JP3209761B2 - 焦点調節装置 - Google Patents
焦点調節装置Info
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- JP3209761B2 JP3209761B2 JP24349891A JP24349891A JP3209761B2 JP 3209761 B2 JP3209761 B2 JP 3209761B2 JP 24349891 A JP24349891 A JP 24349891A JP 24349891 A JP24349891 A JP 24349891A JP 3209761 B2 JP3209761 B2 JP 3209761B2
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- filter
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-
- H—ELECTRICITY
- H04—ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
- H04N—PICTORIAL COMMUNICATION, e.g. TELEVISION
- H04N23/00—Cameras or camera modules comprising electronic image sensors; Control thereof
- H04N23/60—Control of cameras or camera modules
- H04N23/67—Focus control based on electronic image sensor signals
- H04N23/673—Focus control based on electronic image sensor signals based on contrast or high frequency components of image signals, e.g. hill climbing method
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Multimedia (AREA)
- Signal Processing (AREA)
- Automatic Focus Adjustment (AREA)
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は、画像のぼけ量を検出し
焦点調節動作を行なう焦点調整装置に関するものであ
る。
焦点調節動作を行なう焦点調整装置に関するものであ
る。
【０００２】
【従来の技術】図５は被写体を撮像する固体撮像素子の
出力より画像のぼけ量を検出し、自動的に合焦させる機
能を持った自動焦点機能付電子スチルカメラを示す。
出力より画像のぼけ量を検出し、自動的に合焦させる機
能を持った自動焦点機能付電子スチルカメラを示す。
【０００３】図５において、１はレンズユニット、２は
レンズ駆動モータ、３は絞り、４は絞り駆動回路であ
る。５は被写体像を電気信号に変換する固体撮像素子、
６は固体撮像素子を駆動するための固体撮像素子駆動回
路である。７は固体撮像素子５の出力をＡ／Ｄ変換する
Ａ／Ｄ変換回路である。８はＡ／Ｄ変換回路７の出力を
記憶するメモリである。９はぼけ量をあらわすＥＳ値
（後述する）を算出するＥＳフィルタである。１０はシ
ステム全体を制御するシステム制御回路である。１１は
メモリ８の出力に対して、γ変換，帯域制限等の処理を
行う撮像信号処理回路である。１２は撮像信号処理回路
１１の出力をＤ／Ａ変換するＤ／Ａ変換回路である。１
３はＤ／Ａ変換回路１２の出力をＦＭ変調するＦＭ変調
回路である。１４はＦＭ変調回路１３の出力を電流増幅
するＲＥＣアンプである。１５は磁気ヘッド、１６は記
録媒体である磁気シート、１７は磁気シート１６を回転
させるモータ、１８はモータの回転を安定させるための
モータサーボ回路である。１９は被写体の明るさを測定
するための測光素子である。２０はレリーズスイッチで
ある。このスイッチの投入とともに一連の撮影動作が開
始される。
レンズ駆動モータ、３は絞り、４は絞り駆動回路であ
る。５は被写体像を電気信号に変換する固体撮像素子、
６は固体撮像素子を駆動するための固体撮像素子駆動回
路である。７は固体撮像素子５の出力をＡ／Ｄ変換する
Ａ／Ｄ変換回路である。８はＡ／Ｄ変換回路７の出力を
記憶するメモリである。９はぼけ量をあらわすＥＳ値
（後述する）を算出するＥＳフィルタである。１０はシ
ステム全体を制御するシステム制御回路である。１１は
メモリ８の出力に対して、γ変換，帯域制限等の処理を
行う撮像信号処理回路である。１２は撮像信号処理回路
１１の出力をＤ／Ａ変換するＤ／Ａ変換回路である。１
３はＤ／Ａ変換回路１２の出力をＦＭ変調するＦＭ変調
回路である。１４はＦＭ変調回路１３の出力を電流増幅
するＲＥＣアンプである。１５は磁気ヘッド、１６は記
録媒体である磁気シート、１７は磁気シート１６を回転
させるモータ、１８はモータの回転を安定させるための
モータサーボ回路である。１９は被写体の明るさを測定
するための測光素子である。２０はレリーズスイッチで
ある。このスイッチの投入とともに一連の撮影動作が開
始される。
【０００４】図６は図１図示固体撮像素子５を示す。
【０００５】図６において、５０１はインターライン転
送型固体撮像素子である。５０２は光を電荷に変えて蓄
積するフォトダイオード、５０３はフォトダイオードで
発生した電荷を垂直方向に転送する垂直ＣＣＤである。
Ｖ１〜Ｖ４は垂直ＣＣＤ５０３の転送電極であり、Ｖ１
はフォトダイオードの奇数行の電荷を転送する転送ゲー
トを兼ねている。同様に、Ｖ３はフォトダイオードの偶
数行の電荷を転送する転送ゲートを兼ねている。垂直Ｃ
ＣＤ５０３は４相の転送パルスで駆動されている。５０
４は垂直ＣＣＤ５０３より転送されてくる電荷を水平方
向に転送する水平ＣＣＤである。Ｈ１，Ｈ２は水平ＣＣ
Ｄ５０４の転送電極であり、２相の転送パルスで駆動さ
れている。５０５は電荷を電圧に変換し出力する出力ア
ンプである。５０６は不要電荷を逆転送により掃き捨て
るためのトップドレインである。５０７は不要電荷を順
転送により掃き捨てるためのボトムドレインである。
送型固体撮像素子である。５０２は光を電荷に変えて蓄
積するフォトダイオード、５０３はフォトダイオードで
発生した電荷を垂直方向に転送する垂直ＣＣＤである。
Ｖ１〜Ｖ４は垂直ＣＣＤ５０３の転送電極であり、Ｖ１
はフォトダイオードの奇数行の電荷を転送する転送ゲー
トを兼ねている。同様に、Ｖ３はフォトダイオードの偶
数行の電荷を転送する転送ゲートを兼ねている。垂直Ｃ
ＣＤ５０３は４相の転送パルスで駆動されている。５０
４は垂直ＣＣＤ５０３より転送されてくる電荷を水平方
向に転送する水平ＣＣＤである。Ｈ１，Ｈ２は水平ＣＣ
Ｄ５０４の転送電極であり、２相の転送パルスで駆動さ
れている。５０５は電荷を電圧に変換し出力する出力ア
ンプである。５０６は不要電荷を逆転送により掃き捨て
るためのトップドレインである。５０７は不要電荷を順
転送により掃き捨てるためのボトムドレインである。
【０００６】図７は自動焦点機能付電子スチルカメラの
動作シークエンスを示す。時刻Ｔ０にレリーズスイッチ
２０が投入されると、一連の撮影シークエンスが開始さ
れる。測光素子１９の出力より最適絞り値Ａｖおよび最
適シャッタースピードＴｖを算出する。Ｔ１からＴ２の
間に絞りを開放に設定し、Ｔ２からＴ３の間にｎ段ステ
ップもしくは連続的に無限遠から至近までのピント位置
までレンズユニット１をレンズ駆動モータ２によって移
動させるとともに、ｎ回の不要電荷の掃き捨て，露光，
信号電荷読み出しといった一連の動作、すなわちＡＦ動
作を行い、ｎ回の信号電荷読み出しにおける固体撮像素
子５の出力からぼけ量を算出することによって最もぼけ
量の少ない位置、すなわち最適ピント位置を算出する。
Ｔ３からＴ４の間に絞り値をＡｖに設定すると同時にレ
ンズユニット１を合焦レンズ位置に設定する。Ｔ４から
不要電荷を逆転送によりトップドレイン５０６に掃き捨
てるクリア動作を行い、その後、本露光を行う。次に、
Ｔ５から信号電荷の読み出しを行うと共に磁気シート１
６に処理信号を記録する。
動作シークエンスを示す。時刻Ｔ０にレリーズスイッチ
２０が投入されると、一連の撮影シークエンスが開始さ
れる。測光素子１９の出力より最適絞り値Ａｖおよび最
適シャッタースピードＴｖを算出する。Ｔ１からＴ２の
間に絞りを開放に設定し、Ｔ２からＴ３の間にｎ段ステ
ップもしくは連続的に無限遠から至近までのピント位置
までレンズユニット１をレンズ駆動モータ２によって移
動させるとともに、ｎ回の不要電荷の掃き捨て，露光，
信号電荷読み出しといった一連の動作、すなわちＡＦ動
作を行い、ｎ回の信号電荷読み出しにおける固体撮像素
子５の出力からぼけ量を算出することによって最もぼけ
量の少ない位置、すなわち最適ピント位置を算出する。
Ｔ３からＴ４の間に絞り値をＡｖに設定すると同時にレ
ンズユニット１を合焦レンズ位置に設定する。Ｔ４から
不要電荷を逆転送によりトップドレイン５０６に掃き捨
てるクリア動作を行い、その後、本露光を行う。次に、
Ｔ５から信号電荷の読み出しを行うと共に磁気シート１
６に処理信号を記録する。
【０００７】図８はぼけ量を検出するための方法の１つ
であるＥＳ法の説明をする図である。
であるＥＳ法の説明をする図である。
【０００８】ＥＳ法に関しては、ＵＳＰ４８０４８３１
号に開示されているので簡単な説明に留める。図８
（ａ）に示すように、映像信号は合焦時にエッジが立
ち、非合焦時にはエッジが寝る。図８（ｂ）に映像信号
の微分波形の絶対値Ｄを示す。図８（ｃ），（ｄ）はそ
れぞれ微分波形Ｄの遅延信号ＤＬ１，ＤＬ２を示し、図
８（ｅ）は積分波形Ｉを示し、映像信号のエッジ部のコ
ントラストを表す。図８（ｆ）にＤをＩで割算すること
によって得られるエッジの鋭さを表すＥＳ値を示す。
号に開示されているので簡単な説明に留める。図８
（ａ）に示すように、映像信号は合焦時にエッジが立
ち、非合焦時にはエッジが寝る。図８（ｂ）に映像信号
の微分波形の絶対値Ｄを示す。図８（ｃ），（ｄ）はそ
れぞれ微分波形Ｄの遅延信号ＤＬ１，ＤＬ２を示し、図
８（ｅ）は積分波形Ｉを示し、映像信号のエッジ部のコ
ントラストを表す。図８（ｆ）にＤをＩで割算すること
によって得られるエッジの鋭さを表すＥＳ値を示す。
【０００９】図９は図１図示のＥＳフィルタ９の構成例
を示す。
を示す。
【００１０】図９において、８０１は微分回路、８０２
は絶対値回路、８０３は遅延回路、８０４は積分回路、
８０５は割算回路である。８０６はピークホールド回路
である。画像情報の中で最もＥＳ値の高かった値をその
被写体のＥＳ値と判断する。
は絶対値回路、８０３は遅延回路、８０４は積分回路、
８０５は割算回路である。８０６はピークホールド回路
である。画像情報の中で最もＥＳ値の高かった値をその
被写体のＥＳ値と判断する。
【００１１】図１０は合焦位置を求めるためにＡＦ動作
