JP2017173324A - フレキシブル抵抗性チップ・ケーブル・アセンブリ及びケーブル - Google Patents

フレキシブル抵抗性チップ・ケーブル・アセンブリ及びケーブル Download PDF

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Abstract

【課題】ＤＵＴからのＲＦ差動信号をコモン・モード干渉から絶縁して効果的に伝送する。
【解決手段】フレキシブル抵抗性チップ・ケーブル・アセンブリ３００は、ＲＦ差動信号を受けるプローブＲＦコネクタ３１０と、試験接続アセンブリ３３０とを含む。同軸ケーブル３２０は、プローブＲＦコネクタ３１０と試験接続アセンブリ３３０との間でＲＦ差動信号を伝送する。同軸ケーブル３２０は、差動信号を伝えるためのケーブルと、このケーブルの長さに沿って配置され、ＲＦ差動信号をコモン・モード干渉から絶縁するように構成された複数の磁気部品とを含む。磁気部品は、隙間によって隣接する磁気部品から離間され、ケーブルの柔軟性を提供するために各隙間にはエラストマ部品が配置される。
【選択図】図３

Description

本発明は、被試験デバイスからのＲＦ差動信号を試験測定システムへと伝送するのに適したフレキシブル抵抗性チップ・ケーブル・アセンブリ及びケーブルに関する。
種々のシステムが、被試験デバイス（ＤＵＴ）からの差動信号を試験するために開発されている。試験システムをＤＵＴに接続するには、さまざまな方法がある。これらには、はんだ付けされた接続、ＲＦコネクタ、圧接、ワイヤ／リード、ピン、アダプタ、インターポーザ、クリップオンなどが含まれる。試験システムをＤＵＴに接続するための共通インタフェースは、一対のピン／差動試験ポイントにはんだ付けされ、ケーブルを介して試験システムに接続される。
特開２００４−２２７９４８号公報 特開２０１０−１５３０８２号公報
「コネクタ」の記事、［online］、Wikipedia（日本語版）、［２０１７年３月１０日検索］、インターネット<URL：http:／／ja.wikipedia.org／wiki／コネクタ> 「絶縁 (電気)」の記事、［online］、Wikipedia（日本語版）、［２０１７年３月１７日検索］、インターネット<URL：http:／／ja.wikipedia.org／wiki／絶縁 (電気)>
このようなシステムの問題点は、周辺電場がケーブルと相互作用し、場合によっては十分な遮蔽がなく、信号との干渉を引き起こす可能性があることである。差動信号の両方の信号に対する干渉は、コモン・モード干渉と呼ばれる。シールドの悪いケーブルは、コモン・モード干渉と個々のワイヤ／リードに影響を与える干渉の両方を経験することがある。ケーブルに発生する干渉から差動信号を分離するためのメカニズムは存在していない。その結果、試験システムでは測定されるが、ＤＵＴには存在しない信号ノイズが追加されてしまう。従って、遮蔽されていないケーブルを使用すると、特に高周波数の差動信号を測定する場合に、試験システムによって行われる試験測定の精度が低下する。
本発明の実施形態は、従来技術における上述の課題や他の課題を解決しようとするものである。
本発明の実施形態としては、ＲＦ差動信号を伝送するためのフレキシブル抵抗性チップ・ケーブル・アセンブリがある。フレキシブル抵抗性チップ・ケーブル・アセンブリは、ＲＦ差動信号を伝送するように構成された同軸ケーブルを含む。ケーブルは、ケーブルの全長に沿って配置された複数の磁気部品を使用する。磁気部品は、分散型コモン・モード・チョークとして機能する。磁気部品には可撓性がないので、ケーブルを屈曲可能とするため、複数の磁気部品は、隙間によって夫々互いに離間される。隙間は、伸縮性エラストマ部品で満たされており、ケーブルに柔軟性を提供する。この隙間を小さくすることで、磁気部品が覆っていないケーブル面積をできるだけ小さくする。例えば、隙間の長さは、ケーブルが曲がったときに磁気部品が互いに擦れるのを防ぐために、磁気部品の高さの約３分の１であってもよい。ケーブルは、プローブＲＦコネクタを有するチップ（先端部）を含む。このケーブルのチップは、信号線上の電気的負荷を最小化する又は減少させるために、プローブＲＦコネクタに結合されたアッテネータを含むこともできる。また、このケーブルは、試験装置に接続可能な試験ＲＦコネクタを有する試験接続アセンブリを含む。試験接続アセンブリは、電気的に消去可能なプログラマブル読み取り専用メモリ（ＥＥＰＲＯＭ）を含むことができる。ＥＥＰＲＯＭには、アッテネータの測定された減衰量やケーブルに固有の他のパラメータがロードされる。１つの実施形態では、試験装置（ホスト）は、ＥＥＰＲＯＭ上の情報を使用して、差動信号を自動的に調整し、ケーブル上で生じる信号変化を補償することで、試験装置で本来の信号が得られるようにする。
