JP2017207298A - 自動分析装置 - Google Patents

Abstract

【課題】操作者の負担を軽減し、装置のスループットの低下を抑えることが可能な自動分析装置を提供する。
【解決手段】分注プローブ、圧力検出器、及び分注制御部を具備する。分注プローブは、試料容器に収容される試料を、前記試料容器内における吸引標準位置で吸引する。圧力検出器は、前記分注プローブの圧力を検出する。分注制御部は、前記圧力検出器により検出される圧力に異常がある場合、前記試料容器から前記試料を吸引する位置を、前記吸引標準位置から吸引変更位置に変更する。
【選択図】図９

Description

本発明の実施形態は、自動分析装置に関する。

自動分析装置は、試料に含まれる、生化学検査項目、及び免疫検査項目等の検査項目に関する成分を測定するための装置である。例えば、自動分析装置は、試料容器に収容されている試料をサンプル分注プローブにより吸引し、吸引した試料を反応管へ吐出する。次いで、自動分析装置は、各検査項目の分析に用いる試薬を試薬分注プローブにより吸引し、吸引した試薬を反応管へ吐出する。そして、自動分析装置は、反応管へ吐出された試料と試薬との混合液の反応によって生ずる色調及び／又は濁りの変化を、測光部により光学的に測定する。

ところで、各検査項目の分析では、試料として血液から分離された血清又は血漿が用いられることが多い。これらの試料には血液成分から生成されるフィブリン等の不溶物が含まれていることがある。この種の不溶物は、試料を吸引しているサンプル分注プローブに付着するとサンプル分注プローブに詰まりを生じさせ、試料の分注精度を低下させる原因となる。

この問題を解決するために、サンプル分注プローブ内の圧力を検出する圧力センサを設け、サンプル分注プローブの詰まりを検出することができる自動分析装置が知られている。この種の自動分析装置において、サンプル分注プローブの詰まりが検出された場合、操作者は、サンプル分注プローブの詰まりを発生させた試料を確認し、再度この試料を測定する必要がある。しかしながら、サンプル分注プローブの詰まりを発生させた試料を特定し、この試料を確認した後に再度この試料を測定することは、操作者の負担であり、装置のスループットを低下させ、測定結果の報告が遅れる要因となる。

特開２０１５−１７５７８３号公報

目的は、操作者の負担を軽減し、装置のスループットの低下を抑えることが可能な自動分析装置を提供することにある。

実施形態によれば、自動分析装置は、分注プローブ、圧力検出器、及び分注制御部を具備する。分注プローブは、試料容器に収容される試料を、前記試料容器内における吸引標準位置で吸引する。圧力検出器は、前記分注プローブの圧力を検出する。分注制御部は、前記圧力検出器により検出される圧力に異常がある場合、前記試料容器から前記試料を吸引する位置を、前記吸引標準位置から、前記試料容器内における吸引変更位置に変更する。

図１は、第１の実施形態に係る自動分析装置の機能構成を示すブロック図である。 図２は、図１に示される分析機構の構成を示す図である。 図３は、図１に示される分析機構の構成を示す図である。 図４は、図２に示される分注ユニット、及び圧力検出器の構成を示すブロック図である。 図５は、試料容器内におけるサンプル吸引位置を示す図である。 図６は、サンプル分注プローブの回動軌道上の水平移動を表す図である。 図７は、サンプル分注プローブの垂直移動を表す図である。 図８は、図２に示される記憶回路に記憶される、試料容器の種類と、サンプル吸引位置の移動量との関係を表すテーブルを示す図である。 図９は、図１に示される制御回路による分注動作を表すフローチャートである。 図１０は、第２の実施形態に係る自動分析装置が具備する分析機構の構成を示す図である。 図１１は、自動分析装置の機能構成のその他の例を示すブロック図である。

以下、実施の形態について、図面を参照して説明する。

（第１の実施形態）
図１は、第１の実施形態に係る自動分析装置１の機能構成を示すブロック図である。図１に示される自動分析装置１は、分析機構２、解析回路３、駆動機構４、入力インタフェース回路５、出力インタフェース回路６、記憶回路７、及び制御回路８を具備する。

分析機構２は、標準試料又は被検試料等の試料と、この試料に設定された各検査項目で用いられる試薬とを混合する。分析機構２は、試料と試薬との混合液を測定し、例えば吸光度で表される標準データ及び被検データを生成する。

解析回路３は、分析機構２により生成された標準データ及び被検データを解析するプロセッサである。解析回路３は、記憶回路７から動作プログラムを読み出し、読み出した動作プログラムを実行することで、標準データ及び被検データを解析する。例えば、解析回路３は、生成された標準データと、標準試料に予め設定された標準値との関係を示す検量データを生成する。また、解析回路３は、生成された被検データと、この被検データに対応する検査項目の検量データとに基づいて、濃度値及び酵素の活性値として表される分析データを生成する。解析回路３は生成した検量データ及び分析データ等を制御回路８へ出力する。

駆動機構４は、ギア、ステッピングモータ、ベルトコンベア、及びリードスクリュー等により実現される。駆動機構４は、制御回路８の制御に従い、分析機構２を駆動させる。

入力インタフェース回路５は、例えば、マウス、キーボード、及び、操作面へ触れることで指示が入力されるタッチパッド等により実現される。操作者は、入力インタフェース回路５から、例えば、検査を行う検査対象の試料を識別する試料ＩＤ、この試料ＩＤに対する検査項目、各検査項目における試料及び試薬の分注量等の分析パラメータ、並びに、各検査項目をＡライン系統又はＢライン系統に区分するための区分情報等を入力する。入力インタフェース回路５は、制御回路８に接続され、操作者から入力される操作指示を電気信号へ変換し、電気信号を制御回路８へ出力する。なお、本明細書において入力インタフェース回路５はマウス及びキーボード等の物理的な操作部品を備えるものだけに限られない。例えば、自動分析装置１とは別体に設けられた外部の入力機器から入力される操作指示に対応する電気信号を受け取り、この電気信号を制御回路８へ出力する電気信号の処理回路も入力インタフェース回路５の例に含まれる。

出力インタフェース回路６は、例えばＣＲＴディスプレイ、液晶ディスプレイ、有機ＥＬディスプレイ、及びプラズマディスプレイ等の表示回路６２、並びに、プリンタ等の印刷回路６１を含む。出力インタフェース回路６は、制御回路８に接続され、制御回路８から供給される信号を出力する。

例えば、表示回路６２は、制御回路８から供給される検量データ及び分析データを表示する。また、表示回路６２は、検査項目毎に分注する試料の量（分注量）等の分析パラメータを設定するための分析パラメータ設定画面、検査対象の試料毎にこの試料の試料ＩＤ及びこの試料ＩＤに対して検査項目を設定するための検査項目設定画面、並びに各検査項目に対する区分情報を設定するための区分設定画面等を表示する。また、例えば、印刷回路６１は、制御回路８から供給される検量データ及び分析データを、予め設定されたフォーマットに従ってプリンタ用紙等に印刷する。

記憶回路７は、磁気的若しくは光学的記録媒体又は半導体メモリ等の、プロセッサにより読み取り可能な記録媒体等を含む。記憶回路７は、解析回路３で実行される動作プログラム、及び制御回路８で実行される動作プログラムを記憶する。記憶回路７は、解析回路３により生成される検量データを検査項目毎に記憶する。記憶回路７は、解析回路３により生成される分析データを被検試料毎に記憶する。また、記憶回路７は、サンプル吸引位置の移動量に関する情報を予め記憶する。

制御回路８は、自動分析装置１の中枢として機能するプロセッサである。制御回路８は、記憶回路７に記憶されている動作プログラムを実行することで、この動作プログラムに対応する機能を実現する。

図２及び図３は、図１に示される分析機構２の構成の一例を示す模式図である。図２及び図３に示される分析機構２は、反応ディスク２０１、第１試薬庫２０２、及び第２試薬庫２０３を備える。

反応ディスク２０１は、Ａライン系統に区分される複数の反応管２０１１ａと、Ｂライン系統に区分される複数の反応管２０１１ｂとを保持する。反応管２０１１ａ，２０１１ｂは、反応ディスク２０１の円周上の互いに隣り合う位置に交互に配列される。反応ディスク２０１は、駆動機構４によって既定の時間間隔で回動と停止とが交互に繰り返される。反応管２０１１ａ，２０１１ｂは、例えば、ガラスにより形成される。

第１試薬庫２０２は、試薬が収容されている試薬容器を複数保持する試薬庫の一例であり、反応ディスク２０１の内側に配置される。第１試薬庫２０２は、第１試薬容器ラックにより、円周状に複数の試薬容器を保持する。図２及び図３に示される第１試薬庫２０２内の外円２０２１は、第１試薬庫２０２内で円周状に配列される試薬容器のうち、外側の円周に配列される試薬容器の開口部の位置を表す。第１試薬庫２０２内の内円２０２２は、第１試薬庫２０２内で円周状に配列される試薬容器のうち、内側の円周に配列される試薬容器の開口部の位置を表す。第１試薬庫２０２に保持されている試薬容器は、Ｂライン系統に区分される反応管２０１１ｂに分注される試薬を収容している。開口部が外円２０２１に沿って配置される試薬容器は、Ｂライン系統に区分される各検査項目に対応する第１試薬を収容している。開口部が内円２０２２に沿って配置される試薬容器は、Ｂライン系統に区分される検査項目に対応する第２試薬を収容している。第１試薬及び第２試薬は、検査項目毎に使われるものが決められている。第１試薬容器ラックは、駆動機構４によって第１試薬庫２０２の中心を回転中心として回動される。

