JP4136440B2

JP4136440B2 - 顕微鏡装置

Info

Publication number: JP4136440B2
Application number: JP2002127242A
Authority: JP
Inventors: 功石部
Original assignee: Olympus Corp
Current assignee: Olympus Corp
Priority date: 2002-04-26
Filing date: 2002-04-26
Publication date: 2008-08-20
Anticipated expiration: 2022-04-26
Also published as: JP2003315681A

Description

【０００１】
【発明の属する技術分野】
本発明は、顕微鏡に関し、特に標本に対し特異現象を発生させるレーザ走査手段を備えた顕微鏡装置に関する。
【０００２】
【従来の技術】
顕微鏡による生物標本観察の１つとして蛍光観察が知られている。
この蛍光観察は、生物標本にイオン感受性の蛍光指示薬を導入した標本を作成し、その標本に励起光を照射して、標本から発せられる蛍光を測定するものである。この場合において、蛍光の輝度とカルシウムイオンなどのイオン濃度には一定の相関が存在する。このため、蛍光観察により、間接的にカルシウムイオンの濃度を測定することができる。このことを利用して生物中のカルシウムイオン濃度分布の経時的変化を測定することができる。
【０００３】
更に、最近は生物標本観察のアプリケーションとして標本内の特定の部位に特定の時間にイオン物質を出現させることが可能なケージド試薬が使われている。ケージド試薬は、殻となるケージド基の中に、カルシウムイオンなどのイオン物質を包含させたものである。ケージド試薬を標本内に抽入した後に、紫外線をケージド試薬に照射すると、ケージド基が開裂する。これにより、所望の特定部位に特定時間にイオン物質を出現させることができ、その前後の生物標本の変化を観察することができる。このように、例えば、ケージド基を開裂させて、所望の特定部位にイオン物質を出現させるような現象を「特異現象」と称するが、特異現象は、これに限らず、ある行為（例えば、ケージド解除や蛍光漂白など）に基づいて所望の特定部位に発生させられた全ての現象を云う。
【０００４】
また、生物標本観察のアプリケーションとして、ＦＬＩＰ、ＦＲＡＰと呼ばれているものがある。これらは生物標本の一部に光によって刺激またはダメージを与えて、その前後の標本の経時的変化を測定するものである。
【０００５】
上記のような顕微鏡のアプリケーションは、いずれも光を照射する位置と時間とをコントロールするものであり、複雑な光照射の操作を必要とするものである。
【０００６】
上記のようなアプリケーションに適用される顕微鏡として、標本観察用の第１の走査光学系（レーザ光源、スキャナ、対物レンズ）と標本刺激（ケージド開裂）用の第２の走査光学系の２つの光学系を別々に備えたレーザ顕微鏡が提案されている（特開平１０−２０６７４２号公報参照）。しかし、このレーザ顕微鏡では、第１の走査光学系と第２の走査光学系の時間的な関係を記録する手段は設けられていない。従って、ケージド開裂を使用したアプリケーションとして必要不可欠である観察時間を規定することが困難である。
【０００７】
上記の問題を解決するために、第１の走査光学系と第２の走査光学系の光照射のタイミングを同期させて行う走査型レーザ顕微鏡が提案されている（特開２０００−２７５５２９号公報参照）。このように、第１の走査光学系と第２の走査光学系の光照射のタイミングを同期させることにより、観察時間を精度良く決めることができる。
【０００８】
しかし、この走査型レーザ顕微鏡では、第１の走査光学系と第２の走査光学系の同期をとることで時間的な関係を保証できるものの、その反面、第２の走査光学系は第１の走査光学系と同期して動作しなければならない。このため、第２の走査光学系を任意の時間に動作または停止させることができなくなってしまい、標本の状態に基づいた測定などができない。その結果、顕微鏡観察のアプリケーションの幅を狭めてしまうおそれがある。
【０００９】