従って、少なくともいくつかの実施形態では、フレキシブル抵抗性ケーブル・アセンブリは、ＲＦ差動信号を受けるように構成されたプローブＲＦコネクタと、試験接続アセンブリとを含む。また、アセンブリは、プローブＲＦコネクタと試験接続アセンブリとの間でＲＦ差動信号を伝送するように構成された同軸ケーブルを含む。同軸ケーブルは、差動信号を伝送するためのケーブルと、ケーブルの長さに沿って配置され、コモン・モード干渉の低減／減衰を行うように構成された複数の磁気部品とを含み、コモン・モード干渉が差動信号に結合するのを低減する。
別の観点において、少なくともいくつかの実施形態では、ケーブルは、ＲＦ差動信号の信号を伝送するように構成された中心導体を含み、中心導体には、長さ及び直径がある。また、ケーブルは、ＲＦ差動信号の基準信号を伝送するように構成された基準導体を含み、基準導体には、長さ及び直径がある。コモン・モード干渉の差動信号への結合を低減するために、複数の磁気リングが、基準導体の長さ及び中心導体の長さに沿って配置され、コモン・モード干渉を低減／減衰させる。各磁気リングは、中心導体の直径及び基準導体の径を囲むように配置される。複数の磁気リングはそれぞれ隙間によって離間され、複数のエラストマ部品が磁気リング間の隙間に配置される。
図１は、試験測定システムの一実施形態の概略図である。 図２は、試験測定システムの別の実施形態の概略図である。 図３は、差動プロービングのためのフレキシブル抵抗性チップ・ケーブル・アセンブリの一実施形態の断面図である。 図４は、フレキシブル抵抗性チップ・ケーブル・アセンブリのためのプローブＲＦコネクタの一実施形態の断面図である。 図５は、フレキシブル抵抗性チップ・ケーブル・アセンブリのための同軸ケーブルの一実施形態の断面図である。 図６は、フレキシブル抵抗性チップ・ケーブル・アセンブリのための試験接続アセンブリの一実施形態の斜視図である。
本明細書で説明するように、本発明の実施形態は、差動プロービングのためのフレキシブル抵抗性チップ・ケーブル・アセンブリに関する。プローブとしても知られているフレキシブル抵抗性チップ・ケーブル・アセンブリは、差動信号を伝送するための同軸ケーブルを含む。ケーブルは、リングとして構成されている複数の磁気部品によって取り囲まれている。磁気部品は、コモン・モード・チョークとして機能する。複数の磁気部品は、エラストマ部品で満たされた隙間によって互いに離間される。エラストマ部品は、おおよそ磁気部品間の間隔を維持するが、伸縮性があり、ケーブルを曲げることができる。また、フレキシブル抵抗性チップ・ケーブル・アセンブリは、信号線上の電気的負荷を最小限に抑え又は低減し、信号の絶縁を促進するためのアッテネータ（減衰回路）を含むことができる。さらに、フレキシブル抵抗性チップ・ケーブル・アセンブリは、アッテネータの減衰量及びプローブに関連する他の測定されたパラメータを記憶するメモリを含むこともできる。フレキシブル抵抗性チップ・ケーブル・アセンブリに取り付けられた試験測定装置（ホスト）は、フレキシブル抵抗性チップ・ケーブル・アセンブリで生じる信号変化を補償するために記憶されたデータを使用できる。従って、フレキシブル抵抗性チップ・ケーブル・アセンブリは、差動信号を高度にシールドし、信号に対する変更が事前に補償される環境を提供し、試験測定装置（ホスト）が受けた信号がＤＵＴ内の信号を非常に高い精度で反映することを可能にする。
図１は、試験測定システム１００の実施形態のブロック図である。試験測定システム１００には、１対の差動ピン（差動ピン対）１１１を有する被試験デバイス（ＤＵＴ）１１０がある。差動ピン対１１１からの差動信号１６１は、試験のために、ホスト１５０へと送られる。ホスト１５０は、例えば、オシロスコープ、スペクトラム・アナライザなどの試験測定装置としても良い。差動信号１６１は、信号ピン１１１ａを流れる信号と、基準ピン１１１ｂを流れる基準信号との間の差分を表す。ホスト１５０は、差動信号１６１を受けるよう構成されている。アダプタ１２０は、ホスト１５０へと送られる、２つのピン／リード線を流れる信号を同軸の接続構造に伝送する。差動信号１６１は、プローブ１３０を介して、そして、実施形態によっては、更に、コントローラやホスト１５０のための前処理装置（プリ・プロセッサ）として機能するアクセサリ１４０を介して、ホスト１５０へと送られる。
ＤＵＴ１１０は、試験用の差動信号１６１を生成する構成された任意のデバイスとして良い。ＤＵＴ１１０としては、例えば、差動信号を生成する任意の回路基板としても良い。この差動信号は、データ転送用であったり、電源の制御やバイアス制御用であったり、高電圧シグナリング、他の伝送システムで利用される信号などでも良い。当業者であれば、差動シグナリングを利用するＤＵＴ１１０としては、多種多様なデバイスがあり、本願で説明する例は説明の都合によるものであって、これらに限定されないことが理解出来よう。ＤＵＴ１１０には、差動ピン対１１１があり、これらは、１対の出力ピンであって、試験のために、ＤＵＴ１１０中の差動信号を取り出すのに利用される。差動ピン対（１対の差動ピン）１１１として、信号ピン１１１ａと基準ピン１１１ｂがある。差動信号１６１は、信号ピン１１１ａを流れる信号と、基準ピン１１１ｂを流れる基準信号との間の差を表す信号である。
アダプタ１２０は、差動コネクタを受けるＲＦアダプタであって、本願においては、ＤＵＴの試験ポイントからの差動ピン対／リード対と、インピーダンスが制御された同軸接続構造との間のインタフェースとして機能するよう構成されたデバイスである。アダプタ１２０は、差動ピン対１１１のピン／リードに対するインタフェースとして機能するよう構成され、差動信号１６１をプローブ１３０へと伝送する。具体的には、アダプタ１２０には、ＲＦコネクタに接続される１対のコンタクト（接触子）がある。このＲＦコネクタとしては、プローブ１３０と結合するものが選択される。アダプタ１２０の中心コンタクトは、信号ピン１１１ａに接続されるが、これが、更に、プローブに結合されたＲＦコネクタの中心ピン・コンタクトに接続される。更に、アダプタ１２０には、基準ピン１１１ｂに接続される基準コンタクトがあり、これは、プローブに結合されたＲＦコネクタの外部シールド・コンタクトに接続される。アダプタ１２０は、更に、コモン・モードやその他のＤＵＴ１１０とＲＦコネクタの間で生じる周辺からの電気的な干渉から差動信号１６１をシールド／絶縁するために、ＤＵＴ１１０に当接するよう構成される。また、アダプタ１２０は、差動ピン対１１１を物理的に支えるようにも構成されている。具体的には、アダプタ１２０は、差動ピン対１１１の信号ピン１１１ａと基準ピン１１１２ｂと間の互いの相対的な位置を適切に制御すると共に、ＲＦコネクタと対応する同軸接続構造に対する相対的な位置も適切に制御し、結果として、全体的な接続構造におけるインピーダンスを適切に制御し、維持する。アダプタ１２０は、更に、基準ピン１１１ｂを基準コンタクトに固定し、信号ピン１１１ａを中心コンタクトに固定するよう構成された固定部品を有していても良い。また、アダプタ１２０と、これに結合された差動ピン対１１１を使用中に保護するための保護層を、アダプタ１２０に設けても良い。アダプタ１２０は、差動ピン対１１１に、はんだ付けされても良いし、はんだ付けされなくても良い。差動ピン対１１１は、丸型ピンや角型ピンでも良いし、また、短いワイヤ・リード（リード線）でも良く、アダプタ１２０は、それらに応じて、ピン／リードに結合するよう構成される。いくつかの実施形態では、アダプタ１２０には、ＲＦコネクタと、中心コンタクトや基準コンタクトとの間に、アッテネータが設けられ、これは、差動信号１６１の利得を調整することで、受け入れ可能な入力信号のレンジを拡大すると共に、ホスト１５０からＤＵＴ１１０のシステムを更に効果的に電気的にアイソレートする。
プローブ１３０は、そのＲＦコネクタでアダプタ１２０に結合し、アクセサリ１４０に向けて差動信号１６１を伝送するように構成された装置である。プローブ１３０は、アダプタ１２０のＲＦコネクタと嵌合するプローブＲＦコネクタを有する同軸ケーブルを含む。具体的には、プローブ１３０は、中心導体及び外部シールドを有する同軸ケーブルを含む。プローブ１３０は、ツイスト・ペアを用いて構成することもでき、シールドされていても良い。いくつかの実施形態では、プローブ１３０が、アッテネータ（例えば、もしアダプタ１２０がアッテネータを採用していない場合）を有していても良い。更に、プローブ１３０には、同軸ケーブルの周りを囲み、ケーブルの長さに沿って間隔を置いて配置された複数の磁気部品（例えば、フェライト）がある。フェライトは、コモン・モード干渉を低減する。これら磁気部品の間には隙間があって互いに離間され、これら隙間はエラストマ部品で満たされる。エラストマ部品には伸縮性があり、これによって、プローブを屈曲でき、隣接する磁気部品が一緒に圧縮されるのを防止する（例えば、磨耗を低減し、応力破壊を防止する）。いくつかの実施形態では、プローブ１３０は、電気的に消去可能なプログラマブル読み取り専用メモリ（ＥＥＰＲＯＭ）を有し、これは、例えば、プローブ・チップにおける抵抗値、チップの減衰量、周波数応答やそのほかのプローブ１３０に特有のパラメータといった、プローブ１３０の仕様を記憶するのに利用される。
アクセサリ１４０は、ホスト１５０用の差動信号１６１を検出又は事前調整するように構成された任意のデバイスである。アクセサリ１４０は、差動信号１６１を検出する検出ヘッド、差動信号１６１を事前調整するコントローラ、又はそれらを組み合わせたものを有していても良い。例えば、アクセサリ１４０は、差動信号１６１がプローブ１３０を通過するときに自然に生じる電力損失を補償するように差動信号１６１の利得を調整するための情報をＥＥＰＲＯＭから得ることができる。アクセサリ１４０は、元の差動信号１６１とほぼ同じ電気特性を維持しながら、差動信号１６１をホスト１５０へ届けるように設計される。具体的には、アクセサリ１４０は、差動信号１６１が、差動ピン対１１１、アダプタ１２０及びプローブ１３０を通過するときに、差動信号１６１に入り込むノイズを最小限に抑えるように設計されている。
ホスト１５０は、アクセサリ１４０に結合し、試験や測定のために差動信号１６１を受けるように構成されている。ホスト１５０は、例えば、オシロスコープ又はその他の試験システムである。ホスト１５０は、アクセサリ１４０から差動信号１６１を受け、ユーザのために、それらを画面上で表示できる。ホスト１５０は、更に、ユーザによる計算及び使用のために、メモリ内にある差動信号１６１の特性値を取り込むこともできる。従って、アダプタ１２０、プローブ１３０及びアクセサリ１４０は、ＤＵＴ１１０から得られた差動信号１６１と実質的に同一の差動信号１６１を、ユーザが測定可能にするために使用される。
図２は、別の実施形態である試験測定システム２００の概略図であり、システム１００と類似している。システム２００には、ＤＵＴ２１０と、プローブ２３０と、アクセサリ２４０と、差動信号２６１を伝送するように構成されたホスト２５０とがあり、これらは、ＤＵＴ１１０、プローブ１３０、アクセサリ１４０、ホスト１５０及び差動信号１６１とそれぞれ実質的に同様である。しかし、システム１００とは異なり、ＤＵＴ２１０には、差動ピン対１１１の代わりに、係合するＲＦレセプタクル２１１がある。ＲＦレセプタクル２１１には、差動信号を伝送するための同軸コネクタがあり、介在するアダプタを必要とせずにプローブ２３０と直接結合するように構成されている。従って、プローブ２３０は、アダプタ１２０などのアダプタを使用せずに使用することができる。
図３は、差動プロービング用のフレキシブル抵抗性チップ・ケーブル・アセンブリ（例えば、プローブ・チップを有するプローブ）３００の一実施形態の断面図である。ケーブル・アセンブリ３００は、プローブ１３０の例示的な実施形態である。ケーブル・アセンブリ３００は、プローブＲＦコネクタ３１０、同軸ケーブル３２０及び試験接続アセンブリ３３０を含む。プローブＲＦコネクタ３１０は、ケーブル・アセンブリ３００の遠位端部３０１に配置され、試験接続アセンブリ３３０は、ケーブル・アセンブリ３００の近位端部３０２に配置される。
なお、本願において、図１及び図２を参照すれば、「近位」とは、相対的にホストに近い側に位置することを意味し、「遠位」とは、相対的にホストから遠い側に位置する（よって、ＤＵＴにより近い）ことを意味する。
プローブＲＦコネクタ３１０は、同軸ケーブル３２０を介して試験接続アセンブリ３３０に電気的に結合される。プローブＲＦコネクタ３１０は、更に、アダプタ１２０又はＲＦレセプタクル２１１などのようなアダプタ又はＲＦレセプタクルに結合するように構成される。従って、プローブＲＦコネクタ３１０は、アダプタから差動信号１６１などのＲＦ差動信号を受信するように構成され、同軸ケーブル３２０は、プローブＲＦコネクタ３１０と試験接続アセンブリ３３０との間でＲＦ差動信号を伝送するように構成される。試験接続アセンブリ３３０は、アクセサリ１４０やホスト１５０などのような試験デバイスに結合するように構成される。このように、ＲＦ差分信号を、フレキシブル抵抗性チップ・ケーブル・アセンブリ３００を介して、アダプタからアクセサリ／ホストへと伝送できる。フレキシブル抵抗性チップ・ケーブル・アセンブリ３００は、同軸ケーブル３２０に沿って配置されたフェライトなどの磁気部品を使用して、コモン・モード干渉が差動信号へ結合するのを低減／減衰させる。磁気部品で完全に覆ってしまうと、ケーブル３２０が硬直してしまうので、ケーブル３２０を変形可能とするため、磁気部品間に小さな隙間が配置される。いくつかの実施形態では、伸縮性のあるエラストマ部品を隙間内に配置することによって、フレキシブル・ケーブル３２０を変形可能にすると共に、使用中に磁気部品が互いにこすれるのを防止する。磁気部品及びエラストマ部品は、コモン・モード干渉を最大限排除するために、プローブＲＦコネクタ３１０から試験接続アセンブリ３３０内の試験ＲＦコネクタまでケーブル３２０の長さに沿って連続的に配置することができる。フレキシブル抵抗性チップ・ケーブル・アセンブリ３００での使用に適した構成要素の例示的な実施形態は、以下で更に詳しく説明する。
図４は、フレキシブル抵抗性チップ・ケーブル・アセンブリ３００のようなフレキシブル抵抗性チップ・ケーブル・アセンブリ用のプローブＲＦコネクタ４００の一実施形態の断面図である。プローブＲＦコネクタ４００は、プローブＲＦコネクタ３１０の例示的な実施形態である。プローブＲＦコネクタ４００は、フレキシブル抵抗性チップ・ケーブル・アセンブリの遠位端部（例えば、遠位端部３０１）に配置されたＲＦコネクタとして構成された、信号コンタクト４１１及び基準コンタクト４１２を含む。ＲＦコネクタは、アダプタ１２０又はＲＦレセプタクル２１１などのアダプタ又はＲＦレセプタクルと結合することができ、差動信号を受けるように構成されている。信号コンタクト４１１は差動信号の信号を伝送させ、基準コンタクト４１２は差動信号の基準信号を伝送させる。コンタクト４１１〜４１２は、ＲＦコネクタを構成し、コネクタ形式に応じて必要な間隔を設けて良い。コネクタ形式としては、例えば、ＳＭＰ（Sub-Miniature Push-On）コネクタ、ＳＭＡ（Sub-Miniature Version A）コネクタ、ＭＭＣＸ（Micro-Miniature Coaxial）コネクタとしても良い。
また、プローブＲＦコネクタ４００は、信号コンタクト４１１に電気的に結合された中心導体４１５と、基準コンタクト４１２に電気的に結合された基準導体４１７とを含む。中心導体４１５は、信号コンタクト４１１からの信号を同軸ケーブル（例えば、同軸ケーブル３２０）に沿って導通し、基準導体４１７は、基準コンタクト４１２からの基準信号を同軸ケーブルに沿って導通する。信号コンタクト４１１、中心導体４１５、基準コンタクト４１２及び基準導体４１７は、例えば、銅、銅めっき鋼、真鍮（brass：黄銅）、金、金めっき真鍮などの電気信号を伝送することができる任意の材料で作ることができる。中心導体４１５の周りは、第１絶縁スリーブ４１６によって囲まれており、基準導体４１７は、第１絶縁スリーブ４１６の周り囲んでいる。第１絶縁スリーブ４１６は、中心導体４１５が基準導体４１７と電気的に短絡しないようにする絶縁体／誘電体である。第１絶縁スリーブ４１６は、所望の目的とする充分な電気的絶縁を提供する、ポリエチレン、ポリテトラフルオロエチレン（PTFE）（例えば、テフロン（登録商標））等の任意の絶縁材料でできていてもよい。
プローブＲＦコネクタ４００は、アッテネータ４１３も有する。アッテネータ４１３は、ＲＦ差動信号の電気的負荷を低減するために、ケーブルの中心導体４１５とＲＦコネクタの信号コンタクト４１１との間に電気的に結合される。アッテネータ４１３は、差動信号に関連する利得を減少させ、これにより、試験システム（例えば、アクセサリ１４０やホスト１５０）の許容入力信号範囲が増加する。また、アッテネータ４１３は、試験システムをＤＵＴに由来する異常な電流から電気的にアイソレートする。いくつかの実施形態では、アッテネータ４１３は、アダプタなどの別の構成要素に含めることもできる。このように、アッテネータ４１３は、いくつかの実施形態では存在しなくてもよい。
中心導体４１５、第１絶縁スリーブ４１６及び基準導体４１７は、差動信号を伝送するための同軸ケーブルとして機能する。複数の磁気部品４２１は、同軸ケーブルの長さに沿って配置される。磁気部品４２１は、同軸ケーブル内の差動信号をコモン・モード干渉から絶縁するように構成されている。具体的には、磁気部品４２１は、コモン・モード・チョークとして作用し、差動信号における信号劣化を引き起こさずにコモン・モード電磁干渉電流を低減する。磁気部品４２１は、フェライトのような任意の適切な磁性材料で作ることができる。フェライトは、遷移金属と酸素との組み合わせからなるセラミック化合物である。フェライトは強磁性であるが非導電性である。磁気部品４２１は、同軸ケーブルを取り囲む磁気リングとして具体化されてもよい。具体的には、同軸ケーブル、したがって中心導体４１５、絶縁スリーブ４１６、及び基準導体４１７には、長さ及び直径がある。磁気部品４２１は、ケーブルの長さに沿って同軸ケーブルの直径の周りを囲むように配置される。他の実施形態では、同軸ケーブルは、第１絶縁スリーブ４１６と実質的に同様の第２絶縁スリーブ４１８を含み、これは、基準導体４１７の周りを囲んで保護層として機能する。そのような場合、磁気部品４２１は、ケーブルの周りを囲む第２絶縁スリーブ４１８に当接する。
磁気部品４２１は、隙間４２２によって隣接する磁気部品４２１が互いに離間されている。磁気部品４２１の長さは固定で柔軟ではないため、隙間４２２によってケーブルの屈曲が可能になる。隙間４２２は、コモン・モード・チョークのないケーブルの表面積を減少させるために最小化される。しかしながら、隙間４２２は、これら磁気部品４２１が互いに常には擦り合うほどではない一方、ケーブルを屈曲可能とするには十分な大きさがある。このため、そのままでは、時間の経過とともに磁気部品４２１が損傷することがある。例示的な実施形態では、隙間４２２の長さは、磁気部品４２１の高さの約３分の１であり、ケーブルが曲がったときに磁気部品４２１が互いに擦れるのを防止する。
いくつかの実施形態では、複数のエラストマ部品４２３が、複数の磁気部品４２１の間の隙間４２２に夫々配置される。エラストマ部品４２３は、伸縮性があり、ケーブルを支持する。具体的には、エラストマ部品４２３は、ケーブルが抑制されたやり方で曲がることを可能にし、隣接する磁気部品４２１が互いに接触するのを防止する。エラストマ部品４２３は、粘性と弾性の両方を有するポリマーからなる。円形エラストマ部品４２３（例えば、リング状エラストマ・スペーサ）が示されているが、エラストマ・コーティング（被覆）又は他の形状も使用しても良い。
プローブＲＦコネクタ４００は、保護層４２５によって部分的に取り囲まれていてもよい。保護層４２５は、プローブＲＦコネクタ４００の構成要素を保護する絶縁ジャケットであり、プローブＲＦコネクタ４００に追加構造を与える。保護層４２５は、信号コンタクト４１１を超えて基準コンタクト４１２（例えば、ＲＦコネクタ）まで広がっておらず、これによって、ＲＦコネクタは、アダプタなどの隣接する構成要素と嵌合可能となる。
図５は、フレキシブル抵抗性チップ・ケーブル・アセンブリ３００のようなフレキシブル抵抗性チップ・ケーブル・アセンブリのための同軸ケーブル５００の一実施形態の断面図である。同軸ケーブル５００には、中心導体５１５、絶縁スリーブ５１６、基準導体５１７、磁気部品５２１、隙間５２２、エラストマ部品５２３、及び保護層５２５があり、これらは、中心導体４１５、絶縁スリーブ４１６、基準導体４１７、磁気部品４２１、隙間４２２、エラストマ素子４２３及び保護層４２５とそれぞれ同様である。同軸ケーブル５００は、同軸ケーブル３２０の例示的な実施形態であり、コネクタ３１０や４００などのプローブＲＦコネクタを、アセンブリ３３０や６００などの試験接続アセンブリに電気的に結合するように構成される。同軸ケーブル５００では、磁気部品５２１が基準導体５１７に直接に当接するとして描かれている。しかし、いくつかの実施形態では、磁気部品５２１は、図４に示すように、基準導体５１７の周りを囲む第２の絶縁スリーブに当接している。
図６は、フレキシブル抵抗性チップ・ケーブル・アセンブリ３００などのフレキシブル抵抗性チップ・ケーブル・アセンブリ用の試験接続アセンブリ６００の一実施形態の斜視図である。試験接続アセンブリ６００は、図３に示す試験接続アセンブリ３３０の１つの実施形態である。試験接続アセンブリ６００は、試験センサ・ヘッドと呼ぶこともできる。試験接続アセンブリ６００としては、同軸ケーブル３２０や５００と実質的に同様であり、差動信号を伝送する同軸ケーブル６３０を含む。試験接続アセンブリ６００は、フレキシブル抵抗性チップ・ケーブル・アセンブリの近位端部（例えば近位端部３０２）で同軸ケーブル６３０に結合された試験ＲＦコネクタ６３１を更に含む。試験ＲＦコネクタ６３１は、アクセサリ１４０やホスト１５０などのようなアクセサリやホストに同軸ケーブル６３０を電気的に結合するように構成されている。試験ＲＦコネクタ６３１は、更に、試験のためにＤＵＴからアクセサリ／ホストへ差動信号を伝送するように構成されている。試験ＲＦコネクタ６３１は、ＳＭＰコネクタ、ＳＭＡコネクタ、ＭＭＣＸコネクタなどのような複数のコネクタ形式で具体化できる。
試験接続アセンブリ６００は、留め具６３３を有する円錐形状部（nose cone：ノーズ・コーン）６３５も有している。円錐形状部６３５は、アクセサリやホストに結合するように構成され、留め具６３３によって適所に保持されるように構成されている。円錐形状部６３５は、プローブが使用されている間にユーザが電流と接触するのを防止することによって、安全機能を提供する。円錐形状部６３５は、プラスチック、ゴム又は他の非導電性材料のような安全目的に適した任意の非導電性材料で作ることができる。留め具６３３は、使用中に円錐形状部６３５を定位置に保持するように構成されている。ねじ切りが付いたねじが示されているが、任意の適切な留め具が留め具６３３として使用されてもよい。
