JP2501870Y2 - 光ディスクテストシステム - Google Patents

Description

【考案の詳細な説明】 〈産業上の利用分野〉 本考案は、回転状態の光ディスク上において、記録マ
ークの形成過程、又は消去過程を測定出来る光ディスク
テストシステムに関するものである。

〈従来の技術〉 従来の光ディスクテストシステムにおいて、記録マー
クの形成過程を消去過程の測定は、静止状態の光ディス
ク上において行われていただけである。例えば、静止状
態の光ディスク上に記録／消去用レーザ光（840nm）と
再生用レーザ光（780nm）とを照射して、記録／消去用
レーザ光によって光ディスク上に形成／消去された記録
マークからの再生用レーザ光の反射率の変化を求めて、
記録マークの形成／消去過程を測定していた。

〈考案が解決しようとする課題〉 しかしながら、上記従来技術に示す光ディスクテスト
システムにおいては、光ディスクをＸ−Ｙテーブル等に
設置して記録マークの形成位置を移動させる事は出来る
が、回転状態の光ディスクにおいて、記録マークの形成
過程、又は消去過程を測定する事はできない為、実用的
ではないという課題があった。

本考案は上記従来技術の課題を踏まえて成されたもの
であり、回転状態の光ディスク上で、記録マークの形成
過程、又は消去過程を測定出来る光ディスクテストシス
テムを提供する事を目的としたものである。

〈課題を解決するための手段〉 記録パルス信号又は消去パルス信号を出力する再生／
記録／消去コントローラと、 前記記録パルス信号又は消去パルス信号に同期して、
記録消去用レーザダイオードから記録パルス又は消去パ
ルスを出射させる記録／消去用レーザダイオード駆動回
路と、 再生用レーザダイオードから再生レーザ光を出射させ
る再生用レーザダイオード駆動回路と、 前記２つのレーザダイオードからの出射光をそれぞれ
ビームスプリッタを介して対物レンズで合成させ、記録
／消去スポット及び再生スポットとして、それぞれ光デ
ィスク上に集光させる２ビームヘッドと、 この２ビームヘッドに入力され、前記２つのスポット
間隔を制御するスポット間隔制御信号を出力するスポッ
ト間隔コントローラと、 前記再生スポットからの反射光を検出し、電気信号に
変換し、増幅する再生用フォトダイオード及び増幅器
と、 この増幅器の出力信号の最大振幅に対応した信号を得
ると共に、前記再生／記録／消去コントローラから出力
される記録パルス信号の発生時点と前記増幅器の出力の
振幅が最大となる時点までの時間差に対応した信号を得
る信号処理回路と、 前記時間差、スポット間隔および光ディスクの移動線
速度にそれぞれ対応した信号から記録マーク形成位置を
求める機能と、前記スポット間隔コントローラおよび再
生／記録／消去コントローラを制御してスポット間隔を
一定の間隔で掃引し、掃引されるスポット間隔ごとの前
記振幅、スポット間隔および光ディスクの移動線速度に
それぞれ対応した信号から記録マークの形成過程または
記録マークの消去過程を求める機能を有する計算機 を備えたことを特徴とするものである。

〈作用〉 本考案によると、回転状態の光ディスク上に記録／消
去スポット及び再生スポットを集光させ、２つのスポッ
トのスポット間隔を変化させる事により、先行する記録
／消去スポットと再生スポット間の時間差を変化させ
る。その時間差に対する再生スポットの再生信号を観測
する事により、記録／消去スポット通過後の記録マーク
の形成消去過程を測定する事が出来る。

〈実施例〉 以下、本考案を図面に基づいて説明する。

第１図は本考案に係わる光ディスクテストシステムの
一実施例を示す構成図である。

第１図において、１は再生／記録／消去コントロー
ラ、２はスポット間隔コントローラ、３は２つのレーザ
ダイオードを有する２ビームヘッドで、記録／消去用レ
ーザダイオード（以下、単に記録／消去用LDという）3
1、再生用レーザダイオード（以下、単に再生用LDとい
う）32、ビームスプリッタ33、34、対物レンズ35、再生
フォトダイオード（以下、単に再生用PDという）36より
成る。４は記録／消去用LD31を駆動する記録／消去用LD
駆動回路、５は再生用LD32を駆動する再生用LD駆動回
路、６は光ディスク、７は増幅器、８は信号処理回路
で、信号振幅測定回路81、位相差測定回路82より成る。
９は計算機である。

再生／記録／消去コントローラ１は、記録パルス信号
（又は消去パルス信号）を発生する。この信号に同期し
て、記録／消去用LD駆動回路４は、記録／消去用LD31よ
り記録パルス（又は消去パルス）を出射する。再生用LD
駆動回路５は、再生用LD32より再生レーザ光を出射す
る。記録／消去用LD31及び再生用LD32からの出射光は、
ビームスプリッタ33、34を介して対物レンズ35で合成さ
れ、光ディスク６上に記録／消去スポット及び再生スポ
ットとしてそれぞれ任意のスポット間隔ｌで集光され
る。このスポット間隔ｌは、２ビームヘッド３に接続さ
れたスポット間隔コントローラ２が発生するスポット間
隔制御信号によって任意に制御される。再生スポットか
らの反射光は、対物レンズ35、ビームスプリッタ33、34
を介して、再生用PD36に入射し、電気信号に変換された
後、その出力信号は増幅器７に入力し、増幅されて、信
号処理回路８の信号振幅測定回路81及び位相差測定回路
82にそれぞれ入力される。この位相差測定回路82には、
再生／記録／消去コントローラ１が発生する記録パルス
信号も入力される。信号処理回路８の出力信号である再
生信号振幅Vp-p及び再生信号と記録パルス信号の位相差
t2は、計算機９に入力される。この計算機９には、スポ
ット間隔コントローラ２が発生するスポット間隔制御信
号も入力される。計算機９は、再生／記録／消去コント
ローラ１及びスポット間隔コントローラ２を制御する制
御信号を発生すると共に、再生信号振幅Vp-p及び再生信
号と記録パルス信号の位相差t2とスポット間隔ｌとの相
関から、記録マークの形成／消去過程及び記録マークの
形成位置を測定し出力する。

この様な構成の光ディスクテストシステムにおいて、
記録マークの形成過程を測定する例を説明する。第２図
は記録スポットと再生スポットの位置関係を示す図であ
る。図において、光ディスクの回転線速度をυ、スポッ
ト間隔をｌとすると、記録スポットにより記録パワーが
照射された部分をｔ（＝l/υ）時間後に再生スポットが
通過する。即ち、再生スポットはｔ時間経過後の記録マ
ークの状態を再生出来る。従って、スポット間隔コント
ローラ２が発生するスポット間隔制御信号で、スポット
間隔ｌを走査しながら、再生スポットからの反射光を再
生用PD36で電気信号に変換し、増幅器７を経て、信号処
理回路８の信号振幅測定回路81で再生信号振幅Vp-pを測
定する。ここで、スポット間隔ｌを走査する事は、記録
パワー照射後の経過時間ｔ（＝l/υ）を走査する事と同
等であるので、計算機９にて、スポット間隔コントロー
ラ２が発生するスポット間隔制御信号から求めた記録パ
ワー照射後の経過時間ｔと信号振幅測定回路81からの再
生信号振幅Vp-pとの相関をとる事により、第３図に示す
様な記録マークの形成過程を測定する事が出来る。

又、再生信号と記録パルス信号の位相差を測定する事
により、記録マークの形成位置を求める事が出来る。第
４図は記録マーク形成位置の測定例を示す図である。図
において、再生スポットと記録スポットは、スポット間
隔１で制御されている。時刻T1で記録パワーが照射さ
れたとすると、記録マークの形成位置は、実際には光デ
ィスク６が回転状態にある為、図中に示す斜線部の様に
ズレて形成される。この記録マークの形成位置は、再生
信号の変調最大の点（時刻T2）において、再生スポット
と一致している。従って、記録マークの形成位置は、時
刻T2〜T1の間に再生スポットが移動した距離l2＝υ（T2
−T1）とスポット間隔１との差（l2−１）で求めら
れる。即ち、信号処理回路８の位相差測定回路82におい
て、光ディスク６からの再生信号と記録／消去コントロ
ーラ１が発生する記録パルス信号との位相差t2を測定す
る。この位相差t2とスポット間隔コントローラ２が発生
するスポット間隔制御信号により走査されたスポット間
隔１から、計算機９にて記録マークの形成位置を測定
出来る。

次に、記録マークの消去過程を測定する例について説
明する。なお、記録マークの形成過程を測定する例とほ
ぼ同様である為、その説明は簡略して行う。第５図の消
去スポットと再生スポットの位置関係は図に示す様に、
消去の場合も記録の場合と同様に、消去スポットのｔ
（＝l/υ）時間後に、再生スポットが通過する。消去の
場合は、第６図の記録マークと再生信号の関係図に示す
様に、消去スポットの通過後、記録マークが消去され、
再生信号が低下していく。従って、記録の場合と同様
に、スポット間隔ｌを走査する事により、再生信号振幅
Vp-pと消去スポット通過後の経過時間ｔ（＝l/υ）の相
関をとれば、第７図に示す様に、記録マークの消去過程
を測定する事が出来る。

〈考案の効果〉 以上、実施例と共に具体的に説明した様に、本考案に
よれば、回転状態の光ディスク上にて、記録／消去パル
スに対する媒体の時間的変化（記録マークの形成／消去
過程）及び記録マークの形成位置を測定出来る光ディス
クテストシステムを実現する事が出来る。

【図面の簡単な説明】

第１図は本考案に係わる光ディスクテストシステムの一
実施例を示す構成図、第２図は記録スポットと再生スポ
ットの位置関係を示す図、第３図は記録マークの形成過
程を示す図、第４図は記録マークの形成位置の測定例を
示す図、第５図は消去スポットと再生スポットの位置関
係を示す図、第６図は記録マークと再生信号の関係を示
す図、第７図は記録マークの消去過程を示す図である。 １……再生／記録／消去コントローラ、２……スポット
間隔コントローラ、３……２ビームヘッド、４……記録
／消去用レーザダイオード駆動回路、５……再生用レー
ザダイオード駆動回路、６……光ディスク、７……増幅
器、８……信号処理回路、９……計算機、31……記録／
消去用レーザダイオード、32……再生用レーザダイオー
ド、33、34……ビームスプリッタ、35……対物レンズ、
36……再生用フォトダイオード、81……信号振幅測定回
路、82……位相差測定回路。

Claims (1)

(57)【実用新案登録請求の範囲】
1. 【請求項１】記録パルス信号又は消去パルス信号を出力
   する再生／記録／消去コントローラと、 前記記録パルス信号又は消去パルス信号に同期して、記
   録消去用レーザダイオードから記録パルス又は消去パル
   スを出射させる記録／消去用レーザダイオード駆動回路
   と、 再生用レーザダイオードから再生レーザ光を出射させる
   再生用レーザダイオード駆動回路と、 前記２つのレーザダイオードからの出射光をそれぞれビ
   ームスプリッタを介して対物レンズで合成させ、記録／
   消去スポット及び再生スポットとして、それぞれ光ディ
   スク上に集光させる２ビームヘッドと、 この２ビームヘッドに入力され、前記２つのスポット間
   隔を制御するスポット間隔制御信号を出力するスポット
   間隔コントローラと、 前記再生スポットからの反射光を検出し、電気信号に変
   換し、増幅する再生用フォトダイオード及び増幅器と、 この増幅器の出力信号の最大振幅に対応した信号を得る
   と共に、前記再生／記録／消去コントローラから出力さ
   れる記録パルス信号の発生時点と前記増幅器の出力の振
   幅が最大となる時点までの時間差に対応した信号を得る
   信号処理回路と、 前記時間差、スポット間隔および光ディスクの移動線速
   度にそれぞれ対応した信号から記録マーク形成位置を求
   める機能と、前記スポット間隔コントローラおよび再生
   ／記録／消去コントローラを制御してスポット間隔を一
   定の間隔で掃引し、掃引されるスポット間隔ごとの前記
   振幅、スポット間隔および光ディスクの移動線速度にそ
   れぞれ対応した信号から記録マークの形成過程または記
   録マークの消去過程を求める機能を有する計算機 を備えたことを特徴とする光ディスクテストシステム。