JP4032603B2

JP4032603B2 - ３次元計測装置

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Publication number: JP4032603B2
Application number: JP2000097241A
Authority: JP
Inventors: 計弥清井; 克敏鶴谷
Original assignee: Konica Minolta Opto Inc
Current assignee: Konica Minolta Opto Inc
Priority date: 2000-03-31
Filing date: 2000-03-31
Publication date: 2008-01-16
Anticipated expiration: 2020-03-31
Also published as: JP2001280916A; US20020036779A1; US6509973B2

Description

【０００１】
【発明の属する技術分野】
本発明は、物体にスリット光などの光を照射して物体形状を非接触で計測する３次元計測装置に関し、特に、物体の３次元計測のための計測データと物体の２次元画像データとの両方のデータを得るように改良された３次元計測装置に関する。
【０００２】
【従来の技術】
レンジファインダなどと呼称される非接触型の３次元計測装置は、接触型に比べて高速の計測が可能であることから、ＣＧシステムやＣＡＤシステムヘのデータ入力、身体計測、ロボットの視覚認識などに利用されている。
【０００３】
レンジファインダの中でも、特定の検出光を対象物に照射してその反射光を受光し、三角測量に基づいて計測を行う方法がある。半導体レーザなどの光源から対象物（被写体）に投影してできる輝きを異なった角度からカメラでとらえ、光源とカメラと輝きの位置を結んで三角形をつくり、３次元位置を求める方式である。
【０００４】
この方式として、スポット光を投影し対象物を光学的に２次元走査することで対象物の３次元画像を得るスポット光投影法、およびスリット光を投影し対象物を光学的に１次元走査するスリット光投影法（光切断法ともいう）が知られている。スポット光投影法では、受光面上に断面が点状のスポット像が得られ、スリット光投影法では、断面が直線状のスリット像が得られる。３次元画像は、対象物上の複数の部位の３次元位置を示す画素の集合である。
【０００５】
図２６はスリット光投影法の概要を示す図、図２７はスリット光投影法による計測の原理を説明するための図である。
計測の対象物である物体Ｑに断面が細い帯状の計測スリット光Ｕを照射し、その反射光を例えば２次元受光素子の撮像面Ｓに入射させる〔図２６（ａ）〕。物体Ｑの照射部分が平坦であれば、撮影像（スリット画像）は直線になる〔図２６（ｂ）〕。照射部分に凹凸があれば、直線が曲がったり階段状になったりする〔図２６（ｃ）〕。つまり、計測装置と物体Ｑとの距離の大小が撮像面Ｓにおける反射光の入射位置に反映する〔図２６（ｄ）〕。計測スリット光Ｕをその幅方向に偏向することにより、受光側から見える範囲の物体表面を走査して３次元位置をサンプリングすることができる。サンプリング点数はイメージセンサの画素数に依存する。
【０００６】
図２７において、投光の起点Ａと受光系の撮像面Ｓとを結ぶ基線ＡＳが受光軸と垂直になるように、投光系と受光系とが配置されている。受光軸は撮像面Ｓに対して垂直であり、受光軸と撮像面Ｓとの交点Ｓ０を３次元直交座標系の原点とする。受光軸がＺ軸、基線ＡＳがＹ軸、スリット光の長さ方向がＸ軸である。
【０００７】
受光レンズの前側主点Ｈと後側主点Ｈ’との主点間距離をＨＨ’、点Ｓ０から受光レンズの後側主点Ｈ’までの距離をｂとする。
なお、距離ｂは、いわゆる像距離のことであり、有限遠の対象物の像が撮像面Ｓに結像したときのレンズの後側主点Ｈ’から撮像面Ｓまでの距離である。像距離ｂは、受光レンズの焦点距離とピント調整のためのレンズ繰出し量との関係により決まる。
【０００８】
計測スリット光Ｕが物体上の点Ｐ（Ｘ，Ｙ，Ｚ）を照射したときの投光軸と投光基準面（受光軸と平行な投光面）との角度を投光角θａとし、点Ｐと前側主点Ｈとを結ぶ直線と受光軸を含む平面（受光軸平面）とのなす角度を受光角θｐとすると、点Ｐの座標Ｚは次の式で表される。
【０００９】
Ｌ＝Ｌ１＋Ｌ２
＝Ｚｔａｎθａ＋（Ｚ−ＨＨ’−ｂ）ｔａｎθｐ
∴Ｚ＝｛Ｌ＋（ＨＨ’＋ｂ）ｔａｎθｐ｝／｛ｔａｎθａ＋ｔａｎθｐ｝
点Ｐの受光位置をＰ’（ｘｐ，ｙｐ，０）とし〔図２７（ａ）参照〕、受光レンズの撮像倍率をβとすれば、点Ｐの座標Ｘ，Ｙは、
Ｘ＝ｘｐ／β
Ｙ＝ｙｐ／β
となる。上式において、基線長Ｌは投光系と受光系との配置により決まるものであり、予め既知の値である。受光角θｐは、ｔａｎθｐ＝ｂ／ｙｐの関係から算出できる。受光レンズの撮像倍率βは、β＝−ｂ／（Ｚ−ＨＨ’一ｂ）で算出できる。
【００１０】
つまり、何らかの手段によって、主点間距離ＨＨ’、像距離ｂ、および投光角θａを知れば、撮像面Ｓ上での位置Ｐ’（ｘｐ，ｙｐ）を計測することにより、点Ｐの３次元位置を求めることができる。前側主点と後側主点との距離ＨＨ’、および像距離ｂは、受光系を構成するレンズ群の相対位置関係により決まる。
【００１１】
受光レンズ系が単焦点ピント固定式、つまり受光レンズと対象物とが唯一所定の距離関係にある場合のみ計測可能な３次元計測装置では、レンズ群と撮像面Ｓとの距離は常に一定であるから、前側主点と後側主点との距離ＨＨ’、および像距離ｂは、予め固定値を入力しておくことができる。しかし、このような３次元計測装置は使い勝手が悪い。
【００１２】
一方、受光系と対象物との距離関係が可変な３次元計測装置では、受光系を構成するレンズ群の一部または全部を受光軸に沿って移動しピント合わせをおこなう必要がある。また受光系の画角を可変に設定可能な３次元計測装置では、レンズ群の一部または全部を受光軸に沿って移動することでレンズの焦点距離を変えるズーム機構を有する。
【００１３】
これらの場合、レンズ群の位置を知るためのポテンショメータ（位置センサ）を設け、またモータを使用した自動レンズ駆動ではモータと関連づけられたエンコーダを設ることにより、レンズ群の相対位置を知り、予め記憶しているテーブルから前側主点と後側主点との距離ＨＨ’、および像距離ｂを得ることができる。
【００１４】
投光角θａは計測スリット光Ｕの偏向角によって決まる。偏向手段としてガルバノミラーを用いた３次元計測装置では、受光素子の撮像タイミング、ガルバノミラーの回転開始角度、および回転角速度を同期制御することにより、撮像時の計測スリット光Ｕの偏向角を認識し、投光角θａを算出する方法が知られている。
【００１５】
以上の原理による３次元計測に際して、計測者であるユーザは、３次元計測装置の位置や向きを決め、必要に応じて受光レンズの画角を変えて物体Ｑの撮像範囲（走査範囲）を設定する。
【００１６】
画角の変更は、受光レンズにズームレンズを使用することにより、または異なる焦点距離のレンズに交換することで可能となる。
このフレーミング作業を容易化する上で、走査範囲と同じ画角で物体Ｑを撮影したモニタ画像は有用である。
【００１７】
さて、例えば３次元ＣＧ（３次元コンピュータグラフィックス）では、物体Ｑの形状を示す３次元データとともに、物体Ｑのカラー情報を示す２次元画像データを必要とする場合が多くある。
【００１８】
３次元データおよび２次元画像データの両方のデータを取得するために、特開平９−１９６６３２号は、受光光学系においてビームスプリッタを用いて複数の光路に色分解する方法を提案する。
【００１９】
図２８は色分離用ビームスプリッタを用いた受光光学系の模式図、図２９は計測用の受光素子７１の受光波長を示すグラフ、図３０はモニタ用の受光素子７２の受光波長を示すグラフである。
【００２０】
ビームスプリッタ７０は、色分解膜（ダイクロックミラー）７０１、色分解膜７０１を挟む２つのプリズム７０２，７０３、プリズム７０２の射出面に設けられた赤外線カットフィルタ７０４、受光素子７１の前面側に設けられた可視カットフィルタ７０５、プリズム７０３の射出面に設けられた赤外線カットフィルタ７０６、およびローパスフィルタ７０７，７０８から構成されている。
【００２１】
受光レンズから入射した光ＵＣは、ローパスフィルタ７０７およびプリズム７０２を通って色分解膜７０１に入射する。
半導体レーザの発振帯域の光Ｕ０は色分解膜７０１で反射し、プリズム７０２の入射面で全反射した後、射出面から受光素子７１に向かって射出する。プリズム７０２から射出した光Ｕ０の内、赤外線カットフィルタ７０４および可視カットフィルタ７０５を透過した光が受光素子７１によって受光される。一方、色分解膜７０１を透過した光Ｃ０は、プリズム７０３を通って射出面から受光素子７２に向かって射出する。プリズム７０３から射出した光Ｃ０の内、赤外線カットフィルタ７０６およびローパスフィルタ７０８を透過した光が受光素子７２によって受光される。
【００２２】
図２９において、破線で示されるように、色分解膜７０１は、スリット光の波長（λ：６９０ｎｍ）を含む比較的に広範囲の波長帯域の光を反射する。つまり、色分解膜７０１の波長選択性は、スリット光のみを選択的に受光素子７１に入射させる上で不十分である。しかし、ビームスプリッタ７０では、鎖線で示される特性の赤外線カットフィルタ７０４と、実線で示される特性の可視カットフィルタ７０５とが設けられているので、最終的に受光素子７１に入射する光は、図２９において斜線で示される狭い範囲の波長の光である。
【００２３】
一方、受光素子７２には、図３０に実線で示される特性の赤外線カットフィルタ７０８によって、破線で示される特性の色分解膜７０１を透過した赤外帯域の光が遮断されるので、可視光のみが入射する。
【００２４】
【発明が解決しようとする課題】
上に述べたように、複数の受光素子を備え、ビームスプリッタにより色分離を行う従来の方式では、受光素子間の相対位置関係が重要であるため、受光光学系の組み立ての際に受光素子間の相対位置の調整を慎重に行う必要があり、その作業が大変である。さらに、調整が終わった後に、振動や衝撃によっても相対位置が変化しないようにする必要であり、製造や調整に困難をともなう。
【００２５】
また、高精度なビームスプリッタは高価なものである。受光素子や制御ドライバーが複数必要となることとも相まって、３次元計測装置の製造コストか高くなる。さらに、受光素子７２によってカラー画像を取得する場合に、受光素子としてカラーＣＣＤが用いられるが、受光素子７２に入射する光は図３０に示されるように可視域でも６５０ｎｍ以下に限定され、赤の色再現性が悪くなる。
【００２６】
これらを克服するための手法として、単一の受光素子を用いて３次元データと２次元画像データとを取得するために、受光光学系に図１４の（ｂ）（ｃ）（ｄ）に示されるような透過率をもつＲＧＢ回転フィルタを用いることが考えられる。この手法によると、コスト削減ができるとともに、各画像間での画素位置ずれのない画質を得ることが可能となる。
【００２７】
しかし、その場合には、カラーの２次元画像データを取得するためのＲＧＢ回転フィルタを３次元データの取得のために使用するので、Ｓ／Ｎが悪くなる。
例えば、投光系から投影される光の光源として赤色レーザを用いた場合には、上に述べたように投光された光の対象物からの反射光がＲフィルタを透過して受光素子に到達する。前述のように、３次元データはその受光素子の出力信号から算出されるが、その出力信号中、投光された光の反射光以外の成分はノイズとなり、できるだけ除去する必要がある。ところが、この場合では、２次元画像データを取得するために用いられるＲフィルタは図１４（ｂ）に示す透過率であり、半導体レーザの波長が６９０ｎｍの場合には不要な波長の光が多分に入射してしまい、これが３次元データを算出する際の誤差要因となる。
【００２８】
本発明は、上述の問題に鑑みてなされたもので、３次元計測における計測データと２次元画像データとの両方について、それらの間の位置ずれがなく、また不要な波長成分によるノイズの少ないデータを得ることのできる３次元計測装置を提供することを目的とする。
【００２９】
【課題を解決するための手段】
請求項１の発明に係る装置は、対象物に光を投射する投光光学系と、投射された光の対象物による反射光を受光レンズ系を介して受光素子で受光する受光光学系とを備え、前記受光素子から出力される信号に基づいて３次元計測のための計測データを得るように構成された３次元計測装置であって、前記受光光学系は、前記投光光学系から投射される光の波長領域のみを透過する第１の光学フィルタと、前記第１の光学フィルタとは異なる波長領域を透過する少なくとも１つの第２の光学フィルタと、前記第１の光学フィルタおよび前記第２の光学フィルタのうちの１つを選択的に前記受光レンズ系の光路に配置するフィルタ選択装置と、を有し、前記第１の光学フィルタおよび第２の光学フィルタの厚みが、それぞれを透過する光の波長領域による色収差を補正するように設定されてなる。
【００３０】
請求項２の発明に係る装置では、前記第２の光学フィルタは、対象物についての２次元画像を得るための、Ｒ，Ｇ，Ｂの各色の波長領域を透過する３つの光学フィルタを含む。
【００３２】
請求項３の発明に係る装置では、前記第２の光学フィルタは、対象物についての分光放射輝度を示す２次元画像を得るための、互いに異なる波長領域を透過する複数の光学フィルタを含む。
【００３４】
請求項４の発明に係る装置では、前記第１の光学フィルタおよび第２の光学フィルタの少なくとも１つに対して、透過する光量を制限するための絞り部材が設けられてなる。
【００３５】
請求項５の発明に係る装置では、前記フィルタ選択装置は、軸を中心として回転可能に設けられ、前記第１の光学フィルタおよび第２の光学フィルタが互いに異なる回転角度位置において取り付けられた回転板と、前記回転板を回転駆動し、且つ前記第１の光学フィルタまたは第２の光学フィルタが前記受光レンズ系の光路に適合した状態で前記回転板を位置決めするように制御されるモータと、を有してなる。
【００３６】
【発明の実施の形態】
〔全体構成〕
図１は本発明に係る計測システム１の構成図である。
【００３７】
計測システム１は、スリット光投影法によって立体計測を行う３次元カメラ２と、３次元カメラ２の出力データを処理するホスト３とから構成されている。
３次元カメラ２は、物体Ｑ上の複数のサンプリング点の３次元位置を特定する計測データ（スリット画像データ）とともに、物体Ｑのカラー情報を示す２次元画像（２次元画像データ）およびキャリブレーションに必要なデータを出力する。三角測量法を用いてサンプリング点の座標を求める演算処理はホスト３が担う。
【００３８】
ホスト３は、ＣＰＵ３ａ、ディスプレイ３ｂ、キーボード３ｃ、およびマウス３ｄなどから構成されたコンピュータシステムである。ＣＰＵ３ａには計測データ処理のためのソフトウェアが組み込まれている。ホスト３と３次元カメラ２との間では、オンラインおよび可搬型の記録メディア４によるオフラインの両方の形態のデータ受渡しが可能である。記録メディア４としては、光磁気ディスク（ＭＯ）、ミニディスク（ＭＤ）、メモリカードなどがある。
〔３次元カメラの構成〕
図２は３次元カメラ２の外観を示す図である。図２（ａ）は斜視図、図２（ｂ）は背面に設けられたオペレーションパネルの平面図である。
【００３９】
ハウジング５の前面に投光窓５ａ、受光窓５ｂ、および参照光窓５ｃが設けられている。内部の光学ユニットＯＵが射出する計測スリット光（所定幅ｗの帯状のレーザビーム）Ｕは、投光窓５ａを通って計測対象の物体（被写体）Ｑに向かう。
【００４０】
また、内部の光学ユニットＯＵが射出する参照スポット光ＵＲは、参照光窓５ｃ通って物体Ｑに向かう。
物体Ｑの表面で反射した計測スリット光（計測光）Ｕおよび参照スポット光（参照光）ＵＲの一部が、受光窓５ｂを通って光学ユニットＯＵに入射する。
【００４１】
ハウジング５の上面には、ズーミングボタン７ａ，７ｂ、フォーカシング切替えボタン８ａ，８ｂ、手動フォーカシングボタン９ａ，９ｂ、レリーズボタン１０、および参照光投射ボタン１１が設けられている。図２（ｂ）に示すように、ハウジング５の背面には、液晶ディスプレイ６、カーソルボタン１２、セレクトボタン１３、レコードボタン１４、アナログ出力端子１５，１６、デジタル出力端子１７、および記録メディア４の着脱口１８が設けられている。レコードボタン１４はフォーカシングロックボタンを兼ねる。
【００４２】
液晶ディスプレイ６は、操作画面の表示手段および電子ファインダとして用いられる。計測者であるユーザは、背面の各ボタン１２，１３によって撮影モードの設定を行うことができる。アナログ出力端子１５からは計測データが出力され、アナログ出力端子１６からは２次元画像信号が例えばＮＴＳＣ形式で出力される。デジタル出力端子１７は例えばＳＣＳＩ端子である。
〔制御回路〕
図３は３次元カメラ２の機能構成を示すブロック図である。図中の実線矢印は電気信号の流れを示し、破線矢印は光の流れを示す。
【００４３】
３次元カメラ２は、上述の光学ユニットＯＵを構成する投光光学系２０、参照光光学系３０、および受光光学系４０を有する。
投光光学系２０において、半導体レーザ（ＬＤ）２１が射出する波長（６９０ｎｍ）のレーザビームは、投光レンズ系２２を通過することによって計測スリット光Ｕとなり、走査手段として用いられるガルバノミラー２３によってスリット長さ方向と直交する方向に偏向される。半導体レーザ２１のドライバ２４、投光レンズ系２２の駆動系２５、およびガルバノミラー２３の駆動系２６は、システムコントローラ５２によって制御される。
【００４４】
参照光光学系３０において、半導体レーザ（ＬＤ）３１は、投光光学系４０を構成する半導体レーザ２１と同一の波長のレーザビームを射出する。射出されたレーザビームは、投射レンズ系３２を通過し、参照スポット光ＵＲとなって物体Ｑに向けて投射される。半導体レーザ３１のドライバ３３は、システムコントローラ５２によって制御される。
【００４５】
受光光学系４０において、受光レンズ系４１によって集光された光は受光素子４３に入射する。受光素子４３はＣＣＤエリアセンサである。
受光レンズ系４１として、画角（焦点距離）の異なる複数のレンズが用意されており、ユーザにより所望の画角を有する受光レンズ系４１に交換取付けが可能である。レンズ検出器４４は、取り付けられている受光レンズ系４１のレンズ種別Ｌｋを検出し、その信号をシステムコントローラ５２に出力する。
【００４６】
レンズコントローラ５１および撮影コントローラ５０は、システムコントローラー５２の指示にしたがって撮影動作を制御する。
フォーカシング駆動は、レンズコントローラ５１およびフォーカシング駆動系４７によって実現される。ズーミング駆動系４８は、受光レンズにズームレンズが使用されたときの電動ズーミングのために設けられている。駆動系４７，４８は、それぞれレンズコントローラ５１により制御される。
