JP3966068B2 - レーザ蒸着法による酸化物系熱電変換薄膜の製造方法 - Google Patents
レーザ蒸着法による酸化物系熱電変換薄膜の製造方法 Download PDFInfo
- Publication number
- JP3966068B2 JP3966068B2 JP2002130297A JP2002130297A JP3966068B2 JP 3966068 B2 JP3966068 B2 JP 3966068B2 JP 2002130297 A JP2002130297 A JP 2002130297A JP 2002130297 A JP2002130297 A JP 2002130297A JP 3966068 B2 JP3966068 B2 JP 3966068B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- thin film
- target
- oxide
- thermoelectric conversion
- substrate
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Fee Related
Links
Images
Landscapes
- Physical Vapour Deposition (AREA)
Description
【発明の属する技術分野】
本発明はレーザ蒸着法による酸化物系熱電変換薄膜の製造方法に関し、特に結晶軸の配向に関する。
【0002】
【従来の技術】
熱エネルギから電気エネルギへの変換、あるいはその逆課程が可能な熱電変換材料は、無稼働部、無排出、小型軽量、高信頼性等の優れた特徴を有していることから、様々な分野において使用されている。ペルチェ効果を利用した熱電冷却は、温度制御が容易であることから幅広い分野において実用化されているが、ゼーベック効果を利用した熱電発電は、僻地での使用などその用途が限られてきた。しかしながら、近年、石油資源などの産出量が2010年〜2020年頃にピークを迎えると予想され、エネルギの安定供給、経済成長及び環境保全を実現しながらも石油問題の早急な解決に迫られており、これまで用いられていなかった廃熱エネルギの効率利用が必要不可欠となっている。現在、生活において用いられているエネルギのほとんどが廃熱として放出されており、熱電変換材料でこれらを回収して再利用する技術は熱エネルギ変換システムとして極めて有望視されている。
【0003】
現在、実用化されている熱電変換材料であるBi2Te3、PbTeなどの金属間化合物は、有毒な元素を含有していることから製造・使用に問題がある。さらに、高温での使用を考えた場合、構成成分の気化蒸発とそれによる汚染、酸化物層の生成などによる熱電変換効率の低下が生じ、使用可能な温度に限界がある。そこで、熱電変換の広範な使用を目指すには、低コストで高温においても安定的に使用が可能である環境負荷の少ない材料が求められている。
【0004】
このような背景から、高温においても安定に存在できる酸化物系熱電材料の利用が注目されている。多くの酸化物系材料は、一般に高温大気中において安定しており、毒性も低く、製造も容易なため耐熱材料などの様々な分野で利用されている。酸化物系材料はイオン性が大きく、電子はイオン上に局在する傾向が強い。さらに、原子間の軌道の重なりが小さいために、電子性キャリアの移動度は一般に小さいとされ、従来の熱電理論では熱電材料に向いていないとされていた。しかしながら、ここ数年で酸化物系の新材料の性能は層状構造や強相関系などをキーワードとして急速に向上しており、既存材料と同程度以上の性能が得られている系もある。また、結晶構造の対応性や元素置換の容易さ、低次元構造による熱電性能の向上なども期待されている。
【0005】
酸化物系の新素材としては(Ca,Co,O)、(Bi,Sr,Ca,Co,O)、(Na,Co,O)などのCo元素を含む混合組成で構成される材料が確認されている。しかし、このような酸化物系熱電変換材料は、高い性能を有するにも関わらず応用を考えた際の素子化が困難である問題はある。その理由の1つとして、層状構造に起因する異方的な電気抵抗率を持つため、バルク体では性能が一桁程度低下するからである。したがって、結晶の方向を揃えることが、酸化物系熱電変換材料の応用に向けた重要な課題となっている。
【0006】
【発明が解決しようとする課題】
このように、酸化物系熱電変換材料を用いる場合、その結晶方位を揃えることが要求される。一般に、熱電変換材料の性能はゼーベック係数S、抵抗率ρ、熱伝導率κを用いて、Z=S2/ρκで表され、この値の大きいものが望まれる。例えばCo系層状酸化物は、REBa2Cu3O6+ δ(RE:希土類元素)超伝導体と同様に、層状構造に起因する物理的異方性を有しているため、Zに含まれる抵抗率などが結晶軸方向などにより大きく異なり、Zを向上させるには結晶軸を配向させることが必要となる。
【0007】
酸化物系薄膜を製造する方法の1つにレーザ蒸着法が知られている。レーザ蒸着法は、減圧下でターゲットに高エネルギのレーザ光を照射し、ターゲット成分で構成される蒸発物を発生させて基板上に薄膜を成長させる方法である。成膜時の基板温度、雰囲気、圧力、レーザ光のエネルギ密度、周波数など多くのパラメータを制御することが可能であり、薄膜組成比の制御は容易で成膜速度が速いなどの利点がある。具体的には、雰囲気制御した内部圧力が調整可能な真空チャンバ内に基板とターゲットをそれぞれの面を平行にして配置し、チャンバ外部に配置したレーザ装置により発振された高エネルギのパスルレーザを光学手段により誘導し、ターゲットに照射する。レーザ光の照射された部分がレーザエネルギにより励起され、ターゲットを構成する粒子が飛び出し紡錘状の発光状態であるプルームを形成し、構成粒子が基板に到達することで薄膜が形成される。
【0008】
しかしながら、プルームの頂点を中心とした狭い範囲の薄膜しか得られないため、必要な面積を有する薄膜を形成することが困難である。すなわち、基板とターゲットをそれぞれの面が平行になるように配置する従来方法では、チャンバや光学系の大幅な改造が必要とされ、特に酸化物系熱電変換材料をレーザ蒸着法で成長させた場合、プルームの広がる範囲が非常に狭くなるため広い面積の薄膜形成が困難となる問題がある。
【0009】
一方、特開平6−271394号公報に開示されるように、酸化物系超伝導薄膜をレーザ蒸着法により成膜する際に、ターゲットがレーザ照射面をその底面に対して傾斜した形状に形成し、このように傾斜面を有するターゲットを自転させてレーザ光を照射する技術も提案されている。ターゲットに傾斜面を形成し、プルームに歳差運動を生じさせることで大きな面積の薄膜を得ることが可能であるが、このような技術を酸化物系熱電変換材料にそのまま適用しても、結晶方向を揃えることは困難であり、熱電変換特性に優れた薄膜を得ることはできない。
【0010】
本発明は、上記従来技術の有する課題に鑑みなされたものであり、その目的は、広い面積を有し、かつ、結晶方向が揃った熱電変換薄膜を製造することができる方法を提供することにある。
【0011】
【課題を解決するための手段】
上記目的を達成するために、本発明は、レーザ光をチャンバ内に配置されたターゲットに照射し、前記ターゲットの構成粒子を蒸発せしめることで、前記ターゲットに対向配置された基板上に酸化物系熱電変換薄膜を形成する方法であって、前記ターゲットを前記基板面に対して所定角度だけ傾斜させ、かつ、前記ターゲットをプルームが円運動を行うように回転させて前記レーザ光を照射し、前記基板温度を680度以上720度以下に調整し、前記チャンバ内の酸素分圧を0.8Torr以上1.0Torr以下に調整し、前記酸化物系熱電変換薄膜の結晶方向を少なくとも一方向に揃えることを特徴とする。
【0012】
ここで、前記酸化物系熱電変換薄膜は、Coを含む膜とすることができる。
【0013】
また、前記酸化物系熱電変換薄膜は、(Ca,Co,O)、(Bi,Sr,Ca,Co,O)、(Na,Co,O)の群から選択された少なくとも一つ以上を含むものとすることができる。
【0014】
また、前記酸化物系熱電変換薄膜は、(Ca,Al,Co,O)、(Zn,Al,O)、(Zn,Gd,O)、(Zn,In,O)の群から選択された少なくとも一つ以上を含むものとすることができる。
【0015】
このように、本発明ではターゲットを傾斜させることでプルームに円運動(歳差運動)を起こさせ、広い面積で均一な膜を生成する。そして、基板温度と酸素分圧を調整することで、酸化物系薄膜の結晶方向を揃えて熱電特性の向上を図るものである。
【0016】
【発明の実施の形態】
以下、図面に基づき本発明の実施形態について説明する。
【0017】
図1には、本実施形態に係るレーザ蒸着装置の構成が示されている。真空チャンバ8内にターゲットホルダ5が配置され、ターゲットホルダ5は中心軸周りに回転自在に支持される。ターゲットホルダ5には酸化物系熱電材料のターゲット4が載置されるが、本実施形態においてはターゲット4とターゲットホルダ5との間の一部にステンレス板等の傾斜板6が設けられ、これによりターゲット4に傾斜角を形成している。ターゲット4の傾斜角は傾斜板6の厚さにより調整される。
【0018】
一方、ターゲット4に対向するように基板1が配置され、図示しないヒータにより基板1を所望の温度に制御する。チャンバ8内にはガス導入管9が設けられ、酸素ガスなどの雰囲気ガスが真空チャンバ8内に導入される。
【0019】
このような装置構成において、基板1の温度及び酸素分圧を所定の範囲に制御しつつ外部からレーザ光7をターゲット4に向けて照射する。ターゲット4はターゲットホルダ5の回転に伴い自転し、ターゲット4が傾いていることからレーザ光7により生じたプルーム3は円運動(歳差運動)を行いつつ、基板1上に酸化物系熱電変換薄膜2が形成される。ターゲット4に傾斜角を形成することで、従来技術と同様に基板1上に広範囲に渡って均一な酸化物系熱電変換薄膜2を形成することが可能となる。さらに、本実施形態においては基板1の温度及び酸素分圧を所定の範囲に調整するため、酸化物系熱電変換薄膜2の結晶方向が揃い、熱電変換特性を向上させることができる。本実施形態における基板1の温度範囲は具体的には680℃以上720℃以下の範囲であり、酸素分圧は0.8Torr以上1.0Torr以下の範囲である。以下、実施例を用いてより詳細に説明する。
【0020】
【実施例】
(比較例)
図1に示されたレーザ蒸着装置において、ステンレスの傾斜板6を除去し、ターゲット4を傾斜させずに基板1に対向配置させた。ターゲット4には、直径20mm、厚さ10mmの円板状のCa3Co4O9組成焼結体を使用し、基板1には25mm×10mm、厚さ0.5mmのMgO単結晶基板を使用した。基板1の表面温度は680℃、酸素分圧は1.0Torr、基板1とターゲット4の間の距離は50mm、レーザ光の照射エネルギは1J/cm2、レーザ周波数10Hzとした。ガス導入管9から高純度酸素ガスを導入し、真空排気ポンプのコンダクタ弁を調整して真空チャンバ8内の圧力を1.0Torrに調整した。この状態でレーザ光7をターゲット4に照射し、基板1上に膜厚300nmのCa3Co4O9薄膜2を形成した。
【0021】
得られたCa3Co4O9薄膜2について、ICP発光分析法による膜厚評価を行ったところ、プルーム中心から離れるにつれ膜厚が薄くなることが確認された。
【0022】
図2には、比較例(傾斜角0℃)における基板中心からの距離と膜厚との関係が示されている。基板中心から離れるほど膜厚は薄くなり、ターゲット4に傾斜角が形成されていない場合、広い面積に渡って均一な膜厚を形成することができないことが確認された。
【0023】
(実施例1)
図1に示されたレーザ蒸着装置において、ターゲット4とターゲットホルダ5との間にステンレスの傾斜板6を挿入し、ターゲット4の傾斜角を6度及び10度と2段階に変化させてCa3Co4O9薄膜2を形成した。傾斜角以外の成膜条件は比較例と同一である。得られたCa3Co4O9薄膜2について、ICP発光分析法による膜厚評価を行ったところ、図2に示されるような結果が得られた。傾斜角6度及び10度の場合のいずれにおいても、比較例に対して膜厚の均一性が向上していることが確認される。なお、傾斜角6度の場合よりも10度の方がより均一であるが、あまりに傾斜させると逆に均一性が損なわれることになる。(Bi,Sr,Ca,Co,O)、(Na,Co,O)組成膜においても、同様に膜厚の検討を行ったが、傾斜角を6度及び10度とすることで膜厚の均一性が向上していることが確認された。
【0024】
(実施例2)
実施例1と同様にターゲット4とターゲットホルダ5との間にステンレスの傾斜板6を挿入してターゲット4に傾斜(傾斜角10度)を形成し、Ca3Co4O9薄膜2の作成を行った。但し、基板1の表面温度を600℃〜760℃まで20℃毎に変化させて成膜した。ガス導入管9から高純度酸素ガスを導入し、真空排気ポンプのコンダクタンス弁を調整して、真空チャンバ8内の圧力を1.0Torrに調整した。この状態でレーザ光7をターゲット4に照射し、基板1上に膜厚300nmのCa3Co4O9薄膜2を形成した。得られた膜をX線回折装置で観測した。その結果、680℃以上720℃以下の範囲でX線回折結果からc軸方向に結晶が揃い、かつ膜厚の均一性が向上した薄膜が得られていることが確認された。
【0025】
(実施例3)
実施例2と同様にステンレスの傾斜板6をターゲット4とターゲットホルダ5との間に挿入してターゲット4に傾斜(傾斜角10度)を形成し、Ca3Co4O9薄膜2を形成した。基板1の温度を680℃に固定し、成膜時の酸素分圧を0.2Torrから1.2Torrまで変化させて成膜した。得られた膜をX線回折装置で観測した。その結果、0.8Torr以上1.0Torr以下の範囲でX線回折結果からc軸方向に結晶が揃い、かつ膜厚の均一性が向上した薄膜が得られていることが確認された。
【0026】
(実施例4)
上記の比較例及び実施例1〜3で作成したCa3Co4O9薄膜2の抵抗率及びゼーベック係数を評価し、性能指数ZTを求めた。実施例1の傾斜角度6℃及び10℃で成膜したCa3Co4O9薄膜2のZTはそれぞれ0.12及び0.13であった。一方、比較例で作成したCa3Co4O9薄膜2のZTは0.05であった。実施例2で作成した薄膜は、600℃〜680℃の範囲及び720℃〜760℃の範囲では結晶構造が得られず、ZTが低すぎて測定不可能であった。さらに、実施例3で作成した薄膜では、酸素分圧0.2Torr〜0.8Torrの範囲で結晶構造が得られておらず、ZTが低すぎて測定不可能であった。
【0027】
以上の実施例より、ターゲット4を傾斜させることで広い面積で膜厚を均一化でき、さらに基板温度を680℃〜720℃の範囲とし、酸素分圧を0.8Torr〜1.0Torrの範囲に設定することで、結晶性に優れた酸化物系熱電変換薄膜が得られることが確認できた。
【0028】
【発明の効果】
以上説明したように、本発明の製造方法によれば、大面積かつ結晶方向の揃った酸化物系熱電変換薄膜を得ることができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】 本実施形態に係るレーザ蒸着装置の構成図である。
【図2】 実施形態における膜厚分布を示すグラフ図である。
【符号の説明】
1 基板、2 酸化物系熱電変換薄膜、3 プルーム、4 ターゲット、5 ターゲットホルダ、6 傾斜板、7 レーザ光、8 チャンバ、9 ガス導入管。
Claims (4)
- レーザ光をチャンバ内に配置されたターゲットに照射し、前記ターゲットの構成粒子を蒸発せしめることで、前記ターゲットに対向配置された基板上に酸化物系熱電変換薄膜を形成する方法であって、
前記ターゲットを前記基板面に対して所定角度だけ傾斜させ、かつ、前記ターゲットをプルームが円運動を行うように回転させて前記レーザ光を照射し、
前記基板温度を680度以上720度以下に調整し、
前記チャンバ内の酸素分圧を0.8Torr以上1.0Torr以下に調整し、
前記酸化物系熱電変換薄膜の結晶方向を少なくとも一方向に揃えることを特徴とする製造方法。 - 請求項1記載の方法において、
前記酸化物系熱電変換薄膜は、Coを含むことを特徴とする製造方法。 - 請求項1記載の方法において、
前記酸化物系熱電変換薄膜は、(Ca,Co,O)、(Bi,Sr,Ca,Co,O)、(Na,Co,O)の群から選択された少なくとも一つ以上を含むことを特徴とする製造方法。 - 請求項1記載の方法において、
前記酸化物系熱電変換薄膜は、(Ca,Al,Co,O)、(Zn,Al,O)、(Zn,Gd,O)、(Zn,In,O)の群から選択された少なくとも一つ以上を含むことを特徴とする製造方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2002130297A JP3966068B2 (ja) | 2002-05-02 | 2002-05-02 | レーザ蒸着法による酸化物系熱電変換薄膜の製造方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2002130297A JP3966068B2 (ja) | 2002-05-02 | 2002-05-02 | レーザ蒸着法による酸化物系熱電変換薄膜の製造方法 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JP2003324220A JP2003324220A (ja) | 2003-11-14 |
| JP3966068B2 true JP3966068B2 (ja) | 2007-08-29 |
Family
ID=29543405
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2002130297A Expired - Fee Related JP3966068B2 (ja) | 2002-05-02 | 2002-05-02 | レーザ蒸着法による酸化物系熱電変換薄膜の製造方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP3966068B2 (ja) |
Families Citing this family (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO2005093864A1 (ja) * | 2004-03-25 | 2005-10-06 | National Institute Of Advanced Industrial Science And Technology | 熱電変換素子及び熱電変換モジュール |
| JP2007258200A (ja) * | 2006-03-20 | 2007-10-04 | Univ Nagoya | 熱電変換材料及びそれを用いた熱電変換膜 |
-
2002
- 2002-05-02 JP JP2002130297A patent/JP3966068B2/ja not_active Expired - Fee Related
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JP2003324220A (ja) | 2003-11-14 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| Makala et al. | Pulsed laser deposition of Bi 2 Te 3-based thermoelectric thin films | |
| KR910007382B1 (ko) | 초전도 재료 및 초전도 박막의 제조방법 | |
| JP2000026119A (ja) | 透明導電性酸化物薄膜を有する物品及びその製造方法 | |
| Rao | Pulsed laser deposition—Ablation mechanism and applications | |
| Khumtong et al. | Microstructure and electrical properties of antimony telluride thin films deposited by RF magnetron sputtering on flexible substrate using different sputtering pressures | |
| JP2001089846A (ja) | 低抵抗ito薄膜及びその製造方法 | |
| Caylor et al. | Pulsed laser deposition of skutterudite thin films | |
| Khamlich et al. | Morphological and crystallographic properties of rare earth oxides coatings deposited by double dual beam-PLD | |
| JP3966068B2 (ja) | レーザ蒸着法による酸化物系熱電変換薄膜の製造方法 | |
| EP0416545B1 (en) | Laminated film and method for producing the same | |
| WO2004084321A1 (ja) | 薄膜状熱電変換材料及びその形成方法 | |
| Kuppusami et al. | Processing and properties of thin films of high critical temperature superconductors | |
| Burmester et al. | Crystalline growth of cubic (Eu, Nd): Y2O3 thin films on α-Al2O3 by pulsed laser deposition | |
| JPH01177367A (ja) | レーザ光または強光を用いた成膜装置 | |
| Oszwaldowski et al. | Apparatus for pulsed laser deposition of semiconductor thin films | |
| JPH06219893A (ja) | 蒸着薄膜の作製法 | |
| JPH07116596B2 (ja) | 薄膜形成方法、及びその装置 | |
| Oron et al. | Controlled electron beam co-deposition of copper-nickel films | |
| Weber | Ion-beam-assisted deposition of textured magnesium oxide thin films for coated conductors | |
| Sriporaya et al. | Influence of Annealing Atmospheres on the Structural and Thermoelectric Characteristics of Sb2Te3 Thin Film | |
| Ganapathy Subramanian | Bi-Sr-Ca-Cu-O thin films grown by flash evaporation and pulsed laser deposition | |
| Bäuerle | Thin-Film Formation by Pulsed-Laser Deposition and Laser-Induced Evaporation | |
| Caylor et al. | Growth and properties of multilayered skutterudite thin films | |
| JPH05170448A (ja) | セラミックス薄膜の製造方法 | |
| Thoutam | Fabrication and characterization of Bi-2212 with applications to high temperature superconductors |
Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20041224 |
|
| A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20070425 |
|
| TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
| A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20070508 |
|
| A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20070521 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20100608 Year of fee payment: 3 |
|
| LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |