JP2017167535A - ライトフィールド顕微鏡および照明方法 - Google Patents

ライトフィールド顕微鏡および照明方法 Download PDF

Info

Publication number
JP2017167535A
JP2017167535A JP2017043516A JP2017043516A JP2017167535A JP 2017167535 A JP2017167535 A JP 2017167535A JP 2017043516 A JP2017043516 A JP 2017043516A JP 2017043516 A JP2017043516 A JP 2017043516A JP 2017167535 A JP2017167535 A JP 2017167535A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
objective lens
light
optical system
excitation light
sample
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP2017043516A
Other languages
English (en)
Inventor
島田 佳弘
Yoshihiro Shimada
佳弘 島田
祐仁 荒井
Yujin Arai
祐仁 荒井
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Olympus Corp
Original Assignee
Olympus Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Olympus Corp filed Critical Olympus Corp
Publication of JP2017167535A publication Critical patent/JP2017167535A/ja
Pending legal-status Critical Current

Links

Images

Classifications

    • GPHYSICS
    • G02OPTICS
    • G02BOPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
    • G02B21/00Microscopes
    • G02B21/0004Microscopes specially adapted for specific applications
    • G02B21/002Scanning microscopes
    • G02B21/0024Confocal scanning microscopes (CSOMs) or confocal "macroscopes"; Accessories which are not restricted to use with CSOMs, e.g. sample holders
    • G02B21/0032Optical details of illumination, e.g. light-sources, pinholes, beam splitters, slits, fibers
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/62Systems in which the material investigated is excited whereby it emits light or causes a change in wavelength of the incident light
    • G01N21/63Systems in which the material investigated is excited whereby it emits light or causes a change in wavelength of the incident light optically excited
    • G01N21/64Fluorescence; Phosphorescence
    • G01N21/645Specially adapted constructive features of fluorimeters
    • G01N21/6456Spatial resolved fluorescence measurements; Imaging
    • G01N21/6458Fluorescence microscopy
    • GPHYSICS
    • G02OPTICS
    • G02BOPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
    • G02B21/00Microscopes
    • G02B21/0004Microscopes specially adapted for specific applications
    • G02B21/002Scanning microscopes
    • G02B21/0024Confocal scanning microscopes (CSOMs) or confocal "macroscopes"; Accessories which are not restricted to use with CSOMs, e.g. sample holders
    • G02B21/0052Optical details of the image generation
    • G02B21/0072Optical details of the image generation details concerning resolution or correction, including general design of CSOM objectives
    • GPHYSICS
    • G02OPTICS
    • G02BOPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
    • G02B21/00Microscopes
    • G02B21/0004Microscopes specially adapted for specific applications
    • G02B21/002Scanning microscopes
    • G02B21/0024Confocal scanning microscopes (CSOMs) or confocal "macroscopes"; Accessories which are not restricted to use with CSOMs, e.g. sample holders
    • G02B21/0052Optical details of the image generation
    • G02B21/0076Optical details of the image generation arrangements using fluorescence or luminescence
    • GPHYSICS
    • G02OPTICS
    • G02BOPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
    • G02B21/00Microscopes
    • G02B21/02Objectives
    • G02B21/025Objectives with variable magnification
    • GPHYSICS
    • G02OPTICS
    • G02BOPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
    • G02B21/00Microscopes
    • G02B21/36Microscopes arranged for photographic purposes or projection purposes or digital imaging or video purposes including associated control and data processing arrangements
    • G02B21/365Control or image processing arrangements for digital or video microscopes
    • G02B21/367Control or image processing arrangements for digital or video microscopes providing an output produced by processing a plurality of individual source images, e.g. image tiling, montage, composite images, depth sectioning, image comparison
    • GPHYSICS
    • G02OPTICS
    • G02BOPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
    • G02B27/00Optical systems or apparatus not provided for by any of the groups G02B1/00 - G02B26/00, G02B30/00
    • G02B27/0075Optical systems or apparatus not provided for by any of the groups G02B1/00 - G02B26/00, G02B30/00 with means for altering, e.g. increasing, the depth of field or depth of focus
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/62Systems in which the material investigated is excited whereby it emits light or causes a change in wavelength of the incident light
    • G01N21/63Systems in which the material investigated is excited whereby it emits light or causes a change in wavelength of the incident light optically excited
    • G01N21/64Fluorescence; Phosphorescence
    • G01N21/645Specially adapted constructive features of fluorimeters
    • G01N2021/6463Optics
    • G01N2021/6478Special lenses
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N2201/00Features of devices classified in G01N21/00
    • G01N2201/06Illumination; Optics
    • G01N2201/061Sources
    • G01N2201/06113Coherent sources; lasers
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N2201/00Features of devices classified in G01N21/00
    • G01N2201/06Illumination; Optics
    • G01N2201/069Supply of sources
    • G01N2201/0696Pulsed
    • G01N2201/0697Pulsed lasers
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N2201/00Features of devices classified in G01N21/00
    • G01N2201/10Scanning
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N2201/00Features of devices classified in G01N21/00
    • G01N2201/10Scanning
    • G01N2201/105Purely optical scan
    • GPHYSICS
    • G02OPTICS
    • G02BOPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
    • G02B21/00Microscopes
    • G02B21/0004Microscopes specially adapted for specific applications
    • G02B21/002Scanning microscopes
    • G02B21/0024Confocal scanning microscopes (CSOMs) or confocal "macroscopes"; Accessories which are not restricted to use with CSOMs, e.g. sample holders
    • G02B21/0036Scanning details, e.g. scanning stages
    • G02B21/0048Scanning details, e.g. scanning stages scanning mirrors, e.g. rotating or galvanomirrors, MEMS mirrors

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Analytical Chemistry (AREA)
  • Optics & Photonics (AREA)
  • Health & Medical Sciences (AREA)
  • Nuclear Medicine, Radiotherapy & Molecular Imaging (AREA)
  • Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
  • Biochemistry (AREA)
  • General Health & Medical Sciences (AREA)
  • Immunology (AREA)
  • Pathology (AREA)
  • Multimedia (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Computer Vision & Pattern Recognition (AREA)
  • Microscoopes, Condenser (AREA)

