20:ヒータエレメントの径方向外向きの領域及びヒータエレメントの径方向内向きの領域に沿ったプロセスガス経路を通してプロセスガスをルーティングすることを更に含む、実施形態17の方法。
単数形の用語「a」、「an」、及び「the」には、文脈により明白に別段の記載がない限り、複数形の指示対象を含む。「又は」は、「及び/又は」を意味する。量に関して使用される修飾語「約」は、記述された値を含み、コンテキストにより規定される意味を有する(例えば、特定の量の測定値に関連する誤差の程度を含む)。表記「±10%」は、示された測定値が、記述された値のマイナス10%である量から、プラス10%である量とすることができることを意味する。同一の構成要素又は特性を対象とする全ての範囲の終端点は、包含的であり、別個に組み合わせ可能である(例えば、「5重量%以下、又は5重量%から20重量%」の範囲、は、「5重量%から25重量%」の範囲の終端点及び全ての中間値を含む、等)。より幅広い範囲に加えたより狭い範囲又はより具体的な群の開示は、より幅広い範囲又はより大きい群を否定するものではない。
接尾辞「(s/単数又は複数)」は、それが修飾する用語の単数形と複数形の双方を含むこと意図するものであり、それにより、その用語の少なくとも1つが含まれる(例えば、着色剤(単数又は複数)は少なくとも1つの着色剤を含む)。「任意選択の」又は「任意選択的に」は、後述する事象又は状況が生じることも生じないこともあること、並びに説明は、事象が生じる場合及び事象が生じない場合を含むことを意味する。特に断らない限り、本明細書で使用する技術的及び科学的な用語は、全て、本発明が属する技術分野における当業者により一般的に理解されるものと同じ意味を有する。「組み合わせ」は、ブレンド、混合物、合金、反応生成物等を含む。
全ての引用された特許、特許出願及びその他の参考文献は、その全体が参照として本明細書に組み込まれる。ただし、本出願における用語が、組み込まれた参考文献の用語を矛盾する又はそれと競合する場合には、本出願の用語が、組み込まれた参考文献の競合する用語よりも優先する。
例示を目的として典型的な実施形態について記載してきたが、上記の説明は、本明細書の範囲を限定するものと見なすべきではない。従って、当業者には、本明細書の趣旨及び範囲から逸脱することなく、種々の変更形態、適応形態及び代替形態が想到し得る。
10 リアクタ
12 サセプタ配置
14 プロセスガス
16 内側サセプタ部分
18 第1の内側サセプタ壁
20 第2の内側サセプタ壁
22 径方向内側プロセスガス経路
24 外側サセプタ部分
26 第1の外側サセプタ壁
28 第2の外側サセプタ壁
30 径方向外側プロセスガス経路
32 端部サセプタ部分
34 端部プロセスガス経路

Claims (20)

  1. リアクタのためのサセプタ配置であって、
    前記リアクタ中で使用されるプロセスガスを加熱するように構成されたヒータエレメントと、
    前記ヒータエレメントの径方向内向きに配置され、径方向内側プロセスガス経路に沿ってその中に前記プロセスガスをルーティングするように構成された内側サセプタ部分と、
    前記ヒータエレメントの径方向外向きに配置され、径方向外側プロセスガス経路に沿ってその中に前記プロセスガスをルーティングするように構成された外側サセプタ部分と、
    を備え、
    前記径方向内側プロセスガス経路と前記径方向外側プロセスガス経路とが、流体結合され、前記ヒータエレメントから実質的に流体分離される、リアクタのためのサセプタ配置。
  2. 前記内側サセプタ部分が、第1の内側サセプタ壁及び第2の内側サセプタ壁を備え、前記第1の内側サセプタ壁と前記第2の内側サセプタ壁とが、前記径方向内側プロセスガス経路を画定し、前記外側サセプタ部分が、第1の外側サセプタ壁及び第2の外側サセプタ壁を備え、前記第1の外側サセプタ壁と前記第2の外側サセプタ壁とが、前記径方向外側プロセスガス経路を画定する、請求項1に記載のサセプタ配置。
  3. 前記径方向外側プロセスガス経路と前記径方向内側プロセスガス経路とを流体結合する端部プロセスガス経路を画定する端部サセプタ部分を更に備える、請求項1又は2に記載のサセプタ配置。
  4. 前記内側サセプタ部分及び前記外側サセプタ部分が、黒鉛、炭化ケイ素被覆黒鉛、炭化ケイ素被覆炭素繊維、及び炭化ケイ素を含む炭化ケイ素系化合物のうちの少なくとも1つで形成される、請求項1から3のいずれか一項に記載のサセプタ配置。
  5. 前記外側サセプタ部分により画定される少なくとも1つの開口部であって、前記開口部が、その中にヒータ電極を受けるように構成される、開口部を更に備える、請求項1から4のいずれか一項に記載のサセプタ配置。
  6. 前記リアクタが、テトラクロロシランと水素とを反応させてトリクロロシランと塩化水素とにすることによって、トリクロロシランを生成するように構成された水素化リアクタである、請求項1から5のいずれか一項に記載のサセプタ配置。
  7. 前記ヒータエレメントが、前記内側サセプタ部分と前記外側サセプタ部分とにより径方向に画定されたヒータ領域に配設される、請求項1から6のいずれか一項に記載のサセプタ配置。
  8. 前記ヒータ領域が、ヒータエレメント保護流体を用いてパージされる、請求項7に記載のサセプタ配置。
  9. 前記ヒータエレメント保護流体が、ガス状のテトラクロロシラン、トリクロロシラン、ジクロロシラン、モノクロロシラン、窒素、アルゴン、及び塩化水素のうちの少なくとも1つである、請求項8に記載のサセプタ配置。
  10. 前記ヒータエレメントが、前記内側サセプタ部分及び前記外側サセプタ部分に熱を均等に分布させるように配置される、請求項1から請求項9のいずれか一項に記載のサセプタ配置。
  11. 前記ヒータエレメントが、前記内側サセプタ部分及び前記外側サセプタ部分から等距離に配置される、請求項1から10のいずれか一項に記載のサセプタ配置。
  12. 前記内側サセプタ部分、前記外側サセプタ部分及び前記ヒータエレメントが、それぞれ円筒形である、請求項1から11のいずれか一項に記載のサセプタ配置。
  13. 前記端部サセプタ部分が、前記サセプタ配置の頂部領域に近接して配置される、請求項3に記載のサセプタ配置。
  14. 前記外側サセプタ部分と前記内側サセプタ部分との間に延びる底部サセプタ部分を更に備え、前記端部サセプタ部分と前記底部サセプタ部分と前記内側サセプタ部分と前記外側サセプタ部分とが、前記ヒータエレメントを包囲する、請求項13に記載のサセプタ配置。
  15. 前記外側サセプタ部分の径方向外向きに配設される熱シールドを更に備える、請求項1から14のいずれか一項に記載のサセプタ配置。
  16. 前記プロセスガスが、多量部の水素と、少量部の、テトラクロロシラン、クロロシラン、塩化水素、ポリシラン、及び炭素含有クロロシランのうちの少なくとも1つとを含む、請求項1から15のいずれか一項に記載のサセプタ配置。
  17. リアクタのためのプロセスガスを加熱する方法であって、
    ヒータ領域内に配置されたヒータエレメントを加熱することであって、前記ヒータ領域が、外側サセプタ部分と内側サセプタ部分と端部サセプタ部分とにより少なくとも部分的に画定される、ことと、
    前記外側サセプタ部分と前記内側サセプタ部分と前記端部サセプタ部分とによって画定され、それら各部分を通って延びるプロセスガス経路を通してプロセスガスをルーティングすることと、
    を含み、
    前記プロセスガス経路が前記ヒータエレメントから流体分離される、リアクタのためのプロセスガスを加熱する方法。
  18. ガス状のテトラクロロシラン、トリクロロシラン、ジクロロシラン、モノクロロシラン、窒素、アルゴン、及び塩化水素のうちの少なくとも1つを含むヒータエレメント保護流体を用いて、ヒータ領域をパージすることを更に含む、請求項17に記載の方法。
  19. 前記内側サセプタ部分及び前記外側サセプタ部分に対して等しい分布で前記ヒータエレメントから熱を分布させることを更に含む、請求項17に記載の方法。
  20. 前記ヒータエレメントの径方向外向きの領域及び前記ヒータエレメントの径方向内向きの領域に沿った前記プロセスガス経路を通して前記プロセスガスをルーティングすることを更に含む、請求項17に記載の方法。
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Families Citing this family (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP6790254B2 (ja) * 2016-11-23 2020-11-25 ワッカー ケミー アクチエンゲゼルシャフトWacker Chemie AG 四塩化ケイ素を水素化する方法
JP1766094S (ja) * 2023-12-01 2024-03-19 半導体ウェハ及びサセプタ加熱用ヒータ

