JP4310360B2 - スパークプラグ用絶縁体の曲がり検査装置及び検査方法 - Google Patents
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Description
このような絶縁体は、原料粉末から成形された成形体を焼成することにより製造されるものである。より具体的に絶縁体の製法を説明すると、まずアルミナ粉末を主成分とする原料粉末に、有機結合剤(所謂、バインダ)と、溶媒としての水を添加したうえで湿式混合してスラリーを調合し、このスラリーをスプレードライ法等により噴霧乾燥して造粒する。次いで、造粒された粒状体を上述したような所定の絶縁体形状の成形体に成形し、焼成することで製造されるのが一般的である。尚、原料粉末としては、上述したようにアルミナ粉末を主成分とするものが用いられており、絶縁体の品質の安定化、及びコストダウンと生産性とを考慮して、平均粒径2μm程度のものが従来より用いられている(例えば、特許文献1参照。)。
この曲がりの有無の検査の方法としては、従来、絶縁体を1本ずつ長手方向を軸として回転させ、その際にブレが有るか否かを目視により確認していた。
1.円筒形状を有し且つ軸方向の中間部に拡径されたつば部が形成されている本体部と、該本体部の軸方向に沿って形成された貫通孔と、を備えるスパークプラグ用絶縁体の曲がりを検査する検査装置において、
上記スパークプラグ用絶縁体を軸方向に摺動可能に支持する絶縁体支持手段と、
上記絶縁体支持手段により支持された上記スパークプラグ用絶縁体の上記貫通孔に挿入される直線状の検査ピンと、
上記スパークプラグ用絶縁体が所定の許容値より曲がっていて上記検査ピンが上記貫通孔を完全に貫通できずに上記スパークプラグ用絶縁体を軸方向に摺動させた時に当該摺動を検出する検出手段と、
を備えることを特徴とするスパークプラグ用絶縁体の曲がり検査装置。
2.上記絶縁体支持手段は、上記つば部が係合して上記スパークプラグ用絶縁体を支持する受け孔を備える受け板である上記1.記載のスパークプラグ用絶縁体の曲がり検査装置。
3.上記スパークプラグ用絶縁体は、上記絶縁体支持手段に複数本が並んで支持され、上記検査ピンは、複数本が並んで配置される上記1.又は2.に記載のスパークプラグ用絶縁体の曲がり検査装置。
4.上記検出手段は、インクを含侵させたインクパッドであり、摺動された上記スパークプラグ用絶縁体の先端に該インクを付着させることにより上記摺動を検出する上記1.乃至3.のいずれか1項に記載のスパークプラグ用絶縁体の曲がり検査装置。
5.上記検出手段は、導電性を有する上記検査ピンと、導電性を有し且つ該検査ピンが上記貫通孔を貫通したときに接触可能に設けられた被接触部と、からなる通電装置であり、該検査ピンが該被接触部に接触できず、導通しないことにより上記摺動を検出する上記1.乃至3.のいずれか1項に記載のスパークプラグ用絶縁体の曲がり検査装置。
6.上記検出手段は、上記摺動を目視で確認するものである上記1.乃至3.のいずれか1項に記載のスパークプラグ用絶縁体の曲がり検査装置。
7.上記検出手段は、光センサであり、該光センサへの入光量の変化により上記摺動を検出する上記1.乃至3.のいずれか1項に記載のスパークプラグ用絶縁体の曲がり検査装置。
8.上記1.乃至7.のいずれか1項に記載のスパークプラグ用絶縁体の曲がり検査装置を用いるスパークプラグ用絶縁体の曲がり検査方法であって、
上記スパークプラグ用絶縁体を支持した上記絶縁体支持手段と上記検査ピンとを接近させて該検査ピンを上記スパークプラグ用絶縁体の上記貫通孔に挿入する挿入工程と、
上記検出手段により上記摺動を検出して上記スパークプラグ用絶縁体の良否を判定する良否判定工程と、
を備えることを特徴とするスパークプラグ用絶縁体の曲がり検査方法。
