JP3141246B2 - 光学的情報記録再生装置 - Google Patents
光学的情報記録再生装置Info
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Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は、光ディスク，光磁気デ
ィスクなどの光学的記録媒体を用いて情報の記録，再
生，消去を行う光学的情報記録再生装置に関する。
ィスクなどの光学的記録媒体を用いて情報の記録，再
生，消去を行う光学的情報記録再生装置に関する。
【０００２】
【従来の技術】従来の光学的情報記録再生装置の光ピッ
クアップでは、記録媒体上に約1.6μmの間隔で形成され
る情報トラックに、対物レンズによりレーザ光ビームを
直径約１μmの微小なビームスポットに絞って照射し、
情報の記録，再生，消去を行う。このため、記録媒体と
対物レンズの間隔を１μm程度の精度で約４mmの間隔で
保ちながら、前記情報トラックの略中央に0.1μm程度の
精度でビームスポットを照射させる必要がある。
クアップでは、記録媒体上に約1.6μmの間隔で形成され
る情報トラックに、対物レンズによりレーザ光ビームを
直径約１μmの微小なビームスポットに絞って照射し、
情報の記録，再生，消去を行う。このため、記録媒体と
対物レンズの間隔を１μm程度の精度で約４mmの間隔で
保ちながら、前記情報トラックの略中央に0.1μm程度の
精度でビームスポットを照射させる必要がある。
【０００３】また、記録媒体は情報処理速度を向上させ
るために毎分数千回転の高速で回転しており、記録媒体
の面振れや芯振れなどによって情報トラックの位置変化
が高速で発生している。このため、対物レンズを焦点方
向に駆動させるフォーカス制御、およびビームスポット
位置を情報トラックの直交方向に制御するトラッキング
制御を行っている。この制御のためのエラー信号検出に
は、公知のプッシュプル法，臨界角法，非点収差法，ナ
イフエッジ法などが使用され、記録媒体からの反射光を
分割受光素子で受光し、この分割受光素子の分割された
各素子からの出力の差をとった差出力に基づいて前記制
御を行っている。
るために毎分数千回転の高速で回転しており、記録媒体
の面振れや芯振れなどによって情報トラックの位置変化
が高速で発生している。このため、対物レンズを焦点方
向に駆動させるフォーカス制御、およびビームスポット
位置を情報トラックの直交方向に制御するトラッキング
制御を行っている。この制御のためのエラー信号検出に
は、公知のプッシュプル法，臨界角法，非点収差法，ナ
イフエッジ法などが使用され、記録媒体からの反射光を
分割受光素子で受光し、この分割受光素子の分割された
各素子からの出力の差をとった差出力に基づいて前記制
御を行っている。
【０００４】上記のエラー信号検出方法は、情報トラッ
クの位置変化に対する検出感度が非常に高く、ビームス
ポットを高速で、かつ高精度に制御できる特徴を有して
いる。
クの位置変化に対する検出感度が非常に高く、ビームス
ポットを高速で、かつ高精度に制御できる特徴を有して
いる。
【０００５】
【発明が解決しようとする課題】上記の従来技術におい
て、エラー信号検出感度が高いために、分割受光素子の
反射光光軸に対する位置調整は厳しい精度を要求されて
おり、検出方法によって数μmの精度が要求され、従来
行われていた分割受光素子を移動させる位置調整では細
かな調整が容易でなく、光ピックアップの量産に対して
大きな障害となっている。
て、エラー信号検出感度が高いために、分割受光素子の
反射光光軸に対する位置調整は厳しい精度を要求されて
おり、検出方法によって数μmの精度が要求され、従来
行われていた分割受光素子を移動させる位置調整では細
かな調整が容易でなく、光ピックアップの量産に対して
大きな障害となっている。
【０００６】また、分割受光素子上のビームスポットの
位置ずれや強度分布変化を差信号として検出する方法
は、初期の調整誤差によるずれや、記録媒体の反射率や
厚さなどのバラツキによる調整ずれや、周囲環境温度変
化による外的な要因による調整ずれや、経時的な変化に
よる分割受光素子や反射光光軸の移動などの調整ずれか
ら制御誤差が発生することが知られている。
位置ずれや強度分布変化を差信号として検出する方法
は、初期の調整誤差によるずれや、記録媒体の反射率や
厚さなどのバラツキによる調整ずれや、周囲環境温度変
化による外的な要因による調整ずれや、経時的な変化に
よる分割受光素子や反射光光軸の移動などの調整ずれか
ら制御誤差が発生することが知られている。
【０００７】そこで、この制御誤差を減ずるために、誤
差を回路やソフトウェアにより定期的に自動補正する機
能を有する情報記録再生装置が一般的になってきてい
る。しかし、従来の自動補正機能は前記差信号の制御誤
差分を電気的にオフセット除去するだけで、本来ずれて
いる分割受光素子と前記反射光光軸の位置を補正するも
のではないため、制御精度劣化や、新たな制御誤差を発
生するなど、自動補正範囲に限界があるという問題を有
していた。