また、画像取得用の光路と標本刺激用の光路をスキャナよりも前投階で一体化させ、刺激用のレーザの射出口には電気制御可能な高速シャッタが配置されているレーザ走査型顕微鏡も提案されている（特開平９−３２９７５０号公報）。しかし、このレーザ走査型顕微鏡は、スキャナが一つであることから、標本画像取得中に標本刺激用のレーザを別の走査速度で照射することができない。
【００１０】
【発明が解決しようとする課題】
上記のように、従来のレーザ走査型顕微鏡では、いずれも任意の位置に任意の時間レーザ光を照射することはできない。
【００１１】
本発明は、第１の走査光学系と第２の走査光学系を任意の時間に標本の任意の場所をそれぞれ独立して走査できる顕微鏡装置を提供することを目的とする。また、本発明は、走査した時間や場所を保証できる顕微鏡装置を提供することを目的とする。
【００１２】
【課題を解決するための手段】
本発明は、上記の課題を解決するために次のような手段を講じた。
本発明に係る顕微鏡装置は、標本の走査画像を得るための第１の走査光学系と、標本の特定の部位に特異現象を発現させるための第２の走査光学系と、前記第１の走査光学系と前記第２の走査光学系のそれぞれについて、独立してレーザ走査の動作を制御する手段と、前記レーザ走査の動作を記録する動作記録手段と、を備えることを特徴とする。上記の顕微鏡装置において、前記第１の走査光学系と第２の走査光学系が、それぞれ、シャッタを有することが好ましい。
【００１３】
本発明に係る他の顕微鏡装置は、光源としてランプ、受光素子として電荷蓄積型素子アレイを有し、標本の画像を得るための光学系と、標本の特定の部位に特異現象を発現させるためのレーザ走査光学系と、前記電荷蓄積型素子アレイによって得られる画像を取得した時間と、前記レーザ走査光学系の動作を記録する手段と、を備えることを特徴とする。上記の顕微鏡装置において、前記標本の画像を得るための光学系とレーザ走査光学系が、それぞれ、シャッタを有することが好ましい。
【００１４】
【発明の実施の形態】
図面を参照して本発明の実施形態を説明する。
【００１５】
（第１の実施形態）
図１は、本発明の第１の実施形態に係る顕微鏡装置の光学系のブロック図である。
【００１６】
本発明の第１の実施形態に係る顕微鏡装置は、第１の走査光学系Ａと第２の走査光学系Ｂとを備えている。第１の走査光学系Ａは、第１のレーザ光源１からのレーザ光を標本１９の焦点面上を走査する観察用の走査光学系である。第２の走査光学系Ｂは、第２のレーザ光源１１から出力されるレーザ光を標本の任意の位置に照射してケージド試薬を開裂させるため走査光学系である。
【００１７】
第１の走査光学系Ａは、第１のレーザ光源１と、ダイクロイックミラー２と、第１のレーザシャッタ３（高速動作可能な音響光学素子など）と、第１の走査光学ユニット４と、リレーレンズ５と、ミラー６とを有する。
【００１８】
第１の走査光学系Ａにおいて、ダイクロイックミラー２の分岐光路上には、検出光学系Ｃが配置されている。この検出光学系Ｃは、フィルタ７と、レンズ８と、共焦点ピンホール９と、光電変換素子１０とを有している。
【００１９】
第２の走査光学系Ｂは、ケージド試薬を開裂させるための第２のレーザ光源１１と、第２のレーザシャッタ１２（高速動作可能な音響光学素子など）と、第２の走査光学ユニット１３と、リレーレンズ１４と、ダイクロイックミラー１５とを有している。
【００２０】
第１の走査光学系Ａの光軸と、第２の走査光学系Ｂの光軸とは、ダイクロイックミラー１５により合成され（一致し）て、結像レンズ１６及び対物レンズ１７に導かれる。また、リレーレンズ５およびリレーレンズ１４の焦点位置は、結像レンズ１６の焦点位置と一致するように配置されている。なお、ダイクロイックミラー１５は、第１の走査光学系Ａからのレーザ光の波長より長波長の光を透過すると共に、第２の走査光学系Ｂからのレーザ光の波長を反射する特性を有している。
【００２１】
また、ケージド試薬を導入した標本１９はステージ１８上に載置されている。
【００２２】
前記第１、第２のレーザシャッタ３、１２と、第１、第２の光学走査ユニット４、１３と、光電変換素子１０は、光学系制御手段２１に接続されている。光学系制御手段２１には、ＣＲＴディスプレイ２２と動作記録手段２３が接続されている。
【００２３】
上記のように構成された顕微鏡装置の動作を説明する。