第２試薬庫２０３は、第１試薬庫２０２同様に本実施形態における試薬庫の一例であり、反応ディスク２０１の外側に反応ディスク２０１と隣接して配置される。第２試薬庫２０３は、第２試薬容器ラックにより、円周状に複数の試薬容器を保持する。図２に示される第２試薬庫２０３内の外円２０３１は、第２試薬庫２０３内で円周状に配列される試薬容器のうち、外側の円周に配列される試薬容器の開口部の位置を表す。第２試薬庫２０３内の内円２０３２は、第２試薬庫２０３内で円周状に配列される試薬容器のうち、内側の円周に配列される試薬容器の開口部の位置を表す。第２試薬庫２０３に保持されている試薬容器は、Ａライン系統に区分される反応管２０１１ａに分注される試薬を収容している。開口部が外円２０３１に沿って配置される試薬容器は、Ａライン系統に区分される各検査項目に対応する第１試薬を収容している。開口部が内円２０３２に沿って配置される試薬容器は、Ａライン系統に区分される検査項目に対応する第２試薬を収容している。第２試薬容器ラックは、駆動機構４によって第２試薬庫２０３の中心を回転中心として回動される。

また、図２及び図３に示される分析機構２は、ラック投入ユニット２２０、ラック移動ユニット２３０、及びラック回収ユニット２４０を備える。ラック投入ユニット２２０は、複数の試料容器１００を保持するサンプルラック１０２が投入される。サンプルラック１０２の両端の側面には、ラック移動ユニット２３０に設けられる搬送アーム２３１によりピックアップ可能な形状、例えば１対の溝が形成される。

試料容器１００には、標準試料又は被検試料等の試料が収容される。試料容器１００には、試料容器１００に関する情報、及び試料容器１００に収容される試料の識別情報等が記載される光学式マークが設けられる。ここで、試料容器１００に関する情報には、例えば、デフォルト容器、サンプルカップ、及び採血管等の、試料容器の種類が含まれる。また、試料の識別情報には、例えば、患者情報、試料情報、及び試料ＩＤ等が含まれる。光学式マークは、試料容器１００に関する情報、及び試料の識別情報等を符号化したマーク、例えば、バーコード、１次元画素コード、及び２次元画素コード等である。

サンプルラック１０２は、第１投入レーン２２１、及び第２投入レーン２２２へ投入される。第１及び第２投入レーン２２１，２２２へ投入されるサンプルラック１０２は、駆動機構４により、ラック移動ユニット２３０へ移動可能な投入位置へ移動される。このとき、第１及び第２投入レーン２２１，２２２におけるサンプルラック１０２の移動は、例えば、ベルトコンベア、及びリードスクリュー等により実現される。

ラック移動ユニット２３０は、搬送アーム２３１、搬送レール２３２、仮置きレーン２３３、サンプリングレーン２３４、再検査バッファレーン２３５、及びリーダ２３６を備える。

搬送アーム２３１は、駆動機構４によって駆動され、サンプルラック１０２を搬送する。例えば、搬送アーム２３１は、第１投入レーン２２１における投入位置に載置されているサンプルラック１０２を、搬送レール２３２に沿って仮置きレーン２３３又はサンプリングレーン２３４へ搬送する。また、搬送アーム２３１は、サンプリングレーン２３４における搬出位置に位置するサンプルラック１０２を、搬送レール２３２に沿って再検査バッファレーン２３５又はラック回収ユニット２４０の第１回収レーン２４１へ搬送する。

搬送アーム２３１は、例えば、１対の爪を上下動自在に有する。搬送アーム２３１は、サンプルラック１０２に形成される１対の溝に爪を差し込んだ状態で、フォークリフトがそのフォークで荷物を抱えて運ぶように、サンプルラックを搬送する。

サンプリングレーン２３４は、駆動機構４により駆動され、搬入されたサンプルラック１０２を移動させる。例えば、サンプリングレーン２３４は、サンプルラック１０２に保持される試料容器１００各々の開口を、試料を吸引するための所定の位置へ移動させる。また、サンプリングレーン２３４は、サンプルラック１０２に保持される全ての試料容器１００に収容される試料の分注が正常に終了すると、サンプルラック１０２を、ラック回収ユニット２４０へ移動可能な搬出位置へ移動させる。サンプリングレーン２３４におけるサンプルラック１０２の移動は、例えば、ベルトコンベア、及びリードスクリュー等により実現される。

リーダ２３６は、試料を吸引するための位置の近傍に設けられる。リーダ２３６は、サンプリングレーン２３４を移動する試料容器１００に付される光学式マークを読み取る。リーダ２３６は、読み取った光学式マークに基づく情報を制御回路８へ出力する。なお、リーダ２３６は、ＲＦＩＤ（Radio Frequency IDentification）等を利用した他のセンサで代替してもよい。

ラック回収ユニット２４０は、第１及び第２回収レーン２４１，２４２を有する。第１及び第２回収レーン２４１，２４２は、駆動機構４により駆動され、ラック移動ユニット２３０から搬送アーム２３１により搬入されるサンプルラック１０２を、取り出し位置へ移動させる。

また、図２及び図３に示される分析機構２は、第１サンプル分注アーム２０４ａ、第２サンプル分注アーム２０４ｂ、第１サンプル分注プローブ２０５ａ、第２サンプル分注プローブ２０５ｂ、第１分注ユニット２０６ａ、第２分注ユニット２０６ｂ、第１圧力検出器２０６１ａ、第２圧力検出器２０６１ｂ、第１液面検出器２０６２ａ、及び第２液面検出器２０６２ｂを備える。

第１サンプル分注アーム２０４ａは、一端に上下動可能に第１サンプル分注プローブ２０５ａを支持する。第１サンプル分注アーム２０４ａは、駆動機構４によって回動される。第１サンプル分注アーム２０４ａが回動されることにより、第１サンプル分注プローブ２０５ａは、円弧状の回動軌道に沿って回動される。この回動軌道上には、試料を吸引する位置である、サンプル吸引基準位置２３４１と、サンプル吸引予備位置２３４１ａとが設定される。サンプル吸引基準位置２３４１は、サンプリングレーン２３４上に位置するように予め設定されている。サンプル吸引予備位置２３４１ａは、サンプル吸引基準位置２３４１から、記憶回路７に記憶される移動量に基づいて設定される位置である。また、第１サンプル分注プローブ２０５ａが回動される回動軌道上には、Ａライン系統に区分され、吸引した試料が吐出される第１サンプル吐出位置２０１２ａが設定されている。第１サンプル分注プローブ２０５ａは、駆動機構４によって駆動され、サンプル吸引基準位置２３４１、サンプル吸引予備位置２３４１ａ、及び第１サンプル吐出位置２０１２ａにおいて上下方向に移動する。

第１分注ユニット２０６ａは、Ａライン系統に区分される検査項目についての検査を実施する際、第１サンプル分注プローブ２０５ａにより、サンプル吸引基準位置２３４１又はサンプル吸引予備位置２３４１ａで、試料容器１００に収容される試料を吸引する。また、第１分注ユニット２０６ａは、制御回路８の制御に従い、第１サンプル分注プローブ２０５ａにより吸引した試料を、第１サンプル吐出位置２０１２ａに位置する反応管２０１１ａへ吐出する。また、第１分注ユニット２０６ａは、第１サンプルプローブ洗浄位置２０６９ａにて第１サンプル分注プローブ２０５ａへ洗浄液を供給し、第１サンプル分注プローブ２０５ａを洗浄する。

第１圧力検出器２０６１ａは、第１サンプル分注プローブ２０５ａ内の圧力を測定する。第１圧力検出器２０６１ａは、測定結果を制御回路８へ出力する。

図４は、第１分注ユニット２０６ａ、及び第１圧力検出器２０６１ａの構成例を示す模式図である。図４に示される第１分注ユニット２０６ａは、一端が第１サンプル分注プローブ２０５ａに接続されるチューブ２０６３、チューブ２０６３の他端部に接続されるシリンジ２０６４、及びシリンジ２０６４の下端部に設けられる開口に勘合するプランジャ２０６５を備える。また、第１分注ユニット２０６ａは、第１サンプル分注プローブ２０５ａ、チューブ２０６３、及びシリンジ２０６４の各内部に充填される圧力伝達媒体を貯留するタンク２０６６を備える。

また、第１分注ユニット２０６ａは、タンク２０６６に貯留された圧力伝達媒体を吸引し、吸引した圧力伝達媒体を洗浄液としてシリンジ２０６４、及びチューブ２０６３を経由して第１サンプル分注プローブ２０５ａ内に供給する洗浄ポンプ２０６７を備える。また、第１分注ユニット２０６ａは、シリンジ２０６４と洗浄ポンプ２０６７との間を連通する流路を開閉する開閉弁２０６８を備える。

