JP2573473Y2 - 多芯光ファイバ試験装置 - Google Patents
多芯光ファイバ試験装置Info
- Publication number
- JP2573473Y2 JP2573473Y2 JP1991092113U JP9211391U JP2573473Y2 JP 2573473 Y2 JP2573473 Y2 JP 2573473Y2 JP 1991092113 U JP1991092113 U JP 1991092113U JP 9211391 U JP9211391 U JP 9211391U JP 2573473 Y2 JP2573473 Y2 JP 2573473Y2
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- JP
- Japan
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- optical fiber
- test
- light
- frequency
- core optical
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- Testing Of Optical Devices Or Fibers (AREA)
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】この考案は多芯化された光ファイ
バケーブルの各光ファイバの伝送損失を測定する多芯光
ファイバ試験装置に関する。
バケーブルの各光ファイバの伝送損失を測定する多芯光
ファイバ試験装置に関する。
【０００２】
【従来の技術】例えば図４に示すように複数本の光ファ
イバ１が可撓性樹脂材２によってモールドされて並設さ
れた偏平な多芯光ファイバケーブル２０がある。このよ
うな多芯化された光ファイバケーブル２０は、その製造
時或は実用に供する前に各光ファイバ１が正常に光を伝
送する状態でモールドされているか否かを試験する必要
がある。
イバ１が可撓性樹脂材２によってモールドされて並設さ
れた偏平な多芯光ファイバケーブル２０がある。このよ
うな多芯化された光ファイバケーブル２０は、その製造
時或は実用に供する前に各光ファイバ１が正常に光を伝
送する状態でモールドされているか否かを試験する必要
がある。
【０００３】図５に従来の多芯光ファイバケーブルの試
験装置の概要を示す。図中１０Ａ〜１０Ｄは光源を示
す。この例では被試験光ファイバケーブル２０が４芯の
光ファイバケーブルの場合を示す。光源１０Ａ〜１０Ｄ
から結合用光ファイバ１１が導出され、結合用光ファイ
バ１１を試験しようとする多芯光ファイバケーブル２０
の各光ファイバ１に結合し、試験用の光を与える。
験装置の概要を示す。図中１０Ａ〜１０Ｄは光源を示
す。この例では被試験光ファイバケーブル２０が４芯の
光ファイバケーブルの場合を示す。光源１０Ａ〜１０Ｄ
から結合用光ファイバ１１が導出され、結合用光ファイ
バ１１を試験しようとする多芯光ファイバケーブル２０
の各光ファイバ１に結合し、試験用の光を与える。
【０００４】各光源１０Ａ〜１０Ｄは試験中の光ファイ
バには例えば２７０Ｈｚ程度の周波数で断続する光を与
え、他の非試験中の光ファイバには直流光を与える。こ
のようにして常時光源１０Ａ〜１０Ｄを点灯状態に維持
し、どの光源を測定状態に切換えても短時間に安定発光
状態に収斂するようにしている。光ファイバケーブル２
０の他端側には光センサ３０が結合される。光センサ３
０は４芯の光ファイバの全てに対して共通に光結合さ
れ、直流光を含む断続光を受光し、その電気信号を光パ
ワー測定器４０に与え、断続光のみの光エネルギを測定
し、各光ファイバ１の伝送損失を測定する。
バには例えば２７０Ｈｚ程度の周波数で断続する光を与
え、他の非試験中の光ファイバには直流光を与える。こ
のようにして常時光源１０Ａ〜１０Ｄを点灯状態に維持
し、どの光源を測定状態に切換えても短時間に安定発光
状態に収斂するようにしている。光ファイバケーブル２
０の他端側には光センサ３０が結合される。光センサ３