また、絶縁体支持手段(5)が受け孔(9)を有する受け板(8)である場合は、簡易な機構で安価に絶縁体支持手段(5)を実現することができる。更に、長さ方向の寸法が異なる別種類のスパークプラグ用絶縁体(1)であっても、同じ本体部(10)径及び同じつば部(3)径のスパークプラグ用絶縁体(1)であれば、同じ検査装置(4)を利用して検査することができるので汎用性が高い。
更に、スパークプラグ用絶縁体(1)が絶縁体支持手段(5)に複数本並んで支持され、検査ピン(6)が複数本並んで配置される場合は、複数のスパークプラグ用絶縁体(1)を同時に検査することができる。これにより、従来のように1本ずつ検査する場合に比べて検査効率を格段に高めることができる。
また、検出手段(7)がインクパッドである場合は、スパークプラグ用絶縁体(1)の先端部にインクが付着するので、検査ピン(6)を抜いた後であっても曲がったスパークプラグ用絶縁体(1)を容易に見つけることができる。これにより、検査効率を高めることができる。特に、複数のスパークプラグ用絶縁体(1)を同時に検査する場合には、検出手段(7)がインクパッドであると、検査ピン(6)を抜いた後であっても、多数のスパークプラグ用絶縁体(1)の中から曲がったスパークプラグ用絶縁体(1)を容易に見つけることができるので、複数のスパークプラグ用絶縁体(1)を同時に検査することと相俟って、検査効率を更に高めることができる。
更に、検出手段(7)が導電性を有する検査ピン(6)と、導電性を有し且つ検査ピン(6)が貫通孔(2)を貫通したときに接触可能に設けられた被接触部と、からなる通電装置である場合は、貫通しない検査ピン(6)が被接触部に接触できず、導通しないことによりスパークプラグ用絶縁体(1)の摺動を検出することができるので、自動で容易に検査することができ検査効率を高めることができる。
また、検出手段(7)がスパークプラグ用絶縁体(1)の摺動を目視で確認するものである場合は、検査手段として特別な装置が不要であるので安価に検査することができる。
更に、検出手段(7)が光センサである場合は、光センサへの入光量の変化によりスパークプラグ用絶縁体(1)の摺動を検出することができるので、自動で容易に検査することができ検査効率を高めることができる。
本実施形態に係るスパークプラグ用絶縁体1の曲がり検査装置4は、絶縁体支持手段5と、検査ピン6と、検出手段7と、を備えている。
上記「絶縁体支持手段(5)」は、スパークプラグ用絶縁体1を軸方向に摺動可能に支持するものである限り、その大きさ、形状、材質、数量などは特に問わない。絶縁体支持手段5は、つば部3が係合してスパークプラグ用絶縁体1を支持する受け孔9を備える受け板8であるようにできる。この場合、受け板8をほぼ水平に設置することにより、受け孔9に上方からスパークプラグ用絶縁体1を挿入し、つば部3が受け孔9の縁に係合して支持されるようになる。
上記「検査ピン(6)」は、直線状で、絶縁体支持手段5により支持されたスパークプラグ用絶縁体1の貫通孔2に挿入されるものである限り、その大きさ、形状、材質、数量などは特に問わない。検査ピン6は複数本が一列又は多列に並んで配置されるようにできる。検査ピン6の太さが貫通孔2の径に近いほど貫通孔2の曲がりに対して敏感に引っ掛かるようになるので、検査ピン6の太さを太くすると検査精度が高まるようになる。
本実施例での検査対象となるスパークプラグ用絶縁体1は、例えば、図1及び図2に示すように、円筒形状を有し且つ軸方向の中間部に拡径されたつば部3が形成されている本体部10と、本体部10の軸方向に沿って形成された中心電極及び端子電極を挿入するための貫通孔2と、を備えている。尚、スパークプラグ用絶縁体1は、図1及び2においてつば部3の下端側である直胴円筒形状を有する側を基端側、つば部3の上端側である先端が漸次縮径された形状を有する側を先端側とする。貫通孔2は、先端側の内径が、基端側の内径よりも縮径された内径となっている段付き孔であり、通常、基端部側の内径は、3〜5mm程度、先端部側の内径は1〜3mm程度である。
