JP2656859B2 - 光学イメージングシステムの等化方法 - Google Patents
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Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明はマルチチャネル光学イメ
ージングシステムに関し、特に前記システムの光学チャ
ネルを動的に等化するための方法に関する。
ージングシステムに関し、特に前記システムの光学チャ
ネルを動的に等化するための方法に関する。
【０００２】
【従来の技術】本明細書においていう「マルチチャネル
光学イメージングシステム」とは、感光性記録媒体上に
画像を書き込むため、複数の空間的に平行な光学チャネ
ルを有し、同様数のほぼ独立に変調される光学的刺激を
与えるようになっているシステムである。この定義に相
応する光学イメージバー及びマルチポットレーザスキャ
ナが従来から知られている。前記定義に相応するものと
しては、また、複数の個別光学記録ビームを有するイメ
ージングシステム、及び、単一ビームが空間的に変調さ
れて複数のほぼ平行な光学的刺激を提供するという形式
のシステムがある。
光学イメージングシステム」とは、感光性記録媒体上に
画像を書き込むため、複数の空間的に平行な光学チャネ
ルを有し、同様数のほぼ独立に変調される光学的刺激を
与えるようになっているシステムである。この定義に相
応する光学イメージバー及びマルチポットレーザスキャ
ナが従来から知られている。前記定義に相応するものと
しては、また、複数の個別光学記録ビームを有するイメ
ージングシステム、及び、単一ビームが空間的に変調さ
れて複数のほぼ平行な光学的刺激を提供するという形式
のシステムがある。
【０００３】マルチチャネル光学イメージングシステム
の平行度は、特に高速印書に対して、興味ある問題であ
る。一般に、イメージバーは、ラインプリンティング及
び類似の用途のため、その光学チャネルが画像平面にお
いて接線方向に（即ち、イメージングフィールドに対し
て横断方向に）互いに空間的に変位するように方向付け
される。他方、マルチスポットラスタ出力スキャナ（Ｒ
ＯＳ）は、一般に、その光学チャネルが画像平面におい
てサジタル方向（「プロセス」方向と呼ばれる場合もあ
る）に互いにずれるように方向付けされる。マルチスポ
ットＲＯＳは、通例、少数のチャネルしか有していない
が、光学イメージバーは多数のチャネルを有する場合が
多い。
の平行度は、特に高速印書に対して、興味ある問題であ
る。一般に、イメージバーは、ラインプリンティング及
び類似の用途のため、その光学チャネルが画像平面にお
いて接線方向に（即ち、イメージングフィールドに対し
て横断方向に）互いに空間的に変位するように方向付け
される。他方、マルチスポットラスタ出力スキャナ（Ｒ
ＯＳ）は、一般に、その光学チャネルが画像平面におい
てサジタル方向（「プロセス」方向と呼ばれる場合もあ
る）に互いにずれるように方向付けされる。マルチスポ
ットＲＯＳは、通例、少数のチャネルしか有していない
が、光学イメージバーは多数のチャネルを有する場合が
多い。
【０００４】機能的及び構造的に異なっていても、大部
分のマルチチャネル光学イメージングシステムは、その
チャネルが光学的に良好に平行しているときに最良にす
る。かかるイメージングシステムのチャネルの名目（即
ち、未変調）光学的照度または光学的伝達特性間に意図
しない有意の差異があると、これは、例えば縞のよう
な、不所望なイメージング欠陥の発生源となる可能性が
ある。ところが、例えば、通例ある電気的及び光学的ド
リフト、ならびに、塵埃及び他の環境的汚染物の通常の
堆積のような種々の因子のために、イメージングシステ
ムのチャネル平衡が時間の関数として乱されやすい。
「マルチチャネル光学イメージングシステム」（Dynami
c Equalization of Multichannel Optical Imaging Sys
tems) なる係属中の米国特許出願第454,564 号（１９８
９年出願）には、この問題に対する一般的解決法が記載
されているが、かかるイメージングシステムの光学チャ
ネル間に有意且つ不可避の光学的クロストークがある場
合に生ずる付随問題に対処し、１つのチャネルまたは一
群のチャネルの名目光学出力強度に対して行なう調節が
その隣のものの名目光学出力強度に作用するようにす
る、ということについての説明はない。
分のマルチチャネル光学イメージングシステムは、その
チャネルが光学的に良好に平行しているときに最良にす
る。かかるイメージングシステムのチャネルの名目（即
ち、未変調）光学的照度または光学的伝達特性間に意図
しない有意の差異があると、これは、例えば縞のよう
な、不所望なイメージング欠陥の発生源となる可能性が
ある。ところが、例えば、通例ある電気的及び光学的ド
リフト、ならびに、塵埃及び他の環境的汚染物の通常の
堆積のような種々の因子のために、イメージングシステ
ムのチャネル平衡が時間の関数として乱されやすい。
「マルチチャネル光学イメージングシステム」（Dynami
c Equalization of Multichannel Optical Imaging Sys
tems) なる係属中の米国特許出願第454,564 号（１９８
９年出願）には、この問題に対する一般的解決法が記載
されているが、かかるイメージングシステムの光学チャ
ネル間に有意且つ不可避の光学的クロストークがある場
合に生ずる付随問題に対処し、１つのチャネルまたは一
群のチャネルの名目光学出力強度に対して行なう調節が
その隣のものの名目光学出力強度に作用するようにす
る、ということについての説明はない。
【０００５】
【発明が解決しようとする課題】本発明は、前記従来の
問題を解決するため、マルチチャネル光学イメージング
システムの光学チャネルを動的に等化するための補正計
数を、個別にまたは１群ずつ（以下、まとめて「１セッ
トずつ」という）、イメージングシステムが作動してい
ない間に（即ち、印字していないときに）、反復的に計
算する方法を提供することを目的とする。
問題を解決するため、マルチチャネル光学イメージング
システムの光学チャネルを動的に等化するための補正計
数を、個別にまたは１群ずつ（以下、まとめて「１セッ
トずつ」という）、イメージングシステムが作動してい
ない間に（即ち、印字していないときに）、反復的に計
算する方法を提供することを目的とする。
【０００６】
【課題を解決するための手段】本発明の複数の並列チャ
ネルを有する光学イメージングシステムを等化するため
の方法は、前記複数の並列チャネルの出力強度を、該出
力強度への等化補正の適用前及び適用後に、繰り返し測
定して、前補正強度測定値及び後補正強度測定値を提供
する段階であって、前記測定が１測定当たりｎチャネル
の解像度で行われる（ここに、ｎ＝１、２、．．．Ｎ／
２であり、Ｎは前記光学イメージングシステムに含まれ
るチャネル数）段階と、前記前補正強度測定値を平均
し、得られた平均値の所定のパーセンテージの値に、し
きい値を確立する段階と、前記前補正強度測定値の内、
前記しきい値に等しいものか、又は他の前補正強度測定
値のいずれよりも大きくない量だけ前記しきい値より大
きいものを選択して、基準値を確立する段階と、ｎチャ
ネルの各セットに別々の等化係数を適用して前記チャネ
ルを１セットずつ等化する段階と、全ての等化可能なチ
ャネルのセットに対する補正係数を前記基準値に対する
その出力強度に基づいて反復調整する段階とを有する。
かかる本発明によれば、チャネルの相隣るセット間に有
意値の光学的クロストークが存在しても、前記チャネル
のそれぞれの等化可能セットの出力強度が前記基準値と
平衡させられる。
ネルを有する光学イメージングシステムを等化するため
の方法は、前記複数の並列チャネルの出力強度を、該出
力強度への等化補正の適用前及び適用後に、繰り返し測
定して、前補正強度測定値及び後補正強度測定値を提供
する段階であって、前記測定が１測定当たりｎチャネル
の解像度で行われる（ここに、ｎ＝１、２、．．．Ｎ／
２であり、Ｎは前記光学イメージングシステムに含まれ
るチャネル数）段階と、前記前補正強度測定値を平均
し、得られた平均値の所定のパーセンテージの値に、し
きい値を確立する段階と、前記前補正強度測定値の内、
前記しきい値に等しいものか、又は他の前補正強度測定
値のいずれよりも大きくない量だけ前記しきい値より大
きいものを選択して、基準値を確立する段階と、ｎチャ
ネルの各セットに別々の等化係数を適用して前記チャネ
ルを１セットずつ等化する段階と、全ての等化可能なチ
ャネルのセットに対する補正係数を前記基準値に対する
その出力強度に基づいて反復調整する段階とを有する。
かかる本発明によれば、チャネルの相隣るセット間に有
意値の光学的クロストークが存在しても、前記チャネル
のそれぞれの等化可能セットの出力強度が前記基準値と
平衡させられる。
【０００７】本発明の他の特徴及び利点は、図面を参照
して行なう以下の詳細な説明から明らかになる。
して行なう以下の詳細な説明から明らかになる。
【０００８】
【実施例】図面について説明すると、図１に示す光学イ
メージングシステム１１は複数のほぼ平行な光学チャネ
ル１２ａ〜１２ｉを具備しており、前記チャネルは個別
にアクセス可能な光学画素ジェネレータ１３ａ〜１３ｉ
をそれぞれ有し、感光性記録媒体１４上に画像を印字す