【００４７】
フィルタ交換器４２は、半導体レーザ２１，３１の発振波長帯域の光を透過するバンドパスフィルタ、赤色透過フィルタ、緑色透過フィルタ、および青色透過フィルタの合計４つのフィルタを備える。
【００４８】
駆動系４６によって、フィルタ交換器４２が駆動され、受光レンズ系４１の光路中に４つのフィルタのいずれかを挿入した状態で位置決めする。駆動系４６は撮影コントローラー５０により制御される。
【００４９】
撮影コントローラ５０は、フィルタ交換器４２の制御と同期し、ドライバ４５を制御する。
バンドパスフィルタを通過して受光素子４３に入射した際の撮影情報は、出力処理回路５３へ転送され、出力処理回路５３によって受光素子４３の各画素毎に対応する計測データＤｓが生成され、出力処理回路５３内のメモリに一旦格納される。
【００５０】
また、赤色透過フィルタ、緑色透過フィルタ、または青色透過フィルタを通過して受光素子４３へ入射した撮影情報は、それぞれ、赤色画像処理回路５４、緑色画像処理回路５５、または青色画像処理回路５６へ転送された後、カラー処理回路５７で画像合成されカラー処理される。
【００５１】
カラー処理を受けた撮像情報は、ＮＴＳＣ変換回路５８およびアナログ出力端子１６を経てオンライン出力され、またはデジタル画像生成部６０で量子化されてカラー画像メモリ６１に格納される。
【００５２】
出力処理回路５３は、計測データＤｓに基づいて計測結果を示す距離画像データＤｄを生成し、マルチプレクサ６２に出力する。マルチプレクサ６２は、システムコントローラ５２の指示にしたがって、距離画像データＤｄおよびカラー画像メモリ６１からのカラー画像データＤｃの２つの入力のうちの一方を出力として選択する。
【００５３】
マルチプレクサ６２によって選択されたデータは、Ｄ／Ａ変換器６３を経てアナログのモニタ表示信号としてキャラクタジェネレータ６４に転送される。キャラクタジェネレータ６４は、モニタ表示信号が示す画像とシステムコントローラ５２が指定した文字や記号とを合成し、合成画像を液晶ディスプレイ６に出力する。
【００５４】
ユーザがレコードボタン１４を操作してデータ出力（録画）を指示すると、出力処理回路５３内の計測データＤｓが、ＳＣＳＩコントローラ５９又はＮＴＳＣ変換回路６５によって所定形式でオンライン出力され、または記録メディア４に格納される。計測データＤｓのオンライン出力には、アナログ出力端子１５又はデジタル出力端子１７が用いられる。また、カラー画像データＤｃがカラー画像メモリ６１からＳＣＳＩコントローラ５９へ転送され、デジタル出力端子１７からオンライン出力され、または計測データＤｓと対応づけて記録メディア４に格納される。
【００５５】
カラー画像は、ホスト３側におけるアプリケーション処理に際して参考情報として利用される。カラー情報を利用する処理としては、例えばカメラ視点の異なる複数組の計測データを組み合わせて３次元形状モデルを生成する処理、３次元形状モデルの不要の頂点を間引く処理などがある。
【００５６】
システムコントローラ５２は、ブザー６６を駆動して動作確認音または警告音を発生させる。また、出力処理回路５３に対して、モニタ表示のためのスケール値ｓｃを与える。出力処理回路５３は、システムコントローラ５２に対して、後述する３種の警告信号Ｓ１１〜１３、および計測データＤｓの一部である受光データＤｇを出力する。
〔投光光学系〕
図４は投光光学系２０の構成を示す模式図である。図４（ａ）は正面図であり、図４（ｂ）は側面図である。
【００５７】
投光レンズ系２２は、４枚の球面レンズで構成されるコリメータレンズ群２２１、レーザビームのスリット幅ｗの方向にのみパワーを有するシリンドリカルレンズで構成されるバリエータレンズ群２２２、および、スリットの長さ方向Ｍにのみパワーを有する３枚のシリンドリカルレンズで構成されたエキスパンダレンズ群２２３の３つのレンズ群から構成されている。
【００５８】
半導体レーザ２１が射出したレーザビームに対して、次の順序で適切な計測スリット光Ｕを得るための光学的処理が行われる。まず、コリメータレンズ群２２１によってビームを概ね平行にする。次に、バリエータレンズ群２２２によって、レーザビームのスリット幅ｗが調整される。最後に、エキスパンダレンズ群２２３によって、ビームがスリット長さ方向Ｍに拡げられる。
【００５９】
バリエータレンズ群２２２は、受光光学系４０の撮影距離および撮影の画角に係わらず、受光素子４３に３以上の複数画素分（本実施例では５画素分）の幅の計測スリット光Ｕを入射させるために設けられている。駆動系２５は、システムコントローラ５２の指示にしたがって、受光素子４３上での計測スリット光Ｕの幅ｗを一定に保つようにバリエータレンズ群２２２を移動させる。
【００６０】
走査系２３による偏向の以前にスリットの長さを拡げることにより、偏向の後で行う場合と比較して計測スリット光Ｕの歪みを低減することができる。エキスパンダレンズ群２２３を投光レンズ系２２の最終段に配置することにより、すなわちガルバノミラー２３に近づけることにより、ガルバノミラー２３を小型化することができる。
〔参照光光学系〕
参照光光学系３０は、参照スポット光ＵＲを物体Ｑに向けて投射し、その反射光を受光光学系４０で受光して得られるデータ（参照データ）を用いることによって、ガルバノミラー２３の制御誤差に基づく計測データＤｓの誤差を補正するためのものである。
【００６１】
図５は参照光光学系３０の構成を模式的に示す一部断面側面図、図６は参照光光学系３０の構成を模式的に示す背面図、図７は図５と同様な図である。なお、図５の断面位置は図６におけるＡ−Ａ線の位置である。図７には角度調整ネジ３４４ａをねじ込んだときの様子が示されている。
【００６２】
参照光光学系３０は、半導体レーザ３１、投射レンズ系３２、および投射角調整機構３４から構成されている。
半導体レーザ３１から射出したレーザビームに対して、投射レンズ系３２によって参照スポット光ＵＲが投射される。投射されるビームスポット径は、受光光学系４０の撮影距離および撮影画角に係わらず、受光素子４３に３画素以上の幅の参照スポット光ＵＲを入射させることができるように設定されている。
【００６３】
投射角調整機構３４は、投射方向ＡＸ２の向きを精密に調整するものであり、保持板３４１、本体支持板３４２、角度調整用板ばね３４３ａ〜ｄ、および角度調整ネジ３４４ａ，３４４ｂから構成されている。
【００６４】
本体支持板３４２は、後述するブラケット４０１（図１６）に取り付けられている。保持板３４１は、角度調整板ばね３４３ａ〜ｄを介して本体支持板３４２に取り付けられている。つまり、角度調整板ばね３４３ａ〜ｄは、突起３４２ｂを中心とする直角な位置にそれぞれ２つずつ配置され、ネジによって保持板３４１および本体支持板３４２に取り付けられている。保持板３４１には、半導体レーザ３１および投射レンズ系３２が取り付けられている。
【００６５】
また、本体支持板３４２には、突起３４２ｂと２つの角度調整ネジ３４４ａ，３４４ｂが、突起３４２ｂを中心として直角な位置に設けられており、それらの先端部が保持板３４１の表面に当接している。角度調整ネジ３４４ａ，ｂのねじ込み量を調整することにより、突起３４２ｂの先端部Ｃを支点として保持板３４１の姿勢が変化し、それにともなって角度調整板ばね３４３ａ〜ｄが撓む。２つの角度調整ネジ３４４ａ，ｂをそれぞれ調整することによって、本体支持板３４２に対する保持板３４１の傾き方向を任意に調整することができる。これによって、半導体レーザ３１の投射角を変化させ、投射方向ＡＸ２をＸＹ方向の任意の方向に傾くことが可能なように微調整することができる。
【００６６】
図５では、角度調整ネジ３４４ａがねじ込み基準位置にあり、投射方向ＡＸ２と本体支持板３４２とが直角をなす状態が示されている。
図７では、角度調整ネジ３４４ａがねじ込まれ、角度調整ばね３４３ａ，ｂが撓み、保持板３４１が角度θｒだけ傾き、投射方向ＡＸ２が角度θｒだけ傾いた状態が示されている。
【００６７】
図８は参照光光学系３０と受光光学系４０との位置関係および参照スポット光ＵＲの投射方向ＡＸ２の例を示す図、図９は参照スポット光ＵＲの投射方向ＡＸ２の他の例を示す図である。
【００６８】
図８において、投光光学系２０および受光光学系４０の配置関係については、図２７において説明した従来のものと基本的には同じである。すなわち、投光の起点Ａと受光系の撮像面Ｓとを結ぶ基線ＡＳが受光軸と垂直になるように、投光光学系２０および受光光学系４０が配置されている。受光軸は撮像面Ｓに対して垂直であり、受光軸と撮像面Ｓとの交点Ｓ０が原点である。
【００６９】
本実施形態においては、原点である点Ｓ０と投光の起点Ａとの間に、参照光光学系３０における参照スポット光ＵＲの起点Ｒが配置される。つまり、参照スポット光ＵＲの起点Ｒと撮像面Ｓとを結ぶ基線ＲＳは、受光軸ＡＸ３と垂直である。基線ＲＳの長さはＬ３である。そして、参照スポット光ＵＲの投射方向ＡＸ２は、受光軸ＡＸ３と平行である。
【００７０】
次に、参照光光学系３０による計測データＤｓの誤差の補正原理について説明する。
投光光学系２０から投射される計測スリット光Ｕは、ガルバノミラー２３への入力信号ＳＳａに応じた投光角θａで走査される。入力信号ＳＳａと投光角θａとは、既知の関係にあり、その関係が予め適当なメモリに記憶されている。したがって、通常、実際の入力信号ＳＳａに対応して投光角θａがメモリから読み出され、読み出された投光角θａを用いて３次元位置が計算される。
【００７１】
ところが、ガルバノミラー２３は、温度および湿度の影響を受けやすい。そのため、温度または湿度が変化した場合に、ガルバノミラー２３が動作エラーを起こす可能性がある。この場合の動作エラーとは、入力信号ＳＳａに対する投光角θａが既知の関係から外れることである。
【００７２】
その結果、入力信号ＳＳａに対し、投光角θａとなるべきところが投光角θａ’となってしまった場合に、（θａ’−θａ）の制御誤差が生じる。
そこで、投光光学系２０による３次元計測を行う直前に、同じ物体Ｑに対して参照スポット光ＵＲを投射し、ガルバノミラー２３の制御誤差を補正するための補正データを取得するのである。
【００７３】
図８において、まず、参照光光学系３０から参照スポット光ＵＲを投射し、物体Ｑに当たった点Ｐｒにおける拡散反射光を受光光学系４０で受光した点Ｐｒ’（ｘｐｒ，ｙｐｒ）の位置座標を得る。なお、参照スポット光ＵＲがＹＺ平面上にある場合には、ｘｐｒ＝０となる。
【００７４】
点Ｐｒ’の位置座標（ｘｐｒ，ｙｐｒ）と、基線ＲＳの長さＬ３と、受光レンズ系４１のパラメータ（焦点距離、主点位置、繰出し量）とから、物体Ｑ上の点Ｐｒまでの距離Ｚを求める。
【００７５】
距離Ｚと、基線長Ｌと、受光レンズ系４１のパラメータとから、投光光学系２０から投射した計測スリット光Ｕが物体Ｑ上の点Ｐｒに当たるべき投光角θａｒを求める。
【００７６】
入力信号ＳＳａと投光角θａとの既知の関係から、投光角θａｒとなる入力信号ＳＳａｒを得る。
そして、ここで、投光光学系２０から計測スリット光Ｕを実際に投射して３次元計測を行う。
【００７７】
ガルバノミラー２３への入力信号がＳＳａｒとなったときの計測データＤｓのうち、Ｘ座標値がｘｐｒである受光点（点Ｐｒ’と同じＸ座標の位置）のＹ座標値（ｙｐｒ２）を得る。
【００７８】
Ｙ座標値ｙｐｒとＹ座標値ｙｐｒ２との差（ｙｐｒ２−ｙｐｒ）を求める。この差が、ガルバノミラー２３の動作エラーによる受光位置ずれ量であるので、全計測データＤｓのＹ座標値に対し、ずれ量＝ｙｐｒ２−ｙｐｒの分を位置補正し、または投光角補正し、補正した計測データＤｓを用いて３次元データを算出する。
【００７９】
また、受光素子４３上の点Ｐｒ’を計測スリット光Ｕの反射光が通過するタイミングｔａｔ２（または投光角θａｔ２）を計測し、理論上のタイミングｔａｔ（または投光角θａｔ）との差（ｔａｔ２−ｔａｔ）を求め、これに基づいて補正を行ってもよい。
【００８０】
このような補正データの算出、および計測データＤｓの補正処理は、例えば出力処理回路５３において行われる。
上に述べた方法は、参照光光学系３０が１つである場合であるが、参照光光学系３０が複数ある場合には、複数の点において受光位置ずれ量が求まり、複数点で補正を行うことができる。
【００８１】
その場合に、ＹＺ面上に複数の参照光光学系３０がある場合には、ガルバノミラー２３の走査における角速度の誤差が検出できるので、角速度の誤差に基づく計測データＤｓの誤差を補正することができる。
【００８２】
また、ＸＺ面上に複数の参照光光学系３０がある場合には、複数のＸ座標位置での受光位置ずれ量が求まるので、計測スリット光ＵのＸ軸に対する曲がりまたはうねりなどが補正できる。
【００８３】
また、図９に示すように、参照スポット光ＵＲの投射方向ＡＸ２を、受光軸ＡＸ３と平行とはせずに、撮影距離範囲内での最近接距離の中心（最近接面と受光軸ＡＸ３との交点）Ｅ１に向くようにするのがよい。この場合においても、上に述べたと同様の原理によって計測データＤｓを補正することができる。
【００８４】
そして、参照スポット光ＵＲの投射方向ＡＸ２を最近接距離の中心Ｅ１に向けた場合には、中心Ｅ１の近辺に計測の対象物である物体Ｑが存在する可能性が高く、したがって参照スポット光ＵＲによる補正データの取得の成功の確率が高い。遠方側での撮影エリアサイズは、近接側での撮影エリアサイズよりも大きいので、参照スポット光ＵＲの位置から撮影エリア中心までの距離が大きくても撮影エリアサイズとの比は小さくなる。
【００８５】
このように、参照スポット光ＵＲの投射方向ＡＸ２は、参照スポット光ＵＲを撮影エリア内の物体Ｑに照射できれるのであればよい。望ましくは、参照スポット光ＵＲは撮影エリアの中心近くを照射するのがよい。しかし、幾何学的に明らかなように、全ての撮影距離において撮影エリアの中心に参照スポット光ＵＲを照射することはできない。
【００８６】
図１０は複数の参照光光学系３０を備えた３次元カメラ２Ｂの外観を示す斜視図である。
図１０に示す３次元カメラ２Ｂでは、ハウジング５の前面に、投光窓５ａ、受光窓５ｂ、および、４つの参照光窓５ｃ１〜５ｃ４が設けられている。内部の光学ユニットＯＵに備えられる４つの参照光光学系から射出される参照スポット光は、参照光窓５ｃ１〜５ｃ４を通って投射される。この図の例では、４つの参照スポット光は、いずれも、その投射方向が受光軸ＡＸ３と平行である。
【００８７】
また、参照光光学系３０を備えているので、計測を行うために３次元カメラ２と物体Ｑとをセッティングする際に、参照光光学系３０から参照スポット光ＵＲを投射することによって、その参照スポット光ＵＲを計測位置を示すマーカーとして利用することができる。ユーザは、参照スポット光ＵＲを見て、計測すべき物体Ｑまたは３次元カメラ２の配置を決めればよい。
〔受光光学系〕
図１１は受光光学系４０の構成を摸式的に示す図、図１２はレンズ検出器４４を模式的に示す図である。
【００８８】
図１１において、受光光学系４０は、受光レンズ系４１、レンズ検出器４４、フィルタ交換器４２、および受光素子４３から構成される。
本実施例での受光レンズ系４１は、７枚のレンズにより構成される単焦点の受光レンズ４１１と、赤外カットフィルタ４１２とによって構成される。
【００８９】
受光レンズ系４１のオートフォーカシング動作は、駆動系４７によって受光レンズ４１１を受光軸ＡＸ３の方向に沿って移動させることにより行われる。図１１に示す構成の受光レンズ４４１は単焦点レンズであるので、ズーミング動作は行われない。
【００９０】
図１２において、レンズ検出器４４は、受光レンズマウント４４１、接点４４２、および判別器４４３から構成される。
接点４４２は電気的接点または機械的接点である。レンズマウント４４１には、受光レンズ系４１が着脱可能に取り付けられ、取り付けられた受光レンズ系４１のパラメータ、例えば、Ｆナンバー、焦点距離、ズーム範囲およびズームの現在位置などが、接点４４２を介して判別器４４３に入力される。判別器４４３は、受光レンズ系４１が取り付けられているか否かの判断を行い、取り付けられている場合に、そのパラメータをシステムコントローラ５２に出力する。
【００９１】
このように、受光レンズ系４１は交換可能である。したがって、物体Ｑの大きさ、形状、距離、または明るさなどにより、それらに応じた適切な受光レンズ系４１を用いることができる。
【００９２】
図１３はフィルタ交換器４２を示す斜視図である。
フィルタ交換器４２は、フィルタ板４２１、モータ４２２、バンドパスフィルタ４２３、赤色透過フィルタ４２４、緑色透過フィルタ４２５、および青色透過フィルタ４２６から構成される。
【００９３】
フィルタ板４２１は、例えばアルミニウム合金または合成樹脂などから円板状に形成されており、その中央の回転軸４２７を中心として回転可能に取り付けられている。フィルタ板４２１には、回転軸４２７を中心として、互いに異なる回転角度位置毎に、ここでは９０度毎に、４つの貫通した穴が設けられ、その穴に上述の４つのフィルタがそれぞれ装着されている。これら４つのフィルタが取り付けられたフィルタ板４２１は、回転部材４２０を構成する。
【００９４】
なお、フィルタの装着に当たっては、例えばフィルタ板４２１の穴を径大の穴と径小の穴との２段構成とし、径大の穴に各フィルタの外形が嵌入するように構成すればよい。フィルタを固定するために、接着剤を用いるか、または、リング状の押さえ板でフィルタの外縁を押さえた状態で、その押さえ板をネジでフィルタ板４２１に固定する。なお、そのような押さえ板を、後述する絞り部材と兼用することも可能である。
【００９５】
フィルタ板４２１の外周には歯車が設けられており、モータ４２２の出力軸に取り付けられた歯車と噛み合う。モータ４２２は、撮影コントローラ５０の制御によって、歯車を介してフィルタ板４２１を回転駆動するとともに、バンドパスフィルタ４２３、赤色透過フィルタ４２４、緑色透過フィルタ４２５、または青色透過フィルタ４２６のいずれかの光軸が受光レンズ系４１の光路と一致する位置において、フィルタ板４２１を位置決めする。
【００９６】
なお、フィルタ板４２１に設けられた穴の内径および各フィルタの有効径は、受光レンズ系４１から入射する光（光束）ＵＣのフィルタ面での最大光路径Ｅｘよりも充分に大きく設定されている。したがって、モータ４２２によるフィルタ板４２１の位置決め精度が悪い場合でも、入射した光ＵＣはフィルタ板４２１で遮られることなく、全てがフィルタを通過して受光素子４３上に結像する。受光素子４３で受光して得られた撮影情報は、各フィルタに対応する処理回路５３〜５６へ転送される。
【００９７】
図１４は各フィルタの分光透過波長を示すグラフである。図１４（ａ）はバンドパスフィルタ４２３、図１４（ｂ）は赤色透過フィルタ４２４、図１４（ｃ）は緑色透過フィルタ４２５、図１４（ｄ）は青色透過フィルタ４２６の分光透過波長をそれぞれ示す。
【００９８】
図１４（ａ）に示すバンドパスフィルタ４２３は、半導体レーザ２１、３１の発振波長帯域（本実施例ではλ＝６９０ｎｍ）の光を透過するフィルタである。バンドパスフィルタ４２３は、３次元計測時の計測スリット光Ｕ、および予備計測時の参照スポット光ＵＲを選択的に透過する。
【００９９】
図１４（ｂ）〜（ｄ）に示す各色用のフィルタ４２４〜４２６は、それぞれ、カラー画像形成のために必要な、赤色、緑色、青色に対応した分光透過波長をもつ。
【０１００】
これによって、３次元計測による画像（計測データＤｓ）、および２次元撮影による赤色画像、緑色画像、青色画像が、同じ１つの受光素子４３によって、同一の条件、つまり例えば受光レンズ系４１の繰出し量および画角などが同一の状態で撮影することができ、各画像間に位置ずれのない画像情報を得ることができる。
【０１０１】
しかも、各画像について、それぞれの分光透過波長をもつ専用のフィルタを用いて撮影を行うものであるから、不要な波長成分によるノイズの少ないデータを得ることができ、計測精度の向上を図ることができる。
【０１０２】
図１５は受光レンズ系４１にフィルタ４２３〜４２６を挿入したときの最良像面位置を示すグラフである。図１５（ａ）はフィルタの厚さによる修正前を、図１５（ｂ）はフィルタの厚さによる修正後を、それぞれ示す。
【０１０３】
バンドパスフィルタ４２３を挿入したときの最良像面位置をＢｂｐｆ、赤色透過フィルタ４２４、緑色透過フィルタ４２５、青色透過フィルタ４２６を挿入したときの最良像面位置をそれぞれＢｒ、Ｂｇ、Ｂｂで示す。
【０１０４】
ここでの最良像面とは、受光素子４３の画素サイズに対応した空間周波数で計算したときの軸上ＭＴＦがピークとなる像面をいう。各フィルタでの計算波長は、バンドパスフィルタ４２３では半導体レーザの波長（λ＝６９０ｎｍ）、つまり３次元計測用の波長とし、赤色、緑色、青色の各フィルタではその代表波長として、６５６ｎｍ、５４６ｎｍ、４３６ｎｍの各波長とする。
【０１０５】
図１５（ａ）（ｂ）では、バンドパスフィルタ４２３を挿入したときの最良像面位置Ｂｂｐｆを、像面位置の原点つまり０ｍｍとして表している。
図１５（ａ）は、フィルタ４２３〜４２６の厚みを１ｍｍとした場合の最良像面位置を示す。受光レンズ系４１の持つ色収差のために、各フィルタを通過した際の最良像面位置が異なっていることが分かる。つまり、いずれか１つのフィルタを通過した像に対してピント合わせを行っても、他のフィルタに切り替えた場合にピントがずれてしまうことを示している。例えば、バンドパスフィルタを通過した像に対してピントを合わせた場合には、赤色、緑色、青色の各色の画像の画質が悪くなってしまう。
【０１０６】
図１５（ｂ）は、フィルタ４２３〜４２６の厚みを、バンドパスフィルタ４２３は１ｍｍ、赤色フィルタ４２４は１．０３ｍｍ、緑色フィルタ４２５は１．１５ｍｍ、青色フィルタ４２６は１．０５ｍｍとした場合の最良像面位置を示す。この場合には、各フィルタの厚みの相違によって、それぞれを透過する光の波長領域による色収差が同じになるように補正される。したがって、いずれのフィルタを通過した波長でも最良像面位置は一致する。そのため、いずれか１つのフィルタを通過した像に対してピント合わせを行っておけば、他のフィルタに切り替えてもピンボケの生じない良好な画質を得ることができ、波長の相違によって画質に差が生じる問題を解決することができる。
【０１０７】
ところで、各フィルタ４２３〜４２６の外径サイズおよび比重が互いに同じであるとき、フィルタの厚みが異なれば、各フィルタの重量が異なることになる。そのため、フィルタ板４２１が回転軸４２７について点対称の形状であって、しかも各フィルタを回転軸４２７に対して点対称の位置に取り付けた場合には、回転部材４２０の重心位置Ｇは、回転軸４２７の中心位置と異なる位置となり、回転がスムーズに行われない可能性がある。
【０１０８】
そこで、回転部材４２０の重心位置Ｇが回転軸４２７の位置と一致するように、フィルタ板４２１およびフィルタ４２３〜４２６の形状および寸法を決定する。例えば、フィルタ板４２１の形状を回転軸４２７に対して点対称でない形状とし、または各フィルタ４２３〜４２６の外径サイズを異なるサイズとし、または各フィルタ４２３〜４２６を回転軸４２７に対して対称でない位置に取り付ける。また、フィルタ板４２１の適所に重心位置の調整のための適当な径および深さの穴を設けてもよい。
【０１０９】
また、フィルタ板４２１を利用して受光レンズ系４１の開口絞りを構成することができる。
すなわち、フィルタ板４２１を受光レンズ系４１の開口絞り位置に配置し、各フィルタの径Ｅｆによって受光レンズ系４１の光路の有効面積を規制することにより、受光レンズ系４１のＦナンバーを規定することができる。
【０１１０】
例えば、フィルタ板４２１の穴およびフィルタ４２３〜４２６の外径を最大光路径Ｅｘよりも小さな適当な値とし、または穴径の小さな絞り板を各フィルタ毎に別途作成して取り付け、受光レンズ系４１から入射する光ＵＣを各フィルタ毎に適量絞ることによって、受光レンズ系４１のＦナンバーをフィルタ毎に最適となるように制御して撮影を行うことができる。
【０１１１】
受光レンズ系４１の性能は、一般にＦナンバーを大きくするほど（暗くするほど）解像力が向上し、被写界深度（合焦幅）も広がる。また、カラー画像の取得時においては、赤色、緑色、青色の各フィルタの透過光量のレベル差を、受光レンズ系４１のＦナンバーを制御することで補正することができる。これによって、いわゆるホワイトバランスの調整を行うことが可能である。
〔光学ユニットの２軸調整機構〕
次に、光学ユニットＯＵに備えられた２軸調整機構について説明する。
【０１１２】
図１６は光学ユニットＯＵの２軸調整機構の概略を説明するための斜視図である。
図１６に示すように、光学ユニットＯＵは、投光光学系２０、参照光光学系３０、および受光光学系４０が、ブラケット２０１，４０１に取り付けられて構成されている。
【０１１３】
これら２つのブラケット２０１，４０１は、Ｙ方向軸である回転軸ＡＸ４を中心として互いに回転可能に連結されている。投光光学系２０は、ブラケット２０１に対して、Ｚ方向軸である回転軸ＡＸ１を中心に回転可能に取り付けられている。
【０１１４】
参照光光学系３０および受光光学系４０は、ブラケット４０１に固定されている。回転軸ＡＸ１は、受光光学系４０の受光軸ＡＸ３と平行になるように調整される。
【０１１５】
なお、投光光学系２０における投光の起点Ａと受光光学系４０の撮像面Ｓとを結ぶ基線ＡＳ、および参照光光学系３０における投射の起点Ｒと受光光学系４０の撮像面Ｓとを結ぶ基線ＲＳは、それぞれ受光軸ＡＸ３と垂直である。撮像面Ｓは屈折した受光軸ＡＸ３に対して垂直である。なお、光学ユニットＯＵの２軸調整方法の詳細については特開平９−１４５３２０号に開示されている。
〔参照スポット光による画像位置の算出原理〕
図１７は参照スポット光ＵＲによる画像位置の算出原理を示す図である。
【０１１６】
図１７に示すように、受光素子４３の撮像面Ｓ上で複数画素分となる比較的に幅の広い参照スポット光ＵＲを物体Ｑに照射する。ここでの例では、参照スポット光ＵＲの幅を５画素分とする。
【０１１７】
受光素子４３から１フレーム分の受光データＤｇか出力される。撮像面Ｓの１つの画素ラインｇ（１〜ｍ）に注目すると、５画素分において有効な受光データが得られる。これら５画素分の受光データに対する補間演算によって、受光量が最大となる座標位置を求める。これが参照スポット光ＵＲによる画像位置（参照スポット画像位置）である。
【０１１８】
図１７（ｂ）の例では、画素ｇ（ｌ）とその１つ後の画素ｇ（ｌ＋１）との間で受光量が最大である。これにより、撮像面Ｓの画素ピッチｐｖで規定される分解能より高い分解能の計測が可能となる。
【０１１９】
本実施形態の計測システム１では、受光素子４３のサンプリング１回分の受光データＤｇをシステムコントローラ５２に出力し、システムコントローラ５２が受光データＤｇに基づいて参照スポット画像位置データＤｐを算出する。
〔３次元データの算出原理〕
図１８は３次元データの算出原理を示す図である。
【０１２０】
図１８に示すように、受光素子４３の撮像面Ｓ上で複数画素分となる比較的に幅の広い計測スリット光Ｕを物体Ｑに照射する。ここでの例では、計測スリット光Ｕの幅を５画素分とする。計測スリット光Ｕは、サンプリング周期毎に撮像面Ｓ上で１画素ピッチｐｖだけ移動するように上から下に向かって偏向され、それによって物体Ｑが走査される。
【０１２１】
サンプリング周期毎に、受光素子４３から１フレーム分の受光データＤｇが出力される。撮像面Ｓの１つの画素ｇ（ｘ）に注目すると、走査中に行うＮ回のサンプリングの内の５回のサンプリングにおいて有効な受光データが得られる。これら５回分の受光データに対する補間演算によって、注目画素ｇ（ｘ）がにらむ範囲の物体表面ａｇを計測スリット光Ｕの光軸が通過するタイミング（時間重心Ｎｐｅａｋ：注自画素ｇ（ｘ）の受光量が最大となる時刻）を求める。
【０１２２】
図１８（ｂ）の例では、ｎ回目とその１つ後の（ｎ＋１）回目の間のタイミングで受光量が最大である。求めたタイミングにおける計測スリット光Ｕの投射方向と、注目画素ｇ（ｘ）に対する計測スリット光Ｕの入射方向との関係に基づいて、物体Ｑの位置（座標）を算出する。これにより、撮像面Ｓの画素ピッチｐｖで規定される分解能より高い分解能の計測が可能となる。
【０１２３】
本実施形態の計測システム１では、３次元カメラ２が受光素子４３の画素ｇ（ｘ）毎に５回分の受光データを計測データＤｓとしてホスト３に出力し、ホスト３が計測データＤｓに基づいて物体Ｑの３次元座標を算出する。
【０１２４】
３次元カメラ２における各画素ｇ（ｘ）に対応した計測データＤｓの生成は、出力処理回路５３が担う。
〔出力処理回路の構成〕
図１９は出力処理回路５３のブロック図、図２０は受光素子４３の読出し範囲を示す図である。
【０１２５】
出力処理回路５３は、クロック信号ＣＫを出力するクロック発生回路５３０、受光素子４３の出力する光電変換信号のレベルを最適化するための増幅器５３１、クロック信号ＣＫに同期して各画素ｇの光電変換信号を８ビットの受光データＤｇに変換するＡＤ変換器５３２、直列接続された４つのフレームディレイメモリ５３３〜５３６、コンパレータ５３７、フレーム番号（サンプリング番号）ＦＮを指し示すジェネレータ５３８、マルチプレクサ５３９、６個のメモリ５４０Ａ〜５４０Ｆ、警告判別回路５４１、スケール発生回路５４２、および画像合成回路５４３を有している。
【０１２６】
増幅器５３１のゲインは可変であり、システムコントローラ５２によって適切な値に設定される。４つのフレームディレイメモリ５３３〜５３６は、受光素子４３の各画素ｇについて５フレーム分の受光データＤｇを同時にメモリ５４０Ａ〜Ｅに出力するために設けられている。
【０１２７】
メモリ５４０Ａ〜５４０Ｅは、有効な５回分の受光データＤｇを記憶するために設けられており、それぞれが計測のサンプリング点数（つまり受光素子４３の有効画素数）と同数個の受光データＤｇを記憶可能な容量をもつ。メモリ５４０Ｆは、画素ｇ毎に特定のフレーム番号ＦＮを記憶するために設けられており、サンプリング点数と同数個のフレーム番号ＦＮを記憶可能な容量をもつ。
【０１２８】
メモリ５４０Ｂ〜５４０Ｆには、書込み信号としてコンパレータ５３７の出力信号Ｓ５３７が共通に加えられる。これに対して、メモリ５４０Ａには、出力信号Ｓ５３７とクロック信号ＣＫの２つの信号のうち、マルチプレクサ５３９によって選択された一方の信号が書込み信号として加えられる。
【０１２９】
予備計測に続いて行われる計測、つまり本計測において、受光素子４３における１フレームの読出しは、撮像面Ｓの全体ではなく、高速化を図るために図２０のように撮像面Ｓの一部の有効受光エリア（帯状画像）Ａｅのみを対象に行われる。有効受光エリアＡｅは、計測スリット光Ｕの偏向にともなってフレーム毎に１画素分だけシフトする。
【０１３０】
本実施形態では、有効受光エリアＡｅのシフト方向の画素数は３２に固定されている。この３２画素分の幅が計測対象となる距離範囲（計測可能範囲）に対応する。ＣＣＤエリアセンサの撮影像の一部のみを読み出す手法は、特開平７−１７４５３６号公報に開示されている。
【０１３１】
ＡＤ変換器５３２は、１フレーム毎に３２ライン分の受光データＤｇを画素ｇの配列順にシリアルに出力する。各フレームディレイメモリ５３３〜５３６は、３１（＝３２−１）ライン分の容量をもつＦＩＦＯメモリ（ファーストインファーストアウトメモリ）である。ＡＤ変換器５３２から出力された注目画素ｇの受光データＤｇは、２フレーム分だけ遅延された時点で、コンパレータ５３６によって、メモリ５４０Ｃが記憶する注目画素ｇについての過去の受光データＤｇの最大値と比較される。遅延された受光データＤｇ（フレームディレイメモリ５３４の出力）が過去の最大値より大きい場合に、その時点のＡＤ変換器５３２の出力および各フレームディレイメモリ５３３〜５３６の出力が、メモリ５４０Ａ〜Ｅにそれぞれ格納され、メモリ５４０Ａ〜Ｅの記憶内容が書換えられる。
【０１３２】
これと同時に、メモリ５４０Ｆには、メモリ５４０Ｃに格納する受光データＤｇに対応したフレーム番号ＦＮが格納される。ただし、ここでのフレーム番号ＦＮは、撮像面Ｓの全体における通しのライン番号（Ｙ方向の画素番号）ではなく、上述した３２画素幅の有効受光エリアＡｅ内でのライン番号であり、０〜３１の範囲の値をとる。３２ライン分ずつの読出しの順位（すなわち注目画素ｇのＹ方向の位置）とフレーム番号ＦＮとにより、撮像面Ｓの全体におけるライン番号を特定することができる。
【０１３３】
ｎ番目のラインで注目画素ｇの受光量が最大になった場合には、メモリ５４０Ａに（ｎ＋２）番目のラインのデータか格納され、メモリ５４０Ｂに（ｎ＋１）番目のフレームのデータか格納され、メモリ５４０Ｃにｎ番目のフレームのデータが格納され、メモリ５４０Ｄに（ｎ−１）番目のフレームのデータが格納され、メモリ５４０Ｅに（ｎ−２）番目のフレームのデータが格納され、メモリ５４０Ｆにｎが格納される。本計測の結果としてホスト３へ送られる上述の計測データＤｓは、メモリ５４０Ａ〜Ｅに格納された受光データＤｇとメモリ５４０Ｆに格納されたフレーム番号ＦＮとを合わせたデータである。
【０１３４】
警告判別回路５４１、スケール発生回路５４２、および画像合成回路５４３は、計測結果のモニタ表示（プレビュー）のための回路である。警告判別回路５４１には、メモリ５４０Ｃからの受光データＤｇ、メモリ５４０Ｆからのフレーム番号ＦＮ、およびシステムコントローラ５２からのスケール値ｓｃが入力される。警告判別回路５４１は、３種の入力の値の組合せに応じて、計測結果である３次元形状を無彩色の濃淡（グレースケール）で表した距離画像データＤｄ、および３種の警告信号Ｓ１１〜１３を出力する。
【０１３５】
距離画像データＤｄは、具体的には、画像の各画素の表示色を規定するＲ，Ｇ，Ｂの３色の輝度データである。スケール発生回路５４２は、距離画像の濃淡と対物間距離との関係を示す帯状のグラデーション画像（スケールバー）６９を生成する。画像合成回路５４３は、距離画像データＤｄにスケールバー６９の表示データを組み入れる。
〔３次元位置の計測結果のプレビュー表示〕
図２１は警告判別回路５４１のブロック図、図２２は警告判別回路５４１の入力と出力との関係を表形式で示す図である。
【０１３６】
警告判別回路５４１は、２個のコンパレータ５４１１，５４１２、およびルックアップテーブル（ＬＵＴ）５４１３から構成されている。コンパレータ５４１１，５４１２には、メモリ５４０Ｃから有効画素数の受光データＤｇが画素毎にシリアルに入力される。一方のコンパレータ５４１１は、注目画素の最大受光量を示す受光データＤｇの値が許容受光量の下限値である閾値ｔｈＢより小さいときに、低輝度検出信号ＳＬを出力する。他方のコンパレータ５４１２は、受光データＤｇの値が許容受光量の上限値である閾値ｔｈＡを越えたときに、オーバーフロー警告信号Ｓ１３を出力する。ＬＵＴ５４１３は、フレーム番号ＦＮ、スケール値ｓｃ、低輝度検出信号ＳＬ、およびオーバーフロー警告信号Ｓ１３の値の組合せに応じて、距離画像データＤｄ、近接警告信号Ｓ１１、および遠方警告信号Ｓ１２を出力する。
【０１３７】
スケール値ｓｃは、有効受光エリアＡｅの幅で規定される計測可能範囲内の計測基準面の位置を示し、０〜３１の値をとる。スケール値ｓｃのデフォルト値は１６である。フレーム番号ＦＮは、計測可能範囲内における物体位置（厳密には注目画素に対応したサンプリング点の位置）を示す。基本的には距離画像データＤｄは、このフレーム番号ＦＮをそのままグレースケール変換したデータである。すなわち、グレースケールにおけるＲ，Ｇ，Ｂの輝度Ｙｒ，Ｙｇ，Ｙｂは、８×（ＦＮ−ｓｃ＋１６）である。ただし、本実施形態においては、計測結果の良否を視覚的に容易に理解できるように、特定の画素についてカラー表示による強調が行われる。
【０１３８】
図２２に示すように、低輝度検出信号ＳＬがアクティブ（オン）であれば、その画素の表示色はブラックである。つまり、表示画面のうち、物体の反射率が極端に小さい画素および計測可能範囲外の画素はブラックで表示される。オーバーフロー警告信号Ｓ１３がオンであれば、正確に時間重心Ｎｐｅａｋを算出することができないことをユーザに知らせるため、その画素はレッドで表示される。計測基準面と物体との位置関係の理解を助けるため、フレーム番号ＦＮがスケール値ｓｃと等しい画素はシアンで表示される。そして、計測可能範囲の近接側の端縁に対応した画像がグリーンで表示され、遠方側の端縁に対応した画像はブルーで表示される。このような色分け表示により、ユーザは物体の所望部分が正しく計測されているかを容易に確認することができる。
〔３次元位置の計測手順〕
次に、３次元カメラ２およびホスト３の動作を計測の手順と合わせて説明する。計測に用いられるイメージセンサ５３の撮像面Ｓの有効画素数（サンプリング点数）は、４８０×６４０である。すなわち、１フレームは４８０×６４０画素であり、４８０回のサンプリングにより４８０フレームのデータが得られる。したがって、実質的なフレーム数Ｎは４８０である。撮像面Ｓにおけるスリット長さ方向の画素数は６４０である。
〔撮影エリアの設定〕
３次元計測に際し、ユーザはまず撮影エリアの設定をおこなう。
【０１３９】
受光レンズ系４１の画角（焦点距離）が一定の場合には、撮影エリアは撮影距離に比例して変化する。ユーザは、液晶ディスプレイ６が表示するモニタ画像を見ながら、３次元カメラ２または物体Ｑを移動することで撮影距離を変化させ、撮影エリアを設定することができる。
【０１４０】
このとき、液晶ディスプレイ６のモニタ画像を見ながらの設定が困難な場合には、ユーザは参照光投射ボタン１１を操作して参照スポット光ＵＲを投射し、参照スポット光ＵＲのスポット点が物体Ｑに当たるように３次元カメラ２と物体Ｑとの位置を設定する。
【０１４１】
複数の参照光光学系３０を備える計測システム１の場合（例えば図１０に示すような４つの参照光光学系から参照スポット光ＵＲが投射される場合）には、物体Ｑに４つのスポット点が当たるので、４つのスポット点の中央付近に物体Ｑの中心を設定するのがよい。
【０１４２】
ユーザは、必要に応じて撮影画角を変えることができる。画角の設定は、画角（焦点距離）の異なる複数の受光レンズ系４１のうちのいずれかを、受光レンズマウント４４１に交換取付けするにより行われる。
【０１４３】
ズーミング機能を備えた受光レンズ系４１を取り付けた場合は、ズーミングボタン７ａ，７ｂによりズーム操作を行うことで画角の変更ができる。
〔オートフォーカシング制御〕
受光光学系４０のピント合わせにおいて、ユーザはフォーカシング切替えボタン８ａ，８ｂを操作することで、マニュアルフォーカシング、またはオートフォーカシングの選択ができる。
【０１４４】
マニュアルフォーカシングが選択された場合に、ユーザは液晶ディスプレイ６に表示されるモニタ画像を見ながら、手動フォーカシングボタン９ａ，９ｂを操作することにより受光レンズ系４１のフォーカシング駆動がなされ、ユーザのモニタ目視によってピントを合わすことができる。
【０１４５】
オートフォーカシングが選択された場合に、後述するピント検出方式に基づいて、システムコントローラ５２がフォーカシング制御を行う。
ピント検出方式には、従来から提案されている種々の方式がある。例えば、受光レンズの繰出しに応じて撮影情報のコントラストを計算し、コントラストが最大となる繰出し位置がピント位置であるとする、いわゆる「コントラスト山登り方式」、または、受光レンズの異なる領域を通過した物体光をそれぞれ結像させ、その像の位相差に基づいてピント状態を検出する「位相差法」などがある。
【０１４６】
また、参照スポット光ＵＲの投射方向ＡＸ２と受光軸ＡＸ３とが同一軸でない場合には、三角測量法より対物間距離ｄ０を求めることによるオートフォーカス制御が可能である。
【０１４７】
その場合には、まず、物体Ｑに向けて１つの参照光光学系３０から参照スポット光ＵＲを投射する。参照スポト光ＵＲの投射時に受光素子４３によって得られた撮影情報に基づいて、システムコントローラ５２は、参照スポット画像位置データＤｐを算出し、基線長Ｌ３を用いて三角測量法によって対物間距離ｄ０を求める。
【０１４８】
次に、システムコントローラ５２は、レンズ検出器４４の判別結果（レンズ種別Ｌｋ）、およびレンズ情報テーブルＴ２を参照し、求められた対物間距離ｄ０に対応したフォーカシング繰出し量Ｅｄをレンズコントローラ５１へ出力し、フォーカシング駆動系４７を駆動制御することでピント位置へ受光レンズ系４１を移動しオートフォーカシング制御を行う。
【０１４９】
レンズ情報テーブルＴ２は、受光レンズ系４１における、対物間距離ｄ０とフォーカシング繰出し量Ｅｄ、および像距離ｂとの関係、レンズ主点間距離ＨＨ’、およびズーミング移動条件（ズームレンズの場合）などの情報をテーブルとしたものであり、受光レンズ系４１のレンズ種別Ｌｋに対応したテーブルとしてシステムコントローラ５２に内蔵された図示しないＲＯＭに格納されている。
〔予備計測〕
レリーズボタン１０が操作されると、予備計測、本計測の順に計測が行われる。予備計測では、本計測の動作設定、および本計測での計測条件の情報を取得する。
【０１５０】
本計測のための動作設定項目には、半導体レーザ２１の出力（レーザ光強度）、計測スリット光Ｕの偏向条件（投射角度範囲を特定する投射開始角度および投射終了角度、偏向角速度）などがある。取得する計測条件の情報には、撮影条件データ、参照スポット画像位置データなどがある。
〔対物間距離の決定とレンズ駆動設定〕
最適な計測可能範囲の設定をおこなうための対物間距離ｄを決定し、受光レンズ繰出し量Ｅｄの設定をおこなう。
【０１５１】
予備計測に際しては、投光光学系２０から計測スリット光Ｕを投射する。
投光角θａは、おおよその対物間距離ｄ０に平面物体が存在するものとして、撮像面Ｓの中央に反射光が入射するように設定する。
【０１５２】
システムコントローラ５２は、スリット画像位置データに基づいて、三角測量法によって対物間距離ｄ０を求める。
図２３（ａ）に示すように、対物間距離の算定の基準位置を物体の近接位置（３次元カメラ２の側）に設定し、その前後に同一量の計測可能範囲ｄ’を設定すると、前側（３次元カメラ２の側）の計測可能範囲が無駄になることが多い。
【０１５３】
そのため、図２３（ｂ）に示すように、シフト量pitchoffを設定して、前側２５％、後側７５％の割合になるように計測可能範囲ｄ’を後側へシフトさせるのが望ましい。
【０１５４】
したがって、本計測での対物間距離ｄは、次の式に示すように、求められた対物間距離ｄ０に計測可能範囲ｄ’の２５％を加えた距離に設定するのが望ましい。
【０１５５】
ｄ＝ｄ０＋ｄ’／４
決定された対物間距離ｄに基づいて、繰出し量Ｅｄを設定し、受光レンズ系４１の駆動を行う。これにより、本計測の対物間距離ｄおよび計測可能範囲が定まる。
〔半導体レーザの出力設定〕
投光光学系２０の半導体レーザ２１をパルス点灯して計測スリット光Ｕを投射したときの受光量を測定し、半導体レーザ２１の投射光強度を決定する。
【０１５６】
計測スリット光Ｕの投射は、短期間内に断続的に計３回行われ、その際に投射毎にレーザ光強度（投射光強度）が大きい値から小さい値へと変更される。つまり、強度Ａ，Ｂ，Ｃ（Ａ＞Ｂ＞Ｃ）の３種の計測スリット光Ｕによる計測が行われる。強度の異なる３種の計測スリット光Ｕを投射することによって信頼性が高められている。
【０１５７】
図２４は投射光強度と受光量との関係の代表例を示すグラフである。
図２４（ａ）の例では、強度Ａ〜Ｃにおける受光レベルは飽和レベル（受光のダイナミックレンジの上限）より低い。図２４（ｂ）の例では、強度Ａにおいて受光量が飽和している。
【０１５８】
受光レベルが非飽和の範囲内であり且つ環境光や信号ノイズの影響がなければ、強度Ａ〜Ｃと受光データＤｇとの間に比例関係が成立する。したがって、各強度Ａ〜Ｃの受光データＤｇの値から、任意の投射光強度における受光レベルを推測することができる。言い換えれば、最適の受光レベルの得られる投射光強度を演算で求めることができる。強度Ａ〜Ｃの大小関係と受光データＤｇの大小関係とが一致しない場合は、受光データＤｇの信頼性に問題がある。
【０１５９】
このとき、人体への安全と半導体レーザ２１の定格とを考慮した許容上限値に投射光強度を設定しても必要な受光量が得られない場合には、計測を中止し、その旨の警告メッセージを表示するとともに警告音を発する。
〔計測スリット光の偏向条件〕
計測スリット光Ｕの投射角度範囲を特定する投射開始角度および投射終了角度、並びに偏向角速度などの偏向条件の算定に際しては、走査方向の端部においても中央部と同様の計測可能範囲ｄ’を確保するため、所定量（例えば８画素分）のオーバースキャンを行うようにする。投射開始角ｔｈ１、投射終了角ｔｈ２、偏向角速度ωは、次の（１）（２）（３）式で表される。
【０１６０】
【数１】

〔投光光学系バリエーターレンズの設定〕
レンズ検出器４５からのレンズ種別（画角）Ｌｋと、ズーミング駆動系４８のエンコーダ出力（受光レンズ系がズームレンズの場合）とから、投光側のバリエータレンズ４２２の移動量が演算により算出され、算出結果に基づいてバリエータレンズ２２２の移動制御が行われる。
【０１６１】
投光側のレンズ制御は、撮影距離および画角に係わらず、受光素子４３に５画素分の幅の計測スリット光Ｕを入射させるためのものである。
〔計測条件の情報取得〕
システムコントローラ５２は、レンズコントローラ５１を介して、レンズ検出器４５からのレンズ種別Ｌｋ、フォーカシング駆動系４７のエンコーダ出力（繰出し量Ｅｄ）、およびズーミング駆動系４８のエンコーダ出力ｆｐ（受光レンズがズームレンズの場合）を読み込む。
【０１６２】
システムコントローラ５２の内部において、歪曲収差テーブルＴ１およびレンズ情報テーブルＴ２から、レンズ種別Ｌｋ、繰出し量Ｅｄ、およびズーム刻み値ｆｐに対応した撮影条件データＴ３を抽出し、抽出された撮影条件データＴ３をホスト３へ出力する。
【０１６３】
ここでの撮影条件データＴ３は、歪曲収差パラメータ（レンズ歪み補正係数ｄ１，ｄ２）、主点間距離ＨＨ’、および像距離ｂである。
〔参照スポット画像位置データの取得〕
参照光光学系３０の半導体レーザ３１を点灯して参照スポット光ＵＲを投射する。
【０１６４】
参照スポット光ＵＲの投射時に受光素子４３によって得られた撮影情報に基づき、システムコントローラ５２は、参照スポット画像位置データＤｐを算出し、システムコントローラ５２に内蔵されている図示しないＲＡＭに一旦格納した後、ホスト３へ出力する。
〔本計測〕
本計測では、計測スリット光Ｕによって物体Ｑが走査され、出力処理回路５３によって１画素当たり５フレーム分の計測データＤｓが生成され、ホスト３へ送られる。同時に、偏向条件（偏向制御データＤａ）および受光素子４３の仕様などを示す装置情報Ｄｂも、ホスト３へ送られる。
【０１６５】
図２５に示すように、ホスト３においては、スリット重心演算＃３１、カメラ視線方程式の演算＃３３、スリット面方程式の演算＃３４、偏向制御データの補正演算＃３６、歪曲収差の補正演算＃３２、および３次元位置演算＃３５が実行される。
〔スリット重心演算〕
計測スリット光Ｕの時問重心Ｎｐｅａｋ（図１８参照）は、各サンプリング時の受光データＤｇ（ｉ）を用いて、次の（４）式又は（４’）式て与えられる。
【０１６６】
【数２】

５つの受光データの内の最小のデータｍｉｎＤｇ（ｉ）を差し引いて加重平均を求めることにより、環境光の影響を軽減することができる。
〔カメラ視線方程式の演算〕
カメラ視線方程式は、次に示す（５）式および（６）式である。
【０１６７】
【数３】

〔スリット面方程式の演算〕
スリット面方程式は、次に示す（７）式である。
【０１６８】
【数４】

〔偏向制御データの補正〕
スリット面方程式である（７）式は、スリット光通過時間ｎｏｐを変数として規定されている。予備計測時に得られた参照スポット画像位置を理想的（走査が正常に行われたときに）に通過するタイミング計算により求め、本計測時に計測スリット光Ｕが参照スポット画像位置を通過した実際のタイミングとの時間差ｔｘを算出する。
【０１６９】
ここで、スリット光通過時間ｎｏｐに時間差ｔｘを加えることで、偏向のタイミング誤差の補正ができる。
具体的には、本実施形態のように、参照スポット画像位置が１ケ所の場合、つまり参照光光学系３０が１つの場合は、投射開始時間ｔｈ１の誤差を補正することができる。
【０１７０】
また、複数の参照光光学系３０を備えた３次元カメラの場合、タイミング誤差補正を複数点で行うことが可能となり、投射開始時間ｔｈ１の誤差補正だけでなく、偏向角速度ωの誤差補正も可能となる。
〔歪曲収差の補正演算〕
幾何収差は画角に依存する。歪はほぼ中心画素を中心として対称に生じる。したがって、歪み量は中心画素からの距離の関数で表される。ここでは、距離の３次関数で近似する。２次の補正係数をｄ１、３次の補正係数をｄ２とする。補正後の画素位置ｕ’，ｖ’は次の（８）式および（９）式で与えられる。
【０１７１】
【数５】

上述の（５）式および（６）式において、ｕに代えてｕ’を代入し、ｖに代えてｖ’を代入することにより、歪曲収差を考慮した３次元位置を求めることができる。
〔３次元位置演算〕
サンプリング点の３次元位置（座標Ｘ，Ｙ，Ｚ）は、カメラ視線（サンプリング点と前側主点Ｈとを結ぶ直線）とスリット面（サンプリング点を照射する計測スリット光Ｕの光軸面）との交点である。
【０１７２】
カメラ視線方程式である（５）式および（６）式と、スリット面方程式である（７）式との交点を演算することにより、４８０×６４０個のサンプリング点の３次元位置（座標Ｘ，Ｙ，Ｚ）が算定される。
【０１７３】
なお、キャリブレーションについては、電子情報通信学会研究会資料ＰＲＵ91-113［カメラの位置決めのいらない画像の幾何学的補正］小野寺・金谷、電子情報通信学会論文誌Ｄ-II vol. J74-D-II No.9 pp.1227-1235,'91/9 ［光学系の３次元モデルに基づくレンジファインダの高精度キャリブレーション法］植芝・吉見・大島、などに詳しい開示がある。
【０１７４】
上の実施形態においては、本発明に係る第２の光学フィルタとして、Ｒ，Ｇ，Ｂの各色の波長領域を透過する３つの光学フィルタ４２４〜４２６を用いた例を説明したが、これ以外の波長選択特性を有する種々の光学フィルタを用いることができる。例えば、Ｘ，Ｙ，Ｚの各刺激値の波長領域を透過する３つの光学フィルタを用いてもよい。また、対象物についての分光放射輝度を示す２次元画像を得るために、互いに異なる任意の狭い波長領域を透過する多数の光学フィルタを用いてもよい。これによると、単なる表示のための２次元画像のみでなく、対象物の色または分光放射輝度を計測し、それを表示することもできる。
【０１７５】
上の実施形態において、フィルタ交換器４２によってバンドパスフィルタ４２３が受光レンズ系４１の光路に配置されたときにのみ、投光光学系２０または参照光光学系３０から計測スリット光Ｕまたは参照スポット光ＵＲを投射すればよい。これによって無駄な光の投射を防ぐことができる。
【０１７６】
上の実施形態において、フィルタ交換器４２、フィルタ板４２１、投光光学系２０、参照光光学系３０、受光光学系４０、３次元カメラ２、または計測システム１の全体または各部の構造、形状、寸法、個数、材質、処理の内容、処理の順序などは、本発明の趣旨に沿って適宜変更することができる。
【０１７７】
【発明の効果】
本発明によると、３次元計測における計測データと２次元画像データとの両方について、それらの間の位置ずれがなく、また不要な波長成分によるノイズの少ないデータを得ることができる。また、波長の相違によって画質に差が生じる問題を解決することができる。
【０１７８】
請求項３の発明によると、単なる表示のための２次元画像のみでなく、対象物の色または分光放射輝度を計測してそれを表示することが可能となる。
【０１７９】
請求項４の発明によると、入射する光を各フィルタ毎に適量絞ることによって、受光レンズ系のＦナンバーをフィルタ毎に最適となるように制御して撮影を行うことができる。
【図面の簡単な説明】
【図１】本発明に係る計測システムの構成図である。
【図２】３次元カメラの外観を示す図である。
【図３】３次元カメラの機能構成を示すブロック図である。
【図４】投光光学系の構成を示す模式図である。
【図５】参照光光学系の構成を模式的に示す一部断面側面図である。
【図６】参照光光学系の構成を模式的に示す背面図である。
【図７】参照光光学系の構成を模式的に示す一部断面側面図である。
【図８】参照光光学系と受光光学系との位置関係および参照スポット光の投射方向の例を示す図である。
【図９】参照スポット光の投射方向の他の例を示す図である。
【図１０】複数の参照光光学系を備えた３次元カメラの外観を示す斜視図である。
【図１１】受光光学系の構成を摸式的に示す図である。
【図１２】レンズ検出器を模式的に示す図である。
【図１３】フィルタ交換器を示す斜視図である。
【図１４】各フィルタの分光透過波長を示すグラフである。
【図１５】受光レンズ系にフィルタを挿入したときの最良像面位置を示すグラフである。
【図１６】光学ユニットの２軸調整機構の概略を説明するための斜視図である。
【図１７】参照スポット光による画像位置の算出原理を示す図である。
【図１８】３次元データの算出原理を示す図である。
【図１９】出力処理回路のブロック図である。
【図２０】受光素子の読出し範囲を示す図である。
【図２１】警告判別回路のブロック図である。
【図２２】警告判別回路の入力と出力との関係を表形式で示す図である。
【図２３】対物間距離の算定の基準位置と計測可能範囲との関係を説明する図である。
【図２４】投射光強度と受光量との関係の代表例を示すグラフである。
【図２５】ホストにおけるデータの流れを示す図である。
【図２６】スリット光投影法の概要を示す図である。
【図２７】スリット光投影法による計測の原理を説明するための図である。
【図２８】色分離用ビームスプリッタを用いた受光光学系の模式図である。
【図２９】計測用の受光素子の受光波長を示すグラフである。
【図３０】モニタ用の受光素子の受光波長を示すグラフである。
【符号の説明】
１計測システム（３次元計測装置）
２３次元カメラ（３次元計測装置）
２０投光光学系
３０参照光光学系
４０受光光学系
４１受光レンズ系
４３受光素子
４２フィルタ交換器（フィルタ選択装置）
４２１フィルタ板（回転板）
４２２モータ
４２３バンドパスフィルタ（第１の光学フィルタ）
４２４赤色透過フィルタ（第２の光学フィルタ）
４２５緑色透過フィルタ（第２の光学フィルタ）
４２６青色透過フィルタ（第２の光学フィルタ）

Claims

対象物に光を投射する投光光学系と、投射された光の対象物による反射光を受光レンズ系を介して受光素子で受光する受光光学系とを備え、前記受光素子から出力される信号に基づいて３次元計測のための計測データを得るように構成された３次元計測装置であって、
前記受光光学系は、
前記投光光学系から投射される光の波長領域のみを透過する第１の光学フィルタと、
前記第１の光学フィルタとは異なる波長領域を透過する少なくとも１つの第２の光学フィルタと、
前記第１の光学フィルタおよび前記第２の光学フィルタのうちの１つを選択的に前記受光レンズ系の光路に配置するフィルタ選択装置と、を有し、
前記第１の光学フィルタおよび第２の光学フィルタの厚みが、それぞれを透過する光の波長領域による色収差を補正するように設定されてなる、
ことを特徴とする３次元計測装置。
前記第２の光学フィルタは、対象物についての２次元画像を得るための、Ｒ，Ｇ，Ｂの各色の波長領域を透過する３つの光学フィルタを含む、
請求項１記載の３次元計測装置。
前記第２の光学フィルタは、対象物についての分光放射輝度を示す２次元画像を得るための、互いに異なる波長領域を透過する複数の光学フィルタを含む、
請求項１記載の３次元計測装置。
前記第１の光学フィルタおよび第２の光学フィルタの少なくとも１つに対して、透過する光量を制限するための絞り部材が設けられてなる、
請求項１乃至請求項３のいずれかに記載の３次元計測装置。
前記フィルタ選択装置は、
軸を中心として回転可能に設けられ、前記第１の光学フィルタおよび第２の光学フィルタが互いに異なる回転角度位置において取り付けられた回転板と、
前記回転板を回転駆動し、且つ前記第１の光学フィルタまたは第２の光学フィルタを前記受光レンズ系の光路に挿入した状態で前記回転板を位置決めするように制御されるモータと、
を有してなる請求項１乃至請求項４のいずれかに記載の３次元計測装置。