そして、本実施例に係るスパークプラグ用絶縁体1の曲がり検査装置4は、スパークプラグ用絶縁体1を支持する絶縁体支持手段5と、スパークプラグ用絶縁体1の貫通孔2に挿入される検査ピン6と、スパークプラグ用絶縁体1の摺動を検知する検出手段7と、を備えている。
検査ピン6は直線状であり且つ貫通孔2の内径形状に倣った形状である、先端側が縮径された段付き形状を有している。また、検査ピン6は、大径部の外径が、貫通孔2の基端側の内径と比較して1〜3%程度、小径部の外径が、貫通孔2の先端側の内径と比較して1〜3%程度、それぞれ小さい外径を有している。また、検査ピン6は複数本を一列に配列して形成されており、そして、絶縁体支持手段5により鉛直に支持されたスパークプラグ用絶縁体1の下側から貫通孔2に挿入される。
検出手段7は、スパークプラグ用絶縁体1が所定の許容値より曲がっていて検査ピン6が貫通孔2を完全に貫通できずにスパークプラグ用絶縁体1を軸方向上方に向かって摺動した時に該スパークプラグ用絶縁体1の先端が当接する位置に配置されており、本実施例ではこの検出手段7はインクを含侵させたインクパッドからなる。
上述した実施例によりスパークプラグ用絶縁体1の検査を行う手順について説明する。
(挿入工程)
まず、図1(A)に示す絶縁体支持手段5の受け孔9に、検査対象であるスパークプラグ用絶縁体1を挿入して支持させ、スパークプラグ用絶縁体1の上方には適宜距離をおいて検出手段7を配置しておく(図1(B))。そして、図1(C)に示すように、絶縁体支持手段5の下側から検査ピン6を上昇させて、検査ピン6をスパークプラグ用絶縁体1の貫通孔2に挿入する。
(良否判定工程)
図1(C)及び図2に示すように、スパークプラグ用絶縁体1の曲がりが所定の許容値以内であれば、検査ピン6は貫通孔2を貫通してスパークプラグ用絶縁体1の先端側から突出し、スパークプラグ用絶縁体1は摺動しない(図2中、左側)。これに対し、スパークプラグ用絶縁体1の曲がりが所定の許容値を超えていれば、検査ピン6は貫通孔2’の途中の曲がった部分に当接してスパークプラグ用絶縁体1’を上方に押し上げて摺動させる(図2中、右側)。押し上げられたスパークプラグ用絶縁体1’の先端は検出手段7に当接してインクが付着する。
その後、検査ピン6を下方に引き抜き、検出手段7を取り除く。この時、全てのスパークプラグ用絶縁体1は再び絶縁体支持手段5により支持されている。そして、先端にインクが付着しているスパークプラグ用絶縁体1は曲がっていると判定され、除去される。
本実施例によれば、検出手段7としてインクパッドを採用しているので、検査ピン6を抜いた後であっても多数のスパークプラグ用絶縁体1の中から曲がったスパークプラグ用絶縁体1を容易に見つけることができ、検査効率を高めることができる。また、検査ピン6は複数本を一列に配列されているので、複数のスパークプラグ用絶縁体1を同時に検査することができる。このため、検査効率を高めて生産性を上げることができる。
また、スパークプラグ用絶縁体1は絶縁体支持手段5の受け孔9につば部3で引っ掛かっているだけなので、上方に向けて容易に摺動可能とされている。このため、曲がったスパークプラグ用絶縁体1の下方から検査ピン6を貫通孔2に挿入した時に、検査ピン6が貫通孔2に沿って曲がってしまうことを抑制できる。よって、検査精度の低下を抑えることができる。
また、検出手段7は、例えば、貫通孔2を貫通してスパークプラグ用絶縁体1の先端側から突出した導電性のある検査ピン6と、その先端と接触する被接触部とからなる、導通を確認する通電装置であるようにしてもよい。この場合、例えば、スパークプラグ用絶縁体1の先端側に被接触部として端子を設置し、検査ピン6が端子に接触するか否かを検出するようにする。この場合もスパークプラグ用絶縁体1の摺動が自動的に検出されるようになるので、操作性を高めることができる。
更に、検出手段7は、例えば、スパークプラグ用絶縁体1の摺動を目視で確認するものであるようにしてもよい。この場合、検出手段7を安価に得ることができる。
また、上記実施例では、絶縁体支持手段5として受け孔9を有する水平な受け板8を採用したが、これに限定されず、例えば、水平で多数の受け孔を有する網としてもよい。また、上記実施例ではスパークプラグ用絶縁体1を上方にのみ摺動可能に支持するが、これに限定されず、例えば、下方に対して摺動可能に支持するものとしたり、又は水平や他の角度で支持するようにし、スパークプラグ用絶縁体1が摺動する方向に合わせて検査ピン6を挿入するようにしてもよい。
更に、上記実施例では、複数の検査ピン6を一列に配置しているが、これに限定されず、例えば複数列に配置したり、又は単独の検査ピン6としてもよい。
また、上記実施例では、スパークプラグ用絶縁体1を摺動可能に支持するようにしたが、これに限定されず、スパークプラグ用絶縁体1を固定支持するようにして、その固定支持されたスパークプラグ用絶縁体1に対して、摺動可能に支持された検査ピン6を挿入し、検査ピン6の摺動を検出するようにしてもよい。
Claims (8)
- 円筒形状を有し且つ軸方向の中間部に拡径されたつば部が形成されている本体部と、該本体部の軸方向に沿って形成された貫通孔と、を備えるスパークプラグ用絶縁体の曲がりを検査する検査装置において、
上記スパークプラグ用絶縁体を軸方向に摺動可能に支持する絶縁体支持手段と、
上記絶縁体支持手段により支持された上記スパークプラグ用絶縁体の上記貫通孔に挿入される直線状の検査ピンと、
上記スパークプラグ用絶縁体が所定の許容値より曲がっていて上記検査ピンが上記貫通孔を完全に貫通できずに上記スパークプラグ用絶縁体を軸方向に摺動させた時に当該摺動を検出する検出手段と、
を備えることを特徴とするスパークプラグ用絶縁体の曲がり検査装置。 - 上記絶縁体支持手段は、上記つば部が係合して上記スパークプラグ用絶縁体を支持する受け孔を備える受け板である請求項1記載のスパークプラグ用絶縁体の曲がり検査装置。
- 上記スパークプラグ用絶縁体は、上記絶縁体支持手段に複数本が並んで支持され、上記検査ピンは、複数本が並んで配置される請求項1又は2に記載のスパークプラグ用絶縁体の曲がり検査装置。
- 上記検出手段は、インクを含侵させたインクパッドであり、摺動された上記スパークプラグ用絶縁体の先端に該インクを付着させることにより上記摺動を検出する請求項1乃至3のいずれか1項に記載のスパークプラグ用絶縁体の曲がり検査装置。
- 上記検出手段は、導電性を有する上記検査ピンと、導電性を有し且つ該検査ピンが上記貫通孔を貫通した時に接触可能に設けられた被接触部と、からなる通電装置であり、該検査ピンが該被接触部に接触できず、導通しないことにより上記摺動を検出する請求項1乃至3のいずれか1項に記載のスパークプラグ用絶縁体の曲がり検査装置。
- 上記検出手段は、上記摺動を目視で確認するものである請求項1乃至3のいずれか1項に記載のスパークプラグ用絶縁体の曲がり検査装置。
- 上記検出手段は、光センサであり、該光センサへの入光量の変化により上記摺動を検出する請求項1乃至3のいずれか1項に記載のスパークプラグ用絶縁体の曲がり検査装置。
- 請求項1乃至7のいずれか1項に記載のスパークプラグ用絶縁体の曲がり検査装置を用いるスパークプラグ用絶縁体の曲がり検査方法であって、
上記スパークプラグ用絶縁体を支持した上記絶縁体支持手段と上記検査ピンとを接近させて該検査ピンを上記スパークプラグ用絶縁体の上記貫通孔に挿入する挿入工程と、
上記検出手段により上記摺動を検出して上記スパークプラグ用絶縁体の良否を判定する良否判定工程と、
を備えることを特徴とするスパークプラグ用絶縁体の曲がり検査方法。
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