JP2026005111A - 実装装置 - Google Patents
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Abstract
【課題】複数の電子部品を効率的に実装可能な実装装置を提供する。
【解決手段】実装装置1は、電子部品14A,14Bを供給する複数の供給モジュール102A,102Bと、電子部品14A,14Bを基板41に実装する実装モジュール101と、複数の供給モジュール102A,102Bのそれぞれから電子部品14A,14Bを実装モジュール101に搬送可能に構成された少なくとも一つの搬送ユニットを有し、複数の供給モジュール102A,102B及び実装モジュール101にわたって平面視における第1方向に延在して構成された搬送機構120とを備える。
【選択図】図1
【解決手段】実装装置1は、電子部品14A,14Bを供給する複数の供給モジュール102A,102Bと、電子部品14A,14Bを基板41に実装する実装モジュール101と、複数の供給モジュール102A,102Bのそれぞれから電子部品14A,14Bを実装モジュール101に搬送可能に構成された少なくとも一つの搬送ユニットを有し、複数の供給モジュール102A,102B及び実装モジュール101にわたって平面視における第1方向に延在して構成された搬送機構120とを備える。
【選択図】図1
Description
本願発明は、実装装置に関する。
従来、例えば、半導体チップを基板に実装する手法として、フリップチップボンディングが広く知られている。この手法では、まず、半導体ウェハからピックアップした半導体チップを反転させ、半導体チップの接続端子とは反対側の面をボンディングツールに渡して吸着させる。そして、ボンディングツールにより半導体チップの接続端子を基板の電極パッドに熱溶着させることで、半導体チップを基板に実装する。
例えば、複数の半導体ウェハから複数の半導体チップを供給して1つの基板に実装する場合、半導体ウェハ毎に実装装置を準備して基板を実装装置間で移動させる場合と、実装中に半導体ウェハを交換する場合がある。前者の場合、基板と半導体チップとの位置ずれによる実装不良が発生する場合がある。後者の場合、半導体ウェハの交換のための時間が必要になるため、実装中にはんだのフラックスが乾燥して実装不良が発生する場合がある。
本願発明はこのような事情に鑑みてなされたものであり、複数の電子部品を効率的に実装可能な実装装置を提供することを目的とする。
本願発明の一態様に係る実装装置は、電子部品を供給する複数の供給モジュールと、電子部品を基板に実装する実装モジュールと、複数の供給モジュールのそれぞれから電子部品を実装モジュールに搬送可能に構成された少なくとも一つの搬送ユニットを有し、複数の供給モジュール及び実装モジュールにわたって平面視における第1方向に延在して構成された搬送機構とを備える。
本願発明によれば、複数の電子部品を効率的に実装可能な実装装置を提供することができる。
以下に本発明の実施の形態を説明する。以下の図面の記載において、同一又は類似の構成要素は同一又は類似の符号で表している。図面は例示であり、各部の寸法や形状は模式的なものであり、本願発明の技術的範囲を当該実施の形態に限定して解するべきではない。
実装装置1は、半導体ダイ14A,14Bを回路基板41に実装するフリップチップボンダである。半導体ダイ14A,14Bは、電子部品の一例に当たり、例えば集積回路を有する半導体チップである。回路基板41は、基板の一例に当たり、例えばプリント基板(PCB:Printed Circuit Board)やフレキシブルプリント基板(FPC:Fleible Printed Circuit)である。
なお、電子部品及び基板は上記に限定されるものではない。電子部品は、例えば、各種の能動部品又は受動部品であってもよい。基板は、例えば、リードフレーム、セラミック基板、半導体基板又は電子部品などであってもよい。電子部品は、基板上に直接実装されてもよく、基板に実装された他の電子部品等の上に実装されることによって基板に間接的に実装されてもよい。
実装装置1は、実装モジュール101と、複数の供給モジュール102A,102Bと、搬送機構120とを備えている。実装モジュール101、供給モジュール102A及び供給モジュール102Bは、この順でX軸方向に並んでいる。供給モジュール102Aは実装モジュール101のX軸負方向側に隣接し、供給モジュール102Bは供給モジュール102AのX軸負方向側に隣接し、供給モジュール102Aは実装モジュール101と供給モジュール102Bとの間に位置している。供給モジュール102Aは実装モジュール101に連結され、供給モジュール102Bは供給モジュール102Aに連結されている。