試料を分注する際、シリンジ２０６４と洗浄ポンプ２０６７との間の流路は、制御回路８により制御される開閉弁２０６８により閉鎖される。駆動機構４がプランジャ２０６５を矢印Ｌ１方向へ吸引駆動することにより、第１サンプル分注プローブ２０５ａは、サンプル吸引基準位置２３４１、又はサンプル吸引予備位置２３４１ａで試料容器１００内の試料を吸引する。また、駆動機構４がプランジャ２０６５を矢印Ｌ２方向へ吐出駆動することにより、第１サンプル分注プローブ２０５ａは、第１サンプル吐出位置２０１２ａで停止した反応管２０１１ａ内へ試料を吐出する。

同一試料の分注が終了したとき、又は試料の分注が異常であると判定されたとき、シリンジ２０６４と洗浄ポンプ２０６７との間の流路は、制御回路８により制御される開閉弁２０６８により開放される。洗浄ポンプ２０６７は、駆動機構４により駆動され、第１サンプル分注プローブ２０５ａ内へ洗浄液を供給する。

図４に示される第１圧力検出器２０６１ａは、一端が第１分注ユニット２０６ａのチューブ２０６３に接続される。第１圧力検出器２０６１ａは、圧力センサ２０６１１、アンプ２０６１２、及びＡ／Ｄ変換器２０６１３を備える。圧力センサ２０６１１は、第１サンプル分注プローブ２０５ａ内の圧力を大気の圧力を基準として測定する。圧力センサ２０６１１は、測定した圧力に基づく信号をアンプ２０６１２へ出力する。アンプ２０６１２は、圧力センサ２０６１１から出力される信号を増幅し、Ａ／Ｄ変換器２０６１３へ出力する。Ａ／Ｄ変換器２０６１３は、アンプ２０６１２で増幅された信号をデジタル信号に変換する。圧力検出器２０６１は、デジタル信号を制御回路８へ出力する。

第１圧力検出器２０６１ａは、第１サンプル分注プローブ２０５ａにより試料の吸引が行われているとき、即ち第１分注ユニット２０６ａにより吸引動作が行われているときの第１サンプル分注プローブ２０５ａ内の大気圧よりも低い吸引圧を検出する。また、第１圧力検出器２０６１ａは、第１サンプル分注プローブ２０５ａにより試料の吐出が行われているとき、即ち第１分注ユニット２０６ａにより吐出動作が行われているときの第１サンプル分注プローブ２０５ａ内の大気圧よりも高い吐出圧を検出する。また、第１圧力検出器２０６１ａは、第１分注ユニット２０６ａの洗浄ポンプ２０６７により洗浄液の供給動作が行われているときの第１サンプル分注プローブ２０５ａ内の大気圧よりも高い洗浄圧を検出する。

第１液面検出器２０６２ａは、一端が電気的に第１サンプル分注プローブ２０５ａに接続される。第１液面検出器２０６２ａは、発振回路、ブリッジ回路、差動アンプ、同期検波回路、積分回路、及び増幅回路等を備える。第１液面検出器２０６２ａは、第１サンプル分注プローブ２０５ａが試料容器１００内の試料に接触したときの例えば静電容量の変化により、試料への第１サンプル分注プローブ２０５ａの接触を検出する。また、第１液面検出器２０６２ａは、第１サンプル分注プローブ２０５ａが試料容器１００内の試料から離間したときの静電容量の変化により、試料からの第１サンプル分注プローブ２０５ａの離間を検出する。第１液面検出器２０６２ａは、第１サンプル分注プローブ２０５ａの接触及び離間に関する検出信号を制御回路８へ出力する。

第２サンプル分注アーム２０４ｂは、一端に上下動可能に第２サンプル分注プローブ２０５ｂを支持する。第２サンプル分注アーム２０４ｂは、駆動機構４により、第１サンプル分注アーム２０４ａと共通の回転軸で回動される。第２サンプル分注アーム２０４ｂが回動されることにより、第２サンプル分注プローブ２０５ｂは、第１サンプル分注プローブ２０５ａと同一の回動軌道に沿って回動される。この回動軌道上には、Ｂライン系統に区分され、吸引した試料が吐出される第２サンプル吐出位置２０１２ｂが設定されている。第２サンプル分注プローブ２０５ｂは、駆動機構４によって駆動され、サンプル吸引基準位置２３４１、サンプル吸引予備位置２３４１ａ、及び第２サンプル吐出位置２０１２ｂにおいて上下方向に移動する。

第２分注ユニット２０６ｂは、Ｂライン系統に区分される検査項目についての検査を実施する際、第２サンプル分注プローブ２０５ｂにより、サンプル吸引基準位置２３４１又はサンプル吸引予備位置２３４１ａで、試料容器１００に収容される試料を吸引する。また、第２分注ユニット２０６ｂは、制御回路８の制御に従い、第２サンプル分注プローブ２０５ｂにより吸引した試料を、第２サンプル吐出位置２０１２ｂに位置する反応管２０１１ｂへ吐出する。また、第２分注ユニット２０６ｂは、第１サンプルプローブ洗浄位置２０６９ｂにて第２サンプル分注プローブ２０５ｂへ洗浄液を供給し、第２サンプル分注プローブ２０５ｂを洗浄する。第２圧力検出器２０６１ｂは、第２サンプル分注プローブ２０５ｂ内の圧力を測定し、測定結果を制御回路８へ出力する。なお、第２分注ユニット２０６ｂ及び第２圧力検出器２０６１ｂの構成は、図４に示される第１分注ユニット２０６ａ及び第１圧力検出器２０６１ａの構成と同様である。

第２液面検出器２０６２ｂは、一端が電気的に第２サンプル分注プローブ２０５ｂに接続される。第２液面検出器２０６２ｂは、第２サンプル分注プローブ２０５ｂが試料容器１００内の試料に接触したときの例えば静電容量の変化により、試料への第２サンプル分注プローブ２０５ｂの接触を検出する。また、第２液面検出器２０６２ｂは、第２サンプル分注プローブ２０５ｂが試料容器１００内の試料から離間したときの静電容量の変化により、試料からの第２サンプル分注プローブ２０５ｂの離間を検出する。第２液面検出器２０６２ｂは、第２サンプル分注プローブ２０５ｂの接触及び離間に関する検出信号を制御回路８へ出力する。

また、図２及び図３に示される分析機構２は、第１Ａ試薬分注アーム２０７、第１Ａ試薬分注プローブ２０８、第２Ａ試薬分注アーム２０９、第２Ａ試薬分注プローブ２１０、第１Ｂ試薬分注アーム２１１、第１Ｂ試薬分注プローブ２１２、第２Ｂ試薬分注アーム２１３、第２Ｂ試薬分注プローブ２１４、第１撹拌ユニット２１５、及び第２撹拌ユニット２１６を備える。

第１Ａ試薬分注アーム２０７は、一端に上下動可能に第１Ａ試薬分注プローブ２０８を支持する。第１Ａ試薬分注アーム２０７は、駆動機構４によって回動される。第１Ａ試薬分注アーム２０７が回動されることにより、第１Ａ試薬分注プローブ２０８は、円弧状の回動軌道に沿って回動される。この回動軌道上には、第２試薬庫２０３の外円２０３１上に配置される試薬容器からＡライン系統に区分される各検査項目に対応する第１試薬を吸引する試薬吸引位置と、吸引した第１試薬を反応管２０１１ａへ吐出する第１試薬吐出位置２０１３ａとが設定されている。

第１Ａ試薬分注プローブ２０８は、駆動機構４によって駆動され、回動軌道上の試薬吸引位置、及び第１試薬吐出位置２０１３ａにおいて上下方向に移動する。また、第１Ａ試薬分注プローブ２０８は、制御回路８の制御に従い、回動軌道上の試薬吸引位置に位置する試薬容器から第１試薬を吸引する。また、第１Ａ試薬分注プローブ２０８は、制御回路８の制御に従い、吸引した第１試薬を、第１試薬吐出位置２０１３ａに位置する反応管２０１１ａへ吐出する。

第２Ａ試薬分注アーム２０９は、一端に上下動可能に第２Ａ試薬分注プローブ２１０を支持する。第２Ａ試薬分注アーム２０９は、駆動機構４によって回動される。第２Ａ試薬分注アーム２０９が回動されることにより、第２Ａ試薬分注プローブ２１０は、円弧状の回動軌道に沿って回動される。この回動軌道上には、第２試薬庫２０３の内円２０３２上に配置される試薬容器からＡライン系統に区分される各検査項目に対応する第２試薬を吸引する試薬吸引位置と、吸引した第２試薬を反応管２０１１ａへ吐出する第２試薬吐出位置２０１４ａとが設定されている。

第２Ａ試薬分注プローブ２１０は、駆動機構４によって駆動され、回動軌道上の試薬吸引位置、及び第２試薬吐出位置２０１４ａにおいて上下方向に移動する。また、第２Ａ試薬分注プローブ２１０は、制御回路８の制御に従い、回動軌道上の試薬吸引位置に位置する試薬容器から第２試薬を吸引する。また、第２Ａ試薬分注プローブ２１０は、制御回路８の制御に従い、吸引した第２試薬を、第２試薬吐出位置２０１４ａに位置する反応管２０１１ａへ吐出する。