０は４芯の光ファイバの全てに対して共通に光結合さ
れ、直流光を含む断続光を受光し、その電気信号を光パ
ワー測定器４０に与え、断続光のみの光エネルギを測定
し、各光ファイバ１の伝送損失を測定する。
【０００５】図６に光パワー測定器４０の内部構造を示
す。３０は光センサを示す。光センサ３０には直流光を
含む断続光が与えられ、その光エネルギに比例した電流
Ｉを出力する。光センサ３０が出力する電流Ｉは電流−
電圧変換器４１で電圧信号に変換され、この電圧信号が
コンデンサ４２で直流分を除去し、直流分が除去された
断続信号がバンドパスフィルタ４３に入力され、バンド
パスフィルタ４３で２７０Ｈｚを中心とするバントパス
特性で濾波され、正弦波信号を得る。この正弦波信号は
ＡＣ／ＤＣ変換回路４４で両波整流され、その両波整流
された脈流をローパスフィルタ４５で平滑し、その平滑
出力を例えばＡＤ変換器４６に入力し、ＡＤ変換して数
値表示器等に与え、断続光の光パワー値を表示する。
す。３０は光センサを示す。光センサ３０には直流光を
含む断続光が与えられ、その光エネルギに比例した電流
Ｉを出力する。光センサ３０が出力する電流Ｉは電流−
電圧変換器４１で電圧信号に変換され、この電圧信号が
コンデンサ４２で直流分を除去し、直流分が除去された
断続信号がバンドパスフィルタ４３に入力され、バンド
パスフィルタ４３で２７０Ｈｚを中心とするバントパス
特性で濾波され、正弦波信号を得る。この正弦波信号は
ＡＣ／ＤＣ変換回路４４で両波整流され、その両波整流
された脈流をローパスフィルタ４５で平滑し、その平滑
出力を例えばＡＤ変換器４６に入力し、ＡＤ変換して数
値表示器等に与え、断続光の光パワー値を表示する。
【０００６】
【考案が解決しようとする課題】図５及び図６に示した
従来の多芯光ファイバ試験装置は、上述したように非試
験状態にあるチャンネルの光源は直流点灯されており、
直流点灯状態から試験中は図７に示すようにその直流電
流ＩDCをオン、オフして断続点灯させている。このため
非試験状態から試験状態に切換わった直後に平均電流Ｉ
0 が１／２になる。このために光源１０Ａ〜１０Ｄのそ
れぞれでは熱的バランスがくずれ光パワーが変動する。
光パワーが断続電流ＩON-OFFに対応した値に安定する
（熱平衡状態に達する）までに数分程度の時間が掛る。
光パワーが変動している最中に試験を行なうと安定なデ
ータが得られないから、従来は試験チャンネルを切換る
都度、数分ずつ待ち時間が必要となり、試験を短時間に
済ませることができない欠点がある。
従来の多芯光ファイバ試験装置は、上述したように非試
験状態にあるチャンネルの光源は直流点灯されており、
直流点灯状態から試験中は図７に示すようにその直流電
流ＩDCをオン、オフして断続点灯させている。このため
非試験状態から試験状態に切換わった直後に平均電流Ｉ
0 が１／２になる。このために光源１０Ａ〜１０Ｄのそ
れぞれでは熱的バランスがくずれ光パワーが変動する。
光パワーが断続電流ＩON-OFFに対応した値に安定する
（熱平衡状態に達する）までに数分程度の時間が掛る。
光パワーが変動している最中に試験を行なうと安定なデ
ータが得られないから、従来は試験チャンネルを切換る
都度、数分ずつ待ち時間が必要となり、試験を短時間に
済ませることができない欠点がある。
【０００７】この欠点を解消する一つの方法として全て
の光源を常時異なる周波数で断続点灯させ、光パワー測
定器側で各周波数の信号をフィルタによって選別し、選
別して取出した信号のレベルを測定して光パワーを測定
する方法が提案されている。然し乍らこのように構成し
た場合は断続点灯用の周波数の割当に制限があるため、
多チャンネル化はむずかしい。つまり光源となるＬＥＤ
は断続点灯に応答できる周波数に上限があるため、限ら
れた帯域内で割当ることができるチャンネル数にも制限
を受けるからである。
の光源を常時異なる周波数で断続点灯させ、光パワー測
定器側で各周波数の信号をフィルタによって選別し、選
別して取出した信号のレベルを測定して光パワーを測定
する方法が提案されている。然し乍らこのように構成し
た場合は断続点灯用の周波数の割当に制限があるため、
多チャンネル化はむずかしい。つまり光源となるＬＥＤ
は断続点灯に応答できる周波数に上限があるため、限ら
れた帯域内で割当ることができるチャンネル数にも制限
を受けるからである。
【０００８】また、光パワー測定器では各チャンネル毎
にフィルタを用意しなければならないから、多チャンネ
ル化した場合、その構成は複雑になる欠点もある。この
考案の目的は試験チャンネルの切換時に待ち時間が必要
なく、然も多チャンネル化（数１０チャンネル）も容易
に達することができる多芯光ファイバ試験装置を提案す
るものである。
にフィルタを用意しなければならないから、多チャンネ
ル化した場合、その構成は複雑になる欠点もある。この
考案の目的は試験チャンネルの切換時に待ち時間が必要
なく、然も多チャンネル化（数１０チャンネル）も容易
に達することができる多芯光ファイバ試験装置を提案す
るものである。
【０００９】
【課題を解決するための手段】この考案では非試験状態
にあるチャンネルの全てを試験中のチャンネルの周波数
と異なる一つの周波数で断続点灯させる。この断続点灯
によって非試験状態にあるチャンネルの光源に試験中の
断続点灯と同等の平均電流を与えることができる。
にあるチャンネルの全てを試験中のチャンネルの周波数
と異なる一つの周波数で断続点灯させる。この断続点灯
によって非試験状態にあるチャンネルの光源に試験中の
断続点灯と同等の平均電流を与えることができる。
【００１０】従ってこの考案によれば光パワー測定器側
では常に試験用の断続点灯周波数の信号だけを測定対象
とすればよいから、１個のフィルタを設ければよい。従
って多チャンネル化しても構成を簡素にすることができ
る。また非試験状態にあるチャンネルの光源は全て、試
験用の断続周波数とは異なる非試験用の同一周波数で断
続点灯させればよいから、光源となる例えばＬＥＤの応
答周波数範囲内に二つの周波数を設定すればよく、多チ
ャンネル化を容易に達することができる。
では常に試験用の断続点灯周波数の信号だけを測定対象
とすればよいから、１個のフィルタを設ければよい。従
って多チャンネル化しても構成を簡素にすることができ
る。また非試験状態にあるチャンネルの光源は全て、試
験用の断続周波数とは異なる非試験用の同一周波数で断
続点灯させればよいから、光源となる例えばＬＥＤの応
答周波数範囲内に二つの周波数を設定すればよく、多チ
ャンネル化を容易に達することができる。
【００１１】
【実施例】図１及び図２にこの考案の一実施例を示す。
この考案では光源１０Ａ〜１０Ｄのそれぞれに断続点灯
周波数を切換る切換手段１２Ａ〜１２Ｄを付加する。こ
の切換手段１２Ａ〜１２Ｄの形態としては光源１０Ａ〜
１０Ｄの全てに断続点灯周波数を発生する発振器を内蔵
した場合と、発振器を外部に共通化して設けた場合の二
つの形態が考えられる。
この考案では光源１０Ａ〜１０Ｄのそれぞれに断続点灯
周波数を切換る切換手段１２Ａ〜１２Ｄを付加する。こ
の切換手段１２Ａ〜１２Ｄの形態としては光源１０Ａ〜
１０Ｄの全てに断続点灯周波数を発生する発振器を内蔵
した場合と、発振器を外部に共通化して設けた場合の二
つの形態が考えられる。
【００１２】光源１０Ａ〜１０Ｄの全てに発振器を内蔵
させた場合は、各発振器に発振周波数切換手段を付加
し、この発振周波数切換手段を制御して各チャンネルの
光源１０Ａ〜１０Ｄに設けた発振器の発振周波数を切換
制御するように構成することができる。また発振器を外
部に共通化して設ける場合は試験用断続点灯周波数を発
振する発振器と、非試験用断続点灯周波数を発振する発
振器とを設け、これら２つの発振器の発振信号を各光源
１０Ａ〜１０Ｄに与え、各光源１０Ａ〜１０Ｄではゲー
ト回路等により必要な周波数の信号だけを取込み、その
信号によって光源１０Ａ〜１０Ｄを断続点灯させるよう
に構成することができる。従って発振器を外部に設けた
場合はゲート回路が周波数切換手段を構成することにな
る。
させた場合は、各発振器に発振周波数切換手段を付加
し、この発振周波数切換手段を制御して各チャンネルの
