JP3142339B2 - パワーアナライザの位相角補正方法 - Google Patents

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【産業上の利用分野】この発明は複数チャネルの入力被
測定信号により電力を測定するだけなく、それら被測定
信号に含まれている基本波および高調波成分を解析し、
その基本波および高調波を測定、表示可能とするパワー
アナライザに係り、さらに詳しく言えば、ＰＬＬ（Ｐｈ
ａｓｅ Ｌｏｏｋｅｄ Ｌｏｏｐ）同期方式により各Ａ
／Ｄ変換器のサンプリング信号を同期させて、各入力被
測定信号の１サイクル（周期）分のディジタルデータを
正確に取り込むようにしたパワーアナライザの位相角補
正方法に関するものである。

【０００２】

【従来の技術】例えば、半導体電力変換装置（例えばイ
ンバータ装置）の電力系を監視するには、その電圧、電
流、電力のみならず、高調波を含む周波数スペクトラム
を解析する必要がある。これに用いられる電力計として
は、例えば図５に示す構成をしたものがある。

【０００３】同図において、電圧／電流入力アナログ回
路１は、例えば３ｃｈ（チャネル）分の入力端子を有
し、同入力端子から被測定信号（被測定電圧（Ｖ１，Ｖ
２，Ｖ３）、電流（Ａ１，Ａ２，Ａ３））が入力される
と、それらの信号に所定の演算処理を施して電圧、電流
および電力のアナログ信号を出力する。

【０００４】このアナログ信号は、マルチプレクサ２の
切り替えにより、逐次Ａ／Ｄコンバータ３に供給され、
ディジタルデータに変換された後、ＲＡＭ／ＲＯＭ（メ
モリ）４に書き込まれる。

【０００５】同メモリ４への書き込み、読み出しなどの
制御は、バスライン６を介してＣＰＵ（中央演算処理ユ
ニット）５により行なわれるが、この他に、ＣＰＵ５の
バスライン６にはＩ／Ｏポート７、表示部８およびキー
ボード９などが接続されており、ＣＰＵ５はＩ／Ｏポー
ト７を介してマルチプレクサ２を適宜切り替える。

【０００６】また、ＣＰＵ５はメモリ４に書き込まれた
ディジタルデータに基づいて電力、皮相電力、無効電力
および力率などを演算し、これら演算結果等を表示処理
し、また取り込んだデータおよび演算したデータに基づ
いて測定値に時間係数を掛け加算積算して積算量をも算
出し、その積算量を表示処理する。

【０００７】表示部８はそのＣＰＵ５の表示処理にした
がって、被測定信号の測定結果、電圧、電流、電力、皮
相電力、無効電力および力率などを表示する。

【０００８】この従来例においては、電圧／電流入力ア
ナログ回路１にそれぞれ交流ゼロフラックス法による動
作原理を採用し、かつＰＴおよびクランプＣＴを採用し
ていることから、１０Ｈｚないし２０ｋＨｚに渡る広い
周波数範囲で良好な特性を確保し、正確な電圧、電流、
電力などの測定が可能になっている。

【０００９】

【発明が解決しようとする課題】ところで、半導体電力
装置、例えばインバータ装置のように、パルス状の電圧
波形でモータを駆動する場合、その電流には高調波成分
が含まれ、この高調波成分が雑音や振動の原因となって
いる。

【００１０】このような、高調波による機器の障害が問
題視され、特に家電機器などの場合その高調波成分よる
雑音や振動が問題になることから、特に半導体電力装置
の電力系の場合においては、その高調波成分の測定が必
要になっている。

【００１１】しかしながら、従来の電力計では、電圧、
電流および電力などの測定は可能であるが、その高調波
成分を直接測定することができなかった。

【００１２】そのため、半導体電力装置の電力系を計測
する場合には、電力計とその高調波成分を測定する高価
な高調波解析装置（例えばＦＦＴアナライザ）の２つの
測定装置を用意する必要があるだけなく、そのＦＦＴア
ナライザの操作は複雑であり、高調波成分の測定が面倒
であるので、電力だけなく、高調波成分も測定できる装
置が要望されている。

【００１３】また、上記ＦＦＴアナライザなどの高調波
解析装置においては、入力被測定信号のアナログ信号を
Ａ／Ｄ変換し、これら変換したディジタルデータを取り
込む際、そのＡ／Ｄ変換のサンプリング信号の同期合わ
せとしてＰＬＬ同期方式を採用しているが、入力チャン
ネルが複数の場合には、ＰＬＬ同期のソース信号を特定
のチャンネル（例えば、１ｃｈ）の入力測定信号に固定
している。

【００１４】また、位相角を補正するに際しても、ＰＬ
Ｌ同期の場合と同じく、常にその特定チャネルの基本波
を基準にして位相角補正を行なうようにしている。

【００１５】このように、ＰＬＬ同期にしても位相角補
正にしても、その基準チャネルが固定されているという
ことは、ソフトウェアの構成が簡単ですみ、また、位相
角補正について言えば他チャネルの高調波との位相関係
が分かり易いという点では評価できるが、他方において
次ぎのような問題がある。

【００１６】すなわち、その基準チャネルの入力被測定
信号の波形が歪んでいたり、あるいはそのレベルが低い
と、データを確実に取り込むことができず、測定精度が
悪くなる。また、位相角補正の基準も不安定になる。

【００１７】これを防止するには、他のチャネルを基準
チャネルとすれば良いのであるが、それにはその都度結
線をし直さなければならず、現実的な解決にはならな
い。

【００１８】

【課題を解決するための手段】この発明は上記従来の事
情に鑑みなされたもので、その構成上の特徴は、少なく
とも複数チャネルの入力被測定信号をそれぞれ入力可能
なレベルのアナログ信号に変換する複数の入力処理部
と、それらのアナログ信号を所定周波数のサンプリング
信号によりディジタルデータに変換する複数のＡ／Ｄ変
換部と、同Ａ／Ｄ変換部にて変換された少なくとも１サ
イクル分のディジタルデータをそれぞれ記憶する記憶部
と、上記Ａ／Ｄ変換部に対するサンプリング信号および
上記記憶部に対するデータ書き込みタイミング信号を出
力し、かつ、そのサンプリング信号を上記入力被測定信
号に同期して出力するストレージ制御部と、上記複数の
入力処理部から出力される入力被測定信号のうちの１つ
を選択する切替部と、同切替部で選択された入力被測定
信号を矩形波信号に波形整形する波形整形部と、その矩
形波信号をソースとし、同矩形波信号と上記Ａ／Ｄ変換
部のサンプリング周波数を整数分の１とした信号との位
相差を検出し、この差に応じて上記ストレージ制御部に
出力する制御信号の周波数を可変し、上記Ａ／Ｄ変換部
のサンプリング信号を上記切替部にて選択された入力被
測定信号の１つに同期させるＰＬＬ部と、同ＰＬＬ部の
ソースとして選択されている入力被測定信号が最適であ
るか否かを判断し、それが最適でないときには上記切替
部を上記複数チャネルの入力被測定信号のうち最適な入
力被測定信号が入力されている入力処理部に切り替える
ソース自動切替制御手段と、上記記憶部に記憶されてい
るデータに基づいて電圧、電流、電力をそれぞれ演算
し、かつ入力被測定信号の高調波成分をＦＦＴ演算する
信号処理部とを備え、位相角の補正に際しては、上記ソ
ース自動切替制御手段により上記ＰＬＬ部のソースとし
て選択されている入力被測定信号の基本波を基準として
位相角の補正を行なうことにある。

【００１９】

【作用】ＰＬＬ同期および位相角補正の基準としての最
適入力被測定信号かどうかは、その周波数の安定度や入
力レベルにより判断される。

【００２０】すなわち、ＰＬＬ部のソースとして選択さ
れている入力被測定信号の例えばレベルが低くなると、
上記切替部が自動的に切り替えられ、各チャネルの入力
被測定信号のうちから最適な入力被測定信号がそのＰＬ
Ｌ部のソースに選択される。

【００２１】このようにして、上記切替部にてＰＬＬ部
のソースとして最適な入力被測定信号、つまりＳ／Ｎ比
の良好な入力被測定信号が自動的に選択されることか
ら、何らの操作をしなくとも、各Ａ／Ｄ変換のサンプリ
ング同期を最適な入力被測定信号に合わせることができ
る。

【００２２】また、その最適な入力被測定信号の基本波
を基準として位相角の補正が行なわれる。

【００２３】

【実施例】図１に例示されているように、このパワーア
ナライザは、複数の入力被測定信号（被測定電圧、電
流）を事後の信号処理に要求される所定レベルに変換す
る３チャネル（被測定電圧（Ｖ１ないしＶ３）、電流
（Ａ１ないしＡ３））の入力ユニット１０ないし１２
と、これら入力ユニット１０ないし１２を介して供給さ
れるアナログ被測定信号に含まれている基本波および所
定次数の高調波をそれぞれ通す遮断周波数可変型の折り
返し歪防止用フィルタ部１３ないし１８と、これらフィ
ルタ部１３ないし１８を通ったアナログ信号を所定周波
数のサンプリング信号でそれぞれディジタルデータに変
換するＡ／Ｄ変換部１９ないし２４と、これらＡ／Ｄ変
換部１９ないし２４で変換したディジタルデータを記憶
するメモリ（記憶部）２５ないし３０と、上記入力ユニ
ット１０ないし１２を介したアナログ被測定信号を自動
的に切り替える第１の切替部（例えばアナログスイッチ
やリレー等）３１と、同第１の切替部３１で切り替えら
れたアナログ被測定信号を波形整形して矩形波信号とす
るフィルタ波形整形部３２と、上記フィルタ部１３ない
し１８の遮断周波数を可変制御する信号、Ａ／Ｄ変換部
１９ないし２４のサンプリング信号およびメモリ２５な
いし３０の書き込み信号を出力し、かつ、少なくともそ
のサンプリング信号を入力被測定信号に同期して出力す
るストレージ制御部３３と、上記フィルタ波形整形部３
２からの矩形波信号をソースとし、その矩形波信号と上
記Ａ／Ｄ変換部１９ないし２４のサンプリング信号との
位相差を検出し、その位相差に応じて図示しない電圧制
御発振器（ＶＣＯ）の電圧を可変し、所定周波数の信号
をストレージ制御部３３に出力し、そのＡ／Ｄ変換部１
９ないし２４のサンプリング周波数を整数（例えば５１
２）分の１とした信号を入力被測定信号に同期させ、か
つそのサンプリング信号の周波数の安定化を図るための
ＰＬＬ（Ｐｈａｓｅ Ｌｏｃｋｅｄ Ｌｏｏｐ）部３４
とを備えている。

【００２４】また、このパワーアナライザは、上記フィ
ルタ波形整形部３２で得た矩形波信号により、入力被測
定信号の周波数を測定する周波数測定部３５と、固定の
所定周波数信号を出力する発振部３６と、同発振部３６
からの周波数信号とＰＬＬ部３４からの周波数信号とを
切り替えてストレージ制御部３３に出力する第２の切替
部３７とを備えている。

【００２５】すなわち、この第２の切替部３７の切り替
えにより、Ａ／Ｄ変換のサンプリングモード、つまりス
トレージモードはＰＬＬ同期方式、固定同期方式の２種
類が選択可能になっている。

【００２６】さらに、このパワーアナライザは、上記メ
モリ２５ないし３０に取り込んだディジタルデータに基
づいて、入力被測定信号の電圧、電流、電力などを算出
するだけなく、その入力被測定信号に含まれている基本
波および所定次数の高調波をＦＦＴ（高速フーリェ変
換）演算で算出する。

【００２７】そのため、図２に示されているように、こ
のパワーアナライザは、当該装置のパネル操作に応じて
全体を制御する中央演算処理ユニットとしてのＣＰＵ３
８を備えている。

【００２８】同ＣＰＵ３８のバスライン３９には、上記
メモリ２５ないし３０、ストレージ制御部３３、ＰＬＬ
部３４、周波数測定部３５および発振部３６の他に、メ
モリ部２５ないし３０に書き込まれているディジタルデ
ータに基づいて実効値レベルの電圧、電流および電力な
どを高速演算し、かつ、ＦＦＴ演算により入力被測定信
号に含まれている基本波および所定次数（例えば４９次
まで）の高調波を算出するＤＳＰ（ディジタルシグナル
プロセッサ）４０と、当該装置の制御プログラムおよび
その演算プログラムなどを記憶しているＥＰＲＯＭ部４
１と、それら演算結果等のデータを記憶するＲＡＭ部
（ＳＲＡＭ，ＤＲＡＭ）４２と、このＲＡＭ部４２の書
き込み、読み出しを制御するＤＭＡ（ダイレクト メモ
リ アクセス）コントローラ部４３と、上記演算結果に
よる数値データおよび波形データを書き込み、読み出し
可能なＶＲＡＭ（ビデオ・ラム）部４４と、このＶＲＡ
Ｍ部４４へのデータを書き込み、読み出しおよび表示を
制御するＣＲＴコントローラ部４５と、その数値や波形
などをプリントアウトするプリンタ部４６などを接続す
るためのパラレルインターフェイスアダプタ４７と、そ
れら数値や波形等のデータをフロッピィなどに記憶する
フロッピィディスクドライブ部４８を制御するＦＤＣ
（フロッピィディスク コントローラ）４９と、その数
値や波形などのデータを外部に出力し、他の装置からの
データを入力するためのＧＰ−ＩＢインターフェイス５
０および非同期コミュニケーションズインターフェイス
５１とが接続されている。

【００２９】さらにまた、このパワーアナライザは上記
ＣＲＴコントローラ部４５にて表示処理した数値あるい
は波形を表示する表示部（例えば液晶表示装置）５２
と、図示しないが当該装置の操作スイッチなどが設けら
れたパネルを備えており、そのパネル操作に応じた信号
がインターフェイス、バスライン３９を介してＣＰＵ３
８に入力される。

【００３０】次ぎに、このパワーアナライザの動作を図
３のフローチャート図および図４の画面表示状態図を参
照して説明する。複数の被測定信号がそれぞれ各入力ユ
ニット部１０ないし１２に入力され、電力測定操作が行
われると、ＣＰＵ３８にてその電力測定に必要な制御が
行われるとともに、第１の切替部３１がパネル操作（オ
ートモード操作）に応じて切り替えられ、ＰＬＬ部３４
のソースとして各チャネルの内から１つの入力被測定信
号が選択される（ステップＳＴ１）。

【００３１】続いて、上記周波数測定部３５の測定周波
数に基づいてＡ／Ｄ変換のサンプリングおよびメモリの
書き込み制御が行われる。すなわち、ストレージ制御部
３３からＡ／Ｄ変換部１９ないし２４のサンプリング信
号が出力されるとともに、メモリ２５ないし３０の書き
込み制御信号が出力される。

【００３２】これにより、フィルタ１３ないし１８を介
したアナログ信号が各Ａ／Ｄ変換部１９ないし２４でデ
ィジタルデータに変換され、各メモリ２５ないし３０に
記憶される（ステップＳＴ２）。

【００３３】このとき、ストレージモードが固定同期方
式でなく、第２の切替部３７がＰＬＬ部３４側に切り替
えられて、ＰＬＬ同期方式が採られていることから、各
Ａ／Ｄ変換部１９ないし２４が同時に動作するととも
に、それぞれディジタル変換されたディジタルデータが
各メモリ２５ないし３０に同時に記憶される。

【００３４】すなわち、入力被測定信号のうち、第１の
切替部３１で選択されている１つの被測定信号（被測定
電圧（Ｖ１，Ｖ２，Ｖ３）あるいは電流（Ａ１，Ａ２，
Ａ３））がＰＬＬ部３４のソースにされ、同被測定信号
がフィルタ波形整形部３２で矩形波信号に波形整形さ
れ、この矩形波信号がＰＬＬ部３４に入力されることに
より、そのＰＬＬ部３４にて上記Ａ／Ｄ変換部１９ない
し２４の所定周波数のサンプリング信号とその選択され
た被測定信号の同期が合わせられる。

【００３５】この場合、少なくともその選択被測定信号
の数サイクル間にはその同期がかかり、それぞれ入力被
測定信号のゼロクロス点をＡ／Ｄ変換のスタート点と
し、各入力被測定信号の１サイクルを正確に捉えること
ができる。

【００３６】また、この実施例においては、ＦＦＴ演算
により被測定信号に含まれている高調波のうち、２次な
いし４９次の高調波を正確に算出するために、その入力
被測定信号の１サイクルを５１２に分割し、その５１２
ポイントのデータを得るようにしている。

【００３７】続いて、各メモリ２５ないし３０にそれぞ
れ記憶されたデータ、つまり取り込まれた５１２ポイン
トのディジタルデータに基づいて、各チャネルの入力被
測定信号ごとに電圧、電流（実効値（レベル）を含
む）、電力（有効電力、皮相電力、無効電力）および力
率が算出され、かつ、ＦＦＴ演算により各チャネルの被
測定信号（被測定電圧、電流）に含まれている基本波お
よび所定次数（例えば４９次まで）の高調波がリアルタ
イムで算出される（ステップＳＴ３）。

【００３８】しかる後、現在ＰＬＬ部３４のソースとし
て選択されている被測定信号の基本波を０°として、各
チャネルの被測定信号についてその位相角の補正が行な
われる（ステップＳＴ４）。なお、位相角の補正計算式
は従来と同様の手法によるため、ここではその説明を省
略する。

【００３９】そして、図４に例示されているように、表
示部５２にその被測定信号の基本波および第２次から第
４９次までの高調波の算出値がリアルタイムで表示され
る（ステップＳＴ５）。

【００４０】同図において、“ｋ”欄の“１”にはチャ
ネル１の入力被測定信号による基本波（１次）の算出値
（電圧、電流）が表示され、かつ“２”ないし“４９”
にはその被測定信号に含まれている第２次ないし第４９
次の高調波の算出値が表示される。なお、説明の便宜
上、同図にはチャネル１の入力被測定信号（Ｖ１，Ａ
１）に含まれている基本波および第２次から第４９次ま
での高調波の表示例が示されているが、例えばパネル操
作などにより、各チャネルごとにその表示画面を切り替
えることができることは言うまでもない。

【００４１】また、例えば第１の切替部３１が入力部１
０ａ側に切り替えられている場合、その表示部５２の画
面には上記ＰＬＬ部３４のソースとなっている被測定信
号の入力部を表す“ＰＬＬ（Ｖ１）”が表示される（図
の矢印Ａに示す）。

【００４２】ここで、上記被測定信号（被測定電圧（Ｖ
１））の入力レベルが低すぎると、フィルタ波形整形部
３２にてチャネル１の入力被測定信号のアナログ信号を
波形整形したときに、正常な矩形波信号が得られないた
め、上記ＰＬＬ部３４の動作が正常範囲から外れ、つま
り同期ずれが生じ、入力被測定信号の１サイクルが５１
２に分割されなくなるおそれが生ずる。

【００４３】そこで、当該装置がＰＬＬのソースを自動
的に選択するオートモードに切り替えられている場合に
は、ステップＳＴ６からＳＴ７に移行し、上記第１の切
替部３１で選択されている被測定電圧（Ｖ１）がＰＬＬ
部３４のソースとして最適レベルであるか否かが判断さ
れる（ステップＳＴ７）。

【００４４】この判断を行なうにあたっては、例えばＰ
ＬＬ部３４の出力周波数を測定し、その測定結果が安定
しているか否を基準とするか、もしくはＰＬＬ部３４の
前段のフィルタ波形整形部３２の入力アナログ信号のレ
ベルを予め定められた基準値と比較するコンパレータを
設け、このコンパレータの比較結果をＩ／Ｏポート、バ
スライン３９を介してＣＰＵ３８に入力し、そのアナロ
グ信号のレベルをモニタし、つまりＰＬＬ部３４のソー
スとしての入力被測定信号が最適であるか否かを調べる
ようにしてもよい。

【００４５】例えば、選択された入力被測定信号のレベ
ルが一定でない場合には、そのＳ／Ｎ比が悪いことか
ら、その入力被測定信号はＰＬＬ部３４のソースとして
最適でないと判断され、次ぎのステップＳＴ８におい
て、ＰＬＬ部３４のソースとして最適な入力被測定信号
があるか否かが判断される。

【００４６】すなわち、第１の切替部３１が順次切り替
えられて、ＣＰＵ３８において周波数もしくは電圧（電
流）レベルが安定している入力被測定信号が選択され
る。なお、各チャネルの全ての入力被測定信号が適正レ
ベルに満たないときには、第１の切替部３１を現状のま
まとし、つまりＰＬＬ部３４のソースとしての入力被測
定信号を切り替えることなく、一定時間待ち処理が実効
され（ステップＳＴ９）、一定時間後上記ステップＳＴ
２ないしＳＴ８が再度繰り返される。

【００４７】上記ステップＳＴ８において、ＰＬＬ部３
４のソースとして最適レベルの入力被測定信号が有りと
判断されると、ステップＳＴ１０に進み、第１の切替部
３１を駆動する切替信号がバスライン３９を介して出力
され、第１の切替部３１がその最適レベルの入力被測定
信号側に切り替えられる。

【００４８】これにより、図４の矢印Ａに示すソース表
示“ＰＬＬ（Ｖ１）”がその切り替えられた入力被測定
信号の入力部に替えられ（ステップＳＴ１１）、しかる
後ステップＳＴ２に戻り、上記ステップ動作が繰り返さ
れる。

【００４９】すなわち、各チャネルの入力被測定信号に
ついて新たに５１２個のディジタルデータが取り込ま
れ、そのデータに基づいて、各入力被測定信号ごとに電
圧、電流（実効値（レベル）を含む）、電力（有効電
力、皮相電力、無効電力）および力率が算出され、か
つ、ＦＦＴ演算により各チャネルの被測定信号（被測定
電圧、電流）に含まれている基本波および所定次数（例
えば４９次まで）の高調波がリアルタイムで算出され
る。

【００５０】そして、ＰＬＬ部３４のソースとして新た
に選択された被測定信号の基本波を０°として、各チャ
ネルの被測定信号についてその位相角の補正が行なわ
れ、その結果が表示部５２に表示される。この場合、Ｐ
ＬＬの最適なソースとして例えば第２チャネルの電圧Ｖ
２が選択されたものとすると、図４の表示例において、
そのソース元としてＰＬＬ（Ｖ２）と表示される。

【００５１】この繰り返し動作中において、選択されて
いる入力被測定信号がＰＬＬ部３４のソースとして最適
でないと判断されたとき、例えばＬＥＤ素子を発光し、
あるいはブザーを鳴らして、当該装置のオペレータに報
知するようにしてもよい。

【００５２】このように、入力被測定信号により電圧、
電流、電力、その入力被測定信号の基本波および高調波
を算出するにあたって、複数の入力被測定信号のうち、
ＰＬＬ部３４のソースとして最適レベルの入力被測定信
号を自動的に選択するようにしたので、Ａ／Ｄ変換のサ
ンプリング同期を確実に合わせることができるととも
に、各入力被測定信号の１サイクルを所定数（例えば５
１２）に正確に分割し、この所定数のポイントでディジ
タルデータを確実に取り込むことができる。

【００５３】また、位相角を補正するに際しても、ＰＬ
Ｌ部３４のソースとして最適レベルの入力被測定信号の
基本波を基準としたことにより、信頼性の高い位相角補
正を行なうことができる。

【００５４】なお、パネル操作により、オートモードで
なく、手動モードが選択されている場合には、第１の切
替部３１を手動で切り替えて、所望とする入力被測定信
号をＰＬＬ部３４のソースとすることができる。この意
味において、各チャネルの結線を変更することなく、位
相角補正の基準を変えてチャネル相互の位相関係などを
観測することもできる。

【００５５】

【発明の効果】以上説明したように、この発明によれ
ば、常にＡ／Ｄ変換器のソースとして選択されている被
測定入力信号の基本波を基準にして位相角の補正が行な
われるため、信頼性の高い測定データが得られる。

【図面の簡単な説明】

【図１】この発明の一実施例を示すパワーアナライザの
概略的部分ブロック図。

【図２】この発明の一実施例を示すパワーアナライザの
概略的部分ブロック図。

【図３】図１および図２に示す同パワーアナライザの動
作説明用フローチャート図。

【図４】図１および図２に示すパワーアナライザの概略
的表示画面図。

【図５】従来の電力計の概略的ブロック図。

【符号の説明】

１０ないし１２ 入力ユニット １９ないし２４ Ａ／Ｄ変換部 ２５ないし３０ メモリ（記憶部） ３１ 第１の切替部 ３２ フィルタ整形部 ３３ ストレージ制御部 ３４ ＰＬＬ部 ３５ 周波数測定部 ３８ ＣＰＵ（中央処理制御手段） ４０ ＤＳＰ（ディジタルシグナルプロセッサ） ４５ ＣＲＴコントローラ（表示制御手段） ５２ 表示部

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (56)参考文献 特開 昭55−15067（ＪＰ，Ａ) 実開 平２−140479（ＪＰ，Ｕ) (58)調査した分野(Int.Cl.⁷，ＤＢ名) G01R 21/00 - 22/04 G01R 11/00 - 11/66 G01R 23/165 G01R 23/167 H03L 7/06 - 7/22

Claims (1)

(57)【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】少なくとも複数チャネルの入力被測定信号
   をそれぞれ入力可能なレベルのアナログ信号に変換する
   複数の入力処理部と、それらのアナログ信号を所定周波
   数のサンプリング信号によりディジタルデータに変換す
   る複数のＡ／Ｄ変換部と、同Ａ／Ｄ変換部にて変換され
   た少なくとも１サイクル分のディジタルデータをそれぞ
   れ記憶する記憶部と、上記Ａ／Ｄ変換部に対するサンプ
   リング信号および上記記憶部に対するデータ書き込みタ
   イミング信号を出力し、かつ、そのサンプリング信号を
   上記入力被測定信号に同期して出力するストレージ制御
   部と、上記複数の入力処理部から出力される入力被測定
   信号のうちの１つを選択する切替部と、同切替部で選択
   された入力被測定信号を矩形波信号に波形整形する波形
   整形部と、その矩形波信号をソースとし、同矩形波信号
   と上記Ａ／Ｄ変換部のサンプリング周波数を整数分の１
   とした信号との位相差を検出し、この差に応じて上記ス
   トレージ制御部に出力する制御信号の周波数を可変し、
   上記Ａ／Ｄ変換部のサンプリング信号を上記切替部にて
   選択された入力被測定信号の１つに同期させるＰＬＬ部
   と、同ＰＬＬ部のソースとして選択されている入力被測
   定信号が最適であるか否かを判断し、それが最適でない
   ときには上記切替部を上記複数チャネルの入力被測定信
   号のうち最適な入力被測定信号が入力されている入力処
   理部に切り替えるソース自動切替制御手段と、上記記憶
   部に記憶されているデータに基づいて電圧、電流、電力
   をそれぞれ演算し、かつ入力被測定信号の高調波成分を
   ＦＦＴ演算する信号処理部とを備え、位相角の補正に際
   しては、上記ソース自動切替制御手段により上記ＰＬＬ
   部のソースとして選択されている入力被測定信号の基本
   波を基準として位相角の補正を行なうことを特徴とする
   パワーアナライザの位相角補正方法。