実装モジュール101は、Y軸方向に半導体ダイ14A,14Bを搬送し、半導体ダイ14A,14Bを回路基板41に実装する。実装モジュール101には架台11が設けられている。
図1に示すように、架台11の上面には、実装ステージ40が設けられている。実装ステージ40は、半導体ダイ14A,14Bが実装される回路基板41を吸着するとともに、内蔵したヒータにより回路基板41を加熱する。実装ステージ40には、搬送レール42が接続されている。搬送レール42は、図示しない基板供給モジュールから回路基板41を実装ステージ40に供給するとともに、半導体ダイ14A,14Bが実装された回路基板41を図示しない製品回収モジュールに供給する。搬送レール42は、実装モジュール101及び供給モジュール102A,102Bのそれぞれに設けられたレールが連結されて構成されており、実装モジュール101及び供給モジュール102A,102BにわたってX軸方向に延在している。
図1に示すように、架台11の上面には、X軸方向に延びる一対のガイドレール43が設けられている。一対のガイドレール43の各々には、スライダ44A,44Bが取り付けられている。スライダ44A,44Bは、図示しない駆動モータによりX軸方向に移動可能に構成されている。
スライダ44Aにはガントリフレーム45Aが取り付けられ、スライダ44Bにはガントリフレーム45Bが取り付けられている。ガントリフレーム45A,45BはY軸方向に延びる門型のフレームであって、ガントリフレーム45Aの脚部がスライダ44Aに固定され、ガントリフレーム45Bの脚部がスライダ44Bに固定されている。ガントリフレーム45Aは、スライダ44Aがガイドレール43に沿って移動することで、X軸方向に移動可能に構成されている。同様に、ガントリフレーム45Bは、スライダ44Bがガイドレール43に沿って移動することで、X軸方向に移動可能に構成されている。
ガントリフレーム45Aには実装ヘッド46Aが取り付けられ、ガントリフレーム45Bには実装ヘッド46Bが取り付けられている。実装ヘッド46Aは実装ノズル47Aを有し、実装ヘッド46Bは実装ノズル47Bを有している。実施ヘッド46A,46Bは、図示しない駆動モータによりY軸方向に移動可能に構成されている。実装ヘッド46Aは、搬送機構120から受け取った半導体ダイ14Aを吸着搬送して回路基板41に実装する。実装ヘッド46Bは、搬送機構120から受け取った半導体ダイ14Bを吸着搬送して回路基板41に実装する。実装ヘッド46Aと実装ヘッド46Bとは、互いに独立に移動可能に構成されている。
実装ヘッド46Aは半導体ダイ14A,14Bのどちらも吸着搬送可能に構成され、実装ヘッド46Bも同様に半導体ダイ14A,14Bのどちらも吸着搬送可能に構成されている。したがって、実装ヘッド46A、46Bと半導体ダイ14A,14Bとの組み合わせは上記に限定されるものではない。実装ヘッド46Aは、半導体ダイ14Bを回路基板41に実装してもよく、半導体ダイ14A,14Bの両方を回路基板41に実装してもよい。同様に、実装ヘッド46Bは、半導体ダイ14Aを回路基板41に実装してもよく、半導体ダイ14A,14Bの両方を回路基板41に実装してもよい。
図2に示すように、実装ノズル47Aは、例えば、モータ50と、基体部51と、ボールねじ52と、パルスヒータ53と、実装ツール54を備えている。モータ50は、実装ヘッド46Aに固定されている。基体部51は、Z方向に移動可能に実装ヘッド46Aに取り付けられている。ボールねじ52は、モータ50からの駆動力に基づいて回転することで基体部51をZ方向に移動させる。パルスヒータ53は、基体部51に取り付けられ、その下側には実装ツール54が取り付けられている。実装ツール54は、その先端面に半導体チップ14を吸着可能に構成されている。実装ツール54は、モータ50により基体部51がZ方向に移動したとき、基体部51とともにZ軸方向に移動する。なお、図示を省略しているが、実装ノズル47Bも、実装ノズル47Aと同様、モータと、基体部と、ボールねじと、パルスヒータと、実装ツールとを備えている。
供給モジュール102Aは半導体ダイ14Aを供給し、供給モジュール102Bは半導体ダイ14Bを供給する。供給モジュール102Aにはウェハホルダ12Aが設けられており、供給モジュール102Bにはウェハホルダ12Bが設けられている。ウェハホルダ12Aは、円環状をなしており、ダイシングされた半導体ウェハ13Aを保持する。ウェハホルダ12Bも同様にダイシングされた半導体ウェハ13Bを保持する。ウェハホルダ12A,12Bは、図示しない駆動モータによりY軸方向に移動する。また、ウェハホルダ12A,12Bは、X軸方向には移動しないように構成されている。