第２のレーザ光源１１からのレーザ光は、その通過或いは遮蔽が光学系制御手段２１の開閉により制御される。レーザ光は、第１のレーザシャッタ３が開状態のときに通過して、光学系制御手段２１により走査制御される第１の走査光学ユニット４へ導かれて、任意の方向に偏向走査される。このレーザ光はさらに、リレーレンズ５、ミラー６、ダイクロイックミラー１５、結像レンズ１６、対物レンズ１７を介して、標本１９の断面２０上に集光されて、断面２０上を２次元走査する。
【００２４】
標本１９には第１のレーザ光源１の波長によって励起される蛍光指示薬が導入されており、断面２０上をレーザ光が走査することにより、蛍光指示薬が励起されて蛍光を生じる。対物レンズ１７に入射した蛍光は、上記のレーザ光と同じ光路を逆向きに進む。すなわち、蛍光は、対物レンズ１７、結像レンズ１６、ダイクロイックミラー１５を透過し、ミラー６、リレーレンズ５、第１の走査光学ユニット４を介してダイクロイックミラー２へ導かれる。ダイクロイックミラー２は、第１のレーザ光源１からのレーザ光の波長より長波長例の光を反射する特性を有しているので、上記の蛍光はダイクロイックミラー２で反射されて、検出光学系Ｃへ導入される。
【００２５】
検出光学系Ｃにおいて、蛍光はフィルタ７により特定の波長の光が選択透過され、更に、レンズ８、共焦点ピンホール９により断面２０からの蛍光のみが光電変換素子１０へ入射する。
【００２６】
光電変換素子１０からの出力信号は、光学系制御手投２１へ導かれ、走査制御に同期してディジタル信号に変換され、走査位置に対応した画像がＣＲＴディスプレイ２２の画面上に表示される。ＣＲＴディスプレイ画面２２上に表示された画像は、断面２０での蛍光画像（蛍光輝度の２次元分布）を示している。この蛍光輝度の２次元分布は、所望のイオン濃度の断面２０内での分布を示している。
【００２７】
一方、第２のレーザ光源１１からのレーザ光は、光学系制御手段２１で開閉制御する第２のレーザシャッタ１２が開状態のときに、第２のレーザシャッタ１２を通過し、第２の走査光学系Ｂ、リレーレンズ１４、ダイクロイックミラー１５を介して第１の走査光学系Ａの光軸と合成される。このレーザ光は、第１の走査光学系Ａと同様に、結像レンズ１６、対物レンズ１７を透過して、標本１９の断面２０上に照射される。この時に、光学系制御手段２１により第２の走査光学系Ｂを制御することで、第１の走査光学系Ａの走査位置に依存しない断面２０内における任意の位置を照射位置として選択することができる。
【００２８】
また、第１の走査光学系Ａのシャッタ３と第１の走査光学系Ａのシャッタ１２は、例えば、音響光学素子を用いたものであって、これらのシャッタの開閉速度は、画像の１画素あたりの走査速度よりも十分高速に行うことができるので、走査範囲の一部分のみを走査する場合にのみシャッタを開状態にすることで、走査範囲の一部分のみにレーザ光を当てることができる。
【００２９】
上記のように第２のレーザ光源１１からのレーザ光が、ケージド試薬を導入した標本１９に照射されると、照射された部位のケージド試薬のケージド基が開裂して、その内部に包含されている物質が放出される。そして、この放出による標本１９内のイオン濃度分布の変化を、第１の走査光学系Ａにより得られる画像により測定できる。
【００３０】
次に光学系制御手段２１を中心とした電気制御系について説明する。図２は第１の実施形態における光学系制御手段２１の内部構造を示すブロック図である。ＣＰＵ３０は光学系の制御を含めたシステム全体の制御をする。第１、第２の走査波形発生回路３２、３３は、それそれ第１、第２の光学走査ユニット４、１３の制御信号を発生するものである。第１、第２のシャッタ開閉回路３４、３５は第１、第２のレーザシャッタ３、１２を動作させる信号を発生する。第１、第２の光学走査ユニット４、１３および第１、第２のレーザシャッタ３、１２は、第１、第２の走査波形発生回路３２、３３で発生した信号により制御される。第１、第２の走査波形発生回路３２、３３および第１、第２のシャッタ開閉回路３４、３５はすべて独立に制御をすることが可能である。また、第１、第２の走査波形発生回路３２、３３および第１、第２のシャッタ開閉回路３４、３５への制御信号が、ＣＰＵ３０から同時に動作記録手段２３へ送られる。
