JP2017181657A - 眼鏡装用画像解析装置、眼鏡装用画像解析方法、及び眼鏡装用画像解析プログラム - Google Patents

眼鏡装用画像解析装置、眼鏡装用画像解析方法、及び眼鏡装用画像解析プログラム Download PDF

Info

Publication number
JP2017181657A
JP2017181657A JP2016066021A JP2016066021A JP2017181657A JP 2017181657 A JP2017181657 A JP 2017181657A JP 2016066021 A JP2016066021 A JP 2016066021A JP 2016066021 A JP2016066021 A JP 2016066021A JP 2017181657 A JP2017181657 A JP 2017181657A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
wearing
data
image
spectacle
subject
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP2016066021A
Other languages
English (en)
Other versions
JP2017181657A5 (ja
Inventor
賀洋 尾崎
Yoshihiro Ozaki
賀洋 尾崎
裕司郎 栃久保
Yushiro Tochikubo
裕司郎 栃久保
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Nidek Co Ltd
Original Assignee
Nidek Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Nidek Co Ltd filed Critical Nidek Co Ltd
Priority to JP2016066021A priority Critical patent/JP2017181657A/ja
Priority to EP17162021.4A priority patent/EP3226068A1/en
Publication of JP2017181657A publication Critical patent/JP2017181657A/ja
Publication of JP2017181657A5 publication Critical patent/JP2017181657A5/ja
Pending legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G02OPTICS
    • G02CSPECTACLES; SUNGLASSES OR GOGGLES INSOFAR AS THEY HAVE THE SAME FEATURES AS SPECTACLES; CONTACT LENSES
    • G02C13/00Assembling; Repairing; Cleaning
    • G02C13/003Measuring during assembly or fitting of spectacles
    • GPHYSICS
    • G02OPTICS
    • G02CSPECTACLES; SUNGLASSES OR GOGGLES INSOFAR AS THEY HAVE THE SAME FEATURES AS SPECTACLES; CONTACT LENSES
    • G02C13/00Assembling; Repairing; Cleaning
    • G02C13/003Measuring during assembly or fitting of spectacles
    • G02C13/005Measuring geometric parameters required to locate ophtalmic lenses in spectacles frames

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Health & Medical Sciences (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Ophthalmology & Optometry (AREA)
  • Optics & Photonics (AREA)
  • Eyeglasses (AREA)
  • Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
  • Eye Examination Apparatus (AREA)

Abstract

【課題】加工者がフィッティング状態の調整を容易に好適に行う眼鏡装用画像解析装置、眼鏡装用画像解析方法、及び眼鏡装用画像解析プログラムを提供する。
【解決手段】眼鏡を装用した被検者の画像を解析し、被検者の眼鏡装用パラメータを測定するための眼鏡装用画像解析装置1であって、撮影装置によって撮影された眼鏡フレームを装用した被検者の第1装用データと、第1装用データと異なる日時にて撮影装置によって撮影された眼鏡フレームを装用した被検者の第2装用データと、を取得する取得手段と、第1装用データと、第2装用データと、を比較可能に出力する制御手段と、を備える。
【選択図】図1