を行う際のレンズ位置とＥＳ値の変化を示す。
を行う際のレンズ位置とＥＳ値の変化を示す。
【００１２】レンズ送りは最小位置から最大位置まで連
続的に送り、その間、１垂直走査期間（１Ｖと略す）ご
とに画像情報を固体撮像素子５に蓄積し、その信号を読
み出し、その画像情報からＥＳ値を求めて最もＥＳ値が
大きかった位置を合焦位置とする。レンズ送り量を横軸
と合焦信号（この場合はＥＳ値である）を縦軸にとった
場合に描かれる合焦位置をピークとする曲線を山登り曲
線という。ＥＳ法の山登り曲線は急峻であり、合焦検出
の精度がよい。以上の説明は入力される画像情報の全情
報を用いてＡＦ動作を行っているが、ＡＦ動作には迅速
さが要求されるので、通常は一定の面積を持つ測距枠を
用いてこの測距枠内でＡＦ動作が行われている。
続的に送り、その間、１垂直走査期間（１Ｖと略す）ご
とに画像情報を固体撮像素子５に蓄積し、その信号を読
み出し、その画像情報からＥＳ値を求めて最もＥＳ値が
大きかった位置を合焦位置とする。レンズ送り量を横軸
と合焦信号（この場合はＥＳ値である）を縦軸にとった
場合に描かれる合焦位置をピークとする曲線を山登り曲
線という。ＥＳ法の山登り曲線は急峻であり、合焦検出
の精度がよい。以上の説明は入力される画像情報の全情
報を用いてＡＦ動作を行っているが、ＡＦ動作には迅速
さが要求されるので、通常は一定の面積を持つ測距枠を
用いてこの測距枠内でＡＦ動作が行われている。
【００１３】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、従来の
ＡＦ動作では、測距枠の面積が一定で固定であるため、
例えば、図１１（ａ）に示すように測距枠の面積が広い
場合、例えば、遠景の木と近景の人物が同時に測距枠内
に入ると、図８に示すＥＳ値に複数のピークを持つこと
になる。よって、どのピーク位置に合焦するのかという
点でＡＦ動作が不安定になる。一方、図１１（ｂ）に示
すように測距枠の面積が狭い場合、測距枠内に合焦点を
割出すための高周波成分を含まないことが多く、ＥＳ値
が小さくなり、最悪の場合、ＥＳ値にピークが存在せ
ず、正確なＡＦ動作が行えないという問題点があった。
ＡＦ動作では、測距枠の面積が一定で固定であるため、
例えば、図１１（ａ）に示すように測距枠の面積が広い
場合、例えば、遠景の木と近景の人物が同時に測距枠内
に入ると、図８に示すＥＳ値に複数のピークを持つこと
になる。よって、どのピーク位置に合焦するのかという
点でＡＦ動作が不安定になる。一方、図１１（ｂ）に示
すように測距枠の面積が狭い場合、測距枠内に合焦点を
割出すための高周波成分を含まないことが多く、ＥＳ値
が小さくなり、最悪の場合、ＥＳ値にピークが存在せ
ず、正確なＡＦ動作が行えないという問題点があった。
【００１４】本発明の目的は、上記のような問題点を解
決し、正確なＡＦ動作を行なうことができる焦点調節装
置を提供することにある。
決し、正確なＡＦ動作を行なうことができる焦点調節装
置を提供することにある。
【００１５】
【課題を解決するための手段】本発明は、画像の高周波
成分に基づいて焦点調節動作を行う焦点調節装置におい
て、画像の高周波成分の取り込み領域を設定する取り込
み領域設定手段と、前記取り込み領域設定手段により設
定される取り込み領域から第１の周波数帯域の高周波成
分を抽出する第１のフィルタ手段と、前記取り込み領域
設定手段により設定される取り込み領域から前記第１の
周波数帯城より下限周波数の高い第２の周波数帯域の高
周波成分を抽出する第２のフィルタ手段と、前記領域設
定手段により設定される取り込み領域の大きさを前記第
１のフィルタ手段により抽出される高周波成分が所定の
