JP4135953B2 - 波形測定装置及びその測定方法 - Google Patents
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Description
図10に示すように、リンギングを含む波形は、エッジの部分でオーバーシュートやアンダーシュートが起こり、波形が波打っている。
さて、電気信号の波形の測定は、オシロスコープ等の測定器を用いて行われるが、この種の一般的な測定器は、信号のオーバーシュート(図10のα)やアンダーシュートを測定することはできるが、リンギングにおけるピーク−ピーク幅(図10のβ)の測定は行っていない(例えば、非特許文献1参照)。
図1は、本発明の一実施形態による波形測定装置の構成を示す図である。
図1に示すように、本実施形態の波形測定装置は、この装置の信号入力手段により入力される測定対象の波形(入力信号)からリンギング成分を抽出するためのデジタル・フィルタ10と、波形測定用のウィンドウを生成するウィンドウ生成部20と、リンギングに対する測定を行うリンギング測定部30とを備える。
y=x:−ε≦x≦εのとき
y=0:x<−εおよびx>εのとき ・・・(1)
なお、εの値は、抽出しようとする小振幅ランダム・ノイズ成分の振幅に応じて適宜設定することができる。
(1)式で表されるεフィルタの特性は、図2に示すようになる。ここで、εの値は、方形波の変化幅よりも小さく、リンギング成分の振幅よりも大きい値である。このεフィルタで図3(A)に示す信号を処理すると、図3(B)に示すように、方形波による急峻かつ大振幅の変化成分が消えて、リンギング成分のみが抽出される。
図4は、方形波(図4(A))を2次微分して得られる波形(図4(B))を示す図である。
2次微分波形からウィンドウを生成する様子を示す図である図5を参照して、ウィンドウの算出方法を具体的に説明する。なお、差分信号は方形波であるものとする。
図5に示すように、ウィンドウ生成部20は、生成した2次微分波形を所定の閾値thおよび−thで区切る。そして、閾値の信号点を基準としてその前後の信号点の様子に基づき、方形波の立ち上がりエッジの位置と立ち下がりエッジの位置とを識別する。具体的には、図5(A)のように、thの点が2回、−thの点が2回現れ、各点での波形の向きが正、負、負、正である場合、これは立ち上がりエッジから得られた波形である。これに対し、図5(B)のように、−thの点が2回、thの点が2回現れ、各点での波形の向きが負、正、正、負である場合、これは立ち下がりエッジから得られた波形である。
図6に示すように、まず入力信号がデジタル・フィルタ10に入力され、入力信号の波形のリンギング成分が抽出される(ステップ601)。次に、入力信号とデジタル・フィルタ10の出力信号(ステップ601で求めたリンギング成分)との差分がウィンドウ生成部20に入力され、この差分信号のエッジ部分の位置を示すウィンドウが生成される(ステップ602)。そして、リンギング測定部30において、このウィンドウに基づいてデジタル・フィルタ10の出力信号から単一のリンギング成分が抽出され(ステップ603)、波形の測定が行われる(ステップ604)。
図7に示すように、本実施形態の波形測定装置は、この装置の信号入力手段により入力される測定対象の波形(入力信号)からリンギング成分を抽出するためのデジタル・フィルタ10と、入力信号からリンギング成分を取り除き大振幅変化成分を抽出するためのデジタル・フィルタ40と、波形測定用のウィンドウを生成するウィンドウ生成部20と、リンギングに対する測定を行うリンギング測定部30とを備える。
デジタル・フィルタ40は、上述したように、デジタル・フィルタ10とは反対に、入力信号から小振幅ランダム・ノイズ成分を取り除き大振幅変化成分を残して出力する特性を持ったεフィルタで実現される。このデジタル・フィルタ40(εフィルタ)の特性は、次式(2)で示される。
y=x:x<−εおよびx>εのとき
y=0:−ε≦x≦εのとき ・・・(2)
デジタル・フィルタ40を用いることで、入力信号からリンギング成分が取り除かれた本来の波形(例えば方形波)が直接得られ、ウィンドウ生成部20に供給することが可能となる。敢えてデジタル・フィルタ10とは別のεフィルタを用いることにより、例えば、入力信号にリンギング成分以外の小振幅(ただし、リンギング成分よりも大きい振幅)のノイズが重畳されている場合に、より正確にリンギング成分の測定が可能になる。すなわち、εの値を適当に選択することで、デジタル・フィルタ10では入力信号のリンギング成分のみを抽出し、デジタル・フィルタ40では入力信号から全てのノイズ成分を取り除いて本来の波形のみを残すことができる。したがって、デジタル・フィルタ40の出力を入力するウィンドウ生成部20は、他のノイズを含まない本来の波形からウィンドウを生成することができる。
図9に示すように、まず入力信号がデジタル・フィルタ10に入力され、入力信号の波形のリンギング成分が抽出される(ステップ901)。一方、この入力信号がデジタル・フィルタ40にも入力され、入力信号からリンギング成分を含む各種ノイズが取り除かれる(ステップ902)。そして、このデジタル・フィルタ40の出力信号(ノイズが除去された信号)がウィンドウ生成部20に入力され、この信号のエッジ部分の位置を示すウィンドウが算出される(ステップ903)。最後に、リンギング測定部30において、このウィンドウに基づいてデジタル・フィルタ10の出力信号から単一のリンギング成分が抽出され(ステップ904)、波形の測定が行われる(ステップ905)。
なお、図9には、デジタル・フィルタ10による信号処理とデジタル・フィルタ40による信号処理とが順次行われるようにステップを分けて記載されているが、これらの処理は独立しており、どちらが先に実行されても良いし、並列に行われても構わない。
Claims (12)
- 入力信号から大振幅変化成分を取り除き小振幅のノイズ成分を残して出力するデジタル・フィルタと、
前記入力信号と前記デジタル・フィルタの出力信号との差分信号を生成する差分信号生成手段と、
前記差分信号を入力し、当該差分信号のエッジ部分の位置を示すウィンドウを生成するウィンドウ生成部と、
前記デジタル・フィルタの出力信号のうち、前記ウィンドウ生成部により生成されたウィンドウで示される部分を抽出し、抽出した波形の少なくともピーク−ピーク幅を測定するリンギング測定部と
を備える、波形測定装置。 - 前記デジタル・フィルタが、異なる振幅の波形成分を含む信号から一定値を超える大きさの振幅を持つ成分を取り除き、当該一定値以下の大きさの振幅を持つ成分を残して出力するεフィルタである、請求項1に記載の波形測定装置。
- 前記ウィンドウ生成部は、信号を2次微分し、得られた波形を所定の閾値で区切って前記ウィンドウを生成する、請求項1に記載の波形測定装置。
- 入力信号から大振幅変化成分を取り除き小振幅のノイズ成分を残して出力する第1のデジタル・フィルタと、
前記入力信号から小振幅のノイズ成分を取り除き大振幅変化成分を残して出力する第2のデジタル・フィルタと、
前記第2のデジタル・フィルタの出力信号を入力し、当該信号のエッジ部分の位置を示すウィンドウを生成するウィンドウ生成部と、
前記第1のデジタル・フィルタの出力信号のうち、前記ウィンドウ生成部により生成されたウィンドウで示される部分を抽出し、抽出した波形の少なくともピーク−ピーク幅を測定するリンギング測定部と
を備える、波形測定装置。 - 前記第1のデジタル・フィルタが、異なる振幅の波形成分を含む信号から一定値を超える大きさの振幅を持つ成分を取り除き、当該一定値以下の大きさの振幅を持つ成分を残して出力するεフィルタであり、
前記第2のデジタル・フィルタが、異なる振幅の波形成分を含む信号から一定値以下の大きさの振幅を持つ成分を取り除き、当該一定値を超える大きさの振幅を持つ成分を残して出力するεフィルタである、
請求項4に記載の波形測定装置。 - 前記ウィンドウ生成部は、信号を2次微分し、得られた波形を所定の閾値で区切って前記ウィンドウを生成する、請求項4に記載の波形測定装置。
- 処理対象である信号の波形から小振幅のノイズ成分を抽出するステップと、
処理対象の前記信号と当該信号から抽出された前記小振幅のノイズ成分との差分信号を生成するステップと、
前記差分信号を入力し、当該差分信号のエッジ部分の位置を示すウィンドウを生成するステップと、
処理対象の前記信号から抽出された前記小振幅のノイズ成分のうち、前記ウィンドウで示される部分を抽出し、抽出した波形の少なくともピーク−ピーク幅を測定するステップと
を含む、波形測定方法。 - 前記ウィンドウを生成するステップは、
前記差分信号を2次微分するステップと、
2次微分により得られた波形を所定の閾値で区切って前記ウィンドウを生成するステップと
を含む、請求項7に記載の波形測定方法。 - 処理対象である信号の波形から小振幅のノイズ成分を抽出するステップと、
前記信号から小振幅のノイズ成分を取り除き、当該小振幅のノイズ成分が除かれた信号のエッジ部分の位置を示すウィンドウを生成するステップと、
処理対象の前記信号から抽出された前記小振幅のノイズ成分のうち、前記ウィンドウで示される部分を抽出し、抽出した波形の少なくともピーク−ピーク幅を測定するステップと
を含む、波形測定方法。 - 前記ウィンドウを生成するステップは、
前記小振幅のノイズ成分が除かれた信号を2次微分するステップと、
2次微分により得られた波形を所定の閾値で区切って前記ウィンドウを生成するステップと
を含む、請求項9に記載の波形測定方法。 - 信号の波形を測定する測定装置の内部コンピュータを、
前記測定装置の入力手段により入力された信号から小振幅のノイズ成分を抽出する手段と、
処理対象の前記信号と当該信号から抽出された前記小振幅のノイズ成分との差分信号を入力し、当該差分信号のエッジ部分の位置を示すウィンドウを生成する手段と、
処理対象の前記信号から抽出された前記小振幅のノイズ成分のうち、前記ウィンドウで示される部分を抽出し、抽出した波形の少なくともピーク−ピーク幅を測定する手段として
機能させる、プログラム。 - 信号の波形を測定する測定装置の内部コンピュータを、
前記測定装置の入力手段により入力された入力信号から小振幅のノイズ成分を抽出する手段と、
前記入力信号から小振幅のノイズ成分を取り除く手段と、
前記小振幅のノイズ成分が除かれた信号のエッジ部分の位置を示すウィンドウを生成する手段と、
処理対象の前記信号から抽出された前記小振幅のノイズ成分のうち、前記ウィンドウで示される部分を抽出し、抽出した波形の少なくともピーク−ピーク幅を測定する手段として
機能させる、プログラム。
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|---|---|---|---|---|
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| CN101393234B (zh) * | 2007-09-17 | 2010-09-01 | 鸿富锦精密工业(深圳)有限公司 | 波形自动量测系统及方法 |
| GB2484535B (en) * | 2010-10-15 | 2015-08-12 | New Lighting Technology Ltd | Illumination apparatus and method |
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| CN104753546B (zh) * | 2013-12-31 | 2017-06-23 | 鸿富锦精密工业(深圳)有限公司 | 消除移动装置干扰信号的方法以及电子设备 |