Description

本開示は、眼鏡を製作するために必要な眼鏡装用パラメータを測定するために、撮影画像の解析を行う眼鏡装用画像解析装置、眼鏡装用画像解析方法、及び眼鏡装用画像解析プログラムに関する。
眼鏡を製作する際に、眼鏡フレームを装用した状態の被検者の顔を撮像装置によって撮影し、その画像から眼鏡を製作するために必要な眼鏡装用パラメータを算出する眼鏡装用画像解析装置が提案されている(特許文献1参照)。加工者は、算出された眼鏡装用パラメータに基づいて眼鏡を製作している。加工者は、眼鏡の製作後、被検者に眼鏡を装用させ、フィッティング状態の調整(眼鏡のかけ具合の調整)をして、眼鏡の製作を完了させている。
特開2007−216049号公報
従来、加工者は、眼鏡を完成するために、製作された眼鏡を被検者に装用させ、フィッティング状態の調整を行っている。しかしながら、例えば、フィッティング状態の調整は、加工者の経験に基づいて行っているため、加工者によって調整にバラツキが生じる。
また、従来、加工者がフィッティング状態を確認することは困難であった。このため、例えば、加工者がフィッティング状態を調整した場合であっても、眼鏡を製作するために眼鏡装用パラメータを算出する際におけるフィッティング状態と、眼鏡製作後のフィッティング状態と、が異なってしまう場合があった。この場合、算出した眼鏡装用パラメータに基づいて、眼鏡を製作した場合であっても、眼鏡の機能を効果的に引き出すがことができず、製作した眼鏡を好適に用いることができないことがあった。
また、例えば、加工者が眼鏡のフィッティング状態を確認することは困難であったため、被検者が製作した眼鏡を一定期間使用している間に、眼鏡の製作完了時からフィッティング状態がずれた場合であっても、加工者が眼鏡製作の完了時のフィッティング状態を再現することは困難であった。
本開示は、上記問題点を鑑み、加工者がフィッティング状態の調整を容易に好適に行うことができる眼鏡装用画像解析装置、眼鏡装用画像解析方法、及び眼鏡装用画像解析プログラムを提供することに関する。
上記課題を解決するために、本開示は以下のような構成を備えることを特徴とする。
(1) 本開示の第1態様に係る眼鏡装用画像解析装置は、眼鏡を装用した被検者の画像を解析し、被検者の眼鏡装用パラメータを測定するための眼鏡装用画像解析装置であって、撮影装置によって撮影された眼鏡フレームを装用した被検者の第1装用データと、前記第1装用データと異なる日時にて撮影装置によって撮影された前記眼鏡フレームを装用した前記被検者の第2装用データと、を取得する取得手段と、前記第1装用データと、前記第2装用データと、を比較可能に出力する制御手段と、を備えることを特徴とする。
(2) 本開示の第2態様に係る眼鏡装用画像解析方法は、眼鏡を装用した被検者の画像を解析し、被検者の眼鏡装用パラメータを測定するための眼鏡装用画像解析方法であって、撮影装置によって撮影された眼鏡フレームを装用した被検者の第1装用データと、前記第1装用データと異なる日時にて撮影装置によって撮影された前記眼鏡フレームを装用した前記被検者の第2装用データと、を取得する取得ステップと、前記第1装用データと、前記第2装用データと、を比較可能に出力する制御ステップと、を備えることを特徴とする。
(3) 本開示の第3態様に係る眼鏡装用画像解析プログラムは、眼鏡を装用した被検者の画像を解析し、被検者の眼鏡装用パラメータを測定するための眼鏡装用画像解析装置において実行される眼鏡装用画像解析プログラムであって、前記眼鏡装用画像解析装置のプロセッサによって実行されることで、撮影装置によって撮影された眼鏡フレームを装用した被検者の第1装用データと、前記第1装用データと異なる日時にて撮影装置によって撮影された前記眼鏡フレームを装用した前記被検者の第2装用データと、を取得する取得ステップと、前記第1装用データと、前記第2装用データと、を比較可能に出力する制御ステップと、を前記眼鏡装用画像解析装置に実行させることを特徴とする。
本実施例に係る眼鏡装用画像解析装置の外観の概略構成図である。 本実施例に係る眼鏡装用画像解析装置に収納される光学系の概略構成図である。 側方撮影光学系の概略構成図を示している。 本実施例の制御系を示すブロック図である。 本実施例における眼鏡製作の動作の流れについて説明するフローチャートである。 表示部における表示画面の一例について示す図である。 撮影画像の解析終了後において表示部上に表示される画面の一例を示す図である。 フィッティング状態調整の動作について説明するフローチャートである。 フィッティング状態確認画面の一例を示す図である。 撮影画像の解析終了後において表示部上に表示される画面の一例を示す図である。
<概要>
以下、本実施形態を図面に基づいて説明する。図1〜図10を参照して、本実施形態に係る眼鏡装用画像解析装置の構成について説明する。なお、以下の説明において、被検者の左右方向をX軸方向、被検者の上下方向をY軸方向、被検者の前後方向をZ軸方向として説明する。
本実施形態において、例えば、眼鏡装用画像解析装置(例えば、眼鏡装用画像解析装置1)は、眼鏡を装用した被検者の画像を解析し、被検者の眼鏡装用パラメータを測定するために用いられる。
例えば、眼鏡装用画像解析装置は、取得手段(例えば、制御部70)と、制御手段(例えば、制御部70)と、を備える。例えば、本実施形態において、取得手段と、制御手段と、は兼用される。もちろん、別途、取得手段と、制御手段と、がそれぞれ設けられる構成としてもよい。
例えば、取得手段は、撮影装置(例えば、眼鏡装用画像解析装置1)によって撮影された眼鏡フレームを装用した被検者の第1装用データと、第1装用データと異なる日時にて撮影装置(例えば、眼鏡装用画像解析装置1)によって撮影された眼鏡フレームを装用した被検者の第2装用データと、を取得する。例えば、制御手段は、第1装用データと、第2装用データと、を比較可能に出力する。なお、本実施例には、第1装用データと、第2装用データと、を比較可能に出力する構成を例に挙げているが、2つ以上の装用データを比較可能に出力する構成であってもよい。例えば、第1装用データと、第2装用データと、第3装用データと、を比較可能に出力する構成であってもよい。
このように、例えば、撮影装置によって撮影された眼鏡フレームを装用した被検者の第1装用データと、第1装用データと異なる日時にて撮影装置によって撮影された眼鏡フレームを装用した被検者の第2装用データと、を比較可能に出力することによって、加工者は、被検者のフィッティングの状態を確認することができ、フィッティング状態の調整を容易に好適に行うことができる。また、例えば、上記構成によって、加工者は、眼鏡を製作する際に撮影された装用データと、眼鏡を製作した後の装用データを比較でき、眼鏡を製作前(眼鏡装用パラメータを算出した際)におけるフィッティングの状態を、眼鏡製作後でも容易に再現することが可能となる。また、例えば、上記構成によって、加工者は、被検者が製作した眼鏡を一定期間使用している間に、眼鏡の製作の完了時からフィッティング状態がずれることによって、眼鏡が使用しづらくなった場合であっても、眼鏡製作の完了時のフィッティング状態とのずれを容易に確認することができるため、眼鏡製作の完了時のフィッティング状態を容易に再現することができる。また、例えば、上記構成は、加工者によって異なる日時でフィッティング状態が調整され、撮影された装用パラメータ間の比較を行うことができるため、加工者のフィッティング技術を向上させるために用いることができる。すなわち、加工者自身又はその他の加工者(例えば、熟練の加工者)によって過去にフィッティング状態を調整した際に取得された装用パラメータと、現在において加工者がフィッティング状態を調整した際に取得された装用パラメータと、の比較ができるため、加工者は、装用パラメータ間で、フィッティングの調整に大きなずれが生じていないか確認することができ、加工者に一定のフィッティング状態を再現させるための加工者のフィッティング状態の調整のトレーニングを行うことができる。
例えば、第1装用データ及び第2装用データとしては、眼鏡装用画像解析装置の記憶部(例えば、メモリ72)に記憶される構成としてもよい。なお、記憶部としては、眼鏡装用画像解析装置に設けられておらず、別途、眼鏡装用画像解析装置の外部に設けられる構成であってもよい。なお、例えば、なお、第1装用データ及び第2装用データとしては、記憶部に記憶されることなく、制御手段の処理が行われる構成としてもよい、
例えば、取得手段としては、眼鏡装用画像解析装置が撮影装置を兼用し、撮影装置によって眼鏡フレームを装用した被検者を撮影することによって、第1装用データ及び第2装用データを取得する構成であってもよい。また、例えば、取得手段としては、第1装用データ及び第2装用データを受信することによって、第1装用データ及び第2装用データを取得する構成であってもよい。この場合、例えば、取得手段は、加工者が操作部(例えば、操作ユニット10)を操作することによって眼鏡装用画像解析装置に第1装用データ及び第2装用データを入力し、眼鏡装用画像解析装置は入力された第1装用データ及び第2装用データを受信することによって、第1装用データ及び第2装用データを取得する構成であってもよい。また、この場合、例えば、取得手段は、別途異なる装置から転送された第1装用データ及び第2装用データを受信することによって、第1装用データ及び第2装用データを取得する構成であってもよい。
なお、例えば、撮影される第1装用データ及び第2装用データは、少なくとも眼鏡フレームを被検者に装用させて撮影されていればよい。例えば、眼鏡フレームのみを被検者に装用して撮影が行われてもよい。例えば、レンズが取り付けされた眼鏡フレームを被検者に装用して撮影が行われてもよい。例えば、第1装用データと第2装用データの内、一方の装用データにおいては、眼鏡フレームのみを被検者に装用して撮影が行われ、他方の装用データにおいては、レンズが取り付けされた眼鏡フレームを被検者に装用して撮影が行われてもよい。
なお、例えば、第1装用データと第2装用データとを取得する撮影装置としては、同一の撮影装置であってもよい。また、例えば、第1装用データと第2装用データとを取得する撮影装置としては、異なる撮影装置であってもよい。この場合、例えば、異なる撮影装置は、同一の種類(例えば、同一のモデル、同一の装置構造等)の撮影装置が好ましい。
例えば、第1装用データ及び第2装用データは、画像であってもよい。この場合、例えば、制御手段は、第1装用データとして少なくとも第1画像を含め、第2装用データとして少なくとも第2画像と、を含めるようにしてもよい。なお、第1画像と第2画像は、静止画像であってもよいし、動画像であってもよいし、静止画像と動画像との組み合わせであってもよい。例えば、画像としては、正面画像(被検者を正面方向から撮影した画像)、側方画像(被検者を側面方向(例えば、斜め方向も含む)から撮影した画像)、上方画像(被検者を上方向から撮影した画像)、及び下方画像(被検者を下方向から撮影した画像)、等の少なくともいずれかであってもよい。例えば、第1装用データとして少なくとも第1画像が含まれるとともに、第2装用データとして第2画像が含まれることによって、加工者は第1画像と第2画像を比較して、フィッティング状態を確認することができる。加工者は、画像の状態からフィッティング状態を確認することができるため、フィッティング状態をより容易に確認しやすくなる。
例えば、第1装用データ及び第2装用データは、画像を解析することによって算出された眼鏡装用パラメータであってもよい。この場合、例えば、制御手段は、第1装用データとして第1画像を解析して取得した第1眼鏡装用パラメータを少なくとも含め、第2装用データとして第2画像を解析して取得した第2眼鏡装用パラメータを少なくとも含めるようにしてもよい。例えば、第1装用データとして少なくとも第1眼鏡装用パラメータが含まれるとともに、第2装用データとして第2眼鏡装用パラメータが含まれることによって、加工者は第1眼鏡装用パラメータと第2眼鏡装用パラメータを比較して、フィッティング状態を確認することができる。加工者は、測定結果からフィッティング状態を確認することができるため、より詳細にフィッティング状態を確認することができる。これによって、より精度よくフィッティング状態の調整を行うことができる。
例えば、第1装用データ及び第2装用データは、画像及び画像を解析することによって算出された眼鏡装用パラメータであってもよい。この場合、例えば、制御手段は、第1装用データとして第1画像及び第1画像を解析して取得した第1眼鏡装用パラメータを少なくとも含め、第2装用データとして第2画像及び第2画像を解析して取得した第2眼鏡装用パラメータを少なくとも含めるようにしてもよい。例えば、第1装用データとして第1画像と第1眼鏡装用パラメータが含まれるとともに、第2装用データとして第2画像と第2眼鏡装用パラメータが含まれることによって、加工者は第1画像と第1眼鏡装用パラメータと、第2画像と第2眼鏡装用パラメータと、を比較して、フィッティング状態を確認することができる。加工者は、画像と眼鏡装用パラメータの双方を確認しながら、フィッティング状態を確認することができるため、フィッティング状態をより精度よく、より容易に、確認をすることができる。
例えば、第1眼鏡装用パラメータ及び第2眼鏡装用パラメータとしては、撮影装置によって撮影された眼鏡フレームを装用した被検者の画像を解析することによって算出される眼鏡フレーム及び被検者に関するパラメータであってもよい。 例えば、第1眼鏡装用パラメータ及び第2眼鏡装用パラメータは、被検者情報(例えば、瞳孔情報(例えば、瞳孔位置、瞳孔径、瞳孔間距離等)、その他部位位置情報(例えば、鼻位置情報、口位置情報、眉位置情報等)、等)であってもよい。例えば、第1眼鏡装用パラメータ及び第2眼鏡装用パラメータは、眼鏡フレーム情報(例えば、眼鏡フレームの幅、眼鏡フレームの位置(例えば、上端位置、下端位置、左端位置、右端位置、角部位置、等)、眼鏡フレーム前傾角度、等)等が挙げられる。例えば、第1眼鏡装用パラメータ及び第2眼鏡装用パラメータは、被検者情報と眼鏡フレーム情報から算出されるパラメータ(例えば、アイポジション高さ(フィッティングポイント高さ)、眼鏡装用距離、等)であってもよい。
