JP2017201760A - 撮像装置および測距装置 - Google Patents
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Abstract
Description
請求項18に記載の測距装置は、第1及び第2の変調光を対象物に放出する光源部と、前記対象物で反射した前記第1及び第2の変調光を受光して信号を生成する第1及び第2の画素を有する撮像素子と、前記第1の画素の出力信号により、前記光源部から放出された第1の変調光の位相と、前記第1の画素によって受光された第1の変調光の位相との第1の位相差を測定する第1の位相差測定部と、前記第2の画素の出力信号により、前記光源部から放出された第2の変調光の位相と、前記第2の画素によって受光された第2の変調光の位相との第2の位相差を測定する第2の位相差測定部と、前記第1及び第2の位相差によって前記対象物までの距離を算出する距離算出部と、を備える。
図1は、第1の実施の形態に係る撮像装置の構成を模式的に示す断面図である。撮像装置1は、被写体2を撮影して、被写体2の画像データと共に、被写体2のデプスマップデータを作成する機能を有する装置である。本実施形態において、デプスマップデータとは、被写体2の部分ごとに、当該部分と撮像装置1との距離(すなわち当該部分の奥行き)を表す距離値を二次元状に配列したマップのデータである。撮像装置1を用いると、1回の撮影で、被写体2の画像データだけでなく、デプスマップデータまで同時に得ることができる。換言すると、画像データとデプスマップデータは、同一の光電変換信号から作成される。
(1)互いに周期の異なる送信第1変調光3aおよび送信第2変調光3bが、被写体2(対象物)で反射し、受信第1変調光4aおよび受信第2変調光4bとして第1画素30aおよび第2画素30bに入射する。第1検出部13a(第1の位相差測定部)は、第1画素30aの出力信号に基づき、送信第1変調光3aの位相と受信第1変調光4aの位相との位相差θaを検出(測定)する。第2検出部13b(第2の位相差測定部)は、第2画素30bの出力信号に基づき、送信第2変調光3bの位相と受信第2変調光4bの位相との位相差θbを検出(測定)する。測距部13cは、それらの検出(測定)された位相差に基づき、被写体2に関する距離L(距離値)を算出する。このようにしたので、1回の変調光放出と撮影とで、背景光の影響を取り除いた、高精度かつ測定範囲の広い測距を行うことができる。
図11は、第2の実施の形態に係る撮像装置100の構成を模式的に示す断面図である。なお以下の説明では、第1の実施の形態に係る撮像装置1と異なる点を中心に説明し、それ以外の部分については説明を省略する。
(1)互いに周期の異なる送信第1変調光3aおよび送信第2変調光3bが、被写体2(対象物)で反射し、受信第1変調光4aおよび受信第2変調光4bとして第1画素130aおよび第2画素130bに入射する。第1検出部13a(第1の位相差測定部)は、第1画素130aの出力信号に基づき、送信第1変調光3aの位相と受信第1変調光4aの位相との位相差θaを検出(測定)する。第2検出部13b(第2の位相差測定部)は、第2画素130bの出力信号に基づき、送信第2変調光3bの位相と受信第2変調光4bの位相との位相差θbを検出(測定)する。測距部13cは、それらの検出(測定)された位相差に基づき、被写体2に関する距離L(距離値)を算出する。このようにしたので、1回の変調光放出と撮影とで、高精度かつ測定範囲の広い測距を行うことができる。
第1画素30aと第2画素30b(第1画素130aと第2画素130b)の個数およびレイアウトは、上述した実施形態と異なっていてもよい。例えば第1の実施の形態では、図2(b)に示すように、略同数の第1画素30aと第2画素30bとを互い違いに配列していた。これに対し、図16(a)に示す配列では、撮像面20全体を2×2の4画素のブロックに区切り、1つのブロックが3つの第1画素30aと1つの第2画素30bとから構成されるようにしている。このように、第1画素30aが第2画素30bよりも多数存在するようにしてもよい。
図7を用いて説明したように、第1の実施の形態では、第1周期Taを4つの期間に分け、各々の期間における光電変換信号を出力信号N1〜N4として出力するように、第1画素30aを構成していた。従って、例えば出力信号N1〜N4を積算すれば、それは第1周期Taの期間全てにおける光電変換信号となる。しかしながら、これとは異なる制御により得られた光電変換信号を出力信号N1〜N4としても、上述した実施形態と同様にデプスマップデータを作成することができる。
図14を用いて説明したように、第2の実施の形態では、信号φTX3、φTX4(制御信号g3(t)、g4(t))を、信号φTX1、φTX2(制御信号g1(t)、g2(t))に対して第1周期Taの1/4だけ遅れた位相を有する信号としていた。しかしながら、信号φTX3、φTX4を、これとは異なる位相を有する信号とすることもできる。少なくとも、信号φTX1、φTX2に対して位相が異なっていればよい。
上述した各実施形態において、送信第1変調光3aおよび送信第2変調光3bは、互いに異なる周期の正弦波であった。これとは異なる形に変調された光を、送信第1変調光3aおよび送信第2変調光3bとしてもよい。以下、そのような変調光3を用いる変形例について説明する。
光源部10が被写体2に放出する変調光3は、可視光でなく赤外光(例えば近赤外光)であってもよい。このようにすると、特に被写体2が人物である場合に、変調光3が目に見えず、被写体2が変調光3を煩わしく感じることがなく、円滑に撮影を行うことができる。
上述した実施の形態では、光源部10を撮像装置1の筐体外部に設けていた(例えば図1)。光源部10を撮像装置1の筐体内部に設けることもできる。例えば、光学系11と撮像素子12との間に斜めにハーフミラーを挿入し、ハーフミラーに対してy方向に変調光3を放出する光源部10を設ける。このようにすると、光源部10により放出された変調光3は、ハーフミラーで反射して光学系11の方向、すなわち被写体2の方向に向かって進行する。反射光4は、光学系11とハーフミラーを通過して撮像素子12に入射する。このようにすることで、撮像装置1の筐体デザインの自由度が高くなる。
上述した実施の形態では、光源部10は送信第1変調光3aと送信第2変調光3bとから成る変調光3を被写体2に放出していたが、送信第1変調光3aと送信第2変調光3bをそれぞれ別個に被写体2に放出てもよい。例えば、送信第1変調光3aを放出する第1光源部と、送信第2変調光3bを放出する第2光源部とを、撮像装置1の異なる位置に設けてもよい。
上述した実施の形態では、デプスマップデータと共に画像データを作成可能な撮像装置について説明したが、画像データの作成は行わなくてもよい。例えば、デプスマップデータのみを作成する測距装置としてもよい。
第2の実施の形態において、第1光電変換部132aから出力信号N1および出力信号N2を読み出し、第2光電変換部132bから出力信号N3および出力信号N4を読み出すのではなく、第1光電変換部132aから出力信号N1および出力信号N3を読み出し、第2光電変換部132bから出力信号N2および出力信号N4を読み出すようにしてもよい。また、第1光電変換部132aから出力信号N1および出力信号N4を読み出し、第2光電変換部132bから出力信号N2および出力信号N3を読み出すようにしてもよい。
第1の実施の形態では、図3に示したように、1列の画素30に対して、出力信号N1〜N4を出力するための4本の垂直信号線V1〜V4を設けていたが、これを2本の垂直信号線V1,V3のみ設けるようにしてもよい。この場合、出力信号N1,N2は時分割的に垂直信号線V1に出力され、出力信号N3,N4は時分割的に垂直信号線V3に出力されることになる。同様に、垂直信号線V1のみを設け、出力信号N1〜N4を時分割的に垂直信号線V1に出力するようにしてもよい。
Claims (18)
- 第1及び第2の変調光を対象物に放出する光源部と、
前記対象物で反射した前記第1及び第2の変調光を受光して信号を生成する第1及び第2の画素を有する撮像素子と、
前記第1の画素の出力信号により、前記光源部から放出された第1の変調光の位相と、前記第1の画素によって受光された第1の変調光の位相との第1の位相差を測定する第1の位相差測定部と、