第１Ｂ試薬分注アーム２１１は、一端に上下動可能に第１Ｂ試薬分注プローブ２１２を支持する。第１Ｂ試薬分注アーム２１１は、駆動機構４によって回動される。第１Ｂ試薬分注アーム２１１が回動されることにより、第１Ｂ試薬分注プローブ２１２は、円弧状の回動軌道に沿って回動される。この回動軌道上には、第１試薬庫２０２の外円２０２１上に配置される試薬容器からＢライン系統に区分される各検査項目に対応する第１試薬を吸引する試薬吸引位置と、吸引した第１試薬を反応管２０１１ｂへ吐出する第１試薬吐出位置２０１３ｂとが設定されている。

第１Ｂ試薬分注プローブ２１２は、駆動機構４によって駆動され、回動軌道上の試薬吸引位置、及び第１試薬吐出位置２０１３ｂにおいて上下方向に移動する。また、第１Ｂ試薬分注プローブ２１２は、制御回路８の制御に従い、回動軌道上の試薬吸引位置に位置する試薬容器から第１試薬を吸引する。また、第１Ｂ試薬分注プローブ２１２は、制御回路８の制御に従い、吸引した第１試薬を、第１試薬吐出位置２０１３ｂに位置する反応管２０１１ｂへ吐出する。

第２Ｂ試薬分注アーム２１３は、一端に上下動可能に第２Ｂ試薬分注プローブ２１４を支持する。第２Ｂ試薬分注アーム２１３は、駆動機構４によって回動される。第２Ｂ試薬分注アーム２１３が回動されることにより、第２Ｂ試薬分注プローブ２１４は、円弧状の回動軌道に沿って回動される。この回動軌道上には、第１試薬庫２０２の内円２０２２上に配置される試薬容器からＢライン系統に区分される各検査項目に対応する第２試薬を吸引する試薬吸引位置と、吸引した第２試薬を反応管２０１１ｂへ吐出する第２試薬吐出位置２０１４ｂとが設定されている。

第２Ｂ試薬分注プローブ２１４は、駆動機構４によって駆動され、回動軌道上の試薬吸引位置、及び第２試薬吐出位置２０１４ｂにおいて上下方向に移動する。また、第２Ｂ試薬分注プローブ２１４は、制御回路８の制御に従い、回動軌道上の試薬吸引位置に位置する試薬容器から第２試薬を吸引する。また、第２Ｂ試薬分注プローブ２１４は、制御回路８の制御に従い、吸引した第２試薬を、第２試薬吐出位置２０１４に位置する反応管２０１１へ吐出する。

第１撹拌ユニット２１５、及び第２撹拌ユニット２１６は、撹拌アーム、及び撹拌子をそれぞれ有する。撹拌アームは、先端近傍に、回動可能、かつ、上下動可能に撹拌子を支持する。第１撹拌ユニット２１５は、制御回路８の制御に従い、反応ディスク２０１上の撹拌位置２０１５ａへ撹拌子を移動させ、撹拌子により撹拌位置２０１５ａに位置する反応管２０１１ａ内で試料と第１試薬との混合液を撹拌する。また、第１撹拌ユニット２１５は、制御回路８の制御に従い、反応ディスク２０１上の撹拌位置２０１５ｂへ撹拌子を移動させ、撹拌子により撹拌位置２０１５ｂに位置する反応管２０１１ｂ内で試料と第１試薬との混合液を撹拌する。

第２撹拌ユニット２１６は、制御回路８の制御に従い、反応ディスク２０１上の撹拌位置２０１６ａへ撹拌子を移動させ、撹拌子により撹拌位置２０１６ａに位置する反応管２０１１ａ内で試料、第１試薬、及び第２試薬の混合液を撹拌する。また、第２撹拌ユニット２１６は、制御回路８の制御に従い、反応ディスク２０１上の撹拌位置２０１６ｂへ撹拌子を移動させ、撹拌子により撹拌位置２０１６ｂに位置する反応管２０１１ｂ内で試料、第１試薬、及び第２試薬の混合液を撹拌する。

また、図２及び図３に示される分析機構２は、測光ユニット２１７、洗浄ユニット２１８、及び電解質測定ユニット２１９を備える。
測光ユニット２１７は、光源、及び光検出器を有する。測光ユニット２１７は、制御回路８の制御に従い、光源から反応管２０１１ａ，２０１１ｂへ光を照射する。光検出器は、反応管２０１１ａ，２０１１ｂ内の標準試料と試薬との混合液、又は被検試料と試薬との混合液を通過した光を検出する。光検出器は、検出した光の強度に基づいて例えば吸光度で表される標準データ又は被検データを生成する。測光ユニット２１７は、生成した標準データ及び被検データを、解析回路３へ出力する。

洗浄ユニット２１８は、廃液ノズル、洗浄ノズル、及び乾燥ノズルを備える。洗浄ユニット２１８は、廃液ノズルにより、反応管洗浄位置に位置する反応管２０１１ａ，２０１１ｂ内の混合液を廃液として吸引する。洗浄ユニット２１８は、洗浄ノズルにより、反応管洗浄位置に位置する反応管２０１１ａ，２０１１ｂへ純水を吐出し、反応管２０１１ａ，２０１１ｂを洗浄する。洗浄ユニット２１８は、乾燥ノズルにより、反応管２０１１ａ，２０１１ｂへ乾燥空気を供給することで、純水により洗浄された反応管２０１１ａ，２０１１ｂを乾燥させる。

電解質測定ユニット２１９は、反応管２０１１ａ，２０１１ｂ内の混合液中に存在する特定電解質を測定する。電解質測定ユニット２１９は、例えば特定電解質から発生するイオン濃度を測定する。

本実施形態に係る制御回路８は、記憶回路７から読み出した動作プログラムを実行することで、図１に示される各種機能を実現する。すなわち、制御回路８は、システム制御機能８１、分析制御機能８２、及び分注モニタ機能８３を備える。なお、本実施形態では、単一のプロセッサによってシステム制御機能８１、分析制御機能８２、及び分注モニタ機能８３が実現される場合を説明するが、これに限定されない。例えば、複数の独立したプロセッサを組み合わせて制御回路を構成し、各プロセッサが動作プログラムを実行することによりシステム制御機能８１、分析制御機能８２、及び分注モニタ機能８３を実現しても構わない。

システム制御機能８１は、入力インタフェース回路５から入力される入力情報に基づき、自動分析装置１における各部を統括して制御する機能である。

分析制御機能８２は、入力インタフェース回路５から入力される入力情報に基づき、駆動機構４を制御する機能である。例えば、分析制御機能８２において、制御回路８は、入力インタフェース回路５から入力される入力情報に基づき、駆動機構４に設けたステッピングモータ等へ駆動パルスを供給することで、分析機構２に設けられる各部の動作を制御する。

より具体的には、例えば、制御回路８は、入力インタフェース回路５から入力される入力情報に基づき、第１サンプル分注アーム２０４ａ、第１サンプル分注プローブ２０５ａ、及び第１分注ユニット２０６ａを、吸引動作、吐出動作、及び洗浄動作を実行するように制御する。このとき、制御回路８は、分注モニタ機能８３によって取得される、第１サンプル分注プローブ２０５ａが正常な状態であるか否かの判定結果を利用して、第１サンプル分注アーム２０４ａ、第１サンプル分注プローブ２０５ａ、及び第１分注ユニット２０６ａを制御する。

また、制御回路８は、入力インタフェース回路５から入力される入力情報に基づき、第２サンプル分注アーム２０４ｂ、第２サンプル分注プローブ２０５ｂ、及び第２分注ユニット２０６ｂを、吸引動作、吐出動作、及び洗浄動作を実行するように制御する。このとき、制御回路８は、分注モニタ機能８３によって取得される、第２サンプル分注プローブ２０５ｂが正常な状態であるか否かの判定結果を利用して、第２サンプル分注アーム２０４ｂ、第１サンプル分注プローブ２０５ｂ、及び第１分注ユニット２０６ｂを制御する。

以下に、分析制御機能８２において、制御回路８が第１サンプル分注アーム２０４ａ、第１サンプル分注プローブ２０５ａ、及び第１分注ユニット２０６ａを制御する動作をより詳細に説明する。なお、第２サンプル分注アーム２０４ｂ、第２サンプル分注プローブ２０５ｂ、及び第２分注ユニット２０６ｂについても同様に制御される。

制御回路８は、例えば、図５に示される吸引標準位置で試料を吸引する際、又はこのサンプル吸引位置で吸引した試料を吐出する際に、分注モニタ機能８３により第１サンプル分注プローブ２０５ａが異常な状態であるか否かを判定する。吸引標準位置とは、サンプル吸引基準位置２３４１、かつ試料の接触が検出される位置から下方に基準距離Ｄ移動させた位置を表す。第１サンプル分注プローブ２０５ａが異常な状態であると判定すると、制御回路８は、この判定が下された検査項目について記憶されている検量データ及び分析データを外部へ報告しない。第１サンプル分注プローブ２０５ａが異常と判定された検査項目については、再度サンプリング動作を実施するためである。また、第１サンプル分注プローブ２０５ａが異常な状態であると判定すると、制御回路８は、第１サンプル分注プローブ２０５ａが正常な状態と判定するまで洗浄液の吐出を繰り返すように第１分注ユニット２０６ａを制御する。

