JP2806877B2 - Ｉｃ測定用ソケット - Google Patents
Ｉｃ測定用ソケットInfo
- Publication number
- JP2806877B2 JP2806877B2 JP8136686A JP13668696A JP2806877B2 JP 2806877 B2 JP2806877 B2 JP 2806877B2 JP 8136686 A JP8136686 A JP 8136686A JP 13668696 A JP13668696 A JP 13668696A JP 2806877 B2 JP2806877 B2 JP 2806877B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- contact
- socket
- lead
- package body
- package
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Fee Related
Links
Landscapes
- Testing Of Individual Semiconductor Devices (AREA)
- Connecting Device With Holders (AREA)
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は、パッケージ体の両
側面から並んで導出され下方に折り曲げられ更に上方に
折り曲げ返されて先端部に水平な平坦面が形成される複
数のリードを有するデュアルインライン型のＩＣの電気
特性の測定に使用するＩＣ測定用ソケットに関する。
側面から並んで導出され下方に折り曲げられ更に上方に
折り曲げ返されて先端部に水平な平坦面が形成される複
数のリードを有するデュアルインライン型のＩＣの電気
特性の測定に使用するＩＣ測定用ソケットに関する。
【０００２】
【従来の技術】図３は従来の一例を示すＩＣ測定用ソケ
ットの斜視図である。この種のデュアルインライン型の
ＩＣの電気特性の測定に使用するＩＣ測定用ソケット
は、図３に示すように、ＩＣのパッケージ体８を真空吸
着し保持する保持具５と、この保持具５を矢印の方向に
押し付けパッケージ体８を固定するソケット本体４と、
ソケット本体４と保持具５とで挟み固定されたＩＣのリ
ード９に対応し接触する位置にコンタクト部７を配置し
先端をソケット本体４に貫通させるコンタクトピン６と
を備えていた。
ットの斜視図である。この種のデュアルインライン型の
ＩＣの電気特性の測定に使用するＩＣ測定用ソケット
は、図３に示すように、ＩＣのパッケージ体８を真空吸
着し保持する保持具５と、この保持具５を矢印の方向に
押し付けパッケージ体８を固定するソケット本体４と、
ソケット本体４と保持具５とで挟み固定されたＩＣのリ
ード９に対応し接触する位置にコンタクト部７を配置し
先端をソケット本体４に貫通させるコンタクトピン６と
を備えていた。
【０００３】そして、デュアルインライン型ＩＣにおけ
る電気特性試験では、一台のテスターに対しそれぞれの
ＩＣの大きさによる対向するリード９の間隔Ｗに適合し
たコンタクト部７の間隔をもつ種々のＩＣ測定用ソケッ
トをそれぞれ準備し、サイズの異なるＩＣの電気特性試
験に対応していた。しかしながら、数多くの種類のＩＣ
測定用ソケットを揃えることは、運用コストの増大を招
くばかりではなく、ＩＣ測定用ソケットの交換や管理す
るコストも増大することになる。このような状況のもと
に、ＩＣ測定用ソケットの数を減らすために汎用性のあ
るＩＣ測定用ソケットの改善が求められていた。
る電気特性試験では、一台のテスターに対しそれぞれの
ＩＣの大きさによる対向するリード９の間隔Ｗに適合し
たコンタクト部７の間隔をもつ種々のＩＣ測定用ソケッ
トをそれぞれ準備し、サイズの異なるＩＣの電気特性試
験に対応していた。しかしながら、数多くの種類のＩＣ
測定用ソケットを揃えることは、運用コストの増大を招
くばかりではなく、ＩＣ測定用ソケットの交換や管理す
るコストも増大することになる。このような状況のもと
に、ＩＣ測定用ソケットの数を減らすために汎用性のあ
るＩＣ測定用ソケットの改善が求められていた。
【０００４】この改善されたＩＣ測定用ソケットの一例
として特開平３一２６７７７２号公報に開示されてい
る。このＩＣ測定用ソケットは、先端がソケット本体を
貫通しばね性をもたせるように湾曲させ他端に一方向に
長い平坦部をもつ固定接触子と、この固定接触子の平坦