ウェハホルダ12A,12Bの下側には、突き上げユニット15が設けられている。図3に示すように、突き上げユニット15は、供給モジュール102Aと供給モジュール102Bとの間を移動可能に構成され、ダイシングされた半導体ウェハ13Aから半導体ダイ14Aを上方に突き上げ、また、ダイシングされた半導体ウェハ13Bから半導体ダイ14Bを上方に突き上げる。
なお、半導体ウェハ13Aから半導体ダイ14Aを突き上げる第1の突き上げユニットと、半導体ウェハ13Bから半導体ダイ14Bを上方に突き上げる第2の突き上げユニットとが個別に備えられていてもよい。この場合、第1の突き上げユニットは、供給モジュール102Aに設けられ、供給モジュール102Bへは移動できないように構成されてもよく、第2の突き上げユニットは、供給モジュール102Bに設けられ、供給モジュール102Aへは移動できないように構成されてもよい。
供給モジュール102A,102Bには、ピックアップカメラ16が設けられている。図3に示すように、ピックアップカメラ16は、供給モジュール102Aと供給モジュール102Bとの間を移動可能に構成され、位置認識のために半導体ウェハ13A中の半導体ダイ14Aを撮像し、また、位置認識のために半導体ウェハ13B中の半導体ダイ14Bを撮像する。
なお、半導体ウェハ13A中の半導体ダイ14Aを撮像する第1のピックアップカメラと、半導体ウェハ13B中の半導体ダイ14Bを撮像する第2のピックアップとが個別に備えられていてもよい。この場合、第1のピックアップカメラは、供給モジュール102Aに設けられ、供給モジュール102Bへは移動できないように構成されてもよく、第2のピックアップカメラは、供給モジュール102Bに設けられ、供給モジュール102Aへは移動できないように構成されてもよい。
搬送機構120は、実装モジュール101及び供給モジュール102A,102Bにわたって、X軸方向に延在して構成されている。搬送機構120は、2つの搬送ユニット20A,20Bを備えている。搬送ユニット20Aは、供給モジュール102A,102Bのそれぞれから半導体ダイ14A,14Bを実装モジュール101に搬送可能に構成されている。搬送ユニット20Bは、供給モジュール102A,102Bのそれぞれから半導体ダイ14A,14Bを実装モジュール101に搬送可能に構成されている。例えば、搬送ユニット20Aは、ウェハホルダ12Aから半導体ダイ14Aをピックアップし、ピックアップした半導体ダイ14Aを反転し、反転した半導体ダイ14Aを実装ヘッド46Aへ受け渡す。搬送ユニット20Bは、ウェハホルダ12Bから半導体ダイ14Bをピックアップし、ピックアップした半導体ダイ14Bを反転し、反転した半導体ダイ14Bを実装ヘッド46Bへ受け渡す。
図2に示すように、搬送ユニット20Aは、例えば、ガイドレール21Aと、スライダ22Aと、キャリッジ23Aと、回転軸24Aと、搬送ヘッド25Aとを備えている。
ガイドレール21Aは、架台11の上面に形成された凹部11Aに固定されている。凹部11Aは、X方向に延びる長溝状をなしている。ガイドレール21Aは、実装モジュール101及び供給モジュール102A,102Bのそれぞれに設けられたレールが連結されて構成されており、実装モジュール101及び供給モジュール102A,102BにわたってX軸方向に延在している。ガイドレール21Aには、スライダ22Aが取り付けられている。スライダ22Aは、図示しない駆動モータによりX軸方向に移動可能に構成されている。キャリッジ23Aは、スライダ22Aに取り付けられている。キャリッジ23Aは、スライダ22Aがガイドレール21Aに沿って移動することで、X軸方向に移動可能に構成されている。キャリッジ23Aには、回転軸24Aが取り付けられている。回転軸24Aの取り付けアームは、回転軸24Aの中心線に対して斜めに交差する方向に延びている。回転軸24Aの取り付けアームの先端部には搬送ヘッド25Aが取り付けられている。図示しないステッピングモータが回転軸24Aを回転させることによって、搬送ヘッド25Aは反転する。
搬送ヘッド25Aは、例えば、半導体ダイ14Aを供給モジュール102Aから実装モジュール101に搬送する。搬送ヘッド25Aは、ベース27Aと、ピックアップノズル28Aとを備える。ベース27Aは、板状をなしており、回転軸24Aの取り付けアームの先端部に固定されている。ピックアップノズル28Aは、ベース27Aに固定されている。ピックアップノズル28Aは、例えば、ケーシング29Aと、吸着ヘッド30Aと、電磁コイル31Aとを備える。ケーシング29Aは、円環状をなしており、その環状部分に電磁コイル31Aを収容している。ケーシング29Aの中心には、ケーシング29Aの長手方向に延びる貫通孔が形成されている。吸着ヘッド30Aは、その先端面に半導体ダイ14Aを吸着可能に構成されている。吸着ヘッド30Aは、ケーシング29Aの貫通孔に収容されている。吸着ヘッド30Aは、電磁コイル31Aに通電することで、ケーシング29Aの貫通孔を移動し、ケーシング29Aの端面からの繰り出し量が調整可能に構成されている。
搬送ユニット20Bは、搬送ユニット20Aと同様に、ガイドレール21Bと、スライダ22Bと、キャリッジ23Bと、回転軸24Bと、搬送ヘッド25Bとを備えている。ガイドレール21Bはガイドレール21Aと平行に設けられている。ガイドレール21Bは、凹部11Aのガイドレール21Aに対向する部分に固定されている。搬送ヘッド25Aと搬送ヘッド25Bとは、互いに独立に移動可能に構成されており、すれ違うことが可能である。
搬送ヘッド25Bは、例えば、半導体ダイ14Bを供給モジュール102Bから実装モジュール101に搬送する。搬送ヘッド25Bは、搬送ヘッド25Aと同様、ベース27Bと、ピックアップノズル28Bとを備え、ピックアップノズル28Bは、ケーシング29Bと、吸着ヘッド30Bと、電磁コイル31Bとを備える。
搬送ヘッド25Aは半導体ダイ14A,14Bのどちらも吸着搬送可能に構成され、搬送ヘッド25Bも同様に半導体ダイ14A,14Bのどちらも吸着搬送可能に構成されている。したがって、搬送ヘッド25A,25Bと半導体ダイ14A,14Bとの組み合わせは上記に限定されるものではない。搬送ヘッド25Aは、半導体ダイ14Bを搬送してもよく、半導体ダイ14A,14Bの両方を搬送してもよい。同様に、搬送ヘッド25Bは、半導体ダイ14Aを搬送してもよく、半導体ダイ14A,14Bの両方を搬送してもよい。また、実装装置に備えられる搬送ヘッドは1つであってもよく、当該1つの搬送ヘッドが半導体ダイ14A,14Bの両方を搬送してもよい。
次に、半導体ダイ14Aの供給から実装までの動作について説明する。
まず、ピックアップカメラ16が半導体ウェハ13Aの半導体ダイ14Aを撮像し、半導体ダイ14Aの位置を確認する。ウェハホルダ12Aに保持された半導体ウェハ13Aから、半導体ダイ14Aが突き上げユニット15によって突き上げられる。突き上げられた半導体ダイ14Aが搬送ヘッド25Aに吸着されることによって、半導体ダイ14Aは、供給モジュール102Aのウェハホルダ12Aから搬送機構120の搬送ユニット20Aに受け渡される。搬送ユニット20Aは、吸着した半導体ダイ14Aを供給モジュール102Aから実装モジュール101に搬送する。
実装モジュール101に搬送された半導体ダイ14Aは、回転軸24Aによって搬送ヘッド25Aごと反転される。実装ヘッド46Aは、反転した半導体ダイ14Aの上方に移動し、実装ノズル47Aのモータ50がボールねじ52を回転させ、基体部51、パルスヒータ53及び実装ツール54が降下する。半導体ダイ14Aの位置まで降下した実装ツール54は、反転された半導体ダイ14Aを吸着する。これにより、半導体ダイ14Aは、搬送ヘッド25Aから実装ヘッド46Aに受け渡される。半導体ダイ14Aを吸着した実装ツール54は、モータ50の駆動力によって回転するボールねじ52によって上昇し、実装ヘッド46Aによってガントリフレーム45Aに沿って、実装ステージ40の上方まで搬送される。ここで、実装ノズル47Aのモータ50がボールねじ52を回転させ、基体部51、パルスヒータ53及び実装ツール54が降下し、回路基板41に半導体ダイ14Aが押し付けられる。このとき、半導体ダイ14Aは、パルスヒータ53によって加熱されており、回路基板41に実装される。実装ツール54は、半導体ダイ14Aの吸着を解除し、回路基板41に実装された半導体ダイ14Aを解放した実装ツール54は、モータ50の駆動力によって回転するボールねじ52によって上昇し、次の半導体ダイ14Aを受け取るべく、反転した搬送ヘッド25Aに吸着された半導体ダイ14Aの上方に移動する。
搬送ヘッド25Aが半導体ダイ14Aを搬送中に、ピックアップカメラ16及び突き上げユニット15は、供給モジュール102Aから供給モジュール102Bに移動する。そして、供給モジュール102Bにおいても、供給モジュール102Aと同様、半導体ダイ14Bが、供給モジュール102Bのウェハホルダ12Bから搬送機構120の搬送ユニット20Bに受け渡される。そして、搬送ユニット20Bは、吸着した半導体ダイ14Bを供給モジュール102Bから実装モジュール101に搬送する。搬送された半導体ダイ14Bは、搬送ヘッド25Bから実装ヘッド46Bに受け渡されて、実装ヘッド46Bによって回路基板41に実装される。このように、半導体ダイ14Aと半導体ダイ14Bとが交互に又は同時に、回路基板41に実装される。
