JP3455577B2 - Ｘ線ｃｔ装置 - Google Patents

Ｘ線ｃｔ装置

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JP3455577B2
JP3455577B2 JP07056194A JP7056194A JP3455577B2 JP 3455577 B2 JP3455577 B2 JP 3455577B2 JP 07056194 A JP07056194 A JP 07056194A JP 7056194 A JP7056194 A JP 7056194A JP 3455577 B2 JP3455577 B2 JP 3455577B2
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ray
scan
rays
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泰男 斉藤
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    • A61B—DIAGNOSIS; SURGERY; IDENTIFICATION
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    • A61B6/02—Arrangements for diagnosis sequentially in different planes; Stereoscopic radiation diagnosis
    • A61B6/03—Computed tomography [CT]
    • A61B6/032—Transmission computed tomography [CT]
    • Y—GENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
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    • Y10S—TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
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  • Apparatus For Radiation Diagnosis (AREA)

Description

【発明の詳細な説明】
【０００１】
【産業上の利用分野】この発明は、Ｘ線を被写体に照射
し、この被写体を透過したＸ線を検出し、この透過Ｘ線
の検出情報を処理するＸ線ＣＴ(computed tomography)
装置に関する。
【０００２】
【従来の技術】Ｘ線ＣＴの画像ノイズは、ＤＡＳ( デー
タ収集システム )等の検出信号を処理する回路系のノイ
ズ( Ｎｃ )と、放射線検出器で吸収されたＸ線フォトン
の数(ｎ )の平方根に支配されるフォトンノイズ( Ｎｐ
)とに依存する。
【０００３】すなわち、Ｘ線ＣＴの画像ノイズは、基本
的に上述した回路系のノイズ( Ｎｃ)とフォトンノイズ
( Ｎｐ )とから、次式によって得られる総合ノイズ( Ｎ
ｔ )に依存する。
【０００４】
【数１】
【０００５】それぞれのノイズを信号の大きさ( Ｓ )で
割った値( Ｎｃ／Ｓ，Ｎｐ／Ｓ )で考えると、前記回路
系のノイズ( Ｎｃ )は、被写体に照射するＸ線の線量に
依存しないので、( Ｎｃ／Ｓ )は、信号の大きさ( Ｓ )
に反比例する。しかし、ＮｐはＸ線フォトンの数( ｎ )
の平方根に比例するので、( Ｎｐ／Ｓ )は、Ｘ線フォト
ンの数( ｎ )の平方根に反比例することになる。つま
り、Ｘ線フォトンの数(ｎ )が大きくなれば、フォトン
ノイズ( Ｎｐ )も大きくなると共に、信号の大きさ( Ｓ
)も大きくなる。
【０００６】大きな被写体、薄いスライス厚、低い管電
流( Ｘ線を発生させるＸ線管に通電する電流量 )等の低
線量のスキャン条件では、Ｘ線フォトンの数( ｎ )が小
さくなり、信号の大きさ( Ｓ )が小さくなるため、フォ
トンノイズ( Ｎｐ )が小さくなり、一方回路系のノイズ
( Ｎｃ )は大きくなる。すなわち、総合ノイズ( Ｎｔ)
においては回路系のノイズ( Ｎｃ )が支配的になる。
【０００７】また、小さな被写体、厚いスライス厚、高
い管電流などの大線量のスキャン条件では、Ｘ線フォト
ンの数( ｎ )が大きくなり、信号の大きさ( Ｓ )が大き
くなるため、フォトンノイズは大きくなり、一方回路系
のノイズ( Ｎｃ )が小さくなる。すなわち、総合ノイズ
( Ｎｔ )においてはフォトンノイズ( Ｎｐ )が支配的に
なる。
【０００８】
【発明が解決しようとする課題】回路のノイズを低減す
る方法としては、最近オーバーサンプリング法が提案さ
れているが、これを医療用Ｘ線ＣＴ装置で使用すると、
回路系のノイズ( Ｎｃ )は低減するが、実積分時間が減
少することによりＸ線利用率が低下し、フォトンノイズ
の増大を招くという問題があった。
【０００９】被写体が人体である医療用Ｘ線ＣＴ装置で
は、被写体への被曝を考慮して、使用できるＸ線の線量
に限度がある。一方、検出器の高感度化はＳ／Ｎ比的に
は改善するが、限られたダイナミックレンジの範囲で、
大線量のスキャン条件下では、オーバーフローが発生す
るという問題があった。
【００１０】そこでこの発明は、回路系のノイズ及びフ
ォトンノイズの有効な低減を図ることができるＸ線ＣＴ
装置を提供することを目的とする。また、各種スキャン
条件下で有効な高感度化を実現でき、しかもオーバーフ
ローを防止することができるＸ線ＣＴ装置を提供するこ
とを目的とする。
【００１１】
【課題を解決するための手段】請求項１対応の発明は、
複数種のスキャン条件に基づいて被検体をＸ線にてスキ
ャンし、当該被検体を透過した透過Ｘ線に基づいて断層
像を生成するＸ線ＣＴ装置において、前記Ｘ線を曝射す
るＸ線管を有するＸ線発生手段と、前記透過Ｘ線を検出
し電気信号に変換する検出手段と、前記検出手段により
得られた電気信号をサンプリングするデータ収集回路
と、前記複数種のスキャン条件の組み合わせに基づい
て、前記データ収集回路の前記サンプリングの回数を制
御するサンプリング回数制御手段と、を具備するもので
ある。請求項４対応の発明は、被検体をＸ線にてスキャ
ンし、当該被検体を透過した透過Ｘ線に基づいて断層像
を生成するＸ線ＣＴ装置において、前記Ｘ線を曝射する
Ｘ線管を有するＸ線発生手段と、前記透過Ｘ線を検出し
電気信号に変換する複数のＸ線検出素子を配列して構成
された検出手段と、前記検出手段により得られた電気信
号をサンプリングするデータ収集回路と、過去の収集デ
ータに基づいて、前記データ収集回路の前記サンプリン
グの回数を制御するサンプリング回数制御手段と、を具
備するものである。請求項７対応の発明は、複数種のス
キャン条件に基づいて被検体をＸ線にてスキャンし、当
該被検体を透過した透過Ｘ線に基づいて断層像を生成す
るＸ線ＣＴ装置において、前記Ｘ線を曝射するＸ線管を
有するＸ線発生手段と、前記透過Ｘ線を検出し電気信号
に変換する検出手段と、前記検出手段により得られた電
気信号を積分するデータ収集回路と、前記複数種のスキ
ャン条件の組み合わせに基づいて、前記データ収集回路
の前記積分の回数を制御する積分回数制御手段と、を具
備するものである。請求項１０対応の発明は、被検体を
Ｘ線にてスキャンし、当該被検体を透過した透過Ｘ線に
基づいて断層像を生成するＸ線ＣＴ装置において、前記
Ｘ線を曝射するＸ線管を有するＸ線発生手段と、前記透
過Ｘ線を検出し電気信号に変換する複数のＸ線検出素子
を配列して構成された検出手段と、前記検出手段により
得られた電気信号を積分するデータ収集回路と、過去の
収集データに基づいて、前記データ収集回路の前記積分
の回数を制御する積分回数制御手段と、を具備するもの
である。請求項１３対応の発明は、複数種のスキャン条
件に基づいて被検体をＸ線にてスキャンし、当該被検体
を透過した透過Ｘ線に基づいて断層像を生成するＸ線Ｃ
Ｔ装置において、前記Ｘ線を曝射するＸ線管を有するＸ
線発生手段と、前記透過Ｘ線を検出し電気信号に変換す
る検出手段と、前記検出手段により得られた電気信号を
サンプリングする又は積分するデータ収集回路と、前記
複数種のスキャン条件の組み合わせに基づいて、前記デ
ータ収集回路の前記サンプリングの回数又は積分回数を
制御する回数制御手段と、を具備するものである。
【００１２】
【００１３】
【００１４】
【００１５】
【００１６】
【００１７】
【００１８】
【００１９】
【００２０】
【００２１】
【００２２】
【００２３】
【００２４】
【作用】請求項１対応の発明においては、被写体を透過
したＸ線は、検出手段により電気信号に変換される。サ
ンプリング回数制御手段は、複数種のスキャン条件の組
み合わせに基づいて、データ収集回路のサンプリングの
回数を制御し、データ収集回路は、変換された電気信号
を当該サンプリングの回数にてサンプリングする。従っ
て、サンプリング回数制御手段により、データ収集回路
のサンプリング回数を適切に制御すれば、回路系のノイ
ズが適切に低減され、Ｘ線利用率の低下が抑えられ、フ
ォトンノイズの増大も抑えられる。請求項４対応の発明
においては、被写体を透過したＸ線は、検出手段により
電気信号に変換される。サンプリング回数制御手段は、
過去の収集データに基づいて、データ収集回路のサンプ
リングの回数を制御し、データ収集回路は、変換された
電気信号を当該サンプリングの回数にてサンプリングす
る。従って、サンプリング回数制御手段により、例えば
過去の収集データのレベルが低いならば、低線量を使用
した場合と同様に、フォトンノイズは小さく、回路系の
ノイズが大きくて総合ノイズにおいて支配的となってい
るので、サンプリング回数を大きくすることにより、回
路系のノイズが大幅に低減される。すなわち、総合ノイ
ズが大幅に低減される。また、過去の収集データのレベ
ルが高いならば、大線量を使用した場合と同様に、回路
系のノイズは小さく、フォトンノイズが大きくて総合ノ
イズにおいて支配的となっているので、サンプリング回
数を小さくすることにより、サンプリングによるフォト
ンノイズの増大が抑えられる。請求項７対応の発明にお
いては、被写体を透過したＸ線は、検出手段により電気
信号に変換される。積分回数制御手段は、複数種のスキ
ャン条件の組み合わせに基づいて、データ収集回路の積
分の回数を制御し、データ収集回路は、変換された電気
信号を当該積分の回数にて積分する。従って、積分回数
制御手段により、データ収集回路の積分の回数を適切に
制御すれば、適切な高感度が得られ、大線量のスキャン
条件下でも積分によりゲインを下げてやれば、オーバー
フローが発生しない。請求項１０対応の発明において
は、被写体を透過したＸ線は、検出手段により電気信号
に変換される。積分回数制御手段は、過去の収集データ
に基づいて、データ収集回路の積分の回数を制御し、デ
ータ収集回路は、変換された電気信号を当該積分の回数
にて積分する。従って、積分回数制御手段により、例え
ば過去の収集データのレベルが低いならば、低線量を使
用した場合と判断して、オーバーフローが発生する可能
性が低いので、積分の回数を小さくすることにより、ゲ
インを高くして、収集データを高感度に得る。また、過
去の収集データのレベルが高いならば、大線量を使用し
た場合と判断して、オーバーフローが発生する可能性が
高いので、積分の回数を大きくすることにより、ゲイン
を低くして、オーバーフローが発生し難くなる。請求項
１３対応の発明においては、被写体を透過したＸ線は、
検出手段により電気信号に変換される。積分回数制御手
段は、複数種のスキャン条件の組み合わせに基づいて、
データ収集回路のサンプリングの回数又は積分の回数を
制御し、データ収集回路は、変換された電気信号を、当
該サンプリングの回数にてサンプリングし、又は当該又
は積分の回数にて積分する。従って、回数制御手段によ
り、データ収集回路のサンプリング回数を適切に制御す
れば、回路系のノイズが適切に低減され、Ｘ線利用率の
低下が抑えられ、フォトンノイズの増大も抑えられる。
また、積分の回数を適切に制御すれば、適切な高感度が
得られ、大線量のスキャン条件下でも積分によりゲイン
を下げてやれば、オーバーフローが発生しない。
【００２５】
【００２６】
【００２７】
【００２８】
【００２９】
【００３０】
【００３１】
【００３２】
【００３３】
【００３４】
【００３５】
【００３６】
【００３７】
【００３８】
【００３９】
【００４０】
【００４１】
【００４２】
【００４３】
【００４４】
【００４５】
【００４６】
【００４７】
【００４８】
【実施例】以下、この発明の第１実施例を図１を参照し
て説明する。図１は、この発明を適用したＸ線ＣＴ(com
puted tomography) 装置の概略の構成を示すブロック図
である。
【００４９】１は、Ｘ線を発生させるＸ線管球である。
このＸ線管球１は、Ｘ線発生制御部２により通電制御に
よりＸ線を発生させる。前記Ｘ線管球１は、機構制御部
３により、図示しないが、被写体( 人体 )から所定距離
だけおいて配置され、この距離を保ちながら、前記被写
体を中心にして、所定の角度間隔で回動移動するように
なっている。この角度が照射角度( 投影角度 )となる。
【００５０】前記Ｘ線管球１により発生したＸ線は、前
記機構制御部３によりこのＸ線管球１と共に回動移動す
ると共に機構制御されるスリット・ウェッジ４を介し
て、被写体に照射される。この被写体を透過したＸ線
は、検出手段としての検出器( 例えばシンチレーション
検出器 )５により検出される。
【００５１】前記Ｘ線管球１、前記Ｘ線発生制御部２、
前記機構制御部３及びスリット・ウェッジ４は、Ｘ線照
射手段を構成している。前記検出器５は、Ｘ線を電気信
号に変換する複数のＸ線電気変換素子を前記Ｘ線管球１
の回動移動方向に１列に配列して構成されており、前記
機構制御部３により、前記Ｘ線管球１の回動移動に応じ
て、常に被写体を介して前記Ｘ線管球１と対向配置され
るように回動移動するようになっている。
【００５２】この検出器５の各Ｘ線電圧変換素子から出
力された電気信号は、ＤＡＳ( データ収集回路又はデー
タ収集システム )６に入力され、収集データとして処理
される。
【００５３】このＤＡＳ６には、収集データをオーバー
サンプリングするオーバーサンプリング回路７が搭載さ
れており、回路で発生するノイズを低下させることがで
きる。
【００５４】このＤＡＳ６により処理された収集データ
は、データ処理装置８に転送され、このデータ処理装置
８において、Ｘ線断面画像として、例えばＣＲＴ( cath
oderay tube、図示せず )等に表示するようになってい
る。
【００５５】スキャン制御部９は、スキャン制御手段と
して、オペレータが設定するスキャン条件( データ線
量、サイズ、スライス厚、管電流、管電圧 )に応じて、
前記Ｘ線発生制御器２及び前記機構制御部３へスキャン
条件に基づいて制御するためのスキャン条件信号を出力
し、前記ＤＡＳ６へデータを収集するためのパラメータ
を指定する収集パラメータ信号を出力するようになって
いる。この収集パラメータ信号には、前記オーバーサン
プリング回路７のオーバーサンプリング回数を指定する
パラメータも含まれている。
【００５６】従って、前記Ｘ線発生制御器２は、スキャ
ン条件信号により設定されたスキャン条件に基づいて、
前記Ｘ線管球１への通電を制御し、前記機構制御部３
は、スキャン条件信号により設定されたスキャン条件に
基づいて、前記Ｘ線管球１、前記スリット・ウェッジ４
及び前記検出器５を回動移動させ、前記スリット・ウェ
ッジ４を機構制御する。そして、前記ＤＡＳ６は、収集
パラメータ信号により指定されたオーバーサンプリング
回数を、前記オーバーサンプリング回路７に設定して、
前記検出器５からの電気信号を前記オーバーサンプリン
グ回路７を使用して処理し、収集データを得る。
【００５７】前記スキャン制御部９は、サンプリング回
数制御手段として、表１に示すように、各スキャン条件
( データ線量、サイズ、スライス厚、管電流、管電圧 )
の大小に応じて、それぞれオーバーサンプリング回数の
大小が設定されており、全てのスキャン条件について総
合評価して最終的なオーバーサンプリング回数を決定す
る。
【００５８】このオーバーサンプリング回数の決定は、
各スキャン毎に行われて、各スキャン毎に出力される収
集パラメータ信号の１つのパラメータとして、オーバー
サンプリング回数が含まれる。
【００５９】
【表１】
【００６０】このような構成の本実施例においては、オ
ペレータがスキャン条件をスキャン制御部９に設定する
と、この設定されたスキャン条件に基づいて、スキャン
制御部９から、Ｘ線発生制御器２及び機構制御部３へス
キャン条件信号が出力され、各スキャン毎に、ＤＡＳ６
へ、表１に示したスキャン条件に対するオーバーサンプ
リング回数の表に基づいて決定されたオーバーサンプリ
ング回数が１つのパラメータとして含まれる収集パラメ
ータ信号が出力される。
【００６１】Ｘ線発生制御器２は、スキャン条件信号に
基づいて、Ｘ線管球１を通電制御し、Ｘ線管球１はＸ線
を発生させる。機構制御部３は、スキャン条件信号に基
づいて、Ｘ線管球１、スリット・ウェッジ４及び検出器
５を所定角度ずつ回動移動させると共にスリット・ウェ
ッジ４を機構制御する。
【００６２】Ｘ線管球１から発生したＸ線は、スリット
・ウェッジ４を介してスキャン条件に基づいて、被写体
としての人体の所定部位に照射され、この人体の所定部
位を透過したＸ線が検出器５により検出される。
【００６３】この検出器５から、所定角度ずつの回動移
動毎に、検出して変換した電気信号がＤＡＳ６に出力さ
れ、ＤＡＳ６はスキャン毎に入力される収集パラメータ
信号によりオーバーサンプリング回路７のオーバーサン
プリング回数を決定し、入力した電気信号をこのオーバ
ーサンプリング回路７を使用して収集データに変換す
る。
【００６４】この変換した収集データはデータ処理装置
８に転送され、このデータ処理装置８で、収集データは
処理されて、人体の所定部位のＸ線断面画像としてＣＲ
Ｔ等に表示される。
【００６５】従って、例えば、スキャン条件においてデ
ータ線量が大きい場合には、オーバーサンプリング回数
が小さくなり、回路系のノイズの削減よりＸ線利用効率
が優先される。すなわち、データ線量が大きい場合に
は、回路系のノイズは小さく、フォトンノイズが総合ノ
イズにおいて支配的となるので、上述したようにオーバ
ーサンプリング回数を小さくすることにより、回路系の
ノイズの削減よりＸ線利用効率を優先することが、回路
系のノイズ及びフォトンノイズの有効な低減を図ること
になる。
【００６６】また、スキャン条件において、データ線量
が小さい場合には、オーバーサンプリング回数が大きく
なり、Ｘ線利用効率より回路系のノイズを削減を優先す
る。すなわち、データ線量が小さい場合には、フォトン
ノイズが小さく、回路系のノイズが総合ノイズにおいて
支配的となるので、上述したようにオーバーサンプリン
グ回数を大きくすることにより、回路系のノイズが大幅
に低減される。従って、総合ノイズが大幅に低減され、
回路系のノイズ及びフォトンノイズの有効な低減を図る
ことになる。
【００６７】以上のことは、他のサイズ、スライス厚、
管電流、管電圧のスキャン条件についても同様に、表１
のように制御することにより、回路系のノイズ及びフォ
トンノイズの有効な低減を図ることになる。
【００６８】このように第１実施例によれば、ＤＡＳ６
に搭載されたオーバーサンプリング回路７のオーバーサ
ンプリング回数を、各スキャン毎に、スキャン条件に基
づいて表１に示すようなスキャン条件とオーバーサンプ
リング回数との関係から決定し、この決定したオーバー
サンプリング回数を１つのパラメータとする収集パラメ
ータ信号をＤＡＳ６に出力するスキャン制御部９と、こ
の収集パラメータ信号により指定されたオーバーサンプ
リング回数をオーバーサンプリング回路７に設定するＤ
ＡＳ６とを設けたことにより、回路系のノイズ及びフォ
トンノイズの有効な低減を図ることができる。
【００６９】この発明の第２実施例を図２を参照して説
明する。図２は、この発明を適用したＸ線ＣＴ装置の概
略の構成を示すブロック図である。なお、この実施例及
び以降の実施例の構成は、基本的には第１実施例の構成
を基本としているので、この実施例及び以降の実施例に
おいて、同一部材には同一符号を付して、その説明は省
略する。
【００７０】検出器５を構成する各Ｘ線電圧変換素子か
ら出力された電気信号は、ＤＡＳ１１に入力され、収集
データとして処理される。このＤＡＳ１１には、収集デ
ータを多重積分する多重積分回路１２が搭載されてお
り、収集データのゲインを調整することができる。
【００７１】このＤＡＳ１１により処理された収集デー
タは、データ処理装置８に転送され、このデータ処理装
置８において、Ｘ線断面画像として、例えばＣＲＴ等に
表示するようになっている。
【００７２】スキャン制御部１３は、スキャン制御手段
として、オペレータが設定するスキャン条件に応じて、
前記Ｘ線発生制御器２及び前記機構制御部３へスキャン
条件に基づいて制御するためのスキャン条件信号を出力
し、前記ＤＡＳ１１へデータを収集するためのパラメー
タを指定する収集パラメータ信号を出力するようになっ
ている。この収集パラメータ信号には、前記多重積分回
路１２の多重積分の回数を指定するパラメータも含まれ
ている。
【００７３】前記ＤＡＳ１１は、収集パラメータ信号に
より指定された多重積分の回数を、前記多重積分回路１
２に設定して、前記検出器５からの電気信号を処理し
て、収集データを得る。
【００７４】前記スキャン制御部１３は、多重積分回数
制御手段として、表２に示すように、各スキャン条件(
データ線量、サイズ、スライス厚、管電流、管電圧 )の
大小に応じて、それぞれ多重積分の回数の大小が設定さ
れており、全てのスキャン条件について総合評価して最
終的な多重積分の回数が決定される。
【００７５】この多重積分の回数の決定は、各スキャン
毎に行われて、各スキャン毎に出力される収集パラメー
タ信号の１つのパラメータとして、多重積分の回数が含
まれる。
【００７６】
【表２】
【００７７】このような構成の本実施例においては、オ
ペレータがスキャン条件をスキャン制御部１３に設定す
ると、この設定されたスキャン条件に基づいて、スキャ
ン制御部１３から、Ｘ線発生制御器２及び機構制御部３
へスキャン条件信号が出力され、ＤＡＳ１１へ、表２に
示したスキャン条件に対する多重積分の回数の表に基づ
いて決定された多重積分の回数が１つのパラメータとし
て含まれる収集パラメータ信号が出力される。
【００７８】Ｘ線発生制御器２は、スキャン条件信号に
基づいて、Ｘ線管球１を通電制御し、Ｘ線管球１はＸ線
を発生させる。機構制御部３は、スキャン条件信号に基
づいて、Ｘ線管球１、スリット・ウェッジ４及び検出器
５を所定角度ずつ回動移動させると共にスリット・ウェ
ッジ４を機構制御する。
【００７９】Ｘ線管球１から発生したＸ線は、スリット
・ウェッジ４を介してスキャン条件に基づいて、被写体
としての人体の所定部位に照射され、この人体の所定部
位を透過したＸ線が検出器５により検出される。
【００８０】この検出器５から、所定角度ずつの回動移
動毎に、検出して変換した電気信号がＤＡＳ１１に出力
され、ＤＡＳ１１はスキャン毎に入力される収集パラメ
ータ信号により多重積分回路１２の多重積分の回数を決
定し、入力した電気信号をこの多重積分回路１２を使用
して収集データに変換する。
【００８１】この変換した収集データはデータ処理装置
８に転送され、このデータ処理装置８で、収集データは
処理されて、人体の所定部位のＸ線断面画像としてＣＲ
Ｔ等に表示される。
【００８２】従って、例えば、スキャン条件においてデ
ータ線量が大きい場合には、多重積分の回数が大きくな
り、ゲインが低下し、感度が低下する。すなわち、デー
タ線量が大きい場合には、高感度化するとオーバーフロ
ーが発生する可能性があるが、上述したように多重積分
の回数を大きくして、ゲインを低下させ、感度を低下さ
せることにより、オーバーフローの発生を防止すること
になる。
【００８３】また、スキャン条件において、データ線量
が小さい場合には、多重積分の回数が小さくなり、ゲイ
ンが上がり、高感度となる。すなわち、データ線量が小
さい場合には、オーバーフローが発生する可能性は小さ
いので、高感度化しても問題とはならない。
【００８４】以上のことは、他のサイズ、スライス厚、
管電流、管電圧のスキャン条件についても同様に、表２
のように制御することにより、有効な高感度化を実現す
ることができ、しかもオーバーフローを防止することが
できる。
【００８５】このように第２実施例によれば、ＤＡＳ１
１に搭載された多重積分回路１２の多重積分の回数を、
各スキャン毎に、スキャン条件に基づいて表２に示すよ
うなスキャン条件と多重積分の回数との関係から決定
し、この決定した多重積分の回数を１つのパラメータと
する収集パラメータ信号をＤＡＳ１１に出力するスキャ
ン制御部１３を設けたことにより、各種スキャン条件下
で有効な高感度化を実現でき、しかもオーバーフローを
防止することができる。
【００８６】この発明の第３実施例を図３を参照して説
明する。図３は、この発明を適用したＸ線ＣＴ装置の概
略の構成を示すブロック図である。
【００８７】検出器５を構成する各Ｘ線電圧変換素子か
ら出力された電気信号は、ＤＡＳ２１に入力され、収集
データとして処理される。このＤＡＳ２１には、収集デ
ータをオーバーサンプリングするオーバーサンプリング
回路２２及び後述するようにスキャン条件に基づいてこ
のオーバーサンプリング回路２２のオーバーサンプリン
グ回数を設定するコントローラ部２３が搭載されてお
り、回路で発生するノイズを低下させることができる。
さらに、このコントローラ部２３には操作部２４が接続
され、スキャン条件に関係なく、オペレータがこの操作
部２４を操作することにより、コントローラ部２３を介
して、任意に前記オーバーサンプリング回路２２のオー
バーサンプリング回数を設定することができる。
【００８８】このＤＡＳ２１により処理された収集デー
タは、データ処理装置８に転送され、このデータ処理装
置８において、Ｘ線断面画像として、例えばＣＲＴ等に
表示するようになっている。
【００８９】スキャン制御部２５は、スキャン制御手段
として、オペレータが設定するスキャン条件に応じて、
前記Ｘ線発生制御器２、前記機構制御部３及び前記ＤＡ
Ｓ２１のコントローラ部２３へスキャン条件信号を出力
するようになっている。
【００９０】前記ＤＡＳ２１の前記コントローラ部２３
は、サンプリング回数制御手段として、スキャン条件信
号から上述した表１に示す対応表に基づいて、各スキャ
ン毎にオーバーサンプリング回数を決定し、この決定し
たオーバーサンプリング回数を前記オーバーサンプリン
グ回路２２に設定する。そして、このＤＡＳ２１は、前
記検出器５からの電気信号を前記オーバーサンプリング
回路２２を使用して処理し、収集データを得る。
【００９１】このような構成の本実施例においては、オ
ペレータがスキャン条件をスキャン制御部２５に設定す
ると、この設定されたスキャン条件に基づいて、スキャ
ン制御部９から、Ｘ線発生制御器２、機構制御部３及び
ＤＡＳ２１へスキャン条件信号が出力される。
【００９２】Ｘ線発生制御器２は、スキャン条件信号に
基づいて、Ｘ線管球１を通電制御し、Ｘ線管球１はＸ線
を発生させる。機構制御部３は、スキャン条件信号に基
づいて、Ｘ線管球１、スリット・ウェッジ４及び検出器
５を所定角度ずつ回動移動させると共にスリット・ウェ
ッジ４を機構制御する。
【００９３】Ｘ線管球１から発生したＸ線は、スリット
・ウェッジ４を介してスキャン条件に基づいて、被写体
としての人体の所定部位に照射され、この人体の所定部
位を透過したＸ線が検出器５により検出される。
【００９４】この検出器５から、所定角度ずつの回動移
動毎に、検出して変換した電気信号がＤＡＳ２１に出力
され、ＤＡＳ２１のコントローラ部２３は、スキャン毎
に入力されるスキャン条件信号によりオーバーサンプリ
ング回路２２のオーバーサンプリング回数を決定すると
共に設定し、入力した電気信号をこのオーバーサンプリ
ング回路２２を使用して収集データに変換する。
【００９５】この変換した収集データはデータ処理装置
８に転送され、このデータ処理装置８で、収集データは
処理されて、人体の所定部位のＸ線断面画像としてＣＲ
Ｔ等に表示される。
【００９６】このように第３実施例によれば、ＤＡＳ２
１に搭載されたオーバーサンプリング回路２２のオーバ
ーサンプリング回数を、各スキャン毎に、スキャン条件
に基づいて表１に示すようなスキャン条件とオーバーサ
ンプリング回数との関係から決定し、この決定したオー
バーサンプリング回数をオーバーサンプリング回路２２
に設定するコントローラ部２３を設けたことにより、回
路系のノイズ及びフォトンノイズの有効な低減を図るこ
とができる。
【００９７】この発明の第４実施例を図４を参照して説
明する。図４は、この発明を適用したＸ線ＣＴ装置の概
略の構成を示すブロック図である。
【００９８】検出器５を構成する各Ｘ線電圧変換素子か
ら出力された電気信号は、ＤＡＳ３１に入力され、収集
データとして処理される。このＤＡＳ３１には、収集デ
ータを多重積分する多重積分回路３２及び後述するよう
にスキャン条件に基づいてこの多重積分回路の多重積分
の回数を設定するコントローラ部３３が搭載されてお
り、収集データのゲインを調整することができる。さら
に、このコントローラ部３３には操作部３４が接続さ
れ、スキャン条件に関係なく、オペレータがこの操作部
を操作することにより、コントローラ部３３を介して、
任意に前記多重積分回路３２の多重積分の回数を設定す
ることができる。
【００９９】このＤＡＳ３１により処理された収集デー
タは、データ処理装置８に転送され、このデータ処理装
置８において、Ｘ線断面画像として、例えばＣＲＴ等に
表示するようになっている。
【０１００】スキャン制御部３５は、スキャン制御手段
として、オペレータが設定するスキャン条件に応じて、
前記Ｘ線発生制御器２、前記機構制御部３及び前記ＤＡ
Ｓ３１の前記コントローラ部３３へスキャン条件信号を
出力するようになっている。
【０１０１】前記ＤＡＳ３１の前記コントローラ部３３
は、多重積分回数制御手段として、スキャン条件信号か
ら上述した表２に示す対応表に基づいて、各スキャン毎
に多重積分の回数を決定し、この決定した多重積分の回
数を前記多重積分回路３２に設定する。そして、このＤ
ＡＳ３１は、前記検出器５からの電気信号を前記多重積
分回路３２を使用して処理し、収集データを得る。
【０１０２】このような構成の本実施例においては、オ
ペレータがスキャン条件をスキャン制御部３５に設定す
ると、この設定されたスキャン条件に基づいて、スキャ
ン制御部３５から、Ｘ線発生制御器２、機構制御部３及
びＤＡＳ３１へスキャン条件信号が出力される。
【０１０３】Ｘ線発生制御器２は、スキャン条件信号に
基づいて、Ｘ線管球１を通電制御し、Ｘ線管球１はＸ線
を発生させる。機構制御部３は、スキャン条件信号に基
づいて、Ｘ線管球１、スリット・ウェッジ４及び検出器
５を所定角度ずつ回動移動させると共にスリット・ウェ
ッジ４を機構制御する。
【０１０４】Ｘ線管球１から発生したＸ線は、スリット
・ウェッジ４を介してスキャン条件に基づいて、被写体
としての人体の所定部位に照射され、この人体の所定部
位を透過したＸ線が検出器５により検出される。
【０１０５】この検出器５から、所定角度ずつの回動移
動毎に、検出して変換した電気信号がＤＡＳ３１に出力
され、ＤＡＳ３１のコントローラ部３３は、スキャン毎
に入力されるスキャン条件信号により多重積分回路１２
の多重積分の回数を決定すると共に設定し、入力した電
気信号をこの多重積分回路１２を使用して収集データに
変換する。
【０１０６】この変換した収集データはデータ処理装置
８に転送され、このデータ処理装置８で、収集データは
処理されて、人体の所定部位のＸ線断面画像としてＣＲ
Ｔ等に表示される。
【０１０７】このように第４実施例によれば、ＤＡＳ３
１に搭載された多重積分回路３２の多重積分の回数を、
各スキャン毎に、スキャン条件に基づいて表２に示すよ
うなスキャン条件と多重積分の回数との関係から決定
し、この決定した多重積分の回数を多重積分回路３３に
設定するコントローラ部３５を設けたことにより、各種
スキャン条件下で有効な高感度化を実現でき、しかもオ
ーバーフローを防止することができる。
【０１０８】この発明の第５実施例を図５を参照して説
明する。図５は、この発明を適用したＸ線ＣＴ装置の概
略の構成を示すブロック図である。
【０１０９】検出器５を構成する各Ｘ線電圧変換素子か
ら出力された電気信号は、ＤＡＳ４１に入力され、収集
データとして処理される。このＤＡＳ４１には、収集デ
ータをオーバーサンプリングするオーバーサンプリング
回路４２が搭載されており、回路で発生するノイズを低
下させることができる。
【０１１０】このＤＡＳ４１により処理された収集デー
タは、データ処理装置４３に転送され、このデータ処理
装置４３において、Ｘ線断面画像として、例えばＣＲＴ
等に表示するようになっている。さらに、このデータ処
理装置４３は、過去の( 所定個数の )収集データをスキ
ャン制御部４４に供給する。
【０１１１】スキャン制御部４４は、スキャン制御手段
として、オペレータが設定するスキャン条件に応じて、
前記Ｘ線発生制御器２及び前記機構制御部３へスキャン
条件信号を出力し、前記ＤＡＳ４１へ収集パラメータ信
号を出力するようになっている。この収集パラメータ信
号には、前記オーバーサンプリング回路４２のオーバー
サンプリング回数を指定するパラメータも含まれてい
る。
【０１１２】前記ＤＡＳ４１は、収集パラメータ信号に
より指定されたオーバーサンプリング回数を、前記オー
バーサンプリング回路４２に設定して、前記検出器５か
らの電気信号を前記オーバーサンプリング回路４２を使
用して処理し、収集データを得る。
【０１１３】前記スキャン制御部４４は、サンプリング
回数制御手段として、前記データ処理装置４３から供給
された過去の収集データに基づいて、オーバーサンプリ
ング回数を決定する。
【０１１４】このオーバーサンプリング回数の決定は、
各スキャン毎に行われて、各スキャン毎に出力される収
集パラメータ信号の１つのパラメータとして、オーバー
サンプリング回数が含まれる。
【０１１５】このような構成の本実施例においては、オ
ペレータがスキャン条件をスキャン制御部２５に設定す
ると、この設定されたスキャン条件に基づいて、スキャ
ン制御部９から、Ｘ線発生制御器２及び機構制御部３へ
スキャン条件信号が出力され、各スキャン毎に、過去の
収集データに基づいて決定されたオーバーサンプリング
回数を１つのパラメータとして含まれる収集パラメータ
信号がＤＡＳ４１へ出力される。
【０１１６】Ｘ線発生制御器２は、スキャン条件信号に
基づいて、Ｘ線管球１を通電制御し、Ｘ線管球１はＸ線
を発生させる。機構制御部３は、スキャン条件信号に基
づいて、Ｘ線管球１、スリット・ウェッジ４及び検出器
５を所定角度ずつ回動移動させると共にスリット・ウェ
ッジ４を機構制御する。
【０１１７】Ｘ線管球１から発生したＸ線は、スリット
・ウェッジ４を介してスキャン条件に基づいて、被写体
としての人体の所定部位に照射され、この人体の所定部
位を透過したＸ線が検出器５により検出される。
【０１１８】この検出器５から、所定角度ずつの回動移
動毎に、検出して変換した電気信号がＤＡＳ４１に出力
され、ＤＡＳ４１はスキャン毎に入力される収集パラメ
ータ信号によりオーバーサンプリング回路４２のオーバ
ーサンプリング回数を決定し、入力した電気信号をこの
オーバーサンプリング回路４２を使用して収集データに
変換する。
【０１１９】この変換した収集データはデータ処理装置
４３に転送され、このデータ処理装置４３で、収集デー
タは処理されて、人体の所定部位のＸ線断面画像として
ＣＲＴ等に表示される。さらに、このデータ処理装置４
３から、過去の収集データが更新されて、スキャン制御
部４４に供給される。
【０１２０】例えば、過去の収集データのレベルが全体
的に低いならば、低線量を使用した場合と同様に、フォ
トンノイズは小さく、回路系のノイズが大きくて総合ノ
イズにおいて支配的となっているので、オーバーサンプ
リング回数を大きくすることにより、回路系のノイズが
大幅に低減される。従って、総合ノイズが大幅に低減さ
れ、回路系のノイズ及びフォトンノイズの有効な低減を
図ることになる。
【０１２１】また、過去の収集データのレベルが全体的
に高いならば、大線量を使用した場合と同様に、回路系
のノイズは小さく、フォトンノイズが大きくて総合ノイ
ズにおいて支配的となっているので、オーバーサンプリ
ング回数を小さくすることにより、Ｘ線利用効率が優先
され、オーバーサンプリングによるフォトンノイズの増
大が抑えられる。従って、回路系のノイズ及びフォトン
ノイズの有効な低減を図ることになる。
【０１２２】このように第５実施例によれば、ＤＡＳ４
１に搭載されたオーバーサンプリング回路４２のオーバ
ーサンプリング回数を、各スキャン毎に、過去の収集デ
ータに基づいて決定し、この決定したオーバーサンプリ
ング回数を１つのパラメータとする収集パラメータ信号
をＤＡＳ４１に出力するスキャン制御部９と、この収集
パラメータ信号により指定されたオーバーサンプリング
回数をオーバーサンプリング回路４２に設定するＤＡＳ
４１とを設けたことにより、回路系のノイズ及びフォト
ンノイズの有効な低減を図ることができる。
【０１２３】この発明の第６実施例を図６を参照して説
明する。図６は、この発明を適用したＸ線ＣＴ装置の概
略の構成を示すブロック図である。
【０１２４】検出器５を構成する各Ｘ線電圧変換素子か
ら出力された電気信号は、ＤＡＳ５１に入力され、収集
データとして処理される。このＤＡＳ５１には、収集デ
ータを多重積分する多重積分回路５２が搭載されてお
り、収集データのゲインを調整することができる。
【０１２５】このＤＡＳ５１により処理された収集デー
タは、データ処理装置５３に転送され、このデータ処理
装置５３において、Ｘ線断面画像として、例えばＣＲＴ
等に表示するようになっている。さらに、このデータ処
理装置５３は、過去の( 所定個数の )収集データをスキ
ャン制御部５４に供給する。
【０１２６】スキャン制御部５４は、スキャン制御手段
として、オペレータが設定するスキャン条件に応じて、
前記Ｘ線発生制御器２及び前記機構制御部３へスキャン
条件信号を出力し、前記ＤＡＳ５１へ収集パラメータ信
号を出力するようになっている。この収集パラメータ信
号には、前記多重積分回路５２の多重積分の回数を指定
するパラメータも含まれている。
【０１２７】前記ＤＡＳ５１は、収集パラメータ信号に
より指定された多重積分の回数を、前記多重積分回路５
２に設定して、前記検出器５からの電気信号を前記多重
積分回路５２を使用して処理し、収集データを得る。
【０１２８】前記スキャン制御部５４は、多重積分回数
制御手段として、前記データ処理装置４３から供給され
た過去の収集データに基づいて、多重積分の回数を決定
する。
【０１２９】この多重積分の回数の決定は、各スキャン
毎に行われて、各スキャン毎に出力される収集パラメー
タ信号の１つのパラメータとして、多重積分の回数が含
まれる。
【０１３０】このような構成の本実施例においては、オ
ペレータがスキャン条件をスキャン制御部５４に設定す
ると、この設定されたスキャン条件に基づいて、スキャ
ン制御部５４から、Ｘ線発生制御器２及び機構制御部３
へスキャン条件信号が出力され、各スキャン毎に、過去
の収集データに基づいて決定された多重積分の回数が１
つのパラメータとして含まれる収集パラメータ信号がＤ
ＡＳ５１へ出力される。
【０１３１】Ｘ線発生制御器２は、スキャン条件信号に
基づいて、Ｘ線管球１を通電制御し、Ｘ線管球１はＸ線
を発生させる。機構制御部３は、スキャン条件信号に基
づいて、Ｘ線管球１、スリット・ウェッジ４及び検出器
５を所定角度ずつ回動移動させると共にスリット・ウェ
ッジ４を機構制御する。
【０１３２】Ｘ線管球１から発生したＸ線は、スリット
・ウェッジ４を介してスキャン条件に基づいて、被写体
としての人体の所定部位に照射され、この人体の所定部
位を透過したＸ線が検出器５により検出される。
【０１３３】この検出器５から、所定角度ずつの回動移
動毎に、検出して変換した電気信号がＤＡＳ５１に出力
され、ＤＡＳ５１はスキャン毎に入力される収集パラメ
ータ信号により多重積分回路５２の多重積分の回数を決
定し、入力した電気信号をこの多重積分回路１２を使用
して収集データに変換する。
【０１３４】この変換した収集データはデータ処理装置
５３に転送され、このデータ処理装置５３で、収集デー
タは処理されて、人体の所定部位のＸ線断面画像として
ＣＲＴ等に表示される。さらに、このデータ処理装置５
３から、過去の収集データが更新されて、スキャン制御
部５４に供給される。
【０１３５】例えば、過去の収集データのレベルが全体
的に低いならば、低線量を使用した場合と同様に、多重
積分の回数を小さくすることにより、ゲインが低下し、
高感度となる。すなわち、線量が小さい場合には、オー
バーフローが発生する可能性は小さいので、高感度化し
ても問題とはならない。
【０１３６】また、過去の収集データのレベルが全体的
に高いならば、大線量を使用した場合と同様に、多重積
分の回数を大きくすることにより、ゲインが上昇し、感
度が低下する。すなわち、線量が大きい場合には、オー
バーフローが発生する可能性があるが、上述したように
多重積分の回数を大きくして、ゲインを低下させ、感度
を低下させることにより、オーバーフローの発生を防止
することになる。
【０１３７】このように第６実施例によれば、ＤＡＳ５
１に搭載された多重積分回路５２の多重積分の回数を、
各スキャン毎に、過去の収集データに基づいて決定し、
この決定した多重積分の回数を１つのパラメータとする
収集パラメータ信号をＤＡＳ５１に出力するスキャン制
御部５４と、この収集パラメータ信号により指定された
多重積分の回数を多重積分回路５２に設定するＤＡＳ５
１とを設けたことにより、各種スキャン条件下で有効な
高感度化を実現でき、しかもオーバーフローを防止する
ことができる。
【０１３８】この発明の第７実施例を図７を参照して説
明する。図７は、この発明を適用したＸ線ＣＴ装置の概
略の構成を示すブロック図である。
【０１３９】検出器５を構成する各Ｘ線電圧変換素子か
ら出力された電気信号は、ＤＡＳ６１に入力され、収集
データとして処理される。このＤＡＳ６１には、収集デ
ータをオーバーサンプリングするオーバーサンプリング
回路６２及びコントローラ部６３が搭載されており、回
路で発生するノイズを低下させることができる。
【０１４０】前記オーバーサンプリング回路６２から収
集データがコントローラ部６３に供給され、前記コント
ローラ部６３は、サンプリング回数制御手段として、各
スキャン毎に、すでに供給されている収集データを過去
の収集データとしてオーバーサンプリング回数を決定
し、この決定したオーバーサンプリング回数を前記オー
バーサンプリング回路６２に設定する。そして、このＤ
ＡＳ６１は、前記検出器５からの電気信号を前記オーバ
ーサンプリング回路６２を使用して処理し、収集データ
を得る。
【０１４１】前記ＤＡＳ６１により処理された収集デー
タは、データ処理装置８に転送され、このデータ処理装
置８において、Ｘ線断面画像として、例えばＣＲＴ等に
表示するようになっている。
【０１４２】スキャン制御部６４は、スキャン制御手段
として、オペレータが設定するスキャン条件に応じて、
前記Ｘ線発生制御器２及び前記機構制御部３へスキャン
条件信号を出力するようになっている。
【０１４３】このような構成の本実施例においては、オ
ペレータがスキャン条件をスキャン制御部６４に設定す
ると、この設定されたスキャン条件に基づいて、スキャ
ン制御部６４から、Ｘ線発生制御器２及び機構制御部３
へスキャン条件信号が出力される。
【０１４４】Ｘ線発生制御器２は、スキャン条件信号に
基づいて、Ｘ線管球１を通電制御し、Ｘ線管球１はＸ線
を発生させる。機構制御部３は、スキャン条件信号に基
づいて、Ｘ線管球１、スリット・ウェッジ４及び検出器
５を所定角度ずつ回動移動させると共にスリット・ウェ
ッジ４を機構制御する。
【０１４５】Ｘ線管球１から発生したＸ線は、スリット
・ウェッジ４を介してスキャン条件に基づいて、被写体
としての人体の所定部位に照射され、この人体の所定部
位を透過したＸ線が検出器５により検出される。
【０１４６】この検出器５から、所定角度ずつの回動移
動毎に、検出して変換した電気信号がＤＡＳ６１に出力
され、ＤＡＳ６１のコントローラ部６３は、オーバーサ
ンプリング回路６２から供給されている収集データに基
づいて、スキャン毎にオーバーサンプリング回数を決定
し、この決定したオーバーサンプリング回数をオーバー
サンプリング回路６２に設定する。ＤＡＳ６１は、入力
した電気信号をこのオーバーサンプリング回路６２を使
用して収集データに変換する。
【０１４７】この変換した収集データはデータ処理装置
８に転送され、このデータ処理装置８で、収集データは
処理されて、人体の所定部位のＸ線断面画像としてＣＲ
Ｔ等に表示される。
【０１４８】このように第７実施例によれば、ＤＡＳ６
１に搭載されたオーバーサンプリング回路４２のオーバ
ーサンプリング回数を、各スキャン毎に、オーバーサン
プリング回路４２から供給されている収集データに基づ
いて決定し、この決定したオーバーサンプリング回数を
オーバーサンプリング回路に設定するコントローラ部６
３を設けたことにより、回路系のノイズ及びフォトンノ
イズの有効な低減を図ることができる。
【０１４９】この発明の第８実施例を図８を参照して説
明する。図８は、この発明を適用したＸ線ＣＴ装置の概
略の構成を示すブロック図である。
【０１５０】検出器５を構成する各Ｘ線電圧変換素子か
ら出力された電気信号は、ＤＡＳ７１に入力され、収集
データとして処理される。このＤＡＳ７１には、収集デ
ータを多重積分する多重積分回路７２及びコントローラ
部７３が搭載されており、収集データのゲインを調整す
ることができる。
【０１５１】前記多重積分回路７２から収集データがコ
ントローラ部７３に供給され、前記コントローラ部７３
は、多重積分回数制御手段として、各スキャン毎に、す
でに供給されている収集データを過去の収集データとし
て多重積分の回数を決定し、この決定した多重積分の回
数を前記多重積分回路７２を使用して処理し、収集デー
タを得る。
【０１５２】前記ＤＡＳ７１により処理された収集デー
タは、データ処理装置８に転送され、このデータ処理装
置８において、Ｘ線断面画像として、例えばＣＲＴ等に
表示するようになっている。
【０１５３】スキャン制御部７４は、スキャン制御手段
として、オペレータが設定するスキャン条件に応じて、
前記Ｘ線発生制御器２及び前記機構制御部３へスキャン
条件信号を出力するようになっている。
【０１５４】このような構成の本実施例においては、オ
ペレータがスキャン条件をスキャン制御部７４に設定す
ると、この設定されたスキャン条件に基づいて、スキャ
ン制御部７４から、Ｘ線発生制御器２及び機構制御部３
へスキャン条件信号が出力される。
【０１５５】Ｘ線発生制御器２は、スキャン条件信号に
基づいて、Ｘ線管球１を通電制御し、Ｘ線管球１はＸ線
を発生させる。機構制御部３は、スキャン条件信号に基
づいて、Ｘ線管球１、スリット・ウェッジ４及び検出器
５を所定角度ずつ回動移動させると共にスリット・ウェ
ッジ４を機構制御する。
【０１５６】Ｘ線管球１から発生したＸ線は、スリット
・ウェッジ４を介してスキャン条件に基づいて、被写体
としての人体の所定部位に照射され、この人体の所定部
位を透過したＸ線が検出器５により検出される。
【０１５７】この検出器５から、所定角度ずつの回動移
動毎に、検出して変換した電気信号がＤＡＳ７１に出力
され、ＤＡＳ７１のコントローラ部７３は、多重積分回
路７２から供給されている収集データに基づいて、スキ
ャン毎に多重積分の回数を決定し、この決定した多重積
分の回数を多重積分回路７２に設定する。ＤＡＳ７１
は、入力した電気信号をこの多重積分回路７２を使用し
て収集データに変換する。
【０１５８】この変換した収集データはデータ処理装置
８に転送され、このデータ処理装置８で、収集データは
処理されて、人体の所定部位のＸ線断面画像としてＣＲ
Ｔ等に表示される。
【０１５９】このように第８実施例によれば、ＤＡＳ７
１に搭載された多重積分回路７２の多重積分の回数を、
各スキャン毎に、多重積分回路７２から供給されている
収集データに基づいて決定し、この決定した多重積分の
回数を多重積分回路７２に設定するコントローラ部７３
を設けたことにより、各種スキャン条件下で有効な高感
度化を実現でき、しかもオーバーフローを防止すること
ができる。
【０１６０】この発明の第９実施例を図９を参照して説
明する。図９は、この発明を適用したＸ線ＣＴ装置の概
略の構成を示すブロック図である。
【０１６１】検出器５を構成する各Ｘ線電圧変換素子か
ら出力された電気信号は、ＤＡＳ８１に入力され、収集
データとして処理される。このＤＡＳ８１には、収集デ
ータをオーバーサンプリングするオーバーサンプリング
回路８２及びコントローラ部８３が搭載されており、回
路で発生するノイズを低下させることができる。
【０１６２】前記オーバーサンプリング回路８２から収
集データがコントローラ部８３に供給され、前記コント
ローラ部８３には、前記検出器５の各Ｘ線電気変換素子
からの電気信号をそれぞれ独立して制御するためのチャ
ンネル制御部８４が備えられ、サンプリング回数制御手
段として、すでに供給されている収集データを過去の収
集データとしてオーバーサンプリング回数を決定する。
【０１６３】この時、過去の収集データから各投影角度
( ｖｉｅｗ )毎に前記検出器５の各Ｘ線電気変換素子か
らの電気信号( ｃｈａｎｎｅｌ )の全てに対してかける
オーバーサンプリング回数が決定される。あるいは、前
記各Ｘ線電気変換素子毎に、過去の収集データから各Ｘ
線変換素子からの電気信号にそれぞれかけるオーバーサ
ンプリング回数が決定される。
【０１６４】この決定したオーバーサンプリング回数
は、コントローラ部８３により各投影角度毎にあるいは
各Ｘ線電気変換素子からの電気信号毎に、前記オーバー
サンプリング回路８２に設定される。そして、このＤＡ
Ｓ８１は、前記検出器５からの電気信号を前記オーバー
サンプリング回路８２を使用して処理し、収集データを
得る。
【０１６５】前記ＤＡＳ８１により処理された収集デー
タは、データ処理装置８に転送され、このデータ処理装
置８において、Ｘ線断面画像として、例えばＣＲＴ等に
表示するようになっている。
【０１６６】スキャン制御部８５は、スキャン制御手段
として、オペレータが設定するスキャン条件に応じて、
前記Ｘ線発生制御器２及び前記機構制御部３へスキャン
条件信号を出力するようになっている。
【０１６７】このような構成の本実施例においては、オ
ペレータがスキャン条件をスキャン制御部８５に設定す
ると、この設定されたスキャン条件に基づいて、スキャ
ン制御部８５から、Ｘ線発生制御器２及び機構制御部３
へスキャン条件信号が出力される。
【０１６８】Ｘ線発生制御器２は、スキャン条件信号に
基づいて、Ｘ線管球１を通電制御し、Ｘ線管球１はＸ線
を発生させる。機構制御部３は、スキャン条件信号に基
づいて、Ｘ線管球１、スリット・ウェッジ４及び検出器
５を所定角度ずつ回動移動させると共にスリット・ウェ
ッジ４を機構制御する。
【０１６９】Ｘ線管球１から発生したＸ線は、スリット
・ウェッジ４を介してスキャン条件に基づいて、被写体
としての人体の所定部位に照射され、この人体の所定部
位を透過したＸ線が検出器５により検出される。
【０１７０】この検出器５から、所定角度ずつの回動移
動毎に、検出して変換した電気信号がＤＡＳ８１に出力
され、ＤＡＳ８１のコントローラ部８３は、チャンネル
制御部８４を使用して、オーバーサンプリング回路８２
から供給されている収集データに基づいて、各投影角度
毎にあるいは各Ｘ線電気変換素子からの電気信号毎にオ
ーバーサンプリング回数を決定し、この決定したオーバ
ーサンプリング回数をオーバーサンプリング回路８２に
設定する。ＤＡＳ８１は、入力した電気信号をこのオー
バーサンプリング回路８２を使用して収集データに変換
する。
【０１７１】この変換した収集データはデータ処理装置
８に転送され、このデータ処理装置８で、収集データは
処理されて、人体の所定部位のＸ線断面画像としてＣＲ
Ｔ等に表示される。
【０１７２】このように第９実施例によれば、ＤＡＳ８
１に搭載されたオーバーサンプリング回路８２のオーバ
ーサンプリング回数を、各投影角度毎に、あるいは各Ｘ
線電気変換素子からの電気信号毎に、オーバーサンプリ
ング回路８２から供給されている収集データに基づいて
決定し、この決定したオーバーサンプリング回数をオー
バーサンプリング回路に設定するチャンネル制御部８４
を備えたコントローラ部８３を設けたことにより、回路
系のノイズ及びフォトンノイズの有効な低減を図ること
ができる。
【０１７３】さらに、この実施例では、各Ｘ線電気変換
素子からの電気信号をそれぞれ制御するためのチャンネ
ル制御部８４を設けたことにより、各スキャン毎にでは
なく、各投影角度毎に、あるいは各Ｘ線電気変換素子か
らの電気信号毎に、過去の収集データからオーバーサン
プリング回数を決定して、そのオーバーサンプリング回
数をオーバーサンプリング回路８２に設定しているの
で、より適切なオーバーサンプリング回数がきめ細かく
オーバーサンプリング回路８２に設定できるので、さら
に回路系のノイズ及びフォトンノイズのより有効な低減
を図ることができる。
【０１７４】この発明の第１０実施例を図１０を参照し
て説明する。図１０は、この発明を適用したＸ線ＣＴ装
置の概略の構成を示すブロック図である。
【０１７５】検出器５を構成する各Ｘ線電圧変換素子か
ら出力された電気信号は、ＤＡＳ９１に入力され、収集
データとして処理される。このＤＡＳ９１には、収集デ
ータを多重積分する多重積分回路９２及びコントローラ
部９３が搭載されており、収集データのゲインを調整す
ることができる。
【０１７６】前記多重積分回路９２から収集データがコ
ントローラ部９３に供給され、前記コントローラ部９３
には、前記検出器５の各Ｘ線電気変換素子からの電気信
号をそれぞれ独立して制御するためのチャンネル制御部
９４が備えられ、多重積分回数制御手段として、すでに
供給されている収集データを過去の収集データとして多
重積分の回数を決定する。
【０１７７】この時、過去の収集データから各投影角度
( ｖｉｅｗ )毎に前記検出器５の各Ｘ線電気変換素子か
らの電気信号( ｃｈａｎｎｅｌ )の全てに対してかける
多重積分の回数が決定される。あるいは、前記各Ｘ線電
気変換素子毎に、過去の収集データから各Ｘ線変換素子
からの電気信号にそれぞれかける多重積分の回数が決定
される。
【０１７８】この決定した多重積分の回数は、コントロ
ーラ部９３により各投影角度毎に、あるいは各Ｘ線電気
変換素子からの電気信号毎に、前記多重積分回路９２を
使用して処理し、収集データを得る。
【０１７９】前記ＤＡＳ９１により処理された収集デー
タは、データ処理装置８に転送され、このデータ処理装
置８において、Ｘ線断面画像として、例えばＣＲＴ等に
表示するようになっている。
【０１８０】スキャン制御部９５は、スキャン制御手段
として、オペレータが設定するスキャン条件に応じて、
前記Ｘ線発生制御器２及び前記機構制御部３へスキャン
条件信号を出力するようになっている。
【０１８１】このような構成の本実施例においては、オ
ペレータがスキャン条件をスキャン制御部９５に設定す
ると、この設定されたスキャン条件に基づいて、スキャ
ン制御部９５から、Ｘ線発生制御器２及び機構制御部３
へスキャン条件信号が出力される。
【０１８２】Ｘ線発生制御器２は、スキャン条件信号に
基づいて、Ｘ線管球１を通電制御し、Ｘ線管球１はＸ線
を発生させる。機構制御部３は、スキャン条件信号に基
づいて、Ｘ線管球１、スリット・ウェッジ４及び検出器
５を所定角度ずつ回動移動させると共にスリット・ウェ
ッジ４を機構制御する。
【０１８３】Ｘ線管球１から発生したＸ線は、スリット
・ウェッジ４を介してスキャン条件に基づいて、被写体
としての人体の所定部位に照射され、この人体の所定部
位を透過したＸ線が検出器５により検出される。
【０１８４】この検出器５から、所定角度ずつの回動移
動毎に、検出して変換した電気信号がＤＡＳ９１に出力
され、ＤＡＳ９１のコントローラ部７３は、チャンネル
制御部９４を使用して、多重積分回路７２から供給され
ている収集データに基づいて、各投影角度毎にあるいは
各Ｘ線電気変換素子からの電気信号毎に多重積分の回数
を決定し、この決定した多重積分の回数を多重積分回路
９２に設定する。ＤＡＳ９１は、入力した電気信号をこ
の多重積分回路９２を使用して収集データに変換する。
【０１８５】この変換した収集データはデータ処理装置
８に転送され、このデータ処理装置８で、収集データは
処理されて、人体の所定部位のＸ線断面画像としてＣＲ
Ｔ等に表示される。
【０１８６】このように第１０実施例によれば、ＤＡＳ
９１に搭載された多重積分回路９２の多重積分の回数
を、各投影角度毎に、あるいは各Ｘ線電気変換素子から
の電気信号毎に、多重積分回路９２から供給されている
収集データに基づいて決定し、この決定した多重積分の
回数を多重積分回路９２に設定するチャンネル制御部９
４を備えたコントローラ部９３を設けたことにより、各
種スキャン条件下で有効な高感度化を実現でき、しかも
オーバーフローを防止することができる。
【０１８７】さらに、この実施例では、各Ｘ線電気変換
素子からの電気信号をそれぞれ制御するためのチャンネ
ル制御部９４を設けたことにより、各スキャン毎にでは
なく、各投影角度毎に、あるいは各Ｘ線電気変換素子か
らの電気信号毎に、過去の収集データから多重積分の回
数を決定して、その多重積分の回数を多重積分回路９２
に設定しているので、より適切な多重積分の回数がきめ
細かく多重積分回路９２に設定できるので、各種スキャ
ン条件下でさらにより有効な高感度化を実現でき、しか
もより確実にオーバーフローを防止することができる。
【０１８８】
【発明の効果】以上詳述したようにこの発明によれば、
回路系のノイズ及びフォトンノイズの有効な低減を図る
ことができるＸ線ＣＴ装置を提供できる。また、各種ス
キャン条件下で有効な高感度化を実現でき、しかもオー
バーフローを防止することができるＸ線ＣＴ装置を提供
できる。
【図面の簡単な説明】
【図１】この発明の第１実施例のＸ線ＣＴ装置の概略の
構成を示すブロック図。
【図２】この発明の第２実施例のＸ線ＣＴ装置の概略の
構成を示すブロック図。
【図３】この発明の第３実施例のＸ線ＣＴ装置の概略の
構成を示すブロック図。
【図４】この発明の第４実施例のＸ線ＣＴ装置の概略の
構成を示すブロック図。
【図５】この発明の第５実施例のＸ線ＣＴ装置の概略の
構成を示すブロック図。
【図６】この発明の第６実施例のＸ線ＣＴ装置の概略の
構成を示すブロック図。
【図７】この発明の第７実施例のＸ線ＣＴ装置の概略の
構成を示すブロック図。
【図８】この発明の第８実施例のＸ線ＣＴ装置の概略の
構成を示すブロック図。
【図９】この発明の第９実施例のＸ線ＣＴ装置の概略の
構成を示すブロック図。
【図１０】この発明の第１０実施例のＸ線ＣＴ装置の概
略の構成を示すブロック図。
【符号の説明】
１…Ｘ線管球、 ２…Ｘ線発生制御器、 ３…機構制御部、 ４…スリット・ウェッジ、 ５…検出器、 ６，１１，２１，３１，４１，５１，６１，７１，８
１，９１…ＤＡＳ( データ収集装置 ) ７，２２，４２，６２，８２…オーバーサンプリング回
路、 ９，１３，２５，３５，４４，５４，６４，７４，８
５，９５…スキャン制御部 １２，３２，５２，７２，９２…多重積分回路、 ２３，３３，６３，７３，８３，９３…コントローラ
部、 ２４，３４…操作部、 ８４，９４…チャンネル制御部。
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (58)調査した分野(Int.Cl.7，ＤＢ名) A61B 6/00 - 6/14

Claims (13)

    (57)【特許請求の範囲】
  1. 【請求項１】 複数種のスキャン条件に基づいて被検体
    をＸ線にてスキャンし、当該被検体を透過した透過Ｘ線
    に基づいて断層像を生成するＸ線ＣＴ装置において、 前記Ｘ線を曝射するＸ線管を有するＸ線発生手段と、 前記透過Ｘ線を検出し電気信号に変換する検出手段と、 前記検出手段により得られた電気信号をサンプリングす
    るデータ収集回路と、前記複数種のスキャン条件の組み合わせに基づいて、 前
    記データ収集回路の前記サンプリングの回数を制御する
    サンプリング回数制御手段と、 を具備することを特徴とするＸ線ＣＴ装置。
  2. 【請求項２】 前記複数種のスキャン条件は、前記Ｘ線
    管の管電圧又は管電流、スライス厚、撮影領域であるこ
    とを特徴とする請求項１記載のＸ線ＣＴ装置。
  3. 【請求項３】 前記サンプリング回数制御手段は、前記
    サンプリングの回数をスキャン毎に制御することを特徴
    とする前記請求項１又は２記載のＸ線ＣＴ装置。
  4. 【請求項４】 被検体をＸ線にてスキャンし、当該被検
    体を透過した透過Ｘ線に基づいて断層像を生成するＸ線
    ＣＴ装置において、 前記Ｘ線を曝射するＸ線管を有するＸ線発生手段と、 前記透過Ｘ線を検出し電気信号に変換する複数のＸ線検
    出素子を配列して構成された検出手段と、 前記検出手段により得られた電気信号をサンプリングす
    るデータ収集回路と、 過去の収集データに基づいて、前記データ収集回路の前
    記サンプリングの回数を制御するサンプリング回数制御
    手段と、 を具備することを特徴とするＸ線ＣＴ装置。
  5. 【請求項５】 前記サンプリング回数制御手段は、各ス
    キャンにおいて、前記複数のＸ線検出素子のそれぞれに
    関する前記サンプリング回数を画一的に制御することを
    特徴とする請求項４記載のＸ線ＣＴ装置。
  6. 【請求項６】 前記サンプリング回数制御手段は、各ス
    キャンにおいて、前記複数のＸ線検出素子のそれぞれに
    関する前記サンプリング回数を個別に制御することを特
    徴とする前記請求項４記載のＸ線ＣＴ装置。
  7. 【請求項７】 複数種のスキャン条件に基づいて被検体
    をＸ線にてスキャンし、当該被検体を透過した透過Ｘ線
    に基づいて断層像を生成するＸ線ＣＴ装置において、 前記Ｘ線を曝射するＸ線管を有するＸ線発生手段と、 前記透過Ｘ線を検出し電気信号に変換する検出手段と、 前記検出手段により得られた電気信号を積分するデータ
    収集回路と、前記複数種のスキャン条件の組み合わせに基づいて、 前
    記データ収集回路の前記積分の回数を制御する積分回数
    制御手段と、 を具備することを特徴とするＸ線ＣＴ装置。
  8. 【請求項８】 前記複数種のスキャン条件は、前記Ｘ線
    管の管電圧又は管電流、スライス厚、撮影領域であるこ
    とを特徴とする請求項７記載のＸ線ＣＴ装置。
  9. 【請求項９】 前記サンプリング回数制御手段は、前記
    サンプリングの回数をスキャン毎に制御することを特徴
    とする前記請求項７又は８記載のＸ線ＣＴ装置。
  10. 【請求項１０】 被検体をＸ線にてスキャンし、当該被
    検体を透過した透過Ｘ線に基づいて断層像を生成するＸ
    線ＣＴ装置において、 前記Ｘ線を曝射するＸ線管を有するＸ線発生手段と、 前記透過Ｘ線を検出し電気信号に変換する複数のＸ線検
    出素子を配列して構成された検出手段と、 前記検出手段により得られた電気信号を積分するデータ
    収集回路と、 過去の収集データに基づいて、前記データ収集回路の前
    記積分の回数を制御する積分回数制御手段と、 を具備することを特徴とするＸ線ＣＴ装置。
  11. 【請求項１１】 前記積分回数制御手段は、各スキャン
    において、前記複数のＸ線検出素子のそれぞれに関する
    前記積分の回数を画一的に制御することを特徴とする請
    求項１０記載のＸ線ＣＴ装置。
  12. 【請求項１２】 前記積分回数制御手段は、各スキャン
    において、前記複数のＸ線検出素子のそれぞれに関する
    前記積分の回数を個別に制御することを特徴とする前記
    請求項１０記載のＸ線ＣＴ装置。
  13. 【請求項１３】 複数種のスキャン条件に基づいて被検
    体をＸ線にてスキャンし、当該被検体を透過した透過Ｘ
    線に基づいて断層像を生成するＸ線ＣＴ装置において、 前記Ｘ線を曝射するＸ線管を有するＸ線発生手段と、 前記透過Ｘ線を検出し電気信号に変換する検出手段と、 前記検出手段により得られた電気信号をサンプリングす
    る又は積分するデータ収集回路と、前記複数種のスキャン条件の組み合わせに基づいて、 前
    記データ収集回路の前記サンプリングの回数又は積分回
    数を制御する回数制御手段と、 を具備することを特徴とするＸ線ＣＴ装置。
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