例えば、制御手段が、第1装用データと、第2装用データと、を比較可能に出力する構成としては、制御手段が、第1装用データと、第2装用データと、を印刷する際に、同一の印刷用紙上に印刷する構成であってもよい。
例えば、制御手段が、第1装用データと、第2装用データと、を比較可能に出力する構成としては、制御手段が、第1装用データと第2装用データとを差分処理し、差分データを取得し、差分データを出力することによって、第1装用データと、第2装用データと、を比較可能とする構成であってもよい。例えば、差分データは、眼鏡装用パラメータの差分結果、特定の部位(例えば、眼鏡フレームの所定部位、被検者の所定部位等)の位置ずれ量、の少なくともいずれかであってもよい。なお、位置ずれ量に応じて表示形態(例えば、色、模様、等)を変更して出力するようにしてもよい。このように、例えば、第1装用データと第2装用データとから差分データを取得し、出力することによって、加工者はフィッティング状態のずれを容易に確認することができる。
例えば、制御手段が、第1装用データと、第2装用データと、を比較可能に出力する構成としては、制御手段が、第1装用データと、第2装用データと、をモニタ(例えば、表示部15)に比較可能に表示する構成であってもよい。なお、例えば、モニタは、種々のモニタ(例えば、眼鏡装用画像解析装置のモニタ、外部装置(例えば、外部PC、携帯端末等)のモニタ、等)を使用するようにしてもよい。例えば、第1装用データと、第2装用データと、を比較可能に表示することによって、加工者は表示画面上で迅速にフィッティングの状態を確認することができる。また、例えば、フィテッィング状態確認後、再調整を行った後に、表示画面上で、迅速にフィッティングの状態を確認することができる。
なお、例えば、制御手段が、第1装用データと、第2装用データと、を比較可能に出力する構成としては、上記比較可能に出力する構成が併用して実施される構成としてもよい。
例えば、制御手段が、第1装用データと、第2装用データと、をモニタに比較可能に表示する構成としては、第1装用データと第2装用データを同一画面上で並べて表示する構成であってもよい。この場合、例えば、第1装用データを画面上における第1領域(例えば、第1領域60)に表示し、第2装用データを画面上の第1領域とは異なる第2領域(例えば、第2領域65)に表示するようにしてもよい。
例えば、制御手段が、第1装用データと、第2装用データと、をモニタに比較可能に表示する構成としては、第1装用データと第2装用データを切り換え可能に表示する構成であってもよい。この場合、例えば、制御手段は、切換信号を受信することによって、第1装用データと、第2装用データと、の切り換えを制御する構成であってもよい。なお、例えば、切換信号の出力は、操作部が操作されることによって出力される構成であってもよい。
例えば、制御手段が、第1装用データと、第2装用データと、をモニタに比較可能に表示する構成としては、第1装用データと、第2装用データと、を重畳表示する構成であってもよい。この場合、例えば、制御手段は、第1装用データと第2装用データとをマッチングさせ、第1装用データと第2装用データとの相対位置を調整する。制御手段は、相対位置の調整後、画像処理により重畳させ、モニタに表示する。なお、重畳表示する構成とは、第1装用データと、第2装用データと、の内少なくとも一部が重畳表示されている構成であってもよい。
なお、例えば、制御手段が、第1装用データと、第2装用データと、をモニタに比較可能に表示する構成としては、なお、上記モニタに比較可能に表示する構成が併用して実施される構成としてもよい。
なお、本開示においては、本実施形態に記載した装置に限定されない。例えば、上記実施形態の機能を行う眼鏡装用画像解析ソフトウェア(プログラム)をネットワークや各種記憶媒体を介して、システムあるいは装置に供給する。そして、システムあるいは装置のコンピュータ(例えば、CPU等)がプログラムを読み出し、実行することも可能である。
<実施例>
図1は、本実施例に係る眼鏡装用画像解析装置1の外観の概略構成図である。図2は、本実施例に係る眼鏡装用画像解析装置1に収納される光学系の概略構成図である。以下、図1及び図2を参照して、本実施例に係る眼鏡装用画像解析装置1の構成について説明する。図1に示されるように、眼鏡装用画像解析装置の装置本体3の内部には、後述する種々の測定光学系、駆動系、制御系等が備わる。装置本体3の被検者側には呈示窓6が備わる。呈示窓6は、被検者に固視標を呈示する際に、固視光束を通過させる窓である。同じく装置本体3の被検者側には顔支持ユニット5が備わる。顔支持ユニット5は、被検者の顔を支持するためのユニットである。装置本体3の加工者側には操作ユニット(操作部)10が備わる。
<操作ユニット>
操作ユニット10は、入力された操作指示に応じた信号を後述する制御部70に出力する。本実施例における操作ユニット10は、タッチパネル式の表示部15が用いられる。すなわち、本実施例においては、操作ユニットと表示部が兼用される。もちろん、操作ユニットと表示部が別に設けられた構成であってもよい。例えば、操作ユニット10には、マウス、ジョイスティック、キーボード等の操作手段の少なくともいずれかを用いる構成が挙げられる。例えば、表示部15は、眼鏡装用パラメータ測定装置1の本体に搭載されたディスプレイであってもよいし、本体に接続されたディスプレイであってもよい。もちろん、タッチパネル式でなくともよい。例えば、パーソナルコンピュータ(以下、「PC」という。)のディスプレイを用いてもよい。また、例えば、複数のディスプレイが併用されてもよい。表示部15には、撮影された遠方視及び近方視状態の正面画像又は側方画像を含む各種画像が表示されてもよい。
<顔支持ユニット>
顔支持ユニット5は、被検者の額を支持する。そして、顔支持ユニット5は、後述する測定光学系(例えば、遠用測定光学系200,近用測定光学系300,反射ミラー410等)と被検者との距離を一定にする。また、顔支持ユニット5は、被検者の左右方向に回転可能であり、被検者の顔の向きを調整することができる。これによって、被検者の顔の向きが左右方向のいずれかにずれている場合、被検者の顔が正面を向くように、顔支持ユニット5を回転させることができる。
顔支持ユニット5は、当節部31、作動距離調節部40、左右回転調節部50を主に備える。当接部31は、被検者の顔に接触する部分である。作動距離調節部40は、被検者と後述の測定光学系との距離を調節するために当接部31の位置をZ軸方向に調節する。例えば、本実施例において、加工者によって作動距離調節部40の調節ノブ41が操作されることによって、当接部31のZ軸方向(作動距離方向)における位置が調節される。水平回旋調節部50は、被検者の顔が正面を向くように、当接部31の左右方向の角度を調節する。例えば、本実施例において、加工者によって左右回転調整部50の調節ノブ51が操作されることによって、当接部31の左右方向の位置が調節される。
なお、顔支持ユニット5は本実施形態の構成に限定されない。本実施例においては、被検者の額を支持するものとして説明したが、被検者のあごでもよいし、頬、鼻などでもよい。被検者の顔を支持する構成であればよい。また、本実施例において、顔支持ユニット5は、加工者が調節ノブ41,51を操作することによって、当接部31の位置が調節される構成としたがこれに限定されない。顔支持ユニット5は、モータ等の駆動部を有し、操作ユニット10の操作等によって、電動で当接部31の位置が調整される構成としてもよい。
<光学系>
次に、図2を参照して、本実施例に係る眼鏡装用画像解析装置1に収納される光学系について説明する。本実施例の眼鏡装用画像解析装置1は、照明光学系110、遠用測定光学系200、近用測定光学系300、光路切換ユニット400と、側方撮影光学系500、を主に備える。もちろん、眼鏡装用画像解析装置1は、上記構成をすべてを備える必要はない。
本実施例において、眼鏡パラメータを測定するために眼鏡を装用した被検者の画像を撮影するための撮影手段を有する測定光学系として、少なくとも、遠用測定光学系200、近用測定光学系300のいずれかが用いられる。本実施例において、遠用測定光学系200、近用測定光学系300は、被検者の正面画像を撮影するために用いられる。また、側方撮影光学系500は、被検者の側方画像を撮影するために用いられる。
<照明光学系>
照明光学系110は、4つの光源110R,110L,111R,111L(図2では、110L、111Lを省略)を主に備える。照明光学系110は、光源110R,110L,111R,111Lによって、四方向から被検者の顔を照明する。もちろん、照明光学系100は上記の構成に限らない。光源の数はいくつでもよく、配置も任意でよい。照明光学系110は、光源によって被検者の顔を照明することができればよい。例えば、照明光学系110は、顔支持ユニット5の下部、呈示窓6の上部に設けられてもよい。
なお、本実施例の照明光学系110においては、赤外光源を用いる。赤外光源と、後述する赤外フィルタ等を用いることによって、外乱光(自然光など)の影響を抑えることができる。ただし、赤外光源でなくてもよく、可視光源を用いてもよい。
<遠用測定光学系>
図2に基づいて、遠用測定光学系(以下、第1測定光学系とも言う)200について説明する。遠用測定光学系200は、眼鏡フレームに対する遠方視状態における被検眼Eの眼位置を測定するための光学系である。遠用測定光学系200は、第1の固視標投影光学系200aと第1の撮像光学系200bに分けられる。なお、遠用測定光学系200の測定光軸を光軸L1とする。
固視標投影光学系200aは、被検者を遠方視状態に固視させるための遠用固視標を被検眼Eに投影する。固視標投影光学系200aは、光源220、ハーフミラー230、凹面ミラー240を主に備える。光源220は、被検眼Eに投影される固視標として機能する。凹面ミラー240は、光源220から出射される固視標光束を略平行光束にして反射する。なお、本実施例においては、光源220から出射される固視標光束は、略平行光束にして反射する構成としたがこれに限定されない。光源220から出射される固視標光束は、所定の遠用呈示距離になるように反射する構成としてもよい。
光源220からの出射された固視標光束は、ハーフミラー230によって反射され、光軸L1と同軸とされる。ハーフミラー230によって反射された固視標光束は、凹面ミラー240によって反射される。凹面ミラー240に反射された固視標光束は、後述する反射ミラー410によって反射され、呈示窓6を通過して被検眼Eに入射する。凹面ミラー240は、固視標光束を略平行光束にするように反射する。このため、被検者から見た固視標は、被検眼Eから光源220までの実際の距離よりも遠方にあるように見える。その後、固視標光束は、後述の反射ミラー410によって反射され、呈示窓6を通過して被検眼Eに入射する。
撮像光学系200bは、遠方視状態における被検者の顔を正面方向(被検者の顔の正面と対向した位置)から撮影する。本実施例において、撮像光学系200bは、遠方視状態における被検者の顔を正面位置から撮影する。もちろん、撮像光学系200bは、正面方向として、斜め下方向(斜め下の位置)から撮影する構成としてもよい。なお、被検者の顔とは、被検者の顔全体でなくてもよく、少なくとも被検眼Eの周辺領域(例えば、少なくとも左右眼一方の眼及び眼鏡フレームを含む被検者の顔の正面画像であってもよい)を指す。撮像光学系200bは、撮像素子210、撮像レンズ212、絞り214、赤外フィルタ216、ハーフミラー230、凹面ミラー240を主に備える。
照明光学系110からの照明光は、被検者の顔によって反射されて、呈示窓6を通過する。呈示窓6を通過した照明光は、反射ミラー410によって反射される。反射ミラー410によって反射された反射光は、凹面ミラー240によって反射された後、ハーフミラー230を通り、赤外フィルタ216を通過する。赤外フィルタ216を通過した赤外光は、絞り214を通過し、撮像レンズ212によって収束された後、撮像素子210の上に像を結ぶ。撮像素子210は瞳と共役な位置関係にある。撮像素子210は、光を検出し、そのときの検出信号を制御部70に出力する。
<近用測定光学系>
近用測定光学系(以下、第2測定光学系とも言う)300は、近方視状態における被検眼Eの眼位置を測定するための光学系である。近用測定光学系300は、第2の固視標投影光学系300aと第2の撮像光学系300bに分けられる。
固視標投影光学系300aは、被検者を近方視状態に固視させるための近用固視標を斜め下方向から被検眼Eに投影する。固視標投影光学系300aは、光源320、ハーフミラー330、凸レンズ340を主に備える。光源320は、被検眼Eに投影される固視標として機能する。
光源320からの出射された固視標光束は、ハーフミラー330によって反射され、光軸L2と同軸とされる。ハーフミラー330によって反射された固視標光束は、凸レンズ340を通過し、収束される。その後、固視標光束は、後述の反射ミラー410によって反射され、呈示窓6を通過して被検眼Eに入射する。
撮像光学系300bは、近方視状態における被検者の顔を正面方向(被検者の顔の正面と対向した位置)から撮影する。なお、本実施例において、撮像光学系300bは、近方視状態における被検者の顔を斜め下方向(斜め下の位置)から撮影している。もちろん、撮像光学系300bは、正面方向として、正面位置から撮影する構成としてもよい。撮像光学系300bは、撮像素子310、撮像レンズ312、絞り314、赤外フィルタ316、ハーフミラー330、凸レンズ340を主に備える。
被検者の顔を照明する照明光学系110からの照明光は、呈示窓6を通過し、反射ミラー410によって反射される。反射ミラー410によって反射された反射光は凸レンズを通過し、収束される。収束されたこの光束は、ハーフミラー330を通り、赤外フィルタ316を通過する。赤外フィルタ316を通過した赤外光は、絞り314を通過し、撮像レンズ312によって収束された後、撮像素子310の上に像を結ぶ。撮像素子310は、瞳と共役な位置関係にある。撮像素子310は、光を検出し、そのときの検出信号を制御部70に出力する。
<光学系移動ユニット>
近用測定光学系300は、光学系移動ユニット350を備える。光学系移動ユニット350は、近用測定光学系300を移動可能に保持する。光学系移動ユニット350は、近用測定のときに、後述する反射ミラー410の角度の変更にともなって、近用測定光学系300の全体を移動させることができる。
ところで、後述する光路切換ユニット400によって反射ミラー410の角度が変更されると、固視標投影光学系300aの光路(指標の呈示距離)、及び第2の撮像光学系300bの光路が変化してしまう。そこで、本実施形態の光学系移動ユニット350は、反射ミラー410の角度の変更にともなって、近用測定光学系300の全体を移動させる。これによって、反射ミラー410の角度が変更された場合であっても、近用視標の呈示距離が維持される。また、第2の撮像光学系300bの被検眼Eに対するフォーカス状態が維持される。
また、光学系移動ユニット350は、呈示距離を調節するための凸レンズ340と、固視標を投影するための光源320を別々に移動させることが可能である。これによって、光学系移動ユニット350は、凸レンズ340と光源320の相対的な距離を変化させ、固視標の呈示距離を変更することができる。なお、光学系移動ユニット350は、例えば、モータや等の図示無き駆動部を用いて、駆動部を駆動させることによって、光学部材を移動させる。
<光路切換ユニット>
図2に戻って、光路切換ユニット400について説明する。光路切換ユニットは、遠用測定用光学系200と、近用測定用光学系300の光路を切り換える。また、光路切り換えユニット400は、近用測定時における被検者の視線方向を変化させる。
光路切換ユニット400は、反射ミラー410、ミラー保持部420、駆動部440を主に備える。
反射ミラー410は、ミラー保持部420に保持される。ミラー保持部420の上部は、装置に固定された回転シャフト425に保持される。ミラー保持部420は、回転シャフト425の回転軸を中心に回旋可能とされる。このとき、ミラー保持部420は、反射ミラー410と一体的に回旋される。反射ミラー410は、遠用測定光学系200または近用測定光学系300から出射される視標光束を被検眼Eに向けて反射させる。駆動部440は、図示無きリンク機構部によって、ミラー保持部420の裏面と連結される。駆動部440が駆動されることによって、駆動部の駆動力が図示無きリンク機構部を介して、ミラー保持部420に伝達される。ミラー保持部420は、リンク機構部から伝達された駆動力によって回転シャフト425を中心に回旋される。ミラー保持部が回旋されることによって、回転シャフト425を中心に、反射ミラー410が回旋移動をする。
反射ミラー410が回旋されることによって、視標光束の光路が変更され、被検眼Eに投影される固視標の呈示位置が変更される。固視標の呈示位置が変更されることで、被検者の視線方向が変更される。例えば、反射ミラーをA方向に回転させる(実線部から点線部へ移動される)ことによって、被検者の撮影を行うための光路が、遠用測定用光学系200の光路から近用測定用光学系300の光路へと切り換えられる。このように、光路切換ユニット400は、反射ミラー410を回旋させることで固視標の呈示位置を変化させ、被検者の視線方向を上下方向に変化させる。
<側方撮影光学系>
図3は、側方撮影光学系500の概略構成図を示している。側方撮影光学系500は、被検者を側方から撮影することによって被検者の側方画像を取得する。図3に示されるように、側方撮影光学系500は、被検者の顔が支持される位置の左右方向に固定されている。
本実施例の側方撮影光学系500は、被検者の左側に配置される左方撮影光学系500Lと、被検者の右側に配置される右方撮影光学系500Rに大別される。左方撮影光学系500Lは被検者を左側方から撮影する。右方撮影光学系500Rは、被検者を右側方から撮影する。
左方撮影光学系500Lは、ハーフミラー530L、赤外フィルタ540L、絞り550L、撮像レンズ560L、撮像素子570L、を主に備える。
同様に、右方撮影光学系500Rは、ハーフミラー530R、赤外フィルタ540R、絞り550R、撮像レンズ560R、撮像素子570R、を主に備える。なお、以下の説明においては、便宜上、赤外フィルタ540L,540R、絞り550L,550R、撮像レンズ560L,560R、撮像素子570L,570Rの各部材をまとめて、撮像部575L,575Rと記載する。
赤外フィルタ540L,540Rは可視光を吸収し、赤外光を通過させる。撮像素子570L,570Rには、赤外フィルタ540L,540Rを通過した赤外光が受光される。
以下、左方撮影光学系500Lを例に挙げて側方画像の撮像について説明する。照明光学系100からの照明光束は、被検者の顔と眼鏡フレームFに反射される。反射された照明光束は、左方撮影光学系500Lに入射する。その後、照明光束は、ハーフミラー530Lによって反射される。ハーフミラー530Lによって反射された反射光束は、赤外フィルタ540Lを通過する。赤外フィルタ540Lを通過した赤外光は、絞り550Lを通過した後、撮像レンズ560Lによって集光され、撮像素子570Lの撮像面上に像を結ぶ。撮像素子570Lは、検出した撮像画像を制御部70に送信する。このようにして、撮像素子570Lには、被検者の左側の側方画像が撮像される。また、左方撮影光学系500Lと同様にして、右方撮影光学系500Rによって、被検者の右側の側方画像が撮像される。
<制御部>
図4は本実施例の制御系を示すブロック図である。制御部70は、CPU(プロセッサ)、RAM、ROM等を備える。制御部70のCPUは、眼鏡装用画像解析装置1の制御を司る。RAMは、各種情報を一時的に記憶する。制御部70のROMには、眼鏡装用画像解析装置1の動作を制御するための各種プログラム、初期値等が記憶されている。
制御部70には、不揮発性メモリ(以下、メモリに省略する)72、操作ユニット10、光源110L,110R,111L,111R,220,320、撮像素子210,310,570L,570R、光学系移動ユニット350の駆動部、駆動部440、等が電気的に接続されている。
メモリ72は、電源の供給が遮断されても記憶内容を保持できる非一過性の記憶媒体である。例えば、ハードディスクドライブ、フラッシュROM、および、眼鏡装用画像解析装置1に着脱可能に装着されるUSBメモリ等をメモリ72として使用することができる。メモリ72には、眼鏡装用画像解析装置1による遠方視画像(遠方視状態における正面画像)又は近方視画像(近方視状態における正面画像)、側方画像の撮影を制御するための撮影制御プログラム、遠方視画像又は近方視画像、側方画像を処理する画像処理プログラムが記憶されている。また、メモリ72には、撮影された遠方視画像又は近方視画像、側方画像の撮影位置の情報等、撮影に関する各種情報が記憶される。操作ユニット10には、加工者による各種操作指示が入力される。
<眼鏡製作動作>
以下、本実施例における眼鏡装用画像解析装置を用いた眼鏡製作の動作について、図5を参照して、説明する。図5は、本実施例における眼鏡製作の動作の流れについて説明するフローチャートである。なお、本実施例においては、画像及び眼鏡装用パラメータの取得制御については、遠方視状態の被検者の画像から眼鏡装用パラメータを取得する場合を例に挙げて説明する。なお、近方視状態の被検者についても遠用視状態の制御と同様の制御によって、画像及び眼鏡装用パラメータの取得が行われてもよい。
例えば、本実施例においては、眼鏡装用画像解析装置によって撮影された眼鏡フレームを装用した被検者の第1装用データと、第1装用データと異なる日時にて眼鏡装用画像解析装置によって撮影された眼鏡フレームを装用した被検者の第2装用データと、を取得し、第1装用データと、第2装用データと、を比較可能に出力する。なお、本実施例においては、第1装用データ及び第2装用データとしては、画像及び画像を解析することによって算出された眼鏡装用パラメータを用いる場合を例に挙げて説明する。
<眼鏡フレーム選択(S1)>
例えば、被検者は、種々の眼鏡フレームの中から所望する眼鏡フレームを選択する(S1)。なお、眼鏡フレームは、眼鏡レンズ(例えば、デモレンズ等)が取り付けられているものであってもよいし、眼鏡レンズを有していないものであってもよい。
<フィッティング状態調整(S2)>
次いで、例えば、加工者は、被検者が選択した眼鏡フレームを被検者に装用させる。例えば、加工者は、被検者が眼鏡フレームを装用した後、眼鏡フレームと被検者との相対位置を変更することよってフィッティング状態の調整を行う(S2)。例えば、加工者は、眼鏡フレームの鼻当て位置と被検者の鼻位置との関係を調整するとともに、眼鏡フレームのテンプル位置と被検者の耳位置との関係を調整する。なお、フィッティング調整において、眼鏡レンズを変形させて、調整を行うようにしてもよい。
<アライメント調整(S3)>
例えば、フィッティング調整完了後、加工者は被検者を撮影するための調整を行う。例えば、加工者は操作ユニット10を操作し、遠用撮影モードに設定する。例えば、遠用撮影モードでは、遠方視状態の被検者の画像を撮影するために、各種光学系の制御が制御部70によって行われる。
例えば、遠用撮影モードに設定された場合、制御部70は、駆動部440の駆動を制御することによって、光学切換ユニット400の反射ミラー410の角度θを、遠用撮影モードに対応する角度(例えば、水平面(XZ平面)方向に対して40°等)に設定する。遠用撮影モードに対応する角度に傾斜された反射ミラー410によって、光源220からの固視標光束は、被検眼Eに対して水平に投光される。
加工者は、被検者を顔支持ユニット5に位置させる。加工者は、眼鏡装用画像解析装置1に対して被検者の顔が所定位置に配置されるように顔支持ユニット5の調整を行う。すなわち、加工者は、アライメント調整を行う(S3)。
図6は、表示部15における表示画面の一例について示す図である。例えば、本実施例においては、被検眼Eの角膜頂点を表示部15上の所定位置に表示させるように、被検者と眼鏡装用画像解析装置1の距離が調節される。なお、本実施例においては、側方撮影光学系500によって撮影された画像の中心を示すための基準線V,Hが表示部15の側方画面上に表示される。本実施形態では、基準線V,Hの交点と角膜頂点とが合致されたとき、アライメント位置が適正となるように設定されている。加工者は、表示部15に表示された被検者の顔(被検顔)の画像を確認し、アライメントを行う。
<画像取得(S4)>
被検者のアライメント調整が完了すると、加工者は、表示部15に表示された図示無き撮影ボタンをタッチする。撮影ボタンがタッチされると、制御部70は、遠方視状態の被検者の画像(正面画像及び側方画像)を撮影する(S4)。以上のようにして、遠方視状態の画像が取得される。
<画像解析処理(S5)及び眼鏡装用パラメータ取得(S6)>
例えば、画像が取得されると、制御部70は、取得した画像の解析処理を行う(S5)。例えば、制御部70は、画像解析において、眼鏡のフレーム情報や被検者の瞳孔情報等を検出する。そして、制御部70は、検出結果に基づいて、眼鏡フレームに対する被検眼Eの眼鏡装用パラメータを算出する(S6)。なお、本実施例においては、画像が取得されると、画像の解析が開始される構成としたがこれに限定されない。例えば、加工者によって解析の開始が設定される構成としてもよい。例えば、加工者は、操作ユニット10を操作し、図示無き画像解析モードを選択する。加工者によって画像解析モードが選択されると、制御部70は、画像の解析処理を開始する。
以下、解析処理方法について説明する。例えば、初めに、制御部70は、被検者の画像をXY方向に順にスキャンを行い、画像における輝度分布を取得する。制御部70は、取得した輝度分布より眼鏡フレームのエッジを検出する。例えば、制御部70は、取得した輝度分布において、隣り合う画素間での輝度変化量が所定の閾値を越えているか否かに基づいて、エッジを検出する。もちろん、各画素での輝度値が所定の閾値を越えているか否かに基づいて、エッジを検出する構成としてもよい。例えば、制御部70は、輝度変化量が所定の閾値を越えている場合に、眼鏡フレームのエッジとして検出する。制御部70は、検出したエッジを眼鏡フレーム位置として検出する。
以上のようにして、眼鏡フレームタイプに基づいた画像解析処理が行われ、眼鏡フレーム位置が好適に検出される。なお、本実施例においては、解析処理方法として、エッジ検出の際の閾値が異なる解析処理方法を用いて画像処理を実施する構成を例に挙げて説明したがこれに限定されない。例えば、異なる解析方法を用いる構成としてもよい。
図7は、撮影画像の解析終了後において表示部15上に表示される画面の一例を示す図である。図7に示されるように、例えば、制御部70は、正面画像620と、左側方画像621と、右側方画像622等の撮影画像を表示する。
正面画像620は、例えば、被検者の両眼、及び眼鏡フレームの正面画像が含まれる。もちろん、正面画像620としては、左右眼の一方の眼及び眼鏡フレームが含まれた状態の正面画像であってもよい。
左側方画像621は、側方撮像光学系500Lによって撮像された被検者の顔の左側方画像(側面画像)である。逆にいえば、左側方画像621は、被検者と対面する加工者にとって右手方向から被検者を見たときの画像である。左側方画像621には、被検者の左眼、及び眼鏡フレームの左側方画像が含まれる。
右側方画像622は、側方撮像光学系500Rによって撮像された被検者の顔の右側方画像(側面画像)である。逆にいえば、右側方画像622は、被検者と対面する加工者の左手方向から被検者を見たときの画像である。右側方画像622には、被検者の右眼、及び眼鏡フレームの右側方画像が含まれる。
例えば、制御部70は、表示部15に、画像解析結果として、画像解析において検出された検出結果に基づいて、撮影画像上に眼鏡フレーム位置に指標を重畳表示させる。また、制御部70は、画像解析処理によって被検者の瞳孔位置を検出し、撮影画像上に被検者の瞳孔位置に指標を重畳表示させる。例えば、制御部70は、眼鏡フレーム位置を示す指標(眼鏡フレーム位置指標)、被検者の瞳孔位置を示す指標(瞳孔位置指標)P等を表示させる。例えば、各指標は、表示部15において、十字マーク、線表示等の種々の表示形態で表示される。なお、本実施例において、眼鏡フレーム位置として、眼鏡フレームの内の所定部位であるレンズ下端LTを表示する場合を例に挙げている。もちろん、眼鏡フレーム位置としては、レンズ下端に限定されない。眼鏡フレーム位置としては、眼鏡フレームに関する部分であれば適用することができる。例えば、眼鏡フレーム位置としては、眼鏡フレーム全体の位置が挙げられる。また、例えば、眼鏡フレーム位置としては、眼鏡フレームの内の所定部位である、レンズの上端(眼鏡フレームの上端)、眼鏡フレームのブリッジ等の位置が挙げられる。
また、例えば、表示部15には、検出結果に基づいて算出されたアイポジション高さを示す指標(アイポジション高さ指標)BT、遠方視状態における瞳孔間距離を示す指標(瞳孔間距離指標)PD等が撮影画像に重畳表示される。例えば、瞳孔間距離PDは、左右の瞳孔中心間の距離である。また、例えば、検出結果に基づいて算出されたアイポジション高さ、瞳孔間距離等は、指標で表示される他に、その測定値が表示部15の表示画面上に表示される。例えば、表示部15に表示された測定値表示欄80には、アイポジション高さ、瞳孔間距離等の測定値が示されている。
以上のように、眼鏡装用パラメータを取得する際に解析処理方法において、眼鏡フレームタイプに基づいて、眼鏡装用パラメータを取得することによって、好適に眼鏡装用パラメータを取得することができる。なお、算出される眼鏡装用パラメータは、上記結果のみに限定されない。種々の眼鏡装用パラメータを算出するようにしてもよい。
例えば、撮影された画像及び解析によって取得された眼鏡装用パラメータは、メモリ72に記憶される。例えば、加工者によって、図示無き装用データ記憶スイッチが選択されることによって、撮影された画像及び解析によって取得された眼鏡装用パラメータは、メモリ72に記憶される。もちろん、撮影された画像及び解析によって取得された眼鏡装用パラメータが自動的に記憶される構成としてもよい。
例えば、本実施例において、加工者によって図示無き装用データ記憶スイッチが選択されると、制御部70は、撮影された画像及び眼鏡装用パラメータを第1装用データとしてメモリ72に記憶させる。このとき、例えば、制御部70は、被検者IDを入力できる入力欄を表示させ、加工者に被検者IDを入力させる。例えば、加工者によって被検者IDが入力されると、被検者IDと第1装用データとが関連付けされ、メモリ72に記憶される。これによって、第1装用データがどの被検者のデータであるのか識別することができる。なお、本実施例においては、被検者IDを装用データを識別するための識別子として入力する構成を例に挙げて説明したがこれに限定されない。例えば、識別子としては、被検者を識別できる情報であればよい。例えば、被検者の氏名、写真等が入力される構成であってもよい。
<眼鏡レンズの製造(S7)>
第1装用データが取得されると、第1装用データに基づいて、眼鏡レンズが製造される(S7)。なお、第1装用データには、近方視状態の被検者における画像及び眼鏡装用パラメータが含まれていてもよい。なお、本実施例においては、第1装用データに基づいて眼鏡レンズを製造する場合を例に挙げて説明するがこれに限定されない。例えば、第1装用データに基づいて、眼鏡レンズを製造しなくてもよい。この場合、例えば、第1装用データに基づいて、既存の眼鏡レンズ(例えば、眼鏡店が保有している既存の眼鏡レンズ等)から、適正な眼鏡レンズを選択するようにしてもよい。また、例えば、第1装用データに基づいて、後述する眼鏡レンズを加工する際の加工データを補正するようにしてもよい。
第1装用データに基づいて眼鏡レンズを製造する場合、例えば、加工者は、図示無き送信スイッチを選択することによって、眼鏡レンズを製造する製造工場に設けられた外部装置に第1装用データを送信する。なお、例えば、外部の装置に送信するための構成としては、眼鏡装用画像解析装置と接続する構成、無線等によって通信可能な構成、フラッシュROM、USBメモリ等を用いて外部装置に受信させる構成、等が挙げられる。この場合、例えば、フラッシュROM、USBメモリ等を用いる場合、加工者は、外部の装置に、取得されたデータが記憶されたフラッシュROM、USBメモリ等を接続し、外部装置にデータを取得させ、外部装置のメモリに取得したデータを記憶させる。
例えば、第1装用データは、製造工場の外部装置の受信手段によって受信される。例えば、製造工場において、第1装用データに基づいて、眼鏡レンズが設計されて製造される。例えば、第1装用データに基づいて眼鏡レンズが製造されると、製造された眼鏡レンズが加工者に送られる。なお、本実施例においては、製造工場において眼鏡レンズが製造される場合を例に挙げて説明しているがこれに限定されない。例えば、眼鏡装用画像解析装置が設置されている場所(例えば、眼鏡店、工場等)において、眼鏡レンズが製造されるようにしてもよい。
<眼鏡レンズの加工(S8)>
加工者は、製造された眼鏡レンズを受け取ると、眼鏡レンズ加工装置によって、眼鏡レンズの周縁を加工する。例えば、加工者は、眼鏡レンズの加工のための各種パラメータ(例えば、レイアウトデータ、玉型データ、等)を設定する。例えば、眼鏡レンズ加工装置は、設定されたパラメータに基づいて、眼鏡レンズの加工を行う。なお、例えば、眼鏡レンズの加工のための各種パラメータは、第1装用データに基づいて設定されてもよい。また、例えば、眼鏡レンズの加工のための各種パラメータは、第1装用データに基づいて補正されるようにしてもよい。なお、例えば、第1装用データを用いる場合、加工者は、装用データ呼び出し画面において、被検者IDを入力し、第1装用データをメモリ72から呼び出すようにしてもよい。
<眼鏡レンズの枠入れ(S9)>
眼鏡レンズの加工が完了すると、加工者は、第1装用データを取得する際に被検者が装用した眼鏡フレームに嵌め込む。すなわち、加工者は、眼鏡フレームへの眼鏡レンズの枠入れを行う(S9)。
<フィッティング状態調整(S10)>
次いで、加工者は、眼鏡レンズが枠入れされた眼鏡フレームを被検者に装用させ、フィッティング状態の調整を行う(S10)。例えば、本実施例において、第1装用データを取得した際のフィッティング状態(フィッティング状態調整(S2)によって調整されたフィッティング状態)と、眼鏡レンズ枠入れ(S9)後におけるフィッティング状態調整と、をフィッティング状態確認画面にて確認し、フィッティング状態の調整を行う。
以下、フィッティング状態調整について詳細に説明する。図8は、フィッティング状態調整の動作について説明するフローチャートである。例えば、加工者によって、図示無き切り換えスイッチが選択されることによって、制御部70は、表示部15の表示画面をフィッティング状態確認画面へ切り換える(S101)。例えば、加工者は、フィッティング状態確認画面において、装用データ呼出スイッチ91を選択する。例えば、装用データ呼出スイッチ91が選択されると、制御部70は、被検者IDの入力画面を表示する。例えば、加工者は、被検者ID入力画面において、第1装用データをメモリ72に記憶させる際に入力した被検者IDを入力する。例えば、被検者IDが入力されると、制御部70は、メモリ72から第1装用データをメモリ72から呼び出し、フィッティング状態確認画面上の第1領域60に表示する。もちろん、第1装用データを表示する領域としては、第1領域60に限定されない。例えば、異なる領域(例えば、第2領域65等)に表示するようにしてもよい。なお、例えば、第1装用データを呼び出す際には、被検者IDが一覧表示され、加工者によって選択される構成としてもよい。
例えば、本実施例において、第1装用データとしては、撮影画像及び眼鏡装用パラメータが表示される。図9は、フィッティング状態確認画面の一例を示す図である。図9に示されるように、例えば、表示部15に表示されたフィッティング状態確認画面において、第1装用データの第1撮影画像(第1画像)が画像表示欄90に表示される。例えば、第1撮影画像としては、第1正面画像620aと、第1左側方画像621aと、第1右側方画像622a等の撮影画像を表示される。また、例えば、フィッティング状態確認画面において、第1装用データの第1眼鏡装用パラメータが測定値表示欄80aに表示される。なお、装用データの表示レイアウトはこれに限定されない。任意のレイアウトで装用データを表示するようにしてもよい。
例えば、加工者は、第1装用データを呼び出した後、眼鏡レンズが枠入れされた眼鏡フレームを被検者に装用させる。例えば、加工者は、被検者が眼鏡フレームを装用した後、眼鏡フレームと被検者との相対位置を変更することよってフィッティング状態の調整を行う(S102)。なお、例えば、フィッティング状態調整(S102)は、上記記載のフィッティング状態調整(S2)と同様にして行われる。
例えば、フィッティング調整完了後、加工者は被検者を撮影するための調整を行う。例えば、加工者は、フィッティング状態確認画面における撮影画面切り換えスイッチ92を選択する。例えば、制御部70は、撮影画面切り換えスイッチ92が選択されると、フィッティング状態確認画面を撮影画面へと切り換える。これによって、画像が撮影できる状態となる。例えば、加工者は、被検者を顔支持ユニット5に位置させる。加工者は、眼鏡装用画像解析装置1に対して被検者の顔が所定位置に配置されるように顔支持ユニット5の調整を行う。すなわち、加工者は、アライメント調整を行う(S3)。なお、アライメント調整(S103)は、上記記載のアライメント調整を行う(S3)と同様にして行われる。
例えば、被検者のアライメント調整が完了すると、加工者は、表示部15に表示された図示無き撮影ボタンをタッチする。撮影ボタンがタッチされると、制御部70は、遠方視状態の被検者の画像(正面画像及び側方画像)を撮影する(S104)。
例えば、画像が取得されると、制御部70は、取得した画像の解析処理を行う(S105)。なお、例えば、画像解析処理(S105)は、上記記載の画像解析処理(S5)と同様にして行われる。そして、制御部70は、検出結果に基づいて、眼鏡フレームに対する被検眼Eの眼鏡装用パラメータを算出する(S106)。なお、例えば、眼鏡装用パラメータ取得(S106)は、上記記載の眼鏡装用パラメータ取得(S6)と同様にして行われる。
例えば、撮影された画像及び解析によって取得された眼鏡装用パラメータは、メモリ72に記憶される。例えば、加工者によって、図示無き装用データ記憶スイッチが選択されることによって、撮影された画像及び解析によって取得された眼鏡装用パラメータは、メモリ72に記憶される。もちろん、撮影された画像及び解析によって取得された眼鏡装用パラメータが自動的に記憶される構成としてもよい。
例えば、本実施例において、加工者によって図示無き装用データ記憶スイッチが選択されると、制御部70は、撮影された画像及び眼鏡装用パラメータを第2装用データとしてメモリ72に記憶させる。制御部70は、第2装用データをメモリ72に記憶させた後、表示部15の表示画面をフィティング状態確認画面に切り換える。もちろん、加工者によって、切り換えスイッチが選択され、フィッティング状態確認画面に切り換える構成としてもよい。
図10は、第2装用データ取得後のフィッティング状態確認画面の一例を示す図である。例えば、制御部70は、フィッティング状態確認画面に切り換えた後、第2装用データをメモリ72にから呼び出し、フィッティング状態確認画面における第2領域65に表示する。なお、本実施例においては、第2装用データをメモリ72に記憶させる構成を例に挙げているがこれに限定されない。例えば、制御部70は、第2装用データをメモリ72に記憶させることなく、フィッティング状態確認画面に切り換えた後、フィティング状態確認画面における第2領域65に表示するようにしてもよい。なお、本実施例においては、第2装用データは、フィッティング状態確認画面において、第1装用データを呼び出すことによって、撮影された第2装用データが第1装用データと同一の被検者の装用データであると特定され、記憶されるようになっている。もちろん、第2装用データをメモリ72に記憶させる際に、例えば、制御部70は、被検者IDを入力できる入力欄を表示させ、加工者に被検者IDを入力させるようにしてもよい。