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Family Cites Families (22)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5717867A (en) | 1980-07-05 | 1982-01-29 | Horiba Ltd | Bottom-peak width measuring device |
| US4362394A (en) * | 1980-09-30 | 1982-12-07 | Marconi Instruments Limited | Time interval measurement arrangement |
| US4623837A (en) * | 1985-06-14 | 1986-11-18 | Discovision Associates | Audio/video quality monitoring system |
| JP2556369B2 (ja) | 1988-12-21 | 1996-11-20 | 日立電子エンジニアリング株式会社 | アナログ波形のオーバーシュート位置検出方式 |
| JPH0545386A (ja) | 1991-08-15 | 1993-02-23 | Anritsu Corp | 波形信号のピーク・ピーク値測定装置 |
| FR2685486B1 (fr) * | 1991-12-19 | 1994-07-29 | Inst Francais Du Petrole | Methode et dispositif pour mesurer les niveaux d'amplitude successifs de signaux recus sur une voie de transmission. |
| US5377131A (en) * | 1992-12-31 | 1994-12-27 | International Business Machines Corporation | Digital amplitude estimator |
| JPH07151798A (ja) | 1993-11-30 | 1995-06-16 | Sanyo Electric Co Ltd | 尖頭電圧検出装置 |
| US5555190A (en) * | 1995-07-12 | 1996-09-10 | Micro Motion, Inc. | Method and apparatus for adaptive line enhancement in Coriolis mass flow meter measurement |
| US6256157B1 (en) * | 1998-05-15 | 2001-07-03 | International Business Machines Corporation | Method and apparatus for removing noise spikes |
| JP4258882B2 (ja) | 1999-03-29 | 2009-04-30 | ブラザー工業株式会社 | デジタルカメラのネットワークシステム |
| JP2001045336A (ja) * | 1999-07-29 | 2001-02-16 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | ノイズ検出装置、ノイズ検出方法、信号処理装置および信号処理方法 |
| AU3819602A (en) * | 2000-09-18 | 2002-03-26 | Cos Co Ltd | Method of measuring in-medium dielectric constant in electromagnetic prober, and electromagnetic prober |
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| US7110820B2 (en) * | 2002-02-05 | 2006-09-19 | Tcheng Thomas K | Responsive electrical stimulation for movement disorders |
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| JPWO2006043660A1 (ja) * | 2004-10-22 | 2008-05-22 | シャープ株式会社 | タッチセンサ付き表示装置およびその駆動方法 |
| JP2006179975A (ja) * | 2004-12-20 | 2006-07-06 | Toshiba Corp | 映像信号処理装置、映像信号処理方法及びテレビ放送受信装置 |
| JP4135953B2 (ja) * | 2005-12-05 | 2008-08-20 | インターナショナル・ビジネス・マシーンズ・コーポレーション | 波形測定装置及びその測定方法 |
| US7398169B2 (en) * | 2006-02-27 | 2008-07-08 | Advantest Corporation | Measuring apparatus, measuring method, testing apparatus, testing method, and electronics device |
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