Abstract

【課題】観察範囲以外の領域への励起光の照射を抑えて、試料の褪色を防止する。
【解決手段】試料Xに励起光を照射する照明光学系2と、照明光学系2により励起光が照射されることにより試料Xにおいて発生した蛍光を集光する対物レンズ9、対物レンズ9により集光された蛍光を撮影する撮像素子13および撮像素子13と対物レンズ9との間に配置されたマイクロレンズアレイ12を備える検出光学系3とを備え、照明光学系2が、対物レンズ9の焦点面Aを含みかつ対物レンズ9の光軸方向に所定の幅を有する励起光の光束を、光軸に略直交する方向に沿って試料Xに照射するライトフィールド顕微鏡1を提供する。
【選択図】図1

Description

本発明は、ライトフィールド顕微鏡および照明方法に関するものである。
従来、試料の深部に焦点を合わせて1回の画像取得を行うことにより、試料の3次元画像データを構築することができるライトフィールド顕微鏡が知られている(例えば、特許文献1参照。)。
米国特許第7723662号明細書
しかしながら、従来のライトフィールド顕微鏡は、落射照明あるいは透過照明のように対物レンズの光軸に沿う方向から励起光を入射させると、対物レンズの焦点面から離れた観察範囲以外の領域にも励起光が照射されるために試料が褪色してしまうという不都合がある。
本発明は、上述した事情に鑑みてなされたものであって、観察範囲以外の領域への励起光の照射を抑えて、試料の褪色を防止することができるライトフィールド顕微鏡および照明方法を提供することを目的としている。
上記目的を達成するために、本発明は以下の手段を提供する。
本発明の一態様は、試料に励起光を照射する照明光学系と、該照明光学系により前記励起光が照射されることにより前記試料において発生した蛍光を集光する対物レンズ、該対物レンズにより集光された蛍光を撮影する撮像素子および該撮像素子と前記対物レンズとの間に配置されたマイクロレンズアレイを備える検出光学系とを備え、前記照明光学系が、前記対物レンズの焦点面を含みかつ該対物レンズの光軸方向に所定の幅を有する前記励起光の光束を、前記光軸に略直交する方向に沿って前記試料に照射するライトフィールド顕微鏡を提供する。
本態様によれば、照明光学系により試料に対して励起光が照射されると、試料において発生した蛍光が対物レンズにより集光され、マイクロレンズアレイを通過した後に撮像素子によって撮影される。これにより、試料内における対物レンズの焦点面のみならず、励起光が通過した試料の各部の情報を撮像素子により取得することができ、取得された画像情報に基づいて、試料の3次元画像を取得することができる。
この場合において、照明光学系が、対物レンズの光軸方向に所定の幅を有する励起光の光束を光軸に略直交する方向に沿って試料に照射するので、試料の3次元画像の取得に必要な領域のみに効率的に励起光を照射することができ、それ以外の領域における試料の褪色を防止することができる。したがって、対物レンズの光軸方向に焦点面をずらした位置で観察を行う場合にも褪色を生じていないため、試料の良好な3次元画像を取得することができる。
上記態様においては、前記照明光学系が、前記励起光の光束の幅を変更する光束幅調節部を備えていてもよい。
このようにすることで、光束幅調節部の作動により励起光の光束の幅を調節することにより、対物レンズとマイクロレンズアレイとの組み合わせにより決定される3次元画像の深度に応じて、必要な領域のみに励起光を照射して、試料の褪色を抑制することができる。
また、上記態様においては、前記試料を前記検出光学系の光軸方向に、前記対物レンズと前記マイクロレンズアレイとの組み合わせに応じて決定される所定の距離だけ順次移動させて撮影してもよい。
また、上記態様においては、前記照明光学系が、前記励起光を射出する光源と、該光源からの前記励起光の一部を通過させるスリットとを備え、前記光束幅調節部が、前記スリットの開口幅を変更してもよい。
このようにすることで、光束幅調節部がスリットの開口幅を変更することにより、試料に入射させる励起光の光束の幅を簡易に調節することができる。
また、上記態様においては、前記照明光学系が、前記励起光を射出する光源と、該光源からの前記励起光を集光するズーム光学系とを備え、前記光束幅調節部が、前記ズーム光学系によるズーム倍率を変更してもよい。
このようにすることで、光束幅調節部がズーム光学系によるズーム倍率を変更することにより、試料に入射させる励起光の光束の幅を簡易に調節することができる。
また、上記態様においては、前記照明光学系が、前記励起光を射出する光源と、該光源からの前記励起光の光路に択一的に挿入されて前記励起光を集光する倍率の異なる複数の光学系とを備え、前記光束幅調節部が、複数の前記光学系を切り替えてもよい。
このようにすることで、光束幅調節部が倍率の異なる光学系を択一的に切り替えることにより、試料に入射させる励起光の光束の幅を簡易に調節することができる。
また、上記態様においては、前記対物レンズおよび前記マイクロレンズアレイの少なくとも1つが切替可能に設けられ、前記対物レンズおよび前記マイクロレンズアレイの少なくとも1つが切り替えられたときに前記光束幅調節部を制御する制御部を備えていてもよい。
このようにすることで、対物レンズとマイクロレンズアレイとの組み合わせにより決定される3次元画像の深度に応じて、制御部が、必要な領域のみに励起光を照射する適切な励起光の光束の幅に調節し、試料の褪色を抑制することができる。
また、本発明の他の態様は、試料に励起光を照射する照明光学系と、該照明光学系により前記励起光が照射されることにより前記試料において発生した蛍光を集光する対物レンズ、該対物レンズにより集光された蛍光を撮影する撮像素子および該撮像素子と前記対物レンズとの間に配置されたマイクロレンズアレイを備える検出光学系とを備え、前記照明光学系が、前記対物レンズの光軸に略直交する方向に沿うシート状の光束を生成して前記光軸に略直交する方向に沿って前記試料に照射するシート照明光生成部と、該シート照明光生成部により生成されたシート状の光束を、前記撮像素子による1枚の画像の露光時間内に、前記対物レンズの焦点面を含む所定範囲にわたって前記光軸方向に走査させる走査部とを備えるライトフィールド顕微鏡を提供する。
