JP3329672B2 - 誘導電動機定数測定装置 - Google Patents
誘導電動機定数測定装置Info
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- JP3329672B2 JP3329672B2 JP33449596A JP33449596A JP3329672B2 JP 3329672 B2 JP3329672 B2 JP 3329672B2 JP 33449596 A JP33449596 A JP 33449596A JP 33449596 A JP33449596 A JP 33449596A JP 3329672 B2 JP3329672 B2 JP 3329672B2
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Description
【発明の詳細な説明】
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は、誘導電動機（以
下、誘導機と略す。）の電気定数の測定装置、特に二次
時定数を測定する装置に関するものである。
下、誘導機と略す。）の電気定数の測定装置、特に二次
時定数を測定する装置に関するものである。
【０００２】
【従来の技術】一般に，誘導機の速度，トルクなどを制
御する際には，誘導機の電気定数を知る必要がある。そ
こで，誘導機の電気定数を測定する誘導機定数測定装置
が必要となってくる。図５は一従来例を示すブロック図
である。図５において、１は単相試験手段、２は電流検
出器、３は電圧検出器、４は誘導機、５は抵抗演算器、
６はメモリである。以下、図５に従い動作を説明する。
御する際には，誘導機の電気定数を知る必要がある。そ
こで，誘導機の電気定数を測定する誘導機定数測定装置
が必要となってくる。図５は一従来例を示すブロック図
である。図５において、１は単相試験手段、２は電流検
出器、３は電圧検出器、４は誘導機、５は抵抗演算器、
６はメモリである。以下、図５に従い動作を説明する。
【０００３】単相試験手段１は、単相試験周波数指令値
ｆ１＊を入力し、誘導機４に電力を供給する。電流検出
器２は、誘導機４に流れる電流を検出し誘導機電流ｉを
出力する。電圧検出器３は、誘導機４の電圧を検出し誘
導機電圧ｖを出力する。抵抗演算器５は、電流検出器２
の出力ｉ、電圧検出器３の出力ｖを入力し、電流ｉと電
圧ｖの位相差と各々の大きさから一次抵抗Ｒ１と二次抵
抗Ｒ２の和（Ｒ１＋Ｒ２）を求め、メモリ６に予め記憶
設定してある一次抵抗値Ｒ１を差し引いて二次抵抗値Ｒ
２を得る。このように得られた二次抵抗値Ｒ２はメモリ
６に記憶設定される。以上より、誘導機の電気定数の一
つである二次抵抗値を得ることができ、メモリに記憶設
定することが出来る。また、予め記憶設定されている二
次抵抗以外の誘導機電気定数と合わせて、誘導機の速
度、トルクなどの制御に用いることが出来る。
ｆ１＊を入力し、誘導機４に電力を供給する。電流検出
器２は、誘導機４に流れる電流を検出し誘導機電流ｉを
出力する。電圧検出器３は、誘導機４の電圧を検出し誘
導機電圧ｖを出力する。抵抗演算器５は、電流検出器２
の出力ｉ、電圧検出器３の出力ｖを入力し、電流ｉと電
圧ｖの位相差と各々の大きさから一次抵抗Ｒ１と二次抵
抗Ｒ２の和（Ｒ１＋Ｒ２）を求め、メモリ６に予め記憶
設定してある一次抵抗値Ｒ１を差し引いて二次抵抗値Ｒ
２を得る。このように得られた二次抵抗値Ｒ２はメモリ
６に記憶設定される。以上より、誘導機の電気定数の一
つである二次抵抗値を得ることができ、メモリに記憶設
定することが出来る。また、予め記憶設定されている二
次抵抗以外の誘導機電気定数と合わせて、誘導機の速
度、トルクなどの制御に用いることが出来る。
【０００４】
【発明が解決しようとする課題】上記の単相試験による
二次抵抗計測は、表皮効果の影響の無い誘導機ならば、
単相試験周波数によって二次抵抗値は変化しないため有
効である。しかし、二重かご形誘導機のように、表皮効
果の影響により二次抵抗値が単相試験周波数により大幅
に変化する場合においては、問題点が生じる。以下に、
表皮効果の影響による問題点を列記する。
二次抵抗計測は、表皮効果の影響の無い誘導機ならば、
単相試験周波数によって二次抵抗値は変化しないため有
効である。しかし、二重かご形誘導機のように、表皮効
果の影響により二次抵抗値が単相試験周波数により大幅
に変化する場合においては、問題点が生じる。以下に、
表皮効果の影響による問題点を列記する。
【０００５】１．誘導機運転時には二次抵抗に流れる電
流周波数はすべり周波数相当であり、一般的には数Ｈｚ
である。しかし、単相試験の周波数を低くすると誘導機
が回転することがあり、単相試験周波数はそれ程低くで
きない。そのため、単相試験による二次抵抗の測定値と
運転時の二次抵抗値とは異なった値となり、種々の改良
が必要である。 ２．また、単相試験を数Ｈｚの周波数で行うと、誘導機
電圧が低くなり、電圧検出器の検出精度が悪くなる。以
上のような問題点により、正確な誘導機電気定数の計測
が行うことができない可能性があるので、高性能な誘導
機制御ができない可能性がある。本発明は上述した点に
鑑みて創案されたもので、その目的とするところは、こ
れらの欠点を解決する誘導電動機定数測定装置を提供す
ることにある。
流周波数はすべり周波数相当であり、一般的には数Ｈｚ
である。しかし、単相試験の周波数を低くすると誘導機
が回転することがあり、単相試験周波数はそれ程低くで
きない。そのため、単相試験による二次抵抗の測定値と
運転時の二次抵抗値とは異なった値となり、種々の改良
が必要である。 ２．また、単相試験を数Ｈｚの周波数で行うと、誘導機
電圧が低くなり、電圧検出器の検出精度が悪くなる。以
上のような問題点により、正確な誘導機電気定数の計測
が行うことができない可能性があるので、高性能な誘導
機制御ができない可能性がある。本発明は上述した点に
鑑みて創案されたもので、その目的とするところは、こ
れらの欠点を解決する誘導電動機定数測定装置を提供す
ることにある。
【０００６】
【課題を解決するための手段】つまり、その目的を達成
するための手段は、電流指令を出力する電流指令演算
器、前記電流指令を入力し電流制御を行い前記誘導電動
機に電力を供給する電流制御手段、前記誘導電動機の電
圧を検出または推定し誘導機電圧ｖを出力する電圧検出
器、前記誘導電動機の電流を検出し誘導機電流ｉを出力
する電流検出器で構成する。さらに、前記誘導機電圧ｖ
と前記誘導機電流ｉと予め与えられている一次抵抗Ｒ
１、一次自己インダクタンスＬ１、二次自己インダクタ
ンスＬ２、相互インダクタンスＭとを入力し二次磁束Ψ
２を出力する磁束演算器、前記二次磁束Ψ２と前記誘導
機電流ｉと前記相互インダクタンスＭとを入力し二次時
定数Ｔ２を出力する時定数演算器から構成する。
するための手段は、電流指令を出力する電流指令演算
器、前記電流指令を入力し電流制御を行い前記誘導電動
機に電力を供給する電流制御手段、前記誘導電動機の電
圧を検出または推定し誘導機電圧ｖを出力する電圧検出
器、前記誘導電動機の電流を検出し誘導機電流ｉを出力
する電流検出器で構成する。さらに、前記誘導機電圧ｖ
と前記誘導機電流ｉと予め与えられている一次抵抗Ｒ
１、一次自己インダクタンスＬ１、二次自己インダクタ
ンスＬ２、相互インダクタンスＭとを入力し二次磁束Ψ
２を出力する磁束演算器、前記二次磁束Ψ２と前記誘導
機電流ｉと前記相互インダクタンスＭとを入力し二次時
定数Ｔ２を出力する時定数演算器から構成する。
【０００７】前記電流指令演算器が出力する前記電流指
令を時刻ｔ０より変化させ、前記時定数演算器では時刻
ｔ０以降の二次時定数Ｔ２を（１）式で求める。
令を時刻ｔ０より変化させ、前記時定数演算器では時刻
ｔ０以降の二次時定数Ｔ２を（１）式で求める。
【０００８】
【数３】
【０００９】二次磁束Ψ２は、（２）式の二次磁束演算
式で求める。
式で求める。
【００１０】
【数４】
【００１１】また、前記二次磁束演算式の積分を１次遅
れで代用することができる。前記時定数演算器の出力と
しては、時刻ｔ０以降の任意の時点における二次時定
数、または時刻ｔ０以降の複数の時点における二次時定
数の平均値とする。このようにして求められた前記時定
数演算器の出力値は、すべり周波数相当の二次時定数の
値となる。さらに、誘導機の回転数を定格回転数位にし
て運転すれば、前記電圧検出器が検出または推定する誘
導機電圧ｖは定格電圧に近い値となり、電圧検出誤差も
小さくなる。さらに、前記電流指令を時刻ｔ０以降で
は、例えば時刻ｔ０以前の約１０％相当まで変化すれ
ば、前記時定数演算器が演算を行っているときの誘導機
電流は０ではないので、前記電圧検出器で検出または推
定した誘導機電圧のデッドタイムによる影響は少なくな
る。また、誘導機回転数が変動しても演算誤差は生じに
くいので、測定時に負荷があってもよい。
れで代用することができる。前記時定数演算器の出力と
しては、時刻ｔ０以降の任意の時点における二次時定
数、または時刻ｔ０以降の複数の時点における二次時定
数の平均値とする。このようにして求められた前記時定
数演算器の出力値は、すべり周波数相当の二次時定数の
値となる。さらに、誘導機の回転数を定格回転数位にし
て運転すれば、前記電圧検出器が検出または推定する誘
導機電圧ｖは定格電圧に近い値となり、電圧検出誤差も
小さくなる。さらに、前記電流指令を時刻ｔ０以降で
は、例えば時刻ｔ０以前の約１０％相当まで変化すれ
ば、前記時定数演算器が演算を行っているときの誘導機
電流は０ではないので、前記電圧検出器で検出または推
定した誘導機電圧のデッドタイムによる影響は少なくな
る。また、誘導機回転数が変動しても演算誤差は生じに
くいので、測定時に負荷があってもよい。
【００１２】誘導機制御に二次抵抗が必要ならば、前記
時定数演算器の出力と前記二次自己インダクタンスとを
入力し二次抵抗を出力する二次抵抗演算器を付加する。
上記手段に対しメモリを設け、前記時定数演算器の出力
と二次抵抗の少なくとも１つを前記メモリに記憶設定
し、誘導機制御で使用できるようにする。以下、本発明
の一実施例を図面に基づいて詳述する。
時定数演算器の出力と前記二次自己インダクタンスとを
入力し二次抵抗を出力する二次抵抗演算器を付加する。
上記手段に対しメモリを設け、前記時定数演算器の出力
と二次抵抗の少なくとも１つを前記メモリに記憶設定
し、誘導機制御で使用できるようにする。以下、本発明
の一実施例を図面に基づいて詳述する。
【００１３】
【発明の実施の形態】図１は本発明の一実施例を示すブ
ロック図である。図１において、７は電流指令演算器、
８は電流制御手段、２は電流検出器、３は電圧検出器、
４は３相誘導電動機（以下、誘導機と略す。）、９は磁
束演算器、１０は時定数演算器である。図２は本発明の
電流指令演算器７の一演算例を示す波形図である。以
下、図１、図２に従い本発明の一実施例を説明する。
ロック図である。図１において、７は電流指令演算器、
８は電流制御手段、２は電流検出器、３は電圧検出器、
４は３相誘導電動機（以下、誘導機と略す。）、９は磁
束演算器、１０は時定数演算器である。図２は本発明の
電流指令演算器７の一演算例を示す波形図である。以
下、図１、図２に従い本発明の一実施例を説明する。
【００１４】電流指令演算器７では図２に示す３相電流
指令（以下、電流指令と略す。）ｉ＊を出力する。すな
わち、時刻ｔ０以降の電流指令ｉ＊を時刻ｔ０以前の１
０％程度の３相交流指令にステップ状に変える。電流制
御手段８は、電流指令ｉ＊を入力し電流制御を行い、電
流指令ｉ＊に相当する電流を誘導機４に流すように誘導
機４に電力を供給する。なお、誘導機４は時刻ｔ０以前
では定格回転数付近で回転させておく。電流検出器２は
誘導機電流ｉを検出する。電圧検出器３は誘導機電圧ｖ
を検出または推定する。磁束演算器９は、誘導機電流ｉ
と誘導機電圧ｖと誘導機電気定数の一部である一次抵抗
Ｒ１、一次自己インダクタンスＬ１、二次自己インダク
タンスＬ２、相互インダクタンスＭを入力し、（３）式
の二次磁束演算式に従い二次磁束Ψ２を演算する。
指令（以下、電流指令と略す。）ｉ＊を出力する。すな
わち、時刻ｔ０以降の電流指令ｉ＊を時刻ｔ０以前の１
０％程度の３相交流指令にステップ状に変える。電流制
御手段８は、電流指令ｉ＊を入力し電流制御を行い、電
流指令ｉ＊に相当する電流を誘導機４に流すように誘導
機４に電力を供給する。なお、誘導機４は時刻ｔ０以前
では定格回転数付近で回転させておく。電流検出器２は
誘導機電流ｉを検出する。電圧検出器３は誘導機電圧ｖ
を検出または推定する。磁束演算器９は、誘導機電流ｉ
と誘導機電圧ｖと誘導機電気定数の一部である一次抵抗
Ｒ１、一次自己インダクタンスＬ１、二次自己インダク
タンスＬ２、相互インダクタンスＭを入力し、（３）式
の二次磁束演算式に従い二次磁束Ψ２を演算する。
【００１５】
【数５】
【００１６】ここで、一次抵抗Ｒ１、一次自己インダク
タンスＬ１、二次自己インダクタンスＬ２、相互インダ
クタンスＭは、予め測定または設定しておく。ここで、
（３）式の積分を１次遅れで代用してもよい。時定数演
算器１０は、時刻ｔ０以降に、二次磁束Ψ２と電動機電
流ｉと相互インダクタンスＭを入力し、次に示す（４）
式に従い二次時定数Ｔ２を演算する。
タンスＬ１、二次自己インダクタンスＬ２、相互インダ
クタンスＭは、予め測定または設定しておく。ここで、
（３）式の積分を１次遅れで代用してもよい。時定数演
算器１０は、時刻ｔ０以降に、二次磁束Ψ２と電動機電
流ｉと相互インダクタンスＭを入力し、次に示す（４）
式に従い二次時定数Ｔ２を演算する。
【００１７】
【数６】
【００１８】（４）式で求めたＴ２を時定数演算器１０
の出力とする。時刻ｔ０以降の二次磁束Ψ２が過渡状態
であれば、（４）式を用いて任意の時点での二次時定数
Ｔ２を求められる。ここで、時刻ｔ０以降の任意の複数
（例えば、ｎ個）の時点ｔ１、ｔ２、・・・・、ｔｎでの各
々の二次時定数Ｔ２１、Ｔ２２、・・・・、Ｔ２ｎを（４）
式を用いて演算し、次に示す（５）式で求めた平均値を
Ｔ２として時定数演算器１０の出力としてもよい。
の出力とする。時刻ｔ０以降の二次磁束Ψ２が過渡状態
であれば、（４）式を用いて任意の時点での二次時定数
Ｔ２を求められる。ここで、時刻ｔ０以降の任意の複数
（例えば、ｎ個）の時点ｔ１、ｔ２、・・・・、ｔｎでの各
々の二次時定数Ｔ２１、Ｔ２２、・・・・、Ｔ２ｎを（４）
式を用いて演算し、次に示す（５）式で求めた平均値を
Ｔ２として時定数演算器１０の出力としてもよい。
【００１９】
【数７】
【００２０】また、（３）式を用いて電流制御周期毎に
二次時定数を演算し、演算結果にフィルタをかけた値を
（４）式と同等の平均値として時定数演算器１０の出力
としてもよい。電流指令ｉ＊の与えかたの一例として図
２を示したが、時刻ｔ０以降の二次磁束Ψ２が過渡状態
であれば、（３）式を用いて任意の時点での二次時定数
Ｔ２を求められるので、（３）式の分母が０にならなけ
れば、電流指令ｉ＊を図２の如くステップ状に変える必
要はない。
二次時定数を演算し、演算結果にフィルタをかけた値を
（４）式と同等の平均値として時定数演算器１０の出力
としてもよい。電流指令ｉ＊の与えかたの一例として図
２を示したが、時刻ｔ０以降の二次磁束Ψ２が過渡状態
であれば、（３）式を用いて任意の時点での二次時定数
Ｔ２を求められるので、（３）式の分母が０にならなけ
れば、電流指令ｉ＊を図２の如くステップ状に変える必
要はない。
【００２１】図１、図２の一実施例による効果を以下に
示す。 １．時刻ｔ０以降、二次磁束Ψ２が定常状態になるまで
二次側には直流電流が流れるので、時定数演算器１０の
出力はすべり周波数相当時の二次時定数Ｔ２となる。 ２．誘導機４が定格回転数付近で回転しているので、誘
導機にかかる電圧は定格電圧付近となり、電圧検出器３
により検出または推定される誘導機電圧ｖの誤差が少な
い。 ３．二次時定数Ｔ２演算時の誘導機電流ｉが０ではない
ので、電圧検出器３で検出または推定される誘導機電圧
ｖのデッドタイムよる影響が少ない。 ４．誘導機４の回転数が変動しても二次時定数Ｔ２の演
算誤差は生じにくいので、誘導機４は有負荷であっても
よい。
示す。 １．時刻ｔ０以降、二次磁束Ψ２が定常状態になるまで
二次側には直流電流が流れるので、時定数演算器１０の
出力はすべり周波数相当時の二次時定数Ｔ２となる。 ２．誘導機４が定格回転数付近で回転しているので、誘
導機にかかる電圧は定格電圧付近となり、電圧検出器３
により検出または推定される誘導機電圧ｖの誤差が少な
い。 ３．二次時定数Ｔ２演算時の誘導機電流ｉが０ではない
ので、電圧検出器３で検出または推定される誘導機電圧
ｖのデッドタイムよる影響が少ない。 ４．誘導機４の回転数が変動しても二次時定数Ｔ２の演
算誤差は生じにくいので、誘導機４は有負荷であっても
よい。
【００２２】以上のように求められた二次時定数Ｔ２か
ら二次抵抗Ｒ２を求めるための一実施例ブロック図が図
３である。１３０は図１、図２による誘導機定数測定装
置（以下、第１定数測定器と呼ぶ。）、１１は二次抵抗
演算器である。二次抵抗演算器１１は、第１定数測定器
１３０の出力である二次時定数Ｔ２と二次自己インダク
タンスＬ２から二次抵抗Ｒ２を（６）式より演算し、二
次抵抗Ｒ２を出力する。
ら二次抵抗Ｒ２を求めるための一実施例ブロック図が図
３である。１３０は図１、図２による誘導機定数測定装
置（以下、第１定数測定器と呼ぶ。）、１１は二次抵抗
演算器である。二次抵抗演算器１１は、第１定数測定器
１３０の出力である二次時定数Ｔ２と二次自己インダク
タンスＬ２から二次抵抗Ｒ２を（６）式より演算し、二
次抵抗Ｒ２を出力する。
【００２３】
【数８】
【００２４】図４は本発明の一応用例である。１３１は
第１定数測定器または図３による誘導機定数測定装置
（以下、第２定数測定器と呼ぶ。）を示す。また、６は
メモリ、１２は誘導機制御手段、１４は選択器、４は誘
導機である。以下、図４に従い本発明の一応用例を説明
する。
第１定数測定器または図３による誘導機定数測定装置
（以下、第２定数測定器と呼ぶ。）を示す。また、６は
メモリ、１２は誘導機制御手段、１４は選択器、４は誘
導機である。以下、図４に従い本発明の一応用例を説明
する。
【００２５】第２定数測定器１３１は、二次時定数Ｔ２
または二次抵抗Ｒ２を出力する。さらに、第２定数測定
器１３１内にある電流制御手段８により誘導機４に電力
を供給し誘導機４を電流制御できる。メモリ６は、第２
定数測定器１３１での演算に必要な定数を第２定数測定
器１３１に与えたり、第２定数測定器１３１の出力であ
る二次時定数Ｔ２または二次抵抗Ｒ２を記憶設定する。
また、メモリ６は誘導機制御手段１２での演算に必要な
定数を誘導機制御手段１２に与える。誘導機制御手段１
２は、誘導機４制御のための演算を行い、誘導機４に電
力を供給し誘導機４を制御できる。選択器１４は、誘導
機４に第２定数測定器１３１を接続するか、誘導機制御
手段１２を接続するか選択する。
または二次抵抗Ｒ２を出力する。さらに、第２定数測定
器１３１内にある電流制御手段８により誘導機４に電力
を供給し誘導機４を電流制御できる。メモリ６は、第２
定数測定器１３１での演算に必要な定数を第２定数測定
器１３１に与えたり、第２定数測定器１３１の出力であ
る二次時定数Ｔ２または二次抵抗Ｒ２を記憶設定する。
また、メモリ６は誘導機制御手段１２での演算に必要な
定数を誘導機制御手段１２に与える。誘導機制御手段１
２は、誘導機４制御のための演算を行い、誘導機４に電
力を供給し誘導機４を制御できる。選択器１４は、誘導
機４に第２定数測定器１３１を接続するか、誘導機制御
手段１２を接続するか選択する。
【００２６】まず最初に、選択器１４が第２定数測定器
１３１を選択し、二次時定数Ｔ２、二次抵抗Ｒ２の計測
を行い、計測結果の二次時定数Ｔ２、二次抵抗Ｒ２をメ
モリ６に記憶設定する。次に、選択器１４が誘導機制御
手段１２を選択し、メモリ６に記憶設定されている誘導
機４電気定数を用いて誘導機４制御演算を行い、誘導機
４を制御する。これらの手順により、誘導機４の高性能
運転が可能となる。
１３１を選択し、二次時定数Ｔ２、二次抵抗Ｒ２の計測
を行い、計測結果の二次時定数Ｔ２、二次抵抗Ｒ２をメ
モリ６に記憶設定する。次に、選択器１４が誘導機制御
手段１２を選択し、メモリ６に記憶設定されている誘導
機４電気定数を用いて誘導機４制御演算を行い、誘導機
４を制御する。これらの手順により、誘導機４の高性能
運転が可能となる。
【００２７】
【発明の効果】以上説明したように本発明によれば、二
次回路には直流電流が流れるので、誘導機通常運転時に
近い二次時定数、二次抵抗の値を測定することができ
る。また、誘導機が定格回転数付近で回転しているとき
の電圧を検出または推定するので、電圧検出器による誤
差が少ない。また、時刻ｔ０以降の電流指令を零にしな
いことにより、デッドタイムの影響の少ない演算が可能
となる。また、誘導機回転数変動による演算誤差は生じ
にくいので、誘導機の負荷状態は無負荷であっても有負
荷であってもよい。さらに、正確な誘導機電気定数の計
測ができるので、誘導機制御を高性能に行うことができ
る。
次回路には直流電流が流れるので、誘導機通常運転時に
近い二次時定数、二次抵抗の値を測定することができ
る。また、誘導機が定格回転数付近で回転しているとき
の電圧を検出または推定するので、電圧検出器による誤
差が少ない。また、時刻ｔ０以降の電流指令を零にしな
いことにより、デッドタイムの影響の少ない演算が可能
となる。また、誘導機回転数変動による演算誤差は生じ
にくいので、誘導機の負荷状態は無負荷であっても有負
荷であってもよい。さらに、正確な誘導機電気定数の計
測ができるので、誘導機制御を高性能に行うことができ
る。
【図１】図１は本発明の一実施例を示すブロック図であ
る。
る。
【図２】図２は本発明の電流指令演算器の一演算例を示
す波形図である。
す波形図である。
【図３】図３は本発明の一実施例を示すブロック図であ
る。
る。
【図４】図４は本発明の装置の一応用例を示すブロック
図である。
図である。
【図５】図５は一従来例を示すブロック図である。
１ 単相試験手段 ２ 電流検出器 ３ 電圧検出器 ４ 誘導電動機 ５ 抵抗演算器 ６ メモリ ７ 電流指令演算器 ８ 電流制御手段 ９ 磁束演算器 １０ 時定数演算器 １１ 二次抵抗演算器 １２ 誘導機制御手段 １３０ 第１定数測定器 １３１ 第２定数測定器 １４ 選択器 ｆ１＊ 単相試験周波数指令 ｉ＊ 電流指令 ｖ 誘導機電圧 ｉ 誘導機電流 Ψ２ 二次磁束 Ｔ２ 時定数演算器の出力値 ｔ０ 電流指令が変化し始める時刻 Ｒ１ 一次抵抗 Ｒ２ 二次抵抗 Ｍ 相互インダクタンス Ｌ１ 一次自己インダクタンス Ｌ２ 二次自己インダクタンス
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (56)参考文献 特開 昭59−53091（ＪＰ，Ａ) 特開 平２−106190（ＪＰ，Ａ) 特開 平２−262891（ＪＰ，Ａ) 特開 平８−33194（ＪＰ，Ａ) (58)調査した分野(Int.Cl.7，ＤＢ名) H02P 5/408 - 5/412 H02P 7/628 - 7/632 H02P 21/00 G01R 31/327 - 31/36
Claims (1)
- 【請求項１】 誘導電動機の高性能運転を行うに当たり
必要とされる電動機定数を測定する誘導電動機定数測定
装置において、任意の時刻ｔ０以降より大きさが変化す
る電流指令を出力する電流指令演算器、前記電流指令を
入力し電流制御を行い前記誘導電動機に電力を供給する
電流制御手段、前記誘導電動機の電圧を検出または推定
し誘導機電圧ｖを出力する電圧検出器、前記誘導電動機
の電流を検出し誘導機電流ｉを出力する電流検出器、前
記誘導機電圧ｖと前記誘導機電流ｉとから二次磁束ψ２
を出力する磁束演算器、前記誘導電動機の相互インダク
タンスＭと前記誘導機電流ｉと前記二次磁束ψ２とから
時刻ｔ０以降の前記誘導電動機の二次時定数Ｔ２を次式【数１】
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP33449596A JP3329672B2 (ja) | 1996-11-29 | 1996-11-29 | 誘導電動機定数測定装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP33449596A JP3329672B2 (ja) | 1996-11-29 | 1996-11-29 | 誘導電動機定数測定装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
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| JPH10164891A JPH10164891A (ja) | 1998-06-19 |
| JP3329672B2 true JP3329672B2 (ja) | 2002-09-30 |
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ID=18278048
Family Applications (1)
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| JP33449596A Expired - Fee Related JP3329672B2 (ja) | 1996-11-29 | 1996-11-29 | 誘導電動機定数測定装置 |
Country Status (1)
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| JP (1) | JP3329672B2 (ja) |
Families Citing this family (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
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-
1996
- 1996-11-29 JP JP33449596A patent/JP3329672B2/ja not_active Expired - Fee Related
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| JPH10164891A (ja) | 1998-06-19 |
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