制御回路８は、異常が解消された第１サンプル分注プローブ２０５ａにより同一の試料を吸引する際、記憶回路７に記憶される移動量に関する情報を参照し、サンプル吸引位置を変更する。サンプル吸引位置の移動量に関する情報には、サンプル吸引基準位置２３４１からサンプル吸引予備位置２３４１ａへの移動量に関する情報、及び試料の接触が検出される位置からの基準距離Ｄに対する深さ方向への移動量に関する情報が含まれる。サンプル吸引位置の移動量は、例えば、正常な状態の試料であるならば、吸引標準位置に存在するフィブリン等の不溶物から離間可能であると想定される程度の距離である。
サンプル吸引位置の変更は、サンプル吸引位置の水平方向の変更、垂直方向の変更、及びこれらのうち少なくともいずれかにより実現される。サンプル吸引位置の水平方向の変更とは、例えば、サンプル吸引基準位置２３４１をサンプル吸引予備位置２３４１ａへ変更することを表す。図６は、第１サンプル分注プローブ２０５ａによる試料のサンプル吸引位置がサンプル吸引基準位置２３４１からサンプル吸引予備位置２３４１ａへ変更される場合の例を表す模式図である。また、サンプル吸引位置の垂直方向の変更とは、第１サンプル分注プローブ２０５ａが試料へ接触する位置から基準距離Ｄであるサンプル吸引位置を深さ方向へずらすことを表す。図７は、第１サンプル分注プローブ２０５ａによる試料のサンプル吸引位置が深さ方向へ変更される場合の例を表す模式図である。

制御回路８は、外部報告が制限された検査項目と同一の検査項目に関する分析、又は次の検査項目に関する分析では、変更したサンプル吸引位置で試料を吸引するように第１サンプル分注アーム２０４ａ、第１サンプル分注プローブ２０５ａ、及び第１分注ユニット２０６ａを制御する。

また、制御回路８は、変更したサンプル吸引位置、すなわち、吸引変更位置で試料を吸引する際、又はこのサンプル吸引位置で吸引した試料を吐出する際に、分注モニタ機能８３により第１サンプル分注プローブ２０５ａが異常な状態であるか否かを判定する。第１サンプル分注プローブ２０５ａが異常な状態であると判定すると、制御回路８は、出力インタフェース回路６へ詰まりエラー報告を出力し、この試料についての分注動作を停止させる。一方、制御回路８は、第１サンプル分注プローブ２０５ａが正常な状態であると判定すると、吸引変更位置を以降のサンプル吸引位置として継承する。

試料容器１００として複数種類の容器が用いられる場合、記憶回路７には、例えば、図８に示される、試料容器の種類と、サンプル吸引位置の移動量との関係を表すテーブルが記憶されている。図８によれば、試料容器１００がデフォルトの容器である場合には、サンプル吸引基準位置２３４１からサンプル吸引予備位置２３４１ａへの移動量、すなわち、水平方向の移動量は「２ｍｍ」と設定され、基準距離に対する深さ方向への移動量に関する情報、すなわち、垂直方向の移動量は「２ｍｍ」と設定されている。また、試料容器１００がサンプルカップＡである場合には、水平方向の移動量は「２ｍｍ」と設定され、垂直方向の移動量は「２ｍｍ」と設定されている。また、試料容器１００がサンプルカップＢである場合には、水平方向の移動量は「４ｍｍ」と設定され、垂直方向の移動量は「３ｍｍ」と設定されている。また、試料容器１００が採血管Ａである場合には、水平方向の移動量は「２ｍｍ」と設定され、垂直方向の移動量は「２ｍｍ」と設定されている。また、試料容器１００が採血管Ｂである場合には、水平方向の移動量は「４ｍｍ」と設定され、垂直方向の移動量は「３ｍｍ」と設定されている。なお、サンプル吸引位置の移動量は、試料容器１００の種類毎に、試料容器１００の形状、容器径、断面積、及び深さ等に基づいて予め設定される。制御回路８は、図８に示されるテーブルを参照し、サンプル吸引位置を変更する際の移動量を決定する。具体的には、制御回路８は、リーダ２３６から光学式マークに基づく情報を取得する。制御回路８は、光学式マークに基づく情報に含まれる試料容器１００に関する情報から、分析対象である試料容器１００の種類を判別する。制御回路８は、判別した試料容器１００の種類を、記憶回路７に記憶されるテーブルと照合し、サンプル吸引位置の水平方向の移動量、及び垂直方向の移動量を決定する。

また、制御回路８は、試料容器１００に収容される試料の残量に応じ、サンプル吸引位置を変更するか否かを判断する。制御回路８は、試料の残量が予め設定される量より少ない場合、サンプル吸引位置を変更しない。これにより、サンプル分注プローブ２０５ａの先端が試料容器の内壁傾斜部分に接触することを回避することが可能となる。分析制御機能８２において、制御回路８は、例えば、以下のように試料の残量を検出する。

制御回路８は、第１液面検出器２０６２ａから出力される第１サンプル分注プローブ２０５ａの接触又は離間に関する検出信号と、第１サンプル分注プローブ２０５ａを移動させるために供給した例えば駆動パルスの情報とに基づき、第１サンプル分注プローブ２０５ａが上停止位置から試料容器１００内の試料液面の検出位置までの移動した距離を算出する。制御回路８は、算出した距離、試料容器１００のサイズ及び高さ、並びに分析パラメータとして設定される試料の量等の情報に基づき、試料容器１００内の試料の量を、反応管２０１１ａへ分注可能な回数に換算して検出する。

分注モニタ機能８３は、第１サンプル分注プローブ２０５ａの状態、及び第２サンプル分注プローブ２０５ｂの状態を監視し、異常が発生したか否かを判断する機能である。例えば、分注モニタ機能８３において、制御回路８は、第１液面検出器２０６２ａから出力される、第１サンプル分注プローブ２０５ａと試料との接触及び離間に関する検出信号と、第１圧力検出器２０６１ａにより検出される第１サンプル分注プローブ２０５ａ内の大気圧に対する圧力の情報とに基づき、第１サンプル分注プローブ２０５ａの状態が正常であるか否かを判定する。例えば、制御回路８は、吸引動作の際の検出値が、予め設定される吸引圧よりも低い場合、第１サンプル分注プローブ２０５ａによる試料の吸引が異常であると判断する。また、制御回路８は、吐出動作の際の検出値が、予め設定される吐出圧よりも高い場合、第１サンプル分注プローブ２０５ａによる試料の吐出が異常であると判断する。また、制御回路８は、洗浄動作の際の検出値が、予め設定される洗浄圧よりも高い場合、第１サンプル分注プローブ２０５ａによる洗浄が異常であると判断する。

次に、以上のように構成された自動分析装置１による分注動作を、制御回路８の処理手順に従い説明する。図９は、第１の実施形態に係る制御回路８による分注動作の例を表すフローチャートである。なお、図９では、Ａライン系統に区分される検査項目に関する検査において、制御回路８が第１サンプル分注アーム２０４ａ、第１サンプル分注プローブ２０５ａ、及び第１分注ユニット２０６ａを制御する場合を例に説明する。

まず、制御回路８は、現在の吸引が、分析対象となる試料についての先頭の検査項目に関するものであるか否かを判断する（ステップＳ９１）。先頭の検査項目に関するものであるか否かの判断は、例えば、記憶回路７に記憶される、試料に対して依頼される検査項目についての管理情報に基づいて行われる。先頭の検査項目である場合（ステップＳ９１のＹｅｓ）、制御回路８は、分析対象となる試料の「詰まりフラグ」を「０」に設定する（ステップＳ９２）。先頭の検査項目でない場合（ステップＳ９１のＮｏ）、又はステップＳ９２の後、制御回路８は、「詰まりフラグ」が「０」であるか否かを判断する（ステップＳ９３）。

ステップＳ９３において、「詰まりフラグ」が「０」である場合（ステップＳ９３のＹｅｓ）、制御回路８は、駆動機構４を制御し、第１サンプル分注プローブ２０５ａをサンプル吸引基準位置２３４１へ移動させ、試料容器１００上の上停止位置で停止させる。制御回路８は、駆動機構４を制御し、第１サンプル分注プローブ２０５ａを、上停止位置から下方向に移動させ、第１液面検出器２０６２ａにより試料容器１００内の試料との接触が検出される位置から下方に基準距離Ｄだけ移動した吸引停止位置で停止させる（ステップＳ９４）。「詰まりフラグ」が「０」でない場合（ステップＳ９３のＮｏ）、制御回路８は、駆動機構４を制御し、第１サンプル分注プローブ２０５ａをサンプル吸引予備位置２３４１ａへ移動させ、試料容器１００上の上停止位置で停止させる。制御回路８は、駆動機構４を制御し、第１サンプル分注プローブ２０５ａを、上停止位置から下方向に移動させ、第１液面検出器２０６２ａにより試料容器１００内の試料との接触が検出される位置から下方に基準距離Ｄと所定の移動量だけ移動した吸引停止位置で停止させる（ステップＳ９５）。

第１サンプル分注プローブ２０５ａが吸引停止位置に到達すると、制御回路８は、駆動機構４を制御し、第１サンプル分注プローブ２０５ａに、予め設定された検査項目の分注量に対応する量の試料を吸引させる（ステップＳ９６）。

制御回路８は、試料を吸引する際の圧力データを第１圧力検出器２０６１ａから取得する（ステップＳ９７）。制御回路８は、第１液面検出器２０６２ａから出力される検出信号、第１圧力検出器２０６１ａから出力される圧力データ、及び予め設定される吸引圧に基づき、第１サンプル分注プローブ２０５ａによる試料の吸引が異常であるか、すなわち、第１サンプル分注プローブ２０５ａが詰まっているか否かを判定する（ステップＳ９８）。

第１サンプル分注プローブ２０５ａが詰まっていない場合（ステップＳ９８の正常）、制御回路８は、駆動機構４を制御し、第１サンプル分注プローブ２０５ａを第１サンプル吐出位置２０１２ａに移動させ、吸引した試料を第１サンプル吐出位置２０１２ａで吐出させる（ステップＳ９９）。制御回路８は、試料を吐出する際の圧力データを第１圧力検出器２０６１ａから取得する（ステップＳ９１０）。

制御回路８は、第１液面検出器２０６２ａから出力される検出信号、第１圧力検出器２０６１ａから出力される圧力データ、及び予め設定される吐出圧に基づき、第１サンプル分注プローブ２０５ａによる試料の吐出が異常であるか、すなわち、第１サンプル分注プローブ２０５ａが詰まっているか否かを判定する（ステップＳ９１１）。第１サンプル分注プローブ２０５ａが詰まっていない場合（ステップＳ９１１の正常）、制御回路８は、試料の「詰まりフラグ」を「０」に設定する（ステップＳ９１２）。

ステップＳ９８、又はステップＳ９１１において、第１サンプル分注プローブ２０５ａが詰まっている場合（ステップＳ９８の異常、又はＳ８１１の異常）、制御回路８は、「詰まりフラグ」が「１」であるか否かを判断する（ステップＳ９１３）。「詰まりフラグ」が「１」である場合（ステップＳ９１３のＹｅｓ）、制御回路８は、サンプル吸引位置を変更した後も連続して詰まりが発生したとして、詰まりエラー報告を出力インタフェース回路６へ出力し（ステップＳ９１４）、この試料容器からの試料の分注を中止する。出力インタフェース回路６の表示回路６２は、制御回路８から出力される詰まりエラー報告を表示する。詰まりエラー報告には、例えば、詰まりを発生させた試料ＩＤと、第１サンプル分注プローブ２０５ａが詰まった旨の報告とが含まれる。また、制御回路８から出力される詰まりエラー報告は、出力インタフェース回路６の印刷回路６１から、予め設定されたフォーマットに従ってプリンタ用紙等に印刷されてもよい。

ステップＳ９１３において、「詰まりフラグ」が「１」でない場合（ステップＳ９１３のＮｏ）、制御回路８は、試料の「詰まりフラグ」を「１」に設定する（ステップＳ９１５）。

ステップＳ９１２、又はステップＳ９１５において「詰まりフラグ」を設定すると、制御回路８は、駆動機構４を制御して第１サンプル分注プローブ２０５ａを第１サンプルプローブ洗浄位置２０６９ａへ移動させ、第１分注ユニット２０６ａを制御して洗浄液を吐出させる（ステップＳ９１６）。制御回路８は、第１サンプル分注プローブ２０５ａを洗浄する際の圧力データを第１圧力検出器２０６１ａから取得する（ステップＳ９１７）。制御回路８は、第１圧力検出器２０６１ａから出力される圧力データ、及び予め設定される洗浄圧に基づき、第１サンプル分注プローブ２０５ａが詰まっているか否かを判定する（ステップＳ９１８）。

第１サンプル分注プローブ２０５ａが詰まっていない場合（ステップＳ９１８の正常）、制御回路８は処理を終了させ、同一の試料における次の検査項目に関する分注動作、又は次の試料についての分注動作に移る。第１サンプル分注プローブ２０５ａが詰まっている場合（ステップＳ９１８の異常）、制御回路８は、第１分注ユニット２０６ａを制御し、次の分析サイクルで、第１サンプル分注プローブ２０５ａから洗浄液を吐出させる。

なお、図９にけるステップＳ９５の前段において、制御回路８は、試料容器１００に収容される試料の残量が、予め設定する量残っているか否かを判断するようにしてもよい。残っている場合、制御回路８は処理をステップＳ９５へ移行し、残っていない場合、処理回路８は、サンプル吸引位置の変更ができないとして処理を終了させる。

以上のように、第１の実施形態では、自動分析装置１は、第１サンプル分注プローブ２０５ａ内の圧力を第１圧力検出器２０６１ａにより検出する。自動分析装置１に設けられる制御回路８は、第１圧力検出器２０６１ａにより検出される圧力データに基づき、吸引標準位置で吸引した試料により第１サンプル分注プローブ２０５ａに異常が発生したか否かを判断する。そして、制御回路８は、第１サンプル分注プローブ２０５ａに異常が発生した場合、異常を発生させた試料を、吸引標準位置とは異なる吸引変更位置から、再度吸引するようにしている。

詰まりの原因となるフィブリン等の不溶物は、試料容器１００の液面上部の全ての位置に存在することは少ない。第１の実施形態に係る自動分析装置１によれば、第１サンプル分注プローブ２０５ａに異常が発生した場合、不溶物が存在しないと想定される、異なるサンプル吸引位置から試料を吸引することが可能となる。これにより、同一の試料についての分析を継続することが可能となるため、再検を実施する必要がなくなる。また、再検を実施する必要がなくなるため、異常の原因となる試料を操作者が検索する必要がなくなると共に、検索した試料の状態を操作者が確認する必要がなくなる。

したがって、第１の実施形態に係る自動分析装置１によれば、操作者の負担を軽減でき、再検に要する時間が無くなるため、測定結果を早く報告することができる。すなわち、スループットの低下を抑えることができる。

また、第１の実施形態では、制御回路８は、第１サンプル分注プローブ２０５ａの回動軌道上の異なる位置への水平方向の移動、第１サンプル分注プローブ２０５ａの垂直方向のより深い位置への移動、及びこれらの移動のうち少なくともいずれかにより、サンプル吸引位置を変更するようにしている。これにより、例えば、試料の種類、分注量、検査項目の種類、及び要される精度に応じ、サンプル吸引位置をどのように変更させるかを選択することが可能となる。

また、第１の実施形態では、制御回路８は、吸引変更位置で吸引した同一の試料により、第１サンプル分注プローブ２０５ａに異常が発生した場合、この試料についてのサンプリング動作を停止するようにしている。これにより、同一の試料に対して第１サンプル分注プローブ２０５ａの異常が繰り返し発生する場合には、再検動作を実施することが可能となる。

また、第１の実施形態では、制御回路８は、リーダ２３６により読み取られた情報に基づき、分析対象となる試料容器１００の種類、例えば、デフォルト容器、サンプルカップ、及び採血管等を把握する。そして、制御回路８は、把握した種類を、予め記憶する対応テーブルに照合させることで、サンプル吸引位置の移動量を決定するようにしている。これにより、試料容器の形状、容器径、断面積、及び深さ等を考慮した最適な移動量を設定することが可能となる。

また、第１の実施形態では、制御回路８は、試料容器１００内の試料の残量が予め設定される量より少ない場合、サンプル吸引位置を変更しないようにしている。これにより、第１サンプル分注プローブ２０５ａの先端が試料容器の内壁傾斜部分に接触することを回避することが可能となる。

なお、第１の実施形態では、吸引変更位置で吸引した同一の試料により第１サンプル分注プローブ２０５ａに異常が発生した場合、制御回路８は、試料のサンプリング動作を停止する場合を例に説明した。しかしながら、これに限定されない。制御回路８は、複数回、例えば、２回サンプル吸引位置を変更した後の吸引変更位置で吸引した同一の試料により第１サンプル分注プローブ２０５ａに異常が発生した場合に、試料のサンプリング動作を停止するようにしてもよい。第１サンプル分注プローブ２０５ａの水平方向の移動量は、試料容器１００の開口から外れて設定することはできない。また、第１サンプル分注プローブ２０５ａの垂直方向の移動量は、試料容器１００の深さ以上に設定することはできない。このため、サンプル吸引位置の変更を繰り返す回数の最大回数は、例えば、試料容器１００の容器径、及び深さ等と、第１サンプル分注プローブ２０５ａの水平方向の移動量及び垂直方向の移動量と、第１サンプル分注プローブ２０５ａの直径等とから成る関係式に基づいて予め設定される。ただし、試料の消費を抑えるため、サンプル吸引位置の変更を繰り返す回数は少なく抑えた方が望ましい。
また、第１の実施形態では、サンプル吸引位置の移動量が、試料容器毎に１種類のみ設定されている場合を例に説明した。しかしながら、これに限定されない。サンプル吸引位置を複数回変更した後の吸引変更位置で同一の試料を吸引する場合、サンプル吸引位置の移動量を、変更回数に応じて変化させるようにしても構わない。例えば、サンプル吸引位置の変更を重ねる度に、水平方向の移動量、及び垂直方向の移動量を大きくするようにしてもよい。これにより、サンプル吸引位置を変更する度に、詰まりの原因位置から遠ざかることになるため、より第１サンプル分注プローブ２０５ａに異常が発生しにくくなる。

また、第１の実施形態では、第１サンプル分注プローブ２０５ａをサンプル吸引予備位置２３４１ａへ移動させることで、試料容器１００内における第１サンプル分注プローブ２０５ａの挿入位置を水平方向へ移動させる場合を例に説明した。しかしながら、これに限定されない。制御回路８は、駆動機構４を制御し、サンプリングレーン２３４のベルトコンベアを駆動させることで試料容器１００内における第１サンプル分注プローブ２０５ａの挿入位置を水平方向へ移動させるようにしても構わない。

また、第１の実施形態では、試料容器１００の種類に応じてサンプル吸引位置の移動量を切り替える場合を例に説明した。しかしながら、これに限定されない。制御回路８は、第１圧力検出器２０６１ａから出力される圧力データに応じてサンプル吸引位置の移動量を切り替えるようにしても構わない。この場合、記憶回路７は、例えば、圧力データと、サンプル吸引位置の移動量との関係を表すテーブルを記憶する。

また、第１の実施形態では、第１サンプル分注プローブ２０５ａに異常が発生した場合、第１サンプル分注プローブ２０５ａによる試料の吸引位置を、吸引標準位置とは異なる吸引変更位置から再度吸引する場合を例に説明した。しかしながら、これに限定されない。第１サンプル分注プローブ２０５ａに異常が発生した場合、第２サンプル分注プローブ２０５ｂによる試料の吸引位置を、吸引標準位置とは異なる吸引変更位置から吸引するようにしてもよい。

具体的には、例えば、第１サンプル分注プローブ２０５ａにより試料を分注する際に、図９のステップＳ９１５において、試料の「詰まりフラグ」が「１」に設定されたとする。制御回路８は、第１サンプル分注プローブ２０５ａにより試料を吸引した後、同じ分析サイクルで、同一の試料に対して設定されるＢライン系統の検査項目に関する分注を第２サンプル分注プローブ２０５ｂにより実施する。このとき、制御回路８は、第２サンプル分注プローブ２０５ｂによる分注動作を図９に示される処理手順に従って実施する。

図９に示される処理手順のステップＳ９１において、制御回路８は、現在の吸引が２番目以降の検査項目に関するものであると判断する（ステップＳ９１のＮｏ）。続いて、制御回路８は、ステップＳ９３において、分析対象となる試料の「詰まりフラグ」が「０」であるか否かを判断する。このとき、試料の「詰まりフラグ」は第１サンプル分注プローブ２０５ａによる分注の際に「１」と設定されている。制御回路８は、「詰まりフラグ」が「１」であると判断し（ステップＳ９３のＮｏ）、第２サンプル分注プローブ２０５ｂをサンプル吸引予備位置２３４１ａへ移動させ、試料容器１００上の上停止位置で停止させる。そして、制御回路８は、第２サンプル分注プローブ２０５ｂを、上停止位置から下方向に移動させ、第２液面検出器２０６２ｂにより試料容器１００内の試料との接触が検出される位置から下方に基準距離Ｄと所定の移動量だけ移動した吸引停止位置で停止させる（ステップＳ９５）。

また、第１の実施形態では、吸引変更位置で吸引した同一の試料により、第１サンプル分注プローブ２０５ａに異常が発生した場合、この試料についてのサンプリング動作を停止する場合を例に説明した。しかしながら、これに限定されない。制御回路８は、吸引変更位置で吸引した同一の試料により、第１サンプル分注プローブ２０５ａに異常が発生し、かつ、第２サンプル分注プローブ２０５ｂに異常が発生した場合、この試料についてのサンプリング動作を停止するようにしてもよい。

（第２の実施形態）
第１の実施形態では、自動分析装置１が単体で動作する場合を例に説明した。しかしながら、図１０で示されるように、分析機構２ａと分析機構２ｂとが連結されても構わない。なお、図１０では、自動分析装置１ａ，１ｂが連結される場合を例に記載しているが、連結される台数は２台に限定されず、４台であっても構わない。

自動分析装置１ａは、分析機構２ａ、解析回路３、駆動機構４、入力インタフェース回路５、出力インタフェース回路６、記憶回路７、及び制御回路８ａを備える。分析機構２ａは、図２で示される分析機構２から、ラック回収ユニット２４０を抜いた構成を有する。制御回路８ａは、記憶回路７から読み出した動作プログラムを実行することで、システム制御機能８１、分析制御機能８２ａ、及び分注モニタ機能８３を備える。

自動分析装置１ｂは、分析機構２ｂ、解析回路３、駆動機構４、入力インタフェース回路５、出力インタフェース回路６、記憶回路７、及び制御回路８ｂを備える。分析機構２ｂは、図２で示される分析機構２から、ラック投入ユニット２２０を抜いた構成を有する。制御回路８ｂは、記憶回路７から読み出した動作プログラムを実行することで、システム制御機能８１、分析制御機能８２ｂ、及び分注モニタ機能８３を備える。

分析制御機能８２ａにおいて、制御回路８ａは、分析サイクルに従い、第１サンプル分注プローブ２０５ａがＡライン系統に区分される検査項目に関する分注を実施するように、第１サンプル分注アーム２０４ａ、第１サンプル分注プローブ２０５ａ、及び第１分注ユニット２０６ａを制御する。また、制御回路８ａは、分析サイクルに従い、第２サンプル分注プローブ２０５ｂがＢライン系統に区分される検査項目に関する分注を実施するように、第２サンプル分注アーム２０４ｂ、第２サンプル分注プローブ２０５ｂ、及び第２分注ユニット２０６ｂを制御する。

具体的には、制御回路８ａは、例えば、吸引標準位置、すなわち、第１サンプル分注プローブ２０５ａによりサンプル吸引基準位置２３４１、かつ試料の接触が検出される位置から下方に基準距離Ｄだけ移動させた位置で試料を吸引する際、又はこのサンプル吸引位置で吸引した試料を吐出する際に、分注モニタ機能８３により第１サンプル分注プローブ２０５ａが異常な状態であるか否かを判定する。第１サンプル分注プローブ２０５ａが異常な状態であると判定すると、制御回路８ａは、分注サイクルに従って同一の試料を次に吸引する第２サンプル分注プローブ２０５ｂのサンプル吸引位置を、記憶回路７に記憶される移動量に関する情報を参照して変更する。また、第１サンプル分注プローブ２０５ａが異常な状態であると判定すると、制御回路８ａは、分析対象となった試料が第１サンプル分注プローブ２０５ａに異常を生じさせた旨を、自動分析装置１ｂへ通知する。

また、制御回路８ａは、例えば、吸引標準位置、すなわち、第２サンプル分注プローブ２０５ｂによりサンプル吸引基準位置２３４１、かつ試料の接触が検出される位置から下方に基準距離Ｄだけ移動させた位置で試料を吸引する際、又はこのサンプル吸引位置で吸引した試料を吐出する際に、分注モニタ機能８３により第２サンプル分注プローブ２０５ｂが異常な状態であるか否かを判定する。第２サンプル分注プローブ２０５ｂが異常な状態であると判定すると、制御回路８ａは、分析サイクルに従って同一の試料を次に吸引する第１サンプル分注プローブ２０５ａのサンプル吸引位置を、記憶回路７に記憶される移動量に関する情報を参照して変更する。また、第２サンプル分注プローブ２０５ｂが異常な状態であると判定すると、制御回路８ａは、分析対象となった試料が第２サンプル分注プローブ２０５ｂに異常を生じさせた旨を、自動分析装置１ｂへ通知する。

サンプル吸引位置を変更した後の制御回路８ａの処理は、制御回路８の処理と同様である。

分析制御機能８２ｂにおいて、制御回路８ｂは、分析サイクルに従い、第１サンプル分注プローブ２０５ａがＡライン系統に区分される検査項目に関する分注を実施するように、第１サンプル分注アーム２０４ａ、第１サンプル分注プローブ２０５ａ、及び第１分注ユニット２０６ａを制御する。また、制御回路８ｂは、分析サイクルに従い、第２サンプル分注プローブ２０５ｂがＢライン系統に区分される検査項目に関する分注を実施するように、第２サンプル分注アーム２０４ｂ、第２サンプル分注プローブ２０５ｂ、及び第２分注ユニット２０６ｂを制御する。

具体的には、制御回路８ｂは、自動分析装置１ａから異常を発生させた試料についての通知を受けると、この通知に基づき、例えば、記憶回路７に記憶される管理情報を更新する。管理情報には、試料のステータスが含まれており、この更新により、試料のステータスは、例えば、「詰まりフラグ＝０」から「詰まりフラグ＝１」へ変更される。

制御回路８ｂは、例えば、第１サンプル分注プローブ２０５ａ、又は第２サンプル分注プローブ２０５ｂにより吸引標準位置で試料を吸引する際に、記憶回路７に記憶されている管理情報を参照し、分析対象となる試料が第１サンプル分注プローブ２０５ａ、又は第２サンプル分注プローブ２０５ｂに異常を生じさせた試料であるか否かを判断する。異常を生じさせた試料である場合、制御回路８ｂは、第１サンプル分注プローブ２０５ａ、又は第２サンプル分注プローブ２０５ｂにより、この試料を吸引変更位置で吸引する。

サンプル吸引位置を変更した後の制御回路８ｂの処理は、制御回路８の処理と同様である。

分析対象となる試料が第１サンプル分注プローブ２０５ａ、又は第２サンプル分注プローブ２０５ｂに異常を生じさせた試料でない場合、制御回路８ｂは、制御回路８ａと同様の処理を実施する。