るようになっている。通例の方法に従い、印字は、入力
データサンプルに従って画素ジェネレータ１３ａ〜１３
ｉの出力強度をほぼ独立に変調することによって行なわ
れる。電気的変調は若干の形式の画素ジェネレータ１３
ａ〜１３ｉに適しており、光学的変調は他の形式の画素
ジェネレータに適している。若干のイメージングシステ
ムはその画素ジェネレータ１３ａ〜１３ｉをアナログ変
調するようになっており、他のイメージングシステムは
ディジタル（「オン／オフ」）変調を行なうように設計
されている。前述したように、画素ジェネレータ１３ａ
〜１３ｉは個別にアドレス可能な光学的変調器のアレイ
であり、前記変調器は、単一の放射源によって照明され
るか、または該変調器が、発光ダイオード（ＬＥＤ）ま
たはレーザのような、それぞれの放射線源となってお
り、該放射源は内部的または外部的に変調される。
メージングシステム１１は複数のほぼ平行な光学チャネ
ル１２ａ〜１２ｉを具備しており、前記チャネルは個別
にアクセス可能な光学画素ジェネレータ１３ａ〜１３ｉ
をそれぞれ有し、感光性記録媒体１４上に画像を印字す
るようになっている。通例の方法に従い、印字は、入力
データサンプルに従って画素ジェネレータ１３ａ〜１３
ｉの出力強度をほぼ独立に変調することによって行なわ
れる。電気的変調は若干の形式の画素ジェネレータ１３
ａ〜１３ｉに適しており、光学的変調は他の形式の画素
ジェネレータに適している。若干のイメージングシステ
ムはその画素ジェネレータ１３ａ〜１３ｉをアナログ変
調するようになっており、他のイメージングシステムは
ディジタル（「オン／オフ」）変調を行なうように設計
されている。前述したように、画素ジェネレータ１３ａ
〜１３ｉは個別にアドレス可能な光学的変調器のアレイ
であり、前記変調器は、単一の放射源によって照明され
るか、または該変調器が、発光ダイオード（ＬＥＤ）ま
たはレーザのような、それぞれの放射線源となってお
り、該放射源は内部的または外部的に変調される。
【０００９】図２に示すように、画素ジェネレータ１３
ａ〜１３ｉは、記録媒体１４の横方向に（即ち、接線方
向に）、ほぼ等しい中心間距離で分散配置された画像を
印字するようになっており、記録媒体１４は、図示して
ない手段により、矢印１５で示すように、直交の「プロ
セス」方向に進ませられる。これは、例えば、光学的ラ
インプリンティングのための従来からある構成である。
或いはまた、図３に示すように、画素ジェネレータ１３
ａ〜１３ｉは、プロセス方向に（即ち、記録媒体１４に
対してサジタル的に）互いに偏らせられる。例えば、マ
ルチスポットレーザＲＯＳは、通例、回転式多角形体１
８のようなデフレクタを具備し、矢印２０で示すように
記録媒体１４を横切ってダイオードレーザアレイ１９の
出力ビームを走査するようになっており、この間、記録
媒体１４は、矢印１５で示すように、プロセス方向に直
交的に進ませられる。このようにして、かかるスキャナ
はラスタ走査パターンに従って画像を印字する。
ａ〜１３ｉは、記録媒体１４の横方向に（即ち、接線方
向に）、ほぼ等しい中心間距離で分散配置された画像を
印字するようになっており、記録媒体１４は、図示して
ない手段により、矢印１５で示すように、直交の「プロ
セス」方向に進ませられる。これは、例えば、光学的ラ
インプリンティングのための従来からある構成である。
或いはまた、図３に示すように、画素ジェネレータ１３
ａ〜１３ｉは、プロセス方向に（即ち、記録媒体１４に
対してサジタル的に）互いに偏らせられる。例えば、マ
ルチスポットレーザＲＯＳは、通例、回転式多角形体１
８のようなデフレクタを具備し、矢印２０で示すように
記録媒体１４を横切ってダイオードレーザアレイ１９の
出力ビームを走査するようになっており、この間、記録
媒体１４は、矢印１５で示すように、プロセス方向に直
交的に進ませられる。このようにして、かかるスキャナ
はラスタ走査パターンに従って画像を印字する。
【００１０】マルチスポットレーザスキャナは、その走
査ビームの接線的及びサジタル的分離を包含するパター
ンを含むインタリーブド走査パターンを用いることがし
ばしばあるが、スキャナが使用する種々の走査パターン
の詳細についての説明は省略する。イメージバー及びマ
ルチスポットスキャナは、通例、１つまたは複数の映像
レンズ２１（図３）を有し、その画素ジェネレータ１３
ａ〜１３ｉを記録媒体１４上に映像するようになってい
る。かかるイメージングシステムの入力及び出力光学サ
ブシステムは、いずれも、通例いくつの光学要素を含ん
でいるが、その詳細についての説明は省略する。
査ビームの接線的及びサジタル的分離を包含するパター
ンを含むインタリーブド走査パターンを用いることがし
ばしばあるが、スキャナが使用する種々の走査パターン
の詳細についての説明は省略する。イメージバー及びマ
ルチスポットスキャナは、通例、１つまたは複数の映像
レンズ２１（図３）を有し、その画素ジェネレータ１３
ａ〜１３ｉを記録媒体１４上に映像するようになってい
る。かかるイメージングシステムの入力及び出力光学サ
ブシステムは、いずれも、通例いくつの光学要素を含ん
でいるが、その詳細についての説明は省略する。
【００１１】図４に示すように、光検出器２５が設けら
れ、イメージングシステム１１が作動していないときに
時折りイメージングシステム１１の光学チャネル１２ａ
〜１２ｉの出力強度を量的に測定するようになってい
る。この強度測定は、ｎチャネル／測定（ｎは１、２、
・・・N/2 の範囲から選択された整数、Ｎはイメージン
グシステム内のチャネルの総数である）の所定のサンプ
リング解像度または粒状度で次々に行なわれる。この強
度測定の結果を用いて、更新された照明及び／又は減衰
の補正係数を作る。この補正係数は、イメージングシス
テム１１のチャネル平衡を、強度測定が行なわれる解像
度によって定まる感度限界の値にリストアするのに役立
つ。チャネル再平衡化処置は、イメージングシステム１
１が作動していないときに周期的にまたは非周期的に行
なわれるが、チャネル平衡を通常の作動状態の下で許容
範囲内に保持するように十分に頻繁に行なうのが好まし
い。若干のイメージングシステムにおいては光学チャネ
ルの出力強度を１つずつ（即ち、ｎ＝１）等化すること
が必要または望ましいが、他のイメージングシステムに
おいては光学チャネルを、もっと粗く１群ずつ（即ち、
１＜ｎ≦ N/2）等化すれば十分またはより実用的であ
る。
れ、イメージングシステム１１が作動していないときに
時折りイメージングシステム１１の光学チャネル１２ａ
〜１２ｉの出力強度を量的に測定するようになってい
る。この強度測定は、ｎチャネル／測定（ｎは１、２、
・・・N/2 の範囲から選択された整数、Ｎはイメージン
グシステム内のチャネルの総数である）の所定のサンプ
リング解像度または粒状度で次々に行なわれる。この強
度測定の結果を用いて、更新された照明及び／又は減衰
の補正係数を作る。この補正係数は、イメージングシス
テム１１のチャネル平衡を、強度測定が行なわれる解像
度によって定まる感度限界の値にリストアするのに役立
つ。チャネル再平衡化処置は、イメージングシステム１
１が作動していないときに周期的にまたは非周期的に行
なわれるが、チャネル平衡を通常の作動状態の下で許容
範囲内に保持するように十分に頻繁に行なうのが好まし
い。若干のイメージングシステムにおいては光学チャネ
ルの出力強度を１つずつ（即ち、ｎ＝１）等化すること
が必要または望ましいが、他のイメージングシステムに
おいては光学チャネルを、もっと粗く１群ずつ（即ち、
１＜ｎ≦ N/2）等化すれば十分またはより実用的であ
る。
【００１２】ソレノイド作動モータ２６等が光検出器２
５に接続され、該光検出器を、画素ジェネレータ１３ａ
〜１３ｉと記録媒体１４との間の光学的サンプリング位
置に対して機械的に差し入れまたは引き出しするように
なっている。例えば、図示のように、モータ２６は、光
検出器２５を、強度測定を行なうための映像レンズ２１
の出力側におけるサンプリング位置（図４に実線で示
す）と、通常の印字のためのイメージングシステム１１
の光学チャネル１２ａ〜１２ｉから光学的に遠い記憶位
置（破線で示す）との間で、前後に移動させる。或いは
また、ビームスプリッタ（図示せず）を用い、映像レン
ズ２１によって集められた光のうちの所定部分を光検出
器２５の方へ偏らせる。或いはまた、回転式ミラー（図
示せず）を設け、映像レンズ２１によって集められた光
を、印字のために記録媒体１４へ向けて、またはチャネ
ル再平衡化のために光検出器２５へ向けて、反射的に導
く。
５に接続され、該光検出器を、画素ジェネレータ１３ａ
〜１３ｉと記録媒体１４との間の光学的サンプリング位
置に対して機械的に差し入れまたは引き出しするように
なっている。例えば、図示のように、モータ２６は、光
検出器２５を、強度測定を行なうための映像レンズ２１
の出力側におけるサンプリング位置（図４に実線で示
す）と、通常の印字のためのイメージングシステム１１
の光学チャネル１２ａ〜１２ｉから光学的に遠い記憶位
置（破線で示す）との間で、前後に移動させる。或いは
また、ビームスプリッタ（図示せず）を用い、映像レン
ズ２１によって集められた光のうちの所定部分を光検出
器２５の方へ偏らせる。或いはまた、回転式ミラー（図
示せず）を設け、映像レンズ２１によって集められた光
を、印字のために記録媒体１４へ向けて、またはチャネ
ル再平衡化のために光検出器２５へ向けて、反射的に導
く。
【００１３】好ましくは、強度測定を行なうため、チャ
ネル１２ａ〜１２ｉまたはチャネルの群の一つずつを、
先ず、「フルオン」（full-on)へ切り替えてその名目強
度値で作動させ、次いで、「フルオフ」（full-off）へ
切り替えてその「背景」（backfround) 強度値で作動さ
せる。選択されたチャネルまたはチャネルの群のフルオ
ン強度及び背景強度が測定されている間、他の全てのチ
ャネルはそのフルオフ状態に保持される。この測定が行
なわれるときの解像度ｎは、イメージングシステム１１
のＮ個の光学チャネル１２ａ〜１２ｉをN/n 個の互いに
排他的の「サンプルセット」（sample set) に効果的に
再分割する。二重位相のフルオン／フルオス強度測定サ
イクルは好ましいものである。即ち、これにより、光検
出器２５は比較的速い交流モードで動作し、サンプリン
グが比較的高い速度で行なわれるときに、該光検出器の
交流出力電圧値は、順次サンプリングされるチャネルま
たはチャネルの群のフルオン／背景強度の揺れを信頼性
をもって追跡するのである。しかし、チャネルのフルオ
ンの未補正出力強度の単位相測定を用い、ｎチャネル／
測定の任意の選択された解像度における前記チャネルの
相対的最大の未補正出力強度を測定することもできるの
であるが、このようにすると、各々の強度測定値を比較
的直流電圧値として供給するためには、光検出器２５の
直流動作モードを遅くすることが必要となる。
ネル１２ａ〜１２ｉまたはチャネルの群の一つずつを、
先ず、「フルオン」（full-on)へ切り替えてその名目強
度値で作動させ、次いで、「フルオフ」（full-off）へ
切り替えてその「背景」（backfround) 強度値で作動さ
せる。選択されたチャネルまたはチャネルの群のフルオ
ン強度及び背景強度が測定されている間、他の全てのチ
ャネルはそのフルオフ状態に保持される。この測定が行
なわれるときの解像度ｎは、イメージングシステム１１
のＮ個の光学チャネル１２ａ〜１２ｉをN/n 個の互いに
排他的の「サンプルセット」（sample set) に効果的に
再分割する。二重位相のフルオン／フルオス強度測定サ
イクルは好ましいものである。即ち、これにより、光検
出器２５は比較的速い交流モードで動作し、サンプリン
グが比較的高い速度で行なわれるときに、該光検出器の
交流出力電圧値は、順次サンプリングされるチャネルま
たはチャネルの群のフルオン／背景強度の揺れを信頼性
をもって追跡するのである。しかし、チャネルのフルオ
ンの未補正出力強度の単位相測定を用い、ｎチャネル／
測定の任意の選択された解像度における前記チャネルの
相対的最大の未補正出力強度を測定することもできるの
であるが、このようにすると、各々の強度測定値を比較
的直流電圧値として供給するためには、光検出器２５の
直流動作モードを遅くすることが必要となる。
【００１４】アナログ／ディジタル（Ａ／Ｄ）変換器２
７が光検出器２５に接続され、測定されたチャネル強度
を２進値の所定スケール上にマッピングするようになっ
ている。例えば、Ａ／Ｄ変換器２７は、標準の８ビット
語を採用し、０から２５５までの範囲の値を有する２進
スケール上に強度測定値をマッピングする。これら２進
強度値をマイクロプロセッサ３１のＩ／Ｏポートに加
え、適当なメモリ３２内の所定のアドレスに記憶させ
る。これにより、イメージングシステム１１の光学チャ
ネル１２ａ〜１２ｉの最も新しく測定された出力強度の
特性を選択されたサンプリング解像度ｎで記述するため
の最新強度テーブル１０２（図１１）を提供する。
７が光検出器２５に接続され、測定されたチャネル強度
を２進値の所定スケール上にマッピングするようになっ
ている。例えば、Ａ／Ｄ変換器２７は、標準の８ビット
語を採用し、０から２５５までの範囲の値を有する２進
スケール上に強度測定値をマッピングする。これら２進
強度値をマイクロプロセッサ３１のＩ／Ｏポートに加
え、適当なメモリ３２内の所定のアドレスに記憶させ
る。これにより、イメージングシステム１１の光学チャ
ネル１２ａ〜１２ｉの最も新しく測定された出力強度の
特性を選択されたサンプリング解像度ｎで記述するため
の最新強度テーブル１０２（図１１）を提供する。
【００１５】以下に詳述するように、イメージングシス
テム１１に対する強度テーブルが完全に更新された後、
マイクロプロセッサ３１はこのテーブルを走査して、最
低有効出力強度値で動作しているｎｒセットのチャネル
を識別し、このセットのチャネルに対する２進強度値を
測定する。マイクロプロセッサ３１は妥当性検査手続き
を実行するようにプログラムされており、これによっ
て、最低の有効な強度値が、欠陥画素ジェネレータの存
在を示す程に非常に低い強度値を排除するように選択さ
れたしきい値を、越えていることを確認する。例えば、
この妥当性検査手続きは、強度テーブル内の強度値の平
均値の所定の有効なパーセンテージよりも下になる全て
の強度値を無効にし、これにより、相当に少数の欠陥画
素ジェネレータが、イメージングシステム１１の無欠陥
チャネルの等化済み出力強度に悪影響を与えることを防
止する。
テム１１に対する強度テーブルが完全に更新された後、
マイクロプロセッサ３１はこのテーブルを走査して、最
低有効出力強度値で動作しているｎｒセットのチャネル
を識別し、このセットのチャネルに対する２進強度値を
測定する。マイクロプロセッサ３１は妥当性検査手続き
を実行するようにプログラムされており、これによっ
て、最低の有効な強度値が、欠陥画素ジェネレータの存
在を示す程に非常に低い強度値を排除するように選択さ
れたしきい値を、越えていることを確認する。例えば、
この妥当性検査手続きは、強度テーブル内の強度値の平
均値の所定の有効なパーセンテージよりも下になる全て
の強度値を無効にし、これにより、相当に少数の欠陥画
素ジェネレータが、イメージングシステム１１の無欠陥
チャネルの等化済み出力強度に悪影響を与えることを防
止する。
【００１６】イメージングシステム１１の光学チャネル
１２ａ〜１２ｉを光学的に平衡化または等化するため、
マイクロプロセッサ３１は更新済み補正係数を供給し、
非欠陥性のチャネルのセットを、最低有効出力強度値で
動作していると既に認められているｎr チャネルとほぼ
同じ名目出力強度値で動作させる。この補正係数は、二
重ポートＲＡＭのような二重ポートメモリ３６内の所定
のアドレスに記憶され、該補正係数は、イメージングシ
ステム１１がその印字モードで動作しているときに光学
チャネル１２ａ〜１２ｉを等化するため、必要に応じて
アクセスされる。メモリ３２及び３６は、別々のメモリ
装置であるか、または同じメモリ装置内の相異なるアド
レスバンクである。
１２ａ〜１２ｉを光学的に平衡化または等化するため、
マイクロプロセッサ３１は更新済み補正係数を供給し、
非欠陥性のチャネルのセットを、最低有効出力強度値で
動作していると既に認められているｎr チャネルとほぼ
同じ名目出力強度値で動作させる。この補正係数は、二
重ポートＲＡＭのような二重ポートメモリ３６内の所定
のアドレスに記憶され、該補正係数は、イメージングシ
ステム１１がその印字モードで動作しているときに光学
チャネル１２ａ〜１２ｉを等化するため、必要に応じて
アクセスされる。メモリ３２及び３６は、別々のメモリ
装置であるか、または同じメモリ装置内の相異なるアド
レスバンクである。
【００１７】イメージングシステム１１のｎチャネル毎
に別々の補正係数が提供される。後で詳述するように、
これら補正係数の全ては、イメージングシステム１１が
先ずパワーアップされると、ナル値にリッセトされ、こ
れにより、類似値の影響を受けることなしに前述の強度
テーブルが構成される。補正係数の各々はｘビット２進
数で表され、２x までの相異なる補正値が利用可能とな
る。例えば、５ビット補正係数を用いて３２の相異なる
補正値を提供することができ、値ゼロ（０００００）ま
たは値３１（１１１１１）はナル補正値となる。前述し
たように、最低有効出力強度値で動作していると認めら
れるｎr チャネルの強度値が、それ自体に対してまたは
イメージングシステム１１の他のチャネルに対して補正
係数を調整するための基準として、マイクロプロセッサ
３１によって用いられる。チャネルの相隣るセット間の
光学的クロストークは、これらに対して行なわれる等化
補正値の関数として変化する。それで、等化過程の各反
復中に補正係数の各々に対して適切な調整を行なうため
の装備をなす。
に別々の補正係数が提供される。後で詳述するように、
これら補正係数の全ては、イメージングシステム１１が
先ずパワーアップされると、ナル値にリッセトされ、こ
れにより、類似値の影響を受けることなしに前述の強度
テーブルが構成される。補正係数の各々はｘビット２進
数で表され、２x までの相異なる補正値が利用可能とな
る。例えば、５ビット補正係数を用いて３２の相異なる
補正値を提供することができ、値ゼロ（０００００）ま
たは値３１（１１１１１）はナル補正値となる。前述し
たように、最低有効出力強度値で動作していると認めら
れるｎr チャネルの強度値が、それ自体に対してまたは
イメージングシステム１１の他のチャネルに対して補正
係数を調整するための基準として、マイクロプロセッサ
３１によって用いられる。チャネルの相隣るセット間の
光学的クロストークは、これらに対して行なわれる等化
補正値の関数として変化する。それで、等化過程の各反
復中に補正係数の各々に対して適切な調整を行なうため
の装備をなす。
【００１８】図５について説明すると、本発明は、例え
ば、ＥＯ ＴＩＲ（電気光学全内反射）イメージバー４
１の光学チャネルを等化するために用いられる。例えば
米国特許第 4,367,925号に詳細に記載されているよう
に、イメージバー４１は、一般に、ラインプリンタ４２
内に設けられ、記録媒体１４が矢印１５で示すプロセス
方向に進ませられているときに、ゼログラフィ感光体の
ような感光性記録媒体１４を、空間的に変調される放射
強度プロフィール４３に露光させるようになっている。
図示のように、強度プロフィール４３は記録媒体１４上
のイメージングフィールドの全幅を照明し、これを、画
像の順次続く行に対するデータサンプルに従って所定の
ラインプリンティング速度で１行ずつ順次空間的に変調
する。
ば、ＥＯ ＴＩＲ（電気光学全内反射）イメージバー４
１の光学チャネルを等化するために用いられる。例えば
米国特許第 4,367,925号に詳細に記載されているよう
に、イメージバー４１は、一般に、ラインプリンタ４２
内に設けられ、記録媒体１４が矢印１５で示すプロセス
方向に進ませられているときに、ゼログラフィ感光体の
ような感光性記録媒体１４を、空間的に変調される放射
強度プロフィール４３に露光させるようになっている。
図示のように、強度プロフィール４３は記録媒体１４上
のイメージングフィールドの全幅を照明し、これを、画
像の順次続く行に対するデータサンプルに従って所定の
ラインプリンティング速度で１行ずつ順次空間的に変調
する。
【００１９】図６及び図７に更に詳細に示すように、イ
メージバー４１はＥＯ ＴＩＲ空間的光変調器４４及び
シュリーレンイメージングシステム４５（図５）を含ん
でおり、変調器４４を記録媒体１４上に映像するように
なっている。変調器４４は、光学的に研磨された縦方向
面４８を有する LiNbO3 結晶のような光学的に透過性の
電気光学素子４７、及び研磨済みまたは反射性の面４８
に至近近接している電気光学素子４７の縦方向に延びる
複数の個別的アドレス可能な電極４９ａ〜４９ｚを具備
する。一般に、電極４９ａ〜４９ｚはＶＬＳＩ回路５０
上に作られ、該電極をそのアドレシング及びドライブ用
の電子工学装置と統合させている。
メージバー４１はＥＯ ＴＩＲ空間的光変調器４４及び
シュリーレンイメージングシステム４５（図５）を含ん
でおり、変調器４４を記録媒体１４上に映像するように
なっている。変調器４４は、光学的に研磨された縦方向
面４８を有する LiNbO3 結晶のような光学的に透過性の
電気光学素子４７、及び研磨済みまたは反射性の面４８
に至近近接している電気光学素子４７の縦方向に延びる
複数の個別的アドレス可能な電極４９ａ〜４９ｚを具備
する。一般に、電極４９ａ〜４９ｚはＶＬＳＩ回路５０
上に作られ、該電極をそのアドレシング及びドライブ用
の電子工学装置と統合させている。
【００２０】作動においては、電気光学素子４７のほぼ
全幅を、シート状の接線方向平行な光ビーム５１によっ
て照明する。光ビーム５１は、反射面４８に対するほぼ
すれすれの入射角で電気光学素子４７に入り込み、従っ
て、該光ビームは本質的にそこから全内反射する。光ビ
ーム５１を、面４８の上またはその近くで、好ましくは
電極４９ａ〜４９ｚの長さのほぼ中央で、くさび状に合
焦させるための手段が講じられている。
全幅を、シート状の接線方向平行な光ビーム５１によっ
て照明する。光ビーム５１は、反射面４８に対するほぼ
すれすれの入射角で電気光学素子４７に入り込み、従っ
て、該光ビームは本質的にそこから全内反射する。光ビ
ーム５１を、面４８の上またはその近くで、好ましくは
電極４９ａ〜４９ｚの長さのほぼ中央で、くさび状に合
焦させるための手段が講じられている。
【００２１】図８について説明すると、生の入力データ
サンプルをクロック式制御器５６の制御の下で１行ずつ
差分エンコーダ５５によって差分コード化する。作動
中、制御器５６は、高速マルチプレクサ５７をして、前
記差分コード化されたデータサンプルをイメージバー４
４の電極４９ａ〜４９ｚ上にリップルさせ、これによ
り、画像の順次続く行に対する生のデータサンプルは、
継続するラインプリンティング時間中、電極の相隣る対
間の電圧降下によって表される。この電極間電位差によ
り、比例した強さのフリンジ電界が作られ、この電界は
電極４９ａ〜４９ｚのほぼ全長に沿って電気光学素子４
７（図６）内に侵入する。前記電界が侵入する深さは、
かなりの部分が、電気光学素子４７の誘電率によって定
まる。従って、前記フリンジ電界は、電気光学素子４７
の屈折率を、画像の順次続く行に対するデータサンプル
に緊密に従って変調器４６の幅方向に局部的に変調す
る。これら局部的屈折率変化は、光ビーム５１が伝播す
る相互作用領域内で、電気光学素子４７の反射面４８に
対して接近及び隔離する途中で生ずる（図６を参照）。
即ち、変調器４４は、画像の順次続く行に対するデータ
サンプルに従って光ビーム５１の同位相波面を連続的に
空間的に変調する。なお、米国特許第 4,636,039号を参
照されたい。
サンプルをクロック式制御器５６の制御の下で１行ずつ
差分エンコーダ５５によって差分コード化する。作動
中、制御器５６は、高速マルチプレクサ５７をして、前
記差分コード化されたデータサンプルをイメージバー４
４の電極４９ａ〜４９ｚ上にリップルさせ、これによ
り、画像の順次続く行に対する生のデータサンプルは、
継続するラインプリンティング時間中、電極の相隣る対
間の電圧降下によって表される。この電極間電位差によ
り、比例した強さのフリンジ電界が作られ、この電界は
電極４９ａ〜４９ｚのほぼ全長に沿って電気光学素子４
７（図６）内に侵入する。前記電界が侵入する深さは、
かなりの部分が、電気光学素子４７の誘電率によって定
まる。従って、前記フリンジ電界は、電気光学素子４７
の屈折率を、画像の順次続く行に対するデータサンプル
に緊密に従って変調器４６の幅方向に局部的に変調す
る。これら局部的屈折率変化は、光ビーム５１が伝播す
る相互作用領域内で、電気光学素子４７の反射面４８に
対して接近及び隔離する途中で生ずる（図６を参照）。
即ち、変調器４４は、画像の順次続く行に対するデータ
サンプルに従って光ビーム５１の同位相波面を連続的に
空間的に変調する。なお、米国特許第 4,636,039号を参
照されたい。
【００２２】再び図５について説明すると、シュリーレ
ンイメージングシステム４５は、光ビーム５１のゼロ次
または高次のいずれかの回折成分を抑制し、残りまたは
未抑制の回折成分を記録媒体１４上に合焦させ、これに
より、光ビーム５１の空間的に変調された同位相面を、
対応的に変調された強度プロフィール４３に変換する。
一般に、イメージングシステム４５は「中央暗視野」
（central dack field)シュリーレンシステムとして知
られているものであるが、設計者によっては、いわゆる
「中央明視野」（central bright field) シュリーレン
イメージングシステムの方を好む。
ンイメージングシステム４５は、光ビーム５１のゼロ次
または高次のいずれかの回折成分を抑制し、残りまたは
未抑制の回折成分を記録媒体１４上に合焦させ、これに
より、光ビーム５１の空間的に変調された同位相面を、
対応的に変調された強度プロフィール４３に変換する。
一般に、イメージングシステム４５は「中央暗視野」
（central dack field)シュリーレンシステムとして知
られているものであるが、設計者によっては、いわゆる
「中央明視野」（central bright field) シュリーレン
イメージングシステムの方を好む。
【００２３】イメージバー４１は、通例、多数の光学チ
ャネルを有す。その故に、図９に示すように、マルチプ
レクサ５６はＭ＋１本のデータ出力線を有す。その内の
Ｍ本の線を用い、差分エンコード済みデータを変調器４
４の電極４９ａ〜４９ｚ上にＭビット幅データ語で直列
にリップルさせる。順次続くデータ語はロック式制御器
５６の制御の下でＭ個の相隣る電極の順次続く群へ導か
れる。この目的のため、アドレスデコーダ６７ａ、６７
ｂ、６８ａ、６８ｂ、・・・は、制御器５６によって供
給されるアドレスをデコードしてパストランジスタまた
はアドレスゲート７１ａ〜７１ｍを選択的にイネーブル
し、順次続くアドレス指定サイクル中に電極のそれぞれ
の群をデータ線に接続する。同時にアドレスされる電極
の各群の最終または境界電極４９ｍに対するアドレスゲ
ートは、好ましくは、電極の次の隣の群がアドレスされ
ているときに書換えデータ線７２からの境界電極４９ｍ
上にデータをリフレッシュするための重ね書きトランジ
スタ７１ｍであり、これにより、電極がアドレスされて
いる最中に電極の次の群から生ずるクロストークのため
に前記データが受けるひずみを減少させる。適当するデ
ータ多重化及び電極アドレス指定方法の詳細について
は、ＳＰＩＥ会議（Proceedings of the SPIE)、第２９
９巻（１９８２年）所載の、レーザ走査技術の進歩に関
する８月２７〜２９日ＳＰＩＥ協議会（Augaust 27-29
SPIE Conference on Advance in LaserScanning Techno
logy)の、ダブリュー・ディー・ターナ（W. D. Turner)
等の論文「レーザプリンティングのための総合的全内
反射（ＴＩＲ）空間的光変調器」（Integrated Total I
nternal Reflection(TIR) Spacial Light Modulator)を
参照されたい。この論文には、１６ビット幅データ語書
式を用いて差分コード化データサンプルを５３７６の個
別的アドレス可能電極５１ａ〜５１ｚ上に多重化するこ
とについて記載されており、各々が１６の隣接電極から
成る３３６の相異なる電極群に順々にアドレスすること
が企図されている。
ャネルを有す。その故に、図９に示すように、マルチプ
レクサ５６はＭ＋１本のデータ出力線を有す。その内の
Ｍ本の線を用い、差分エンコード済みデータを変調器４
４の電極４９ａ〜４９ｚ上にＭビット幅データ語で直列
にリップルさせる。順次続くデータ語はロック式制御器
５６の制御の下でＭ個の相隣る電極の順次続く群へ導か
れる。この目的のため、アドレスデコーダ６７ａ、６７
ｂ、６８ａ、６８ｂ、・・・は、制御器５６によって供
給されるアドレスをデコードしてパストランジスタまた
はアドレスゲート７１ａ〜７１ｍを選択的にイネーブル
し、順次続くアドレス指定サイクル中に電極のそれぞれ
の群をデータ線に接続する。同時にアドレスされる電極
の各群の最終または境界電極４９ｍに対するアドレスゲ
ートは、好ましくは、電極の次の隣の群がアドレスされ
ているときに書換えデータ線７２からの境界電極４９ｍ
上にデータをリフレッシュするための重ね書きトランジ
スタ７１ｍであり、これにより、電極がアドレスされて
いる最中に電極の次の群から生ずるクロストークのため
に前記データが受けるひずみを減少させる。適当するデ
ータ多重化及び電極アドレス指定方法の詳細について
は、ＳＰＩＥ会議（Proceedings of the SPIE)、第２９
９巻（１９８２年）所載の、レーザ走査技術の進歩に関
する８月２７〜２９日ＳＰＩＥ協議会（Augaust 27-29
SPIE Conference on Advance in LaserScanning Techno
logy)の、ダブリュー・ディー・ターナ（W. D. Turner)
等の論文「レーザプリンティングのための総合的全内
反射（ＴＩＲ）空間的光変調器」（Integrated Total I
nternal Reflection(TIR) Spacial Light Modulator)を
参照されたい。この論文には、１６ビット幅データ語書
式を用いて差分コード化データサンプルを５３７６の個
別的アドレス可能電極５１ａ〜５１ｚ上に多重化するこ
とについて記載されており、各々が１６の隣接電極から
成る３３６の相異なる電極群に順々にアドレスすること
が企図されている。
【００２４】図１０について説明すると、電極４９ａ〜
４９ｚの１群ずつのアドレス指定が、対応の１群ずつの
イメージバー４１の光学チャネルの動的等化に好適す
る。イメージバー４１の光学チャネルの出力強度をこの
ような基準で測定するため、高（１）及び低（０）の論
理レベルビットが交番するビット幅テストパターンをマ
ルチプレクサ５７の出力データ線に加え、この間、制御
器５６は順次続く群の電極に直列にアドレスする。この
テストパターンは、図示のように、例えばマイクロプロ
セッサ３１のような適当する任意の手段によって供給さ
れ、差分エンコーダ５５によってフォーマティングされ
る。
４９ｚの１群ずつのアドレス指定が、対応の１群ずつの
イメージバー４１の光学チャネルの動的等化に好適す
る。イメージバー４１の光学チャネルの出力強度をこの
ような基準で測定するため、高（１）及び低（０）の論
理レベルビットが交番するビット幅テストパターンをマ
ルチプレクサ５７の出力データ線に加え、この間、制御
器５６は順次続く群の電極に直列にアドレスする。この
テストパターンは、図示のように、例えばマイクロプロ
セッサ３１のような適当する任意の手段によって供給さ
れ、差分エンコーダ５５によってフォーマティングされ
る。
【００２５】フォーマティングされた後、テストパター
ンは本質的に「フルオン」及び「フルオフ」ビット（イ
メージバー４１のドライブ電圧限界によって定義され
る）から成り、従って、制御器５６が任意の時にアドレ
スしている電極群内の電極の隣接対間の電極間電圧降下
を最大にし、これらが制御する光学チャネル（即ち、こ
れら電極間のチャネル）をその名目の未変調出力強度値
で動作させる。光検出器２５は、実線で示すその光学的
サンプリング位置に保持され、この間、前のテストパタ
ーンが電極群に１つずつ適用され、これにより、１群ず
つのイメージバー４１の光学チャネルの最大の未補正出
力強度値を測定することが可能になる。前に説明したよ
うに、前述の強度測定サイクルは好ましくは二重位相サ
イクルであり、このサイクルにおいては、フルオンテス
トパターンの後にフルオフテストパターン（全てが
「０」または「１」の論理レベルビット）が続き、チャ
ネルの各群のフルオン及び背景の強度値をそれぞれ測定
する。
ンは本質的に「フルオン」及び「フルオフ」ビット（イ
メージバー４１のドライブ電圧限界によって定義され
る）から成り、従って、制御器５６が任意の時にアドレ
スしている電極群内の電極の隣接対間の電極間電圧降下
を最大にし、これらが制御する光学チャネル（即ち、こ
れら電極間のチャネル）をその名目の未変調出力強度値
で動作させる。光検出器２５は、実線で示すその光学的
サンプリング位置に保持され、この間、前のテストパタ
ーンが電極群に１つずつ適用され、これにより、１群ず
つのイメージバー４１の光学チャネルの最大の未補正出
力強度値を測定することが可能になる。前に説明したよ
うに、前述の強度測定サイクルは好ましくは二重位相サ
イクルであり、このサイクルにおいては、フルオンテス
トパターンの後にフルオフテストパターン（全てが
「０」または「１」の論理レベルビット）が続き、チャ
ネルの各群のフルオン及び背景の強度値をそれぞれ測定
する。
【００２６】前述したように、光検出器２５の量的強度
測定により、マイクロプロセッサ３１は、イメージバー
４１の光学チャネルを所望の粒状等で等化するための補
正係数を計算することが可能になる。この補正係数は、
プリンタ４２が動作していないときに時折りに再計算さ
れ、これにより、該補正係数を再更正し、イメージバー
４１の光学チャネルの光学的照度または伝送特性の有意
の動的変化を説明する。従って、プリンタ４２が印字機
能を行なうことを要求されると、制御器５６はメモリ３
６にアドレスし、前記チャネルに対する電極のそのアド
レス指定と調時的に同期して光学チャネルのセットまた
は群の１つずつに対する補正係数を検索する。Ｄ／Ａ変
換器７１は、光学チャネルの任意のセットに対するメモ
リから読み出された補正係数を、データ線電圧レギュレ
ータ７２に対する比例的アナログ制御電圧に変換する。
この制御電圧は、電圧レギュレータ７２をして、所定の
光学チャネルに対する電極に加えられた差分コード化デ
ータの高（「１」）及び低（「０」）の論理レベルビッ
ト間の電位差を規制させ、これにより、前記チャネルを
名目動作条件の下で（即ち、データ変調のない状態で）
ほぼ基準強度値で動作させる。他の群の電極によって制
御される光学チャネルの出力強度はその補正係数によっ
て同様に制御され、従って、実質的に１群ずつの光学的
等化が得られる。
測定により、マイクロプロセッサ３１は、イメージバー
４１の光学チャネルを所望の粒状等で等化するための補
正係数を計算することが可能になる。この補正係数は、
プリンタ４２が動作していないときに時折りに再計算さ
れ、これにより、該補正係数を再更正し、イメージバー
４１の光学チャネルの光学的照度または伝送特性の有意
の動的変化を説明する。従って、プリンタ４２が印字機
能を行なうことを要求されると、制御器５６はメモリ３
６にアドレスし、前記チャネルに対する電極のそのアド
レス指定と調時的に同期して光学チャネルのセットまた
は群の１つずつに対する補正係数を検索する。Ｄ／Ａ変
換器７１は、光学チャネルの任意のセットに対するメモ
リから読み出された補正係数を、データ線電圧レギュレ
ータ７２に対する比例的アナログ制御電圧に変換する。
この制御電圧は、電圧レギュレータ７２をして、所定の
光学チャネルに対する電極に加えられた差分コード化デ
ータの高（「１」）及び低（「０」）の論理レベルビッ
ト間の電位差を規制させ、これにより、前記チャネルを
名目動作条件の下で（即ち、データ変調のない状態で）
ほぼ基準強度値で動作させる。他の群の電極によって制
御される光学チャネルの出力強度はその補正係数によっ
て同様に制御され、従って、実質的に１群ずつの光学的
等化が得られる。
【００２７】図１について説明すると、図はイメージン
グシステムを等化すべき基準強度値を更正するための更
正ルーチン１００を示すものである。このルーチン及び
以下に記載する他のルーチンを、イメージングバー４１
（図５〜１０）の光学チャネルの１群ずつの等化につい
て説明するが、所望の粒状度で等化を行なうために必要
に応じてこれらを簡単に変形することができる。
グシステムを等化すべき基準強度値を更正するための更
正ルーチン１００を示すものである。このルーチン及び
以下に記載する他のルーチンを、イメージングバー４１
（図５〜１０）の光学チャネルの１群ずつの等化につい
て説明するが、所望の粒状度で等化を行なうために必要
に応じてこれらを簡単に変形することができる。
【００２８】図１１に示すように、イメージバー４１に
対する強度テーブルを構築するためのビルド強度サブル
ーチン１０２を呼び出す前に、イメージングシステム１
１がパワーアップされるとメモリ３６（図１０）は初期
設定され、参照番号１０１におけるように、全ての補正
値はナル値にリセットされる。ここで図１２について説
明すると、ビルド強度テーブルサブルーチン１０２は、
参照番号１０３におけるように、先ず第１の群の電極に
アドレスすることによってイメージバー４１に対する強
度テーブルを構築し、参照番号１０４におけるように、
二重位相テストパターンを前記電極に適用する。その結
果、参照番号１０７におけるように、前記第１の群の電
極の制御のための光学チャネルのフルオン強度値１０５
と背景強度値１０６との間の差が測定されて対応の２進
強度値が提供され、参照番号１０８におけるように、メ
モリ（図１０）に記憶される。参照番号１０９における
ように、この手順が繰り返され、参照番号１１１におけ
るように、電極の他の群が１つずつアドレスされ、これ
により、参照番号１０４〜１０９におけるように、該電
極が制御する光学チャネルの未補正出力強度値を表す２
進強度値が決定され、そしてメモリ３２にロードされ、
これで強度テーブルの構築が完了する。
対する強度テーブルを構築するためのビルド強度サブル
ーチン１０２を呼び出す前に、イメージングシステム１
１がパワーアップされるとメモリ３６（図１０）は初期
設定され、参照番号１０１におけるように、全ての補正
値はナル値にリセットされる。ここで図１２について説
明すると、ビルド強度テーブルサブルーチン１０２は、
参照番号１０３におけるように、先ず第１の群の電極に
アドレスすることによってイメージバー４１に対する強
度テーブルを構築し、参照番号１０４におけるように、
二重位相テストパターンを前記電極に適用する。その結
果、参照番号１０７におけるように、前記第１の群の電
極の制御のための光学チャネルのフルオン強度値１０５
と背景強度値１０６との間の差が測定されて対応の２進
強度値が提供され、参照番号１０８におけるように、メ
モリ（図１０）に記憶される。参照番号１０９における
ように、この手順が繰り返され、参照番号１１１におけ
るように、電極の他の群が１つずつアドレスされ、これ
により、参照番号１０４〜１０９におけるように、該電
極が制御する光学チャネルの未補正出力強度値を表す２
進強度値が決定され、そしてメモリ３２にロードされ、
これで強度テーブルの構築が完了する。
【００２９】再び図１１について説明すると、欠陥チャ
ネルがイメージバー４１の等化に対して重大な影響を与
えることを防止するため、参照番号１１５におけるよう
に、先ず強度テーブル内の値の平均を見付けることによ
り、イメージバー４１が等化されるべき基準強度値を更
正し、これにより、参照番号１１６におけるように、基
準強度に対する最小しきい値（即ち、「最小ワーキング
レベル」（mimimum working level)）を平均強度値の所
定の有意比率に適応的にセットする。その後、参照番号
１１７におけるように、強度テーブルを走査し、動作し
ていると認められるチャネルのセットの強度値（即ち、
「最小有効値」（mimimum valid value)）または前記ワ
ーキングレベルしきい値の上の最小量を、イメージバー
４１に対する基準強度値（即ち、「最小有効値」）とし
て選択する。
ネルがイメージバー４１の等化に対して重大な影響を与
えることを防止するため、参照番号１１５におけるよう
に、先ず強度テーブル内の値の平均を見付けることによ
り、イメージバー４１が等化されるべき基準強度値を更
正し、これにより、参照番号１１６におけるように、基
準強度に対する最小しきい値（即ち、「最小ワーキング
レベル」（mimimum working level)）を平均強度値の所
定の有意比率に適応的にセットする。その後、参照番号
１１７におけるように、強度テーブルを走査し、動作し
ていると認められるチャネルのセットの強度値（即ち、
「最小有効値」（mimimum valid value)）または前記ワ
ーキングレベルしきい値の上の最小量を、イメージバー
４１に対する基準強度値（即ち、「最小有効値」）とし
て選択する。
【００３０】次に図１３について説明すると、等化ルー
チン１２１はイメージバー４１の光学チャネルに対する
補正係数を調整し、「等化可能」（equalizable)のチャ
ネル群を、基準強度値でまたはその付近で動作させる。
前述したように、欠陥画素ジェネレータは、１つまたは
複数のチャネル群が等化されるのを阻止する可能性があ
る。従って、これらの「非等化可能」（non-equalizabl
e)のチャネルに対する補正係数は、やがては、それらの
調整の動的範囲の限界に到達し、その後はこの限界に留
まる。
チン１２１はイメージバー４１の光学チャネルに対する
補正係数を調整し、「等化可能」（equalizable)のチャ
ネル群を、基準強度値でまたはその付近で動作させる。
前述したように、欠陥画素ジェネレータは、１つまたは
複数のチャネル群が等化されるのを阻止する可能性があ
る。従って、これらの「非等化可能」（non-equalizabl
e)のチャネルに対する補正係数は、やがては、それらの
調整の動的範囲の限界に到達し、その後はこの限界に留
まる。
【００３１】等化ルーチンを実行するため、ポインタを
メモリ３２及び３６（図１０）にセットし、参照番号１
２２及び１２３におけるように、チャネルの第１のセッ
トまたは群に対する最新に測定された強度値を強度テー
ブルから検索し、及びこれらチャネルに対する現在補正
係数にアクセスする。これにより、参照番号１２４にお
けるように、その現在強度値をイメージバー４１に対す
る現在の基準強度値に対して比較し、この第１のチャネ
ル群が、基準強度値よりも上で、または下で、または該
強度値で動作しているかどうかを測定する。この第１の
チャネル群が「等化可能」であり、そして補正値レベル
３１（１１１１１）がナル補正値であると仮定すると、
その出力強度が基準値よりも下である場合には、参照番
号１２５におけるように、前記第１のチャネル群に対す
る補正係数の値をインクリメントし、その出力強度値が
基準強度値を越える場合には、参照番号１２６における
ように、デクリメントし、または、このチャネル群が基
準強度値で動作している場合には、現在値に保持する。
前記第１のチャネル群に対する補正係数に対して必要な
全ての調整を行なったのち、参照番号１２７及び１２８
におけるように、メモリポインタをインクリメントし、
次の群のチャネルを基準強度値に等化するために該群に
対する補正係数を更に調整することが必要であるかどう
かを測定する。前記過程を参照番号１２９において反復
し、それぞれのチャネル群の出力強度を基準強度値に対
して順々に比較し、これにより、基準強度値に対してよ
く平衡していない等化可能チャネル群に対する補正係数
を必要に応じてインクリメントまたはデクリメントして
その不平衡を減少させる。
メモリ３２及び３６（図１０）にセットし、参照番号１
２２及び１２３におけるように、チャネルの第１のセッ
トまたは群に対する最新に測定された強度値を強度テー
ブルから検索し、及びこれらチャネルに対する現在補正
係数にアクセスする。これにより、参照番号１２４にお
けるように、その現在強度値をイメージバー４１に対す
る現在の基準強度値に対して比較し、この第１のチャネ
ル群が、基準強度値よりも上で、または下で、または該
強度値で動作しているかどうかを測定する。この第１の
チャネル群が「等化可能」であり、そして補正値レベル
３１（１１１１１）がナル補正値であると仮定すると、
その出力強度が基準値よりも下である場合には、参照番
号１２５におけるように、前記第１のチャネル群に対す
る補正係数の値をインクリメントし、その出力強度値が
基準強度値を越える場合には、参照番号１２６における
ように、デクリメントし、または、このチャネル群が基
準強度値で動作している場合には、現在値に保持する。
前記第１のチャネル群に対する補正係数に対して必要な
全ての調整を行なったのち、参照番号１２７及び１２８
におけるように、メモリポインタをインクリメントし、
次の群のチャネルを基準強度値に等化するために該群に
対する補正係数を更に調整することが必要であるかどう
かを測定する。前記過程を参照番号１２９において反復
し、それぞれのチャネル群の出力強度を基準強度値に対
して順々に比較し、これにより、基準強度値に対してよ
く平衡していない等化可能チャネル群に対する補正係数
を必要に応じてインクリメントまたはデクリメントして
その不平衡を減少させる。
【００３２】各等化パスが完了したら、等化ルーチン１
２１は、参照番号１３１において、基準強度値を再更正
する時であるかどうかを測定する。基準強度値を再更正
する時ではまだない場合には、等化ルーチン１２１はビ
ルド強度テーブルサブルーチン１０２を呼び出して該強
度テーブルを更新し、これにより、前記強度テーブルを
してイメージバー４１の光学チャネルの補正済み出力強
度値を追跡させる。前記強度テーブルを更新したのち、
等化ルーチン１２１は、参照番号１０２、１２２〜１２
９及び１３１におけるように、他の比較／調整過程を開
始し、それぞれのチャネルセットに対する補正係数のう
ちのどれかを更に調整することが必要であるかどうかを
測定する。好ましくは、補正係数に対する必要な全ての
調整を、そのＬＳＢをインクリメントまたはデクリメン
トすることによって行ない、これにより、イメージバー
４１の光学的平衡の反復間変動を最小にする。これは、
発生する可能性のある変化に対する等化過程の感度を最
大にし、この間、補正係数は、相隣るチャネル群間の光
学的クロストークの値に調整される。
２１は、参照番号１３１において、基準強度値を再更正
する時であるかどうかを測定する。基準強度値を再更正
する時ではまだない場合には、等化ルーチン１２１はビ
ルド強度テーブルサブルーチン１０２を呼び出して該強
度テーブルを更新し、これにより、前記強度テーブルを
してイメージバー４１の光学チャネルの補正済み出力強
度値を追跡させる。前記強度テーブルを更新したのち、
等化ルーチン１２１は、参照番号１０２、１２２〜１２
９及び１３１におけるように、他の比較／調整過程を開
始し、それぞれのチャネルセットに対する補正係数のう
ちのどれかを更に調整することが必要であるかどうかを
測定する。好ましくは、補正係数に対する必要な全ての
調整を、そのＬＳＢをインクリメントまたはデクリメン
トすることによって行ない、これにより、イメージバー
４１の光学的平衡の反復間変動を最小にする。これは、
発生する可能性のある変化に対する等化過程の感度を最
大にし、この間、補正係数は、相隣るチャネル群間の光
学的クロストークの値に調整される。
【００３３】好ましくは、イメージバー４１に対する基
準強度値を時折り再更正する。この理由のため、等化ル
ーチン１２１が、参照番号１３１において、基準強度が
最後に更正されてから所定の時間が経過したということ
を測定する度ごとに、該ルーチンは基準値更新ルーチン
１４１（図１４）を呼び出す。図示のように、更新ルー
チン１４１は、イメージバー４１に対して前に計算され
た補正値を、参照番号１４２におけるように、一時的記
憶場所へ転送し、次いで、補正メモリ３６（図１０）内
の全てのアドレスをナル補正値にリセットする。次に、
更新ルーチン１４１は、ビルド強度テーブルサブルーチ
ン１０２（図１１）を呼び出してイメージバー４１に対
する最新の未補正強度テーブルを構築し、次いで、参照
番号１４４におけるように、前に計算された補正係数を
補正メモリ３６（図１０）内の適当するアドレスに再ロ
ードさせる。その後、基準値更新ルーチン（図１１）は
更正ルーチン１００の計算ステップ１１５及び１１６を
呼び出し、これにより、参照番号１１７において、イメ
ージバー４１に対する再更正済み基準強度値が確立され
る。
準強度値を時折り再更正する。この理由のため、等化ル
ーチン１２１が、参照番号１３１において、基準強度が
最後に更正されてから所定の時間が経過したということ
を測定する度ごとに、該ルーチンは基準値更新ルーチン
１４１（図１４）を呼び出す。図示のように、更新ルー
チン１４１は、イメージバー４１に対して前に計算され
た補正値を、参照番号１４２におけるように、一時的記
憶場所へ転送し、次いで、補正メモリ３６（図１０）内
の全てのアドレスをナル補正値にリセットする。次に、
更新ルーチン１４１は、ビルド強度テーブルサブルーチ
ン１０２（図１１）を呼び出してイメージバー４１に対
する最新の未補正強度テーブルを構築し、次いで、参照
番号１４４におけるように、前に計算された補正係数を
補正メモリ３６（図１０）内の適当するアドレスに再ロ
ードさせる。その後、基準値更新ルーチン（図１１）は
更正ルーチン１００の計算ステップ１１５及び１１６を
呼び出し、これにより、参照番号１１７において、イメ
ージバー４１に対する再更正済み基準強度値が確立され
る。
【００３４】補正計数値は、好ましくは、そのＬＳＢを
インクリメント及びデクリメントすることによって調整
されるから、提供される補正値の数は、イメージバー４
１を等化するのに必要な等化ルーチン１２１（図１３）
の反復数を決定する。例えば、補正係数が５ビット２進
値であって３２の相異なる補正値を提供する場合には、
基準値を差更正する度ごとにイメージバー４１を等化す
るために等化過程の３２の反復が必要となる。しかし、
所定の基準値に対して等化が一旦得られると、その後の
等化過程の反復は、イメージングシステム１１の光学的
混乱を補償するだけであるので、互いに効果的に独立と
なる。
インクリメント及びデクリメントすることによって調整
されるから、提供される補正値の数は、イメージバー４
１を等化するのに必要な等化ルーチン１２１（図１３）
の反復数を決定する。例えば、補正係数が５ビット２進
値であって３２の相異なる補正値を提供する場合には、
基準値を差更正する度ごとにイメージバー４１を等化す
るために等化過程の３２の反復が必要となる。しかし、
所定の基準値に対して等化が一旦得られると、その後の
等化過程の反復は、イメージングシステム１１の光学的
混乱を補償するだけであるので、互いに効果的に独立と
なる。
【００３５】
【発明の効果】例えば、５０００個を越える画素ジェネ
レータ（光学チャネル）を有するイメージバーについて
全てのチャネルを無欠陥にするのは相当に困難である。
本発明によれば、少数の欠陥チャネルによって他の無欠
陥チャネルの出力強度に悪影響を及ぼす問題について、
異常に低い強度の測定値の受入れを阻止し、それ以外の
測定値を用いて等化のための基準レベルを確立し、少数
の欠陥チャネルによる、無欠陥チャネルの等化した出力
強度に悪影響を及ぼすのを防止している。
レータ（光学チャネル）を有するイメージバーについて
全てのチャネルを無欠陥にするのは相当に困難である。
本発明によれば、少数の欠陥チャネルによって他の無欠
陥チャネルの出力強度に悪影響を及ぼす問題について、
異常に低い強度の測定値の受入れを阻止し、それ以外の
測定値を用いて等化のための基準レベルを確立し、少数
の欠陥チャネルによる、無欠陥チャネルの等化した出力
強度に悪影響を及ぼすのを防止している。
【００３６】
【図１】一般的マルチチャネル光学イメージングシステ
ムの略線図
ムの略線図
【図２】マルチチャネル光学イメージバーの略線図
【図３】マルチチャネル光学ＲＯＳの略線図
【図４】本発明にかかるマルチチャネル光学イメージン
グシステムの略線図
グシステムの略線図
【図５】本発明を有利に採用する際に用いられるＥＯ
ＴＩＲイメージバーを有する光学的ラインプリンタの斜
視図
ＴＩＲイメージバーを有する光学的ラインプリンタの斜
視図
【図６】図５に示すプリンタのＥＯ ＴＩＲ空間的光変
調器の側面図
調器の側面図
【図７】図６に示す変調器の一部切除下面図
【図８】図５〜７に示す変調器のためのデータ入力回路
の略機能線図
の略機能線図
【図９】図５〜７に示す変調器のためのアドレス指定及
び駆動電子工学装置の略線図
び駆動電子工学装置の略線図
【図１０】図５に示すプリンタの光学チャネルを１群ず
つ等化するための本発明の一実施例の略線図
つ等化するための本発明の一実施例の略線図
【図１１】本発明の等化方法に対する基準値を更正する
ためのルーチンの流れ図
ためのルーチンの流れ図
【図１２】所定の粒状度におけるマルチチャネル光学イ
メージバーの出力強度値の特性を記述する強度テーブル
を構築するためのサブルーチンの流れ図
メージバーの出力強度値の特性を記述する強度テーブル
を構築するためのサブルーチンの流れ図
【図１３】本発明においてマルチチャネル光学イメージ
バーの光学チャネルを所定の粒状度で等化するために該
イメージバーに対する補正係数を調整するための流れ図
バーの光学チャネルを所定の粒状度で等化するために該
イメージバーに対する補正係数を調整するための流れ図
【図１４】等化過程に対する基準値を更新するためのル
ーチンの流れ図
ーチンの流れ図
１３ａ、１３ｉ 光学画素ジェネレータ ２５ 光検出器 ２７ Ａ／Ｄ変換器 ３１ マイクロプロセッサ ３２、３６ メモリ ４２ ラインプリンタ ４４ 光変換器 ５５ 差分エンコーダ ５６ 制御器 ５７ マルチプレクサ ７１ Ｄ／Ａ変換器 ７２ 電圧レギュレータ
Claims (1)
- 【請求項１】 複数の並列チャネルを有する光学イメー
ジングシステムを等化するための方法において、前記複数の並列チャネルの出力強度を、該出力強度への
等化補正の適用前及び適用後に、繰り返し測定して、前
補正強度測定値及び後補正強度測定値を提供する段階で
あって、前記測定が１測定当たりｎチャネルの解像度で
行われる（ここに、ｎ＝１、２、．．．Ｎ／２であり、
Ｎは前記光学イメージングシステムに含まれるチャネル
数）段階と、 前記前補正強度測定値を平均し、得られた平均値の所定
のパーセンテージの値に、しきい値を確立する段階と、 前記前補正強度測定値の内、前記しきい値に等しいもの
か、又は他の前補正強度測定値のいずれよりも大きくな
い量だけ前記しきい値より大きいものを選択して、基準
値を確立する段階と、 ｎチャネルの各セットに別々の等化係数を適用して前記
チャネルを１セットずつ等化する段階と、 全ての等化可能なチャネルのセットに対する補正係数を
前記基準値に対するその出力強度に基づいて反復調整す
る段階とを有し、 チャネルの相隣るセット間に有意値の光学的クロストー
クが存在しても、前記チャネルのそれぞれの等化可能セ
ットの出力強度が前記基準値と平衡させられることを特
徴とする光学イメージングシステムの等化方法。
Applications Claiming Priority (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| US454349 | 1989-12-21 | ||
| US07/454,349 US5081597A (en) | 1989-12-21 | 1989-12-21 | Process for dynamically equalizing multichannel optical imaging systems |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0691935A JPH0691935A (ja) | 1994-04-05 |
| JP2656859B2 true JP2656859B2 (ja) | 1997-09-24 |
Family
ID=23804260
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2402339A Expired - Fee Related JP2656859B2 (ja) | 1989-12-21 | 1990-12-14 | 光学イメージングシステムの等化方法 |
Country Status (2)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US5081597A (ja) |
| JP (1) | JP2656859B2 (ja) |
Families Citing this family (18)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US5568400A (en) * | 1989-09-01 | 1996-10-22 | Stark; Edward W. | Multiplicative signal correction method and apparatus |
| US5317523A (en) * | 1990-10-18 | 1994-05-31 | Texas Instruments Incorporated | Integrated reflective image sensor |
| US5396073A (en) * | 1992-05-07 | 1995-03-07 | The United States Of America As Represented By The Administrator Of The National Aeronautics And Space Administration | Circuit for high resolution decoding of multi-anode microchannel array detectors |
| US5414553A (en) * | 1993-11-29 | 1995-05-09 | Xerox Corporation | Electroabsorptive asymmetrical fabry-perot modulator array for line printers |
| JP3864451B2 (ja) * | 1996-06-05 | 2006-12-27 | 日産自動車株式会社 | エンジンのアイドル回転数制御装置 |
| JPH11138890A (ja) * | 1997-11-10 | 1999-05-25 | Casio Electron Mfg Co Ltd | 印字ヘッドの駆動制御装置 |
| JP2003523841A (ja) * | 1999-03-12 | 2003-08-12 | コダック ポリクロム グラフィックス カンパニーリミテッド | 電気光学変調器におけるピクセル輝度調節 |
| US6369936B1 (en) | 1999-03-12 | 2002-04-09 | Kodak Polychrome Graphics Llc | Pixel intensity control in electro-optic modulators |
| JP3583750B2 (ja) * | 2001-11-08 | 2004-11-04 | 大日本スクリーン製造株式会社 | 画像記録装置および出力光量補正方法 |
| US20030189634A1 (en) * | 2002-04-05 | 2003-10-09 | Agfa Corporation | Method and system for calibrating spatial light modulator of imaging engine |
| US20040263676A1 (en) * | 2003-06-27 | 2004-12-30 | Bryan Comeau | System and method for determining the operational status of an imaging system including an illumination modulator |
| US6882457B1 (en) | 2003-08-27 | 2005-04-19 | Agfa Corporation | System and method for determining the modulation quality of an illumination modulator in an imaging system |
| US7079233B1 (en) | 2003-08-27 | 2006-07-18 | Bryan Comeau | System and method for determining the alignment quality in an illumination system that includes an illumination modulator |
| US7190434B2 (en) * | 2004-02-18 | 2007-03-13 | Asml Netherlands B.V. | Lithographic apparatus and device manufacturing method |
| TWI427440B (zh) * | 2005-04-06 | 2014-02-21 | Kodak Graphic Comm Canada Co | 用於校正影像化規則圖案的條帶之方法與裝置 |
| US10827453B2 (en) * | 2016-03-14 | 2020-11-03 | Disney Enterprises, Inc. | Range detection and motion capture |
| DE102016117865A1 (de) | 2016-09-22 | 2018-03-22 | Océ Holding B.V. | Elektrofotografiestation und Verfahren zur Erzeugung eines latenten Ladungsbildes bei unterschiedlichen Druckgeschwindigkeiten |
| JP6993847B2 (ja) * | 2017-11-07 | 2022-01-14 | 富士フイルムヘルスケア株式会社 | 超音波撮像装置、超音波プローブ、および、送信装置 |
Family Cites Families (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US4636039A (en) * | 1985-04-12 | 1987-01-13 | Xerox Corporation | Nonuniformity of fringe field correction for electro-optic devices |
| US4956796A (en) * | 1986-06-20 | 1990-09-11 | The University Of Michigan | Multiple sensor position locating system |
| US4809194A (en) * | 1986-08-28 | 1989-02-28 | Hughes Aircraft Company | Image processing system and method using modulated detector outputs |
| NL8702166A (nl) * | 1987-09-11 | 1989-04-03 | Oce Nederland Bv | Belichtingsinrichting met een verouderings correctiesysteem voor een led printer. |
| JP2996465B2 (ja) * | 1988-01-21 | 1999-12-27 | 富士写真フイルム株式会社 | 光ビーム出力調整装置およびその調整方法 |
-
1989
- 1989-12-21 US US07/454,349 patent/US5081597A/en not_active Expired - Lifetime
-
1990
- 1990-12-14 JP JP2402339A patent/JP2656859B2/ja not_active Expired - Fee Related
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| US5081597A (en) | 1992-01-14 |
| JPH0691935A (ja) | 1994-04-05 |
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Legal Events
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