基準値を満たす大きさにする領域制御手段と、前記領域
制御手段に決められた大きさの取り込み領域から前記第
２のフィルタ手段により高周波成分を抽出し、該第２の
フィルタ手段により抽出された高周波成分に基づいて合
焦位置を検出する合焦位置検出手段とを有することを特
徴とする。
成分に基づいて焦点調節動作を行う焦点調節装置におい
て、画像の高周波成分の取り込み領域を設定する取り込
み領域設定手段と、前記取り込み領域設定手段により設
定される取り込み領域から第１の周波数帯域の高周波成
分を抽出する第１のフィルタ手段と、前記取り込み領域
設定手段により設定される取り込み領域から前記第１の
周波数帯城より下限周波数の高い第２の周波数帯域の高
周波成分を抽出する第２のフィルタ手段と、前記領域設
定手段により設定される取り込み領域の大きさを前記第
１のフィルタ手段により抽出される高周波成分が所定の
基準値を満たす大きさにする領域制御手段と、前記領域
制御手段に決められた大きさの取り込み領域から前記第
２のフィルタ手段により高周波成分を抽出し、該第２の
フィルタ手段により抽出された高周波成分に基づいて合
焦位置を検出する合焦位置検出手段とを有することを特
徴とする。
【００１６】本発明は、画像の高周波成分に基づいて焦
点調節動作を行う焦点調節装置において、画像の高周波
成分の取り込み領域を設定する取り込み領域設定手段
と、前記取り込み領域設定手段により設定される取り込
み領域から第１の周波数帯域の高周波成分を抽出する第
１のフィルタ手段と、前記取り込み領域設定手段により
設定される取り込み領域から前記第１の周波数帯域より
下限周波数の高い第２の周波数帯域の高周波成分を抽出
する第２のフィルタ手段と、前記領域設定手段により設
定される取り込み領域の位置を前記第１のフィルタ手段
により抽出される高周波成分が所定の基準値を満たす位
置にする領域制御手段と、前記領域制御手段に決められ
た位置の取り込み領域から前記第２のフィルタ手段によ
り高周波成分を抽出し、該第２のフィルタ手段により抽
出された高周波成分に基づいて合焦位置を検出する合焦
位置検出手段とを有することを特徴とする。
点調節動作を行う焦点調節装置において、画像の高周波
成分の取り込み領域を設定する取り込み領域設定手段
と、前記取り込み領域設定手段により設定される取り込
み領域から第１の周波数帯域の高周波成分を抽出する第
１のフィルタ手段と、前記取り込み領域設定手段により
設定される取り込み領域から前記第１の周波数帯域より
下限周波数の高い第２の周波数帯域の高周波成分を抽出
する第２のフィルタ手段と、前記領域設定手段により設
定される取り込み領域の位置を前記第１のフィルタ手段
により抽出される高周波成分が所定の基準値を満たす位
置にする領域制御手段と、前記領域制御手段に決められ
た位置の取り込み領域から前記第２のフィルタ手段によ
り高周波成分を抽出し、該第２のフィルタ手段により抽
出された高周波成分に基づいて合焦位置を検出する合焦
位置検出手段とを有することを特徴とする。
【００１７】
【００１８】
【００１９】
【実施例】以下、図面を参照して本発明の実施例を詳細
に説明する。
に説明する。
【００２０】図１は本発明の一実施例を示す。これは自
動焦点機能付電子スチルカメラの例で、図５と同一部分
は、同一番号を付してその説明を省略する。
動焦点機能付電子スチルカメラの例で、図５と同一部分
は、同一番号を付してその説明を省略する。
【００２１】図において、１０１は画像の高周波成分を
検出するためのハイパスフィルタである。このフィルタ
はレンズの可動域でブロードな周波数特性を持ち、カッ
トオフ周波数は非合焦時、特に大ボケのときでも出力値
が零にならない程度に低く設定されている。このフィル