例えば、図10に示されるように、制御部70は、第1装用データとともに第2装用データを同一画面上に並べて表示することによって、第1装用データと第2装用データとを比較可能にする(S107)。もちろん、第2装用データを表示する領域としては、第2領域65に限定されない。例えば、異なる領域(例えば、第1領域60等)に表示するようにしてもよい。
例えば、本実施例において、第2装用データとしては、撮影画像及び眼鏡装用パラメータが表示される。図10に示されるように、例えば、表示部15に表示されたフィッティング状態確認画面において、第2装用データの第2撮影画像(第2画像)が画像表示欄95に表示される。例えば、第2撮影画像としては、第2正面画像620bと、第2左側方画像621bと、第2右側方画像622b等の撮影画像を表示される。また、例えば、フィッティング状態確認画面において、第2装用データの第2眼鏡装用パラメータが測定値表示欄80bに表示される。なお、装用データの表示レイアウトはこれに限定されない。任意のレイアウトで装用データを表示するようにしてもよい。
例えば、加工者は、表示部15に表示されたフィッティング状態確認画面における第1装用データと、第2装用データと、を確認し、フィッティング状態が適正であるか否かを判定する(S108)。
なお、加工者によるフィッティング状態の判定をより容易にするために、第1装用データと、第2装用データとの差分データを取得し、表示するようにしてもよい。例えば、差分データとしては、数値、色、グラフィックの種々の形態で表示するようにしてもよい。例えば、差分データとして、数値を表示する場合に、眼鏡装用パラメータの差分(ずれ量)を算出して表示するようにしてもよいし、画像間のずれ量を算出して表示するようにしてもよい。また、例えば、差分データとして、色で差分を表示する場合には、ずれ量に応じて色を変更して表示するようにしてもよい。なお、例えば、色表示は、撮影画像の表示領域及び眼鏡装用パラメータの表示領域と異なる領域に表示するようにしてもよいし、重畳表示するようにしてもよい。また、例えば、差分データとして、グラフィックで差分を表示する場合には、画像間でのずれ量を算出し、撮影画像のずれが生じている位置にグラフィックを重畳表示するようにしてもよい。このように、例えば、第1装用データと第2装用データとから差分データを取得し、出力することによって、加工者はフィッティング状態のずれを容易に確認することができる。
なお、本実施例においては、装用データとしては、撮影画像及び眼鏡装用パラメータが表示される場合を例に挙げて説明しているがこれに限定されない。装用データとしては、種々の装用データとの組み合わせが可能である。例えば、第1装用データ及び第2装用データとして、第1画像、第2画像、及び差分データが表示される構成であってもよい。
なお、本実施例においては、加工者が第1装用データと、第2装用データと、を確認し、フィッティング状態が適正であるか否かを判定する場合を例に挙げているがこれに限定されない。例えば、制御部70が、第1装用データと第2装用データの差分データを取得し、差分データに基づいて、フィッティング状態が適正であるか否かを判定するようにしてもよい。この場合、例えば、制御部70が、第1装用データと第2装用データにおける画像間のずれ量を算出し、ずれ量が所定の閾値以上であるか否かに基づいて、フィッティング状態が適正であるか否かを判定するようにしてもよい。また、この場合、例えば、制御部70が、第1装用データと第2装用データにおける眼鏡装用パラメータの差分(差分値)を算出し、差分が所定の閾値以上であるか否かに基づいて、フィッティング状態が適正であるか否かを判定するようにしてもよい。
例えば、加工者は、フィッティング状態が適正でないと判定した場合に、再度、フィッティング調整(S102)を行う。例えば、加工者は、フィッティング状態が適正となるまで、フィッティング状態調整(S102)から第1装用データと第2装用データとを比較表示(S107)までのステップを繰り返し行う。例えば、加工者は、フィッティング状態が適正であると判定した場合、フィッティング状態調整を終了する。以上のようにして、フィッティング状態調整(S10)が完了すると、眼鏡の製作が完了する。
このように、例えば、撮影装置によって撮影された眼鏡フレームを装用した被検者の第1装用データと、第1装用データと異なる日時にて撮影装置によって撮影された眼鏡フレームを装用した被検者の第2装用データと、を比較可能に出力することによって、加工者は、被検者のフィッティングの状態を確認することができ、フィッティング状態の調整を容易に好適に行うことができる。また、例えば、上記構成によって、加工者は、眼鏡を製作する際に撮影された装用データと、眼鏡を製作した後の装用データを比較でき、眼鏡を製作前(眼鏡装用パラメータを算出した際)におけるフィッティングの状態を、眼鏡製作後でも容易に再現することが可能となる。また、例えば、上記構成によって、加工者は、被検者が製作した眼鏡を一定期間使用している間に、眼鏡の製作の完了時からフィッティング状態がずれることによって、眼鏡が使用しづらくなった場合であっても、眼鏡製作の完了時のフィッティング状態とのずれを容易に確認することができるため、眼鏡製作の完了時のフィッティング状態を容易に再現することができる。また、例えば、上記構成は、加工者によって異なる日時でフィッティング状態が調整され、撮影された装用パラメータ間の比較を行うことができるため、加工者のフィッティング技術を向上させるために用いることができる。すなわち、加工者自身又はその他の加工者(例えば、熟練の加工者)によって過去にフィッティング状態を調整した際に取得された装用パラメータと、現在において加工者がフィッティング状態を調整した際に取得された装用パラメータと、の比較ができるため、加工者は、装用パラメータ間で、フィッティングの調整に大きなずれが生じていないか確認することができ、加工者に一定のフィッティング状態を再現させるための加工者のフィッティング状態の調整のトレーニングを行うことができる。
また、本実施例において、例えば、第1装用データと、第2装用データと、を比較可能に表示することによって、加工者は表示画面上で迅速にフィッティングの状態を確認することができる。また、例えば、フィテッィング状態確認後、再調整を行った後に、表示画面上で、迅速にフィッティングの状態を確認することができる。
また、本実施例において、例えば、第1装用データとして第1画像と第1眼鏡装用パラメータが含まれるとともに、第2装用データとして第2画像と第2眼鏡装用パラメータが含まれることによって、加工者は第1画像と第1眼鏡装用パラメータと、第2画像と第2眼鏡装用パラメータと、を比較して、フィッティング状態を確認することができる。加工者は、画像と眼鏡装用パラメータの双方を確認しながら、フィッティング状態を確認することができるため、フィッティング状態をより精度よく、より容易に、確認をすることができる。
<変容例>
なお、本実施例においては、第1装用データをフィッティング状態確認画面に呼び出した後、第2装用データを取得する構成を例に挙げて説明しているがこれに限定されない。例えば、第1装用データを呼び出す前に第2装用データの取得を行うようにしてもよい。この場合、被検者の撮影を行い、第2装用データを取得後、第1装用データを呼び出すようにしてもよい。
なお、本実施例のおいては、第1装用データと第2装用データとが比較可能に出力することによって、フィッティング状態を容易に確認する場合を例に挙げて説明したがこれに限定されない。例えば、加工者は、第1装用データと、眼鏡レンズが枠入れされた眼鏡フレームを被検者に装用させたフィッティング状態と、の比較を行うことによって、フィッティング状態を調整するようにしてもよい。この場合、例えば、加工者は、出力された第1装用データを確認しながら、眼鏡レンズが枠入れされた眼鏡フレームを被検者に装用させて、フィッティング状態を行うようにしてもよい。
なお、本実施例においては、第1装用データと第2装用データとを比較可能に出力する構成を例に挙げて説明したがこれに限定されない。同一の被検者に対して、複数の装用データが記憶できる構成としてもよい。この場合、例えば、加工者は、メモリ72に記憶された複数の装用データからフィッティング状態を確認する際に用いる(比較可能に出力する)装用データを選択するようにしてもよい。
なお、第1装用データ及び第2装用データの画像を比較する場合に静止画像を用いる構成を例に挙げているがこれに限定されない。第1装用データ及び第2装用データの画像は、少なくともいずれかが動画像であってもよい。例えば、一例として、第1装用データを静止画像で表示し、第2装用データは、動画像で表示するようにしてもよい。この場合、例えば、第2装用データして、撮影中の第2画像をリアルタイムに更新して表示していくとともに、第2画像でリアルタイム解析しながら、随時、算出された第2眼鏡装用パラメータを更新して表示していくようにしてもよい。
なお、眼鏡装用パラメータの取得に用いられる正面画像及び側方画像は、1つの画像から、眼鏡フレーム及び被検者の眼が検出される構成に限定されない。複数の撮影画像から眼鏡フレームと被検者の眼が検出されて、眼鏡装用パラメータが取得される構成としてもよい。この場合、例えば、正面画像として、複数の正面画像(左眼正面画像、右眼正面画像等)が撮影され、左眼と右眼の眼鏡装用パラメータがそれぞれ取得される構成が挙げられる。また、例えば、眼鏡フレームを撮影した撮影画像と、被検者の眼を撮影した撮影画像と、の複数の撮影画像が取得され、眼鏡フレーム情報と、被検者の瞳孔情報と、をそれぞれ取得し、眼鏡装用パラメータを取得する構成が挙げられる。
なお、本実施例において、眼鏡装用パラメータは、画像解析によって自動で検出される構成を例に挙げて説明したがこれに限定されない。例えば、眼鏡装用パラメータは、手動及び自動によって検出される構成としてもよい。手動及び自動で検出される場合、自動で撮影画像の画像解析が行われ、図7に示されるように撮影画像上に検出結果に基づいた指標が表示される。ここで、加工者は、撮影画像に表示された指標を表示された位置から、操作ユニット10を操作することによって指標を移動させ、指標が移動された位置での結果を眼鏡装用パラメータとして取得する。すなわち、指標の移動に連動して、測定値表示欄80の測定値も変更される。
なお、本実施例において、眼鏡装用パラメータを示す各指標が、撮影画像に重畳表示される場合を例に挙げて説明したがこれに限定されない。眼鏡装用パラメータを示す各指標は、表示部15の表示画面上に表示される構成であればよい。
なお、本実施例において、撮影画像と眼鏡装用パラメータはそれぞれ別の領域に表示される構成を例に挙げて説明しているがこれに限定されない。撮影画像上に眼鏡装用パラメータの数値を重畳表示させるようにしてもよい。
なお、本実施例においては、反射ミラー410の角度を変更させることによって、固視標の呈示位置を変更する光学系を用いて撮影した画像に対して、画像解析処理を行う構成を例に挙げて説明したが、これに限定されない。本実施例の画像解析処理は、眼鏡を装用した被検者を撮影した画像に対して適用することができる。すなわち、画像を撮影するための光学系としては、本実施例の光学系に限定されず、種々の光学系を適用してもよい。
なお、本実施例においては、左右側の側方画像を取得するために、側方撮影光学系500として、被検者の左側に配置される左方撮影光学系500Lと、被検者の右側に配置される右方撮影光学系500Rをそれぞれ備える構成としたがこれに限定されない。1つの撮影光学系が兼用される構成としてもよい。例えば、左右側の側方画像を取得するために、1つの側方撮影光学系が用いられている構成であってもよい。この場合、例えば、反射ミラーの駆動等によって左右の側方を撮影する構成、側方撮影光学系が移動をすることによって左右の側方を撮影する構成、等が挙げられる。また、例えば、正面画像撮影用の測定光学系を用いて、左右側の側方画像が取得される構成としてもよい。この場合、例えば、正面画像撮影用の光学系が移動されることによって、左右側の側方画像が取得される構成が挙げられる。
なお、本実施例においては、遠用測定光学系200と近用測定光学系300が別途設けられる構成としたがこれに限定されない。少なくとも一方の光学系を用いて、遠方視状態又は近方視状態の画像が撮影される構成としてもよい。この場合、例えば、遠方視状態又は近方視状態の画像の一方から取得された眼鏡装用パラメータに基づいて、他方の眼鏡装用パラメータを取得するようにしてもよい。
なお、本実施例に開示の技術は、アタッチメントやシール等を眼鏡フレーム取り付け、眼鏡装用パラメータを取得する装置においても、適用することができる。例えば、アタッチメントやシール等が眼鏡フレーム取り付けられ、撮影された撮影画像において、それらの目印を検出する際に、本実施例に開示の技術を用いる。
なお、本実施例の眼鏡装用画像解析装置1は、複数の撮像光学系を備え、被検者の画像を撮影するものとした。しかしながら、この構成に限らない。例えば、撮像光学系を備えていなくともよい。この場合、装置外部の撮像光学系によって撮影された被検者の装用データを種々のデータ通信手段によって受信する。そして、受信した画像を基に、被検者の眼鏡装用パラメータを測定して、装用データを取得するようにしてもよい。
なお、本発明においては、本実施例に記載した装置に限定されない。例えば、上記実施例の機能を行う眼鏡装用画像解析ソフトウェア(プログラム)をネットワークや各種記憶媒体を介して、システムあるいは装置に供給する。そして、システムあるいは装置のコンピュータ(例えば、CPU等)がプログラムを読み出し、実行することも可能である。
1 眼鏡装用パラメータ測定装置
5 顔支持ユニット
10 操作ユニット
15 表示部
70 制御部
72 メモリ
200 遠用測定光学系
300 近用測定光学系
400 光路切換ユニット
500 側方撮影光学系

