JP3145845B2 - 軸受診断装置の雑音除去方法 - Google Patents
軸受診断装置の雑音除去方法Info
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- JP3145845B2 JP3145845B2 JP27955293A JP27955293A JP3145845B2 JP 3145845 B2 JP3145845 B2 JP 3145845B2 JP 27955293 A JP27955293 A JP 27955293A JP 27955293 A JP27955293 A JP 27955293A JP 3145845 B2 JP3145845 B2 JP 3145845B2
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- Measurement Of Mechanical Vibrations Or Ultrasonic Waves (AREA)
- Rolling Contact Bearings (AREA)
- Testing Of Devices, Machine Parts, Or Other Structures Thereof (AREA)
- Investigating Or Analyzing Materials By The Use Of Ultrasonic Waves (AREA)
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は、本発明は軸受の異常を
自動的に検出するための軸受診断装置の雑音除去方法に
関し、特に、低速用の軸受に好適な軸受診断装置の雑音
除去方法に関する。
自動的に検出するための軸受診断装置の雑音除去方法に
関し、特に、低速用の軸受に好適な軸受診断装置の雑音
除去方法に関する。
【０００２】
【従来の技術】従来の軸受診断装置としては軸受の振動
加速度を検知して、その検知信号が異常波形を示し、そ
のレベルが高くなったときには、軸受の異常と判断する
ものがよく知られている。
加速度を検知して、その検知信号が異常波形を示し、そ
のレベルが高くなったときには、軸受の異常と判断する
ものがよく知られている。
【０００３】さらに、本出願人は軸受から異常時に発生
させるＡＥを検知し、その検知信号を事象計数法で処理
することで軸受の異常診断、特に低速で回転する軸受の
異常診断を行う提案（特願昭６１−２９４２１５号）を
行っている。
させるＡＥを検知し、その検知信号を事象計数法で処理
することで軸受の異常診断、特に低速で回転する軸受の
異常診断を行う提案（特願昭６１−２９４２１５号）を
行っている。
【０００４】音響を用いる軸受診断装置の主要回路構成
を図４に示す。図４において、軸受の異常から発生する
ＡＥ波はＡＥセンサ１により電気信号に変換され、包絡
線検波器２により包絡線成分Ａ（図４参照）が取り出さ
れる。この包絡線成分が示す波形の中のしきい値を越え
る時間ｔが事象計数カウンタ４により計数される。計数
された時間ｔが正常／異常判定回路５においてしきい値
と比較され、しきい値を越える場合に異常発生と判断さ
れる。なお、固体が変形もしくは破壊するときに音が発
生する事象が知られており、固体内部に微細な割れが入
って、それが成長していく過程で、割れの進行に伴って
生じる弾性波（超音波）をＡＥ（アコースティック エ
ミッション）と呼んでいる。
を図４に示す。図４において、軸受の異常から発生する
ＡＥ波はＡＥセンサ１により電気信号に変換され、包絡
線検波器２により包絡線成分Ａ（図４参照）が取り出さ
れる。この包絡線成分が示す波形の中のしきい値を越え
る時間ｔが事象計数カウンタ４により計数される。計数
された時間ｔが正常／異常判定回路５においてしきい値
と比較され、しきい値を越える場合に異常発生と判断さ
れる。なお、固体が変形もしくは破壊するときに音が発
生する事象が知られており、固体内部に微細な割れが入
って、それが成長していく過程で、割れの進行に伴って
生じる弾性波（超音波）をＡＥ（アコースティック エ
ミッション）と呼んでいる。
【０００５】
【発明が解決しようとする課題】このような軸受診断装
置では包絡線検波器の時定数の大きさにより精度が左右
されるという解決すべき点がいまだ残っていた。より具
体的に説明する。包絡線検波器２の時定数を大きく設定
すると、包絡線検波器２の出力信号の波形は図５の符合
Ａ−１に示すように滑かな信号波形となる。一方、包絡
線検波器２の時定数を相対的に小さく設定すると包絡線
検波器２の出力信号の波形は図５の符合Ｂ−１に示すよ
うに包絡線上に山や谷が現われててくる。
置では包絡線検波器の時定数の大きさにより精度が左右
されるという解決すべき点がいまだ残っていた。より具
体的に説明する。包絡線検波器２の時定数を大きく設定
すると、包絡線検波器２の出力信号の波形は図５の符合
Ａ−１に示すように滑かな信号波形となる。一方、包絡
線検波器２の時定数を相対的に小さく設定すると包絡線
検波器２の出力信号の波形は図５の符合Ｂ−１に示すよ
うに包絡線上に山や谷が現われててくる。
【０００６】このため、包絡線波形が分断され、しきい
値Ｌ2 を何度も越えるために正しい事象数ｎ1 をカウン
トしない。従って、軸受の異常検出精度を上げるために
は包絡線検波器２の時定数を大きく設定していた。
値Ｌ2 を何度も越えるために正しい事象数ｎ1 をカウン
トしない。従って、軸受の異常検出精度を上げるために
は包絡線検波器２の時定数を大きく設定していた。
【０００７】しかしながら、現場での測定時において
は、図６に示すようなしきい値を越えている継続時間が
短いヒゲ状の形をしている電気的なことに起因する外部
から飛来してくる雑音が阻害要因となることがあった。
この雑音は、高い周波数成分を保有しており、軸受診断
に用いる周波数帯域と重なるため、単にフィルタで除去
することはできない。
は、図６に示すようなしきい値を越えている継続時間が
短いヒゲ状の形をしている電気的なことに起因する外部
から飛来してくる雑音が阻害要因となることがあった。
この雑音は、高い周波数成分を保有しており、軸受診断
に用いる周波数帯域と重なるため、単にフィルタで除去
することはできない。
【０００８】このため、従来の方法では、包絡線波形を
もとにした継続時間の長さで雑音を除去する方法をとっ
ていた。
もとにした継続時間の長さで雑音を除去する方法をとっ
ていた。
【０００９】しかしながら、上記のように時定数を大き
く設定していると雑音信号の波形幅も大きくなり継続時
間が異常信号との弁別が困難となる。
く設定していると雑音信号の波形幅も大きくなり継続時
間が異常信号との弁別が困難となる。
【００１０】その結果、事象計数カウンタ４の計数対象
となり、雑音による誤診断が発生することがあった。
となり、雑音による誤診断が発生することがあった。
【００１１】そこで本発明の目的は、上述の点に鑑み
て、ＡＥを計測して軸受の異常を検知する軸受診断装置
に好適な軸受診断装置の雑音除去方法を提供することに
ある。
て、ＡＥを計測して軸受の異常を検知する軸受診断装置
に好適な軸受診断装置の雑音除去方法を提供することに
ある。
【００１２】
【課題を解決するための手段】このような目的を達成す
るために、本発明は、軸受の発生する音響をセンサにて
電気信号に変換し、当該変換された電気信号が示すＡＥ
波を検出することにより軸受の異常を検知する軸受診断
装置の雑音除去方法において、前記電気信号を時定数の
長い包絡線検波器および時定数の短い波形整形回路でパ
ルス波形に整形し、当該計数されたパルス発生個数が予
め定めた個数よりも小さい時には、この時の前記電気信
号は雑音と判断し、当該雑音信号と判断された期間の前
記電気信号を無効化することを特徴とする。
るために、本発明は、軸受の発生する音響をセンサにて
電気信号に変換し、当該変換された電気信号が示すＡＥ
波を検出することにより軸受の異常を検知する軸受診断
装置の雑音除去方法において、前記電気信号を時定数の
長い包絡線検波器および時定数の短い波形整形回路でパ
ルス波形に整形し、当該計数されたパルス発生個数が予
め定めた個数よりも小さい時には、この時の前記電気信
号は雑音と判断し、当該雑音信号と判断された期間の前
記電気信号を無効化することを特徴とする。
【００１３】
【作用】本発明では、軸受の異常により生じる異常ＡＥ
信号は、図６に示すような突発型の波形をしており、電
気的なことに起因する雑音信号はヒゲ状（図６参照）の
形状をしていることを発明者が発見し、この特性を用い
て、測定信号をパルス化し、一定時間内のパルス数を計
数することにより雑音信号と突発型波形を持つ異常信号
を識別する。
