JP3071925B2 - 非接触式伸び計測方法 - Google Patents
非接触式伸び計測方法Info
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- JP3071925B2 JP3071925B2 JP4009062A JP906292A JP3071925B2 JP 3071925 B2 JP3071925 B2 JP 3071925B2 JP 4009062 A JP4009062 A JP 4009062A JP 906292 A JP906292 A JP 906292A JP 3071925 B2 JP3071925 B2 JP 3071925B2
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Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は、材料強度試験の引張試
験に於ける伸び測定を、試験片と非接触で行う非接触式
伸び計測方法に関する。
験に於ける伸び測定を、試験片と非接触で行う非接触式
伸び計測方法に関する。
【０００２】
【従来の技術】引張試験、クリープ試験等の材料強度試
験に於いては、試験片の伸び測定が必要となることが多
く、この場合、伸び計と呼ばれる測定器により試験片上
の２つの基準点間の長さ変化を計測して当該試験片の伸
びを計測する。従来の伸び計としては、ストレインゲー
ジ或いは差動トランスを検出器として用いたものが代表
的である。
験に於いては、試験片の伸び測定が必要となることが多
く、この場合、伸び計と呼ばれる測定器により試験片上
の２つの基準点間の長さ変化を計測して当該試験片の伸
びを計測する。従来の伸び計としては、ストレインゲー
ジ或いは差動トランスを検出器として用いたものが代表
的である。
【０００３】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、前記ス
トレインゲージ式伸び計に於いては、検出器毎に標点間
隔が定められているため、必要とする標点間隔毎にそれ
ぞれ検出器を用意しなければならない欠点があり、かつ
その構造上、標点距離を超えるような大きな長さ変化に
は対応出来ないという難点がある。亦、前記差動トラン
ス式伸び計に於いても、通常標点間隔毎に検出器を用意
する必要がある。
トレインゲージ式伸び計に於いては、検出器毎に標点間
隔が定められているため、必要とする標点間隔毎にそれ
ぞれ検出器を用意しなければならない欠点があり、かつ
その構造上、標点距離を超えるような大きな長さ変化に
は対応出来ないという難点がある。亦、前記差動トラン
ス式伸び計に於いても、通常標点間隔毎に検出器を用意
する必要がある。
【０００４】一方、この問題を解消した差動トランス式
伸び計も開発されてはいるが、使い勝手が良好とは言え
ないものである。更に、前記ストレインゲージ式及び差
動トランス式伸び計双方の欠点として、検出器を試験片
に取り付けるか、或いは接触させる必要があるため、セ
ッティングが面倒であったり、亦、試験片が薄板・細線
である場合には、検出器が取付け難いという大きな難点
がある。
伸び計も開発されてはいるが、使い勝手が良好とは言え
ないものである。更に、前記ストレインゲージ式及び差
動トランス式伸び計双方の欠点として、検出器を試験片
に取り付けるか、或いは接触させる必要があるため、セ
ッティングが面倒であったり、亦、試験片が薄板・細線
である場合には、検出器が取付け難いという大きな難点
がある。
【０００５】その他、幾つかの方式の伸び計が考案され
ているが、それらは検出器を試験片と接触させる方式の
ものが殆どであり、ストレインゲージ式若しくは差動ト
ランス式伸び計と比して取付作業性が優れているとは言
い難い。これに対して、取付作業性を改善した伸び計と
して光学式の伸び計がある。当該光学式伸び計は、試験
片に記した標点を光学系で捉え、その動きを追尾するこ
とにより試験片の伸び量を検出するものである。
ているが、それらは検出器を試験片と接触させる方式の
ものが殆どであり、ストレインゲージ式若しくは差動ト