Claims (8)

  1. 眼鏡を装用した被検者の画像を解析し、被検者の眼鏡装用パラメータを測定するための眼鏡装用画像解析装置であって、
    撮影装置によって撮影された眼鏡フレームを装用した被検者の第1装用データと、前記第1装用データと異なる日時にて撮影装置によって撮影された前記眼鏡フレームを装用した前記被検者の第2装用データと、を取得する取得手段と、
    前記第1装用データと、前記第2装用データと、を比較可能に出力する制御手段と、
    を備えることを特徴とする眼鏡装用画像解析装置。
  2. 請求項1の眼鏡装用画像解析装置であって、
    前記制御手段は、前記第1装用データと、前記第2装用データと、をモニタに比較可能に表示することを特徴とする眼鏡装用画像解析装置。
  3. 請求項1又は2の眼鏡装用画像解析装置であって、
    前記制御手段は、前記第1装用データとして少なくとも第1画像を含め、前記第2装用データとして少なくとも第2画像と、を含めることを特徴とする眼鏡装用画像解析装置。
  4. 請求項1又は2の眼鏡装用画像解析装置であって、
    前記制御手段は、前記第1装用データとして第1画像を解析して取得した第1眼鏡装用パラメータを少なくとも含め、前記第2装用データとして第2画像を解析して取得した第2眼鏡装用パラメータを少なくとも含めることを特徴とする眼鏡装用画像解析装置。
  5. 請求項1又は2の眼鏡装用画像解析装置であって、
    前記制御手段は、前記第1装用データとして第1画像及び前記第1画像を解析して取得した第1眼鏡装用パラメータを少なくとも含め、前記第2装用データとして第2画像及び前記第2画像を解析して取得した第2眼鏡装用パラメータを少なくとも含めることを特徴とする眼鏡装用画像解析装置。
  6. 請求項1〜5のいずれかの眼鏡装用画像解析装置であって、
    前記制御手段は、前記第1装用データと前記第2装用データとを差分処理し、差分データを取得し、前記差分データを出力することによって、前記第1装用データと、前記第2装用データと、を比較可能とすることを特徴とする眼鏡装用画像解析装置。
  7. 眼鏡を装用した被検者の画像を解析し、被検者の眼鏡装用パラメータを測定するための眼鏡装用画像解析方法であって、
    撮影装置によって撮影された眼鏡フレームを装用した被検者の第1装用データと、前記第1装用データと異なる日時にて撮影装置によって撮影された前記眼鏡フレームを装用した前記被検者の第2装用データと、を取得する取得ステップと、
    前記第1装用データと、前記第2装用データと、を比較可能に出力する制御ステップと、
    を備えることを特徴とする眼鏡装用画像解析方法。
  8. 眼鏡を装用した被検者の画像を解析し、被検者の眼鏡装用パラメータを測定するための眼鏡装用画像解析装置において実行される眼鏡装用画像解析プログラムであって、
    前記眼鏡装用画像解析装置のプロセッサによって実行されることで、
    撮影装置によって撮影された眼鏡フレームを装用した被検者の第1装用データと、前記第1装用データと異なる日時にて撮影装置によって撮影された前記眼鏡フレームを装用した前記被検者の第2装用データと、を取得する取得ステップと、
    前記第1装用データと、前記第2装用データと、を比較可能に出力する制御ステップと、
    を前記眼鏡装用画像解析装置に実行させることを特徴とする眼鏡装用画像解析プログラム。
JP2016066021A 2016-03-29 2016-03-29 眼鏡装用画像解析装置、眼鏡装用画像解析方法、及び眼鏡装用画像解析プログラム Pending JP2017181657A (ja)

Priority Applications (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2016066021A JP2017181657A (ja) 2016-03-29 2016-03-29 眼鏡装用画像解析装置、眼鏡装用画像解析方法、及び眼鏡装用画像解析プログラム
EP17162021.4A EP3226068A1 (en) 2016-03-29 2017-03-21 Spectacle wearing image analysis apparatus, spectacle wearing image analysis method, and spectacle wearing image analysis program

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2016066021A JP2017181657A (ja) 2016-03-29 2016-03-29 眼鏡装用画像解析装置、眼鏡装用画像解析方法、及び眼鏡装用画像解析プログラム

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2017181657A true JP2017181657A (ja) 2017-10-05
JP2017181657A5 JP2017181657A5 (ja) 2019-04-25

Family

ID=58692272

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2016066021A Pending JP2017181657A (ja) 2016-03-29 2016-03-29 眼鏡装用画像解析装置、眼鏡装用画像解析方法、及び眼鏡装用画像解析プログラム

Country Status (2)

Country Link
EP (1) EP3226068A1 (ja)
JP (1) JP2017181657A (ja)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2019009034A1 (ja) * 2017-07-03 2019-01-10 株式会社ニコン・エシロール 眼鏡レンズの設計方法、眼鏡レンズの製造方法、眼鏡レンズ、眼鏡レンズ発注装置、眼鏡レンズ受注装置および眼鏡レンズ受発注システム

Families Citing this family (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN114730103B (zh) * 2020-01-10 2024-06-25 依视路国际公司 眼睛配戴物设备的镜片的位置变化
NL2024783B1 (en) * 2020-01-29 2021-09-10 Symae Tech Holding B V A face imaging device comprising a casing defining an opening for a face of a person to be imaged, wherein in the interior of the casing light sources and reflectors are arranged.

Citations (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH04253836A (ja) * 1991-02-05 1992-09-09 Canon Inc 眼科測定装置
JP2001331549A (ja) * 2000-03-17 2001-11-30 Topcon Corp 眼鏡フレーム選択システム
JP2005135202A (ja) * 2003-10-31 2005-05-26 Nidek Co Ltd 眼鏡フレーム選択装置
WO2005092173A1 (ja) * 2004-03-26 2005-10-06 Hoya Corporation 眼鏡レンズ供給システム、眼鏡装用パラメータ測定装置、眼鏡装用検査システム、眼鏡レンズ及び眼鏡
WO2014133166A1 (ja) * 2013-02-28 2014-09-04 Hoya株式会社 眼鏡レンズの設計システム、供給システム、設計方法及び製造方法
JP2015143960A (ja) * 2014-01-31 2015-08-06 株式会社ニデック 眼鏡装用画像解析装置、眼鏡装用画像解析方法、及び眼鏡装用画像解析プログラム
JP2015148691A (ja) * 2014-02-05 2015-08-20 株式会社ニデック 眼鏡装用画像解析装置、眼鏡装用画像解析方法、及び眼鏡装用画像解析プログラム
JP2015179254A (ja) * 2014-02-27 2015-10-08 株式会社ニデック 眼鏡装用画像解析装置、眼鏡装用画像解析方法、及び眼鏡装用画像解析プログラム

Family Cites Families (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US7441895B2 (en) * 2004-03-26 2008-10-28 Hoya Corporation Spectacle lens supply system, spectacle wearing parameter measurement apparatus, spectacle wearing test system, spectacle lens, and spectacle
ES2264848B1 (es) * 2004-05-06 2008-01-01 Indo Internacional, S.A. Procedimiento y equipo para establecer el comportamiento visual de una persona, y procedimiento de personalizacion de una lente para montura.
JP4616303B2 (ja) 2007-04-23 2011-01-19 株式会社ニデック 眼位置測定装置
DE102008003906B4 (de) * 2008-01-10 2009-11-26 Rodenstock Gmbh Verwendung eines Fixationstargets und Vorrichtung
FR3018120B1 (fr) * 2014-02-28 2018-07-27 Essilor International Procede et dispositif de selection d’un equipement comprenant au moins un verre ophtalmique et une monture, procede et dispositif d’accompagnement du choix d’un tel equipement

Patent Citations (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH04253836A (ja) * 1991-02-05 1992-09-09 Canon Inc 眼科測定装置
JP2001331549A (ja) * 2000-03-17 2001-11-30 Topcon Corp 眼鏡フレーム選択システム
JP2005135202A (ja) * 2003-10-31 2005-05-26 Nidek Co Ltd 眼鏡フレーム選択装置
WO2005092173A1 (ja) * 2004-03-26 2005-10-06 Hoya Corporation 眼鏡レンズ供給システム、眼鏡装用パラメータ測定装置、眼鏡装用検査システム、眼鏡レンズ及び眼鏡
WO2014133166A1 (ja) * 2013-02-28 2014-09-04 Hoya株式会社 眼鏡レンズの設計システム、供給システム、設計方法及び製造方法
JP2015143960A (ja) * 2014-01-31 2015-08-06 株式会社ニデック 眼鏡装用画像解析装置、眼鏡装用画像解析方法、及び眼鏡装用画像解析プログラム
JP2015148691A (ja) * 2014-02-05 2015-08-20 株式会社ニデック 眼鏡装用画像解析装置、眼鏡装用画像解析方法、及び眼鏡装用画像解析プログラム
JP2015179254A (ja) * 2014-02-27 2015-10-08 株式会社ニデック 眼鏡装用画像解析装置、眼鏡装用画像解析方法、及び眼鏡装用画像解析プログラム

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2019009034A1 (ja) * 2017-07-03 2019-01-10 株式会社ニコン・エシロール 眼鏡レンズの設計方法、眼鏡レンズの製造方法、眼鏡レンズ、眼鏡レンズ発注装置、眼鏡レンズ受注装置および眼鏡レンズ受発注システム

Also Published As

Publication number Publication date
EP3226068A1 (en) 2017-10-04

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP6515542B2 (ja) 眼鏡装用画像解析装置、眼鏡装用画像解析方法、及び眼鏡装用画像解析プログラム
JP5013930B2 (ja) 眼鏡装用パラメータ測定装置及び眼鏡装用パラメータ測定方法
CN103429139B (zh) 具有可调整视场的眼镜装置和方法
JP3976925B2 (ja) 眼位置測定装置
US9928421B2 (en) Method for helping determine the vision parameters of a subject
JP4616303B2 (ja) 眼位置測定装置
WO2015046466A1 (ja) 眼鏡装用パラメータ測定装置、および眼鏡装用パラメータ測定用プログラム
JP4514030B2 (ja) 眼鏡装用パラメータ測定装置
CN214623231U (zh) 一种眼镜佩戴参数的测量设备
JP2017181657A (ja) 眼鏡装用画像解析装置、眼鏡装用画像解析方法、及び眼鏡装用画像解析プログラム
JP5279153B1 (ja) 瞳孔位置測定方法及び両用レンズの作製方法
JP2007093636A (ja) 眼鏡装用パラメータ測定装置、眼鏡レンズ及び眼鏡
JP6379639B2 (ja) 眼鏡装用パラメータ測定用撮影装置、眼鏡装用パラメータ測定用撮影プログラム
JP4514521B2 (ja) 眼鏡装用パラメータ測定装置
JP6608208B2 (ja) 画像表示装置
JP2007003923A (ja) 眼鏡装用パラメータ測定装置、眼鏡レンズ及び眼鏡
JP2015066046A (ja) 眼鏡装用画像解析装置、眼鏡装用画像解析プログラム
JP6379502B2 (ja) 眼鏡装用画像解析装置、眼鏡装用画像解析方法、及び眼鏡装用画像解析プログラム
JP6488546B2 (ja) 眼鏡装用画像解析装置、眼鏡装用画像解析方法、及び眼鏡装用画像解析プログラム
JP2015085163A (ja) 眼鏡装用パラメータ測定用撮影装置
JP6164739B2 (ja) 眼鏡装用パラメータ測定装置、眼鏡装用パラメータ測定プログラムおよび画像取得方法
JP4795017B2 (ja) 眼鏡レンズ評価装置
JP6277649B2 (ja) 眼鏡装用パラメータ測定装置、眼鏡装用パラメータ測定用プログラム
JP6364733B2 (ja) 眼鏡装用パラメータ測定装置、眼鏡装用パラメータ測定用プログラム
JP2015068983A (ja) 眼鏡装用パラメータ測定装置、眼鏡装用パラメータ測定用プログラム

Legal Events

Date Code Title Description
A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20190308

A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20190308

A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20200123

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20200204

A601 Written request for extension of time

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A601

Effective date: 20200406

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20200507

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20200908

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20201109

A02 Decision of refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02

Effective date: 20210511