以上説明したように、本実施形態の実装装置1において、実装モジュール101と、供給モジュール102Aと、供給モジュール102Bとがこの順にX軸方向に並んでおり、搬送機構120は、複数の供給モジュール102A,102Bのそれぞれから複数の半導体ダイ14A,14Bを搬送可能に構成された複数の搬送ユニット20A,20Bを有し、実装モジュール101及び複数の供給モジュール102A,102BにわたってX軸方向に延在して構成されている。
これによれば、半導体ウェハ毎に実装装置を準備して1つの回路基板を実装装置間で移動させることによって複数の半導体ウェハから供給された複数の半導体ダイを1つの回路基板に実装する装置に比べて、回路基板に対する半導体ダイの位置ずれが生じ難い。このため、位置ずれに起因した実装不良の発生を抑制することができる。また、1つの実装装置で実装中に半導体ウェハを交換することによって複数の半導体ウェハから供給された複数の半導体ダイを1つの回路基板に実装する装置に比べて、実装時間を短縮することができるため、回路基板と半導体ダイとを接合するはんだのフラックス乾燥を抑制することができる。このため、フラックス乾燥に起因した実装不良の発生を抑制することができる。したがって、1つの回路基板41に複数の半導体ダイ14A,14Bを効率的に実装可能な実装装置1を提供することができる。
また、本実施形態において、実装装置1は、半導体ダイ14Aを供給する供給モジュール102Aと、半導体ダイ14Bを供給する供給モジュール102Bとを有し、半導体14Aと半導体ダイ14Bとは互いに異なる品種である。
これによれば、1つの回路基板41に2品種の半導体ダイ14A,14Bを効率的に実装することができる。
また、本実施形態において、供給モジュール102Aのウェハホルダ12A、及び、供給モジュール102Bのウェハホルダ12Bは、Y軸方向に移動可能に構成されている。複数のウェハホルダ12A,12Bのそれぞれの移動方向であるY軸方向は、複数の搬送ユニット20A,20Bのそれぞれの移動方向であるX軸方向と交差する方向であり、例えば直交する方向である。
これによれば、複数のウェハホルダ12A,12BのそれぞれがX軸方向に移動しなくても、複数の搬送ユニット20A,20Bは、半導体ウェハ13Aの全域から半導体ダイ14Aをピックアップ可能であり、半導体ウェハ13Bの全域から半導体ダイ14Bをピックアップ可能である。したがって、ウェハホルダをX軸方向にも移動可能に構成した場合に比べて、実装装置1を小型化することができる。
また、本実施形態において、実装モジュール101は、複数の搬送ユニット20A,20Bから半導体ダイ14A,14Bを受け取って回路基板41に実装する複数の実装ヘッド46A,46Bを有している。複数の実装ヘッド46A,46Bは、互いに独立に移動可能に構成されている。
これによれば、実装モジュール101における複数の半導体ダイ14A,14Bの実装効率を向上させることができる。
また、本実施形態において、実装装置1は、突き上げユニット15をさらに備える。突き上げユニット15は、複数の供給モジュール102A,102B間を移動可能に構成され、半導体ウェハ13Aから半導体ダイ14Aを突き上げて搬送ユニット20Aに引き渡し、半導体ウェハ13Bから半導体ダイ14Bを突き上げて搬送ユニット20Bに引き渡す。
この態様によれば、2つの供給モジュール102A,102Bで1つの突き上げユニット15を共有することができるため、各供給モジュールのそれぞれに突き上げユニットを有する場合に比べて、実装装置1の構成を簡略化し、実装装置1の製造コストやメンテナンスコストの低減を図ることができる。
また、本実施形態において、実装装置1は、ピックアップカメラ16をさらに備える。ピックアップカメラ16は、複数の供給モジュール102A,102B間を移動可能に構成され、供給モジュール102Aにおける半導体ダイ4Aの位置を認識し、供給モジュール102Bにおける半導体ダイ14Bの位置を認識する。
この態様によれば、2つの供給モジュール102A,102Bで1つのピックアップカメラ16を共有することができるため、各供給モジュールのそれぞれにピックアップカメラを有する場合に比べて、実装装置1の構成を簡略化し、実装装置1の製造コストやメンテナンスコストの低減を図ることができる。
なお、本実施形態において、実装装置1は2つの供給モジュール102A,102Bを備えているが、本発明の一実施形態に係る実装装置は、3つ以上の供給モジュールを備えてもよい。実装装置1から回路基板41に実装する半導体ダイの品種を増やす場合には、追加の供給モジュールを供給モジュール102Bの供給モジュール102A側とは反対側に接続し、搬送機構120を延長して追加の供給モジュールにも延在させればよい。したがって、実装する半導体ダイの品種を容易に追加することができ、実装する半導体ダイの品種を増やしたときの実装装置の寸法の増大を抑制することができる。
以下に、本発明の実施形態の一部又は全部を付記する。なお、本発明は以下の付記に限定されるものではない。
[付記1]
電子部品を供給する複数の供給モジュールと、
前記電子部品を基板に実装する実装モジュールと、
前記複数の供給モジュールのそれぞれから前記電子部品を前記実装モジュールに搬送可能に構成された少なくとも一つの搬送ユニットを有し、前記複数の供給モジュール及び前記実装モジュールにわたって平面視における第1方向に延在して構成された搬送機構と
を備える、
実装装置。
電子部品を供給する複数の供給モジュールと、
前記電子部品を基板に実装する実装モジュールと、
前記複数の供給モジュールのそれぞれから前記電子部品を前記実装モジュールに搬送可能に構成された少なくとも一つの搬送ユニットを有し、前記複数の供給モジュール及び前記実装モジュールにわたって平面視における第1方向に延在して構成された搬送機構と
を備える、
実装装置。
[付記2]
前記実装モジュールは、前記第1方向と交差する第2方向に前記電子部品を搬送する、
[付記1]に記載の実装装置。
前記実装モジュールは、前記第1方向と交差する第2方向に前記電子部品を搬送する、
[付記1]に記載の実装装置。
[付記3]
前記複数の供給モジュールは、第1電子部品を供給する第1供給モジュールと、前記第1電子部品とは異なる品種の第2電子部品を供給する第2供給モジュールと、を含む、
[付記1]又は[付記2]に記載の実装装置。
前記複数の供給モジュールは、第1電子部品を供給する第1供給モジュールと、前記第1電子部品とは異なる品種の第2電子部品を供給する第2供給モジュールと、を含む、
[付記1]又は[付記2]に記載の実装装置。
[付記4]
前記複数の供給モジュールのそれぞれは、半導体ウェハから前記電子部品として半導体ダイを供給するものであり、
前記複数の供給モジュールのそれぞれは、前記半導体ウェハを保持するウェハホルダを有し、
前記ウェハホルダは、平面視における前記第1方向と交差する第2方向に移動可能に構成されている、
[付記1]から[付記3]のいずれか一つに記載の実装装置。
前記複数の供給モジュールのそれぞれは、半導体ウェハから前記電子部品として半導体ダイを供給するものであり、
前記複数の供給モジュールのそれぞれは、前記半導体ウェハを保持するウェハホルダを有し、
前記ウェハホルダは、平面視における前記第1方向と交差する第2方向に移動可能に構成されている、
[付記1]から[付記3]のいずれか一つに記載の実装装置。
[付記5]
前記少なくとも一つの搬送ユニットは、複数の搬送ヘッドを含み、
前記複数の搬送ヘッドは、互いに独立に移動可能に構成されている、
[付記1]から[付記4]のいずれか一つに記載の実装装置。
前記少なくとも一つの搬送ユニットは、複数の搬送ヘッドを含み、
前記複数の搬送ヘッドは、互いに独立に移動可能に構成されている、
[付記1]から[付記4]のいずれか一つに記載の実装装置。
[付記6]
前記実装モジュールは、前記少なくとも一つの搬送ヘッドから前記電子部品を受け取って前記基板に実装する複数の実装ヘッドを有し、
前記複数の実装ヘッドは、互いに独立に移動可能に構成されている、
[付記1]から[付記5]のいずれか一つに記載の実装装置。
前記実装モジュールは、前記少なくとも一つの搬送ヘッドから前記電子部品を受け取って前記基板に実装する複数の実装ヘッドを有し、
前記複数の実装ヘッドは、互いに独立に移動可能に構成されている、
[付記1]から[付記5]のいずれか一つに記載の実装装置。
[付記7]
前記複数の供給モジュールのそれぞれは、半導体ウェハから前記電子部品として半導体ダイを供給するものであり、
前記半導体ウェハから前記半導体ダイを突き上げて前記少なくとも一つの搬送ユニットに引き渡す突き上げユニットをさらに備え、
前記突き上げユニットは、前記複数の供給モジュールのモジュール間を移動可能に構成されている、
[付記1]から[付記6]のいずれか一つに記載の実装装置。
前記複数の供給モジュールのそれぞれは、半導体ウェハから前記電子部品として半導体ダイを供給するものであり、
前記半導体ウェハから前記半導体ダイを突き上げて前記少なくとも一つの搬送ユニットに引き渡す突き上げユニットをさらに備え、
前記突き上げユニットは、前記複数の供給モジュールのモジュール間を移動可能に構成されている、
[付記1]から[付記6]のいずれか一つに記載の実装装置。
[付記8]
前記複数の供給モジュールにおける前記電子部品の位置を認識するピックアップカメラをさらに備え、
前記ピックアップカメラは、前記複数の供給モジュールのモジュール間を移動可能に構成されている、
[付記1]から[付記7]のいずれか一つに記載の実装装置。
前記複数の供給モジュールにおける前記電子部品の位置を認識するピックアップカメラをさらに備え、
前記ピックアップカメラは、前記複数の供給モジュールのモジュール間を移動可能に構成されている、
[付記1]から[付記7]のいずれか一つに記載の実装装置。
以上説明したように、本発明の一実施形態によれば、複数の電子部品を効率的に実装可能な実装装置を提供することができる。
以上説明した実施形態は、本願発明の理解を容易にするためのものであり、本願発明を限定して解釈するためのものではない。実施形態が備える各要素並びにその配置、材料、条件、形状及びサイズ等は、例示したものに限定されるわけではなく適宜変更することができる。また、異なる実施形態で示した構成同士を部分的に置換し又は組み合わせることが可能である。
1…実装装置
101…実装モジュール
11…架台
40…実装ステージ
41…回路基板
42…搬送レール
43…ガイドレール
44A,44B…スライダ
45A,45B…ガントリフレーム
46A,46B…実装ヘッド
47A,47B…実装ノズル
50…モータ
51…基体部
52…ボールねじ
53…パルスヒータ
54…実装ツール
102A,102B…供給モジュール
12A,12B…ウェハホルダ
13A,13B…半導体ウェハ
14A,14B…半導体ダイ
15…突き上げユニット
16…ピックアップカメラ
120…搬送機構
20A,20B…搬送ユニット
21A,21B…ガイドレール
22A,22B…スライダ
23A,23B…キャリッジ
24A,24B…回転軸
25A,25B…搬送ヘッド
27A,27B…ベース
28A,28B…ピックアップノズル
29A,29B…ケーシング
30A,30B…吸着ヘッド
31A,31B…電磁コイル
101…実装モジュール
11…架台
40…実装ステージ
41…回路基板
42…搬送レール
43…ガイドレール
44A,44B…スライダ
45A,45B…ガントリフレーム
46A,46B…実装ヘッド
47A,47B…実装ノズル
50…モータ
51…基体部
52…ボールねじ
53…パルスヒータ
54…実装ツール
102A,102B…供給モジュール
12A,12B…ウェハホルダ
13A,13B…半導体ウェハ
14A,14B…半導体ダイ
15…突き上げユニット
16…ピックアップカメラ
120…搬送機構
20A,20B…搬送ユニット
21A,21B…ガイドレール
22A,22B…スライダ
23A,23B…キャリッジ
24A,24B…回転軸
25A,25B…搬送ヘッド
27A,27B…ベース
28A,28B…ピックアップノズル
29A,29B…ケーシング
30A,30B…吸着ヘッド
31A,31B…電磁コイル
Claims (8)
- 電子部品を供給する複数の供給モジュールと、
前記電子部品を基板に実装する実装モジュールと、
前記複数の供給モジュールのそれぞれから前記電子部品を前記実装モジュールに搬送可能に構成された少なくとも一つの搬送ユニットを有し、前記複数の供給モジュール及び前記実装モジュールにわたって平面視における第1方向に延在して構成された搬送機構と
を備える、
実装装置。 - 前記実装モジュールは、前記第1方向と交差する第2方向に前記電子部品を搬送する、
請求項1に記載の実装装置。 - 前記複数の供給モジュールは、第1電子部品を供給する第1供給モジュールと、前記第1電子部品とは異なる品種の第2電子部品を供給する第2供給モジュールと、を含む、
請求項1に記載の実装装置。 - 前記複数の供給モジュールのそれぞれは、半導体ウェハから前記電子部品として半導体ダイを供給するものであり、
前記複数の供給モジュールのそれぞれは、前記半導体ウェハを保持するウェハホルダを有し、
前記ウェハホルダは、第1方向に移動可能に構成されている、
請求項1に記載の実装装置。 - 前記少なくとも一つの搬送ユニットは、複数の搬送ヘッドを含み、
前記複数の搬送ヘッドは、互いに独立に移動可能に構成されている、
請求項1に記載の実装装置。 - 前記実装モジュールは、前記少なくとも一つの搬送ユニットから前記電子部品を受け取って前記基板に実装する複数の実装ヘッドを有し、