光源１０Ａ〜１０Ｄに設けた発振器の発振周波数を切換
制御するように構成することができる。また発振器を外
部に共通化して設ける場合は試験用断続点灯周波数を発
振する発振器と、非試験用断続点灯周波数を発振する発
振器とを設け、これら２つの発振器の発振信号を各光源
１０Ａ〜１０Ｄに与え、各光源１０Ａ〜１０Ｄではゲー
ト回路等により必要な周波数の信号だけを取込み、その
信号によって光源１０Ａ〜１０Ｄを断続点灯させるよう
に構成することができる。従って発振器を外部に設けた
場合はゲート回路が周波数切換手段を構成することにな
る。
【００１３】図１の実施例では光源１０Ａ〜１０Ｄの外
部に２つの発振器１３及び１４を設け、この２つの発振
器１３と１４で試験用断続周波数の信号Ｓ1 と非試験用
断続周波数の信号Ｓ2 とを発振させ、この２つの信号Ｓ
1 とＳ2 を各光源１０Ａ〜１０Ｄに与え、各光源１０Ａ
〜１０Ｄではその２つの信号Ｓ1 とＳ2 の何れか一方を
周波数切換手段１２Ａ〜１２Ｄで選択して取込むように
構成した場合を示す。
部に２つの発振器１３及び１４を設け、この２つの発振
器１３と１４で試験用断続周波数の信号Ｓ1 と非試験用
断続周波数の信号Ｓ2 とを発振させ、この２つの信号Ｓ
1 とＳ2 を各光源１０Ａ〜１０Ｄに与え、各光源１０Ａ
〜１０Ｄではその２つの信号Ｓ1 とＳ2 の何れか一方を
周波数切換手段１２Ａ〜１２Ｄで選択して取込むように
構成した場合を示す。
【００１４】周波数切換手段１２Ａ〜１２Ｄはコントロ
ーラ１５によって制御され、何れか一つのチャンネルが
発振器１３から出力される試験用断続周波数の信号Ｓ1
を選択し、他のチャンネルは非試験用断続周波数の信号
Ｓ2 を選択する。周波数切換手段１２Ａ〜１２Ｄで選択
された信号Ｓ1 及びＳ2 はそれぞれ断続回路１６Ａ〜１
６Ｄに与えられ、この信号の周波数でＬＥＤのような発
光素子１７Ａ〜１７Ｄを断続発光させる。発光素子１７
Ａ〜１７Ｄには結合用光ファイバ１１が光結合され、こ
の結合用光ファイバ１１が試験しようとする多芯光ファ
イバケーブル２０の各光ファイバに連結され、多芯光フ
ァイバケーブル２０の各光ファイバに断続光が与えられ
る。
ーラ１５によって制御され、何れか一つのチャンネルが
発振器１３から出力される試験用断続周波数の信号Ｓ1
を選択し、他のチャンネルは非試験用断続周波数の信号
Ｓ2 を選択する。周波数切換手段１２Ａ〜１２Ｄで選択
された信号Ｓ1 及びＳ2 はそれぞれ断続回路１６Ａ〜１
６Ｄに与えられ、この信号の周波数でＬＥＤのような発
光素子１７Ａ〜１７Ｄを断続発光させる。発光素子１７
Ａ〜１７Ｄには結合用光ファイバ１１が光結合され、こ
の結合用光ファイバ１１が試験しようとする多芯光ファ
イバケーブル２０の各光ファイバに連結され、多芯光フ
ァイバケーブル２０の各光ファイバに断続光が与えられ
る。
【００１５】多芯光ファイバケーブル２０の他端側には
各光ファイバ１（図４参照）に共通に光結合した光セン
サ３０が設けられ、この光センサ３０で受光される光の
パワーに比例した電流に変換する。光センサ３０から出
力される電流信号は光パワー測定器４０に入力される。
光パワー測定器４０は図２に示すように構成することが
できる。光センサ３０が出力する電流信号は電流−電圧
変換器４１で電圧信号に変換される。この電圧信号はコ
ンデンサ４２で直流分を除去されバンドパスフィルタ４
３で試験用断続信号Ｓ1 だけを濾波しＡＣ／ＤＣ変換器
４４で両波整流され脈流を得る。この脈流はローパスフ
ィルタ４５で濾波され、安定した直流信号に変換する。
ローパスフィルタ４５で濾波した直流信号は必要に応じ
てＡＤ変換器４６に入力され、ＡＤ変換して数値表示器
等に入力される。
各光ファイバ１（図４参照）に共通に光結合した光セン
サ３０が設けられ、この光センサ３０で受光される光の
パワーに比例した電流に変換する。光センサ３０から出
力される電流信号は光パワー測定器４０に入力される。
光パワー測定器４０は図２に示すように構成することが
できる。光センサ３０が出力する電流信号は電流−電圧
変換器４１で電圧信号に変換される。この電圧信号はコ
