JP2020021602A5 - - Google Patents

Download PDF

Info

Publication number
JP2020021602A5
JP2020021602A5 JP2018143927A JP2018143927A JP2020021602A5 JP 2020021602 A5 JP2020021602 A5 JP 2020021602A5 JP 2018143927 A JP2018143927 A JP 2018143927A JP 2018143927 A JP2018143927 A JP 2018143927A JP 2020021602 A5 JP2020021602 A5 JP 2020021602A5
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
ion
mass
ions
ion trap
measurement
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP2018143927A
Other languages
English (en)
Other versions
JP7021612B2 (ja
JP2020021602A (ja
Filing date
Publication date
Application filed filed Critical
Priority to JP2018143927A priority Critical patent/JP7021612B2/ja
Priority claimed from JP2018143927A external-priority patent/JP7021612B2/ja
Publication of JP2020021602A publication Critical patent/JP2020021602A/ja
Publication of JP2020021602A5 publication Critical patent/JP2020021602A5/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP7021612B2 publication Critical patent/JP7021612B2/ja
Active legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Description

イオントラップは、リング電極と、該リング電極を挟むようにその入口側と出口側に配置された２つのエンドキャップ電極から構成される。イオントラップの入口側にはイオン源が、出口側には検出器が配置される。イオントラップ型質量分析装置を用いたスキャン測定では、まず、高周波電圧をイオントラップに印加して測定対象範囲の質量電荷比を有するイオンを全てイオントランプ内に捕捉する。このとき印加する高周波電圧の周波数及び振幅の大きさはそれぞれ、測定対象範囲の質量電荷比を有するイオンがMathieu方程式から得られる安定領域図において安定領域に存在する（イオントラップ内で安定に振動する）ような値とされる。その後、リング電極に印加する高周波電圧の周波数を固定し振幅を徐々に大きくしていくと、質量電荷比が小さいイオンから順にイオントラップから排出され、検出器に入射して検出される。
測定制御部５３は、レーザ光源１３を動作させるのと並行して電圧印加部２７を動作させ、イオントラップのリング電極２１に高周波電圧を印加させる。このとき印加する高周波電圧の周波数及び振幅の大きさは、先に決定した捕捉質量電荷比範囲内のイオンのみがイオントラップ２０内で安定に振動し、捕捉質量電荷比範囲外のイオンがイオントラップ２０から排出されるような値に設定される。即ち、Mathieu方程式から得られるイオン安定領域図において、捕捉質量電荷比範囲内のイオンの安定領域内となり、それ以外のイオンの安定領域外となるような周波数及び振幅の大きさとされる。これによりイオントラップ２０内に使用者により指定された測定対象のイオンが捕捉される（ステップＳ５）。
１…イオントラップ型質量分析装置
１０…MALDIイオン源
１１…試料ステージ
１２…試料
１３…レーザ光源
１４、１５…反射鏡
１６…ＣＣＤカメラ
１７…アパーチャ
１８…イオンレンズ
２０…イオントラップ
２１…リング電極
２２…入口側エンドキャップ電極
２３…出口側エンドキャップ電極
２５…イオン導入口
２６…イオン排出口
２７…電圧印加部
３０…イオン検出器
３１…コンバージョンダイノード
３２…二次電子増倍管
４０…制御・処理部
４１…記憶部
４２…化合物データベース
５０…質量分析プログラム
５１…測定対象イオン入力受付部
５２…捕捉質量電荷比範囲決定部
５３…測定制御部
５４…マススペクトル作成部
５５…質量精度算出部
６１…入力部
６２…表示部

Claims (7)

  1. イオン源と、
    前記イオン源で生成されたイオンを捕捉するイオントラップと、
    前記イオントラップから排出されるイオンを検出する検出部と、
    前記イオントラップに高周波電圧を印加する電圧印加部と、
    １乃至複数種類の既知の質量電荷比を有するイオンを生成する標準試料について、測定対象とする１種類のイオンの質量電荷比の入力を受け付ける測定対象イオン入力受付部と、
    前記測定対象イオン入力受付部に入力された質量電荷比に予め決められたマージンを付与することにより捕捉質量電荷比範囲を決定する捕捉質量電荷比範囲決定部と、
    前記イオン源に前記標準試料を導入し、前記捕捉質量電荷比範囲のイオンを前記イオントラップに捕捉する周波数及び振幅を有する高周波電圧を前記イオントラップに印加し、続いて、前記イオントラップに捕捉されているイオンを質量電荷比順に排出するように前記イオントラップに印加する高周波電圧の周波数及び／又は振幅を変化させる測定制御部と
    を備えることを特徴とする質量分析装置。
  2. 前記イオントラップが、リング電極と該リング電極を挟むように設けられた１対のエンドキャップ電極を有する３次元イオントラップであることを特徴とする請求項１に記載の質量分析装置。
  3. 前記測定制御部が、複数回、前記標準試料を測定し、該複数回の測定により得られた測定データを積算あるいは平均することを特徴とする請求項１に記載の質量分析装置。
  4. 前記イオン源が前記標準試料の表面にレーザ光を照射することによりイオンを生成するMALDIイオン源であることを特徴とする請求項１に記載の質量分析装置。
  5. 前記測定制御部が、前記標準試料の表面に設定した複数の測定点のそれぞれについて測定を行い、各測定により得られた測定データを積算あるいは平均することを特徴とする請求項４に記載の質量分析装置。
  6. 前記マージンが±5Da以下であることを特徴とする請求項１に記載の質量分析装置。
  7. イオン源と、前記イオン源で生成されたイオンを捕捉し、排出するイオントラップと、前記イオントラップから排出されたイオンを検出する検出部とを備えたイオントラップ型質量分析装置を用いた質量分析方法であって、
    １乃至複数種類の既知の質量電荷比を有するイオンを生成する標準試料について、測定対象とする１種類のイオンを指定し、
    前記標準試料を前記イオン源に導入し、
    前記イオン源において前記標準試料から生成されたイオンのうち前記指定された１種類のイオンのみを前記イオントラップに捕捉して他の種類のイオンを前記イオントラップから排出し、
    前記イオントラップに捕捉されている前記１種類のイオンについてスキャン測定を行う
    ことを特徴とする質量分析方法。
JP2018143927A 2018-07-31 2018-07-31 質量分析装置及び質量分析方法 Active JP7021612B2 (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2018143927A JP7021612B2 (ja) 2018-07-31 2018-07-31 質量分析装置及び質量分析方法

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2018143927A JP7021612B2 (ja) 2018-07-31 2018-07-31 質量分析装置及び質量分析方法

Publications (3)

Publication Number Publication Date
JP2020021602A JP2020021602A (ja) 2020-02-06
JP2020021602A5 true JP2020021602A5 (ja) 2020-12-17
JP7021612B2 JP7021612B2 (ja) 2022-02-17

Family

ID=69589926

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2018143927A Active JP7021612B2 (ja) 2018-07-31 2018-07-31 質量分析装置及び質量分析方法

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP7021612B2 (ja)

Families Citing this family (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
RU2740604C1 (ru) * 2020-07-14 2021-01-15 Федеральное государственное бюджетное образовательное учреждение высшего образования "Рязанский государственный радиотехнический университет имени В.Ф. Уткина" Способ масс-анализа ионов в квадрупольных полях с возбуждением колебаний на границы устойчивости
RU2749549C1 (ru) * 2020-07-14 2021-06-15 Федеральное государственное бюджетное образовательное учреждение высшего образования "Рязанский государственный радиотехнический университет имени В.Ф. Уткина" Устройство масс-анализа ионов с квадрупольными полями с возбуждением колебаний на границе устойчивости

Family Cites Families (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH1183803A (ja) * 1997-09-01 1999-03-26 Hitachi Ltd マスマーカーの補正方法
JP4332482B2 (ja) * 2004-09-21 2009-09-16 株式会社日立ハイテクノロジーズ イオントラップ質量分析方法および装置
JP4701720B2 (ja) * 2005-01-11 2011-06-15 株式会社島津製作所 Ｍａｌｄｉイオントラップ型質量分析装置及び分析方法
JP2010537172A (ja) * 2007-08-21 2010-12-02 エムディーエス アナリティカル テクノロジーズ， ア ビジネス ユニット オブ エムディーエス インコーポレイテッド， ドゥーイング ビジネス スルー イッツ サイエックス ディビジョン 質量割り当て精度を向上させる方法
JP2010205460A (ja) * 2009-03-02 2010-09-16 Shimadzu Corp レーザ脱離イオン化飛行時間型質量分析装置
JP6285735B2 (ja) * 2014-02-04 2018-02-28 日本電子株式会社 質量分析装置

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US10892150B2 (en) Imaging mass spectrometer
US9627190B2 (en) Energy resolved time-of-flight mass spectrometry
JP5596031B2 (ja) 無非点収差イメージングのためのｔｏｆ質量分析計および関連する方法
JP2013516036A5 (ja)
CN109473335B (zh) 利用质谱分析确定同位素比值
JP2021015688A5 (ja)
CN112216594A (zh) 质谱分析装置
CN107923872B (zh) 串联型质谱分析装置
CN115346853B (zh) 增益校准方法
CN113287186B (zh) 减少了背景和峰重叠的用于自顶向下分析的获取策略
JPH11120956A (ja) イオントラップ型質量分析装置
JP2020021602A5 (ja)
JP6011438B2 (ja) Ｍａｌｄｉイオントラップ質量分析装置
CN104204791B (zh) 质量分析装置
JP2005121653A (ja) 質量分析計のスペクトル補正方法
US20090159791A1 (en) Charge control for ionic charge accumulation devices
US20070162232A1 (en) Analysis methods, analysis device waveform generation methods, analysis devices, and articles of manufacture
JP6075311B2 (ja) イオントラップ質量分析装置及び該装置を用いた質量分析方法
JP5737144B2 (ja) イオントラップ質量分析装置
JP7021612B2 (ja) 質量分析装置及び質量分析方法
US7161147B1 (en) Biological whole cell mass spectrometer
JP5412246B2 (ja) 四重極質量分析装置におけるスペクトル信号補正方法
US6365893B1 (en) Internal calibration of time to mass conversion in time-of-flight mass spectrometry
JP6733819B2 (ja) 四重極型質量分析装置
US10109470B2 (en) Time of flight detection system