前記複数の実装ヘッドは、互いに独立に移動可能に構成されている、
請求項1に記載の実装装置。 - 前記複数の供給モジュールのそれぞれは、半導体ウェハから前記電子部品として半導体ダイを供給するものであり、
前記半導体ウェハから前記半導体ダイを突き上げて前記少なくとも一つの搬送ユニットに引き渡す突き上げユニットをさらに備え、
前記突き上げユニットは、前記複数の供給モジュールのモジュール間を移動可能に構成されている、
請求項1から6のいずれか一項に記載の実装装置。 - 前記複数の供給モジュールにおける前記電子部品の位置を認識するピックアップカメラをさらに備え、
前記ピックアップカメラは、前記複数の供給モジュールのモジュール間を移動可能に構成されている、
請求項1から6のいずれか一項に記載の実装装置。
Priority Applications (3)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2024103351A JP2026005111A (ja) | 2024-06-26 | 2024-06-26 | 実装装置 |
| TW114121747A TWI924539B (zh) | 2024-06-26 | 2025-06-11 | 安裝裝置 |
| PCT/JP2025/022804 WO2026004886A1 (ja) | 2024-06-26 | 2025-06-25 | 実装装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2024103351A JP2026005111A (ja) | 2024-06-26 | 2024-06-26 | 実装装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JP2026005111A true JP2026005111A (ja) | 2026-01-15 |
Family
ID=98222019
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2024103351A Pending JP2026005111A (ja) | 2024-06-26 | 2024-06-26 | 実装装置 |
Country Status (2)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2026005111A (ja) |
| WO (1) | WO2026004886A1 (ja) |
Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2008251771A (ja) * | 2007-03-30 | 2008-10-16 | Hitachi High-Tech Instruments Co Ltd | 部品実装装置 |
| WO2017119217A1 (ja) * | 2016-01-06 | 2017-07-13 | 株式会社新川 | 電子部品実装装置 |
-
2024
- 2024-06-26 JP JP2024103351A patent/JP2026005111A/ja active Pending
-
2025
- 2025-06-25 WO PCT/JP2025/022804 patent/WO2026004886A1/ja active Pending
Patent Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2008251771A (ja) * | 2007-03-30 | 2008-10-16 | Hitachi High-Tech Instruments Co Ltd | 部品実装装置 |
| WO2017119217A1 (ja) * | 2016-01-06 | 2017-07-13 | 株式会社新川 | 電子部品実装装置 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| WO2026004886A1 (ja) | 2026-01-02 |
| TW202601868A (zh) | 2026-01-01 |
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|---|---|---|---|
| A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20250616 |
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