部と接触しながら一方向に移動できるとともに先端にリ
ードと接触する平坦な面の接点部とをもつ可動接触子と
を備えている。
として特開平３一２６７７７２号公報に開示されてい
る。このＩＣ測定用ソケットは、先端がソケット本体を
貫通しばね性をもたせるように湾曲させ他端に一方向に
長い平坦部をもつ固定接触子と、この固定接触子の平坦
部と接触しながら一方向に移動できるとともに先端にリ
ードと接触する平坦な面の接点部とをもつ可動接触子と
を備えている。
【０００５】そして、このＩＣ測定用ソケットでは、Ｉ
Ｃのパッケージ体の両側から導出され対向するリードの
間隔に応じて可動接触子を固定接触子の平坦部を摺動さ
せリードの平坦面が接点部と合うように調節し、パッケ
ージ体のサイズの異なる種々のＩＣに適用できるように
なされたものである。
Ｃのパッケージ体の両側から導出され対向するリードの
間隔に応じて可動接触子を固定接触子の平坦部を摺動さ
せリードの平坦面が接点部と合うように調節し、パッケ
ージ体のサイズの異なる種々のＩＣに適用できるように
なされたものである。
【０００６】
【発明が解決しようとする課題】上述した汎用性をもた
せたＩＣ測定用ソケットでは、リードと接触する接点部
以外に可動接触子と固定接触子とが接触する部分があ
る。このため接触不良を起さないまでも接触抵抗が増大
する欠点がある。特に、近年、ＩＣの低電圧化の傾向と
なり、接触抵抗による電圧降下は測定の不確実にする問
題になる。また、露呈している可動接触子の摺動面に埃
や異物が付き測定の不確実性を引き起す懸念がある。さ
らに、サイズの異なるＩＣ毎に可動接触氏を異動させ調
節することは非常に煩わしい作業となる欠点がある。
せたＩＣ測定用ソケットでは、リードと接触する接点部
以外に可動接触子と固定接触子とが接触する部分があ
る。このため接触不良を起さないまでも接触抵抗が増大
する欠点がある。特に、近年、ＩＣの低電圧化の傾向と
なり、接触抵抗による電圧降下は測定の不確実にする問
題になる。また、露呈している可動接触子の摺動面に埃
や異物が付き測定の不確実性を引き起す懸念がある。さ
らに、サイズの異なるＩＣ毎に可動接触氏を異動させ調
節することは非常に煩わしい作業となる欠点がある。
【０００７】従って、本発明の目的は、パッケージ体の
両側面から導出される対向するリードの間隔が変っても
ソケット本体の交換や位置合せの調整をすることなくＩ
Ｃの電気特性の測定を確実にできるＩＣ測定用ソケット
を提供することである。
両側面から導出される対向するリードの間隔が変っても
ソケット本体の交換や位置合せの調整をすることなくＩ
Ｃの電気特性の測定を確実にできるＩＣ測定用ソケット
を提供することである。
【０００８】
【課題を解決するための手段】本発明の特徴は、パッケ
ージ体の両側面から並んで導出され下方に折り曲げられ
更に上方に折り曲げ返されて先端部に水平な平坦面が形
成される複数のリードを有するＩＣの前記パッケージ体
を載置し前記リードの該平坦面にコンタクトピンを接触
させ電気特性を測定するＩＣソケットにおいて、大きさ
の異なる複数の前記パッケージ体のＩＣのそれぞれの該
パッケージ体の大きさに応じて該パッケージ体が挿入さ
れ吸着保持されるそれぞれの窪みと該窪みの両側に配置
され前記リードの該平坦面の背面に当接する突起部とこ
の突起部の外側に平坦な当接面とを具備する複数の保持
具と、前記ＩＣのそれぞれの該パッケージ体を保持する
それぞれの前記保持具の該当接面と対応する段差面を有
するとともに前記当接面と前記段差面と当接させ前記保
持具とで協働し前記パッケージ体を挟み付けるソケット
本体と、このソケット本体と前記保持具とで挟み込まれ
るそれぞれの前記ＩＣの対向する間隔の異なる前記リー
ドの該平坦面と接触し得る長さをもつコンタクト部を一
端にもつとともに前記ソケット本体から他端が導出され
るコンタクトピンとを備えるＩＣ測定用ソケットであ
る。
ージ体の両側面から並んで導出され下方に折り曲げられ
更に上方に折り曲げ返されて先端部に水平な平坦面が形
成される複数のリードを有するＩＣの前記パッケージ体
を載置し前記リードの該平坦面にコンタクトピンを接触
させ電気特性を測定するＩＣソケットにおいて、大きさ
の異なる複数の前記パッケージ体のＩＣのそれぞれの該
パッケージ体の大きさに応じて該パッケージ体が挿入さ
れ吸着保持されるそれぞれの窪みと該窪みの両側に配置
され前記リードの該平坦面の背面に当接する突起部とこ
の突起部の外側に平坦な当接面とを具備する複数の保持