タの出力をＣＵ値とする。１０２は画像の輝度成分の平
均値を算出するための積分回路である。この積分回路の
出力をＹ値とする。
検出するためのハイパスフィルタである。このフィルタ
はレンズの可動域でブロードな周波数特性を持ち、カッ
トオフ周波数は非合焦時、特に大ボケのときでも出力値
が零にならない程度に低く設定されている。このフィル
タの出力をＣＵ値とする。１０２は画像の輝度成分の平
均値を算出するための積分回路である。この積分回路の
出力をＹ値とする。
【００２２】次に、図２および図３を参照して合焦動作
を説明する。
を説明する。
【００２３】時刻Ｔ０にレリーズスイッチ２０が投入さ
れると、一連の撮影シークエンスが開始される。測光素
子１９の出力より最適絞り値Ａｖおよび最適シャッター
スピードＴｖを算出する。時刻Ｔ１から時刻Ｔ２の間に
絞りを開放に設定し、同時に、レンズ１を無限遠と至近
の中央付近のピント位置に移動させる。時刻Ｔ２で測距
可能な最小面積の測距枠を設定し、最初のＣＵ値および
Ｙ値を算出する。
れると、一連の撮影シークエンスが開始される。測光素
子１９の出力より最適絞り値Ａｖおよび最適シャッター
スピードＴｖを算出する。時刻Ｔ１から時刻Ｔ２の間に
絞りを開放に設定し、同時に、レンズ１を無限遠と至近
の中央付近のピント位置に移動させる。時刻Ｔ２で測距
可能な最小面積の測距枠を設定し、最初のＣＵ値および
Ｙ値を算出する。
【００２４】ＣＵ値は同じ高周波成分でも輝度レベルに
よって振幅特性が異なるので、システム制御回路１０内
で例えばＣＵをＹで割算すれば、輝度に対して規格化で
きるので、コントラストに依存しない高周波成分を抽出
できる。このＣＵ／Ｙなる値を図３に示す任意の基準値
と比較する。比較した結果、ＣＵ／Ｙが基準値よりも小
さい場合は、測距枠が小さくて高周波成分が存在しない
と見なし、システム制御回路１０により一定あるいは任
意の割合で測距枠の面積を広めに設定し、再度、ＣＵ値
およびＹ値を算出し、同様の処理をＣＵ／Ｙの値が基準
値を超えるまで繰返す。
よって振幅特性が異なるので、システム制御回路１０内
で例えばＣＵをＹで割算すれば、輝度に対して規格化で
きるので、コントラストに依存しない高周波成分を抽出
できる。このＣＵ／Ｙなる値を図３に示す任意の基準値
と比較する。比較した結果、ＣＵ／Ｙが基準値よりも小
さい場合は、測距枠が小さくて高周波成分が存在しない
と見なし、システム制御回路１０により一定あるいは任
意の割合で測距枠の面積を広めに設定し、再度、ＣＵ値
およびＹ値を算出し、同様の処理をＣＵ／Ｙの値が基準
値を超えるまで繰返す。
【００２５】ＣＵ／Ｙの値が基準値を最初に超えたと
き、ＥＳ法によるピークが１種類だけ存在するＥＳ値の
特性が得られるので、このとき時刻Ｔ３で至近から無限
遠のレンズ位置までレンズユニット１をｋ段ステップも
しくは連続的に移動させる。とともに不要電荷の掃き捨
て，露光，信号電荷読み出しといった一連の動作、すな
わちＡＦ動作を行い、信号電荷読み出しにおける固体撮
像素子５の出力からぼけ量を算出することによって最も
ぼけ量の少ない位置、すなわち合焦レンズ位置（Ｐ）を
算出する。従来に比べてＡＦ動作前に測距枠を調整して
ＥＳ値のピーク特性が１種類になるようにするので、安
定かつ正確なＡＦ動作を行うことができる。さらに、測
距枠をカメラのビューファインダ内に表示すれば、合焦
させたい被写体に対してより正確なＡＦ動作が行える。
時刻Ｔ４から時刻Ｔ５の間に絞り値をＡｖに設定すると
同時にレンズユニット１を合焦レンズ位置（Ｐ）に設定
する。時刻Ｔ５から不要電荷を逆転送によりトップドレ
イン５０６に掃き捨てるクリア動作を行い、その後、本
