JP2020134519A - 流れ分析方法、流れ分析装置 - Google Patents
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Abstract
Description
図1に、本発明分析方法を実行するための本発明分析装置1の一実施形態を示す。前記本発明分析装置1は、「サンプリング装置(2)」と、「気泡分節装置(3)」と、「加熱装置(4)」と、「分析装置(5)」と、「加圧装置(6)」と、を具備する。
前記サンプリング装置2は、試料をサンプリングして管路100に導入する役割を担う。本実施形態においては前記サンプリング装置2につき、試料を前記管路100に導く採取管20と、前記採取管20に吸引力を付与するサンプリング用ポンプ(ペリスタポンプ)21と、によって構築した。
前記気泡分節装置3は、前記サンプリング装置2によってサンプリングされた試料に気泡分節を行う役割を担う。本実施形態においては前記気泡分節装置3につき、空気を前記管路100に導く空気導入管30と、前記空気導入管30に吸引力を付与する空気導入用ポンプ(ペリスタポンプ)31と、によって構築した。
前記加熱装置4は、前記管路100に沿って移送される試料に加熱処理を行う役割を担う。本実施形態においては、前記管路100の途中にヒータを配することによって前記加熱装置4を構築した。
前記分析装置5は、加熱処理後の試料について定量分析又は定性分析を行う役割を担う。本実施形態においては前記分析装置5として、ICP発光分光分析装置を用いた。
前記加圧装置6は、前記管路100に沿って移送される試料の流れに抗する圧力を付与する役割を担う。本実施形態においては前記加圧装置6につき、前記管路100の下流末端に接続された加圧管60と、前記加圧管60を通じて前記管路100に圧空を導入するコンプレッサー61と、前記加圧管60の途中に配されたバルブ62と、によって構築した。
前記構成を有する本発明分析装置1は、本発明分析方法を実行するための装置である。この本発明分析方法では、「試料導入工程」と、「加熱工程」と、「分析工程」と、「加圧工程」と、を実行する。
前記試料導入工程では、前記管路100に試料を導入する。本実施形態においては、図2に示すように、前記サンプリング装置2にて試料を前記管路100に導入した。なお、前記管路100に試料を導入するにあたり、前記気泡分節装置3にて空気を導入する気泡分節を行い、気泡(B)によって区画された複数のセグメント(S)を作成した。
前記加熱工程では、前記管路100に沿って移送される試料(本実施形態においては、セグメント(S))に加熱処理を行う。本実施形態においては、前記加熱装置4にて前記管路100の一部を加熱し、加熱された管路100に試料を順次通過させることによって、前記加熱工程を実行した。
前記分析工程では、加熱処理後の試料について定量分析又は定性分析を行う。本実施形態においては、図3に示すように、前記管路100の下流において下方向に向かって枝分かれする分析管50を通じて試料を前記分析装置5に導入することによって前記分析工程を実行した。そして、本実施形態においては、前記分析管50の途中に分析ポンプ(ペリスタポンプ)51が配されており、前記分析ポンプ51によって、前記分析管50を通じて前記分析装置5へ導入される試料の導入速度が決定される仕組みとなされている。又、本実施形態においては、前記セグメント(S)を区画していた気泡(B)につき、前記分析管50よりさらに下流において上方向に向かって枝分かれする脱気管70を通じて排出し、前記分析装置5に導入される試料に気泡(B)が混じらない仕組みとしている。なお、前記脱気管70の途中には、気泡(B)の排出速度を決定する脱気用ポンプ(ペリスタポンプ)71が配されている。
前記加圧工程では、前記管路100に沿って移送される試料の流れに抗する圧力を付与する(図3参照)。本実施形態においては、前記加圧装置6を構成する前記コンプレッサー61を駆動させながら前記バルブ62の開度を調整し、前記管路100へ導入される圧空の圧力を決定することによって前記加圧工程を実行した。
2 サンプリング装置
3 気泡分節装置
4 加熱装置
5 分析装置
6 加圧装置
8 試薬添加装置
100 管路
B 気泡
S セグメント
Claims (9)
- 管路に試料を導入する試料導入工程と、
前記管路に沿って移送される試料に加熱処理を行う加熱工程と、
加熱処理後の試料について定量分析又は定性分析を行う分析工程と、
を実行する流れ分析法であって、
更に、前記管路に沿って移送される試料の流れに抗する圧力を付与する加圧工程を実行することを特徴とする流れ分析方法。 - 請求項1に記載の流れ分析方法において、
前記加圧工程の実行時、前記管路に圧空を導入することによって試料の流れに抗する圧力を付与する流れ分析方法。 - 請求項1又は2に記載の流れ分析方法において、
前記試料導入工程の実行時、導入される試料に気泡分節を行い、気泡によって区画された複数のセグメントを作成する流れ分析方法。 - 請求項3に記載の流れ分析法において、
前記加熱工程の実行時、40℃以上の加熱温度で加熱処理を行う流れ分析方法。 - 請求項3又は4に記載の流れ分析法において、
前記加熱工程の実行時、導入された試料の一単位につき5分以上の加熱時間で加熱処理を行う流れ分析方法。 - 請求項1ないし5のいずれか1項に記載の流れ分析法において、
更に、前記管路に沿って移送される試料の流れの中に試薬を添加する試薬添加工程を実行する流れ分析方法。 - 試料を管路に導入するためのサンプリング装置と、
前記管路に沿って移送される試料に加熱処理を行う加熱装置と、
加熱処理後の試料について定量分析又は定性分析を行う分析装置と、
を具備してなる流れ分析装置であって、
更に、前記管路に沿って移送される試料の流れに抗する圧力を付与する加圧装置が備えられてなることを特徴とする流れ分析装置。 - 請求項7に記載の流れ分析装置において、
前記管路に導入される試料に対して気泡分節を行い、気泡によって区画された複数のセグメントを前記管路内に作成する気泡分節装置が備えられてなる流れ分析装置。 - 請求項7又は8に記載の流れ分析装置において、
更に、前記管路に沿って移送される試料の流れの中に試薬を添加する試薬添加装置が備えられてなる流れ分析装置。
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