信号は、図６に示すような突発型の波形をしており、電
気的なことに起因する雑音信号はヒゲ状（図６参照）の
形状をしていることを発明者が発見し、この特性を用い
て、測定信号をパルス化し、一定時間内のパルス数を計
数することにより雑音信号と突発型波形を持つ異常信号
を識別する。
【００１４】
【実施例】以下、図面を参照して本発明の実施例を詳細
に説明する。本発明を適用した軸受診断装置のシステム
構成を図１に示す。図１において図４の従来システムと
同様の箇所には同一の符合を付しており詳細な説明を省
略する。
に説明する。本発明を適用した軸受診断装置のシステム
構成を図１に示す。図１において図４の従来システムと
同様の箇所には同一の符合を付しており詳細な説明を省
略する。
【００１５】図１において、フィルタ１０は入力信号の
低周波成分を除去する。フィルタ１０の出力信号は波形
整形回路１１および包絡線検波器２に与えられる。波形
整形回路１１には比較器を用いており、フィルタ１０の
出力信号のレベルが予め定めた第１のしきい値Ｌ１（従
来の技術の説明中のしきい値とは異なる）よりも大きい
間だけオンとなるパルス信号ＣＯＭＰを発生する。
低周波成分を除去する。フィルタ１０の出力信号は波形
整形回路１１および包絡線検波器２に与えられる。波形
整形回路１１には比較器を用いており、フィルタ１０の
出力信号のレベルが予め定めた第１のしきい値Ｌ１（従
来の技術の説明中のしきい値とは異なる）よりも大きい
間だけオンとなるパルス信号ＣＯＭＰを発生する。
【００１６】本発明にかかわる雑音除去方法では波形整
形回路１１から出力されるパルス信号ＣＯＭＰと包絡線
検波器２の出力信号ＳＩＧのつきあわせにより雑音成分
を除去する。雑音除去回路１２の出力信号が事象計数カ
ウンタ４に供給され、以後、従来と同様の、異常検知処
理が行なわれる。
形回路１１から出力されるパルス信号ＣＯＭＰと包絡線
検波器２の出力信号ＳＩＧのつきあわせにより雑音成分
を除去する。雑音除去回路１２の出力信号が事象計数カ
ウンタ４に供給され、以後、従来と同様の、異常検知処
理が行なわれる。
【００１７】雑音除去回路１２の回路構成を図２にま
た、回路内の信号波形を図３に示す。アンド回路２２は
スイッチング回路としての機能を果たし、包絡線検波器
２の出力信号のレベルが所定のレベル以上の時にのみ、
即ち、雑音成分の混入を許した異常信号波形が発生した
ときにのみ、波形整形回路１１の出力パルス信号をリン
グダウンカウンタ２３に供給する。コンパレータ２１は
上述の異常信号波形の発生タイミングを検知するために
上記信号ＳＩＧのレベルを第２のしきい値Ｌ２と比較す
る。
た、回路内の信号波形を図３に示す。アンド回路２２は
スイッチング回路としての機能を果たし、包絡線検波器
２の出力信号のレベルが所定のレベル以上の時にのみ、
即ち、雑音成分の混入を許した異常信号波形が発生した
ときにのみ、波形整形回路１１の出力パルス信号をリン
グダウンカウンタ２３に供給する。コンパレータ２１は
上述の異常信号波形の発生タイミングを検知するために
上記信号ＳＩＧのレベルを第２のしきい値Ｌ２と比較す
る。
【００１８】リングカウンタ２３はキャンセル個数から
ダウンカウントを実行し、計数値が０になった時ＥＶＥ
ＮＴ信号はオンとなる。ここでキャンセル個数とは雑音
成分と軸受異常により生じる異常信号を識別するための
数値であり、包絡線波形が第２のしきい値を超えている
継続時間内に発生したＣＯＭＰ信号のパルス個数がキャ
ンセル個数よりも小さい場合にはこの間のＳＩＧ信号は
雑音成分と判定する。
ダウンカウントを実行し、計数値が０になった時ＥＶＥ
ＮＴ信号はオンとなる。ここでキャンセル個数とは雑音
成分と軸受異常により生じる異常信号を識別するための
数値であり、包絡線波形が第２のしきい値を超えている
継続時間内に発生したＣＯＭＰ信号のパルス個数がキャ
ンセル個数よりも小さい場合にはこの間のＳＩＧ信号は
雑音成分と判定する。
【００１９】イベントカウンタ２４は図１の事象計数カ
ウンタ４および正常／異常判定回路５で構成されてい
る。本実施形態では単位時間内の信号ＥＶＥＮＴの発生
個数を計数することにより軸受異常の有無を判定する。
ウンタ４および正常／異常判定回路５で構成されてい
る。本実施形態では単位時間内の信号ＥＶＥＮＴの発生
個数を計数することにより軸受異常の有無を判定する。