前記第2の画素の出力信号により、前記光源部から放出された第2の変調光の位相と、前記第2の画素によって受光された第2の変調光の位相との第2の位相差を測定する第2の位相差測定部と、
前記第1及び第2の位相差によって前記対象物までの距離を算出する距離算出部と、
前記第1の画素の出力信号と前記第2の画素の出力信号とに基づき、前記対象物の画像データを生成する画像データ生成部と、
を備える撮像装置。 - 請求項1に記載の撮像装置において、
前記第1の変調光は、第1の周期を有し、
前記第2の変調光は、前記第1の周期とは異なる第2の周期を有する撮像装置。 - 請求項2に記載の撮像装置において、
前記撮像素子は、前記第1の画素の出力信号を、前記第1の周期に基づくタイミングで読み出し、前記第2の画素の出力信号を、前記第2の周期に基づくタイミングで読み出す撮像装置。 - 請求項3に記載の撮像装置において、
前記撮像素子は、前記第1の画素の出力信号を、前記第1の周期の間に、所定の位相遅れで、第1、第2、第3、及び第4の信号として順次読み出し、
前記第1の位相差測定部は、前記第1の信号と前記第3の信号との差分と、前記第2の信号と前記第4の信号との差分とに基づき、前記第1の位相差を測定し、
前記撮像素子は、前記第2の画素の出力信号を、前記第2の周期の間に、所定の位相遅れで、第5、第6、第7、及び第8の信号として、順次読み出し、
前記第2の位相差測定部は、前記第5の信号と前記第7の信号との差分と、前記第6の信号と前記第8の信号との差分とに基づき、前記第2の位相差を測定する撮像装置。 - 請求項4に記載の撮像装置において、
前記第1及び第2の画素の各々は、マイクロレンズと光電変換部とを有し、
前記撮像素子は、前記第1の画素の前記光電変換部から前記第1、第2、第3、及び第4の信号を順次読み出し、
前記撮像素子は、前記第2の画素の前記光電変換部から前記第5、第6、第7、及び第8の信号を順次読み出す撮像装置。 - 請求項5に記載の撮像装置において、
前記撮像素子は、前記第1の画素の前記光電変換部から前記第1、第2、第3、及び第4の信号をそれぞれ読み出す第1、第2、第3、及び第4の読出部を有し、
前記撮像素子は、前記第2の画素の前記光電変換部から前記第5、第6、第7、及び第8の信号をそれぞれ読み出す第5、第6、第7、及び第8の読出部を有する撮像装置。 - 請求項4に記載の撮像装置において、
前記第1及び第2の画素の各々は、マイクロレンズと第1及び第2の光電変換部とを有し、
前記撮像素子は、前記第1の画素の前記第1の光電変換部から前記第1、第2、第3、及び第4の信号のうちの二つの信号を読み出し、前記第2の光電変換部から前記第1、第2、第3、及び第4の信号のうちの残りの二つの信号を読み出し、
前記撮像素子は、前記第2の画素の前記第1の光電変換部から前記第5、第6、第7、及び第8の信号のうちの二つの信号を読み出し、前記第2の光電変換部から前記第5、第6、第7、及び第8の信号のうちの残りの二つの信号を読み出す撮像装置。 - 請求項7に記載の撮像装置において、
前記撮像素子は、前記第1の画素の前記第1の光電変換部から前記二つの信号をそれぞれ読み出す第1及び第2の読出部と、前記第2の光電変換部から前記残りの二つの信号をそれぞれ読み出す第3及び第4の読出部とを有し、
前記撮像素子は、前記第2の画素の前記第1の光電変換部から前記二つの信号をそれぞれ読み出す第5及び第6の読出部と、前記第2の光電変換部から前記残りの二つの信号をそれぞれ読み出す第7及び第8の読出部とを有する撮像装置。 - 請求項8に記載の撮像装置において、
前記第1の読出部は、前記第1の画素の前記第1の光電変換部から前記二つの信号の一方を前記第1の周期のうちの半周期の間に読み出し、
前記第2の読出部は、前記第1の画素の前記第1の光電変換部から前記二つの信号の他方を前記第1の周期のうちの残り半周期の間に読み出し、
前記第3の読出部は、前記第1の読出部による読み出しよりも所定の時間遅れをもって前記第1の画素の前記第2の光電変換部から前記二つの信号の一方を前記第1の周期のうちの半周期の間に読み出し、
前記第4の読出部は、前記第2の読出部による読み出しよりも所定の時間遅れをもって前記第1の画素の前記第2の光電変換部から前記二つの信号の他方を前記第1の周期のうちの残り半周期の間に読み出し、
前記第5の読出部は、前記第2の画素の前記第1の光電変換部から前記二つの信号の一方を前記第2の周期のうちの半周期の間に読み出し、
前記第6の読出部は、前記第2の画素の前記第1の光電変換部から前記二つの信号の他方を前記第2の周期のうちの残り半周期の間に読み出し、
前記第7の読出部は、前記第5の読出部による読み出しよりも所定の時間遅れをもって前記第2の画素の前記第2の光電変換部から前記二つの信号の一方を前記第2の周期のうちの半周期の間に読み出し、
前記第8の読出部は、前記第6の読出部による読み出しよりも所定の時間遅れをもって前記第2の画素の前記第2の光電変換部から前記二つの信号の他方を前記第2の周期のうちの残り半周期の間に読み出す撮像装置。 - 請求項4から9までのいずれか一項に記載の撮像装置において、
前記画像データ生成部は、前記第1、第2、第3、及び第4の信号を加算した加算信号と、前記第5、第6、第7、及び第8の信号を加算した加算信号とに基づき、前記画像データを生成する撮像装置。 - 請求項7〜9のいずれか一項に記載の撮像装置において、
前記第1の画素の前記第1の光電変換部から読み出された信号と前記第2の光電変換部から読み出された信号との対と、前記第2の画素の前記第1の光電変換部から読み出された信号と前記第2の光電変換部から読み出された信号との対との少なくとも一方の対に基づき、デフォーカス量を算出する位相差式焦点検出部を更に備える撮像装置。 - 請求項11に記載の撮像装置において、
前記位相差式焦点検出部は、前記第1の画素の前記第1の光電変換部から読み出された前記二つの信号を加算した加算信号と前記第2の光電変換部から読み出された前記二つの信号を加算した加算信号との対と、前記第2の画素の前記第1の光電変換部から読み出された前記二つの信号を加算した加算信号と前記第2の光電変換部から読み出された前記二つの信号を加算した加算信号との対との少なくとも一方の対に基づきデフォーカス量を算出する撮像装置。 - 請求項11または12に記載の撮像装置において、
前記第1の周期は、前記第2の周期よりも小さく、
前記位相差式焦点検出部は、前記第1の画素の前記第1の光電変換部から読み出された信号と前記第2の光電変換部から読み出された信号とに基づきデフォーカス量を算出する撮像装置。 - 請求項11から13までのいずれか一項に記載の撮像装置において、
前記位相差式焦点検出部の前記デフォーカス量と前記距離算出部の前記距離との少なくとも一方に基づき焦点調節を行う焦点調節部を更に備える撮像装置。 - 請求項14に記載の撮像装置において、
前記焦点調節部は、結像光学系の絞り値が所定の値より大きいときに、前記距離算出部により算出された前記距離に基づき焦点調節を行い、結像光学系の絞り値が所定の値以下であるときに、前記位相差式焦点検出部により算出された前記デフォーカス量に基づき焦点調節を行う撮像装置。 - 請求項1〜15のいずれか一項に記載の撮像装置において、
前記距離算出部による前記第1の画素毎の前記距離と前記第2の画素毎の前記距離とに基づき、前記第1及び第2の画素の位置における距離に関するデプスマップを作成するデプスマップ作成部を更に備える撮像装置。 - 請求項1に記載の撮像装置において、
前記第1の変調光は、第1のデューティ比を有するパルス変調光であり、
前記第2の変調光は、前記第1のデューティ比とは異なる第2のデューティ比を有するパルス変調光である撮像装置。 - 第1及び第2の変調光を対象物に放出する光源部と、
前記対象物で反射した前記第1及び第2の変調光を受光して信号を生成する第1及び第2の画素を有する撮像素子と、
前記第1の画素の出力信号により、前記光源部から放出された第1の変調光の位相と、前記第1の画素によって受光された第1の変調光の位相との第1の位相差を測定する第1の位相差測定部と、
前記第2の画素の出力信号により、前記光源部から放出された第2の変調光の位相と、前記第2の画素によって受光された第2の変調光の位相との第2の位相差を測定する第2の位相差測定部と、
前記第1及び第2の位相差によって前記対象物までの距離を算出する距離算出部と、
を備える測距装置。
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