ランス式伸び計と比して取付作業性が優れているとは言
い難い。これに対して、取付作業性を改善した伸び計と
して光学式の伸び計がある。当該光学式伸び計は、試験
片に記した標点を光学系で捉え、その動きを追尾するこ
とにより試験片の伸び量を検出するものである。
【０００６】この方法は、試験片に非接触という点では
優れているが、試験片への標点の書き込み或いは取付が
必要であったり、微小伸びを測定する場合には十分な精
度が得られない等、不満足な部分が多い。こゝに於い
て、本発明は、前記従来の課題に鑑み、測定作業性を向
上せしめると共に、従来の方法では測定不可能或いは十
分な測定が得られない試験条件に於いても、試験片の伸
び量を測定出来る非接触式伸び計測方法を提供せんとす
るものである。
優れているが、試験片への標点の書き込み或いは取付が
必要であったり、微小伸びを測定する場合には十分な精
度が得られない等、不満足な部分が多い。こゝに於い
て、本発明は、前記従来の課題に鑑み、測定作業性を向
上せしめると共に、従来の方法では測定不可能或いは十
分な測定が得られない試験条件に於いても、試験片の伸
び量を測定出来る非接触式伸び計測方法を提供せんとす
るものである。
【０００７】
【課題を解決するための手段】前記課題の解決は、本発
明が次に列挙する新規な特徴的構成手法を採用すること
により達成される。即ち本発明の第１の特徴は、材料強
度試験に於ける引張試験に於いて、レーザ光を利用して
非接触で物体の移動量を計測自在な非接触式送り量検出
器を少なくとも２台設け、引張前の試験片表面に定めた
前記非接触式送り量検出器毎の標点の引張後までの送り
量をそれぞれ検出し、当該送り量の差より前記試験片の
伸び量を求めてなる非接触式伸び計測方法である。
明が次に列挙する新規な特徴的構成手法を採用すること
により達成される。即ち本発明の第１の特徴は、材料強
度試験に於ける引張試験に於いて、レーザ光を利用して
非接触で物体の移動量を計測自在な非接触式送り量検出
器を少なくとも２台設け、引張前の試験片表面に定めた
前記非接触式送り量検出器毎の標点の引張後までの送り
量をそれぞれ検出し、当該送り量の差より前記試験片の
伸び量を求めてなる非接触式伸び計測方法である。
【０００８】本発明の第２の特徴は、材料強度試験に於
ける引張試験に於いて、試験片の伸び方向に並行移動自
在なステージを少なくとも２台設置し、当該ステージに
レーザ光を利用して非接触で物体の移動量を計測自在な
非接触式送り量検出器をそれぞれ搭載すると共に、引張
前に試験片表面に定めた前記非接触式送り量検出器毎の
標点の引張中の送り量をそれぞれ検出し、当該検出した
信号を前記ステージの制御部にフィードバックして、前
記非接触式送り量検出器による前記標点の送り量検出値
が零となるよう前記ステージを追従移動せしめ、当該ス
テージの移動量の差より前記試験片の伸び量を求めてな
る非接触式伸び計測方法である。
ける引張試験に於いて、試験片の伸び方向に並行移動自
在なステージを少なくとも２台設置し、当該ステージに
レーザ光を利用して非接触で物体の移動量を計測自在な
非接触式送り量検出器をそれぞれ搭載すると共に、引張
前に試験片表面に定めた前記非接触式送り量検出器毎の
標点の引張中の送り量をそれぞれ検出し、当該検出した
信号を前記ステージの制御部にフィードバックして、前
記非接触式送り量検出器による前記標点の送り量検出値
が零となるよう前記ステージを追従移動せしめ、当該ス
テージの移動量の差より前記試験片の伸び量を求めてな
る非接触式伸び計測方法である。
【０００９】本発明の第３の特徴は、前記第２の特徴に
おけるステージの移動量の差が、ステージ制御部の制御
量比較演算によるか、前記ステージ相対間隔の適宜手段
の変動測定によってなる非接触式伸び計測方法である。
おけるステージの移動量の差が、ステージ制御部の制御
量比較演算によるか、前記ステージ相対間隔の適宜手段
の変動測定によってなる非接触式伸び計測方法である。
【００１０】
【作用】本発明は前記のような手段を講じたので、２台
以上の非接触式送り量検出器毎に、引張前の試験片表面
に於ける標点を定め、当該標点の引張後までに移動した
移動量をそれぞれ検出し、その差より前記試験片の伸び
量を求める。
以上の非接触式送り量検出器毎に、引張前の試験片表面
に於ける標点を定め、当該標点の引張後までに移動した
移動量をそれぞれ検出し、その差より前記試験片の伸び
量を求める。
【００１１】又は、試験片の伸び方向に並行移動自在な
２台以上のステージに搭載した非接触式送り量検出器毎
に、引張前の前記試験片表面に於ける標点を定め、当該
標点の引張中の移動量をそれぞれ計測して、その移動量
の計測値信号を前記ステージの制御部にフィードバック
し、前記標点の移動量計測値が零となるように前記それ
ぞれのステージを追従並行移動して、当該ステージの移
動量の差より前記試験片の伸び量を求める。
２台以上のステージに搭載した非接触式送り量検出器毎
に、引張前の前記試験片表面に於ける標点を定め、当該
標点の引張中の移動量をそれぞれ計測して、その移動量
の計測値信号を前記ステージの制御部にフィードバック
し、前記標点の移動量計測値が零となるように前記それ
ぞれのステージを追従並行移動して、当該ステージの移
動量の差より前記試験片の伸び量を求める。
【００１２】
（第１実施例）本発明の第１実施例を図面につき詳説す
る。図１は本実施例の伸び計測方法に供される伸び計測
装置の正面図である。
る。図１は本実施例の伸び計測方法に供される伸び計測
装置の正面図である。
【００１３】図中、αは伸び計測装置、βは試験片、
１，２はそれぞれ試験片βの上側，下側掴み具、３ａ，
３ｂはレーザ光を利用した非接触式送り量検出器、Ａ，
Ｄは試験片端部、Ｂ，Ｃは標点、４はフレーム、５は並
行ガイドロッド、６はスライダ、７は並行ガイドロッド
５に並行に立設する非接触式送り量検出器３ａ，３ｂの
取付支柱である。
１，２はそれぞれ試験片βの上側，下側掴み具、３ａ，
３ｂはレーザ光を利用した非接触式送り量検出器、Ａ，
Ｄは試験片端部、Ｂ，Ｃは標点、４はフレーム、５は並
行ガイドロッド、６はスライダ、７は並行ガイドロッド
５に並行に立設する非接触式送り量検出器３ａ，３ｂの
取付支柱である。
【００１４】伸び計測装置αに於いて、本実施例の仕様
手順は、下側掴み具２を固定し、上側掴み具１をスライ
ダ６と一体に上方へ引張る時、標点Ｂ，Ｃ間の伸び量を
測定するのに当って、以下に説明する具体的実施態様に
則って実行される。しかして、前記上側掴み具１を速度
ｖの速さで上方へ引張るとき、試験片βが均一に伸びる
とすれば、０からｔ1 秒までの各点の移動量は次の様に
なる。
手順は、下側掴み具２を固定し、上側掴み具１をスライ
ダ６と一体に上方へ引張る時、標点Ｂ，Ｃ間の伸び量を
測定するのに当って、以下に説明する具体的実施態様に
則って実行される。しかして、前記上側掴み具１を速度
ｖの速さで上方へ引張るとき、試験片βが均一に伸びる
とすれば、０からｔ1 秒までの各点の移動量は次の様に
なる。
【００１５】
【数１】
【００１６】従って、０からｔ1 秒までの標点Ｂ，Ｃ間
の伸び量をΔＬ1 とすると次式の様になる。
の伸び量をΔＬ1 とすると次式の様になる。
【数２】
【００１７】次に、予め前記標点Ｂ，Ｃの当初位置を特
定点として取りつけた非接触式送り量検出器３ａ，３ｂ
にて、前記上側掴み具１の上方非引張後の前記標点Ｂ，
Ｃのそれぞれの送り量を計測し、当該計測値の差よりの
伸び値を見積もってみる。上側掴み具１をｖの速さで引
張り上げるとき、非接触式送り量検出器３ａ，３ｂで観
察されるｔ秒後の移動速度をそれぞれｖB，ｖCとすると
次式の様になる。
定点として取りつけた非接触式送り量検出器３ａ，３ｂ
にて、前記上側掴み具１の上方非引張後の前記標点Ｂ，
Ｃのそれぞれの送り量を計測し、当該計測値の差よりの
伸び値を見積もってみる。上側掴み具１をｖの速さで引
張り上げるとき、非接触式送り量検出器３ａ，３ｂで観
察されるｔ秒後の移動速度をそれぞれｖB，ｖCとすると
次式の様になる。
【００１８】
【数３】
【００１９】即ち、０からｔ1秒までの間に前記非接触
式送り量検出器３ａ，３ｂで計測される前記標点Ｂ，Ｃ
の送り量をそれぞれＸB1，ＸC1とすると次式の様にな
る。
式送り量検出器３ａ，３ｂで計測される前記標点Ｂ，Ｃ
の送り量をそれぞれＸB1，ＸC1とすると次式の様にな