ンデンサ４２で直流分を除去されバンドパスフィルタ４
３で試験用断続信号Ｓ1 だけを濾波しＡＣ／ＤＣ変換器
４４で両波整流され脈流を得る。この脈流はローパスフ
ィルタ４５で濾波され、安定した直流信号に変換する。
ローパスフィルタ４５で濾波した直流信号は必要に応じ
てＡＤ変換器４６に入力され、ＡＤ変換して数値表示器
等に入力される。
【００１６】試験用断続光の周波数ｆO は例えばｆO ＝
２７０Ｈｚ、デュティ５０％、非試験用断続光の周波数
ｆM をｆM ＝１０００Ｈｚ、デュティ５０％に選定する
ことができる。従ってバンドパスフィルタ４３には２７
０Ｈｚを通過させるバンドパス特性が与えられる。この
バンドパスフィルタ４３のバンドパス特性によって非試
験用断続周波数ｆM を持つ信号Ｓ2 は除去される。
２７０Ｈｚ、デュティ５０％、非試験用断続光の周波数
ｆM をｆM ＝１０００Ｈｚ、デュティ５０％に選定する
ことができる。従ってバンドパスフィルタ４３には２７
０Ｈｚを通過させるバンドパス特性が与えられる。この
バンドパスフィルタ４３のバンドパス特性によって非試
験用断続周波数ｆM を持つ信号Ｓ2 は除去される。
【００１７】１本の光ファイバの伝送損失を試験する
と、信号Ｓ1 を選択するチャンネルをずらし、順次１本
ずつ多芯光ファイバケーブル２０の各光ファイバ１の伝
送損失が試験される。
と、信号Ｓ1 を選択するチャンネルをずらし、順次１本
ずつ多芯光ファイバケーブル２０の各光ファイバ１の伝
送損失が試験される。
【００１８】
【考案の効果】以上説明したように、この考案によれば
非試験中のチャンネルの発光素子も試験用断続周波数と
は異なる周波数のデュティ５０％の信号で断続発光させ
たから、図３に示すように非試験状態から試験状態に切
換ても信号Ｓ1 及びＳ2 のデュティが共に等しい例えば
５０％に設定されていれば平均電流ＩO は変化しない。
従って試験チャンネルを切換えても発光素子１７Ａ〜１
７Ｄに与えられる駆動電流の平均値は変動せず、発光素
子１７Ａ〜１７Ｄの熱平衡が保たれるため発光する光の
パワーは一定値に維持される。
非試験中のチャンネルの発光素子も試験用断続周波数と
は異なる周波数のデュティ５０％の信号で断続発光させ
たから、図３に示すように非試験状態から試験状態に切
換ても信号Ｓ1 及びＳ2 のデュティが共に等しい例えば
５０％に設定されていれば平均電流ＩO は変化しない。
従って試験チャンネルを切換えても発光素子１７Ａ〜１
７Ｄに与えられる駆動電流の平均値は変動せず、発光素
子１７Ａ〜１７Ｄの熱平衡が保たれるため発光する光の
パワーは一定値に維持される。
【００１９】この結果試験チャンネルを切換えた直後で
も直ちに試験を行なうことができ、待ち時間を設ける必
要がなく、試験を連続して行なうことができ短時間に多
芯光ファイバケーブルを試験することができる。またこ
の考案によれば非試験状態にあるチャンネルには全て同
一周波数の信号Ｓ2 を与えたからチャンネル数に関係な
く使用する周波数は２つだけでよい。よってチャンネル
数に制限はなく、多チャンネル化を容易に達することが
できる。
も直ちに試験を行なうことができ、待ち時間を設ける必
要がなく、試験を連続して行なうことができ短時間に多
芯光ファイバケーブルを試験することができる。またこ
の考案によれば非試験状態にあるチャンネルには全て同
一周波数の信号Ｓ2 を与えたからチャンネル数に関係な
く使用する周波数は２つだけでよい。よってチャンネル
数に制限はなく、多チャンネル化を容易に達することが
できる。
【００２０】また試験用周波数ｆO を一つで済ませる構
成としたから、光パワー測定器４０にはチャンネル数に
関係なく一つのバンドパスフィルタ４３を設けるだけで
よい。よって多チャンネル化しても光パワー測定器４０
の構成及び規模が大きくなるような不都合を生じること
がない。尚、上述の実施例では信号Ｓ1 の周波数ｆO を
２７０Ｈｚ、信号Ｓ2 の周波数ｆM を１０００Ｈｚとし
た場合を説明したが必ずしもこの周波数に限られるもの
でない。また高調波の関係を避ければｆM をｆO より低
い周波数に選定することもできる。
成としたから、光パワー測定器４０にはチャンネル数に
関係なく一つのバンドパスフィルタ４３を設けるだけで
よい。よって多チャンネル化しても光パワー測定器４０
の構成及び規模が大きくなるような不都合を生じること
がない。尚、上述の実施例では信号Ｓ1 の周波数ｆO を
２７０Ｈｚ、信号Ｓ2 の周波数ｆM を１０００Ｈｚとし
た場合を説明したが必ずしもこの周波数に限られるもの
でない。また高調波の関係を避ければｆM をｆO より低
い周波数に選定することもできる。
【図１】この考案の一実施例を示すブロック図。
【図２】この考案の多芯光ファイバ試験装置に用いる光
パワー測定器の一例を示すブロック図。
パワー測定器の一例を示すブロック図。
【図３】この考案の動作を説明するための波形図。
【図４】多芯光ファイバケーブルの一例を説明するため
の断面図。
の断面図。
【図５】従来の技術を説明するためのブロック図。
【図６】図５と同様のブロック図。
【図７】従来の技術の不都合を説明するための波形図。
１ 光ファイバ ２ モールド １０Ａ〜１０Ｄ 光源 １１ 結合用光ファイバ １２Ａ〜１２Ｄ 周波数切換手段 １３，１４ 発振器 １５ コントローラ １６Ａ〜１６Ｄ 断続回路 １７Ａ〜１７Ｄ 発光素子 ２０ 多芯光ファイバケーブル ３０ 光センサ ４０ 光パワー測定器
Claims (1)
- 【請求項１】 多芯の光ファイバケーブルの各光ファイ
バに光を入射し、各光ファイバを透過した光を受光器で
受光し、各光ファイバを透過した光のエネルギを光パワ
ー測定器によって測定し、各光ファイバにおける光の伝
送損失を測定する多芯光ファイバ試験装置において、 各光ファイバに光を与える光源に試験用周波数で断続点
灯させる状態と、この試験用周波数と異なる周波数の非
試験用周波数で断続点灯させる状態とに切換る切換手段
を設け、多芯光ファイバケーブルの１つの光ファイバに
だけ試験用周波数で断続点灯する光を与え、他の光ファ
イバには非試験用周波数で断続点灯する光を与え、試験
中及び非試験中の何れの状態でも光源に与えられる駆動
電流の平均値を均一化するように構成して成る多芯光フ
ァイバ試験装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1991092113U JP2573473Y2 (ja) | 1991-11-12 | 1991-11-12 | 多芯光ファイバ試験装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1991092113U JP2573473Y2 (ja) | 1991-11-12 | 1991-11-12 | 多芯光ファイバ試験装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0543045U JPH0543045U (ja) | 1993-06-11 |
| JP2573473Y2 true JP2573473Y2 (ja) | 1998-05-28 |
Family
ID=14045381
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP1991092113U Expired - Lifetime JP2573473Y2 (ja) | 1991-11-12 | 1991-11-12 | 多芯光ファイバ試験装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2573473Y2 (ja) |
-
1991
- 1991-11-12 JP JP1991092113U patent/JP2573473Y2/ja not_active Expired - Lifetime
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH0543045U (ja) | 1993-06-11 |
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