JP2571776B2 - 情報の記録および消去方法 - Google Patents
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Description
【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は、相変化型等の原子配列変化により光学定数
が変化するのを利用した、アクセス時間を短縮するのに
好適な情報の記録および消去方法に関するものである。
が変化するのを利用した、アクセス時間を短縮するのに
好適な情報の記録および消去方法に関するものである。
光ディスクに情報の記録を行いまたは記録された情報
の消去を行う場合、記録または消去しようとする情報
が、実際に記録または消去されているかどうかを確認す
る必要がある。上記確認の方法として、従来は、記録ま
たは消去したのちに、ディスクが１回転するのを待っ
て、読み出し光により確認を行っていた。また、穴開け
型１回書き込み型の光ディスクでは、記録光の反射光を
検出することにより記録の有無を確認する方法が、特許
第1264450号に開示されている。しかしながら、相変化
型等の原子配列の変化を利用した１回書き込み、または
書き換え可能型光ディスクでは、記録光の反射光波形が
上記穴開け型とは異なるため、記録光、消去光の反射光
を検出して、記録および消去の有無を確認した例がなか
った。
の消去を行う場合、記録または消去しようとする情報
が、実際に記録または消去されているかどうかを確認す
る必要がある。上記確認の方法として、従来は、記録ま
たは消去したのちに、ディスクが１回転するのを待っ
て、読み出し光により確認を行っていた。また、穴開け
型１回書き込み型の光ディスクでは、記録光の反射光を
検出することにより記録の有無を確認する方法が、特許
第1264450号に開示されている。しかしながら、相変化
型等の原子配列の変化を利用した１回書き込み、または
書き換え可能型光ディスクでは、記録光の反射光波形が
上記穴開け型とは異なるため、記録光、消去光の反射光
を検出して、記録および消去の有無を確認した例がなか
った。
上記従来技術では、相変化型等の原子配列変化を利用
した光ディスクにおいて、記録または消去の確認のため
に、ディスク１回転分の時間（例えば1800rpmの場合は3
3ms）を余分に費しており、アクセス時間が長いという
問題を有していた。
した光ディスクにおいて、記録または消去の確認のため
に、ディスク１回転分の時間（例えば1800rpmの場合は3
3ms）を余分に費しており、アクセス時間が長いという
問題を有していた。
本発明は、アクセス時間が短い記録、消去方法を得る
ことを目的とする。
ことを目的とする。
上記目的は、照射パワーレベルを少なくとも消去レベ
ルと記録レベルの間で変化させた単一のレーザ光を記録
媒体に照射し、情報の記録および消去を行う情報の記録
および消去方法において、上記記録媒体からの反射光の
再生信号波形を形成し、上記再生信号波形をクロックの
タイミングに基づいて分割し、該分割した再生信号波形
から、上記レーザ光の記録レベルおよび消去レベルのそ
れぞれの照射時における再生信号波形をそれぞれ取り出
し、取り出した再生信号波形を別々に評価し、記録およ
び消去をそれぞれ確認することにより達成される。
ルと記録レベルの間で変化させた単一のレーザ光を記録
媒体に照射し、情報の記録および消去を行う情報の記録
および消去方法において、上記記録媒体からの反射光の
再生信号波形を形成し、上記再生信号波形をクロックの
タイミングに基づいて分割し、該分割した再生信号波形
から、上記レーザ光の記録レベルおよび消去レベルのそ
れぞれの照射時における再生信号波形をそれぞれ取り出
し、取り出した再生信号波形を別々に評価し、記録およ
び消去をそれぞれ確認することにより達成される。
本発明による情報の記録および消去法は、記録中また
は消去中に、記録光または消去光の反射レベルが、原子
配列の規則性が異なる複数の状態間で、レーザ照射によ
り記録または消去中に変化する記録膜の反射率に応じて
光学定数が変化するのを利用し、上記変化をリアルタイ
ムで電気信号として検出し、上記電気信号の波形および
強度の変化によって、正常な記録あるいは消去が行われ
たかどうかを確認する。上記原子配列の規則性が異なる
複数の状態のうち２つの状態を利用して検出するが、上
記２つの状態とは、規則性が高い状態と低い状態で、例
えば結晶状態と非結晶状態でもよいし、結晶形が異なる
２つの結晶状態、あるいは異なった形で乱れを有する２
つの結晶状態であってもよい。
は消去中に、記録光または消去光の反射レベルが、原子
配列の規則性が異なる複数の状態間で、レーザ照射によ
り記録または消去中に変化する記録膜の反射率に応じて
光学定数が変化するのを利用し、上記変化をリアルタイ
ムで電気信号として検出し、上記電気信号の波形および
強度の変化によって、正常な記録あるいは消去が行われ
たかどうかを確認する。上記原子配列の規則性が異なる
複数の状態のうち２つの状態を利用して検出するが、上
記２つの状態とは、規則性が高い状態と低い状態で、例
えば結晶状態と非結晶状態でもよいし、結晶形が異なる
２つの結晶状態、あるいは異なった形で乱れを有する２
つの結晶状態であってもよい。
上記記録膜の２つの状態間のうち、どちら向きの原子
配列の変化を記録と考え、あるいは消去と考えるかは任
意であり、あらかじめ決めておけばよい。
配列の変化を記録と考え、あるいは消去と考えるかは任
意であり、あらかじめ決めておけばよい。
１つのレーザ光照射により記録または消去を行う場合
は、記録光（高パワーレーザ光）、消去光（低パワーレ
ーザ光）の少なくとも一方の反射光をクロックにより取
り出し、記録または消去が確実に行われたかどうかを確
認する。この際、記録光および消去光のそれぞれの反射
光を、クロックにより取り出し、記録および消去をそれ
ぞれ確認する方法が好ましい。
は、記録光（高パワーレーザ光）、消去光（低パワーレ
ーザ光）の少なくとも一方の反射光をクロックにより取
り出し、記録または消去が確実に行われたかどうかを確
認する。この際、記録光および消去光のそれぞれの反射
光を、クロックにより取り出し、記録および消去をそれ
ぞれ確認する方法が好ましい。
つぎに本発明の実施例を図面とともに説明する。第１
図は本発明による情報の記録および消去方法に用いる情
報記録媒体を示す断面図、第２図は上記記録媒体に照射
する単一レーザ光の波形を示す図、第３図（ａ）〜
（ｅ）はクロックで取り出した高パワーレーザ光の反射
光シグナル、（ｆ）〜（ｊ）は上記シグナルのエラー信
号をそれぞれ示す図、第４図（ａ）〜（ｅ）はそれぞれ
安定なエラー信号を得る方法を示す図、第５図（ａ）〜
（ｄ）はクロックで取り出した高パワーレーザ光の反射
光シグナルをそれぞれ示す図、第６図（ａ）〜（ｅ）は
それぞれ安定なエラー信号を得る方法を示す図、第７図
（ａ）〜（ｃ）はクロックで取り出した低パワーレーザ
光の反射光シグナル、（ｄ）〜（ｆ）は上記シグナルの
エラー信号をそれぞれ示す図である。
図は本発明による情報の記録および消去方法に用いる情
報記録媒体を示す断面図、第２図は上記記録媒体に照射
する単一レーザ光の波形を示す図、第３図（ａ）〜
（ｅ）はクロックで取り出した高パワーレーザ光の反射
光シグナル、（ｆ）〜（ｊ）は上記シグナルのエラー信
号をそれぞれ示す図、第４図（ａ）〜（ｅ）はそれぞれ
安定なエラー信号を得る方法を示す図、第５図（ａ）〜
（ｄ）はクロックで取り出した高パワーレーザ光の反射
光シグナルをそれぞれ示す図、第６図（ａ）〜（ｅ）は
それぞれ安定なエラー信号を得る方法を示す図、第７図
（ａ）〜（ｃ）はクロックで取り出した低パワーレーザ
光の反射光シグナル、（ｄ）〜（ｆ）は上記シグナルの
エラー信号をそれぞれ示す図である。
実施例 １ 第１図において、１は直径130mm、厚さ1.1mmのディス
ク状化学強化ガラスの表面に紫外線硬化樹脂によってト
ラッキング用の溝のレプリカを形成した基板、２は上記
基板１上にマグネトロンスパッタリング法によって形成
されたSiO2からなる保護層で、該保護層２の厚さは110n
mである。３は上記保護層２の上に形成された薄膜の記
録膜で、該記録膜３はGe,TeおよびSeをそれぞれ独立に
蒸発させて蒸着したものである。４は上記記録膜３上に
マグネトロンスパッタリング法によって形成されたSiO2
の保護層で、該保護層４の厚さは110nmである。上記の
ような情報記録媒体に半導体レーザ光の連続光を照射す
ると、上記記録膜３中の元素を十分に反応させることが
でき、初期化を行うことができる。
ク状化学強化ガラスの表面に紫外線硬化樹脂によってト
ラッキング用の溝のレプリカを形成した基板、２は上記
基板１上にマグネトロンスパッタリング法によって形成
されたSiO2からなる保護層で、該保護層２の厚さは110n
mである。３は上記保護層２の上に形成された薄膜の記
録膜で、該記録膜３はGe,TeおよびSeをそれぞれ独立に
蒸発させて蒸着したものである。４は上記記録膜３上に
マグネトロンスパッタリング法によって形成されたSiO2
の保護層で、該保護層４の厚さは110nmである。上記の
ような情報記録媒体に半導体レーザ光の連続光を照射す
ると、上記記録膜３中の元素を十分に反応させることが
でき、初期化を行うことができる。
つぎに、上記情報記録媒体に第２図に示すような単一
のレーザ光の矩形パルスを照射した場合、高パワーレー
ザ光および低パワーレーザ光に応じた変化を生じるかど
うかを確認した。高パワーレーザ光を照射した場合は、
照射前の状態が結晶状態（消去状態）であるか、非結晶
状態（記録状態）であるかの如何にかかわらず、非結晶
状態（低反射率）となり、低パワーレーザ光を照射した
場合には結晶状態（高反射率）になるはずである。そこ
で、クロックを利用して新たに記録する信号の１単位ご
とに反射レーザ光の強度信号を別々に取り出すと、それ
ぞれ第３図および第６図に示すようになる。高パワーレ
ーザ光を照射した時に、記録膜３が一旦融解したのちに
非晶質化がおこる場合は、第３図（ａ）あるいは（ｂ）
に示した波形となり、融解状態が続く場合は第３図
（ｅ）に示した波形となり、何も変化しない場合（エラ
ーの時）第３図（ｃ），（ｄ）に示した波形になる。図
における（ａ），（ｃ）は初期が結晶状態であり、
（ｂ），（ｄ）は非結晶状態である。つぎに第３図にＡ
で示したようにコンパレータレベルを設定し、１単位の
入力信号が終る位置において、上記コンパレータレベル
よりも信号が大きい場合にエラー信号を発生するように
すると、（ｃ），（ｄ）の時にだけ（ｈ），（ｉ）に示
すようにエラー信号が発生する。上記方法では記録膜３
の形成の不均一や書き換えに起因する反射率変動に対し
てエラー率が高いため、何も変化しない第３図（ｃ），
（ｄ）のときにエラー信号が発生する方法としては、つ
ぎに記す方法の方がより好ましい。すなわち、反射光シ
グナル（第４図（ａ））に対して、上記反射光シグナル
のパルス幅の1/2だけ遅延したシグナルを第４図（ｂ）
のように作る。つぎに上記２つのシグナルをコンパレー
タに通して、遅延したシグナルが元のシグナルよりも大
きい場合にコンパレータ出力が高いレベルになるように
すると、第４図（ｃ）に示すコンパレータの出力シグナ
ルが得られる。コンパレータ出力の立上りから20ns以内
に、第４図（ｄ）に示すようにレーザ駆動パルスが立下
るときにだけエラー信号が発生するようにすると、第４
図（ｅ）に示すように第３図中の（ｃ），（ｄ）の場合
にエラー信号が現われる。しかし、上記の方法では第３
図（ｅ）に示した場合にもエラー信号が発生するため、
前記のエラー検出方法と組合わせて用いることが必要で
ある。
のレーザ光の矩形パルスを照射した場合、高パワーレー
ザ光および低パワーレーザ光に応じた変化を生じるかど
うかを確認した。高パワーレーザ光を照射した場合は、
照射前の状態が結晶状態（消去状態）であるか、非結晶
状態（記録状態）であるかの如何にかかわらず、非結晶
状態（低反射率）となり、低パワーレーザ光を照射した
場合には結晶状態（高反射率）になるはずである。そこ
で、クロックを利用して新たに記録する信号の１単位ご
とに反射レーザ光の強度信号を別々に取り出すと、それ
ぞれ第３図および第６図に示すようになる。高パワーレ
ーザ光を照射した時に、記録膜３が一旦融解したのちに
非晶質化がおこる場合は、第３図（ａ）あるいは（ｂ）
に示した波形となり、融解状態が続く場合は第３図
（ｅ）に示した波形となり、何も変化しない場合（エラ
ーの時）第３図（ｃ），（ｄ）に示した波形になる。図
における（ａ），（ｃ）は初期が結晶状態であり、
（ｂ），（ｄ）は非結晶状態である。つぎに第３図にＡ
で示したようにコンパレータレベルを設定し、１単位の
入力信号が終る位置において、上記コンパレータレベル
よりも信号が大きい場合にエラー信号を発生するように
すると、（ｃ），（ｄ）の時にだけ（ｈ），（ｉ）に示
すようにエラー信号が発生する。上記方法では記録膜３
の形成の不均一や書き換えに起因する反射率変動に対し
てエラー率が高いため、何も変化しない第３図（ｃ），
（ｄ）のときにエラー信号が発生する方法としては、つ
ぎに記す方法の方がより好ましい。すなわち、反射光シ
グナル（第４図（ａ））に対して、上記反射光シグナル
のパルス幅の1/2だけ遅延したシグナルを第４図（ｂ）
のように作る。つぎに上記２つのシグナルをコンパレー
タに通して、遅延したシグナルが元のシグナルよりも大
きい場合にコンパレータ出力が高いレベルになるように
すると、第４図（ｃ）に示すコンパレータの出力シグナ
ルが得られる。コンパレータ出力の立上りから20ns以内
に、第４図（ｄ）に示すようにレーザ駆動パルスが立下
るときにだけエラー信号が発生するようにすると、第４
図（ｅ）に示すように第３図中の（ｃ），（ｄ）の場合
にエラー信号が現われる。しかし、上記の方法では第３
図（ｅ）に示した場合にもエラー信号が発生するため、
前記のエラー検出方法と組合わせて用いることが必要で
ある。
また、基礎実験によると、高パワーレーザ光の出力が
15mW以上と特に大きい場合には、クロックにより分割し
て取出した反射光の信号は第５図のようになる。非晶質
化がおこる場合は第５図（ａ），（ｂ）に示した波形に
なり、何も変化しない場合（エラーのとき）は第５図
（ｃ），（ｄ）に示した波形になる。（ｃ），（ｄ）の
時だけエラー信号を発生する方法としてつぎに示す方法
を用いた。すなわち、第６図（ａ）に示す反射光シグナ
ルに対して、このパルス幅（情報の単位長さ）の1/2だ
け遅延したシグナルを作る（第６図（ｂ））。つぎに、
上記２つのシグナルをコンパレータに通して、元のシグ
ナルが遅延したシグナルよりも大きい場合にコンパレー
タ出力が高レベルになるようにし、このコンパレータ出
力をパルス幅の1/2だけ遅延させると、第６図（ｃ）に
示すシグナルが得られる。コンパレータ出力の立上りか
ら20ns以内に、第６図（ｄ）に示すようにレーザ駆動パ
ルスが立下る時だけエラー信号が発生するようにする
と、第６図（ｅ）に示すように、第５図中の（ｃ），
（ｄ）の場合にだけエラー信号が現われる。
15mW以上と特に大きい場合には、クロックにより分割し
て取出した反射光の信号は第５図のようになる。非晶質
化がおこる場合は第５図（ａ），（ｂ）に示した波形に
なり、何も変化しない場合（エラーのとき）は第５図
（ｃ），（ｄ）に示した波形になる。（ｃ），（ｄ）の
時だけエラー信号を発生する方法としてつぎに示す方法
を用いた。すなわち、第６図（ａ）に示す反射光シグナ
ルに対して、このパルス幅（情報の単位長さ）の1/2だ
け遅延したシグナルを作る（第６図（ｂ））。つぎに、
上記２つのシグナルをコンパレータに通して、元のシグ
ナルが遅延したシグナルよりも大きい場合にコンパレー
タ出力が高レベルになるようにし、このコンパレータ出
力をパルス幅の1/2だけ遅延させると、第６図（ｃ）に
示すシグナルが得られる。コンパレータ出力の立上りか
ら20ns以内に、第６図（ｄ）に示すようにレーザ駆動パ
ルスが立下る時だけエラー信号が発生するようにする
と、第６図（ｅ）に示すように、第５図中の（ｃ），
（ｄ）の場合にだけエラー信号が現われる。
一方、低パワーレーザ光を照射したときに結晶化がお
こる場合は、第７図（ａ），（ｂ）に示した波形とな
り、何も変化しない場合は第７図（ｃ）に示した波形に
なる。つぎに第７図のＢで示したレベルにコンパレータ
を設定し、情報の単位長が終る位置において、上記コン
パレータレベルよりも信号が低い場合にエラー信号が発
生するようにすると、（ｃ）の場合にだけエラー信号が
現われる。
こる場合は、第７図（ａ），（ｂ）に示した波形とな
り、何も変化しない場合は第７図（ｃ）に示した波形に
なる。つぎに第７図のＢで示したレベルにコンパレータ
を設定し、情報の単位長が終る位置において、上記コン
パレータレベルよりも信号が低い場合にエラー信号が発
生するようにすると、（ｃ）の場合にだけエラー信号が
現われる。
上記の高パワーレーザ光照射時（非晶質化時）の確認
と低パワーレーザ光照射時（結晶化時）の確認を両方同
時に行った場合のエラーレートは１×10-6であった。一
方、片方だけを行う場合は、非晶質化時だけに確認を行
ったときにエラーレートが５×10-5であったのに対し、
結晶化時にだけ確認を行った時は７×10-5であった。こ
れは非晶質化の方が結晶化よりも、確実に行われる率が
高いからである。
と低パワーレーザ光照射時（結晶化時）の確認を両方同
時に行った場合のエラーレートは１×10-6であった。一
方、片方だけを行う場合は、非晶質化時だけに確認を行
ったときにエラーレートが５×10-5であったのに対し、
結晶化時にだけ確認を行った時は７×10-5であった。こ
れは非晶質化の方が結晶化よりも、確実に行われる率が
高いからである。
上記実施例の説明は、記録または消去中における反射
光を利用して、記録または消去の確認を行う方法につい
て記載したが、透過光を利用しても、装置が複雑化する
ことを別にすれば、同様の方法により記録または消去を
確認することが可能である。
光を利用して、記録または消去の確認を行う方法につい
て記載したが、透過光を利用しても、装置が複雑化する
ことを別にすれば、同様の方法により記録または消去を
確認することが可能である。
上記のように本発明による情報の記録および消去方法
は、照射パワーレベルを少なくとも消去レベルと記録レ
ベルの間で変化させた単一のレーザ光を記録媒体に照射
し、情報の記録および消去を行う情報の記録および消去
方法において、上記記録媒体からの反射光の再生信号波
形を形成し、上記再生信号波形をクロックのタイミング
に基づいて分割し、該分割した再生信号波形から、上記
レーザ光の記録レベルおよび消去レベルのそれぞれの照
射時における再生信号波形をそれぞれ取り出し、取り出
した再生信号波形を別々に評価し、記録および消去をそ
れぞれ確認することにより、従来のようにディスクの回
転待ちをすることなく、リアルタイムで記録または消去
の確認ができるため、アクセス時間を短縮することがで
きる。
は、照射パワーレベルを少なくとも消去レベルと記録レ
ベルの間で変化させた単一のレーザ光を記録媒体に照射
し、情報の記録および消去を行う情報の記録および消去
方法において、上記記録媒体からの反射光の再生信号波
形を形成し、上記再生信号波形をクロックのタイミング
に基づいて分割し、該分割した再生信号波形から、上記
レーザ光の記録レベルおよび消去レベルのそれぞれの照
射時における再生信号波形をそれぞれ取り出し、取り出
した再生信号波形を別々に評価し、記録および消去をそ
れぞれ確認することにより、従来のようにディスクの回
転待ちをすることなく、リアルタイムで記録または消去
の確認ができるため、アクセス時間を短縮することがで
きる。
第１図は本発明による情報の記録および消去方法に用い
る情報記録媒体を示す断面図、第２図は上記記録媒体に
照射する単一レーザ光の波形を示す図、第３図（ａ）〜
（ｅ）はクロックで取り出した高パワーレーザ光の反射
光シグナル、（ｆ）〜（ｊ）は上記シグナルのエラー信
号をそれぞれ示す図、第４図（ａ）〜（ｅ）はそれぞれ
安定なエラー信号を得る方法を示す図、第５図（ａ）〜
（ｄ）はクロックで取り出した高パワーレーザ光の反射
光シグナルをそれぞれ示す図、第６図（ａ）〜（ｅ）は
それぞれ安定なエラー信号を得る方法を示す図、第７図
（ａ）〜（ｃ）はクロックで取り出した低パワーレーザ
光の反射光シグナル、（ｄ）〜（ｆ）は上記シグナルの
エラー信号をそれぞれ示す図である。 ３……記録媒体 5,6……レーザスポット
る情報記録媒体を示す断面図、第２図は上記記録媒体に
照射する単一レーザ光の波形を示す図、第３図（ａ）〜
（ｅ）はクロックで取り出した高パワーレーザ光の反射
光シグナル、（ｆ）〜（ｊ）は上記シグナルのエラー信
号をそれぞれ示す図、第４図（ａ）〜（ｅ）はそれぞれ
安定なエラー信号を得る方法を示す図、第５図（ａ）〜
（ｄ）はクロックで取り出した高パワーレーザ光の反射
光シグナルをそれぞれ示す図、第６図（ａ）〜（ｅ）は
それぞれ安定なエラー信号を得る方法を示す図、第７図
（ａ）〜（ｃ）はクロックで取り出した低パワーレーザ
光の反射光シグナル、（ｄ）〜（ｆ）は上記シグナルの
エラー信号をそれぞれ示す図である。 ３……記録媒体 5,6……レーザスポット
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 太田 憲雄 国分寺市東恋ヶ窪１丁目280番地 株式 会社日立製作所中央研究所内 (72)発明者 角田 義人 国分寺市東恋ヶ窪１丁目280番地 株式 会社日立製作所中央研究所内 (72)発明者 賀来 敏光 国分寺市東恋ヶ窪１丁目280番地 株式 会社日立製作所中央研究所内 (72)発明者 安藤 圭吉 国分寺市東恋ヶ窪１丁目280番地 株式 会社日立製作所中央研究所内 (56)参考文献 特開 昭53−6516（ＪＰ，Ａ) 特開 昭59−58633（ＪＰ，Ａ)
Claims (1)
- 【請求項１】照射パワーレベルを少なくとも消去レベル
と記録レベルの間で変化させた単一のレーザ光を記録媒
体に照射し、情報の記録および消去を行う情報の記録お
よび消去方法において、上記記録媒体からの反射光の再
生信号波形を形成し、上記再生信号波形をクロックのタ
イミングに基づいて分割し、該分割した再生信号波形か
ら、上記レーザ光の記録レベルおよび消去レベルのそれ
ぞれの照射時における再生信号波形をそれぞれ取り出
し、取り出した再生信号波形を別々に評価し、記録およ
び消去をそれぞれ確認することを特徴とする情報の記録
および消去方法。
Priority Applications (7)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP62014161A JP2571776B2 (ja) | 1987-01-26 | 1987-01-26 | 情報の記録および消去方法 |
| KR1019880000459A KR910003039B1 (ko) | 1987-01-26 | 1988-01-22 | 정보의 기록 재생 방법 |
| DE3851239T DE3851239T2 (de) | 1987-01-26 | 1988-01-26 | Informationsaufnahme- und -wiedergabemethode. |
| EP88101099A EP0276808B1 (en) | 1987-01-26 | 1988-01-26 | Method of recording and reproducing information |
| CN 90103304 CN1017841B (zh) | 1987-01-26 | 1988-01-26 | 记录和再现信息的方法 |
| CN88100345A CN88100345A (zh) | 1987-01-26 | 1988-01-26 | 记录和再现信息的方法 |
| US07/634,049 US5404348A (en) | 1987-01-26 | 1990-12-26 | Method for recording and reproducing information using at least two energy beams |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP62014161A JP2571776B2 (ja) | 1987-01-26 | 1987-01-26 | 情報の記録および消去方法 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS63183624A JPS63183624A (ja) | 1988-07-29 |
| JP2571776B2 true JP2571776B2 (ja) | 1997-01-16 |
Family
ID=11853423
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP62014161A Expired - Fee Related JP2571776B2 (ja) | 1987-01-26 | 1987-01-26 | 情報の記録および消去方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2571776B2 (ja) |
Families Citing this family (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US4924436A (en) * | 1987-06-22 | 1990-05-08 | Energy Conversion Devices, Inc. | Data storage device having a phase change memory medium reversible by direct overwrite and method of direct overwrite |
| JP2638149B2 (ja) * | 1988-10-21 | 1997-08-06 | 松下電器産業株式会社 | 光学的情報記録消去方法 |
| EP0829867B1 (en) | 1996-09-13 | 2001-03-21 | Nec Corporation | Phase-change type optical recording medium and method of optically recording with the same |
Family Cites Families (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS536516A (en) * | 1976-07-08 | 1978-01-21 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | Optical recording and reproducing unit |
| JPS5958633A (ja) * | 1982-09-29 | 1984-04-04 | Hitachi Ltd | 光デイスク装置 |
-
1987
- 1987-01-26 JP JP62014161A patent/JP2571776B2/ja not_active Expired - Fee Related
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS63183624A (ja) | 1988-07-29 |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |