JP3473626B2 - 画像表示装置 - Google Patents

Description

【発明の詳細な説明】 【０００１】 【産業上の利用分野】本発明は、画像表示装置の表示状
態を自己診断したり、高圧電流、高圧電圧や消費電流等
の特性を自己診断する場合に用いて好適である。 【０００２】 【従来の技術】図９は大型映像装置の構成図である。図
９に示すように、大型映像装置はｍ×ｎ（１≦ｍ≦９
６，１≦ｎ≦９６）のマトリックス状に並べられた発光
ユニット１００から構成されている。発光ユニット１０
０は、図１０に示すようにこの例では縦に３個、横に４
個並べられたセル１０１から構成されている。セル１０
１は、図１１に示すように通常縦に２個、横に４個のド
ット１０２から構成され、ドット１０２はＢ（Blue），
Ｒ（Red），Ｇ（Green）の各蛍光体が塗布されたエレメ
ント１０３から構成されている。大型映像装置は、各エ
レメント１０３に電子ビームを照射して発光させカラー
画像表示を行う。 【０００３】このような大型映像装置は、製造工程にお
いて各発光ユニット１００の表示状態が正常であるか否
かの試験（表示テスト）および電気特性試験を行った後
に出荷される。各発光ユニット１００の表示状態が正常
であるか否かの試験は輝度を徐々に上げてその輝度を確
認するステアステップテストの他に、カラーバーテス
ト、キャラクタ表示テスト等がある。これらの試験は、
各発光ユニット１００にテストパターン発生器を接続
し、テストパターン発生器により上述したステアステッ
プパターン、カラーパターン、キャラクタパターン等を
発生させ、このパターンを発光ユニット１００に与えて
行っていた。 【０００４】また、電気特性試験はセットを分解し測定
器を接続して測定していた。 【０００５】 【発明が解決しようとする課題】上述したように、従来
各発光ユニット１００の表示状態が正常であるか否かの
試験はテストパターン発生器を発光ユニット１００に接
続しなければならずテストパターン発生器の運搬等が煩
わしく、特に製造時ラインでエージングテストを行う際
には、全発光ユニット１００にそれぞれテストパターン
発生器を接続しなければならず、配線にも時間がかかり
問題であった。 【０００６】また大型画面として組み込まれた発光ユニ
ット１００において不良が生じた場合は、画面の状態を
目で確認する以外になく、オペレータは前面からスクリ
ーンの状態を常に監視しなければならず、オペレータに
とって大きな負担となっていた。製造ラインにおいて検
査等で各種データを測定するときにはセットを分解し測
定器を接続しなければならず、配線にも時間がかかり問
題であった。 【０００７】そこで本発明は、表示状態が正常であるか
否かの判断や電気特性の測定などを自己診断できる画像
表示装置を提供することを目的とする。 【０００８】 【課題を解決するための手段】上記課題は本発明によれ
ば、複数の表示ユニットを組み合わせて画像を表示する
画像表示装置において、それぞれの表示ユニットは、発
光部と、前記表示ユニットについての前記画像表示装置
上での位置を特定するためのアドレス情報を記憶可能に
構成されたアドレス記憶手段と、該アドレス記憶手段に
記憶されたデータと画像データに付記されたアドレス情
報とが一致するかを判別し、該アドレス記憶手段に記憶
されたデータと画像データに付記されたアドレス情報と
が一致する場合には画像データを取り込んで前記発光部
に出力するとともに、前記アドレス記憶手段に記憶され
たデータが前記画像表示装置上での位置を特定するため
に定められた所定の数値範囲以外にある数値として与え
られる所定の数値に一致する場合には当該所定の数値に
対応する画像パターンを生成して前記発光部に出力する
信号処理手段とを有して構成されることを特徴とする画
像表示装置によって解決される。 【０００９】 【００１０】 【作用】本発明によれば、表示ユニットについての画像
表示装置上での位置を特定するためのアドレス情報を記
憶可能に構成されたアドレス記憶手段が備えられ、この
アドレス記憶手段に記憶されたデータと画像データに付
記されたアドレス情報とが一致するかが信号処理手段
（以下信号処理部３という）によって判別される。この
判別結果で、該アドレス記憶手段に記憶されたデータと
画像データに付記されたアドレス情報とが一致する場合
には、この信号処理部３によって、画像データを取り込
んで発光部に出力するとともに、アドレス記憶手段に記
憶されたデータが画像表示装置上での位置を特定するた
めに定められた所定の数値範囲以外にある数値として与
えられる所定の数値に一致する場合には当該所定の数値
に対応する画像パターンを生成して発光部へ出力するよ
うになされる。例えば、図１に示すようにアドレスＳＷ
２により表示ユニットを識別あるいは表示状態の自己診
断項目をアドレスに設定し、この設定されたアドレスの
値を信号処理部３により判別し、アドレスの値に応じた
発光ユニット１００の表示状態を試験するためのテスト
信号を発生させる。信号処理部３は送受信手段としての
通信部１を介して外部と双方向に信号を送受信する。ま
た発光ユニット１００は、電気特性を測定するための高
圧電流測定回路８、高圧電圧測定回路９および消費電流
測定回路１０を備え、高圧電流、高圧電圧および消費電
流を測定し、信号処理部３がその測定結果を判断する。 【００１１】 【実施例】以下本発明の実施例を図面に基づいて説明す
る。 【００１２】図１は本発明の一実施例による大型映像装
置の発光ユニットおよび周辺装置の構成図である。図１
に示すように、発光ユニット１００にはアドレスの付加
された映像信号を受信するための通信部１、発光ユニッ
トに対して１〜９６（ＮＴＳＣ方式の大型映像装置でＭ
ａｘ８０（縦方向のドット１０２の数がＭａｘ４８０
個）、ＰＡＬ方式の場合でＭａｘ９６（縦方向のドット
１０２の数がＭａｘ５７６個））までのアドレスを付番
するための手動操作により設定可能なアドレスＳＷ２、
発光ユニット１００の表示状態を自己診断したり、電気
特性測定結果を演算処理するための信号処理部３、英数
字等のキャラクターを格納するためのＲＯＭ（Read Onl
y Memory）４、全白１００％発光ルーチン、キャラクタ
表示ルーチン、フリーランルーチン等の各種表示プログ
ラムを格納するためのメモリ、例えばＲＯＭ４、電気特
性測定データを格納するためのメモリであるＲＡＭ６、
Ａ／Ｄコンバータ７、高圧電流測定回路８、高圧電圧測
定回路９、消費電流測定回路１０、セル１０１を発光さ
せるためのセルドライブ回路１１および外部と双方向通
信をするための通信部１が内蔵されている。発光ユニッ
ト１００の外部には、通信部１と双方向通信を行い、測
定データを整理するための画像処理装置１３、画像処理
装置１３と双方向通信が可能で各測定データをオペレー
タに見やすくするためのデータ処理用のコンピュータ１
４、コンピュータ１４の周辺装置としてプリンタ１５お
よび外部記憶装置１６が設けられている。 【００１３】図２はセル１０１の構成図であり、特に図
２（ａ）は内部構成図であり、図２（ｂ）はセルの電極
構成図である。図２（ａ）に示すように、セル１０１を
構成する上下に配設された複数のドット１０２を上下に
交互に発光させるためのフィールド切り換え回路２２が
配設されている。図２（ｂ）に示すようにフィールド切
り換え回路２２は各エレメント１０３に対応して上下に
配設されたカソード２０３に接続され、フィールド切り
換え回路２２に配設されたインバータ２３により上下の
カソード２０３群には互いに反転した信号が印加され
る。従って上下に交互にＨｉｇｈとＬｏｗ信号がカソー
ド２０３に印加されるので上下のエレメント１０３を交
互に発光させることができる。各ドット１０２に対して
上下共通に、セル全体で１２個のパルス幅変調器（ＰＷ
Ｍ２１）が配設されている。ＰＷＭ２１には８ビットの
映像信号が与えられ、図２（ｂ）に示すようにそれぞれ
のエレメント１０３に対応して配されたＧ１電極２０２
にＰＷＭ変調されたＲ，Ｇ，Ｂの各映像信号が印加さ
れ、カラー映像が表示される。 【００１４】またＧ２電極２０１はアノード２００によ
り発生する電界の影響がＧ１電極２０２に及ばないよう
にするためのものである。 【００１５】信号処理部３は、通信部１で受信した映像
信号に付加されたアドレスとアドレスＳＷ２により与え
られたアドレスを比較し、一致していれば映像信号を取
り込む。ユニットのアドレスは縦方向のライン番号であ
りｍが最大９６であるので、この映像信号を取り込むた
めに使用するアドレスの値は１〜９６までである。一
方、アドレスＳＷ２では８ビットの０〜２５５までの値
が設定可能であり、０および９７〜２５５のアドレス値
が未使用であるのでこの未使用な値を発光ユニット１０
０の表示状態を自己診断のために用いた。本実施例では
この未使用のアドレス値のうち自己診断するためにアド
レスの値と自己診断との内容の関係を以下のように設定
した。 【００１６】 次に自己診断テスト内容を説明する。 （１）全白１００％で発光 セル１０１を構成するＲ，Ｇ，Ｂの各エレメント１０３
を同じ輝度で発光させる。 （２）キャラクタ表示 英数字等のキャラクタが表示されるようにセル１０１を
発光させる。 （３）フリーラン （ａ）ステアステップ 図３は輝度情報として８ビット（２５６階調）で表現さ
れる発光ユニット１００が、８ビットの各ビットに対し
て正常に動作しているか否かを確認するための輝度パタ
ーンである。図３に示すようにパターン１はエレメント
１０３は発光せず、パターン２〜パターン９までは各ス
テップ毎に２倍の値の輝度データであるので各パターン
をＰＷＭ２１に与えたとき各ステップ毎に２倍明るくエ
レメント１０３が発光するかを確認する。パターン１０
は最大輝度の輝度データである。 【００１７】（ｂ）カラーバー 発光ユニット１００全体を例えばBlue→Red→マゼンタ
→Green→シアン→イエロー→Whiteの順に発光させる。
例えば、Blueで発光させている時にあるドットがマゼン
タで発光していた場合は、そのドットが内部不良（例え
ば、ハンダブリッジなどの原因）であることが分かる。 （４）ビームブランク 図２に示したフィールド切り換え回路２２が正常に動作
しているかをセル１０１を構成する上下のドット１０２
を交互に発光させて確認する。 【００１８】次に、図４を用いて発光ユニット１００の
表示状態を自己診断する処理を説明する。 【００１９】まず、発光ユニット１００の表示状態を自
己診断するにはアドレスＳＷ２のアドレスの値を自己診
断の内容に応じて９７〜９９のいずれかの値に設定す
る。すると信号処理部３ではアドレスＳＷ２により設定
されたアドレス値を読み込み、アドレス値が９７である
か判別する（ステップ４０）。アドレス値が９７である
ときは、信号処理部３はＲＯＭ４に格納されている全白
１００％発光ルーチンを読み出し実行する。全白１００
％ルーチンでは、８ビットのテストパターン（例えば
‘ＦＦ’）を生成し、同じテストパターンを全てのセル
ドライブ回路１１に送信する。セルドライブ回路１１で
はテストパターンをレジスタ（図示せず）に記憶した
後、セルドライブ回路１１に接続されている制御ライン
（図示せず）により駆動されＰＷＭ輝度データに変換さ
れて、ＰＷＭ２１に印加される。ＰＷＭ２１ではＰＷＭ
輝度データとグリッド電極に印加し全白１００％でドッ
ト１０２を発光させる。 【００２０】アドレス値が９７でなければ、信号処理部
３はアドレス値が９８であるか判別する（ステップ４
１）。アドレス値が９８であるときは、信号処理部３は
ＲＯＭ４に格納されているキャラクタ表示ルーチンを読
み出し実行する。キャラクタ表示ルーチンではＲＯＭ４
に格納されている英数字等のキャラクタ文字を発生させ
るためのテストパターンを読み出し、テストパターンを
セルドライブ回路１１に送る。セルドライブ回路１１は
制御ラインにより駆動され、ＰＷＭ輝度データをＰＷＭ
２１に送りエレメント１０３を発光させキャラクタ文字
を表示する。 【００２１】アドレス値が９８でなければ、信号処理部
３はアドレス値が９９であるかを判別する（ステップ４
２）。アドレス値が９９であれば、信号処理部３はＲＯ
Ｍ４に格納されているフリーランルーチンを読み込み実
行する。フリーランルーチンは、まず図３に示したステ
アステップのパターン信号を作成した後、各セルドライ
ブ回路１１へパターン信号を送る。セルドライブ回路１
１はパターン信号をレジスタに格納した後、ＰＷＭ２１
に送りエレメント１０３を発光させる。この時、パター
ン信号の表す輝度が順次明るくなっているので、発光し
たエレメント１０３によりその明るさを目視により確認
する。 【００２２】次に信号処理部３はＲＯＭ４に格納されて
いるカラーバーテストルーチンを読み込み実行する。カ
ラーバーテストルーチンは、Blueで発光させるためにテ
スト信号を発生しセルドライブ回路１１にテスト信号を
送る。セルドライブ回路１１はBlueのテスト信号をセル
１０１内に配設されたＰＷＭ２１に送り、Blueのエレメ
ント１０３を発光させる。次に、同様にカラーバーテス
トルーチンはRed、マゼンタ、Green、シアンおよびWhit
eの順にそれぞれ対応するテスト信号を発生し、エレメ
ント１０３を順次発光させる。 【００２３】次にフリーランルーチンはフィールド切り
換え回路２２が正常に動作しているかを確認するため、
例えば全白１００％で発光するテスト信号と、全く発光
しないテスト信号をカソードに印加されるフィールド切
り換え信号のHighとLowまたはLowとHighに同期するよう
に作成し、セルドライブ回路１１に送る。セルドライブ
回路１１は上下共通のＰＷＭ２１にテスト信号を送り、
エレメント１０３を発光させる。フィールド切り換え回
路２２が正常に動作していれば、セル１０１内に配設さ
れたエレメント１０３のうち上または下のいずれか一方
が発光するのでそれを確認する。 【００２４】アドレスＳＷ２によって設定された値が９
７〜９９のいずれの値と異なる場合は、通信部１から８
ビットの映像信号に付加されたアドレスとアドレスＳＷ
２によって設定された値が一致すれば、映像信号を信号
処置部３からセルドライブ回路１１を経てＰＷＭ２１に
送り、エレメント１０３を発光させ映像信号を表示す
る。 【００２５】上述した発光ユニット１００の表示状態を
自己診断するテスト信号はアドレスＳＷ２によりアドレ
ス値の変更がない限り繰り返し生成されるので長時間テ
スト（例えばエージング）を好適に行うことができる。 【００２６】次に、高圧電流、高圧電圧および消費電流
等の電気特性の自己診断について説明する。 【００２７】図５は高圧電流を測定するための高圧電流
測定回路８の回路図である。図５に示すように高電圧電
源回路５０がその電圧を一定に保つために後述する定電
圧回路５１に接続されている。定電圧回路５１はセル１
０１のアノードに接続されている。高電圧電源回路５０
の一端子は電圧を検出するための電圧検出抵抗Ｒ１およ
びボルテージホロワ（ＯＰ１）の＋端子に接続されてい
る。高圧電流は、電圧検出抵抗Ｒ１によって電圧に変換
され、ボルテージホロワＯＰ１で受けてインピーダンス
変換される。電圧検出抵抗Ｒ１から得られる検出電圧は
負電圧であるので反転増幅器（ＯＰ２）により、増幅度
Ｇ＝Ｒ３／Ｒ２で反転増幅する。最後に２次ローパスフ
ィルタ（ＯＰ３）によりリップル分をカットしＡ／Ｄコ
ンバータ７への入力信号とする。 【００２８】図６は高圧電圧測定するための回路図であ
る。図６に示すように、高電源電圧回路５０はその電圧
を一定に保つために定電圧回路５１に接続されている。
６１は電圧制御用の大容量トランジスタである電圧制御
トランジスタ、６２は電圧制御ドライブトランジスタ、
６３は負荷電流が増大した場合に導通し、電圧制御ドラ
イブトランジスタ６２のベース電極を下げ、電圧制御ト
ランジスタ６１をカットオフし、電圧制御トランジスタ
６１の破壊を防止するための保護トランジスタである。
６４は誤差検出トランジスタで、出力電圧が抵抗Ｒ１１
およびＲ１２で分圧されてそのベースに加えられてい
る。一方誤差検出トランジスタ６４のエミッタには定電
圧のダイオード６５が接続され、抵抗Ｒ１３を通して出
力電圧が加えれるので常に一定の電圧が保たれている。
このため誤差検出トランジスタ６４はベース電圧の変化
をコレクタ電圧の変化に変換し、抵抗Ｒ１４およびＲ１
５を流れるコレクタ電流を変化させ、電圧制御ドライブ
トランジスタ６２のベース電圧を変化させて出力電圧を
一定にしている。 【００２９】従って、出力電圧が上昇すると抵抗Ｒ１１
およびＲ１２を流れる電流が増大するので抵抗Ｒ１１と
Ｒ１２の接続部では出力電圧の上昇した分、電圧が上が
るので、抵抗Ｒ１１とＲ１２を定電源回路５１と兼用
し、この抵抗Ｒ１１とＲ１２を高圧電圧測定回路９とし
てＲ１１とＲ１２の接続点とＡ／Ｄコンバータ７とを接
続することにより高圧電圧を測定することができる。 【００３０】図７は消費電流測定回路１０の回路図であ
る。図７に示すように交流電源は、両波整流するための
ブリッジ整流回路５２の端子Ａ，Ｃに接続される。ブリ
ッジ整流回路５２の端子Ｂはコンデンサに接続され、出
力が平滑化される。平滑された出力はスイッチングレギ
ュータ回路（図示せず）に入力される。ブリッジ整流回
路５２のＧＮＤ側端子Ｄは電圧検出抵抗Ｒに接続されて
いる。スイッチングレギュレータ回路の消費電流は電圧
検出抵抗Ｒによって検出される。これをボルテージホロ
ワ（ＯＰ１１）で受けてインピーダンス変換した後、反
転増幅器（ＯＰ１２）で反転増幅する。最後に２次ロー
パスフィルタ（ＯＰ１３）でリップル分をカットしＡ／
Ｄコンバータ７の入力信号とする。 【００３１】次に、図８を用いて高圧電流、高圧電圧お
よび消費電池等の電気特性を自己診断する処理を説明す
る。 【００３２】図８に示すように、信号処理部３を起動す
るシステム電源をオンにする（ステップ３０）。次に信
号処理部３はセル１０１を点灯するために、８ビットの
輝度データを作成し、セルドライブ回路１１に輝度デー
タを送る。セルドライブ回路１１からＰＷＭ２１に輝度
データが送られ、所定のセル１０１が点灯する。そして
高圧電流測定回路８により所定のセル１０１が点灯した
状態で、高圧電流を測定する（ステップ３１）。測定さ
れた高圧電流はＡ／Ｄコンバータ７により所定ビット
（例えば８ビット）のディジタル信号に変換され、信号
処理部３に入力される。信号処理部３はディジタル信号
に変換された高圧電流値が正常であるか否かを判断し、
この判断とともに高圧電流値をＲＡＭ６に格納する。 【００３３】次に信号処理部３は点灯したセル１０１を
消灯するための信号をセルドライブ回路１１に送り消灯
し、未測定の次のセル１０１を点灯し高圧電流の測定
（ステップ３１）および測定データの格納（ステップ３
２）を行う。これらステップ３１およびステップ３２を
発光ユニット１００内の全セル１０１に対して順次行
う。 【００３４】次に信号処理部３は発光ユニット１００内
のセル１０１を同時に全て点灯するための信号をセルド
ライブ回路１１に送り、全てのセル１０１を同時に点灯
させる。次に全てのセル１０１が点灯した状態で高圧電
流測定回路８により高圧電流を測定する（ステップ３
３）。 【００３５】次にステップ３３で測定した高圧電流がＡ
／Ｄコンバータ７でディジタル信号に変換され、信号処
理部３により演算処理され、ＲＡＭ６に格納される（ス
テップ３４）。 【００３６】次に高圧電圧測定回路９により高電圧電源
回路５０から入力される高電圧の電圧値を測定する（ス
テップ３５）。測定された高圧電圧はＡ／Ｄコンバータ
７によりディジタル信号に変換された後、信号処理部３
に入力される。信号処理部３では入力されたディジタル
信号を演算処理し、高電圧電源回路５０から入力される
電圧が正常であるか否かを判断し、高電圧電源回路５０
から入力される電圧が正常であるか否かを判断し、この
判断結果とともに高電圧の電圧値をＲＡＭ６に格納する
（ステップ３６）。 【００３７】次に消費電流測定回路１０により、各セル
１０１が点灯した状態および全セルが点灯した状態でス
イッチングレギュレータの消費電流を測定する（ステッ
プ３７）。次にＡ／Ｄコンバータ７は、測定した消費電
流をディジタル信号に変換し、信号処理部３へ入力す
る。信号処理部３はディジタル信号を演算処理し、測定
した消費電流が正常であるか否かを判断し、その判断結
果と消費電流をＲＡＭ６に格納する（ステップ３８）。 【００３８】次に通常の画像データの表示を行う（ステ
ップ３９）。信号処理部３は、画像処理装置３からＲＡ
Ｍ６に格納されている測定データの送出のリクエストが
あるかどうかを判別する（ステップ４０）。測定データ
の送出のリクエストがなければステップ３９へ行く。測
定データの送出のリクエストがあれば、信号処理部３は
ＲＡＭ６に格納されている測定データを読み込み、通信
部１を介して画像処理装置１３に伝送する。画像処理装
置１３はこれらの測定データを各発光ユニット１００毎
に整理し、双方向接続されたコンピュータ１４に伝送す
る。コンピュータ１４は各種データをオペレータに見や
すく表示し、またプリンタ１５にプリントアウトする。
データは外部記憶測定１６に保存される（ステップ４
１）。次にステップ３９へ行く。 【００３９】上述した測定データにより以下の不良を判
別することができる。 （１）ステップ３１で高圧電流が出ない。リーク、高圧
ヒューズ切れ等による不良のためセル１０１が点灯しな
い。 （２）ステップ３１またはステップ３３で高圧電流が流
れすぎる。セル１０１の劣化により高圧電流の増加が原
因である。 （３）ステップ３５で高圧電圧が出ない。高電圧電源回
路５０の不良が原因である。 【００４０】本実施例では、電気特性の自己診断として
高圧電流、高圧電圧および消費電流の測定を行ったが、
これら以外にセル１０１に印加するバイアス電源および
ヒータ電源の電圧を分圧抵抗やシャント抵抗を挿入する
ことにより測定することも可能である。また、本実施例
によれば、発光ユニット単体でテストパターンを表示す
ることができるのでテストパターン発生器を接続するこ
となく容易に検査することができる。特に製造ライン時
多数のユニットを同時にエージングすることができ検査
のスループットを向上させることができる。また発光ユ
ニット単体で高圧電流、高圧電圧および消費電流を測定
することができるので、セットを分解せずに容易に各種
の測定ができ検査のスループットを向上させることがで
きる。コンピュータにより測定データを一括管理してい
るので全ユニットの表示動作状態を把握することができ
る。また様々な不良に対する原因分析が容易となり、不
良に対して迅速に対応することができる。 【００４１】 【発明の効果】以上説明したように本発明によれば、表
示ユニットについての画像表示装置上での位置を特定す
るためのアドレス情報と、画像データに付記されたアド
レス情報とが一致するかを判別し、この両者のアドレス
情報が一致する場合には画像データを取り込んで発光部
に出力するとともに、アドレス記憶手段に記憶されたデ
ータが画像表示装置上での位置を特定するために定めら
れた所定の数値範囲以外にある数値として与えられる所
定の数値に一致する場合には当該所定の数値に対応する
画像パターンを生成して発光部に出力する信号処理手段
を備えるものである。この構成によって、それぞれの表
示ユニットの画像表示装置上での位置を特定するための
アドレス情報とテスト用の画像データを発生させる指令
情報とを共通に単一の記憶手段（アドレス記憶手段）に
記憶することができる。従って、表示ユニットの構成を
簡略化して低コスト化等を図ることができる。

【図面の簡単な説明】 【図１】実施例による発光ユニットおよび周辺装置構成
図である。 【図２】セル１０１内部構成図である。 【図３】ステアステップテストパターンである。 【図４】発光ユニットの表示状態の自己診断処理フロー
である。 【図５】高圧電流測定回路８の接続を示す図である。 【図６】高圧電圧測定回路９の接続を示す図である。 【図７】消費電流測定回路１０の接続を示す図である。 【図８】電気特性測定処理フローを示す図である。 【図９】大型映像装置の構成図である。 【図１０】発光ユニット１００の構成図である。 【図１１】セル１０１の構成図である。 【符号の説明】 １ 通信部 ２ アドレスＳＷ ３ 信号処理部 ４ ＲＯＭ ６ ＲＡＭ ７ Ａ／Ｄコンバータ ８ 高圧電流測定回路 ９ 高圧電圧測定回路 １０ 消費電流測定回路 １１ セルドライブ回路 １３ 画像処理装置 １４ コンピュータ １５ プリンタ ２１ ＰＷＭ ２２ フィールド切り換え回路 ２３ インバータ ５０ 高電圧電源回路 ５１ 定電圧回路 ５２ ブリッジ整流回路 ６１ 電圧制御トランジスタ ６２ 電圧制御ドライブトランジスタ ６３ 保護トランジスタ ６４ 誤差検出トランジスタ ６５ ダイオード １００ 発光ユニット １０１ セル １０２ ドット １０３ エレメント

フロントページの続き (58)調査した分野(Int.Cl.⁷，ＤＢ名) H04N 17/00 - 17/06 G09F 9/00 - 9/00 366 G09G 3/00 - 3/38

Claims (1)

1. (57)【特許請求の範囲】 【請求項１】 複数の表示ユニットを組み合わせて画像
   を表示する画像表示装置において、 それぞれの表示ユニットは、発光部と、 前記表示ユニットについての前記画像表示装置上での位
   置を特定するためのアドレス情報を記憶可能に構成され
   たアドレス記憶手段と、 該アドレス記憶手段に記憶されたデータと画像データに
   付記されたアドレス情報とが一致するかを判別し、該ア
   ドレス記憶手段に記憶されたデータと画像データに付記
   されたアドレス情報とが一致する場合には画像データを
   取り込んで前記発光部に出力するとともに、前記アドレ
   ス記憶手段に記憶されたデータが前記画像表示装置上で
   の位置を特定するために定められた所定の数値範囲以外
   にある数値として与えられる所定の数値に一致する場合
   には当該所定の数値に対応する画像パターンを生成して
   前記発光部に出力する信号処理手段とを有して構成され
   ることを特徴とする画像表示装置。