本態様によれば、シート照明光生成部により生成されて、対物レンズの光軸に略直交する方向に沿って試料に照射されるシート状の光束を、走査部の作動によって光軸方向に走査させることにより、焦点面を含む所定範囲の幅を有する励起光を照射したのと同等の効果を得ることができる。
上記態様においては、前記対物レンズおよび前記マイクロレンズアレイの少なくとも1つが切替可能に設けられ、前記対物レンズおよび前記マイクロレンズアレイの少なくとも1つが切り替えられたときに前記走査部による前記シート状の光束の走査幅を制御する制御部を備えていてもよい。
このようにすることで、対物レンズとマイクロレンズアレイとの組み合わせにより決定される3次元画像の深度に応じて、制御部が、必要な領域のみに励起光を照射することができ、試料の褪色を抑制することができる。
また、上記態様においては、前記走査部による前記シート状の光束の走査幅の一部に開口幅を有するスリットを備えていてもよい。
このようにすることで、走査部によるシート状の光束の走査幅の中央付近に、走査速度が略等速となる領域が存在するため、その等速で走査されるシート状の光束のみをスリットによって切り出して試料に照射することができる。
また、上記態様においては、前記スリットの前記開口幅を変更する開口幅変更部を備えていてもよい。
このようにすることで、対物レンズとマイクロレンズアレイとの組み合わせにより決定される3次元画像の深度に応じた必要な領域のみに励起光を照射することができ、試料の褪色を抑制することができる。
また、上記態様においては、前記励起光が極短パルスレーザ光であってもよい。
このようにすることで、試料における多光子吸収効果によって蛍光を発生させることができる。
また、上記態様においては、前記マイクロレンズアレイとリレーレンズとが、前記撮像素子と前記対物レンズとの間に択一的に挿脱可能に設けられていてもよい。
このようにすることで、マイクロレンズアレイを挿入することにより、試料の3次元画像を取得することができる一方、マイクロレンズアレイを離脱させ、リレーレンズを光路に入れ、走査部を停止してシート状の光束を対物レンズの焦点面近傍に固定することによって、シート状の光束に沿う2次元画像を取得することができる。
また、上記態様においては、前記マイクロレンズアレイと像位置補正手段とが、前記撮像素子と前記対物レンズとの間に択一的に挿脱可能に設けられていてもよい。
また、本発明の他の態様は、照明光学系と、該照明光学系により励起光が照射されることにより試料において発生した蛍光を集光する対物レンズと、該対物レンズにより集光された蛍光を撮影する撮像素子と、該撮像素子と前記対物レンズとの間に配置されたマイクロレンズアレイとを備えたライトフィールド顕微鏡を用いた照明方法であって、前記照明光学系が、前記対物レンズの焦点面を含みかつ該対物レンズの光軸方向に所定の幅を有する前記励起光の光束を、前記光軸に略直交する方向に沿って前記試料に照射する照明方法を提供する。
上記態様においては、前記励起光の所定の幅を、前記対物レンズと前記マイクロレンズアレイの組み合わせに基づいて調節してもよい。
また、本発明の他の態様は、照明光学系と、該照明光学系により励起光が照射されることにより試料において発生した蛍光を集光する対物レンズと、該対物レンズにより集光された蛍光を撮影する撮像素子と、該撮像素子と前記対物レンズとの間に配置されたマイクロレンズアレイとを備えたライトフィールド顕微鏡を用いた照明方法であって、前記照明光学系が、前記対物レンズの光軸の近辺で集光し当該光軸に略直交する方向に沿うシート状の励起光の光束を、前記光軸に略直交する方向に沿って前記試料に照射するとともに、このシート状の光束を、前記撮像素子における1枚の画像の露光時間内に前記対物レンズの焦点面を含む所定範囲にわたって前記対物レンズの光軸方向に走査させる照明方法を提供する。
上記態様においては、前記シート状の光束の前記対物レンズの光軸方向への走査幅を、前記対物レンズと前記マイクロレンズアレイの組み合わせに基づいて制御してもよい。
また、上記態様においては、前記励起光として極短パルスレーザ光を使用してもよい。
本発明によれば、観察範囲以外の領域への励起光の照射を抑えて、試料の褪色を防止することができるという効果を奏する。
本発明の第1の実施形態に係るライトフィールド顕微鏡を示す模式的な全体構成図である。 本発明の第2の実施形態に係るライトフィールド顕微鏡を示す模式的な全体構成図である。 図2のライトフィールド顕微鏡の第1の変形例を示す模式的な全体構成図である。 図2のライトフィールド顕微鏡の第2の変形例を示す模式的な全体構成図である。 本発明の第3の実施形態に係るライトフィールド顕微鏡であり、対物レンズの光軸上にマイクロレンズアレイを配置した状態を示す模式的な全体構成図である。 本発明の第3の実施形態に係るライトフィールド顕微鏡であり、対物レンズの光軸上からマイクロレンズアレイを外した状態を示す模式的な全体構成図である。
以下に、本発明の第1の実施形態に係るライトフィールド顕微鏡1について図1を参照して説明する。
本実施形態に係るライトフィールド顕微鏡1は、図1に示されるように、ステージ(図示略)に載置された試料Xに対して励起光を照射する照明光学系2と、試料Xにおいて発生した蛍光を検出する検出光学系3とを備えている。
照明光学系2は、励起光を発生する光源4と、該光源4から発せられた励起光を略平行光にするコリメートレンズ5と、該コリメートレンズ5によって略平行光に変換された励起光の一部を通過させるスリット6を有するスリット部材(光束幅調節部)7とを備えている。図中、符号8は励起光を導光する光ファイバである。
光ファイバ8の射出端から射出された励起光は、スリット6の開口幅によって制限された一定の厚さ寸法を有する平板状に形成されて、後述する対物レンズ9の焦点面Aに沿って、試料Xに照射されるようになっている。
励起光の厚さ寸法は、後述する対物レンズ9およびマイクロレンズアレイ12の組み合わせにより決定される3次元画像の深度より若干大きく設定されている。
検出光学系3は、励起光の入射方向に略直交する光軸を有し、試料Xにおいて発生した蛍光を集光する対物レンズ9と、該対物レンズ9により集光された蛍光内に含まれる励起光を除去するエミッションフィルタ10と、該エミッションフィルタ10を通過した蛍光を集光する結像レンズ11と、該結像レンズ11の焦点位置近傍に配置されたマイクロレンズアレイ12と、該マイクロレンズアレイ12により集光された蛍光を撮影する撮像素子13とを備えている。
このように構成された本実施形態に係るライトフィールド顕微鏡1の作用について以下に説明する。
本実施形態に係るライトフィールド顕微鏡1を用いた照明方法は、試料Xの3次元画像を取得するために、照明光学系2の光源4から励起光を射出させる。光源4から射出され光ファイバ8により導光された励起光は、スリット部材7のスリット6を通過することにより、一定の厚さ(幅)寸法を有する平板状に形成された試料Xに対して側方から略水平方向に入射される。
試料Xには予め蛍光標識をしておくことにより、照射された励起光によって試料X内の蛍光物質が励起され、蛍光が発生する。試料Xにおいて発生した蛍光は、対物レンズ9により集光され、エミッションフィルタ10を通過させられることにより、励起光が除去された後に、結像レンズ11によって集光され、マイクロレンズアレイ12を通過して撮像素子13により撮影される。
撮像素子13により取得された蛍光画像には、マイクロレンズアレイ12によって試料X内の焦点面A内のみならず、対物レンズ9の光軸に沿う方向の各位置の情報が含まれている。したがって、取得された蛍光画像に対して、ソフトウェアによるデコンボリューション処理を行うことにより、3次元的な各位置とその位置から発せられた蛍光強度とを対応づけて抽出することが可能となり、試料Xの3次元の蛍光画像を生成することができる。
この場合において、本実施形態に係るライトフィールド顕微鏡1および照明方法によれば、試料X内の深部に配置される対物レンズ9の焦点面Aに沿って所定の厚さ寸法を有する励起光を入射させるので、3次元画像の構築に不必要な領域への励起光の入射を防止して、試料Xの褪色を防止することができるという利点がある。
すなわち、3次元画像の深度は、対物レンズ9とマイクロレンズアレイ12との組み合わせによって決定されるので、その深度を超える領域に励起光を入射しても有効な情報を得ることはできない。
したがって、上記3次元画像の深度内から発せられる蛍光を効率的に取得するために、その領域を含む最小限の領域に励起光を入射させることにより、試料Xの褪色を防ぐことができるという利点がある。さらに深い深度の3次元画像の構築を望む場合には、照明光学系2と検出光学系3の相対位置を維持したままで、試料Xを対物レンズ9の光軸方向に移動させることにより、試料X内において対物レンズ9の焦点面Aを移動させればよい。
これにより、新たな焦点面Aに沿って励起光の厚さ寸法に対応する3次元画像を構築することができる。この場合に、新たな領域には、それ以前に励起光が照射されていないので、試料Xが褪色しておらず、良好な3次元画像を取得することができるという利点がある。更に試料Xを検出光学系3の光軸方向に、深度に相当する距離だけ順次移動させてそれぞれ撮像し、3次元画像を取得して、それらを結合することにより試料X全体の3次元画像を得ることもできる。
なお、本実施形態においては、励起光の厚さ寸法は、対物レンズ9とマイクロレンズアレイ12との組み合わせにより決定される3次元画像の深度に応じて決められていたが、単に、対物レンズ9とマイクロレンズアレイ12との組み合わせに応じて決めてもよい。
また、本実施形態のように静的な光束で試料Xを照明する場合、試料X内部に強い光散乱物質や蛍光吸収物質があると、照明方向からみたこれらの物質の後方に励起光が届かなくなり、結果として取得画像に影が生じることがある。このような影の発生を抑制するために、平板状に形成された励起光をその面内で走査する走査手段を照明光学系2に設けて、試料Xに対して略検出光軸周りに異なる角度で励起光を照射するようにしてもよい。
次に、本発明の第2の実施形態に係るライトフィールド顕微鏡14について、図2を参照して以下に説明する。
本実施形態の説明において、上述した第1の実施形態に係るライトフィールド顕微鏡1と構成を共通とする箇所には同一符号を付して説明を省略する。
本実施形態に係るライトフィールド顕微鏡14は、図2に示されるように、スリット部材7のスリット6が開口幅を調節可能に設けられ、倍率の異なる複数の対物レンズ15と、該対物レンズ15を交換するレボルバ16と、レンズピッチの異なる複数のマイクロレンズアレイ17と、該マイクロレンズアレイ17のいずれか1つを択一的に光軸上に配置するターレット18と、対物レンズ9とマイクロレンズアレイ17との組み合わせに応じてスリット部材7を制御する制御部19とを備えている点で、第1の実施形態に係るライトフィールド顕微鏡1と相違している。
レボルバ16およびターレット18には図示しないセンサが配置されており、光軸上に配置されている対物レンズ15およびマイクロレンズアレイ17の種類を制御部19に送信するようになっている。
このように構成された本実施形態に係るライトフィールド顕微鏡14および照明方法によれば、目的とする3次元画像の深度を得るために、レボルバ16を操作して倍率の異なる複数の対物レンズ15からいずれかの倍率の対物レンズ15を選択して光軸上に配置するとともに、ターレット18を操作してピッチの異なるマイクロレンズアレイ17からいずれかのピッチのマイクロレンズアレイ17を選択して光軸上に配置する。
レボルバ16に設けられたセンサにより、光軸上に配置された対物レンズ15の倍率が検出され、ターレット18に設けられたセンサにより、光軸上に配置されたマイクロレンズアレイ17のピッチが検出されるので、制御部19が、選択された対物レンズ15の倍率とマイクロレンズアレイ17のピッチとに基づいて、3次元画像の深度を決定し、該深度に対応する厚さ寸法の励起光が試料Xに照射されるようにスリット部材7のスリット6の開口幅を調節する。
これにより、観察者が必要とする撮影倍率や解像度に応じて所望の対物レンズ9およびマイクロレンズアレイ17を選択すると、選択された対物レンズ15とマイクロレンズアレイ17との組み合わせに最も適合する厚さ寸法の励起光を試料Xに照射することができ、不必要な領域への励起光の照射を防止して、試料Xの褪色を効果的に防ぐことができるという利点がある。
なお、本実施形態においては、試料Xに照射する励起光の厚さ寸法をスリット部材7のスリット6の開口幅を変更することによって調節することとしたが、これに代えて、図3に示されるように、照明光学系2の光ファイバ8から射出される励起光をコリメートレンズ5とシリンドリカルレンズ20a,20bとにより平坦な平板状に形成した後に、このように形成された励起光をズーム光学系(光束幅調節部)21に入射させ、該ズーム光学系21によって、試料Xに照射する励起光の厚さ寸法を連続的に変更することにしてもよい。
また、ズーム光学系21に代えて、図4に示されるように、異なる倍率を有する複数のビームエキスパンダ(光学系)22のいずれかを択一的に、シリンドリカルレンズ20bと試料Xとの間に配置可能なターレット(光束幅調節部)23を採用してもよい。これにより、試料Xに照射する励起光の厚さ寸法を段階的に変更することができる。
次に、本発明の第3の実施形態に係るライトフィールド顕微鏡24について、図5および図6を参照して説明する。
本実施形態の説明において、上述した第2の実施形態に係るライトフィールド顕微鏡14と構成を共通とする箇所には同一符号を付して説明を省略する。
本実施形態に係るライトフィールド顕微鏡24は、照明光学系25、およびマイクロレンズアレイ17とリレーレンズ(像位置補正手段)31とが結像レンズ11と撮像素子13との間に択一的に挿脱可能に設けられている点において、第2の実施形態に係るライトフィールド顕微鏡14と相違している。
照明光学系25は、光源4(シート照明光生成部)と、コリメートレンズ(シート照明光生成部)5とシリンドリカルレンズ(シート照明光生成部)26a,26bとによりシート状に形成された励起光を1次元的に走査するガルバノミラー(走査部)27とリレーレンズ28a,28bと、ガルバノミラー27による走査によって変化する射出角度を略水平に変換する集光レンズ29とを備えている。また、集光レンズ29の後段には、スリット部材(開口幅変更部)7が設けられ、ガルバノミラー27による走査範囲の略中央部分の一部のみを通過させて試料Xに入射させるようになっている。図中、符号30は光路形成用のミラーである。
このように構成された本実施形態に係るライトフィールド顕微鏡24の作用について以下に説明する。
本実施形態に係るライトフィールド顕微鏡24を用いた照明方法は、光ファイバ8から射出された励起光が、コリメートレンズ5およびシリンドリカルレンズ26a,26bによって、薄い平行光束が形成され、ガルバノミラー27によって走査され、リレーレンズ28a,28bによってリレーされた後に、集光レンズ29によって集光され、スリット部材7を通過したものが試料Xに照射される。
集光レンズ29の焦点位置は、対物レンズ15の光軸に略一致している。これにより、対物レンズ15の光軸に略直交する平面に沿って入射されたシート状の励起光は、対物レンズ15の光軸近辺で光軸方向に集光して最も薄くなっている。このように形成されたシート状の励起光は、ガルバノミラー27の揺動によって、対物レンズ15の光軸方向に走査させられる。
ガルバノミラー27による励起光の走査速度は撮像素子13の露光時間に対して十分に速く、露光時間内に少なくともスリット6の開口幅分の走査を行うことができるようになっている。
これにより、スリット6の開口幅よりも十分に薄いシート状の励起光によっても、スリット6の開口幅によって決定される厚さ寸法の励起光を照射したのと同様に、3次元画像を取得するための蛍光信号を取得することができる。
ガルバノミラー27を高速に揺動させる場合に、駆動波形は正弦波であることが好ましく、この場合に、正弦波はガルバノミラー27の走査角度に対して各速度が一定ではない。本実施形態においては、試料Xに射出される励起光を、スリット部材7によってガルバノミラー27による走査範囲の中央近傍に制限することにより、シート状の励起光を擬似的に等速度で試料X内に走査させることができる。
なお、スリット部材7は、試料Xの近傍に配置するか、リレーレンズ28aの焦点位置または焦点位置近傍に配置するのが好ましい。
なお、走査速度の補正については、例えば、励起光を光ファイバ8に入射させる前に音響光学変調器のようなモジュレータによって変調することにより行ってもよい。
また、本実施形態に係るライトフィールド顕微鏡24によれば、図6に示されるように、ガルバノミラー27による走査を停止して、シート状の励起光を対物レンズ15の焦点面Aに沿う位置に固定するとともに、マイクロレンズアレイ17を光軸上から離脱させ、リレーレンズ31を光路に挿入することにより、シート照明顕微鏡として利用することができる。観察者は目的に応じてライトフィールド顕微鏡24とシート照明顕微鏡とを切り替えて使用することができる。
また、本実施形態においては、焦点を有するシート光を走査および非走査から選択することによってライトフィールド顕微鏡24とシート照明顕微鏡とを切り替えているが、例えば扁平な平行光束にシリンドリカルレンズのような非対象光学素子を光路に挿脱することによりライトフィールド顕微鏡24とシート照明顕微鏡とを切り替えてもよい。
また、シート照明顕微鏡に切り替える際の、結像位置を補正する手段(像位置補正手段)として、リレーレンズ31に代えて、平行平面ガラスを配置してもよい。
また、本実施形態に係るライトフィールド顕微鏡24では、十分に薄いシート状の励起光を試料Xに照射するので、励起光として極短パルスレーザ光を使用し、多光子吸収効果によって蛍光を発生させることにしてもよい。
また、シート光は対物レンズ15の略光軸位置で集光する線状の光束がシート光の面内方向に光走査されてもよい。このようにすることで、集光位置での光密度を上げることができるので、より高い多光子吸収効果によって蛍光を発生させることができる。
また、第2の実施形態と同様にして、対物レンズ15の倍率とマイクロレンズアレイ17のピッチとの組み合わせに応じて、スリット部材7のスリット6の開口幅を調節することにしてもよい。
1,14,24 ライトフィールド顕微鏡
2,25 照明光学系
3 検出光学系
4 光源(シート照明光生成部)
5 コリメートレンズ(シート照明光生成部)
6 スリット
7 スリット部材(光束幅調節部、開口幅変更部)
9,15 対物レンズ
12,17 マイクロレンズアレイ
13 撮像素子
19 制御部
21 ズーム光学系(光束幅調節部)
22 ビームエキスパンダ(光学系)
26a,26b シリンドリカルレンズ(シート照明光生成部)
27 ガルバノミラー(走査部)
31 リレーレンズ(像位置補正手段)
A 焦点面
X 試料

Claims (19)

  1. 試料に励起光を照射する照明光学系と、
    該照明光学系により前記励起光が照射されることにより前記試料において発生した蛍光を集光する対物レンズ、該対物レンズにより集光された蛍光を撮影する撮像素子および該撮像素子と前記対物レンズとの間に配置されたマイクロレンズアレイを備える検出光学系とを備え、
    前記照明光学系が、前記対物レンズの焦点面を含みかつ該対物レンズの光軸方向に所定の幅を有する前記励起光の光束を、前記光軸に略直交する方向に沿って前記試料に照射するライトフィールド顕微鏡。
  2. 前記照明光学系が、前記励起光の光束の幅を変更する光束幅調節部を備える請求項1に記載のライトフィールド顕微鏡。
  3. 前記試料を前記検出光学系の光軸方向に、前記対物レンズと前記マイクロレンズアレイとの組み合わせに応じて決定される所定の距離だけ順次移動させて撮影する請求項1に記載のライトフィールド顕微鏡。
  4. 前記照明光学系が、前記励起光を射出する光源と、該光源からの前記励起光の一部を通過させるスリットとを備え、
    前記光束幅調節部が、前記スリットの開口幅を変更する請求項2に記載のライトフィールド顕微鏡。
  5. 前記照明光学系が、前記励起光を射出する光源と、該光源からの前記励起光を集光するズーム光学系とを備え、
    前記光束幅調節部が、前記ズーム光学系によるズーム倍率を変更する請求項2に記載のライトフィールド顕微鏡。
  6. 前記照明光学系が、前記励起光を射出する光源と、該光源からの前記励起光の光路に択一的に挿入されて前記励起光を集光する倍率の異なる複数の光学系とを備え、
    前記光束幅調節部が、複数の前記光学系を切り替える請求項2に記載のライトフィールド顕微鏡。
  7. 前記対物レンズおよび前記マイクロレンズアレイの少なくとも1つが切替可能に設けられ、
    前記対物レンズおよび前記マイクロレンズアレイの少なくとも1つが切り替えられたときに前記光束幅調節部を制御する制御部を備える請求項2および請求項4から請求項6のいずれかに記載のライトフィールド顕微鏡。
  8. 試料に励起光を照射する照明光学系と、
    該照明光学系により前記励起光が照射されることにより前記試料において発生した蛍光を集光する対物レンズ、該対物レンズにより集光された蛍光を撮影する撮像素子および該撮像素子と前記対物レンズとの間に配置されたマイクロレンズアレイを備える検出光学系とを備え、
    前記照明光学系が、前記対物レンズの光軸に略直交する方向に沿うシート状の光束を生成して前記光軸に略直交する方向に沿って前記試料に照射するシート照明光生成部と、該シート照明光生成部により生成されたシート状の光束を、前記撮像素子による1枚の画像の露光時間内に、前記対物レンズの焦点面を含む所定範囲にわたって前記光軸方向に走査させる走査部とを備えるライトフィールド顕微鏡。
  9. 前記対物レンズおよび前記マイクロレンズアレイの少なくとも1つが切替可能に設けられ、
    前記対物レンズおよび前記マイクロレンズアレイの少なくとも1つが切り替えられたときに前記走査部による前記シート状の光束の走査幅を制御する制御部を備える請求項8に記載のライトフィールド顕微鏡。
  10. 前記走査部による前記シート状の光束の走査幅の一部に開口幅を有するスリットを備える請求項8に記載のライトフィールド顕微鏡。
  11. 前記スリットの前記開口幅を変更する開口幅変更部を備える請求項10に記載のライトフィールド顕微鏡。
  12. 前記励起光が極短パルスレーザ光である請求項8から請求項11のいずれかに記載のライトフィールド顕微鏡。
  13. 前記マイクロレンズアレイとリレーレンズとが、前記撮像素子と前記対物レンズとの間に択一的に挿脱可能に設けられている請求項8から請求項12のいずれかに記載のライトフィールド顕微鏡。
  14. 前記マイクロレンズアレイと像位置補正手段とが、前記撮像素子と前記対物レンズとの間に択一的に挿脱可能に設けられている請求項8から請求項12のいずれかに記載のライトフィールド顕微鏡。
  15. 照明光学系と、該照明光学系により励起光が照射されることにより試料において発生した蛍光を集光する対物レンズと、該対物レンズにより集光された蛍光を撮影する撮像素子と、該撮像素子と前記対物レンズとの間に配置されたマイクロレンズアレイとを備えたライトフィールド顕微鏡を用いた照明方法であって、
    前記照明光学系が、前記対物レンズの焦点面を含みかつ該対物レンズの光軸方向に所定の幅を有する前記励起光の光束を、前記光軸に略直交する方向に沿って前記試料に照射する照明方法。
  16. 前記励起光の所定の幅を、前記対物レンズと前記マイクロレンズアレイの組み合わせに基づいて調節する請求項15に記載の照明方法。
  17. 照明光学系と、該照明光学系により励起光が照射されることにより試料において発生した蛍光を集光する対物レンズと、該対物レンズにより集光された蛍光を撮影する撮像素子と、該撮像素子と前記対物レンズとの間に配置されたマイクロレンズアレイとを備えたライトフィールド顕微鏡を用いた照明方法であって、
    前記照明光学系が、前記対物レンズの光軸の近辺で集光し当該光軸に略直交する方向に沿うシート状の励起光の光束を、前記光軸に略直交する方向に沿って前記試料に照射するとともに、このシート状の光束を、前記撮像素子における1枚の画像の露光時間内に前記対物レンズの焦点面を含む所定範囲にわたって前記対物レンズの光軸方向に走査させる照明方法。
  18. 前記シート状の光束の前記対物レンズの光軸方向への走査幅を、前記対物レンズと前記マイクロレンズアレイの組み合わせに基づいて制御する請求項17に記載の照明方法。
  19. 前記励起光として極短パルスレーザ光を使用する請求項17に記載の照明方法。
JP2017043516A 2016-03-14 2017-03-08 ライトフィールド顕微鏡および照明方法 Pending JP2017167535A (ja)

Applications Claiming Priority (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2016049388 2016-03-14
JP2016049388 2016-03-14

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JP2017167535A true JP2017167535A (ja) 2017-09-21

Family

ID=59786435

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2017043516A Pending JP2017167535A (ja) 2016-03-14 2017-03-08 ライトフィールド顕微鏡および照明方法

Country Status (2)

Country Link
US (1) US10509215B2 (ja)
JP (1) JP2017167535A (ja)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2019111440A1 (ja) * 2017-12-06 2019-06-13 國昭 永山 顕微鏡観察方法及び透過型顕微鏡装置

Families Citing this family (16)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US11067781B2 (en) * 2016-05-03 2021-07-20 Leica Microsystems Cms Gmbh Microscope and method for localizing fluorescent molecules in three spatial dimensions
US10768400B2 (en) * 2017-04-24 2020-09-08 Igor Lyuboshenko Varying an illumination path of a selective plane illumination microscopy
US12474561B2 (en) 2017-04-24 2025-11-18 Igor Lyuboshenko Automatic correction of spherical aberration in selective plane illumination microscopy
WO2018211601A1 (ja) * 2017-05-16 2018-11-22 オリンパス株式会社 撮像装置および撮像システム
EP3654018B1 (en) * 2017-07-11 2023-06-21 Hamamatsu Photonics K.K. Sample observation device and sample observation method
CN110672883B (zh) * 2019-10-17 2020-10-30 中国科学院长春应用化学研究所 一种基于周期纳米孔阵列和透镜介质微球阵列的近场超分辨光学成像方法
DE102019129932B4 (de) * 2019-11-06 2023-12-21 Technische Universität Braunschweig Optische Detektionseinrichtung und Verfahren zum Betreiben einer optischen Detektionseinrichtung
CN111157500A (zh) * 2020-01-06 2020-05-15 南开大学 利用光片晶格阵列照明的瞬态体成像显微系统
WO2021189453A1 (zh) * 2020-03-27 2021-09-30 肯维捷斯(武汉)科技有限公司 一种微型荧光显微成像模块
CN113946043A (zh) * 2020-07-16 2022-01-18 香港科技大学 一种激发光源和包括该激发光源的荧光显微镜
US12443023B2 (en) 2021-05-14 2025-10-14 Igor Lyuboshenko Light sheet microscope having streamlined field of view changes
DE102021123130A1 (de) 2021-09-07 2023-03-09 Carl Zeiss Microscopy Gmbh Vorrichtung und verfahren zur lichtfeldmikroskopie
CN116224560A (zh) * 2022-12-30 2023-06-06 浙江荷湖科技有限公司 一种单振镜扫描光场成像系统和方法
CN117368173B (zh) * 2023-12-07 2024-02-27 深圳赛陆医疗科技有限公司 成像系统及成像方法
CN120065491A (zh) * 2025-02-25 2025-05-30 华中科技大学 一种基于光场重构的可变倍单物镜光片显微系统
CN120044682B (zh) * 2025-04-18 2025-09-09 中国科学院西安光学精密机械研究所 一种视场完全重叠的中波红外复眼成像系统

Family Cites Families (55)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US6903347B2 (en) * 1994-07-15 2005-06-07 Stephen C. Baer Superresolution in microlithography and fluorescence microscopy
US7217573B1 (en) * 1999-10-05 2007-05-15 Hitachi, Ltd. Method of inspecting a DNA chip
US6711283B1 (en) * 2000-05-03 2004-03-23 Aperio Technologies, Inc. Fully automatic rapid microscope slide scanner
US6750963B2 (en) * 2002-05-21 2004-06-15 Agilent Technologies, Inc. Imaging systems for signals on a surface
JPWO2004036284A1 (ja) * 2002-09-30 2006-02-16 独立行政法人科学技術振興機構 共焦点顕微鏡、共焦点顕微鏡を用いた蛍光測定方法及び偏光測定方法
DE10257423A1 (de) * 2002-12-09 2004-06-24 Europäisches Laboratorium für Molekularbiologie (EMBL) Mikroskop
CA2517906A1 (en) * 2003-03-03 2004-12-29 Montana State University-Bozeman Miniature confocal optical device, system, and method
DE10317615B4 (de) * 2003-04-11 2005-10-06 Carl Zeiss Jena Gmbh Fluoreszenzmikroskopanordnung
US20050089208A1 (en) * 2003-07-22 2005-04-28 Rui-Tao Dong System and method for generating digital images of a microscope slide
KR100500610B1 (ko) * 2003-10-29 2005-07-11 한국전기연구원 형광 현미경 및 이를 사용한 관측 방법
US20060038144A1 (en) * 2004-08-23 2006-02-23 Maddison John R Method and apparatus for providing optimal images of a microscope specimen
US20060088844A1 (en) * 2004-10-22 2006-04-27 Honeywell International Inc. Real-time PCR microarray based on evanescent wave biosensor
JP4812393B2 (ja) * 2005-03-04 2011-11-09 株式会社日立ハイテクノロジーズ 蛍光分子計測システム
EP1941314A4 (en) 2005-10-07 2010-04-14 Univ Leland Stanford Junior ARRANGEMENTS AND APPROACHES FOR MICROSCOPY
US7619732B2 (en) * 2006-03-01 2009-11-17 Leica Microsystems Cms Gmbh Method and microscope for high spatial resolution examination of samples
JP4917331B2 (ja) * 2006-03-01 2012-04-18 浜松ホトニクス株式会社 画像取得装置、画像取得方法、及び画像取得プログラム
CA2648149A1 (en) * 2006-03-31 2007-11-01 Solexa, Inc. Systems and devices for sequence by synthesis analysis
US8124944B2 (en) * 2007-01-17 2012-02-28 Honeywell International Inc. Microarray reader based on evanescent wave detection and method of reading a microarray
DE602008000515D1 (de) * 2007-02-05 2010-03-04 Olympus Corp Laser-Scanning-Mikroskop
DE102007015063B4 (de) * 2007-03-29 2019-10-17 Carl Zeiss Microscopy Gmbh Optische Anordnung zum Erzeugen eines Lichtblattes
DE102007045897A1 (de) * 2007-09-26 2009-04-09 Carl Zeiss Microimaging Gmbh Verfahren zur mikroskopischen dreidimensionalen Abbildung einer Probe
US9134521B2 (en) * 2008-07-30 2015-09-15 The Regents Of The University Of California Multidirectional selective plane illumination microscopy
DE102009044986A1 (de) * 2009-09-24 2011-03-31 Carl Zeiss Microimaging Gmbh Mikroskop
DE102009044983A1 (de) * 2009-09-24 2011-03-31 Carl Zeiss Microimaging Gmbh Mikroskop
WO2011059833A2 (en) * 2009-10-29 2011-05-19 California Institute Of Technology Dual-mode raster point scanning/light sheet illumination microscope
WO2011143791A1 (en) * 2010-05-20 2011-11-24 Honeywell International Inc. Microarray reader based on evanescent wave detection
WO2012032981A1 (ja) * 2010-09-10 2012-03-15 オリンパス株式会社 単一発光粒子の光強度を用いた光分析方法
US8351120B2 (en) * 2010-09-15 2013-01-08 Visera Technologies Company Limited Optical device having extented depth of field and fabrication method thereof
DE102010060121C5 (de) * 2010-10-22 2023-09-28 Leica Microsystems Cms Gmbh SPIM-Mikroskop mit sequenziellem Lightsheet
EP2642260A4 (en) * 2010-11-16 2015-12-09 Nikon Corp MULTIBAND CAMERA AND MULTIBAND IMAGING PROCESS
US9184199B2 (en) * 2011-08-01 2015-11-10 Lytro, Inc. Optical assembly including plenoptic microlens array
DE102012211462A1 (de) * 2012-07-03 2014-01-23 Carl Zeiss Microscopy Gmbh Verfahren zur Vorbereitung und Durchführung der Aufnahme von Bildstapeln einer Probe aus verschiedenen Orientierungswinkeln
US9885859B2 (en) * 2012-07-05 2018-02-06 Martin Russell Harris Structured illumination microscopy apparatus and method
DE102012020240A1 (de) * 2012-10-12 2014-04-17 Carl Zeiss Microscopy Gmbh Mikroskop und Verfahren zur SPIM Mikroskopie
DE102012110077A1 (de) * 2012-10-23 2014-06-26 Karlsruher Institut für Technologie Mikroskop mit mindestens einem Beleuchtungsstrahl in Form einer Lichtscheibe
US9217665B2 (en) * 2013-01-31 2015-12-22 Hewlett Packard Enterprise Development Lp Viewing-angle imaging using lenslet array
US8978984B2 (en) * 2013-02-28 2015-03-17 Hand Held Products, Inc. Indicia reading terminals and methods for decoding decodable indicia employing light field imaging
US9658443B2 (en) * 2013-03-15 2017-05-23 The Board Of Trustees Of The Leland Stanford Junior University Optics apparatus with detection of light rays received at different angles for output indicative of aliased views
JP6086366B2 (ja) * 2013-04-05 2017-03-01 国立研究開発法人理化学研究所 顕微鏡、焦準器具、流体保持器具、及び光学ユニット
EP2801855B1 (en) * 2013-05-10 2019-07-17 European Molecular Biology Laboratory A microscope module for imaging a sample
DE102013107298B4 (de) * 2013-07-10 2025-07-17 Carl Zeiss Microscopy Gmbh Anordnung zur Lichtblattmikroskopie
DE102013107297B4 (de) * 2013-07-10 2025-04-24 Carl Zeiss Microscopy Gmbh Anordnung zur Lichtblattmikroskopie
US9376840B2 (en) * 2013-07-23 2016-06-28 Mark Lankford T-post gate keeper
DE102013112596B4 (de) * 2013-11-15 2023-12-28 Carl Zeiss Microscopy Gmbh Anordnung zur Lichtblattmikroskopie
DE102013112595B4 (de) * 2013-11-15 2024-08-01 Carl Zeiss Microscopy Gmbh Anordnung zur Lichtblattmikroskopie
DE102013021542A1 (de) * 2013-12-18 2015-06-18 Carl Zeiss Microscopy Gmbh Mikroskop und Verfahren zur SPIM Mikroskopie
JP2015135463A (ja) * 2013-12-19 2015-07-27 オリンパス株式会社 顕微鏡装置、及び、顕微鏡システム
US9678323B2 (en) * 2014-06-10 2017-06-13 President And Fellows Of Harvard College High throughput multichannel fluorescence microscopy with microlens arrays
US10247672B2 (en) * 2014-09-29 2019-04-02 Howard Hughes Medical Institute Non-linear structured illumination microscopy
US10007100B2 (en) * 2014-11-04 2018-06-26 Olympus Corporation Light sheet illumination microscope and light sheet illumination method
US10181190B2 (en) * 2014-11-04 2019-01-15 Olympus Corporation Microscope and microscope image acquisition method
JP6417262B2 (ja) * 2015-04-15 2018-11-07 オリンパス株式会社 シート照明顕微鏡
JP6503221B2 (ja) * 2015-05-13 2019-04-17 オリンパス株式会社 3次元情報取得装置、及び、3次元情報取得方法
JP2017090851A (ja) * 2015-11-17 2017-05-25 オリンパス株式会社 シート照明顕微鏡、及び、シート照明方法
US10409052B2 (en) * 2016-09-28 2019-09-10 University Of Washington Inverted light-sheet microscope

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2019111440A1 (ja) * 2017-12-06 2019-06-13 國昭 永山 顕微鏡観察方法及び透過型顕微鏡装置
JPWO2019111440A1 (ja) * 2017-12-06 2020-12-10 國昭 永山 顕微鏡観察方法及び透過型顕微鏡装置

Also Published As

Publication number Publication date
US20170261731A1 (en) 2017-09-14
US10509215B2 (en) 2019-12-17

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP2017167535A (ja) ライトフィールド顕微鏡および照明方法
US10007100B2 (en) Light sheet illumination microscope and light sheet illumination method
CN101031837B (zh) 用于荧光共焦显微镜检查的方法和设备
US12105271B2 (en) Microscope and method for microscopic image recording with variable illumination
JP5897563B2 (ja) ライン走査式顕微鏡における同期用システム
US10191263B2 (en) Scanning microscopy system
US7915575B2 (en) Laser scanning microscope having an IR partial transmission filter for realizing oblique illumination
JP2007506955A (ja) エバネッセント波照明を備えた走査顕微鏡
JP5311195B2 (ja) 顕微鏡装置
JP2010286566A (ja) レーザ走査型蛍光顕微鏡および蛍光観察方法
EP2887116B1 (en) Microscope apparatus
JP2021107926A (ja) サンプルを画像化するための光学構成
JP2008203813A (ja) 走査型顕微鏡
US8154796B2 (en) Microscope apparatus
WO2014199713A1 (ja) 共焦点レーザ走査型顕微鏡
JP6928757B2 (ja) 光学顕微鏡における画像処理のためのシステムおよび方法
JP2008026885A (ja) 光刺激用照明装置および顕微鏡装置
JP2016091006A (ja) シート照明顕微鏡、及び、シート照明方法
JP4898588B2 (ja) 走査型顕微鏡
CN108885336A (zh) 用于研究样品的方法和显微镜
JP4974689B2 (ja) 走査型顕微鏡
JP2018194634A (ja) ライトフィールド顕微鏡
JP2006003747A (ja) 光走査型観察装置
JP2012141452A (ja) 自動合焦機構および顕微鏡装置
JP2023099250A (ja) オートフォーカス装置