【００２０】このように構成された軸受診断装置の動作
を次に説明する。ＡＥセンサ１の発生する計測信号はフ
ィルタ１０を通過するときに周波数成分が無効化により
除去されて、図３で示すＡＥ生波形が得られる。図３に
示すＡＥ生波形は軸受の一部の亀裂破損により生じた異
常信号と雑音が混在した波形であり、正常な状態では波
形レベルは一定レベルを保つ。ＡＥ生波形は波形整形回
路１１により整形されて図３のＣＯＭＰ信号波形が得ら
れる。
を次に説明する。ＡＥセンサ１の発生する計測信号はフ
ィルタ１０を通過するときに周波数成分が無効化により
除去されて、図３で示すＡＥ生波形が得られる。図３に
示すＡＥ生波形は軸受の一部の亀裂破損により生じた異
常信号と雑音が混在した波形であり、正常な状態では波
形レベルは一定レベルを保つ。ＡＥ生波形は波形整形回
路１１により整形されて図３のＣＯＭＰ信号波形が得ら
れる。
【００２１】一方、包絡線検波回路２の出力信号として
は図３のＳＩＧ信号波形が得られる。ＳＩＧ信号波形が
所定レベル以上となる継続時間ｔ１、ｔ２、、の間コン
パレータ２１からの出力信号がオンとなる。このため、
この間、ＳＩＧ信号がリングダウンカウンタ２３に供給
される。キャンセル個数を例えば３に設定すると、ダウ
ンカウンタ２３はパルス信号が入力する毎に初期値３か
ら数値１を減算（デクリメント）し、計数値が数値０に
なったときにＥＶＥＮＴ信号はオンとなる。図３のＡＥ
生波形が雑音ではない異常波形の場合はＣＯＭＰ信号の
パルス個数が数値３以上となるので、ＥＶＥＮＴ信号は
オンとなる。
は図３のＳＩＧ信号波形が得られる。ＳＩＧ信号波形が
所定レベル以上となる継続時間ｔ１、ｔ２、、の間コン
パレータ２１からの出力信号がオンとなる。このため、
この間、ＳＩＧ信号がリングダウンカウンタ２３に供給
される。キャンセル個数を例えば３に設定すると、ダウ
ンカウンタ２３はパルス信号が入力する毎に初期値３か
ら数値１を減算（デクリメント）し、計数値が数値０に
なったときにＥＶＥＮＴ信号はオンとなる。図３のＡＥ
生波形が雑音ではない異常波形の場合はＣＯＭＰ信号の
パルス個数が数値３以上となるので、ＥＶＥＮＴ信号は
オンとなる。
【００２２】一方、ＡＥ生波形の中の雑音成分に対応す
るＣＯＭＰ信号は一定時間内にに発生するパルス個数が
数値３より小さくなる。このため、リングダウンカウン
タ２３は計数値が０とならず、ＥＶＥＮＴ信号はオフの
ままである（図３参照）。このことによりＥＶＥＮＴ信
号からは雑音信号成分が除去される。事象計数カウンタ
４はＥＶＥＮＴ信号の発生個数を計数し、正常／異常判
定回路５は単位計測時間内に計数値が異常判定個数に達
したときに異常発生信号を発生する。この異常発生信号
がアラーム（警報）信号として外部に出力され、軸受の
異常発生を知らせる。
るＣＯＭＰ信号は一定時間内にに発生するパルス個数が
数値３より小さくなる。このため、リングダウンカウン
タ２３は計数値が０とならず、ＥＶＥＮＴ信号はオフの
ままである（図３参照）。このことによりＥＶＥＮＴ信
号からは雑音信号成分が除去される。事象計数カウンタ
４はＥＶＥＮＴ信号の発生個数を計数し、正常／異常判
定回路５は単位計測時間内に計数値が異常判定個数に達
したときに異常発生信号を発生する。この異常発生信号
がアラーム（警報）信号として外部に出力され、軸受の
異常発生を知らせる。
【００２３】
【発明の効果】以上説明したように、本発明によれば、
測定信号から衝撃波形の異常信号成分を検出する場合に
も測定信号の中の軸受異常から生じる異常信号成分と、
雑音信号成分を弁別できるので、雑音信号を除去でき
る。
測定信号から衝撃波形の異常信号成分を検出する場合に
も測定信号の中の軸受異常から生じる異常信号成分と、
雑音信号成分を弁別できるので、雑音信号を除去でき
る。
【図１】本発明実施例のシステム構成を示すブロック図
である。
である。
【図２】本発明実施例の雑音除去回路の回路構成を示す
ブロック図である。
ブロック図である。
【図３】本発明実施例の信号波形を示す波形図である。
【図４】従来例のシステム構成を示すブロック図であ
る。
る。
【図５】従来例の雑音除去回路における時定数の大小に
よる包絡線波形の変化を示す図である。
よる包絡線波形の変化を示す図である。
【図６】雑音のＡＥ波形と異常時に発生するＡＥ波形を
示す図である。
示す図である。
１ ＡＥセンサ ２ 包絡線検波器 ３ 従来の雑音除去回路 ４ 事象計数カウンタ ５ 正常／異常判定回路
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (58)調査した分野(Int.Cl.7，ＤＢ名) G01H 17/00 F16C 19/52 G01M 13/04 G01N 29/14
Claims (1)
- 【請求項１】 軸受の発生する音響をセンサにて電気信
号に変換し、当該変換された電気信号が示すＡＥ波を検
出することにより軸受の異常を検知する軸受診断装置の
雑音除去方法において、 前記電気信号を時定数の長い包絡線検波器および時定数
の短い波形整形回路でパルス波形に整形し、 当該計数されたパルス発生個数が予め定めた個数よりも
小さい時には、この時の前記電気信号は雑音と判断し、 当該雑音信号と判断された期間の前記電気信号を無効化
することを特徴とする軸受診断装置の雑音除去方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP27955293A JP3145845B2 (ja) | 1993-11-09 | 1993-11-09 | 軸受診断装置の雑音除去方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP27955293A JP3145845B2 (ja) | 1993-11-09 | 1993-11-09 | 軸受診断装置の雑音除去方法 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH07134063A JPH07134063A (ja) | 1995-05-23 |
| JP3145845B2 true JP3145845B2 (ja) | 2001-03-12 |
Family
ID=17612559
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP27955293A Expired - Lifetime JP3145845B2 (ja) | 1993-11-09 | 1993-11-09 | 軸受診断装置の雑音除去方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP3145845B2 (ja) |
Families Citing this family (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2008051516A (ja) * | 2006-08-22 | 2008-03-06 | Olympus Corp | 触覚検出装置 |
| WO2008093652A1 (ja) * | 2007-01-31 | 2008-08-07 | Thk Co., Ltd. | 潤滑状態検出装置及び潤滑状態検出方法 |
| JP2012042338A (ja) * | 2010-08-19 | 2012-03-01 | Ntn Corp | 転がり軸受の異常診断装置および歯車の異常診断装置 |
| JP2012078288A (ja) * | 2010-10-05 | 2012-04-19 | Asahi Kasei Engineering Kk | 転がり軸受の診断方法 |
| US11604091B1 (en) * | 2021-09-23 | 2023-03-14 | Jae Whan Kim | Method for avoiding noise in an apparatus for space monitoring by using sound signal |
-
1993
- 1993-11-09 JP JP27955293A patent/JP3145845B2/ja not_active Expired - Lifetime
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH07134063A (ja) | 1995-05-23 |
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Legal Events
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