JP2017161764A - 光学素子製造方法、光学素子、共焦点観察装置 - Google Patents
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Abstract
【課題】反射防止構造または光反射構造を形成する材料のエッチング加工性に関係なく、反射防止構造または光反射構造が形成され、且つ、開口を有する光学素子の製造方法、及び、光学素子、及び、その光学素子を用いた共焦点観察装置を提供する。
【解決手段】第2の基板の第1面に物理的開口を形成しS1、その物理的開口を形成した後に、第1面に反射防止構造または光反射構造を形成しS2、第2の基板と反射防止構造または光反射構造からなる光学部材に、光が透過する素材からなる第1の基板を接合するS3。
【選択図】図1
【解決手段】第2の基板の第1面に物理的開口を形成しS1、その物理的開口を形成した後に、第1面に反射防止構造または光反射構造を形成しS2、第2の基板と反射防止構造または光反射構造からなる光学部材に、光が透過する素材からなる第1の基板を接合するS3。
【選択図】図1
Description
本発明は、反射防止構造または光反射構造が形成された光学素子の製造方法、光学素子、及び、その光学素子を用いた共焦点観察装置に関する。
従来、対物レンズの焦点位置と共役な位置に設けられる共焦点開口を通過した光を検出する構成を有することで、試料表面に合焦した光のみを検出することができる共焦点顕微鏡が知られている。共焦点顕微鏡を改良したディスク走査型共焦点顕微鏡は、共焦点開口として作用する多数の開口を有する円盤(ディスク)を回転させ、多点照明によって試料をスキャンする顕微鏡であり、焦点位置において鮮明な画像取得を可能とする共焦点顕微鏡の効果に加えて、高速なスキャンを実行することが可能な顕微鏡として知られている。
ディスク走査型共焦点顕微鏡では、ディスクの検出器側の領域で反射した励起光が検出器で検出されてしまうことを防止するために、検出器側のディスクの表面に光反射を防止する構造を形成する技術が開示されている。光反射を防止する構造を形成する技術の一例として、特許文献1に記載されているような、ディスク表面に製膜したSi膜に対してドライエッチングを施すことで遮光構造である微細凹凸構造を形成する技術が挙げられる。また、他の例として、多層膜からなる反射防止膜を製膜する方法が挙げられる。
一般に、ディスクに反射防止構造を形成するために、反射防止構造を形成するための材料を、蒸着や溶射等によりディスクにコーティングする処理が行われる。従来では、ディスクへの開口の形成は上記のコーティング処理後に行われる。そのため、反射防止構造を形成するための材料として、ディスクに開口を形成するためのエッチング加工が困難となるような材料を用いることができなかった。従って、反射防止構造を形成するための材料として用いられるものは、エッチング加工が容易である物質、または、エッチング加工を行うことが現実的に困難ではない物質(Cr、Si等)に限られていた。
また、反射防止構造に限らず、光反射構造(反射膜等)をディスクの表面に形成する場合においても、ディスクへ開口を形成する前に材料をコーティングする処理が行われる。そのため、光反射構造を形成するための材料についてもエッチング加工が困難となるような材料を用いることは、同様の理由によりできず、用いられる材料は限られていた。
例えば、対応波長領域の広い多層膜からなる反射防止構造や、耐湿度性の保護膜を施す必要がある銀ミラーからなる光反射構造は、いずれもエッチング加工が困難であるという製造上の問題から、ディスク表面に形成することが困難であった。従って、反射防止構造または光反射構造を形成するための材料のエッチング加工性に関係なく、反射防止構造または光反射構造が形成された光学素子であり、また、その光学素子の表面に開口が形成されていることでディスク走査型共焦点顕微鏡のディスクとして用いることができるような光学素子の開発が求められている。また、そのような光学素子は、ディスク走査型共焦点顕微鏡のディスクに限られず、他の用途にも用いられ得る。
以上の実情を踏まえ、本発明では、反射防止構造または光反射構造を形成する材料のエッチング加工性に関係なく、反射防止構造または光反射構造が形成され、且つ、物理的開口を有する光学素子の製造方法、及び、光学素子、及び、その光学素子を用いた共焦点観察装置を提供することを目的とする。
本発明の一態様における光学素子製造方法は、第2の基板の第1面に物理的開口を形成し、前記物理的開口を形成した後に、前記第1面に反射防止構造または光反射構造を形成し、前記第2の基板と前記反射防止構造または前記光反射構造からなる光学部材に、光が透過する素材からなる第1の基板を接合することを特徴とする。
本発明の一態様における光学素子は、第1面に物理的開口が形成された第2の基板と、前記第2の基板の前記第1面に形成された光反射構造と、からなる光学部材と、前記光学部材と接合された、光が透過する素材からなる第1の基板と、を備えることを特徴とする。
本発明の一態様における共焦点観察装置は、上記の一態様における光学素子を備えることを特徴とする。
以下、第1の実施形態における光学素子の製造方法について図面を参照しつつ説明する。第1の実施形態では、本発明の光学素子の製造方法の特徴を理解するための大まかな流れを一例として示し、後述する各実施形態において、より具体的な状況における製造方法の例を示す。
図1は、第1の実施形態における光学素子20の製造方法を示すフローチャートである。ステップS1では、まず第2の基板に物理的開口を形成する。第2の基板は、特に材質は限定されないが、物理的開口を形成するための加工処理が行い易いものであるとよい。
ステップS2では、ステップS1において物理的開口を形成した後に、第2の基板の物理的開口が形成された面に反射防止構造または光反射構造を形成する。反射防止構造は、光の反射率を低減させる構造であり、例えば、多層膜からなる反射防止膜である。光反射構造は、光の反射率を増加させる構造であり、例えば、アルミや銀等からなる光反射ミラーである。反射防止構造または光反射構造は、薄膜やミラーであれば、Physical Vapor Deposition(PVD)やChemical Vapor Deposition(CVD)等の薄膜蒸着法により形成される。反射防止構造または光反射構造は、薄膜やミラー種に限定されず、上記のように光の反射率を低減または増加させる構造であれば、公知の技術によって形成される他の構造でも構わない。また、その構造を形成する材料についても特に限定されない。以下、反射防止構造または光反射構造のいずれかである構造を光学構造とも表記する。
ステップS3では、第2の基板と反射防止構造または光反射構造とからなる光学部材に光が透過する素材からなる第1の基板を接合する。光学部材に第1の基板を接合する際には、光学部材と第1の基板との間に光透過性の接着剤を充填することで接合する。
ステップS4では、第2の基板と反射防止構造または光反射構造とからなる光学部材に光が透過する素材からなる第3の基板を接合する。このとき、第3の基板と第1の基板に光学部材が挟まれるように、光学部材に第3の基板を接合する。光学部材に第3の基板を接合する際には、光学部材と第3の基板との間に光透過性の接着剤を充填することで接合する。ステップS4を終了すると、本フローチャートは、終了する。
以上の製造方法によって製造された光学素子20の構成例を図2に示す。光学素子20は、第2の基板22と光学構造24とからなる光学部材25と、光学部材25に接合された第1の基板21及び第3の基板23と、を含む。第2の基板22には、物理的開口が形成されている。光学構造24は、第2の基板22の表面に形成された反射防止構造または光反射構造である。光学部材25は、第1の基板21と第3の基板23によって挟み込まれる構成を有し、光学部材25と第1の基板21の間及び光学部材25と第3の基板23の間には、光透過性の接着剤が充填されている。
図2の構成において、例えば、第1の基板21の紙面上方向から第1の基板21に対して光が照射した場合、光が透過する素材からなる第1の基板21を透過した光のうち、一部の光は光学構造24へ到達する。その他の光は第2の基板22に形成された物理的開口と第3の基板23を透過する。光学構造24へ到達した光は、光学構造24が反射防止構造であれば、光の反射が抑制され、光学構造24が光反射構造であれば、光は高い反射率で反射される。
以上の光学素子20の製造方法によれば、反射防止構造または光反射構造である光学構造24を形成する材料の、物理的開口を形成するための加工性、例えばエッチング加工性に関係なく、光学構造24が形成され、且つ、物理的開口を有する光学素子20を製造することができる。
より具体的には、第2の基板22に光学構造24を形成する処理(図1のステップS2)は、第2の基板22に物理的開口を形成する処理(図1のステップS1)の後に行われる。そのため、図1のステップS1からS2までの手順において、物理的開口を有する光学部材25は、光学構造24に物理的開口を形成する処理が行われることなく形成される。すなわち、光学構造24を形成する材料について物理的開口を形成するための加工性は問われない。反射防止構造または光反射構造である光学構造24を形成する材料は、例えば、エッチング加工性が困難であるような対応波長領域の広い多層膜などでもよい。
また、光学素子20の製造方法によれば、反射防止構造または光反射構造である光学構造24が第1の基板21と第3の基板23とに挟み込まれ、接着剤で封止されているため、光学構造24に対する空気接触、物理接触を防ぐことができる光学素子20を製造することができる。そのため、光学構造24を形成する材料は、温度耐性と湿度耐性の低い銀ミラーなどでもよい。
また、光学素子20の製造方法は、図1のステップS4の手順がなくてもよい。図3は、図1のステップS4がない製造方法によって製造された光学素子20aの構成例を示す。光学素子20aの製造方法によっても、反射防止構造または光反射構造である光学構造24を形成する材料の物理的開口を形成するための加工性、例えばエッチング加工性に関係なく、光学構造24が形成され、且つ、物理的開口を有する光学素子20aを製造することができる。
また、光学素子20aの製造方法において、光学部材25に第1の基板21を接合する際の光学部材25の接合面は、光学構造24のある面と、光学構造24のない第2の基板22の表面のいずれでも構わない。例えば、光学部材25に光学構造24のある面を接合した場合、図4のような光学素子20bが製造される。
以下、第2の実施形態における光学素子の製造方法について図面を参照しつつ説明する。
図5は、第2の実施形態における光学素子30の製造方法を示すフローチャートであり、図6は、第2の実施形態における光学素子30の製造過程の各状態を示す図である。以下では、図6と対応させつつ図5のフローチャートを説明する。
図5のステップS11では、第2の基板32にエッチング加工することで貫通穴を形成する。第2の基板32の材質は、エッチング加工性に優れた材質であれば特に限定されない。例えば、金属、ガラス、石英、プラスチック等である。このとき図6(a)に示される第2の基板32にステップS11の処理を行うことで、図6(b)に示されるように第2の基板32に貫通穴が形成された状態となる。
図5のステップS12では、第2の基板32の表面である第1面に反射防止構造または光反射構造である光学構造33を形成する。光学構造33は、第1の実施形態で説明した光学構造24と同様のものである。このとき図6(b)に示される貫通穴が形成された第2の基板32にステップS12の処理を行うことで、図6(c)に示されるように第2の基板32と光学構造33からなる光学部材34が形成された状態となる。
図5のステップS13では、第2の基板32と光学構造33とからなる光学部材34に光が透過する素材からなる第1の基板31を接合する。光学部材34に第1の基板31を接合する際には、光透過性の接着剤を用いて、光学部材34と第1の基板31との間にその接着剤を充填することで接合する。このとき図6(c)に示される光学部材34にステップS13の処理を行うことで、図6(d)に示されるような光学素子30が完成する。
以上の光学素子30の製造方法によれば、反射防止構造または光反射構造である光学構造33を形成する材料のエッチング加工性に関係なく、光学構造33が形成され、且つ、物理的開口を有する光学素子30を製造することができる。
以下、第3の実施形態における光学素子の製造方法について図面を参照しつつ説明する。
図7は、第3の実施形態における光学素子40の製造方法を示すフローチャートであり、図8は、第3の実施形態における光学素子40の製造過程の各状態を示す図である。以下では、図8と対応させつつ図7のフローチャートを説明する。
図7のステップS21では、第2の基板42の第1面にエッチング加工することで物理的開口とするための溝を形成する。第2の基板42の材質は、第2の実施形態で説明した第2の基板32の材質と同様である。このとき図8(a)に示される第2の基板42にステップS21の処理を行うことで、図8(b)に示されるように第2の基板42に溝が形成された状態となる。
一般に、エッチング加工によって物理的開口の形成を行う際、加工上の制限から物理的開口の深さは、開口径以下とされる。そのため、図8(b)の開口径φが第2の基板42の厚さDよりも小さい場合、第2の基板42に貫通した物理的開口(貫通穴)を形成することは難しい。第3の実施形態は、エッチング加工によって開口径φの物理的開口を形成する際、その物理的開口を貫通させることが困難であるような厚さDをもつ第2の基板42を用いたとしても光学素子を製造することができるような、光学素子製造方法である。
図7のステップS22では、溝を形成した第2の基板42の第1面に反射防止構造または光反射構造である光学構造43を形成する。光学構造43は、第2の実施形態で説明した光学構造33と同様のものである。このとき図8(b)に示される溝が形成された第2の基板42の第1面にステップS22の処理を行うことで、図8(c)に示されるように第2の基板42と光学構造43からなる光学部材44が形成された状態となる。
図7のステップS23では、光学部材44を構成する反射防止構造または光反射構造である光学構造43に、光が透過する素材からなる第1の基板41を接合する。光学部材44に第1の基板41を接合する際には、光透過性の接着剤を用いて、光学構造43と第1の基板41との間にその接着剤を充填することで接合する。このとき図8(c)に示される光学部材44にステップS23の処理を行うことで、図8(d)に示されるような状態となる。
図7のステップS23では、物理的開口である溝が第2の基板42を貫通するまで、光学部材44を構成する第2の基板42の、反射防止構造または光反射構造である光学構造43が形成されていない第2面を研磨する。このとき図8(d)に示される第2の基板42の紙面上側にある第2面に対してステップS23の処理を行うことで、図8(e)に示されるような光学素子40が完成する。
以上の光学素子40の製造方法によれば、反射防止構造または光反射構造である光学構造43を形成する材料のエッチング加工性に関係なく、光学構造44が形成され、且つ、物理的開口を有する光学素子40を製造することができる。
また、この製造方法によれば、ある開口径の物理的開口を貫通させることが困難である厚さを有する第2の基板42を用いたとしても、その開口径をもつ貫通した物理的開口を有した光学素子40を製造することができる。
なお、本実施形態では、図7では、光学構造43に第1の基板41を接合した後に研磨処理を行う例を示したが、研磨処理を行った後に光学構造43に第1の基板41を接合してもよい。また、光学構造43は、第2の基板42に溝を形成した後に形成されれば良く、例えば、溝が貫通するまで第2面が研磨された後に、光学構造43が形成されてもよい。
以下、第4の実施形態における光学素子の製造方法について図面を参照しつつ説明する。
図9は、第4の実施形態における光学素子50の製造方法を示すフローチャートであり、図10は、第4の実施形態における光学素子50の製造過程の各状態を示す図である。以下では、図9と対応させつつ図10のフローチャートを説明する。
図9のステップS31からS33は、第2の実施形態の光学素子30の製造方法を説明するフローチャートである図5のステップS11からS13の処理と等しいため、説明を省略する。
また、図10の(a)から(d)のそれぞれの状態は、図6の(a)から(d)のそれぞれの状態と等しい。ステップS33の処理が終了したとき、図10の(d)に示されるような状態となる。
ステップS34では、第2の基板52と反射防止構造または光反射構造である光学構造53からなる光学部材55に光が透過する素材からなる第3の基板54を接合する。このとき、第3の基板54と第1の基板51に光学部材55が挟まれるように、光学部材55に第3の基板54を接合する。またこのとき、図10の(d)に示される光学部材53にステップS34の処理を行うことで、図10(e)に示されるような光学素子50が完成する。
以上の光学素子50の製造方法によれば、反射防止構造または光反射構造である光学構造53を形成する材料のエッチング加工性に関係なく、光学構造53が形成され、且つ、物理的開口を有する光学素子50を製造することができる。
また、光学素子50の製造方法によれば、反射防止構造または光反射構造である光学構造53が第1の基板51と第3の基板54とに挟み込まれ、接着剤で封止されているため、光学構造53に対する空気接触、物理接触を防ぐことができる光学素子50を製造することができる。
また、第4の実施形態における光学素子50の製造方法は、第2の実施形態の光学素子製造方法によって製造された光学素子30に対して、図9のステップS34の処理を実行することで光学素子50を製造する方法であると言い換えることができるが、例えば、第3の実施形態の光学素子製造方法によって製造された光学素子40に対して、図9のステップS34の処理を実行することで光学素子を製造するような製造方法としてもよい。
また、第4の実施形態の変形例として、図9のステップS32(図5のステップS12)において形成される反射防止構造は、例えば、第2の基板に材料を蒸着し、その材料に微細加工を行うことで微細構造を形成したものであってもよい。材料としてはSi等が用いられる。図11は、第2の基板62に微細構造である反射防止構造64が形成された光学素子60の例を示す図である。尚、光学素子60の製造方法は、第4の実施形態で説明した光学素子50の製造方法と等しいものとする。
反射防止構造64は、例えば、表面に複数の微細な凹凸が形成されている。図11の構成において、紙面上方向から光が透過する素材からなる第3の基板63に光を照射した場合、第3の基板63を透過した光のうち、一部の光は反射防止構造64へ到達し、他の光は第2の基板62に形成された物理的開口と第3の基板23を透過する。反射防止構造64へ到達した光は、反射防止構造64の凹凸の間に侵入し、凹凸の内部で散乱する。そのため、反射防止構造64表面での正反射を防ぐことができ、凹凸の外部への光の散乱が少ないことから光の反射率を低減する反射防止構造として機能する。
また、上記に挙げた各実施形態の光学素子製造方法において、第2の基板に形成される物理的開口は、複数形成され、ニポウパターンに配置されているようなものであってもよい。図12は、ニポウパターンに配置された複数の物理的開口71を有する光学素子70を一方向から見た図を示している。光学素子70は、例えば、後述するディスク走査型共焦点顕微鏡において、スキャンユニットのディスクとして用いられてもよい。
また、上記に挙げた各実施形態の光学素子製造方法において、第2の基板に形成された物理的開口は、第2の基板に形成されたスリットであってもよい。図13は、複数のスリット81が物理的開口として形成された光学素子80を一方向から見た図を示している。光学素子80についても光学素子70と同様に、後述するディスク走査型共焦点顕微鏡において、スキャンユニットのディスクとして用いられてもよい。
尚、上記に挙げた各実施形態における光学素子の製造方法によって製造された光学素子は、共焦点観察装置であるディスク走査型共焦点顕微鏡のディスクとして用いることができる。図14は、上述した光学素子を備えるディスク走査型共焦点顕微鏡1の構成の一例を示す図である。
ディスク走査型共焦点顕微鏡1は、共焦点光学系を備える共焦点観察装置であり、光源10と、コリメートレンズ9と、ダイクロイックミラー7と、レンズ4、6と、ディスク5と、対物レンズ3と、結像レンズ8と、を含む。光源10は、励起用のレーザ光を射出する光源として機能する。ダイクロイックミラー7は、光源10から射出されるレーザ光を反射し、そのレーザ光が標本2に照射されることで標本2から生じた蛍光を透過させるようなものである。ディスク5は、本発明の各実施形態に挙げた光学素子を用いたディスクであり、ディスク5は、対物レンズ3の焦点面と光学的に共役な面にディスク表面が位置するように配置される。尚、ディスク5に用いられる光学素子には、図12、図13のように複数の物理的開口が形成されていることが望ましい。また、ディスク5は、軸5aを軸として回転させることができるように配置される。
光源10から射出されたレーザ光は、コリメートレンズ9でコリメートされ、ダイクロイックミラー7によって反射されて、ディスク5に形成された物理的開口、レンズ4、6及び対物レンズ3を介して標本2へ照射される。標本2にレーザ光が照射されることで標本2からは蛍光が生じる。蛍光は、レーザ光と同様の経路をたどり、ディスク5の物理的開口を通過し、ダイクロイックミラーを透過し、結像レンズ8によって結像面11に結像される。結像面11には、CCDカメラ等の図示しない画像取得装置が設けられ、画像が取得される。
以上の構成を有するディスク走査型共焦点顕微鏡1は、軸5aを軸としてディスク5を回転させることで、物理的開口を通過したレーザ光によって標本2を走査することができる。ディスクに形成される反射防止構造または光反射構造である光学構造は、エッチング加工性に依らない様々な材料や構造によって形成され得る。
本発明の光学素子製造方法、光学素子、共焦点観察装置は、上述の実施の形態に限らず、特許請求の範囲に記載した本発明を逸脱しない範囲において、さまざまな変形、変更が可能である。
1 ディスク走査型共焦点顕微鏡
2 標本
3 対物レンズ
4、6 レンズ
5 ディスク
5a 軸
7 ダイクロイックミラー
8 結像レンズ
9 コリメートレンズ
10 光源
11 結像面
20、20a、20b、30、40、50、60、70、80 光学素子
21、31、41、51、61 第1の基板
22、32、42、52、62 第2の基板
24、33、43、53、64 光学構造(反射防止構造または光反射構造)
25、34、44、55、65 光学部材
23、54、63 第3の基板
71 物理的開口
81 スリット
2 標本
3 対物レンズ
4、6 レンズ
5 ディスク
5a 軸
7 ダイクロイックミラー
8 結像レンズ
9 コリメートレンズ
10 光源
11 結像面
20、20a、20b、30、40、50、60、70、80 光学素子
21、31、41、51、61 第1の基板
22、32、42、52、62 第2の基板
24、33、43、53、64 光学構造(反射防止構造または光反射構造)
25、34、44、55、65 光学部材
23、54、63 第3の基板
71 物理的開口
81 スリット
Claims (7)
- 第2の基板の第1面に物理的開口を形成し、
前記物理的開口を形成した後に、前記第1面に反射防止構造または光反射構造を形成し、
前記第2の基板と前記反射防止構造または前記光反射構造からなる光学部材に、光が透過する素材からなる第1の基板を接合する
ことを特徴とする光学素子製造方法。 - 請求項1に記載の光学素子製造方法であって、
前記光学部材を構成する前記反射防止構造または前記光反射構造に、前記第1の基板を接合し、
前記物理的開口が前記第2の基板を貫通するまで、前記光学部材を構成する前記第2の基板の前記反射防止構造または前記光反射構造が形成されていない第2面を研磨する
ことを特徴とする光学素子製造方法。 - 請求項1または請求項2に記載の光学素子製造方法であって、さらに、
光が透過する素材からなる第3の基板と前記第1の基板に前記光学部材が挟まれるように、前記光学部材に前記第3の基板を接合する
ことを特徴とする光学素子製造方法。 - 請求項1乃至請求項3のいずれか1項に記載の光学素子製造方法であって、
前記物理的開口は、前記第2の基板に複数形成され、
前記第2の基板に形成された複数の物理的開口は、ニポウパターンに配置されている
ことを特徴とする光学素子製造方法。 - 請求項1乃至請求項3のいずれか1項に記載の光学素子製造方法であって、
前記物理的開口は、前記第2の基板に形成されたスリットである
ことを特徴とする光学素子製造方法。 - 第1面に物理的開口が形成された第2の基板と、前記第2の基板の前記第1面に形成された光反射構造と、からなる光学部材と、
前記光学部材と接合された、光が透過する素材からなる第1の基板と、を備える
ことを特徴とする光学素子。 - 請求項6に記載の光学素子を備える
ことを特徴とする共焦点観察装置。
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| JP (1) | JP2017161764A (ja) |
Citations (8)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS4324875Y1 (ja) * | 1965-06-11 | 1968-10-18 | ||
| US4927254A (en) * | 1987-03-27 | 1990-05-22 | The Board Of Trustees Of The Leland Stanford Junior University | Scanning confocal optical microscope including an angled apertured rotating disc placed between a pinhole and an objective lens |
| JPH05508235A (ja) * | 1990-02-27 | 1993-11-18 | テンカー・インストルメンツ | 改良形共焦点走査光学顕微鏡 |
| JPH07113660A (ja) * | 1993-10-13 | 1995-05-02 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | 光学式エンコーダ |
| JPH08264563A (ja) * | 1995-03-17 | 1996-10-11 | Miri Wave:Kk | 半導体装置の製造方法 |
| JPH10141997A (ja) * | 1996-09-10 | 1998-05-29 | Harmonic Drive Syst Ind Co Ltd | オプティカルエンコーダ |
| JP2000304572A (ja) * | 1999-04-20 | 2000-11-02 | Merutekku:Kk | フォトセンサー用スケール |
| WO2015000764A1 (en) * | 2013-07-04 | 2015-01-08 | Perkinelmer Cellular Technologies Germany Gmbh | Apparatus for confocal observation of a specimen |
-
2016
- 2016-03-10 JP JP2016047066A patent/JP2017161764A/ja active Pending
Patent Citations (8)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS4324875Y1 (ja) * | 1965-06-11 | 1968-10-18 | ||
| US4927254A (en) * | 1987-03-27 | 1990-05-22 | The Board Of Trustees Of The Leland Stanford Junior University | Scanning confocal optical microscope including an angled apertured rotating disc placed between a pinhole and an objective lens |
| JPH05508235A (ja) * | 1990-02-27 | 1993-11-18 | テンカー・インストルメンツ | 改良形共焦点走査光学顕微鏡 |
| JPH07113660A (ja) * | 1993-10-13 | 1995-05-02 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | 光学式エンコーダ |
| JPH08264563A (ja) * | 1995-03-17 | 1996-10-11 | Miri Wave:Kk | 半導体装置の製造方法 |
| JPH10141997A (ja) * | 1996-09-10 | 1998-05-29 | Harmonic Drive Syst Ind Co Ltd | オプティカルエンコーダ |
| JP2000304572A (ja) * | 1999-04-20 | 2000-11-02 | Merutekku:Kk | フォトセンサー用スケール |
| WO2015000764A1 (en) * | 2013-07-04 | 2015-01-08 | Perkinelmer Cellular Technologies Germany Gmbh | Apparatus for confocal observation of a specimen |
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