露光を行う。次に、時刻Ｔ６から信号電荷の読み出しを
行うとともに磁気シート１６に処理信号を記録する。
き、ＥＳ法によるピークが１種類だけ存在するＥＳ値の
特性が得られるので、このとき時刻Ｔ３で至近から無限
遠のレンズ位置までレンズユニット１をｋ段ステップも
しくは連続的に移動させる。とともに不要電荷の掃き捨
て，露光，信号電荷読み出しといった一連の動作、すな
わちＡＦ動作を行い、信号電荷読み出しにおける固体撮
像素子５の出力からぼけ量を算出することによって最も
ぼけ量の少ない位置、すなわち合焦レンズ位置（Ｐ）を
算出する。従来に比べてＡＦ動作前に測距枠を調整して
ＥＳ値のピーク特性が１種類になるようにするので、安
定かつ正確なＡＦ動作を行うことができる。さらに、測
距枠をカメラのビューファインダ内に表示すれば、合焦
させたい被写体に対してより正確なＡＦ動作が行える。
時刻Ｔ４から時刻Ｔ５の間に絞り値をＡｖに設定すると
同時にレンズユニット１を合焦レンズ位置（Ｐ）に設定
する。時刻Ｔ５から不要電荷を逆転送によりトップドレ
イン５０６に掃き捨てるクリア動作を行い、その後、本
露光を行う。次に、時刻Ｔ６から信号電荷の読み出しを
行うとともに磁気シート１６に処理信号を記録する。
【００２６】次に、測距枠を広げるのではなく、測距枠
を移動することにより同様の効果を得る際の測距枠の移
動の仕方を図４を参照して説明する。
を移動することにより同様の効果を得る際の測距枠の移
動の仕方を図４を参照して説明する。
【００２７】初めに、測距枠１について、ＣＵ／Ｙを算
出し、その値が基準値以下の場合には、測距枠を２に移
動し同様のことを行う。以後、ＣＵ／Ｙの値が基準値以
上になるまで行い、基準値を超えたときの測距枠を用い
てＡＦ動作を行う。この場合は、測距枠の大きさが小さ
いのでＥＳ値の算出などに要する時間が少なくて済み、
高速なＡＦ動作を実現できる。
出し、その値が基準値以下の場合には、測距枠を２に移
動し同様のことを行う。以後、ＣＵ／Ｙの値が基準値以
上になるまで行い、基準値を超えたときの測距枠を用い
てＡＦ動作を行う。この場合は、測距枠の大きさが小さ
いのでＥＳ値の算出などに要する時間が少なくて済み、
高速なＡＦ動作を実現できる。
【００２８】本実施例では、撮影時に合焦レンズ位置
（Ｐ）にレンズユニット１を移動させる場合に、ＡＦ動
作終了地点から直接移動させているが、ＡＦ動作終了
後、一旦、ＡＦ動作開始地点に移動させＡＦ動作のとき
と同じ方向からＰ点に移動させてもよい。
（Ｐ）にレンズユニット１を移動させる場合に、ＡＦ動
作終了地点から直接移動させているが、ＡＦ動作終了
後、一旦、ＡＦ動作開始地点に移動させＡＦ動作のとき
と同じ方向からＰ点に移動させてもよい。
【００２９】ぼけ量検出のフィルタはＥＳフィルタに限
らず、例えば、ハイパスフィルタやバンドパスフィルタ
でもよい。
らず、例えば、ハイパスフィルタやバンドパスフィルタ
でもよい。
【００３０】また、高周波成分検出用のフィルタ１０１
もバンドパスフィルタでもよい。
もバンドパスフィルタでもよい。
【００３１】さらに、本実施例では、合焦検出手段をデ
ジタルフィルタで構成する例を説明したが、アナログで
行ってもよいことは言うまでもない。
ジタルフィルタで構成する例を説明したが、アナログで
行ってもよいことは言うまでもない。
【００３２】
【発明の効果】以上説明したように、本発明によれば、
上記のように構成したので、安定でかつ正確な合焦情報
を得ることができる。
上記のように構成したので、安定でかつ正確な合焦情報
を得ることができる。
【図１】本発明の一実施例を示すブロック図である。
【図２】一実施例に係る電子スチルカメラの動作シーク
エンスを説明するための図である。