差を回路やソフトウェアにより定期的に自動補正する機
能を有する情報記録再生装置が一般的になってきてい
る。しかし、従来の自動補正機能は前記差信号の制御誤
差分を電気的にオフセット除去するだけで、本来ずれて
いる分割受光素子と前記反射光光軸の位置を補正するも
のではないため、制御精度劣化や、新たな制御誤差を発
生するなど、自動補正範囲に限界があるという問題を有
していた。
【０００８】従来の補正方法を以下に説明する。調整誤
差がない場合、集光レンズ40で集光された反射光スポッ
ト41の中心と分割受光素子42の分割線位置は図11(a)，
(b)に示すように一致している。この図11(a)の状態の
時、出力されるナイフエッジ法におけるフォーカスエラ
ー信号を図12に示す。
差がない場合、集光レンズ40で集光された反射光スポッ
ト41の中心と分割受光素子42の分割線位置は図11(a)，
(b)に示すように一致している。この図11(a)の状態の
時、出力されるナイフエッジ法におけるフォーカスエラ
ー信号を図12に示す。
【０００９】また、図13(a)，(b)の状態の時、出力され
る前記フォーカスエラー信号を図14に示す。図14は、分
割受光素子42と光軸がずれているため、合焦点で信号に
オフセットが発生し、フォーカスエラー信号(Ｓ字特性)
の極点近傍は、焦点距離の微小変位したときの信号感度
が図12より低い。つまり、単純に前記オフセット除去の
補正を行なっても、信号感度低下は補正できないことは
明らかで、この理由により補正範囲に限界を生じてしま
い、最大に補正してもＳ字特性の極点間(Ｐ−Ｐ)値の範
囲内である。
る前記フォーカスエラー信号を図14に示す。図14は、分
割受光素子42と光軸がずれているため、合焦点で信号に
オフセットが発生し、フォーカスエラー信号(Ｓ字特性)
の極点近傍は、焦点距離の微小変位したときの信号感度
が図12より低い。つまり、単純に前記オフセット除去の
補正を行なっても、信号感度低下は補正できないことは
明らかで、この理由により補正範囲に限界を生じてしま
い、最大に補正してもＳ字特性の極点間(Ｐ−Ｐ)値の範
囲内である。
【００１０】本発明の目的は、任意の微少変位量で反射
光光軸と分割受光素子との位置補正が容易かつ確実にで
きる光学的情報記録再生装置を提供することにある。
光光軸と分割受光素子との位置補正が容易かつ確実にで
きる光学的情報記録再生装置を提供することにある。
【００１１】
【課題を解決するための手段】上記の目的を達成するた
め、本発明の第１の手段は、光ビームを対物レンズを介
して記録媒体にビームスポットとして照射し、記録媒体
からの反射光を集光させる集光光路を形成し、前記反射
光を集光光路に設置された分割受光素子の受光面上に集
束光スポットとして入射させ、分割受光素子によって得
られる差出力によって、前記対物レンズのフォーカス制
御とビームスポットのトラッキング制御との少なくとも
一方の制御が行われる光学的情報記録再生装置におい
て、前記集光光路に、前記反射光の光軸に対する挿入角
度を変化させて反射光の光軸を屈折させることによっ
て、前記分割受光素子の素子分割線と交わる方向におい
て受光面上の集束光スポットの位置を移動させる光透過
板を配置したことを特徴とする。
め、本発明の第１の手段は、光ビームを対物レンズを介
して記録媒体にビームスポットとして照射し、記録媒体
からの反射光を集光させる集光光路を形成し、前記反射
光を集光光路に設置された分割受光素子の受光面上に集
束光スポットとして入射させ、分割受光素子によって得
られる差出力によって、前記対物レンズのフォーカス制
御とビームスポットのトラッキング制御との少なくとも
一方の制御が行われる光学的情報記録再生装置におい
て、前記集光光路に、前記反射光の光軸に対する挿入角
度を変化させて反射光の光軸を屈折させることによっ
て、前記分割受光素子の素子分割線と交わる方向におい
て受光面上の集束光スポットの位置を移動させる光透過
板を配置したことを特徴とする。
【００１２】また、本発明の第２の手段は、光ビームを
対物レンズを介して記録媒体にビームスポットとして照
射し、記録媒体からの反射光を集光させる集光光路を形
成し、前記反射光を集光光路に設置された分割受光素子
の受光面上に集束光スポットとして入射させ、分割受光
素子によって得られる差出力によって、前記対物レンズ
のフォーカス制御とビームスポットのトラッキング制御
との少なくとも一方の制御が行われる光学的情報記録再
生装置において、前記集光光路に屈折率が空気より大き
い光透過板を配置し、この光透過板の前記反射光の光軸
に対する傾斜角度を変化させることによって、前記分割
受光素子の素子分割線と交わる方向において受光面上の
集束光スポットの位置を移動させるように構成したこと
を特徴とする。
対物レンズを介して記録媒体にビームスポットとして照
射し、記録媒体からの反射光を集光させる集光光路を形
成し、前記反射光を集光光路に設置された分割受光素子
の受光面上に集束光スポットとして入射させ、分割受光
素子によって得られる差出力によって、前記対物レンズ
のフォーカス制御とビームスポットのトラッキング制御