なお、分注動作における制御回路８ａ，８ｂの処理手順は、図９に示されるものと同様である。

以上のように、第２の実施形態では、自動分析装置１ａにおいて第１サンプル分注プローブ２０５ａ、又は第２サンプル分注プローブ２０５ｂに異常を発生させた試料についての情報を、自動分析装置１ｂへ出力する。自動分析装置１ｂに設けられる制御回路８ｂは、分析対象となる試料を最初に吸引する場合であっても、この試料が自動分析装置１ａにおいてプローブの異常を発生させた試料である場合には、この試料を、吸引変更位置で吸引するようにしている。これにより、自動分析装置１ｂは、最初に試料を吸引する際、不溶物が存在しないと想定されるサンプル吸引位置から試料を吸引することが可能となる。

したがって、第２の実施形態に係る自動分析装置１ａ，１ｂによれば、操作者の負担を軽減でき、再検に要する時間が無くなるため、測定結果を早く報告することができる。すなわち、スループットの低下を抑えることができる。

（その他の実施形態）
第１及び第２の実施形態では、自動分析装置１，１ａ，１ｂが図１に示される構成を有する場合を例に説明した。しかしながら、これに限定されない。自動分析装置１，１ａ，１ｂは、例えば、図１１に示される自動分析装置１ｃのような構成を有していてもよい。このとき、自動分析装置１ｃは、情報処理装置９と接続し、測光ユニット２１７により生成された標準データ及び被検データを、情報処理装置９へ出力する。情報処理装置９は、解析機能９１２を有する制御回路９１を備え、標準データ及び被検データに基づき、検量データ及び分析データ等を生成する。

また、第１及び第２の実施形態では、自動分析装置１，１ａ，１ｂが２本のサンプル分注プローブを備える場合を例に説明した。しかしながら、これに限定されない。自動分析装置が有するサンプル分注プローブは１本であっても構わない。

上記説明において用いた「プロセッサ」という文言は、例えば、ＣＰＵ（central processing unit）、ＧＰＵ(Graphics Processing Unit)、或いは、特定用途向け集積回路（Application Specific Integrated Circuit：ＡＳＩＣ））、プログラマブル論理デバイス（例えば、単純プログラマブル論理デバイス（Simple Programmable Logic Device：ＳＰＬＤ）、複合プログラマブル論理デバイス（Complex Programmable Logic Device：ＣＰＬＤ）、及びフィールドプログラマブルゲートアレイ（Field Programmable Gate Array：ＦＰＧＡ））等の回路を意味する。プロセッサは記憶回路に保存されたプログラムを読み出し実行することで機能を実現する。なお、本実施形態の各プロセッサは、プロセッサごとに単一の回路として構成される場合に限らず、複数の独立した回路を組み合わせて１つのプロセッサとして構成し、その機能を実現するようにしてもよい。さらに、図１における複数の構成要素を１つのプロセッサへ統合してその機能を実現するようにしてもよい。

本発明のいくつかの実施形態を説明したが、これらの実施形態は、例として提示したものであり、発明の範囲を限定することは意図していない。これら実施形態は、その他の様々な形態で実施されることが可能であり、発明の要旨を逸脱しない範囲で、種々の省略、置き換え、変更を行うことができる。これら実施形態やその変形は、発明の範囲や要旨に含まれると同様に、特許請求の範囲に記載された発明とその均等の範囲に含まれるものである。

１，１ａ，１ｂ，１ｃ…自動分析装置、２，２ａ，２ｂ…分析機構、３…解析回路、４…駆動機構、５，５ｃ…入力インタフェース回路、６，６ｃ…出力インタフェース回路、６１，６１ｃ…印刷回路、６２，６２ｃ…表示回路、７…記憶回路、８，８ａ，８ｂ，８ｃ…制御回路、８１…システム制御機能、８２，８２ａ，８２ｂ…分析制御機能、８３…分注モニタ機能、９…情報処理装置、９１…制御回路、９１１…システム制御機能、９１２…解析機能、１００…試料容器、１０２…サンプルラック、２０１…反応ディスク、２０１１ａ，２０１１ｂ…反応管、２０１２ａ…第１サンプル吐出位置、２０１２ｂ…第２サンプル吐出位置、２０１３ａ，２０１３ｂ…第１試薬吐出位置、２０１４ａ，２０１４ｂ…第２試薬吐出位置、２０１５ａ，２０１５ｂ，２０１６ａ，２０１６ｂ…撹拌位置、２０２…第１試薬庫、２０２１…外円、２０２２…内円、２０３…第２試薬庫、２０３１…外円、２０３２…内円、２０４ａ…第１サンプル分注アーム、２０４ｂ…第２サンプル分注アーム、２０５ａ…第１サンプル分注プローブ、２０５ｂ…第２サンプル分注プローブ、２０６ａ…第１分注ユニット、２０６ｂ…第２分注ユニット、２０６１ａ…第１圧力検出器、２０６１ｂ…第２圧力検出器、２０６１１…圧力センサ、２０６１２…アンプ、２０６１３…変換器、２０６２ａ…第１液面検出器、２０６２ｂ…第２液面検出器、２０６３…チューブ、２０６４…シリンジ、２０６５…プランジャ、２０６６…タンク、２０６７…洗浄ポンプ、２０６８…開閉弁、２０６９ａ…第１サンプルプローブ洗浄位置、２０６９ｂ…第２サンプルプローブ洗浄位置、２０７…第１Ａ試薬分注アーム、２０８…第１Ａ試薬分注プローブ、２０９…第２Ａ試薬分注アーム、２１０…第２Ａ試薬分注プローブ、２１１…第１Ｂ試薬分注アーム、２１２…第１Ｂ試薬分注プローブ、２１３…第２Ｂ試薬分注アーム、２１４…第２Ｂ試薬分注プローブ、２１５…第１撹拌ユニット、２１６…第２撹拌ユニット、２１７…測光ユニット、２１８…洗浄ユニット、２１９…電解質測定ユニット、２２０…ラック投入ユニット、２２１…第１投入レーン、２２２…第２投入レーン、２３０…ラック移動ユニット、２３１…搬送アーム、２３２…搬送レール、２３３…仮置きレーン、２３４…サンプリングレーン、２３４１…サンプル吸引基準位置、２３４１ａ…サンプル吸引予備位置、２３５…再検査バッファレーン、２３６…リーダ、２４０…ラック回収ユニット、２４１…第１回収レーン、２４２…第２回収レーン。

Claims (10)

1. 試料容器に収容される試料を、前記試料容器内における吸引標準位置で吸引する分注プローブと、
   前記分注プローブの圧力を検出する圧力検出器と、
   前記圧力検出器により検出される圧力に異常がある場合、前記試料容器から前記試料を吸引する位置を、前記吸引標準位置から、前記試料容器内における吸引変更位置に変更する分注制御部と
   を具備する自動分析装置。
2. 前記分注制御部は、前記分注プローブの回動軌道上の水平方向の移動、前記分注プローブの垂直方向の移動、及びこれらの移動のうち少なくともいずれかにより、前記吸引標準位置を前記吸引変更位置へ変更する請求項１記載の自動分析装置。
3. 前記分注プローブは、前記試料容器に収容される前記試料を、前記吸引変更位置で吸引し、
   前記圧力検出器は、前記吸引変更位置で前記試料を吸引した前記分注プローブの圧力を検出し、
   前記分注制御部は、前記圧力検出器により検出される圧力に異常がある場合、前記試料についてのサンプリング動作を停止する請求項１又は２に記載の自動分析装置。
4. 前記圧力検出器は、前記分注プローブにより試料を吸引する際、及び前記吸引した試料を吐出する際に前記分注プローブの圧力を検出する請求項１乃至３のいずれかに記載の自動分析装置。
5. 前記分注制御部は、前記吸引標準位置から前記吸引変更位置への移動量を、前記試料容器の種類に応じて切り替える請求項１乃至４のいずれかに記載の自動分析装置。
6. 前記分注制御部は、前記試料の残量が予め設定される量よりも少ない場合、前記吸引標準位置から前記吸引変更位置への変更を行わない請求項１乃至５のいずれかに記載の自動分析装置。
7. 前記試料容器に収容される試料を吸引する第２分注プローブをさらに具備し、
   前記分注制御部は、前記圧力検出器により検出される圧力に異常がある場合、前記第２分注プローブが前記試料容器から前記試料を吸引する位置を前記吸引変更位置に変更する請求項１記載の自動分析装置。
8. 前記第２分注プローブは、前記試料容器に収容される前記試料を、前記吸引変更位置で吸引し、
   前記第２分注プローブの圧力を検出する第２圧力検出器をさらに具備し、
   前記分注制御部は、前記第２圧力検出器により検出される圧力に異常がある場合、前記試料についてのサンプリング動作を停止する請求項７記載の自動分析装置。
9. 前記分注制御部は、前記試料容器に収容される前記試料を前記吸引標準位置で吸引したことで、前記圧力検出器により検出される圧力に異常が発生する場合、前記試料により異常が発生した旨を、連結する他の自動分析装置へ通知する請求項１乃至８のいずれかに記載の自動分析装置。
10. 前記分注制御部は、連結する他の自動分析装置から、前記試料により異常が発生した旨の通知を受けた場合、前記分注プローブによる前記試料の吸引を、前記吸引標準位置から前記吸引変更位置に変更する請求項１乃至８のいずれかに記載の自動分析装置。