Citations (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS61118135A (ja) * 1984-09-05 1986-06-05 ジエイ.エム.フ−バ− コ−ポレ−シヨン 高温度流体壁反応器
JP2004262753A (ja) * 2003-03-03 2004-09-24 Hemlock Semiconductor Corp 高温のガスと接触するための装置
WO2007102288A1 (ja) * 2006-03-07 2007-09-13 Kanken Techno Co., Ltd. Hcdガスの除害方法とその装置
JP2011135004A (ja) * 2009-12-25 2011-07-07 Tokyo Electron Ltd 成膜装置
JP2012069559A (ja) * 2010-09-21 2012-04-05 Toyota Motor Corp 成膜装置
JP2014508699A (ja) * 2011-01-17 2014-04-10 ワッカー ケミー アクチエンゲゼルシャフト 四塩化ケイ素をトリクロロシランに転化するための方法および装置

Family Cites Families (20)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
ATE123139T1 (de) * 1990-03-29 1995-06-15 Hubert Vogt Ringspaltwärmetauscher.
DE4300163C1 (de) * 1993-01-07 1994-03-17 Boellhoff Verfahrenstech Elektrischer Durchlauferhitzer
US5470360A (en) 1994-03-10 1995-11-28 International Fuel Cells Corporation Fuel cell power plant reformer burner gas flow control system
JPH0945624A (ja) * 1995-07-27 1997-02-14 Tokyo Electron Ltd 枚葉式の熱処理装置
US6423949B1 (en) * 1999-05-19 2002-07-23 Applied Materials, Inc. Multi-zone resistive heater
WO2003073794A1 (en) 2002-02-27 2003-09-04 Carbone Lorraine Composants Resistor made from carbonaceous material
US7122844B2 (en) * 2002-05-13 2006-10-17 Cree, Inc. Susceptor for MOCVD reactor
KR100837890B1 (ko) * 2004-07-05 2008-06-13 도쿄엘렉트론가부시키가이샤 처리 장치 및 히터 유닛
JP4348542B2 (ja) * 2004-08-24 2009-10-21 信越半導体株式会社 石英治具及び半導体製造装置
US7195934B2 (en) * 2005-07-11 2007-03-27 Applied Materials, Inc. Method and system for deposition tuning in an epitaxial film growth apparatus
KR101354140B1 (ko) * 2008-02-27 2014-01-22 소이텍 Cvd 반응기 내에서 가스 전구체들의 열화
JP5038381B2 (ja) * 2009-11-20 2012-10-03 株式会社東芝 サセプタおよび成膜装置
CN202164350U (zh) * 2011-05-04 2012-03-14 广东量晶光电科技有限公司 一种金属有机化学气相沉积反应器
KR101912486B1 (ko) * 2011-06-21 2018-10-26 지티에이티 코포레이션 4염화규소를 3염 실란으로 변환하기 위한 장치 및 방법
US20130074774A1 (en) * 2011-09-28 2013-03-28 Pinecone Material Inc. Heating systems for thin film formation
KR20160066340A (ko) * 2014-12-02 2016-06-10 삼성전자주식회사 기판 처리 장치
DE202015103787U1 (de) * 2015-07-17 2015-08-06 Türk & Hillinger GmbH Gaskanal mit beheizter poröser Metallstruktur
TWI613405B (zh) * 2015-07-24 2018-02-01 盈太企業股份有限公司 加熱器之結構
US20170051402A1 (en) * 2015-08-17 2017-02-23 Asm Ip Holding B.V. Susceptor and substrate processing apparatus
JP5951095B1 (ja) * 2015-09-08 2016-07-13 株式会社日立国際電気 基板処理装置、半導体装置の製造方法、プログラム

Patent Citations (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS61118135A (ja) * 1984-09-05 1986-06-05 ジエイ.エム.フ−バ− コ−ポレ−シヨン 高温度流体壁反応器
JP2004262753A (ja) * 2003-03-03 2004-09-24 Hemlock Semiconductor Corp 高温のガスと接触するための装置
WO2007102288A1 (ja) * 2006-03-07 2007-09-13 Kanken Techno Co., Ltd. Hcdガスの除害方法とその装置
JP2011135004A (ja) * 2009-12-25 2011-07-07 Tokyo Electron Ltd 成膜装置
JP2012069559A (ja) * 2010-09-21 2012-04-05 Toyota Motor Corp 成膜装置
JP2014508699A (ja) * 2011-01-17 2014-04-10 ワッカー ケミー アクチエンゲゼルシャフト 四塩化ケイ素をトリクロロシランに転化するための方法および装置

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