る。
【数４】
【００２０】よって、０からｔ1秒までの間の送り量の
差Δx1は次式にて表される。
差Δx1は次式にて表される。
【数５】
【００２１】（１）式に於いて、分子ｖｔ1 が分母Ｌ＋
２ａに比して十分小さいときには、｛ ｝内の第２項以
下が無視出来るので、次式が得られる。
２ａに比して十分小さいときには、｛ ｝内の第２項以
下が無視出来るので、次式が得られる。
【数６】
【００２２】即ち、試験片βが均一に伸び、かつ、伸び
量が小さいときには、本実施例による計測方法で伸び量
が計測出来る。実際の材料強度試験に於いて耐力を求め
る際には、試験片βは均一に変形すると見なされ、かつ
伸び量が極僅かであることから、本実施例による伸び計
測方法は有効である。
量が小さいときには、本実施例による計測方法で伸び量
が計測出来る。実際の材料強度試験に於いて耐力を求め
る際には、試験片βは均一に変形すると見なされ、かつ
伸び量が極僅かであることから、本実施例による伸び計
測方法は有効である。
【００２３】しかしながら、（１）式に於いて、分子ｖ
ｔ1 が分母Ｌ＋２ａに比して十分小さいとは言えない場
合には、｛ ｝内の第２項以下は無視出来ず、本実施例
では精度の良い伸び量計測が出来ない。これを解決する
ものとして、次の第２実施例に示す伸び量計測方法を本
発明者は創作した。
ｔ1 が分母Ｌ＋２ａに比して十分小さいとは言えない場
合には、｛ ｝内の第２項以下は無視出来ず、本実施例
では精度の良い伸び量計測が出来ない。これを解決する
ものとして、次の第２実施例に示す伸び量計測方法を本
発明者は創作した。
【００２４】（第２実施例）本発明の第２実施例を図面
につき詳説する。図２は本実施例の伸び計測方法に供さ
れる伸び計測装置の正面図である。図中、α′は伸び計
測装置、３ａ′，３ｂ′は非接触式送り量計測器検出
部、８ａ，８ｂは独立に試験片β引張方向と並行に動作
自在かつそれぞれ前記非接触式送り量計測器検出部３
ａ′，３ｂ′を搭載するステージである。
につき詳説する。図２は本実施例の伸び計測方法に供さ
れる伸び計測装置の正面図である。図中、α′は伸び計
測装置、３ａ′，３ｂ′は非接触式送り量計測器検出
部、８ａ，８ｂは独立に試験片β引張方向と並行に動作
自在かつそれぞれ前記非接触式送り量計測器検出部３
ａ′，３ｂ′を搭載するステージである。
【００２５】９はステージ制御部、１０は送り量計測器
本体、１１はコンピュータ、１２，１３は並行ガイドロ
ッド５に並行に並立してステージ８ａ，８ｂをそれぞれ
上下摺動自在に取付けた取付支柱、１４は基端をステー
ジ８ａに片持突出しかつ先端に非接触式送り量計側器検
出部３ａ′を固着した水平支杆である。尚、第１実施例
と同一部材には、同一符号を付してある。
本体、１１はコンピュータ、１２，１３は並行ガイドロ
ッド５に並行に並立してステージ８ａ，８ｂをそれぞれ
上下摺動自在に取付けた取付支柱、１４は基端をステー
ジ８ａに片持突出しかつ先端に非接触式送り量計側器検
出部３ａ′を固着した水平支杆である。尚、第１実施例
と同一部材には、同一符号を付してある。
【００２６】伸び計測装置α′に於いて、本実施例の仕
様手順は、以下に説明する具体的実施態様に則って実行
される。しかして、非接触式送り量計測器検出部３
ａ′，３ｂ′は試験片β上の異なる２標点Ｂ，Ｃの送り
量を検出するようセットされており、当該非接触式送り
量計測器検出部３ａ′，３ｂ′からの計測値信号は、送
り量検出器本体１０で処理され、コンピュータ１１に入
力される。
様手順は、以下に説明する具体的実施態様に則って実行
される。しかして、非接触式送り量計測器検出部３
ａ′，３ｂ′は試験片β上の異なる２標点Ｂ，Ｃの送り
量を検出するようセットされており、当該非接触式送り
量計測器検出部３ａ′，３ｂ′からの計測値信号は、送
り量検出器本体１０で処理され、コンピュータ１１に入
力される。
【００２７】前記コンピュータ１１は、前記非接触式送
り量計測器検出部３ａ′，３ｂ′で検出される前記測定
値信号が０となるようステージ制御部９に駆動信号を出
力し、ステージ８ａ，８ｂを移動せしめる。この様なシ
ステムに於いて、試験片βを引張ると、前記非接触式送