いくつかの実施形態では、試験接続アセンブリ６００にはメモリ６３７があり、これは、例えば、ＥＥＰＲＯＭとしても良い。製造中に、フレキシブル抵抗性チップ・ケーブル・アセンブリを試験して、ケーブル・アセンブリの様々な電気的パラメータ（電気的特性値）を決定し、その結果がメモリ６３７にロードされる。１つの実施形態では、アッテネータ（例えば、アッテネータ４１３）やフレキシブル抵抗性先端ケーブル・アセンブリ全体に関連する減衰量が決定され、メモリ６３７にロードされる。試験接続アセンブリ６００がアクセサリ／ホストに結合されると、アクセサリ／ホストは、メモリ６３７に記憶されたデータを読み取ることができる。よって、アクセサリ／ホストは、信号試験中に記憶された減衰量やパラメータを使用することができる。例えば、結合されたアクセサリは、アッテネータによる減衰量を考慮して、フレキシブル抵抗性チップ・ケーブル・アセンブリを介して受けた信号を調整し、その結果として、ユーザの介入を必要とせずに、ホストにおいて、より高い品質の信号が得られる。
本発明の上述した実施形態には、上述した又は当業者であれば理解できるであろう多くの利点がある。しかしながら、これら利点及び特徴の全てが、開示した装置、システム又は方法の全て形態において必ず必要ということではない。
加えて、本願での記述は、特定の特徴に言及している。本願での開示は、これら特定の特徴の有り得る全ての組み合わせを含む。例えば、特定の特徴は、特定の観点又は実施形態を背景として開示されているが、こうした特徴は、可能な範囲において、別の観点又は実施形態を背景としても利用可能である。
また、本願では、２つ以上のステップ又は工程を定義した方法に言及しているが、これら定義したステップ又は工程は、それを排除する記述がない限り、任意の順番に入れ替えて、又は、同時に実行しても良い。
説明の都合上、本発明の特定の実施形態を図示して説明してきたが、本発明の要旨と範囲から逸脱することなく、種々の変形が可能なことが理解できよう。以下では、本発明をいくつかの観点から記述するが、これらは、あくまで、例に過ぎない。
本発明の概念１は、フレキシブル抵抗性チップ・ケーブル・アセンブリであって、
ＲＦ差動信号を受けるように構成されたプローブ無線周波数（ＲＦ）コネクタと、
試験接続アセンブリと、
上記プローブＲＦコネクタと上記試験接続アセンブリとの間で上記ＲＦ差動信号を伝送するように構成された同軸ケーブルと
を具え、
該同軸ケーブルが、
上記ＲＦ差動信号を伝送するためのケーブルと、
該ケーブルの長さに沿って配置され、上記ＲＦ差動信号をコモン・モード干渉から絶縁するように構成された複数の磁気部品とを含んでいる。
本発明の概念２は、上記概念１のフレキシブル抵抗性チップ・ケーブル・アセンブリであって、このとき、上記磁気部品の夫々は、隙間によって隣接する上記磁気部品から離間されている。
本発明の概念３は、上記概念２のフレキシブル抵抗性チップ・ケーブル・アセンブリであって、このとき、上記ケーブルが、複数のエラストマ部品を更に含み、これらエラストマ部品の少なくとも１つが、各隙間に配置されて、上記ケーブルに柔軟性を与える。
本発明の概念４は、上記概念３のフレキシブル抵抗性チップ・ケーブル・アセンブリであって、このとき、複数の上記磁気部品及び上記エラストマ部品は、上記ＲＦコネクタから上記試験接続アセンブリまで、上記ケーブルの長さに沿って連続的に配置される。
本発明の概念５は、上記概念１のフレキシブル抵抗性チップ・ケーブル・アセンブリであって、このとき、上記プローブＲＦコネクタが、
上記差動信号を受けるよう構成されるＲＦコネクタと、
上記プローブＲＦコネクタ及び上記ケーブルに電気的に結合されるアッテネータと
を有している。
本発明の概念６は、上記概念１のフレキシブル抵抗性チップ・ケーブル・アセンブリであって、このとき、上記試験接続アセンブリがＥＥＰＲＯＭ（Erasable Programmable Read Only Memory）を有し、上記ＥＥＰＲＯＭが、上記試験接続アセンブリに結合された装置で信号を試験するのに利用するために、上記フレキシブル抵抗性チップ・ケーブル・アセンブリに関する減衰量を記憶している。
本発明の概念７は、上記概念１のフレキシブル抵抗性チップ・ケーブル・アセンブリであって、このとき、複数の上記磁気部品は、上記ケーブルの周りを囲むフェライトである。
本発明の概念８は、上記概念１のフレキシブル抵抗性チップ・ケーブル・アセンブリであって、このとき、上記磁気部品の少なくとも１つが、上記ケーブルの周りを囲む保護層に当接している。
本発明の概念９は、上記概念１のフレキシブル抵抗性チップ・ケーブル・アセンブリであって、このとき、上記ケーブルが、
上記ＲＦ差動信号の信号を伝送するための絶縁スリーブで周りを囲まれた中心導体と、
上記ＲＦ差動信号の基準信号を伝送するための絶縁スリーブの周りを囲む基準導体とを有し、
上記磁気部品の少なくとも1つが上記基準導体に当接する。
本発明の概念１０は、ケーブルであって、
ＲＦ（無線周波数）差動信号の信号を伝送するように構成された長さ及び直径のある中心導体と、
上記ＲＦ差動信号の基準信号を伝送するように構成された長さ及び直径のある基準導体と、
上記基準導体の長さ及び上記中心導体の長さに沿って配置され、上記ＲＦ差動信号をコモン・モード干渉から絶縁する複数の磁気リングであって、上記中心導体の周り及び上記基準導体の周りに夫々配置され、互いに隙間によって離間される複数の上記磁気リングと、
上記磁気リングの間の上記隙間に配置された複数のエラストマ部品と
を具えている。
本発明の概念１１は、上記概念１０のケーブルであって、このとき、複数の上記磁気リングは、フェライトである。
本発明の概念１２は、上記概念１０のケーブルであって、このとき、上記磁気リングは、上記基準導体に当接する。
本発明の概念１３は、上記概念１０のケーブルであって、上記中心導体の周りを囲む絶縁スリーブを更に具え、このとき、上記基準導体は上記絶縁スリーブの周りを囲み、上記ケーブルは、上記基準導体の周りを囲む保護層を更に有し、上記磁気リングが上記保護層に当接する。
本発明の概念１４は、上記概念１０のケーブルであって、上記ケーブルの遠位端部に結合されたプローブＲＦコネクタと、上記ケーブルの近位端部に結合された試験ＲＦコネクタとを更に具え、複数の上記磁気リング及び上記エラストマ部品が、上記プローブＲＦコネクタから上記試験ＲＦコネクタまで、上記ケーブルの長さに沿って連続的に配置されている。
本発明の概念１５は、上記概念１０のケーブルであって、上記中心導体に電気的に結合されて上記ＲＦ差動信号の電気負荷を低減するアッテネータを更に具えている。
１００ 試験測定システム
１１０ 被試験デバイス（ＤＵＴ）
１１１ 差動ピン対
１２０ アダプタ
１３０ プローブ
１４０ アクセサリ
１５０ ホスト
１６１ 差動信号
２００ 試験測定システム
２１０ 被試験デバイス（ＤＵＴ）
２１１ ＲＦレセプタクル
２３０ プローブ
２４０ アクセサリ
２５０ ホスト
２６１ 差動信号
３００ フレキシブル抵抗性チップ・ケーブル・アセンブリ
３０１ 遠位端部
３０２ 近位端部
３１０ プローブＲＦコネクタ
３２０ 同軸ケーブル
３３０ 試験接続アセンブリ
４００ プローブＲＦコネクタ
４１１ 信号コンタクト
４１２ 基準信号コンタクト
４１３ アッテネータ
４１５ 中心導体
４１６ 第１絶縁スリーブ
４１７ 基準導体
４１８ 第２絶縁スリーブ
４２１ 磁気部品
４２２ 隙間（Gap：ギャップ）
４２３ エラストマ部品
４２５ 保護層
５００ 同軸ケーブル
５１５ 中心導体
５１６ 絶縁スリーブ
５１７ 基準導体
５２１ 磁気部品
５２２ 隙間（Gap：ギャップ）
５２３ エラストマ部品
５２５ 保護層
６００ 試験接続アセンブリ
６３０ 同軸ケーブル
６３１ 試験ＲＦコネクタ
６３３ 留め具（ファスナ）
６３５ 円錐形状部（ノーズ・コーン）
６３７ メモリ

Claims (3)

  1. ＲＦ差動信号を受けるように構成されたプローブ無線周波数（ＲＦ）コネクタと、
    試験接続アセンブリと、
    上記プローブＲＦコネクタと上記試験接続アセンブリとの間で上記ＲＦ差動信号を伝送するように構成された同軸ケーブルと
    を具え、
    該同軸ケーブルが、
    上記ＲＦ差動信号を伝送するためのケーブルと、
    該ケーブルの長さに沿って配置され、上記ＲＦ差動信号をコモン・モード干渉から絶縁するように構成された複数の磁気部品とを有するフレキシブル抵抗性チップ・ケーブル・アセンブリ。
  2. 上記プローブＲＦコネクタが、
    上記差動信号を受けるよう構成されるＲＦコネクタと、
    上記プローブＲＦコネクタ及び上記ケーブルに電気的に結合されるアッテネータと
    を有する請求項１記載のフレキシブル抵抗性チップ・ケーブル・アセンブリ。
  3. ＲＦ（無線周波数）差動信号の信号を伝送するように構成された長さ及び直径のある中心導体と、
    上記ＲＦ差動信号の基準信号を伝送するように構成された長さ及び直径のある基準導体と、
    上記基準導体の長さ及び上記中心導体の長さに沿って配置され、上記ＲＦ差動信号をコモン・モード干渉から絶縁する複数の磁気リングであって、上記中心導体の周り及び上記基準導体の周りに夫々配置され、互いに隙間によって離間される複数の上記磁気リングと、
    上記磁気リングの間の上記隙間に配置された複数のエラストマ部品と
    を具えるケーブル。
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