エンスを説明するための図である。
【図３】合焦位置を求める際のレンズ位置とＣＵ値，Ｃ
Ｕ／Ｙ値，ＥＳ値の変化の一例を示す図である。
Ｕ／Ｙ値，ＥＳ値の変化の一例を示す図である。
【図４】測距枠の移動例を示す図である。
【図５】従来の自動焦点機能付電子スチルカメラを示す
ブロック図である。
ブロック図である。
【図６】図５図示インターライン転送型固体撮像素子５
の構成を示す図である。
の構成を示す図である。
【図７】従来の自動焦点機能付電子スチルカメラの動作
シークエンスを説明するための図である。
シークエンスを説明するための図である。
【図８】ＥＳ法を説明するための図である。
【図９】図５図示ＥＳフィルタ９の構成を示すブロック
図である。
図である。
【図１０】ＡＦ動作を行う際のレンズ位置とＥＳ値の変
化を示す図である。
化を示す図である。
【図１１】従来の合焦位置を求める際の測距枠を示す図
である。
である。
１ レンズユニット ２ レンズ駆動モータ ５ 固体撮像素子 ８ メモリ ９ ＥＳフィルタ １０ システム制御回路 １０１ ハイパスフィルタ １０２ 積分器
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (58)調査した分野(Int.Cl.7，ＤＢ名) H04N 5/222 - 5/257 G02B 7/28
Claims (2)
- 【請求項１】 画像の高周波成分に基づいて焦点調節動
作を行う焦点調節装置において、 画像の高周波成分の取り込み領域を設定する取り込み領
域設定手段と、 前記取り込み領域設定手段により設定される取り込み領
域から第１の周波数帯域の高周波成分を抽出する第１の
フィルタ手段と、 前記取り込み領域設定手段により設定される取り込み領
域から前記第１の周波数帯城より下限周波数の高い第２
の周波数帯域の高周波成分を抽出する第２のフィルタ手
段と、 前記領域設定手段により設定される取り込み領域の大き
さを前記第１のフィルタ手段により抽出される高周波成
分が所定の基準値を満たす大きさにする領域制御手段
と、 前記領域制御手段に決められた大きさの取り込み領域か
ら前記第２のフィルタ手段により高周波成分を抽出し、
該第２のフィルタ手段により抽出された高周波成分に基
づいて合焦位置を検出する合焦位置検出手段とを有する
ことを特徴とする焦点調節装置。 - 【請求項２】 画像の高周波成分に基づいて焦点調節動
作を行う焦点調節装置において、 画像の高周波成分の取り込み領域を設定する取り込み領
域設定手段と、 前記取り込み領域設定手段により設定される取り込み領
域から第１の周波数帯域の高周波成分を抽出する第１の
フィルタ手段と、 前記取り込み領域設定手段により設定される取り込み領
域から前記第１の周波数帯域より下限周波数の高い第２
の周波数帯域の高周波成分を抽出する第２のフィルタ手
段と、 前記領域設定手段により設定される取り込み領域の位置
を前記第１のフィルタ手段により抽出される高周波成分
が所定の基準値を満たす位置にする領域制御手段と、 前記領域制御手段に決められた位置の取り込み領域から
前記第２のフィルタ手段により高周波成分を抽出し、該
第２のフィルタ手段により抽出された高周波成分に基づ
いて合焦位置を検出する合焦位置検出手段とを有するこ
とを特徴とする焦点調節装置。
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| JP24349891A JP3209761B2 (ja) | 1991-09-24 | 1991-09-24 | 焦点調節装置 |
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