り量計測器検出部３ａ′，３ｂ′で送り量を検出するた
めの２標点Ｂ，Ｃはそれぞれ移動するが、当該非接触式
送り量計測器検出部３ａ′，３ｂ′を搭載しているステ
ージ８ａ，８ｂもそれぞれ前記標点Ｂ，Ｃに追従して移
動する。
り量計測器検出部３ａ′，３ｂ′で検出される前記測定
値信号が０となるようステージ制御部９に駆動信号を出
力し、ステージ８ａ，８ｂを移動せしめる。この様なシ
ステムに於いて、試験片βを引張ると、前記非接触式送
り量計測器検出部３ａ′，３ｂ′で送り量を検出するた
めの２標点Ｂ，Ｃはそれぞれ移動するが、当該非接触式
送り量計測器検出部３ａ′，３ｂ′を搭載しているステ
ージ８ａ，８ｂもそれぞれ前記標点Ｂ，Ｃに追従して移
動する。
【００２８】前記ステージ８ａ，８ｂは、ステージ制御
部９でコントロールしているから、その移動量は、前記
ステージ制御部９の制御量として検知可能である。よっ
て前記ステージ８ａ，８ｂの移動量をステージ制御部９
に制御量として操作指令するコンピュータ１１で、その
指令した制御量の差から前記試験片β上の２標点Ｂ，Ｃ
間の伸び量を比較演算することが出来る。
部９でコントロールしているから、その移動量は、前記
ステージ制御部９の制御量として検知可能である。よっ
て前記ステージ８ａ，８ｂの移動量をステージ制御部９
に制御量として操作指令するコンピュータ１１で、その
指令した制御量の差から前記試験片β上の２標点Ｂ，Ｃ
間の伸び量を比較演算することが出来る。
【００２９】（第３実施例）本発明の第３実施例を図面
につき詳説する。図３は本実施例の伸び計測方法に供さ
れる伸び計測装置の正面図である。図中α″は伸び計測
装置、１５はレーザ変位計、１４′，１６は水平支杆で
ある。尚、図２に示す第２実施例と同一部材は同一符号
を付した。
につき詳説する。図３は本実施例の伸び計測方法に供さ
れる伸び計測装置の正面図である。図中α″は伸び計測
装置、１５はレーザ変位計、１４′，１６は水平支杆で
ある。尚、図２に示す第２実施例と同一部材は同一符号
を付した。
【００３０】伸び計測装置α″に於いて、本実施例の仕
様手順は、以下に説明する具体実施態様の様に、第２実
施例に於いては非接触式送り量計測器検出部３ａ′，３
ｂ′を搭載したステージ８ａ，８ｂの移動量、即ち２標
点Ｂ，Ｃ間距離をステージ制御部９のコントロール量か
ら逆算しているものを、基端をステージ８ｂに片持突出
した水平支杆１６先端上に設置するレーザ変位計１５に
て直接計測するものである。
様手順は、以下に説明する具体実施態様の様に、第２実
施例に於いては非接触式送り量計測器検出部３ａ′，３
ｂ′を搭載したステージ８ａ，８ｂの移動量、即ち２標
点Ｂ，Ｃ間距離をステージ制御部９のコントロール量か
ら逆算しているものを、基端をステージ８ｂに片持突出
した水平支杆１６先端上に設置するレーザ変位計１５に
て直接計測するものである。
【００３１】通常のステージ８ａ，８ｂの送り精度はそ
れほど良くないため、当該伸び計測測装置α″では、前
記ステージ８ａ，８ｂ間の距離をレーザ変位計１５で相
対峙する水平支杆１４′の貫通突出端１４ａにレーザー
を照射して計測することで精度の向上を図っているが、
当該ステージ８ａ，８ｂ間の距離計測は、図３で示した
レーザ変位計１５の他に、電子マイクロメータ等の測定
技術によっても可能であることは言うまでもない。
れほど良くないため、当該伸び計測測装置α″では、前
記ステージ８ａ，８ｂ間の距離をレーザ変位計１５で相
対峙する水平支杆１４′の貫通突出端１４ａにレーザー
を照射して計測することで精度の向上を図っているが、
当該ステージ８ａ，８ｂ間の距離計測は、図３で示した
レーザ変位計１５の他に、電子マイクロメータ等の測定
技術によっても可能であることは言うまでもない。
【００３２】尚、本発明の実施例では計測に当たって非
接触式送り量計測器３ａ，３ｂ，３ａ′，３ｂ′を利用
しているが、当該非接触式送り量計測器３ａ，３ｂ，３
ａ′，３ｂ′は、製造ラインに於いては製品・材料の送
り量或いは監視・制御用として使用されているのに対し
て、本発明の実施例に於いては、移動と同時に変形する
試験片β上の標点Ｂ，Ｃを計測対象としていること、
亦、２台以上を組として測定値の差を利用していること
が使用形態の上で根本的に異なる。亦、従来の光学式伸
び計に於いても、送り量を計測する送り量計測器は非接
触のものであったが、試験片βの表面に何のマーキング
もせずに送り量を計測するという点で、本発明と従来の
光学式伸び計とは相違する。
接触式送り量計測器３ａ，３ｂ，３ａ′，３ｂ′を利用
しているが、当該非接触式送り量計測器３ａ，３ｂ，３
ａ′，３ｂ′は、製造ラインに於いては製品・材料の送
り量或いは監視・制御用として使用されているのに対し
て、本発明の実施例に於いては、移動と同時に変形する
試験片β上の標点Ｂ，Ｃを計測対象としていること、
亦、２台以上を組として測定値の差を利用していること
が使用形態の上で根本的に異なる。亦、従来の光学式伸
び計に於いても、送り量を計測する送り量計測器は非接
触のものであったが、試験片βの表面に何のマーキング
もせずに送り量を計測するという点で、本発明と従来の
光学式伸び計とは相違する。
【００３３】
【発明の効果】かくして本発明によれば、試験片上の標
点間の移動距離を非接触式送り量計測器を利用して追従
計測するため、従来の光学式の伸び計の難点であった標
点付けの煩わしさや試験片の形状的制約から完全に開放
されると共に、計測精度が向上する。更には、第１実施
例に於いては、標点の追尾機構が不要となるので、機構
が大幅に簡略化される。
点間の移動距離を非接触式送り量計測器を利用して追従
計測するため、従来の光学式の伸び計の難点であった標
点付けの煩わしさや試験片の形状的制約から完全に開放
されると共に、計測精度が向上する。更には、第１実施
例に於いては、標点の追尾機構が不要となるので、機構
が大幅に簡略化される。
【００３４】亦、本発明法に係る非接触伸び計をクリー
プ試験等の材料強度試験に使用すれば、広範囲の形状の
試験片に付いて作業性良く、かつ高精度の伸び量測定が
可能である。さらには、引張或いはクリープ試験での伸
び測定のみならず、曲げ試験等での変位測定等に使用し
ても大きな効果を期待出来る等、優れた効果を奏する。
プ試験等の材料強度試験に使用すれば、広範囲の形状の
試験片に付いて作業性良く、かつ高精度の伸び量測定が
可能である。さらには、引張或いはクリープ試験での伸
び測定のみならず、曲げ試験等での変位測定等に使用し
ても大きな効果を期待出来る等、優れた効果を奏する。
【図１】本発明の第１実施例の伸び計測方法に供される
伸び計測装置の正面図である。
伸び計測装置の正面図である。
【図２】同上、第２実施例の伸び計測方法に供される伸
び計測装置の正面図である。
び計測装置の正面図である。
【図３】同上、第３実施例の伸び計測方法に供される伸
び計測装置の正面図である。
び計測装置の正面図である。
α，α′，α″…伸び計測装置 β…試験片 Ａ，Ｄ…試験片端部 Ｂ，Ｃ…標点 １…上側掴み具 ２…下側掴み具 ３ａ，３ｂ，３ａ′，３ｂ′…非接触式送り量検出器 ４…フレーム ５…並行ガイドロッド ６…スライダ ７，１２，１３…取付支柱 ８ａ，８ｂ…ステージ ９…ステージ制御部 １０…送り量計測器本体 １１…コンピュータ １４，１４′，１６…水平支杆 １５…レーザ変位計
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (58)調査した分野(Int.Cl.7，ＤＢ名) G01B 21/00 - 21/32 G01B 11/00 - 11/30
Claims (3)
- 【請求項１】材料強度試験に於ける引張試験に於いて、
レーザ光を利用して非接触で物体の移動量を計測自在な
非接触式送り量検出器を少なくとも2台設け、試験片へ
標点を書き込んだり取り付けたりする代わりにレーザ光
を利用して前記送り量検出器毎に引張前の試験片表面に
標点を定め、標点の引張後までの送り量をそれぞれ検出
し、当該送り量の差より前記試験片の伸び量を求めるこ
とを特徴とする非接触式伸び計測方法 - 【請求項２】材料強度試験に於ける引張試験に於いて、
試験片の伸び方向に並行移動自在なステージを少なくと
も２台設置し、当該ステージにレーザ光を利用して非接
触で物体の移動量を計測自在な非接触式送り量検出器を
それぞれ搭載すると共に、試験片へ標点を書き込んだり
取り付けたりする代わりにレーザ光を利用して前記送り
量検出器毎に引張前の試験片表面に標点を定め、前記標
点の引張中の送り量をそれぞれ検出し、当該検出した信
号を前記ステージの制御部にフィードバックして、前記
非接触式送り量検出器による前記標点の送り量検出値が
零となるよう前記ステージを追従移動せしめ、当該ステ
ージの移動量の差より前記試験片の伸び量を求めること
を特徴とする非接触式伸び計測方法 - 【請求項３】ステージの移動量の差は、ステージ制御部
の制御量比較演算によるか、前記ステージ相対間隔の適
宜手段の変動測定によることを特徴とする請求項２記載
の非接触式伸び計測方法
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP4009062A JP3071925B2 (ja) | 1992-01-22 | 1992-01-22 | 非接触式伸び計測方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP4009062A JP3071925B2 (ja) | 1992-01-22 | 1992-01-22 | 非接触式伸び計測方法 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH05196459A JPH05196459A (ja) | 1993-08-06 |
| JP3071925B2 true JP3071925B2 (ja) | 2000-07-31 |
Family
ID=11710131
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP4009062A Expired - Fee Related JP3071925B2 (ja) | 1992-01-22 | 1992-01-22 | 非接触式伸び計測方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP3071925B2 (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| KR20240050622A (ko) * | 2022-10-12 | 2024-04-19 | 한국산업기술시험원 | 광 경로가 확보된 파단시편 모사지그와, 파단시편 모사지그가 구비된 신율계 교정용 레이저 간섭계 및, 이를 이용한 신율계 교정방법 |
Families Citing this family (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| KR101505711B1 (ko) * | 2012-08-20 | 2015-03-24 | 주식회사 엘지화학 | 압축시험장치 |
-
1992
- 1992-01-22 JP JP4009062A patent/JP3071925B2/ja not_active Expired - Fee Related
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| KR20240050622A (ko) * | 2022-10-12 | 2024-04-19 | 한국산업기술시험원 | 광 경로가 확보된 파단시편 모사지그와, 파단시편 모사지그가 구비된 신율계 교정용 레이저 간섭계 및, 이를 이용한 신율계 교정방법 |
| KR102873980B1 (ko) * | 2022-10-12 | 2025-10-21 | 한국산업기술시험원 | 광 경로가 확보된 파단시편 모사지그가 구비된 신율계 교정용 레이저 간섭계와, 이를 이용한 신율계 교정방법 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH05196459A (ja) | 1993-08-06 |
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