【００３１】
動作記録手段２３は記憶装置を備えている。動作記録手段２３は、ＣＰＵ３０が各回路に命令した内容に係る情報を記録している。また、画像処理回路３１は光電変換素子１０から送られてくる輝度情報を第１の走査波形発生回路３２で発生したサンプリングクロックに同期してサンプリングし、記憶する。画像処理回路３１に記憶された頻度情報は、ＣＲＴディスプレイ２２に出力される。これにより、標本１９を走査した画像をＣＲＴディスプレイ２２に出力することができる。また、動作記録手段２３に記録された情報と画像とをＣＲＴディスプレイ２２に表示することによって、標本１９の経時的変化を観察することができる。
【００３２】
上記のように、本発明の第1の実施形態によれば、第１の走査光学系Ａと第２の走査光学系Ｂのレーザ照射を独立に行うことができる。従って、例えば、第１の走査光学系Ａに左右されずに、第２の走査光学系Ｂによって標本上の任意の場所におけるケージド試薬を任意の時刻に開裂させることができる。
【００３３】
また、動作記録手段２３により第１の走査光学系Ａと第２の走査光学系Ｂがどのような動作をしたのかということが時間の経過に沿って記録されるので、第１の走査光学系Ａで観察した画像と、第２の走査光学系Ｂによるケージド開裂の時間的な対応をとることもできる。
【００３４】
また、顕微鏡観察のアプリケーションとしては、画像の輝度値に応じて、第２の走査光学系Ｂのレーザ光を遮断するような構成も可能である。このような場合の動作の流れを図３及び図４を参照して説明する。図３は、画像の輝度値に応じて、第２の走査光学系Ｂを制御する場合のフローチャートであり、図４は、時間経過に伴う画像の輝度値の変化を示す図である。
【００３５】
まず、第１の走査光学系Ａによる走査を開始する（ステップＡ１）。そして、ケージドを解除するための終了輝度値を設定（入力）する（ステップＡ２）。この終了輝度値は、予め設定しておいても良いし、観察者が適宜入力するようにしても良い。次に、第２の走査光学系Ｂによる走査を開始すると（ステップＡ３）、図４に示すように、ケージド試薬の開裂により、画像の輝度値が徐々に増加する。そして、画像輝度値がケージド解除終了輝度値に達するまで（ステップＡ４）、第２走査光学系による走査を継続する。そして、ステップＡ４において、画像の輝度値がケージド解除終了輝度値に達したのであれば、第２の走査光学系Ｂのシャッタを閉じる（ステップＡ５）と共に、この時間を、ケージド解除終了時刻として記録する（ステップＡ６）。なお、ステップＡ６におけるケージド解除終了時刻は、実際の時刻でなく、第１の走査光学系Ａ或いは第２の走査光学系Ｂによる走査の開始時刻からの経過時間であっても良い。そして、第２の走査光学系Ｂによる走査を停止する（ステップＡ７）。
【００３６】
上記のように、画像輝度を監視し、ケージドを開裂させた後に、標本の輝度値がアプリケーションソフトによって設定した輝度に達したときに、自動的に第２の走査光学系Ｂのレーザをシャッタ１２で遮断する。この時、シャッタ１２が第２の走査光学系Ｂのレーザを遮断した時刻やそのときに走査していた場所は動作記録手段２３に記録している。第１の実施形態は、このような、複雑な光学系の操作を必要とするアプリケーションにも適用でき、これらの動作を自動的に行うことができる。
【００３７】
（第２の実施形態）
第２の実施形態に係る顕微鏡装置の構成は第１の実施形態と同じであるので、図示及び説明は省略する。第２の実施形態では、標本１９に、特にケージド試薬を抽入していないものとする。
【００３８】
蛍光標本１９にレーザ光を当てると標本１９はダメージを受ける。そのため、蛍光標本１９のレーザ光を当てた部分はイオン濃度が薄くなるので、輝度が弱くなる。しかし、レーザ光を遮断すると、蛍光色素の拡散により、次第に蛍光輝度が回復する。
【００３９】
第２の走査光学系Ｂを標本１９にダメージを与えるために使用することにより、上記のような、標本１９の経時的な変化を観察することができる。
【００４０】
このような場合の動作の流れを図５及び図６を参照して説明する。図５は、画像の輝度値に応じて、第２の走査光学系Ｂを制御する場合のフローチャートであり、図６は、時間経過に伴う画像の輝度値の変化を示す図である。なお、図５において、図３と同じ部分には、同じ符号を付している。
【００４１】
まず、第１の走査光学系Ａによる走査を開始する（ステップＡ１）。そして、第２の走査光学系の走査を終了させるための、しきい値を設定（入力）する（ステップＢ１）。このしきい値は、予め設定しておいても良いし、観察者が適宜入力するようにしても良い。次に、第２の走査光学系Ｂによる走査を開始すると（ステップＡ３）、図６に示すように、標本１９がダメージを受けるために、画像の輝度値が徐々に減少する。そして、画像輝度値がしきい値に達する（褪色する）まで（ステップＢ２）、第２走査光学系による走査を継続する。そして、ステップＢ２において、画像の輝度値がしきい値に達したのであれば、第２の走査光学系Ｂのシャッタを閉じる（ステップＡ５）と共に、この時間を、第２の走査光学系による照射の終了時刻として記録する（ステップＡ６）。なお、ステップＡ６における時刻時間は、実際の時刻でなく、第１の走査光学系Ａ或いは第２の走査光学系Ｂによる走査の開始時刻からの経過時間であっても良い。そして、第２の走査光学系Ｂによる走査を停止する（ステップＡ７）。
【００４２】
上記のように、画像輝度を監視し、第２の走査光学系Ｂを任意の時間に動作、停止させることを利用して、例えば上記のような第２の走査光学系Ｂのレーザ光を当てて標本１９がダメージを受け、輝度が弱くなるが、しきい値まで輝度値が低下したときに自動的に第２の走査光学系Ｂのレーザ光をシャッタ１２により遮断する。この時、第２の走査光学系Ｂのシャッタ１２がレーザ光を遮断した時刻（時間）は動作記録手段２３に記録されるので、測定後に画像とデータの相関をとることができる。
【００４３】
以上のように、第２の実施形態においても、複雑な光学系の操作を必要とするアプリケーションにも適用でき、これらの動作を自動的に行うことができる。
【００４４】
（第３の実施形態）
図７は、第３の実施形態に係る顕微鏡装置の光学系のブロック図である。図７において、第１の走査光学系Ａと検出光学系Ｃ以外の構成は第１の実施形態と同じであるので、同一部分には、同一の符号を付し、詳細な説明は省略する。第３の実施形態では、第２の実施形態における第１のレーザ光源１に代えて、ランプ２４を備えている。
【００４５】
すなわち、第１の走査光学系Ａは、励起光源としてのランプ２４と、ランプ２４の高速シャッタ２９と、コリメートレンズ２５と、励起光を反射し、生物標本１９からの蛍光を透過するダイクロイックミラー６′と、第２の走査光学系Ｂのレーザ光を反射し、生物標本１９からの蛍光を透過するダイクロイックミラー１５と、結像レンズ１６と、対物レンズ１７と、カメラ用レンズ２７と、電荷蓄積型光電変換素子アレイ（例えばＣＣＤなど）２８とを備えている。
【００４６】
上記構成において、第１の走査光学系ＡのＣＣＤ２８で取得した輝度情報は、光学系制御手段２１′に送られる。それと同時に時間情報が動作記録手段２３に送られる。
【００４７】
第３の実施形態における光学系制御手段２１′の内部構造を図８に示す。図８において、図２と同じ部分には同じ符号を付し、詳細な説明は省略する。第３の実施形態では、ランプ２４により標本を励起しているので、図８では、図２における、第１の走査波形発生回路３２と、第１の光学走査ユニット４が省略されている。従って、ＣＰＵ３０からの制御信号が画像処理回路３１に出力されている。
【００４８】
なお、第３の実施形態においても、第２の走査波形発生回路３３、第１、第２のシャッタ開閉回路３４、３５は第１の実施形態と同様に独立に制御可能である。また、第１、第２の走査波形発生回路３２、３３および第１、第２のシャッタ開閉回路３４、３５への制御信号が、ＣＰＵ３０から同時に動作記録手段２３へ送られて、いつ、どのような動作が行われたかが動作記録手段２３に記録される。
【００４９】
上記のように、第３の実施形態によれば、ＣＣＤ２８で画像を取り込むため、フレーム数を増やすことができ、ケージド開裂など経時的変化の観察において時間的な分解能を向上させることができる。また、第１の走査光学系では標本の広く深い領域までを観察できるので、ケージド開裂したときの標本全体（標本の深さ方向も含めて）を観察できる。
【００５０】
また、既存のレーザ走査型顕微鏡装置にＣＣＤ２８を追加するだけで、二つの光学系を持たせることができるので、有利なコスト的で、２つの走査光学系を必要とするアプリケーション（例えば、第１の実施形態や第２の実施形態で示したようなアプリケーション）に対応した顕微鏡システムを構築できる。
【００５１】
上記の各実施形態から以下の発明が抽出できる。なお、本発明は、上記の各実施形態に限定されるものではない。本発明の要旨を変更しない範囲で種々変形して実施できるのは勿論である。
【００５２】
本発明に係る顕微鏡装置は、標本の走査画像を得るための第１の走査光学系と、標本の特定の部位に特異現象を発現させるための第２の走査光学系と、前記第１の走査光学系と前記第２の走査光学系のそれぞれについて、独立してレーザ走査の動作を制御する手段と、前記レーザ走査の動作を記録する動作記録手段と、を備えることを特徴とする。上記の顕微鏡装置において、前記第１の走査光学系と第２の走査光学系が、それぞれ、シャッタを有することが好ましい。
【００５３】
本発明に係る他の顕微鏡装置は、光源としてランプ、受光素子として電荷蓄積型素子アレイを有し、標本の画像を得るための光学系と、標本の特定の部位に特異現象を発現させるためのレーザ走査光学系と、前記電荷蓄積型素子アレイによって得られる画像を取得した時間と、前記レーザ走査光学系の動作を記録する手段と、を備えることを特徴とする。上記の顕微鏡装置において、前記標本の画像を得るための光学系とレーザ走査光学系が、それぞれ、シャッタを有することが好ましい。
【００５４】
【発明の効果】
本発明の一実施形態によれば、第１の光学系と第２の光学系を任意の時間に標本の任意の場所をそれぞれ独立して走査できる。また、走査した時間や場所を保証できる。
【図面の簡単な説明】
【図１】本発明の第１の実施形態に係る顕微鏡装置の光学系のブロック図。
【図２】第１の実施形態における光学系制御手段の内部構造を示すブロック図。
【図３】画像の輝度値に応じて、第２の走査光学系を制御する場合のフローチャート。
【図４】時間経過に伴う画像の輝度値の変化を示す図。
【図５】画像の輝度値に応じて、第２の走査光学系を制御する場合のフローチャート。
【図６】時間経過に伴う画像の輝度値の変化を示す図。
【図７】第３の実施形態に係る顕微鏡装置の光学系のブロック図。
【図８】第３の実施形態における光学系制御手段の内部構造を示すブロック図。
【符号の説明】
Ａ…第１の走査光学系
Ｂ…第２の走査光学系
Ｃ…検出光学系
１…第１のレーザ光源
２…ダイクロイックミラー
３…第１のレーザシャッタ
４…第１の走査光学ユニット
５…リレーレンズ
６…ミラー
６′…ダイクロイックミラー
７…フィルタ
８…レンズ
９…共焦点ピンホール
１０…光電変換素子
１１…第２のレーザ光源
１２…第２のレーザシャッタ
１３…第２の走査光学ユニット
１４…リレーレンズ
１５…ダイクロイックミラー
１６…結像レンズ
１７…対物レンズ
１８…ステージ
１９…標本
２０…断面
２１、２１′…光学系制御手段
２２…ＣＲＴディスプレイ
２３…動作記録手段
２４…ランプ
２５…コリメートレンズ
２７…カメラ用レンズ
２８…電荷蓄積型光電変換素子アレイ（ＣＣＤ）
２９…高速シャッタ
３０…ＣＰＵ
３１…画像処理回路
３２…第１の走査波形発生回路
３３…第２の走査波形発生回路
３４、３５…第１、第２のシャッタ開閉回路

Claims

標本の走査画像を得るための第１の走査光学系と、
標本の特定の部位に特異現象を発現させるための第２の走査光学系と、
前記第１の走査光学系と前記第２の走査光学系のそれぞれについて、独立してレーザ走査の動作を制御する手段と、
前記レーザ走査の動作を記録する動作記録手段と、を備えることを特徴とする顕微鏡装置。
請求項１に記載の顕微鏡装置において、前記第１の走査光学系と第２の走査光学系が、それぞれ、シャッタを有することを特徴とする顕微鏡装置。
光源としてランプ、受光素子として電荷蓄積型素子アレイを有し、標本の画像を得るための光学系と、
標本の特定の部位に特異現象を発現させるためのレーザ走査光学系と、
前記電荷蓄積型素子アレイによって得られる画像を取得した時間と、前記レーザ走査光学系の動作を記録する手段と、を備えることを特徴とする顕微鏡装置。
請求項３に記載の顕微鏡装置において、前記標本の画像を得るための光学系とレーザ走査光学系が、それぞれ、シャッタを有することを特徴とする顕微鏡装置。