具と、前記ＩＣのそれぞれの該パッケージ体を保持する
それぞれの前記保持具の該当接面と対応する段差面を有
するとともに前記当接面と前記段差面と当接させ前記保
持具とで協働し前記パッケージ体を挟み付けるソケット
本体と、このソケット本体と前記保持具とで挟み込まれ
るそれぞれの前記ＩＣの対向する間隔の異なる前記リー
ドの該平坦面と接触し得る長さをもつコンタクト部を一
端にもつとともに前記ソケット本体から他端が導出され
るコンタクトピンとを備えるＩＣ測定用ソケットであ
る。
【０００９】また、前記突起部と前記当接部の段差を変
える高さ調節部材を備えることが望ましい。さらに、前
記コンタクトピンの該コンタクト部の前記リードと接触
しない部分が凹んでいることが望ましい。
える高さ調節部材を備えることが望ましい。さらに、前
記コンタクトピンの該コンタクト部の前記リードと接触
しない部分が凹んでいることが望ましい。
【００１０】
【発明の実施の形態】次に、本発明について図面を参照
して説明する。
して説明する。
【００１１】図１は本発明の一実施の形態におけるＩＣ
測定用ソケットを示す図である。このＩＣ測定用ソケッ
トは、図１に示すように、大きさの異なる複数のパッケ
ージ体のＩＣ１０ａ，１０ｂ，１０ｃのそれぞれのパッ
ケージ体８ａ，８ｂ，８ｃの大きさに応じてパッケージ
体８ａ，８ｂ，８ｃが挿入され吸着保持されるそれぞれ
の窪みと窪みの両側に配置されリード９ａ，９ｂ，９ｃ
の平坦面の背面に当接する突起部１２ａ，１２ｂ，１２
ｃとこの突起部１２ａ，１２ｂ，１２ｃの外側に平坦な
当接面１１ａ，１１ｂ，１１ｃとを有する複数の保持具
５ａ，５ｂ，５ｃと、ＩＣ１０ａ，１０ｂ，１０ｃのそ
れぞれのパッケージ体８ａ，８ｂ，８ｃを保持するそれ
ぞれの保持具５ａ，５ｂ，５ｃの当接面１１ａ，１１
ｂ，１１ｃと対応する段差面３を有するとともに当接面
１１ａ，１１ｂ，１１ｃと段差面３と当接させ保持具５
ａ，５ｂ，５ｃとで協働しパッケージ体８ａ，８ｂ，８
ｃを挟み付けるソケット本体１と、このソケット本体１
と保持具５ａ，５ｂ，５ｃとで挟み込まれるそれぞれの
ＩＣ１０ａ，１０ｂ，１０ｃの対向する間隔の異なるリ
ード９ａ，９ｂ，９ｃの平坦面と接触し得る長さをもつ
コンタクト部２ｂを一端にもつとともにソケット本体１
から端子２ａが導出されるコンタクトピン２とを備えて
いる。
測定用ソケットを示す図である。このＩＣ測定用ソケッ
トは、図１に示すように、大きさの異なる複数のパッケ
ージ体のＩＣ１０ａ，１０ｂ，１０ｃのそれぞれのパッ
ケージ体８ａ，８ｂ，８ｃの大きさに応じてパッケージ
体８ａ，８ｂ，８ｃが挿入され吸着保持されるそれぞれ
の窪みと窪みの両側に配置されリード９ａ，９ｂ，９ｃ
の平坦面の背面に当接する突起部１２ａ，１２ｂ，１２
ｃとこの突起部１２ａ，１２ｂ，１２ｃの外側に平坦な
当接面１１ａ，１１ｂ，１１ｃとを有する複数の保持具
５ａ，５ｂ，５ｃと、ＩＣ１０ａ，１０ｂ，１０ｃのそ
れぞれのパッケージ体８ａ，８ｂ，８ｃを保持するそれ
ぞれの保持具５ａ，５ｂ，５ｃの当接面１１ａ，１１
ｂ，１１ｃと対応する段差面３を有するとともに当接面
１１ａ，１１ｂ，１１ｃと段差面３と当接させ保持具５
ａ，５ｂ，５ｃとで協働しパッケージ体８ａ，８ｂ，８
ｃを挟み付けるソケット本体１と、このソケット本体１
と保持具５ａ，５ｂ，５ｃとで挟み込まれるそれぞれの
ＩＣ１０ａ，１０ｂ，１０ｃの対向する間隔の異なるリ
ード９ａ，９ｂ，９ｃの平坦面と接触し得る長さをもつ
コンタクト部２ｂを一端にもつとともにソケット本体１
から端子２ａが導出されるコンタクトピン２とを備えて
いる。
【００１２】ここで、三つの大きさの異なるＩＣ１０
ａ，１０ｂ，１０ｃに適用できるように、コンタクトピ
ン２はコンタクト部２ｂを長くし一体の良導電金属で製
作されているものの、いずれのＩＣ１０ａ，１０ｂ，１
０ｃのリード９ａ，９ｂ，９ｃとコンタクト部２ｂとの
接触が常に良好に得らなければならない。そこで、本発
明では、コンタクトピン２のばね圧によるコンタクト部
２ｂとリード９ａ，９ｂ，９ｃとの接触圧が一定になる
ように、コンタクトピン２のばね部の中心ａ点からリー
ド９ａ，９ｂ，９ｃとコンタクト部２ｂの接触点までの
距離Ｌ1 ，Ｌ2 ，Ｌ3 に対して、リード９ａ，９ｂ，９
ｃの平坦面の背面と当接する突起部１２ａ，１２ｂ，１
２ｃと当接面１１ａ，１１ｂ，１１ｃとの段差Ｈ1 ，Ｈ
2 ，Ｈ3 を適宜設計した。すなわち、コンタクト部２ｂ
の先端側に行く程、同じ接触圧を得るためにコンタクト
部２ｂの撓みを大きくしている。
ａ，１０ｂ，１０ｃに適用できるように、コンタクトピ
ン２はコンタクト部２ｂを長くし一体の良導電金属で製
作されているものの、いずれのＩＣ１０ａ，１０ｂ，１
０ｃのリード９ａ，９ｂ，９ｃとコンタクト部２ｂとの
接触が常に良好に得らなければならない。そこで、本発
明では、コンタクトピン２のばね圧によるコンタクト部
２ｂとリード９ａ，９ｂ，９ｃとの接触圧が一定になる
ように、コンタクトピン２のばね部の中心ａ点からリー
ド９ａ，９ｂ，９ｃとコンタクト部２ｂの接触点までの
距離Ｌ1 ，Ｌ2 ，Ｌ3 に対して、リード９ａ，９ｂ，９
ｃの平坦面の背面と当接する突起部１２ａ，１２ｂ，１
２ｃと当接面１１ａ，１１ｂ，１１ｃとの段差Ｈ1 ，Ｈ
2 ，Ｈ3 を適宜設計した。すなわち、コンタクト部２ｂ
の先端側に行く程、同じ接触圧を得るためにコンタクト
部２ｂの撓みを大きくしている。
【００１３】また、この実施の形態では、三種類のＩＣ
に適用するように述べたが、四種類あるいは五種類でも
適用できる。なお、種類が増えそれに伴なって保持具の
数が増えコスト高の懸念があるが、保持具自体のコスト
はソケット本体のコストに比べ遥に安く、１／１００程
度で済む。何となれば、保持具は切削加工で済むのに対
し、ソケット本体は精密なモールド成形で製作しなけれ
ばならず、しかも高価なモールド金型を必要とする。
に適用するように述べたが、四種類あるいは五種類でも
適用できる。なお、種類が増えそれに伴なって保持具の
数が増えコスト高の懸念があるが、保持具自体のコスト
はソケット本体のコストに比べ遥に安く、１／１００程
度で済む。何となれば、保持具は切削加工で済むのに対
し、ソケット本体は精密なモールド成形で製作しなけれ
ばならず、しかも高価なモールド金型を必要とする。
【００１４】さらに、上述の接触圧調整に際して、微妙
な調整が必要な場合は、図１の当接面１１ｃにねじ止め
されるシムＡを設け、このシムＡの厚さを種々準備し、
シムＡを交換することで接触圧調整を行なえば、段差Ｈ
の調整による接触圧調整がより簡単に精密にできる。
な調整が必要な場合は、図１の当接面１１ｃにねじ止め
されるシムＡを設け、このシムＡの厚さを種々準備し、
シムＡを交換することで接触圧調整を行なえば、段差Ｈ
の調整による接触圧調整がより簡単に精密にできる。
【００１５】図２（ａ）および（ｂ）は図１のＩＣ測定
用ソケットの変形例を示すソケット本体の断面図および
コンタクトピンの側面図である。このＩＣ測定用ソケッ
トは、図２に示すように、ＩＣ１０ａ，１０ｂ，１０ｃ
のリード９ａ，９ｂ，９ｃのコンタクト部２ｂへの接触
部以外に凹み１３を設けたことである。それ以外は、前
述のＩＣ測定用ソケットと同じである。
用ソケットの変形例を示すソケット本体の断面図および
コンタクトピンの側面図である。このＩＣ測定用ソケッ
トは、図２に示すように、ＩＣ１０ａ，１０ｂ，１０ｃ
のリード９ａ，９ｂ，９ｃのコンタクト部２ｂへの接触
部以外に凹み１３を設けたことである。それ以外は、前
述のＩＣ測定用ソケットと同じである。
【００１６】通常、ＩＣのリードは表面に半田メッキが
施されている。このため、リードがコンタクト部に接触
する毎に、リードの半田が剥離しコンタクト部に付着す
る。そして、コンタクト部に堆積してある程度の半田塊
１４の大きさになるとＩＣに再付着し隣接するリードの
間に挟まり実装時にトラブルを引き起すという問題があ
るし、コンタクト部に残ったままであると測定が不正確
となる。そこで、凹み１３を設ければ、コンタクト部２
ｂのスプリングバックで半田塊１４はこの凹み１３に落
ち込み従来例のような接触不良がなくなる。
施されている。このため、リードがコンタクト部に接触
する毎に、リードの半田が剥離しコンタクト部に付着す
る。そして、コンタクト部に堆積してある程度の半田塊
１４の大きさになるとＩＣに再付着し隣接するリードの
間に挟まり実装時にトラブルを引き起すという問題があ
るし、コンタクト部に残ったままであると測定が不正確
となる。そこで、凹み１３を設ければ、コンタクト部２
ｂのスプリングバックで半田塊１４はこの凹み１３に落
ち込み従来例のような接触不良がなくなる。
【００１７】
【発明の効果】以上説明したように本発明は、大きさの
異なる複数のＩＣのリードが接触し得るようにリードの
位置にまたがった長さのコンタクト部をもつコンタクト
ピンを一つのソケット本体に配置し、コンタクト部への
それぞれのリードの接触圧を一定に調節する手段とを設
けることによって、大きさの異なるＩＣでも適用でき、
運用コストの低減や調整工数の低減が図れるとともに信
頼度の高い測定ができるという効果がある。
異なる複数のＩＣのリードが接触し得るようにリードの
位置にまたがった長さのコンタクト部をもつコンタクト
ピンを一つのソケット本体に配置し、コンタクト部への
それぞれのリードの接触圧を一定に調節する手段とを設
けることによって、大きさの異なるＩＣでも適用でき、
運用コストの低減や調整工数の低減が図れるとともに信
頼度の高い測定ができるという効果がある。
【図１】本発明の一実施の形態におけるＩＣ測定用ソケ
ットを示す図である。
ットを示す図である。
【図２】図１のＩＣ測定用ソケットの変形例を示すソケ
ット本体の断面図およびコンタクトピンの側面図であ
る。
ット本体の断面図およびコンタクトピンの側面図であ
る。
【図３】従来の一例を示すＩＣ測定用ソケットの斜視図
である。
である。
１，１ａ，４ ソケット本体 ２，６ コンタクトピン ２ａ 端子 ２ｂ，７ コンタクト部 ３ 段差面 ５，５ａ，５ｂ，５ｃ 保持具 ８，８ａ，８ｂ，８ｃ パッケージ体 ９，９ａ，９ｂ，９ｃ リード １０ａ，１０ｂ，１０ｃ ＩＣ １１ａ，１１ｂ，１１ｃ 当接面 １２ａ，１２ｂ，１２ｃ 突起部 １３ 凹み １４ 半田塊
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (58)調査した分野(Int.Cl.6，ＤＢ名) H01R 33/76 H01L 23/32
Claims (3)
- 【請求項１】 パッケージ体の両側面から並んで導出さ
れ下方に折り曲げられ更に上方に折り曲げ返されて先端
部に水平な平坦面が形成される複数のリードを有するＩ
Ｃの前記パッケージ体を載置し前記リードの該平坦面に
コンタクトピンを接触させ電気特性を測定するＩＣソケ
ットにおいて、大きさの異なる複数の前記パッケージ体
のＩＣのそれぞれの該パッケージ体の大きさに応じて該
パッケージ体が挿入され吸着保持されるそれぞれの窪み
と該窪みの両側に配置され前記リードの該平坦面の背面
に当接する突起部とこの突起部の外側に平坦な当接面と
を具備する複数の保持具と、前記ＩＣのそれぞれの該パ
ッケージ体を保持するそれぞれの前記保持具の該当接面
と対応する段差面を有するとともに前記当接面と前記段
差面と当接させ前記保持具とで協働し前記パッケージ体
を挟み付けるソケット本体と、このソケット本体と前記
保持具とで挟み込まれるそれぞれの前記ＩＣの対向する
間隔の異なる前記リードの該平坦面と接触し得る長さを
もつコンタクト部を一端にもつとともに前記ソケット本
体から他端が導出されるコンタクトピンとを備えること
を特徴とするＩＣ測定用ソケット。 - 【請求項２】 前記突起部と前記当接部の段差を変える
高さ調節部材を備えることを特徴とする請求項１記載の
ＩＣ測定用ソケット。 - 【請求項３】 前記コンタクトピンの該コンタクト部の
前記リードと接触しない部分が凹んでいることを特徴と
する請求項１および２記載のＩＣ測定用ソケット。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP8136686A JP2806877B2 (ja) | 1996-05-30 | 1996-05-30 | Ｉｃ測定用ソケット |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP8136686A JP2806877B2 (ja) | 1996-05-30 | 1996-05-30 | Ｉｃ測定用ソケット |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH09320716A JPH09320716A (ja) | 1997-12-12 |
| JP2806877B2 true JP2806877B2 (ja) | 1998-09-30 |
Family
ID=15181109
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP8136686A Expired - Fee Related JP2806877B2 (ja) | 1996-05-30 | 1996-05-30 | Ｉｃ測定用ソケット |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2806877B2 (ja) |
Families Citing this family (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP4505342B2 (ja) * | 2005-02-04 | 2010-07-21 | 株式会社日本マイクロニクス | 電気的接続装置 |
-
1996
- 1996-05-30 JP JP8136686A patent/JP2806877B2/ja not_active Expired - Fee Related
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH09320716A (ja) | 1997-12-12 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| US7431591B2 (en) | Socket for electrical parts | |
| JP6174172B2 (ja) | コンタクトプローブ | |
| US5926027A (en) | Apparatus and method for testing a device | |
| US20010044226A1 (en) | Contact pin assembly, contact pin assembly manufacturing method, contact pin assembling structure, contact pin assembling structure manufacturing method, and socket for electrical parts | |
| US6302702B1 (en) | Connecting devices and method for interconnecting circuit components | |
| KR20000062209A (ko) | Ｂｇａ 패키지의 전기적 검사를 위한 소켓 및 이를 이용한검사방법 | |
| US20190178911A1 (en) | Electrical connecting apparatus and contact | |
| JP2806877B2 (ja) | Ｉｃ測定用ソケット | |
| CA2291380A1 (en) | Connector with prestressed contacts and its use | |
| EP1091628A2 (en) | Electrical interconnection socket apparatus | |
| KR100394337B1 (ko) | 전기부품용 소켓 | |
| JP3675989B2 (ja) | 電子部品用コネクタ | |
| JP3670491B2 (ja) | ハンドラー用ソケット | |
| US6902445B2 (en) | Socket for electrical parts | |
| JP2757990B2 (ja) | Ｉｃソケット | |
| JPH0611461Y2 (ja) | プローブ | |
| JP2710203B2 (ja) | Ｉｃソケット | |
| US6791110B2 (en) | Semiconductor-package measuring method, measuring socket, and semiconductor package | |
| JPH11251022A (ja) | Ｉｃソケットのコンタクトピン、コンタクトピンユニット及びｉｃソケット | |
| US6264479B1 (en) | Socket for handler | |
| JPH0519823Y2 (ja) | ||
| JP2766142B2 (ja) | Ｉｃソケット | |
| JP2002350464A (ja) | 測定用ソケット | |
| JPH05109445A (ja) | サーフエイスマウントコネクタ | |
| US20030184331A1 (en) | Electrode and fixture for measuring electronic components |
Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 19980707 |
|
| R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
| LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |