JP2017156331A - 光学系構造体、光学測定装置及び光学測定方法 - Google Patents
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Abstract
Description
Claims (18)
- 光学測定系において波数k1の第1光を測定試料に照射して発生する観測光を透過する光路部と、前記光路部への外部からの光を遮ると共に屈折率が前記光路部とマッチングされていることにより前記光路部の内部のノイズ光を低減する遮光部とを備える光学系構造体であって、
前記光路部は、媒質として固体又は液体が用いられており、
前記光路部の内部に、前記第1光が前記光路部を通過するときに生じるラマンシフトに起因する波数k2の第2光の進行を遮るフィルタ部材を備える、光学系構造体。 - 前記フィルタ部材が遮る前記波数k2は、前記観測光の波数域に含まれる、請求項1記載の光学系構造体。
- 前記フィルタ部材の少なくとも一方の面が前記光路部に接触している、請求項1又は2記載の光学系構造体。
- 前記光路部は、可撓性を有する、請求項1から3のいずれかに記載の光学系構造体。
- 前記光路部は、シリコーン樹脂である、請求項4記載の光学系構造体。
- 前記シリコーン樹脂は、PDMSである、請求項5記載の光学系構造体。
- 前記遮光部の媒質として、前記光路部の媒質と屈折率が同じ媒質が用いられている、請求項1から6のいずれかに記載の光学系構造体。
- 前記遮光部は、光を吸収する顔料を分散させて含有する、請求項1から7のいずれかに記載の光学系構造体。
- 光学測定系において測定試料に波数k1の第1光を照射して発生する観測光を観測する光学測定装置であって、
前記第1光を照射する光源と、
媒質として固体又は液体が用いられており前記観測光を透過する光路部と、
前記光路部への外部からの光を遮ると共に、屈折率が前記光路部とマッチングされていることにより前記光路部の内部のノイズ光を低減する遮光部と、
前記観測光を観測する測定部と、
前記光路部の内部に、前記第1光が前記光路部を通過するときに生じるラマンシフトに起因する波数k2の第2光の進行を遮るフィルタ部材とを備える、光学測定装置。 - 前記第1光の波数を前記観測光の光強度が最大となる波数とは異なる波数に調整する波数調整部をさらに備える、請求項9記載の光学測定装置。
- 前記波数調整部は、前記第2光の波数が前記観測光の波数域とは異なる波数となるように、前記第1光の波数を調整する、請求項10記載の光学測定装置。
- レンズ、ノッチフィルタ及び色ガラスフィルタをさらに備える、請求項9から11のいずれかに記載の光学測定装置。
- 前記光源から前記測定部に至る光路において、
前記第1光及び前記第2光を平行光とする第1レンズと、
前記第1光を反射するノッチフィルタと、
前記観測光以外の光を吸収する色ガラスフィルタと、
前記観測光を含む光を集光する第2レンズと、
前記第2レンズの光軸上であって、前記第2光が集光される位置の近傍にあるアパーチャとを、順に配置されるようにさらに備え、
前記フィルタ部材は、前記第1レンズ及び前記第2レンズの間に配置されている、請求項9から12のいずれかに記載の光学測定装置。 - 光学測定系において測定試料に波数k1の第1光を照射して発生する観測光を観測する光学測定装置を用いた光学測定方法であって、
前記光学測定装置は、
前記第1光を照射する光源と、
媒質として固体又は液体が用いられており前記観測光を透過する光路部と、
前記光路部への外部からの光を遮ると共に、屈折率が前記光路部とマッチングされていることにより前記光路部の内部のノイズ光を低減する遮光部と、
前記観測光を観測する測定部と、
前記光路部の内部に、前記第1光が前記光路部を通過するときに生じるラマンシフトに起因する波数k2の第2光の進行を遮るフィルタ部材とを有し、
前記光源が、前記第1光を照射する励起光照射ステップと、
前記フィルタ部材が、前記第2光を遮るフィルタリングステップとを含む、光学測定方法。 - 前記励起光照射ステップにおいて、前記光源は、前記第1光として、前記第2光の波数が前記観測光の波数域とは異なる波数となるような波数の光を照射する、請求項14記載の光学測定方法。
- 前記光学測定装置は、前記第1光の波数を前記観測光の光強度が最大となる波数とは異なる波数に調整する波数調整部をさらに有し、
前記励起光照射ステップの後に、前記波数調整部が、前記第1光の波数を調整する調整ステップをさらに含む、請求項14記載の光学測定方法。 - 前記調整ステップにおいて、前記波数調整部は、前記第2光の波数が前記観測光の波数域とは異なる波数となるように、前記第1光の波数を調整する、請求項16記載の光学測定方法。
- 前記波数k2が前記観測光の波数域に含まれており、
前記フィルタリングステップにおいて、前記フィルタ部材が、前記観測光の波数域の一部である波数k2の光を遮る、請求項14記載の光学測定方法。
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