との少なくとも一方の制御が行われる光学的情報記録再
生装置において、前記集光光路に屈折率が空気より大き
い光透過板を配置し、この光透過板の前記反射光の光軸
に対する傾斜角度を変化させることによって、前記分割
受光素子の素子分割線と交わる方向において受光面上の
集束光スポットの位置を移動させるように構成したこと
を特徴とする。
【００１３】また、本発明の第３の手段は、光ビームを
対物レンズを介して記録媒体にビームスポットとして照
射し、記録媒体からの反射光を集光させる集光光路を形
成し、前記反射光を集光光路に設置された分割受光素子
の受光面上にナイフエッジ板を介して集束光スポットと
して入射させ、分割受光素子によって得られる差出力に
よって、前記対物レンズのフォーカス制御が行われる光
学的情報記録再生装置において、前記集光光路に、屈折
率が空気より大きい光透過板の一部に反射コーティング
を施してなるナイフエッジ板を配置し、このナイフエッ
ジ板の前記光透過板部分における前記反射光の光軸に対
する傾斜角度を変化させることによって、前記分割受光
素子の素子分割線と交わる方向において受光面上の集束
光スポットの位置を移動させるように構成したことを特
徴とする。
対物レンズを介して記録媒体にビームスポットとして照
射し、記録媒体からの反射光を集光させる集光光路を形
成し、前記反射光を集光光路に設置された分割受光素子
の受光面上にナイフエッジ板を介して集束光スポットと
して入射させ、分割受光素子によって得られる差出力に
よって、前記対物レンズのフォーカス制御が行われる光
学的情報記録再生装置において、前記集光光路に、屈折
率が空気より大きい光透過板の一部に反射コーティング
を施してなるナイフエッジ板を配置し、このナイフエッ
ジ板の前記光透過板部分における前記反射光の光軸に対
する傾斜角度を変化させることによって、前記分割受光
素子の素子分割線と交わる方向において受光面上の集束
光スポットの位置を移動させるように構成したことを特
徴とする。
【００１４】
【作用】上記の第１の手段によれば、光透過板によって
反射光の光軸が屈折変化し、分割受光素子の素子分割線
と交わる方向において受光面上の集束光スポットの位置
が光学的に移動し、集束光スポットと分割受光素子との
光学的位置補正がなされる。
反射光の光軸が屈折変化し、分割受光素子の素子分割線
と交わる方向において受光面上の集束光スポットの位置
が光学的に移動し、集束光スポットと分割受光素子との
光学的位置補正がなされる。
【００１５】また、第２の手段によれば、屈折率が空気
より大きい光透過板の反射光の光軸に対する傾斜角度を
変化させることにより、反射光の光軸が屈折変化し、分
割受光素子の素子分割線と交わる方向において受光面上
の集束光スポットの位置が光学的に移動し、集束光スポ
ットと分割受光素子との光学的位置補正がなされる。
より大きい光透過板の反射光の光軸に対する傾斜角度を
変化させることにより、反射光の光軸が屈折変化し、分
割受光素子の素子分割線と交わる方向において受光面上
の集束光スポットの位置が光学的に移動し、集束光スポ
ットと分割受光素子との光学的位置補正がなされる。
【００１６】また、第３の手段によれば、屈折率が空気
より大きい光透過板の一部に反射コーティングを施して
なるナイフエッジ板を配置し、このナイフエッジ板の前
記光透過板部分における前記反射光の光軸に対する傾斜
角度を変化させることによって、反射光の光軸が屈折変
化し、フォーカス用の分割受光素子の素子分割線と交わ
る方向において受光面上の集束光スポットの位置が光学
的に移動し、集束光スポットとフォーカス用の分割受光
素子との光学的位置補正がなされる。
より大きい光透過板の一部に反射コーティングを施して
なるナイフエッジ板を配置し、このナイフエッジ板の前
記光透過板部分における前記反射光の光軸に対する傾斜
角度を変化させることによって、反射光の光軸が屈折変
化し、フォーカス用の分割受光素子の素子分割線と交わ
る方向において受光面上の集束光スポットの位置が光学
的に移動し、集束光スポットとフォーカス用の分割受光
素子との光学的位置補正がなされる。
【００１７】
【実施例】以下、本発明の実施例を図面に基づいて説明
する。
する。
【００１８】図１は本発明の第１実施例の構成図であ
り、１はレーザダイオード、２はカップリングレンズ、
３はビームスプリッタ、４は対物レンズ、５は記録媒
体、６はビームスプリッタ３の側部に設置された集光レ
ンズ、７はナイフエッジプリズム、８，９は分割受光素
子、10は集光レンズ６とナイフエッジプリズム７との間
に設けられた屈折率が空気より大きい光透過板である。
り、１はレーザダイオード、２はカップリングレンズ、
３はビームスプリッタ、４は対物レンズ、５は記録媒
体、６はビームスプリッタ３の側部に設置された集光レ
ンズ、７はナイフエッジプリズム、８，９は分割受光素
子、10は集光レンズ６とナイフエッジプリズム７との間
に設けられた屈折率が空気より大きい光透過板である。
【００１９】同図において、レーザダイオード１から出
射した光ビームＡは、カップリングレンズ２，ビームス
プリッタ３，対物レンズ４を通り、記録媒体５上にビー
ムスポットＳとして集光する。前記記録媒体５で反射さ
れた反射光Ｂは、再び対物レンズ４を通り、ビームスプ
リッタ３で全光量または一部の光量が検出系の分割受光
素子８，９方向へ反射される。この検出系では反射光Ｂ
は、集光レンズ６により分割受光素子８，９へ集光させ
られ、かつ光透過体10を通り、フォ−カス制御のエラ−
信号検出用の分割受光素子８の前でナイフエッジプリズ
ム７で一部が光遮断されて入射し、またトラッキング制
御のエラ−信号検出用の分割受光素子９にはナイフエッ
ジプリズム７で反射されて入射する。
射した光ビームＡは、カップリングレンズ２，ビームス
プリッタ３，対物レンズ４を通り、記録媒体５上にビー
ムスポットＳとして集光する。前記記録媒体５で反射さ
れた反射光Ｂは、再び対物レンズ４を通り、ビームスプ
リッタ３で全光量または一部の光量が検出系の分割受光
素子８，９方向へ反射される。この検出系では反射光Ｂ
は、集光レンズ６により分割受光素子８，９へ集光させ
られ、かつ光透過体10を通り、フォ−カス制御のエラ−
信号検出用の分割受光素子８の前でナイフエッジプリズ
ム７で一部が光遮断されて入射し、またトラッキング制
御のエラ−信号検出用の分割受光素子９にはナイフエッ
ジプリズム７で反射されて入射する。
【００２０】図２は分割受光素子９の受光面を示す説明
図であり、二分割された分割受光素子９の分割線11上に
反射光Ｂの集束光スポット12が位置し、トラッキングエ
ラ−信号の検出は、公知のように分割線11に対する集束
光スポット12の強度分布変化を二分割された分割受光素
子９において、出力差として検出することによって行わ
れる。この図２では、分割受光素子９を図示したが、分
割受光素子８も同様に分割線11に対する集束光スポット
12の位置ずれによる差出力からフォーカスエラー信号が
検出される。
図であり、二分割された分割受光素子９の分割線11上に
反射光Ｂの集束光スポット12が位置し、トラッキングエ
ラ−信号の検出は、公知のように分割線11に対する集束
光スポット12の強度分布変化を二分割された分割受光素
子９において、出力差として検出することによって行わ
れる。この図２では、分割受光素子９を図示したが、分
割受光素子８も同様に分割線11に対する集束光スポット
12の位置ずれによる差出力からフォーカスエラー信号が
検出される。
【００２１】図２において、上記のエラー信号検出のた
め、前記分割受光素子８，９の分割線11の位置は、反射
光Ｂの集束光スポット12に対して正確に補正する必要が
あり、第１実施例では上記の補正のため光透過板10を用
いている。
め、前記分割受光素子８，９の分割線11の位置は、反射
光Ｂの集束光スポット12に対して正確に補正する必要が
あり、第１実施例では上記の補正のため光透過板10を用
いている。
【００２２】すなわち、図３に示すように、屈折率の違
う二つの物質の境界を光が進行する時、スネルの法則に
従って屈折することは周知であって、このスネルの法則
によれば、屈折率ｎ1，ｎ2の二つの物質の境界面に対す
る光の入射角θ1と出射角θ2との間には、
う二つの物質の境界を光が進行する時、スネルの法則に
従って屈折することは周知であって、このスネルの法則
によれば、屈折率ｎ1，ｎ2の二つの物質の境界面に対す
る光の入射角θ1と出射角θ2との間には、
【００２３】
【数１】 sinθ2／sinθ1＝ｎ1／ｎ2
【００２４】の関係式が成り立つ。
【００２５】上記の法則を利用し、図４(a),（b)に示す
説明図のように、屈折率が１より大きい屈折率ｎの光透
過板10を反射光Ｂに挿入すると、屈折の現象により反射
光Ｂの進路が光透過板10の挿入する角度により変化す
る。この反射光Ｂの進路の変化量は、挿入される光透過
板10の屈折率，断面形状，挿入角度によって定まる。本
実施例では反射光Ｂ中に平行平板の断面形状をもつ光透
過板10の挿入例を示している。反射光Bの光軸Lに対して
垂直に前記光透過板10を挿入した図４(a)の場合は、光
軸Ｌの進路の変化は発生せず、光軸Ｌに対して角度θ傾
けて光透過板10を挿入した図４(b)の場合は光軸Ｌの進
路に変化を発生する。この進路の変化は光透過板10の断
面形状により平行移動となり、その変化移動量Δは図５
のように屈折率ｎと角度θにより決定される値κと光透
過板10の板厚ｔとの間で下記の数２の関係が成り立つ。
説明図のように、屈折率が１より大きい屈折率ｎの光透
過板10を反射光Ｂに挿入すると、屈折の現象により反射
光Ｂの進路が光透過板10の挿入する角度により変化す
る。この反射光Ｂの進路の変化量は、挿入される光透過
板10の屈折率，断面形状，挿入角度によって定まる。本
実施例では反射光Ｂ中に平行平板の断面形状をもつ光透
過板10の挿入例を示している。反射光Bの光軸Lに対して
垂直に前記光透過板10を挿入した図４(a)の場合は、光
軸Ｌの進路の変化は発生せず、光軸Ｌに対して角度θ傾
けて光透過板10を挿入した図４(b)の場合は光軸Ｌの進
路に変化を発生する。この進路の変化は光透過板10の断
面形状により平行移動となり、その変化移動量Δは図５
のように屈折率ｎと角度θにより決定される値κと光透
過板10の板厚ｔとの間で下記の数２の関係が成り立つ。
【００２６】
【数２】 Δ＝ｔ・κ
【００２７】上記の数２と図５により、反射光Ｂの光軸
Ｌの変化移動量Δと光透過板10の挿入角度θの関係は、
光透過板10の板厚ｔおよび屈折率ｎを適宜に選ぶことに
より自由に設定できる。このことは、光透過板10の挿入
角度θを調整して分割受光素子８，９上の集束光スポッ
ト12を目的の位置精度に補正させようとした場合、挿入
角度θの調整精度，固定精度から求めた板厚ｔ，屈折率
ｎを設定することにより容易に目的の集束光スポット12
の位置精度を得ることを可能とする。
Ｌの変化移動量Δと光透過板10の挿入角度θの関係は、
光透過板10の板厚ｔおよび屈折率ｎを適宜に選ぶことに
より自由に設定できる。このことは、光透過板10の挿入
角度θを調整して分割受光素子８，９上の集束光スポッ
ト12を目的の位置精度に補正させようとした場合、挿入
角度θの調整精度，固定精度から求めた板厚ｔ，屈折率
ｎを設定することにより容易に目的の集束光スポット12
の位置精度を得ることを可能とする。
【００２８】また、図６に示す本発明の第２実施例のよ
うに複数枚の透過板10，20を配置することで、粗調，微
調を組合せて行い、補正範囲および補正精度を自由に設
定することも可能である。
うに複数枚の透過板10，20を配置することで、粗調，微
調を組合せて行い、補正範囲および補正精度を自由に設
定することも可能である。
【００２９】図７は図６を基本にした調整機構の一例を
示す構成図であり、集光レンズ６と分割受光素子９，８
との間に、厚みの異なる２枚の光透過板21，22を配置
し、各光透過板21，22回転可能に支持して、反射光Ｂの
光軸に対する傾斜角度を各光透過板21，22に連結された
サーボモータ23，24のアームロッド25，26の移動によっ
て変化させることができるようにしてある。
示す構成図であり、集光レンズ６と分割受光素子９，８
との間に、厚みの異なる２枚の光透過板21，22を配置
し、各光透過板21，22回転可能に支持して、反射光Ｂの
光軸に対する傾斜角度を各光透過板21，22に連結された
サーボモータ23，24のアームロッド25，26の移動によっ
て変化させることができるようにしてある。
【００３０】前記厚みの大きい光透過板21は分割受光素
子８，９上の反射光Ｂの集束光スポット12を大きく変化
させるものであり、また厚みの小さい光透過板22は前記
集束光スポット12を微少変位させるためのものである。
子８，９上の反射光Ｂの集束光スポット12を大きく変化
させるものであり、また厚みの小さい光透過板22は前記
集束光スポット12を微少変位させるためのものである。
【００３１】上記の第２実施例は、従来の電気的なオフ
セット除去補正ではなく、光軸の調整を行なうため、図
14の信号を元の図12の信号に補正することが可能にな
り、自動補正範囲を広げることができる。
セット除去補正ではなく、光軸の調整を行なうため、図
14の信号を元の図12の信号に補正することが可能にな
り、自動補正範囲を広げることができる。
【００３２】また、第２実施例では２枚の光透過板21，
22を配置した構成を示したが、光透過板の枚数は１枚、
あるいは３枚以上でもよい。
22を配置した構成を示したが、光透過板の枚数は１枚、
あるいは３枚以上でもよい。
【００３３】また、前記光透過板21，22の挿入角度(傾
斜角度)θは、連続的に変化させずとも、段階的に変化
させて調整誤差を段階的に補正してもよく、その段階間
の補正できない部分の補正は、従来の電気的オフセット
除去の補正方法を併用することで、十分な補正範囲及び
補正精度を確保できる。
斜角度)θは、連続的に変化させずとも、段階的に変化
させて調整誤差を段階的に補正してもよく、その段階間
の補正できない部分の補正は、従来の電気的オフセット
除去の補正方法を併用することで、十分な補正範囲及び
補正精度を確保できる。
【００３４】尚、上述の説明ではフォーカス信号につい
て説明しているが、補正する信号はフォーカス信号に限
定するものではない。また補正量を検知する手段は、従
来より公知の各種方式があり、本実施例では補正量検知
手段自体を特に限定しない。
て説明しているが、補正する信号はフォーカス信号に限
定するものではない。また補正量を検知する手段は、従
来より公知の各種方式があり、本実施例では補正量検知
手段自体を特に限定しない。
【００３５】図８は本発明の第３実施例の構成図、図９
は第３実施例の要部の説明図であり、基本的構成は図１
と同様であって、図１で説明した部材に対応する部材に
は同一符号を付して、詳しい説明は省略した。この第３
実施例は、集光レンズ６と分割受光素子８，９との間
に、透明板30の一部に反射コーティング31を施したナイ
フエッジ板32を配置しており、このナイフエッジ板32
は、反射コーティング31でエッジ部33を形成して、従来
のナイフエッジプリズムの機能を有し、記録媒体５から
の反射光Ｂの一部をトラッキング制御用の分割受光素子
９へ反射させ、透明板30の反射コーティング31が施され
ていない部分30ａを通過した反射光Ｂがフォーカス制御
用の分割受光素子８へ向うようにした構成である。
は第３実施例の要部の説明図であり、基本的構成は図１
と同様であって、図１で説明した部材に対応する部材に
は同一符号を付して、詳しい説明は省略した。この第３
実施例は、集光レンズ６と分割受光素子８，９との間
に、透明板30の一部に反射コーティング31を施したナイ
フエッジ板32を配置しており、このナイフエッジ板32
は、反射コーティング31でエッジ部33を形成して、従来
のナイフエッジプリズムの機能を有し、記録媒体５から
の反射光Ｂの一部をトラッキング制御用の分割受光素子
９へ反射させ、透明板30の反射コーティング31が施され
ていない部分30ａを通過した反射光Ｂがフォーカス制御
用の分割受光素子８へ向うようにした構成である。
【００３６】上記の第３実施例では、前記ナイフエッジ
板32の反射光Ｂの光軸に対する取付け角度を調整するこ
とにより、フォーカス用の分割受光素子８上の集束光ス
ポットの位置補正を行うことができる。この位置補正の
ためにナイフエッジ板32の角度を変化させた場合、トラ
ッキング用の分割受光素子９へ反射する反射光Ｂは、ト
ラッキング用の分割受光素子９の分割線方向に移動する
だけで分割線を超える光量がないので、トラッキング信
号には何等の影響も及ぼさない。またトラッキング用の
分割受光素子９は、受光面の集束光スポットが調整によ
り移動しても集束光スポットが受光面を外れないだけの
十分な面積であり、かつ角度調整により反射光量が変動
しないように、角度調整のための回転中心の軸線位置を
考慮しなくてはならない。
板32の反射光Ｂの光軸に対する取付け角度を調整するこ
とにより、フォーカス用の分割受光素子８上の集束光ス
ポットの位置補正を行うことができる。この位置補正の
ためにナイフエッジ板32の角度を変化させた場合、トラ
ッキング用の分割受光素子９へ反射する反射光Ｂは、ト
ラッキング用の分割受光素子９の分割線方向に移動する
だけで分割線を超える光量がないので、トラッキング信
号には何等の影響も及ぼさない。またトラッキング用の
分割受光素子９は、受光面の集束光スポットが調整によ
り移動しても集束光スポットが受光面を外れないだけの
十分な面積であり、かつ角度調整により反射光量が変動
しないように、角度調整のための回転中心の軸線位置を
考慮しなくてはならない。
【００３７】第３実施例では、図９に示すように、エッ
ジライン34と角度調整用の回転軸中心35とが同一軸心に
なるように構成してある。
ジライン34と角度調整用の回転軸中心35とが同一軸心に
なるように構成してある。
【００３８】上述のように本実施例では、光ピックアッ
プの調整作業を簡便化するとともに作業時間を短縮で
き、量産性を向上させることができる。また、従来の分
割受光素子を面内移動させる調整に代えて光透過板ある
いはナイフエッジ板の角度調整を行うため、従来ではＸ
Ｙステージなどの特殊治具が必要であったが本実施例で
は調整ドライバなどの簡易治工具で行え、一軸回転の調
整であるため自動化も容易である。また上記の従来の調
整方法より調整感度が低いため調整が容易になる。
プの調整作業を簡便化するとともに作業時間を短縮で
き、量産性を向上させることができる。また、従来の分
割受光素子を面内移動させる調整に代えて光透過板ある
いはナイフエッジ板の角度調整を行うため、従来ではＸ
Ｙステージなどの特殊治具が必要であったが本実施例で
は調整ドライバなどの簡易治工具で行え、一軸回転の調
整であるため自動化も容易である。また上記の従来の調
整方法より調整感度が低いため調整が容易になる。
【００３９】尚、本実施例では集束光である反射光Ｂや
平行平板の光透過板10，20，21，22を用いているが、平
行光の反射光Ｂ部分に光透過板10，20，21，22を備えて
もよく、また光透過板10，20，21，22とナイフエッジ板
32の構造としては前記屈折現象を応用して光路に変化を
与えうるものであれば使用できる。
平行平板の光透過板10，20，21，22を用いているが、平
行光の反射光Ｂ部分に光透過板10，20，21，22を備えて
もよく、また光透過板10，20，21，22とナイフエッジ板
32の構造としては前記屈折現象を応用して光路に変化を
与えうるものであれば使用できる。
【００４０】また、上述した光透過板による補正機能を
各分割受光素子８，９に対して独立して作用させるた
め、図10に示すように分割受光素子８，９前の各反射光
Ｃ，Ｄに前記光透過板10(20，21，22)を配置することも
考えられる。
各分割受光素子８，９に対して独立して作用させるた
め、図10に示すように分割受光素子８，９前の各反射光
Ｃ，Ｄに前記光透過板10(20，21，22)を配置することも
考えられる。
【００４１】また、前記光透過板10，20，21，22とナイ
フエッジ板32に対し上記の調整を行った後、ねじ固定，
接着固定することで、衝撃や経時変化による光透過板1
0，20，21，22とナイフエッジ板32の調整ずれを防止で
きる。
フエッジ板32に対し上記の調整を行った後、ねじ固定，
接着固定することで、衝撃や経時変化による光透過板1
0，20，21，22とナイフエッジ板32の調整ずれを防止で
きる。
【００４２】また前記光透過板10，20，21，22とナイフ
エッジ板32の透過面に反射防止用のコーティングを施す
ことで、記録媒体５からの反射光Ｂの反射損失を抑制で
きる。
エッジ板32の透過面に反射防止用のコーティングを施す
ことで、記録媒体５からの反射光Ｂの反射損失を抑制で
きる。
【００４３】
【発明の効果】以上説明したように、本発明の各手段に
よれば、反射光の集光光路に設置された光透過板によっ
て、反射光の光軸を屈折させることにより、分割受光素
子の素子分割線と交わる方向において受光面上の集束光
スポットの位置を任意の微小変化量で調整でき、容易か
つ確実に集束光スポットと分割受光素子との光学的位置
補正が行える光学的情報記録再生装置を提供できる。
よれば、反射光の集光光路に設置された光透過板によっ
て、反射光の光軸を屈折させることにより、分割受光素
子の素子分割線と交わる方向において受光面上の集束光
スポットの位置を任意の微小変化量で調整でき、容易か
つ確実に集束光スポットと分割受光素子との光学的位置
補正が行える光学的情報記録再生装置を提供できる。
【図１】本発明の光学的情報記録再生装置の第１実施例
の構成図である。
の構成図である。
【図２】分割受光素子の受光面を示す説明図である。
【図３】光の屈折状態の説明図である。
【図４】光透過板の作用を示す説明図である。
【図５】光透過板の特性図である。
【図６】本発明の第２実施例の要部の構成図である。
【図７】図６の光透過板の調整機構を示す構成図であ
る。
る。
【図８】本発明の第３実施例の構成図である。
【図９】図８の第３実施例の要部の説明図である。
【図１０】光透過板の他の配置列を示す構成図である。
【図１１】調整誤差がない場合の分割受光素子の受光状
態を示す説明図である。
態を示す説明図である。
【図１２】図11の場合のナイフエッジ法によるフォーカ
スエラー信号の波形図である。
スエラー信号の波形図である。
【図１３】調整誤差がある場合の分割受光素子の受光状
態を示す説明図である。
態を示す説明図である。
【図１４】図13の場合のナイフエッジ法によるフォーカ
スエラー信号の波形図である。
スエラー信号の波形図である。
１…レーザダイオード、 ４…対物レンズ、 ５…記録
媒体、 ８，９…分割受光素子、 10，20，21，22…光
透過板、 32…ナイフエッジ板、 Ａ…光ビーム、Ｂ，
Ｃ，Ｄ…反射光、 Ｓ…ビームスポット。
媒体、 ８，９…分割受光素子、 10，20，21，22…光
透過板、 32…ナイフエッジ板、 Ａ…光ビーム、Ｂ，
Ｃ，Ｄ…反射光、 Ｓ…ビームスポット。
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (56)参考文献 特開 平２−149933（ＪＰ，Ａ) 特開 平２−79225（ＪＰ，Ａ) 特開 平１−298526（ＪＰ，Ａ) 特開 平１−282746（ＪＰ，Ａ) 特開 昭57−181504（ＪＰ，Ａ) 特開 昭61−248241（ＪＰ，Ａ) 特開 昭58−60436（ＪＰ，Ａ) 特開 平１−91327（ＪＰ，Ａ) 実開 平２−72416（ＪＰ，Ｕ) 実開 昭63−157817（ＪＰ，Ｕ)
Claims (10)
- 【請求項１】 光ビームを対物レンズを介して記録媒体
にビームスポットとして照射し、記録媒体からの反射光
を集光させる集光光路を形成し、前記反射光を集光光路
に設置された分割受光素子の受光面上に集束光スポット
として入射させ、分割受光素子によって得られる差出力
によって、前記対物レンズのフォーカス制御とビームス
ポットのトラッキング制御との少なくとも一方の制御が
行われる光学的情報記録再生装置において、前記集光光
路に、前記反射光の光軸に対する挿入角度を変化させて
反射光の光軸を屈折させることによって、前記分割受光
素子の素子分割線と交わる方向において受光面上の集束
光スポットの位置を移動させる光透過板を配置したこと
を特徴とする光学的情報記録再生装置。 - 【請求項２】 光ビームを対物レンズを介して記録媒体
にビームスポットとして照射し、記録媒体からの反射光
を集光させる集光光路を形成し、前記反射光を集光光路
に設置された分割受光素子の受光面上に集束光スポット
として入射させ、分割受光素子によって得られる差出力
によって、前記対物レンズのフォーカス制御とビームス
ポットのトラッキング制御との少なくとも一方の制御が
行われる光学的情報記録再生装置において、前記集光光
路に屈折率が空気より大きい光透過板を配置し、この光
透過板の前記反射光の光軸に対する傾斜角度を変化させ
ることによって、前記分割受光素子の素子分割線と交わ
る方向において受光面上の集束光スポットの位置を移動
させるように構成したことを特徴とする光学的情報記録
再生装置。 - 【請求項３】 前記光透過板を複数枚備えたことを特徴
とする請求項１又は２記載の光学的情報記録再生装置。 - 【請求項４】 前記光透過板を反射光の分割受光素子に
対する入射位置の補正後に固定することを特徴とする請
求項１又は２記載の光学的情報記録再生装置。 - 【請求項５】 前記光透過板の透過面に反射防止コーテ
ィングを施したことを特徴とする請求項１又は２記載の
光学的情報記録再生装置。 - 【請求項６】 光ビームを対物レンズを介して記録媒体
にビームスポットとして照射し、記録媒体からの反射光
を集光させる集光光路を形成し、前記反射光を集光光路
に設置された分割受光素子の受光面上にナイフエッジ板
を介して集束光スポットとして入射させ、分割受光素子
によって得られる差出力によって、前記対物レンズのフ
ォーカス制御が行われる光学的情報記録再生装置におい
て、前記集光光路は、屈折率が空気より大きい光透過板
の一部に反射コーティングを施してなるナイフエッジ板
を配置し、このナイフエッジ板の前記光透過板部分にお
ける前記反射光の光軸に対する傾斜角度を変化させるこ
とによって、前記分割受光素子の素子分割線と交わる方
向において受光面上の集束光スポットの位置を移動させ
るように構成したことを特徴とする光学的情報記録再生
装置。 - 【請求項７】 前記ナイフエッジ板のエッジ部を反射コ
ーティングの境界によって形成したことを特徴とする請
求項６記載の光学的情報記録再生装置。 - 【請求項８】 前記ナイフエッジ板を反射光の分割受光
素子に対する入射位置の補正後に固定することを特徴と
する請求項６記載の光学的情報記録再生装置。 - 【請求項９】 前記ナイフエッジ板の透過面の少なくと
も一部に反射防止コーティングを施したことを特徴とす
る請求項６記載の光学的情報記録再生装置。 - 【請求項１０】 前記ナイフエッジ板のエッジラインと
角度調整のための回転中心とが同一軸心となるように構
成したことを特徴とする請求項６記載の光学的情報記録
再生装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP02402231A JP3141246B2 (ja) | 1990-04-10 | 1990-12-14 | 光学的情報記録再生装置 |
Applications Claiming Priority (7)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP9313890 | 1990-04-10 | ||
| JP2-93138 | 1990-04-10 | ||
| JP4883790 | 1990-05-10 | ||
| JP2-48837 | 1990-05-10 | ||
| JP2-209140 | 1990-08-09 | ||
| JP20914090 | 1990-08-09 | ||
| JP02402231A JP3141246B2 (ja) | 1990-04-10 | 1990-12-14 | 光学的情報記録再生装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH03292637A JPH03292637A (ja) | 1991-12-24 |
| JP3141246B2 true JP3141246B2 (ja) | 2001-03-05 |
Family
ID=27462270
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP02402231A Expired - Fee Related JP3141246B2 (ja) | 1990-04-10 | 1990-12-14 | 光学的情報記録再生装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP3141246B2 (ja) |
Families Citing this family (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH0714175A (ja) * | 1993-06-25 | 1995-01-17 | Nec Corp | フォーカシングエラー検出装置 |
-
1990
- 1990-12-14 JP JP02402231A patent/JP3141246B2/ja not_active Expired - Fee Related
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH03292637A (ja) | 1991-12-24 |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20071222 Year of fee payment: 7 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20081222 Year of fee payment: 8 |
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| LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |