JP4313085B2 - 追記型光記録媒体 - Google Patents
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Description
【発明の属する技術分野】
本発明は、レーザーにより情報の記録再生及び必要な場合には消去が可能な追記型光記録媒体、更には再書き込みが可能な書き換え型光情報記録媒体に関するものである。
【0002】
【従来技術】
記録可能な光記録媒体では、記録前後の記録層の物理的な変形、相変化、磁気的性質変化などに起因した反射率の変化により記録された情報が再生される。このような光記録媒体がCDと互換可能な記録媒体として用いられるためには、上記の高反射率、CNR特性の以外にも記録の長期保存性及び高い記録感度が要求される。このように、光記録媒体の特性向上と製造上の容易性のために様々な材料を用いた多様な光記録媒体が提案され、その一部が実用化されている。
例えば、特許文献1〜6には、プリグルーブの形成されている基板と、前記基板上に順次に積層されている金属記録膜、バッファ層及び反射層を含む光記録媒体において、前記バッファ層が、600〜800nm波長のレーザービームに対する吸光性の低い物質として、650nmでは吸光率(k)が1.0以下であり、780nmでは吸光率(k)が0.1以下である有機物質からなることを特徴とする光記録媒体が提案されている。
【0003】
また、超高密度の記録が可能となる青色レーザの開発は急速に進んでおり、それに対応した追記型の光記録媒体の開発が行なわれている。
従来の追記型光記録媒体では、有機材料からなる記録層にレーザ光を照射し、有機材料の分解・変質による屈折率変化を主に生じさせることで記録ピットを形成させており、記録層に用いられる有機材料の光学定数、分解挙動が良好な記録ピットを形成させるための重要な要素となっている。
従って、記録層に用いる有機材料には、青色レーザ波長に対する光学的性質や分解挙動の適切な材料を選択する必要がある。
青色レーザ対応の有機材料は、例えば、特許文献7〜11に記載されている。特許文献12〜14には、記録波長488nmで記録ピットが形成できた旨の記載が、特許文献15には、記録波長430nmで記録ピットが形成できた旨の記載が、特許文献16〜25には、実施例に記録波長430nm、NA0.65での記録例がある。また、特許文献26には、記録再生波長405〜408nmの記載がある。
【0004】
また、従来のCD、DVD系光記録媒体と異なる層構成や記録方法に関して、以下のような技術が公開されている。
特許文献27には、基板/金属蒸着層/光吸収層/保護シートという構成で、光吸収層によって発生した熱によって、金属蒸着層を変色又は変形させることで記録を行なう技術が開示されている。
特許文献28には、基板/誘電体層/光吸収体を含む記録層/反射層という構成で、記録層の膜厚を変え溝部の深さを変えることにより記録を行なう技術が開示されている。
特許文献29には、基板/絶縁層/シアニン記録膜/反射膜/保護膜という構成で、絶縁膜に熱を逃がし記録部を修正する技術が開示されている。
【0005】
特許文献30には、基板/光吸収層/記録補助層/光反射層という構成で、記録補助層を凹状に変形させると共に、記録補助層の変形に沿って光反射層を凹状に変形させることで記録を行なう技術が開示されている。
特許文献31には、基板/光吸収層/多孔質な記録補助層/光反射層、或いは基板/多孔質な記録補助層/光吸収層/光反射層という構成で、記録補助層を凹状に変形させると共に、記録補助層の変形に沿って光反射層を凹状に変形させることで記録を行なう技術が開示されている。
特許文献32には、基板/多孔質な光吸収層/光反射層という構成で、光吸収層を凹状に変形させると共に、光吸収層の変形に沿って光反射層を凹状に変形させて記録を行なう技術が開示されている。
特許文献33には、基板/薄層/色素/反射層/保護層という構成の光ディスクが開示されている。
【0006】
【特許文献1】
特許第2966377号公報
【特許文献2】
特開平10−134415号公報
【特許文献3】
特開平10−124926号公報
【特許文献4】
特開平10−124927号公報
【特許文献5】
特開平9−265660号公報
【特許文献6】
特表2000−516007号公報
【特許文献7】
特開2001−181524号公報
【特許文献8】
特開2001−158865号公報
【特許文献9】
特開2000−343824号公報
【特許文献10】
特開2000−343825号公報
【特許文献11】
特開2000−335110号公報
【特許文献12】
特開平11−221964号公報
【特許文献13】
特開平11−334206号公報
【特許文献14】
特開2000−43423号公報
【特許文献15】
特開平11−58955号公報
【特許文献16】
特開2001−39034号公報
【特許文献17】
特開2000−149320号公報
【特許文献18】
特開2000−113504号公報
【特許文献19】
特開2000−108513号公報
【特許文献20】
特開2000−222772号公報
【特許文献21】
特開2000−218940号公報
【特許文献22】
特開2000−222771号公報
【特許文献23】
特開2000−158818号公報
【特許文献24】
特開2000−280621号公報
【特許文献25】
特開2000−280620号公報
【特許文献26】
特開2001−146074号公報
【特許文献27】
特開平8−83439号公報
【特許文献28】
特開平8−138245号公報
【特許文献29】
特許第2506867号公報
【特許文献30】
特許第2591939号公報
【特許文献31】
特許第2591940号公報
【特許文献32】
特許第2591941号公報
【特許文献33】
特開平10−172181号公報
【0007】
【発明が解決しようとする課題】
本発明は、上記従来技術に鑑みて、500nm以下の青色レーザ波長領域、特に405nm近傍の波長領域であっても記録可能な、有機材料を用いた追記型光記録媒体、また、高密度化が図れ、変調度が大きく、更には、記録再生波長の変動に対し、記録感度、変調度、ジッタ、エラー率といったような記録特性や、反射率等の変化が少ない追記型光記録媒体の提供を目的とする。
【0008】
【課題を解決するための手段】
上記課題は、次の1)の発明によって解決される。
1) 基板上に、少なくとも、Ag反射層、下記化学式(1)で示される色素を主成分とする第一の光吸収層、ZnS・SiO2からなる第二の光吸収層をこの順に設けた光記録媒体であって、第一の光吸収層材料を石英基板上に成膜し、波長395〜415nmの範囲の測定光を基板側から入射して得られる反射率が7%以上、同様の測定光を光吸収層側から入射して得られる反射率が8%以上であり、第一の光吸収層の膜厚は、記録再生波長390〜420nmにおいて反射極大を示す膜厚より厚いことを特徴する追記型光記録媒体。
【化2】
〔式中、MはVOであり、4個のRはC 6 H 5 −(CF3)2C−O−である。〕
【0009】
以下、上記本発明について詳しく説明する。
本発明者は、従来の追記型光記録媒体の記録層に要求されるジッターの低減について検討した。
従来は、用いる波長である405nmにある程度の吸収を有することで記録そのものは達成できた。しかし、ジッターの低減は困難であった。
これに対して、本発明は、用いる波長である405nmに反射特性を有することで干渉効果を利用し大きな変形を伴わず、記録ストラテジに合った記録ができるようにしたものである。また、吸収極大を波長λ=330〜400nmの範囲に設ける事により高感度化を達成できる。
本発明の参考例の追記型光記録媒体(光ディスク)の層構成の一例を、図1及び図2に示す。図1は要部拡大断面図、図2は斜視図である。
これらの図から明らかなように、この追記型光記録媒体は、片面に微細な凹凸状のプリフォーマットパターン2を有する透明基板1、第一の光吸収層3、第二の光吸収層4、熱受容層5、反射層10、保護層15がこの順に積層された構成を有する。
【0010】
透明基板1としては、例えばポリカーボネート、ポリメチルメタクリレート、ポリメチルペンテン、エポキシ樹脂、ポリエステル、非晶質ポリオレフィンなどの透明樹脂材料(好ましくはガラス転移温度Tgが100〜200℃)を所望の形状に成形し、その片面に所望のプリフォーマットパターンを転写したものや、所望の形状に形成されたガラス等の透明セラミックス板の片面に所望のプリフォーマットパターンが転写された透明樹脂層を密着したものなど、公知に属する任意の透明基板を用いることができる。ディスク状追記型光記録媒体(以下、光ディスクという)を構成する透明基板1は、図2に示すように、中心部にセンタ孔1aを有する円盤状に形成される。なお、透明基板1の作製は、公知の方法で行うことができる。
【0011】
プリフォーマットパターン2は、少なくとも記録・再生用レーザビームを記録トラックに追従させるためのビーム案内部を含んで構成される。
図1、図2の例では、ビーム案内部が、センタ孔1aと同心の渦巻状又は同心円状に形成された案内溝2aをもって構成されており、当該案内溝2aに沿って、アドレスピットやクロックピット等のプリピット2bが形成されている。
プリピット2bが案内溝2a上に重ねて形成される場合には、両者を光学的に識別できるようにするため、図1に示すように、案内溝2aとプリピット2bとをそれぞれ異なる深さに形成する。プリピット2bが相隣接する案内溝2aの間に形成される場合には、両者を同じ深さに形成することもできる。
なお、ビーム案内部としては、案内溝2aに代えて、ウォブルピットを記録トラックに沿って形成することもできる。また、プリピット2bを省略し、案内溝のみで形成しても良い。
【0012】
また、本発明の光記録媒体に波長450nm以下のレーザー光と開口度(NA)が0.5以上、0.7未満の対物レンズを用いて記録再生を行う場合には、トラックピッチは100〜300nm、200〜400nm、300〜500nm、400〜600nmの範囲が安定したトラッキングを達成するために好適であり、中でも300〜500nmが適している。更に安定したトラッキングのためには400〜500nmが良い。
一方、溝の深さはトラックピッチとの相関性がないので独自に設定することができ、10〜150nm、20〜140nm、20〜100nm、20〜50nmの範囲が良好に使用可能な範囲である。中でも49±5nm、50±10nm、60±20nmの条件でスタンパを作製すると、グルーブ内に色素が十分に充填され良好な変調度が得られるので好適である。特に49±5nmでは、成形が容易で良好な変調度が得られるので好適である。
溝の形状は、底辺が現れないV溝、底辺が現れるU溝の何れでもよいが、より安定したトラッキングを達成するためにはU溝が好適である。
【0013】
溝幅は溝の形状により変わるが、まずV溝の開口部の幅(溝幅D1)に関して述べる。
溝幅D1はトラックピッチと相関があり、トラックピッチをTpとした場合、0.1×Tp〜0.9×Tpの範囲で設ける事ができる。更には0.2×Tp〜0.8×Tp、0.3×Tp〜0.7×Tp、0.4×Tp〜0.6×Tpのような0.5Tpを中心とした関係が良好であり、特に、0.5Tpよりやや幅の広い0.4×Tp〜0.65×Tp、0.4×Tp〜0.7×Tpの関係が良好にトラッキングでき、クロストークが少ないので好適である。
【0014】
次に、U溝の開口部の幅(溝幅D2)に関して述べる。
溝幅D2はトラックピッチと相関があり、トラックピッチをTpとした場合、0.1×Tp〜0.9×Tpの範囲で設ける事ができる。更には0.2×Tp〜0.8×Tp、0.3×Tp〜0.7×Tp、0.4×Tp〜0.6×Tpのような0.5Tpを中心とした関係が良好であり、特に、0.5Tpよりやや幅の広い0.4×Tp〜0.65×Tp、0.4×Tp〜0.7×Tpの関係が良好にトラッキングでき、クロストークが少ないので好適である。
次に、U溝の底部の幅(溝幅D3)に関して述べる。
溝幅D3は、溝幅D2とは相関性がないので、成形が可能である限り適宜設定できる。
しかし、トラックピッチとは相関があり、トラックピッチをTpとした場合、0.1×Tp〜0.9×Tpの範囲で設ける事ができる。更には0.2×Tp〜0.8×Tp、0.3×Tp〜0.7×Tp、0.4×Tp〜0.6×Tpのような0.5Tpを中心とした関係が良好であり、特に、0.5Tpよりやや幅の狭い0.2×Tp〜0.6×Tp、0.3×Tp〜0.6×Tp、0.4×Tp〜0.6×Tpの関係が良好にトラッキングでき、クロストークが少ないので好適である。
【0015】
更に溝幅を現す値として、半分の溝深さで現す半値幅という表現がある。これを溝幅D4とする。
溝幅D4はトラックピッチと相関があり、トラックピッチをTpとした場合、0.1×Tp〜0.9×Tpの範囲で設ける事ができる。更には0.2×Tp〜0.8×Tp、0.3×Tp〜0.7×Tp、0.4×Tp〜0.6×Tpのような0.5Tpを中心とした関係が良好であり、中でも、0.3×Tp〜0.7×Tp、0.4×Tp〜0.6×Tpが好ましく、特に、0.4×Tp〜0.6×Tpが好適である。
以上に挙げた数字の測定はSEM(走査型電子顕微鏡)、タリステップ、AFM(原子間力顕微鏡)、STM(スキャニングトンネルマイクロスコープ)等の既存の何れかの装置を使用して行う。
また、ここで挙げたトラックピッチ、溝深さ、溝幅の数値は、スタンパ及びスタンパを用いて成形した基板の何れにも適応するものである。つまり、スタンパを上記の範囲内で作製した場合(従って、成形基板は上記の範囲外になることもある)、スタンパを上記の範囲外で作製し、基板が上記の範囲に入っている場合を含む。
【0016】
また、本発明の光記録媒体に波長450nm以下のレーザー光と開口度(NA)が0.7以上の対物レンズを用いて記録再生を行う場合には、トラックピッチは100〜300nm、200〜400nm、300〜500nm、400〜600nmの範囲が安定したトラッキングを達成するために好適であり、中でも300〜500nmが適している。更に安定したトラッキングのためには300〜400nmが良い。
一方、溝の深さはトラックピッチとは相関性がないので、独自に設定することができ、10〜150nm、20〜140nm、20〜100nm、20〜50nmで表される範囲が良好に使用可能な範囲である。中でも49±5nm、50±10nm、60±20nmの条件でスタンパを作製する事がグルーブ内に色素が十分に充填され良好な変調度が得られる点で好適である。特に49±5nmでは、成形が容易で良好な変調度が得られるので好適である。
溝の形状は、底辺が現れないV溝、底辺が現れるU溝の何れでもよいが、より安定したトラッキングを達成するためにはU溝が好適である。
【0017】
溝幅は溝の形状により変わるが、まずV溝の開口部の幅(溝幅D5)に関して述べる。
溝幅D5はトラックピッチと相関があり、トラックピッチをTpとした場合、0.1×Tp〜0.9×Tpの範囲で設ける事ができる。更には0.2×Tp〜0.8×Tp、0.3×Tp〜0.7×Tp、0.4×Tp〜0.6×Tpのような0.5Tpを中心とした関係が良好であり、特に、0.5Tpよりやや幅の広い0.4×Tp〜0.65×Tp、0.4×Tp〜0.7×Tpの関係が良好にトラッキングでき、クロストークが少ないという点で好適である。
次に、U溝の開口部の幅(溝幅D6)に関して述べる。
溝幅D6はトラックピッチと相関があり、トラックピッチをTpとした場合、0.1×Tp〜0.9×Tpの範囲で設ける事ができる。更には0.2×Tp〜0.8×Tp、0.3×Tp〜0.7×Tp、0.4×Tp〜0.6×Tpのような0.5Tpを中心とした関係が良好であり、特に、0.5Tpよりやや幅の広い0.4×Tp〜0.65×Tp、0.4×Tp〜0.7×Tpの関係が良好にトラッキングでき、クロストークが少ないという点で好適である。
【0018】
次に、U溝の底部の幅(溝幅D7)に関して述べる。
溝幅D7は、溝幅D6とは相関性がないので、成形が可能である限り適宜設定できる。
しかし、トラックピッチとは相関があり、トラックピッチをTpとした場合、0.1×Tp〜0.9×Tpの範囲で設ける事ができる。更には0.2×Tp〜0.8×Tp、0.3×Tp〜0.7×Tp、0.4×Tp〜0.6×Tpのような0.5Tpを中心とした関係が良好であり、特に、0.5Tpよりやや幅の狭い0.2×Tp〜0.6×Tp、0.3×Tp〜0.6×Tp、0.4×Tp〜0.6×Tpの関係が良好にトラッキングでき、クロストークが少ないので好適である。
【0019】
更に溝幅を現す値として、半分の溝深さで現す半値幅という表現がある。これを溝幅D8とする。
溝幅D8はトラックピッチと相関があり、トラックピッチをTpとした場合、0.1×Tp〜0.9×Tpの範囲で設ける事ができる。更には0.2×Tp〜0.8×Tp、0.3×Tp〜0.7×Tp、0.4×Tp〜0.6×Tpのような0.5Tpを中心とした関係が良好であり、中でも、0.3×Tp〜0.7×Tp、0.4×Tp〜0.6×Tpが好ましく、特に、0.4×Tp〜0.6×Tpが好適である。
以上に挙げた数字の測定はSEM、タリステップ、AFM、STM等の既存のいずれかの装置を使用して行う。
また、ここで挙げたトラックピッチ、溝深さ、溝幅の数値は、スタンパ及びスタンパを用いて成形した基板の何れにも適応するものである。つまり、スタンパを上記の範囲内で作製した場合(従って、成形基板は上記の範囲外になることもある)、スタンパを上記の範囲外で作製し、基板が上記の範囲に入っている場合を含む。
また、トラックピッチTp=0.1〜0.6μmの範囲において、ウォブリング量Wは、W=Tp/20〜Tp/40の範囲が良好にアドレスを読み出す事ができるので好適である。
【0020】
第一の光吸収層は、有機材料を主成分とするが、ここで主成分とは有機材料を50重量%以上含有することを意味する。また、500nm以下の青色レーザ波長領域の記録再生光に対する吸光度が0.5以下となるように材料や膜厚を選択する。吸光度が0.5より高い場合は、光が吸収されてしまって反射率が低くなり、良好な記録ができない。記録に用いる波長としては350〜450nm程度の青色発光波長が重要であるが、この波長範囲に限定されるものではない。
第一の光吸収層の有機材料の例としては、ポリメチン系色素、アントラキノン系色素、ダイオキシディン系色素、トリフェノジチアジン系色素、フェナントレン系色素、シアニン系色素、ジカルボシアニン系色素、フタロシアニン系色素、ナフタロシアニン系色素、メロシアニン系色素、ピリリウム系色素、ポルフィリン系色素、キサンテン系色素、トリフェニルメタン系色素、アズレン系色素、含金属アゾ染料、アゾ染料、アゾ系色素、スクアリリウム系色素、ポリエン系色素、ベーススチリル系色素、ホルマザンキレート系色素、クロコニウム系色素、インジゴイド系色素、メチン系色素、スルファイド系色素、メタンジチオールレート系色素等を挙げることができ、中でも、シアニン誘導体、ジカルボシアニン誘導体、フタロシアニン誘導体、ナフタロシアニン誘導体、アゾ染料誘導体が好適に用いられる。また、アミニウム系色素などの各種クエンチャを添加した色素材料を用いることもできる。
【0021】
上記の中でも下記一般式(2)で表される化合物を少なくとも1種含有していると優れた効果を発揮する。そして、波長300〜500nm及び/又は500〜700nmから選択される記録レーザー波長及び再生レーザー波長に対して記録再生が可能である。中でも、波長300〜450nm及び/又は600〜700nm、更には波長339〜435nm及び/又は635〜670nmの範囲から選択される記録レーザー波長及び再生レーザー波長に対して良好なC/N比を得ることができ、また、再生光安定性も良く、高品位な信号特性が得られる追記型光記録媒体である。
【化3】
〔式中、環A、B、C、Dはそれぞれ独立に置換基を有していてもよいピロール環骨格を表し、X、Y、Zはそれぞれ独立に置換基を有していてもよいメチン基又は窒素原子を表し、X、Y、Zのうち少なくとも1つが置換基を有していてもよいメチン基であり、Mは2個の水素原子、置換基又は配位子を有していてもよい2〜4価の金属原子又は半金属原子、オキシ金属原子の何れかを表す。〕
【0022】
上記一般式(2)で表される化合物は、置換基の選択により吸光係数を保持した状態で吸収波長を任意に選択できるため、前記レーザー光の波長において、記録層に必要な光学定数を満足することのできる極めて有用な有機色素である。
また、一般式(2)の、置換基を有していてもよいピロール環A、B、C、Dの置換基の具体例としては、ハロゲン原子、ニトロ基、シアノ基、ヒドロキシル基、アミノ基、カルボキシル基、スルホン酸基、置換又は無置換のアルキル基、アラルキル基、アリール基、アルケニル基、アルコキシ基、アラルキルオキシ基、アリールオキシ基、アルケニルオキシ基、アルキルチオ基、アラルキルチオ基、アリールチオ基、アルケニルチオ基、モノ置換アミノ基、ジ置換アミノ基、アシル基、アルコキシカルボニル基、アラルキルオキシカルボニル基、アリールオキシカルボニル基、アルケニルオキシカルボニル基、モノ置換アミノカルボニル基、ジ置換アミノカルボニル基、アシルオキシ基又はヘテロアリール基等が挙げられる。
【0023】
また、一般式(2)のアザポルフィリン骨格のメソ位に位置する置換基を有していてもよいメチン基X、Y、Zの置換基の具体例としては、それぞれ下記式(3)、式(4)、式(5)で示される置換していてもよいメチン基等が挙げられる。
【化4】
〔式中、G1、G2、G3は水素原子、ハロゲン原子、シアノ基、置換又は無置換の「アルキル基、アラルキル基、アリール基」の何れかを示す。〕
また、上記ピロール環の置換基、及びX、Y、Zで表されるメチン基上の置換基は、連結基を介してピロール環上の各置換基同士で、或いはピロール環上の置換基と隣接するメチン基上の置換基とで連結していてもよく、具体的には脂肪族縮合又は芳香族縮合による環の形成、或いは連結基としてヘテロ原子又は金属錯体残基等のヘテロ原子を含む複素環の形成等が挙げられる。
更に、一般式(2)のMの具体例としては、2価の無置換又は配位子を有する金属原子、置換基を有する3価又は4価の金属原子又は半金属原子、オキシ金属原子等が挙げられる。
【0024】
上記一般式(2)で表される化合物の好ましい例としては、次の一般式(6)〜(12)で表される化合物が挙げられる。
【化5】
〔式中、R1〜R8はそれぞれ独立に、水素原子、ハロゲン原子、ニトロ基、シアノ基、ヒドロキシル基、アミノ基、カルボキシル基、スルホン酸基、置換又は無置換の「アルキル基、アラルキル基、アリール基、アルケニル基、アルコキシ基、アラルキルオキシ基、アリールオキシ基、アルケニルオキシ基、アルキルチオ基、アラルキルチオ基、アリールチオ基、アルケニルチオ基」、モノ置換アミノ基、ジ置換アミノ基、置換又は無置換の「アシル基、アルコキシカルボニル基、アラルキルオキシカルボニル基、アリールオキシカルボニル基、アルケニルオキシカルボニル基」、モノ置換アミノカルボニル基、ジ置換アミノカルボニル基、置換又は無置換の「アシルオキシ基、ヘテロアリール基」の何れかを表し、L1は窒素原子又はC−R9(R9は水素原子、ハロゲン原子、シアノ基、置換又は無置換の「アルキル基、アラルキル基、アリール基」の何れかを表す)で示される置換されていてもよいメチン基を表し、L2は窒素原子又はC−R10(R10は水素原子、ハロゲン原子、シアノ基、置換又は無置換の「アルキル基、アラルキル基、アリール基」の何れかを表す)で示される置換されていてもよいメチン基を表し、L3は、窒素原子又はC−R11(R11は水素原子、ハロゲン原子、シアノ基、置換又は無置換の「アルキル基、アラルキル基、アリール基」の何れかを表す)で示される置換されていてもよいメチン基を表し、L1〜L3のうち、少なくとも1つはメチン基を表し、R1〜R11の各置換基は連結基を介して、隣接する置換基と共に環を形成してもよく、M1は2個の水素原子、2価の無置換又は配位子を有する金属原子、置換基を有する3価又は4価の金属原子又は半金属原子、オキシ金属原子の何れかを表す。〕
【0025】
【化6】
〔式中、R12〜R19はそれぞれ独立に、前記一般式(6)のR1〜R8と同一の基を表し、R20、R21はそれぞれ独立に、前記一般式(6)のR9〜R11と同一の基を表し、R12〜R21の各置換基は連結基を介して、隣接する置換基と共に環を形成してもよく、M2は前記一般式(6)のM1と同一の物質を表す。(中でも、R20、R21が置換又は無置換のフェニル基のものが好ましい。)〕
【0026】
【化7】
〔式中、R22〜R29はそれぞれ独立に、前記一般式(6)のR1〜R8と同一の基を表し、R30〜R32はそれぞれ独立に、前記一般式(6)のR9〜R11と同一の基を表し、R22〜R32の各置換基は連結基を介して、隣接する置換基と共に環を形成してもよく、M3は前記一般式(6)のM1と同一の物質を表す。(R30〜R32が置換又は無置換のフェニル基も好ましく用いられる。)〕
【0027】
【化8】
〔式中、R33〜R44はそれぞれ独立に、水素原子、ハロゲン原子、ヒドロキシル基、置換又は無置換の「アルキル基、アリール基、アルコキシ基、アラルキルオキシ基、アリールオキシ基、アルケニルオキシ基、アルキルチオ基、アリールチオ基、又はヘテロアリール基」の何れかを表し、R33とR34、R35とR36は、連結基を介して、それぞれ置換基を有していてもよい脂肪族環を形成してもよく、X1、Y1、Z1はそれぞれ独立にメチン基又は窒素原子を表し、X1、Y1、Z1のうち少なくとも2つが窒素原子であり、M4は前記一般式(6)のM1と同一の物質を表す。〕
【0028】
【化9】
〔式中、R45〜R56はそれぞれ独立に、前記一般式(9)のR33〜R44と同一の基を表し、R45とR46、R47とR48は、連結基を介して、それぞれ置換基を有していてもよい脂肪族環を形成してもよく、M5は前記一般式(6)のM1と同一の物質を表す。〕
【0029】
【化10】
〔式中、R57〜R68はそれぞれ独立に、前記一般式(9)のR33〜R44と同一の基を表し、R57とR58、R59とR60は連結基を介して、それぞれ置換基を有していてもよい脂肪族環を形成してもよく、M6は前記一般式(6)のM1と同一の物質を表す。〕
【0030】
【化11】
〔式中、R69〜R80はそれぞれ独立に、前記一般式(9)のR33〜R44と同一の基を表し、R69とR70、R71とR72は連結基を介して、それぞれ置換基を有していてもよい脂肪族環を形成してもよく、M7は前記一般式(6)のM1と同一の物質を表す。〕
【0031】
下記一般式(13)で表されるマレオニトリルと下記一般式(14)で表されるアセトフェノンとハロゲン化金属及び/又は金属誘導体と反応させることにより製造される下記一般式(15)で表されるアザポルフィリン化合物の混合物(ここでいう混合物とは、原料のマレオニトリル及びアセトフェノンの結合の仕方により生成する構造異性体の混合物のことである)。
【化12】
〔式中、R81〜R86はそれぞれ独立に、前記一般式(9)のR33〜R44と同一の基を表し、R81とR82は連結基を介して、置換基を有していてもよい脂肪族環を形成してもよく、Qはハロゲン原子又はシアノ基を表す。〕
【0032】
【化13】
〔式中、A1、A2は何れか一方が前記一般式(13)のR81、他方がR82を表し、A3、A4は何れか一方が前記一般式(13)のR81、他方がR82を表し、B1、B2、B3、B4は順に前記一般式(14)のR83、R84、R85、R86又はR86、R85、R84、R83を表し、B5、B6、B7、B8は順に前記一般式(14)のR83、R84、R85、R86又はR86、R85、R84、R83を表し、M8は前記一般式(6)のM1と同一の物質を表す。〕
【0033】
前記一般式(6)で表されるアザポルフィリン化合物において、R1〜R8がハロゲン原子である場合の具体例としては、フッ素原子、塩素原子、臭素原子、ヨウ素原子が挙げられる。
また、R1〜R8が置換又は無置換のアルキル基である場合の具体例としては、次の(イ)〜(オ)の基が挙げられる。
(イ) メチル基、エチル基、n−プロピル基、iso−プロピル基、n−ブチル基、iso−ブチル基、sec−ブチル基、t−ブチル基、n−ペンチル基、iso−ペンチル基、2−メチルブチル基、1−メチルブチル基、ネオペンチル基、1,2−ジメチルプロピル基、1,1−ジメチルプロピル基、シクロペンチル基、n−ヘキシル基、4−メチルペンチル基、3−メチルペンチル基、2−メチルペンチル基、1−メチルペンチル基、3,3−ジメチルブチル基、2,3−ジメチルブチル基、1,3−ジメチルブチル基、2,2−ジメチルブチル基、1,2−ジメチルブチル基、1,1−ジメチルブチル基、3−エチルブチル基、2−エチルブチル基、1−エチルブチル基、1,2,2−トリメチルブチル基、1,1,2−トリメチルブチル基、1−エチル−2−メチルプロピル基、シクロヘキシル基、n−ヘプチル基、2−メチルヘキシル基、3−メチルヘキシル基、4−メチルヘキシル基、5−メチルヘキシル基、2,4−ジメチルペンチル基、n−オクチル基、2−エチルヘキシル基、2,5−ジメチルヘキシル基、2,5,5−トリメチルペンチル基、2,4−ジメチルヘキシル基、2,2,4−トリメチルペンチル基、3,5,5−トリメチルヘキシル基、n−ノニル基、n−デシル基、4−エチルオクチル基、4−エチル−4,5−メチルヘキシル基、n−ウンデシル基、n−ドデシル基、1,3,5,7−テトラエチルオクチル基、4−ブチルオクチル基、6,6−ジエチルオクチル基、n−トリデシル基、6−メチル−4−ブチルオクチル基、n−テトラデシル基、n−ペンタデシル基、3,5−ジメチルヘプチル基、2,6−ジメチルヘプチル基、2,4−ジメチルヘプチル基、2,2,5,5−テトラメチルヘキシル基、1−シクロペンチル−2,2−ジメチルプロピル基、1−シクロヘキシル−2,2−ジメチルプロピル基などの炭素数1〜15の無置換の直鎖、分岐又は環状のアルキル基;
【0034】
(ロ) クロロメチル基、クロロエチル基、ブロモエチル基、ヨードエチル基、ジクロロメチル基、フルオロメチル基、トリフルオロメチル基、ペンタフルオロエチル基、2,2,2−トリフルオロエチル基、2,2,2−トリクロロエチル基、1,1,1,3,3,3−ヘキサフルオロ−2−プロピル基、ノナフルオロブチル基、パーフルオロデシル基等のハロゲン原子で置換した炭素数1〜10のアルキル基;
【0035】
(ハ) ヒドロキシメチル基、2−ヒドロキシエチル基、3−ヒドロキシプロピル基、4−ヒドロキシブチル基、2−ヒドロキシ−3−メトキシプロピル基、2−ヒドロキシ−3−クロロプロピル基、2−ヒドロキシ−3−エトキシプロピル基、3−ブトキシ−2−ヒドロキシプロピル基、2−ヒドロキシ−3−シクロヘキシルオキシプロピル基、2−ヒドロキシプロピル基、2−ヒドロキシブチル基、4−ヒドロキシデカリル基などのヒドロキシル基で置換した炭素数1〜10のアルキル基;
【0036】
(ニ) ヒドロキシメトキシメチル基、ヒドロキシエトキシエチル基、2−(2′−ヒドロキシ−1′−メチルエトキシ)−1−メチルエチル基、2−(3′−フルオロ−2′−ヒドロキシプロポキシ)エチル基、2−(3′−クロロ−2′−ヒドロキシプロポキシ)エチル基、ヒドロキシブトキシシクロヘキシル基などのヒドロキシアルコキシ基で置換した炭素数2〜10のアルキル基;
【0037】
(ホ) ヒドロキシメトキシメトキシメチル基、ヒドロキシエトキシエトキシエチル基、[2′−(2′−ヒドロキシ−1′−メチルエトキシ)−1′−メチルエトキシ]エトキシエチル基、[2′−(2′−フルオロ−1′−ヒドロキシエトキシ)−1′−メチルエトキシ]エトキシエチル基、[2′−(2′−クロロ−1′−ヒドロキシエトキシ)−1′−メチルエトキシ]エトキシエチル基などのヒドロキシアルコキシアルコキシ基で置換した炭素数3〜10のアルキル基;
【0038】
(ヘ) シアノメチル基、2−シアノエチル基、3−シアノプロピル基、4−シアノブチル基、2−シアノ−3−メトキシプロピル基、2−シアノ−3−クロロプロピル基、2−シアノ−3−エトキシプロピル基、3−ブトキシ−2−シアノプロピル基、2−シアノ−3−シクロヘキシルプロピル基、2−シアノプロピル基、2−シアノブチル基などのシアノ基で置換した炭素数2〜10のアルキル基;
【0039】
(ト) メトキシメチル基、エトキシメチル基、プロポキシメチル基、ブトキシメチル基、メトキシエチル基、エトキシエチル基、プロポキシエチル基、ブトキシエチル基、n−ヘキシルオキシエチル基、(4−メチルペントキシ)エチル基、(1,3−ジメチルブトキシ)エチル基、(2−エチルヘキシルオキシ)エチル基、n−オクチルオキシエチル基、(3,5,5−トリメチルヘキシルオキシ)エチル基、(2−メチル−1−iso−プロピルプロポキシ)エチル基、(3−メチル−1−iso−プロピルブチルオキシ)エチル基、2−エトキシ−1−メチルエチル基、3−メトキシブチル基、(3,3,3−トリフルオロプロポキシ)エチル基、(3,3,3−トリクロロプロポキシ)エチル基などのアルコキシ基で置換した炭素数2〜15のアルキル基;
【0040】
(チ) メトキシメトキシメチル基、メトキシエトキシエチル基、エトキシエトキシエチル基、プロポキシエトキシエチル基、ブトキシエトキシエチル基、シクロヘキシルオキシエトキシエチル基、デカリルオキシプロポキシエトキシエチル基、(1,2−ジメチルプロポキシ)エトキシエチル基、(3−メチル−1−iso−ブチルブトキシ)エトキシエチル基、(2−メトキシ−1−メチルエトキシ)エチル基、(2−ブトキシ−1−メチルエトキシ)エチル基、2−(2′−エトキシ−1′−メチルエトキシ)−1−メチルエチル基、(3,3,3−トリフルオロプロポキシ)エトキシエチル基、(3,3,3−トリクロロプロポキシ)エトキシエチル基などのアルコキシアルコキシ基で置換した炭素数3〜15のアルキル基;
【0041】
(リ) メトキシメトキシメトキシメチル基、メトキシエトキシエトキシエチル基、エトキシエトキシエトキシエチル基、ブトキシエトキシエトキシエチル基、シクロヘキシルオキシエトキシエトキシエチル基、プロポキシプロポキシプロポキシエチル基、(2,2,2−トリフルオロエトキシ)エトキシエトキシエチル基、(2,2,2−トリクロロエトキシ)エトキシエトキシエチル基などのアルコキシアルコキシアルコキシ基で置換した炭素数4〜15のアルキル基;
【0042】
(ヌ) ホルミルメチル基、2−オキソブチル基、3−オキソブチル基、4−オキソブチル基、2,6−ジオキソシクロヘキサン−1−イル基、2−オキソ−5−t−ブチルシクロヘキサン−1−イル基等のアシル基で置換した炭素数2〜10のアルキル基;
【0043】
(ル) ホルミルオキシメチル基、アセトキシエチル基、プロピオニルオキシエチル基、ブタノイルオキシエチル基、バレリルオキシエチル基、(2−エチルヘキサノイルオキシ)エチル基、(3,5,5−トリメチルヘキサノイルオキシ)エチル基、(3,5,5−トリメチルヘキサノイルオキシ)ヘキシル基、(3−フルオロブチリルオキシ)エチル基、(3−クロロブチリルオキシ)エチル基などのアシルオキシ基で置換した炭素数2〜15のアルキル基;
【0044】
(ヲ) ホルミルオキシメトキシメチル基、アセトキシエトキシエチル基、プロピオニルオキシエトキシエチル基、バレリルオキシエトキシエチル基、(2−エチルヘキサノイルオキシ)エトキシエチル基、(3,5,5−トリメチルヘキサノイル)オキシブトキシエチル基、(3,5,5−トリメチルヘキサノイルオキシ)エトキシエチル基、(2−フルオロプロピオニルオキシ)エトキシエチル基、(2−クロロプロピオニルオキシ)エトキシエチル基などのアシルオキシアルコキシ基で置換した炭素数3〜15のアルキル基;
【0045】
(ワ) アセトキシメトキシメトキシメチル基、アセトキシエトキシエトキシエチル基、プロピオニルオキシエトキシエトキシエチル基、バレリルオキシエトキシエトキシエチル基、(2−エチルヘキサノイルオキシ)エトキシエトキシエチル基、(3,5,5−トリメチルヘキサノイルオキシ)エトキシエトキシエチル基、(2−フルオロプロピオニルオキシ)エトキシエトキシエチル基、(2−クロロプロピオニルオキシ)エトキシエトキシエチル基などのアシルオキシアルコキシアルコキシ基で置換した炭素数5〜15のアルキル基;
【0046】
(カ) メトキシカルボニルメチル基、エトキシカルボニルメチル基、ブトキシカルボニルメチル基、メトキシカルボニルエチル基、エトキシカルボニルエチル基、ブトキシカルボニルエチル基、(p−エチルシクロヘキシルオキシカルボニル)シクロヘキシル基、(2,2,3,3−テトラフルオロプロポキシカルボニル)メチル基、(2,2,3,3−テトラクロロプロポキシカルボニル)メチル基などのアルコキシカルボニル基で置換した炭素数3〜15のアルキル基;
【0047】
(ヨ) フェノキシカルボニルメチル基、フェノキシカルボニルエチル基、(4−t−ブチルフェノキシカルボニル)エチル基、ナフチルオキシカルボニルメチル基、ビフェニルオキシカルボニルエチル基などのアリールオキシカルボニル基で置換した炭素数8〜15のアルキル基;
【0048】
(タ) ベンジルオキシカルボニルメチル基、ベンジルオキシカルボニルエチル基、フェネチルオキシカルボニルメチル基、(4−シクロヘキシルオキシベンジルオキシカルボニル)メチル基などのアラルキルオキシカルボニル基で置換した炭素数9〜15のアルキル基;
【0049】
(レ) ビニルオキシカルボニルメチル基、ビニルオキシカルボニルエチル基、アリルオキシカルボニルメチル基、シクロペンタジエニルオキシカルボニルメチル基、オクテノキシカルボニルメチル基などのアルケニルオキシカルボニル基で置換した炭素数4〜10のアルキル基;
【0050】
(ソ) メトキシカルボニルオキシメチル基、メトキシカルボニルオキシエチル基、エトキシカルボニルオキシエチル基、ブトキシカルボニルオキシエチル基、(2,2,2−トリフルオロエトキシカルボニルオキシ)エチル基、(2,2,2−トリクロロエトキシカルボニルオキシ)エチル基などのアルコキシカルボニルオキシ基で置換した炭素数3〜15のアルキル基;
【0051】
(ツ) メトキシメトキシカルボニルオキシメチル基、メトキシエトキシカルボニルオキシエチル基、エトキシエトキシカルボニルオキシエチル基、ブトキシエトキシカルボニルオキシエチル基、(2,2,2−トリフルオロエトキシ)エトキシカルボニルオキシエチル基、(2,2,2−トリクロロエトキシ)エトキシカルボニルオキシエチル基などのアルコキシアルコキシカルボニルオキシ基で置換した炭素数4〜15のアルキル基;
【0052】
(ネ) ジメチルアミノメチル基、ジエチルアミノメチル基、ジ−n−ブチルアミノメチル基、ジ−n−ヘキシルアミノメチル基、ジ−n−オクチルアミノメチル基、ジ−n−デシルアミノメチル基、N−イソアミル−N−メチルアミノメチル基、ピペリジノメチル基、ジ(メトキシメチル)アミノメチル基、ジ(メトキシエチル)アミノメチル基、ジ(エトキシメチル)アミノメチル基、ジ(エトキシエチル)アミノメチル基、ジ(プロポキシエチル)アミノメチル基、ジ(ブトキシエチル)アミノメチル基、ビス(2−シクロヘキシルオキシエチル)アミノメチル基、ジメチルアミノエチル基、ジエチルアミノエチル基、ジ−n−ブチルアミノエチル基、ジ−n−ヘキシルアミノエチル基、ジ−n−オクチルアミノエチル基、ジ−n−デシルアミノエチル基、N−イソアミル−N−メチルアミノエチル基、ピペリジノエチル基、ジ(メトキシメチル)アミノエチル基、ジ(メトキシエチル)アミノエチル基、ジ(エトキシメチル)アミノエチル基、ジ(エトキシエチル)アミノエチル基、ジ(プロポキシエチル)アミノエチル基、ジ(ブトキシエチル)アミノエチル基、ビス(2−シクロヘキシルオキシエチル)アミノエチル基、ジメチルアミノプロピル基、ジエチルアミノプロピル基、ジ−n−ブチルアミノプロピル基、ジ−n−ヘキシルアミノプロピル基、ジ−n−オクチルアミノプロピル基、ジ−n−デシルアミノプロピル基、N−イソアミル−N−メチルアミノプロピル基、ピペリジノプロピル基、ジ(メトキシメチル)アミノプロピル基、ジ(メトキシエチル)アミノプロピル基、ジ(エトキシメチル)アミノプロピル基、ジ(エトキシエチル)アミノプロピル基、ジ(プロポキシエチル)アミノプロピル基、ジ(ブトキシエチル)アミノプロピル基、ビス(2−シクロヘキシルオキシエチル)アミノプロピル基、ジメチルアミノブチル基、ジエチルアミノブチル基、ジ−n−ブチルアミノブチル基、ジ−n−ヘキシルアミノブチル基、ジ−n−オクチルアミノブチル基、ジ−n−デシルアミノブチル基、N−イソアミル−N−メチルアミノブチル基、ピペリジノブチル基、ジ(メトキシメチル)アミノブチル基、ジ(メトキシエチル)アミノブチル基、ジ(エトキシメチル)アミノブチル基、ジ(エトキシエチル)アミノブチル基、ジ(プロポキシエチル)アミノブチル基、ジ(ブトキシエチル)アミノブチル基、ビス(2−シクロヘキシルオキシエチル)アミノブチル基等のジアルキルアミノ基が置換した炭素数3〜20のアルキル基;
【0053】
(ナ) アセチルアミノメチル基、アセチルアミノエチル基、プロピオニルアミノエチル基、ブタノイルアミノエチル基、シクロヘキサンカルボニルアミノエチル基、p−メチルシクロヘキサンカルボニルアミノエチル基、スクシンイミノエチル基などのアシルアミノ基で置換した炭素数3〜10のアルキル基;
【0054】
(ラ) メチルスルホンアミノメチル基、メチルスルホンアミノエチル基、エチルスルホンアミノエチル基、プロピルスルホンアミノエチル基、オクチルスルホンアミノエチル基などのアルキルスルホンアミノ基で置換した炭素数2〜10のアルキル基;
【0055】
(ム) メチルスルホニルメチル基、エチルスルホニルメチル基、ブチルスルホニルメチル基、メチルスルホニルエチル基、エチルスルホニルエチル基、ブチルスルホニルエチル基、2−エチルヘキシルスルホニルエチル基、2,2,3,3−テトラフルオロプロピルスルホニルメチル基、2,2,3,3−テトラクロロプロピルスルホニルメチル基などのアルキルスルホニル基で置換した炭素数2〜10のアルキル基;
【0056】
(ウ) ベンゼンスルホニルメチル基、ベンゼンスルホニルエチル基、ベンゼンスルホニルプロピル基、ベンゼンスルホニルブチル基、トルエンスルホニルメチル基、トルエンスルホニルエチル基、トルエンスルホニルプロピル基、トルエンスルホニルブチル基、キシレンスルホニルメチル基、キシレンスルホニルエチル基、キシレンスルホニルプロピル基、キシレンスルホニルブチル基などのアリールスルホニル基で置換した炭素数7〜12のアルキル基;
【0057】
(ヰ) チアジアゾリノメチル基、ピロリノメチル基、ピロリジノメチル基、ピラゾリジノメチル基、イミダゾリジノメチル基、オキサゾリル基、トリアゾリノメチル基、モルホリノメチル基、インドーリノメチル基、ベンズイミダゾリノメチル基、カルバゾリノメチル基などの複素環基で置換した炭素数2〜13のアルキル基;
【0058】
(ノ−1) フェロセニルメチル基、フェロセニルエチル基、フェロセニル−n−プロピル基、フェロセニル−iso−プロピル基、フェロセニル−n−ブチル基、フェロセニル−iso−ブチル基、フェロセニル−sec−ブチル基、フェロセニル−t−ブチル基、フェロセニル−n−ペンチル基、フェロセニル−iso−ペンチル基、フェロセニル−2−メチルブチル基、フェロセニル−1−メチルブチル基、フェロセニルネオペンチル基、フェロセニル−1,2−ジメチルプロピル基、フェロセニル−1,1−ジメチルプロピル基、フェロセニルシクロペンチル基、フェロセニル−n−ヘキシル基、フェロセニル−4−メチルペンチル基、フェロセニル−3−メチルペンチル基、フェロセニル−2−メチルペンチル基、フェロセニル−1−メチルペンチル基、フェロセニル−3,3−ジメチルブチル基、フェロセニル−2,3−ジメチルブチル基、フェロセニル−1,3−ジメチルブチル基、フェロセニル−2,2−ジメチルブチル基、フェロセニル−1,2−ジメチルブチル基、フェロセニル−1,1−ジメチルブチル基、フェロセニル−3−エチルブチル基、フェロセニル−2−エチルブチル基、フェロセニル−1−エチルブチル基、フェロセニル−1,2,2−トリメチルブチル基、フェロセニル−1,1,2−トリメチルブチル基、フェロセニル−1−エチル−2−メチルプロピル基、フェロセニルシクロヘキシル基、フェロセニル−n−ヘプチル基、フェロセニル−2−メチルヘキシル基、フェロセニル−3−メチルヘキシル基、フェロセニル−4−メチルヘキシル基、フェロセニル−5−メチルヘキシル基、フェロセニル−2,4−ジメチルペンチル基、フェロセニル−n−オクチル基、フェロセニル−2−エチルヘキシル基、フェロセニル−2,5−ジメチルヘキシル基、フェロセニル−2,5,5−トリメチルペンチル基、フェロセニル−2,4−ジメチルヘキシル基、フェロセニル−2,2,4−トリメチルペンチル基、フェロセニル−3,5,5−トリメチルヘキシル基、フェロセニル−n−ノニル基、フェロセニル−n−デシル基、
【0059】
(ノ−2) コバルトセニルメチル基、コバルトセニルエチル基、コバルトセニル−n−プロピル基、コバルトセニル−iso−プロピル基、コバルトセニル−n−ブチル基、コバルトセニル−iso−ブチル基、コバルトセニル−sec−ブチル基、コバルトセニル−t−ブチル基、コバルトセニル−n−ペンチル基、コバルトセニル−iso−ペンチル基、コバルトセニル−2−メチルブチル基、コバルトセニル−1−メチルブチル基、コバルトセニルネオペンチル基、コバルトセニル−1,2−ジメチルプロピル基、コバルトセニル−1,1−ジメチルプロピル基、コバルトセニルシクロペンチル基、コバルトセニル−n−ヘキシル基、コバルトセニル−4−メチルペンチル基、コバルトセニル−3−メチルペンチル基、コバルトセニル−2−メチルペンチル基、コバルトセニル−1−メチルペンチル基、コバルトセニル−3,3−ジメチルブチル基、コバルトセニル−2,3−ジメチルブチル基、コバルトセニル−1,3−ジメチルブチル基、コバルトセニル−2,2−ジメチルブチル基、コバルトセニル−1,2−ジメチルブチル基、コバルトセニル−1,1−ジメチルブチル基、コバルトセニル−3−エチルブチル基、コバルトセニル−2−エチルブチル基、コバルトセニル−1−エチルブチル基、コバルトセニル−1,2,2−トリメチルブチル基、コバルトセニル−1,1,2−トリメチルブチル基、コバルトセニル−1−エチル−2−メチルプロピル基、コバルトセニルシクロヘキシル基、コバルトセニル−n−ヘプチル基、コバルトセニル−2−メチルヘキシル基、コバルトセニル−3−メチルヘキシル基、コバルトセニル−4−メチルヘキシル基、コバルトセニル−5−メチルヘキシル基、コバルトセニル−2,4−ジメチルペンチル基、コバルトセニル−n−オクチル基、コバルトセニル−2−エチルヘキシル基、コバルトセニル−2,5−ジメチルヘキシル基、コバルトセニル−2,5,5−トリメチルペンチル基、コバルトセニル−2,4−ジメチルヘキシル基、コバルトセニル−2,2,4−トリメチルペンチル基、コバルトセニル−3,5,5−トリメチルヘキシル基、コバルトセニル−n−ノニル基、コバルトセニル−n−デシル基、
【0060】
(ノ−3) ニッケロセニルメチル基、ニッケロセニルエチル基、ニッケロセニル−n−プロピル基、ニッケロセニル−iso−プロピル基、ニッケロセニル−n−ブチル基、ニッケロセニル−iso−ブチル基、ニッケロセニル−sec−ブチル基、ニッケロセニル−t−ブチル基、ニッケロセニル−n−ペンチル基、ニッケロセニル−iso−ペンチル基、ニッケロセニル−2−メチルブチル基、ニッケロセニル−1−メチルブチル基、ニッケロセニルネオペンチル基、ニッケロセニル−1,2−ジメチルプロピル基、ニッケロセニル−1,1−ジメチルプロピル基、ニッケロセニルシクロペンチル基、ニッケロセニル−n−ヘキシル基、ニッケロセニル−4−メチルペンチル基、ニッケロセニル−3−メチルペンチル基、ニッケロセニル−2−メチルペンチル基、ニッケロセニル−1−メチルペンチル基、ニッケロセニル−3,3−ジメチルブチル基、ニッケロセニル−2,3−ジメチルブチル基、ニッケロセニル−1,3−ジメチルブチル基、ニッケロセニル−2,2−ジメチルブチル基、ニッケロセニル−1,2−ジメチルブチル基、ニッケロセニル−1,1−ジメチルブチル基、ニッケロセニル−3−エチルブチル基、ニッケロセニル−2−エチルブチル基、ニッケロセニル−1−エチルブチル基、ニッケロセニル−1,2,2−トリメチルブチル基、ニッケロセニル−1,1,2−トリメチルブチル基、ニッケロセニル−1−エチル−2−メチルプロピル基、ニッケロセニルシクロヘキシル基、ニッケロセニル−n−ヘプチル基、ニッケロセニル−2−メチルヘキシル基、ニッケロセニル−3−メチルヘキシル基、ニッケロセニル−4−メチルヘキシル基、ニッケロセニル−5−メチルヘキシル基、ニッケロセニル−2,4−ジメチルペンチル基、ニッケロセニル−n−オクチル基、ニッケロセニル−2−エチルヘキシル基、ニッケロセニル−2,5−ジメチルヘキシル基、ニッケロセニル−2,5,5−トリメチルペンチル基、ニッケロセニル−2,4−ジメチルヘキシル基、ニッケロセニル−2,2,4−トリメチルペンチル基、ニッケロセニル−3,5,5−トリメチルヘキシル基、ニッケロセニル−n−ノニル基、ニッケロセニル−n−デシル基、
【0061】
(ノ−4) ジクロロチタノセニルメチル基、トリクロロチタンシクロペンタジエニルメチル基、ビス(トリフルオルメタンスルホナト)チタノセンメチル基、ジクロロジルコノセニルメチル基、ジメチルジルコノセニルメチル基、ジエトキシジルコノセニルメチル基、ビス(シクロペンタジエニル)クロムメチル基、ビス(シクロペンタジエニル)ジクロロモリブデンメチル基、ビス(シクロペンタジエニル)ジクロロハフニウムメチル基、ビス(シクロペンタジエニル)ジクロロニオブメチル基、ビス(シクロペンタジエニル)ルテニウムメチル基、ビス(シクロペンタジエニル)バナジウムメチル基、ビス(シクロペンタジエニル)ジクロロバナジウムメチル基などのメタロセニル基で置換した炭素数11〜20のアルキル基;
【0062】
(オ−1) フェロセニルメトキシメチル基、フェロセニルメトキシエチル基、フェロセニルメトキシプロピル基、フェロセニルメトキシブチル基、フェロセニルメトキシペンチル基、フェロセニルメトキシヘキシル基、フェロセニルメトキシヘプチル基、フェロセニルメトキシオクチル基、フェロセニルメトキシノニル基、フェロセニルメトキシデシル基、フェロセニルエトキシメチル基、フェロセニルエトキシエチル基、フェロセニルエトキシプロピル基、フェロセニルエトキシブチル基、フェロセニルエトキシペンチル基、フェロセニルエトキシヘキシル基、フェロセニルエトキシヘプチル基、フェロセニルエトキシオクチル基、フェロセニルエトキシノニル基、フェロセニルエトキシデシル基、フェロセニルプロポキシメチル基、フェロセニルプロポキシエチル基、フェロセニルプロポキシプロピル基、フェロセニルプロポキシブチル基、フェロセニルプロポキシペンチル基、フェロセニルプロポキシヘキシル基、フェロセニルプロポキシヘプチル基、フェロセニルプロポキシオクチル基、フェロセニルプロポキシノニル基、フェロセニルプロポキシデシル基、フェロセニルブトキシメチル基、フェロセニルブトキシエチル基、フェロセニルブトキシプロピル基、フェロセニルブトキシブチル基、フェロセニルブトキシペンチル基、フェロセニルブトキシヘキシル基、フェロセニルブトキシヘプチル基、フェロセニルブトキシオクチル基、フェロセニルブトキシノニル基、フェロセニルブトキシデシル基、フェロセニルデシルオキシメチル基、フェロセニルデシルオキシエチル基、フェロセニルデシルオキシプロピル基、フェロセニルデシルオキシブチル基、フェロセニルデシルオキシペンチル基、フェロセニルデシルオキシヘキシル基、フェロセニルデシルオキシヘプチル基、フェロセニルデシルオキシオクチル基、フェロセニルデシルオキシノニル基、フェロセニルデシルオキシデシル基、
【0063】
(オ−2) コバルトセニルメトキシメチル基、コバルトセニルメトキシエチル基、コバルトセニルメトキシプロピル基、コバルトセニルメトキシブチル基、コバルトセニルメトキシペンチル基、コバルトセニルメトキシヘキシル基、コバルトセニルメトキシヘプチル基、コバルトセニルメトキシオクチル基、コバルトセニルメトキシノニル基、コバルトセニルメトキシデシル基、コバルトセニルエトキシメチル基、コバルトセニルエトキシエチル基、コバルトセニルエトキシプロピル基、コバルトセニルエトキシブチル基、コバルトセニルエトキシペンチル基、コバルトセニルエトキシヘキシル基、コバルトセニルエトキシヘプチル基、コバルトセニルエトキシオクチル基、コバルトセニルエトキシノニル基、コバルトセニルエトキシデシル基、コバルトセニルプロポキシメチル基、コバルトセニルプロポキシエチル基、コバルトセニルプロポキシプロピル基、コバルトセニルプロポキシブチル基、コバルトセニルプロポキシペンチル基、コバルトセニルプロポキシヘキシル基、コバルトセニルプロポキシヘプチル基、コバルトセニルプロポキシオクチル基、コバルトセニルプロポキシノニル基、コバルトセニルプロポキシデシル基、コバルトセニルブトキシメチル基、コバルトセニルブトキシエチル基、コバルトセニルブトキシプロピル基、コバルトセニルブトキシブチル基、コバルトセニルブトキシペンチル基、コバルトセニルブトキシヘキシル基、コバルトセニルブトキシヘプチル基、コバルトセニルブトキシオクチル基、コバルトセニルブトキシノニル基、コバルトセニルブトキシデシル基、コバルトセニルデシルオキシメチル基、コバルトセニルデシルオキシエチル基、コバルトセニルデシルオキシプロピル基、コバルトセニルデシルオキシブチル基、コバルトセニルデシルオキシペンチル基、コバルトセニルデシルオキシヘキシル基、コバルトセニルデシルオキシヘプチル基、コバルトセニルデシルオキシオクチル基、コバルトセニルデシルオキシノニル基、コバルトセニルデシルオキシデシル基、
【0064】
(オ−3) ニッケロセニルメトキシメチル基、ニッケロセニルメトキシエチル基、ニッケロセニルメトキシプロピル基、ニッケロセニルメトキシブチル基、ニッケロセニルメトキシペンチル基、ニッケロセニルメトキシヘキシル基、ニッケロセニルメトキシヘプチル基、ニッケロセニルメトキシオクチル基、ニッケロセニルメトキシノニル基、ニッケロセニルメトキシデシル基、ニッケロセニルエトキシメチル基、ニッケロセニルエトキシエチル基、ニッケロセニルエトキシプロピル基、ニッケロセニルエトキシブチル基、ニッケロセニルエトキシペンチル基、ニッケロセニルエトキシヘキシル基、ニッケロセニルエトキシヘプチル基、ニッケロセニルエトキシオクチル基、ニッケロセニルエトキシノニル基、ニッケロセニルエトキシデシル基、ニッケロセニルプロポキシメチル基、ニッケロセニルプロポキシエチル基、ニッケロセニルプロポキシプロピル基、ニッケロセニルプロポキシブチル基、ニッケロセニルプロポキシペンチル基、ニッケロセニルプロポキシヘキシル基、ニッケロセニルプロポキシヘプチル基、ニッケロセニルプロポキシオクチル基、ニッケロセニルプロポキシノニル基、ニッケロセニルプロポキシデシル基、ニッケロセニルブトキシメチル基、ニッケロセニルブトキシエチル基、ニッケロセニルブトキシプロピル基、ニッケロセニルブトキシブチル基、ニッケロセニルブトキシペンチル基、ニッケロセニルブトキシヘキシル基、ニッケロセニルブトキシヘプチル基、ニッケロセニルブトキシオクチル基、ニッケロセニルブトキシノニル基、ニッケロセニルブトキシデシル基、ニッケロセニルデシルオキシメチル基、ニッケロセニルデシルオキシエチル基、ニッケロセニルデシルオキシプロピル基、ニッケロセニルデシルオキシブチル基、ニッケロセニルデシルオキシペンチル基、ニッケロセニルデシルオキシヘキシル基、ニッケロセニルデシルオキシヘプチル基、ニッケロセニルデシルオキシオクチル基、ニッケロセニルデシルオキシノニル基、ニッケロセニルデシルオキシデシル基、
【0065】
(オ−4) ジクロロチタノセニルメトキシメチル基、トリクロロチタンシクロペンタジエニルメトキシエチル基、ビス(トリフルオロメタンスルホナト)チタノセンメトキシプロピル基、ジクロロジルコノセニルメトキシブチル基、ジメチルジルコノセニルメトキシペンチル基、ジエトキシジルコノセニルメトキシメチル基、ビス(シクロペンタジエニル)クロムメトキシヘキシル基、ビス(シクロペンタジエニル)ジクロロハフニウムメトキシメチル基、ビス(シクロペンタジエニル)ジクロロニオブメトキシオクチル基、ビス(シクロペンタジエニル)ルテニウムメトキシメチル基、ビス(シクロペンタジエニル)バナジウムメトキシメチル基、ビス(シクロペンタジエニル)ジクロロバナジウムメトキシエチル基、オスモセニルメトキシエチル基などのメタロセニルアルキルオキシ基で置換した炭素数12〜30のアルキル基;
【0066】
(オ−5) フェロセンカルボニルオキシメチル基、フェロセンカルボニルオキシエチル基、フェロセンカルボニルオキシプロピル基、フェロセンカルボニルオキシブチル基、フェロセンカルボニルオキシペンチル基、フェロセンカルボニルオキシヘキシル基、フェロセンカルボニルオキシヘプチル基、フェロセンカルボニルオキシオクチル基、フェロセンカルボニルオキシノニル基、フェロセンカルボニルオキシデシル基、
【0067】
(オ−6) コバルトセンカルボニルオキシメチル基、コバルトセンカルボニルオキシエチル基、コバルトセンカルボニルオキシプロピル基、コバルトセンカルボニルオキシブチル基、コバルトセンカルボニルオキシペンチル基、コバルトセンカルボニルオキシヘキシル基、コバルトセンカルボニルオキシヘプチル基、コバルトセンカルボニルオキシオクチル基、コバルトセンカルボニルオキシノニル基、コバルトセンカルボニルオキシデシル基、
【0068】
(オ−7) ニッケロセンカルボニルオキシメチル基、ニッケロセンカルボニルオキシエチル基、ニッケロセンカルボニルオキシプロピル基、ニッケロセンカルボニルオキシブチル基、ニッケロセンカルボニルオキシペンチル基、ニッケロセンカルボニルオキシヘキシル基、ニッケロセンカルボニルオキシヘプチル基、ニッケロセンカルボニルオキシオクチル基、ニッケロセンカルボニルオキシノニル基、ニッケロセンカルボニルオキシデシル基、
【0069】
(オ−8) ジクロロチタノセニルカルボニルオキシメチル基、トリクロロチタンシクロペンタジエニルカルボニルオキシエチル基、ビス(トリフルオロメタンスルホナト)チタノセンカルボニルオキシメトキシプロピル基、ジクロロジルコノセンカルボニルオキシブチル基、ジメチルジルコノセンカルボニルオキシペンチル基、ジエトキシジルコノセンカルボニルオキシメチル基、ビス(シクロペンタジエニル)クロムカルボニルオキシヘキシル基、ビス(シクロペンタジエニル)ジクロロハフニウムカルボニルオキシメチル基、ビス(シクロペンタジエニル)ジクロロニオブカルボニルオキシオクチル基、ビス(シクロペンタジエニル)ルテニウムカルボニルオキシメチル基、ビス(シクロペンタジエニル)バナジウムカルボニルオキシメチル基、ビス(シクロペンタジエニル)ジクロロバナジウムカルボニルオキシエチル基、ビス(シクロペンタジエニル)オスミウムカルボニルオキシエチル基などのメタロセニルカルボニルオキシ基で置換した炭素数12〜30のアルキル基。
【0070】
また、R1〜R8が置換又は無置換のアラルキルオキシ基である場合の具体例としては、前述したアルキル基の場合と同様な置換基を有するアラルキルオキシ基が挙げられ、好ましいのは、ベンジルオキシ基、ニトロベンジルオキシ基、シアノベンジルオキシ基、ヒドロキシベンジルオキシ基、メチルベンジルオキシ基、トリフルオロメチルベンジルオキシ基、ナフチルメトキシ基、ニトロナフチルメトキシ基、シアノナフチルメトキシ基、ヒドロキシナフチルメトキシ基、メチルナフチルメトキシ基、トリフルオロメチルナフチルメトキシ基、フルオレン−9−イルエトキシ基などの炭素数7〜15のアラルキルオキシ基等である。
【0071】
また、R1〜R8が置換又は無置換のアリールオキシ基である場合の具体例としては、前述したアルキル基の場合と同様な置換基を有するアリールオキシ基が挙げられ、好ましいのは、フェノキシ基、2−メチルフェノキシ基、4−メチルフェノキシ基、4−t−ブチルフェノキシ基、2−メトキシフェノキシ基、4−iso−プロピルフェノキシ基、ナフトキシ基、フェロセニルオキシ基、コバルトセニルオキシ基、ニッケロセニルオキシ基、オクタメチルフェロセニルオキシ基、オクタメチルコバルトセニルオキシ基、オクタメチルニッケロセニルオキシ基などの炭素数6〜18のアリールオキシ基である。
【0072】
また、R1〜R8が置換又は無置換のアルケニルオキシ基である場合の具体例としては、前述したアルキル基の場合と同様な置換基を有するアルケニルオキシ基が挙げられ、好ましいのは、ビニルオキシ基、プロペニルオキシ基、1−ブテニルオキシ基、iso−ブテニルオキシ基、1−ペンテニルオキシ基、2−ペンテニルオキシ基、2−メチル−1−ブテニルオキシ基、3−メチル−1−ブテニルオキシ基、2−メチル−2−ブテニルオキシ基、シクロペンタジエニルオキシ基、2,2−ジシアノビニルオキシ基、2−シアノ−2−メチルカルボキシルビニルオキシ基、2−シアノ−2−メチルスルホンビニルオキシ基、スチリルオキシ基、4−フェニル−2−ブテニルオキシ基、シンナミルアルコキシ基などの炭素数2〜10のアルケニルオキシ基である。
【0073】
また、R1〜R8が置換又は無置換のアルキルチオ基である場合の具体例としては、前述したアルキル基の場合と同様な置換基を有するアルキルチオ基が挙げられ、好ましいのは、メチルチオ基、エチルチオ基、n−プロピルチオ基、iso−プロピルチオ基、n−ブチルチオ基、iso−ブチルチオ基、sec−ブチルチオ基、t−ブチルチオ基、n−ペンチルチオ基、iso−ペンチルチオ基、ネオペンチルチオ基、2−メチルブチルチオ基、メチルカルボキシルエチルチオ基、2−エチルヘキシルチオ基、3,5,5−トリメチルヘキシルチオ基、デカリルチオ基などの炭素数1〜10のアルキルチオ基である。
【0074】
また、R1〜R8が置換又は無置換のアラルキルチオ基である場合の具体例としては、前述したアルキル基の場合と同様な置換基を有するアラルキルチオ基が挙げられ、好ましいのは、ベンジルチオ基、ニトロベンジルチオ基、シアノベンジルチオ基、ヒドロキシベンジルチオ基、メチルベンジルチオ基、トリフルオロメチルベンジルチオ基、ナフチルメチルチオ基、ニトロナフチルメチルチオ基、シアノナフチルメチルチオ基、ヒドロキシナフチルメチルチオ基、メチルナフチルメチルチオ基、トリフルオロメチルナフチルメチルチオ基、フルオレン−9−イルエチルチオ基などの炭素数7〜12のアラルキルチオ基等である。
【0075】
また、R1〜R8が置換又は無置換のアリールチオ基である場合の具体例としては、前述したアルキル基の場合と同様な置換基を有するアリールチオ基が挙げられ、好ましいのは、フェニルチオ基、4−メチルフェニルチオ基、2−メトキシフェニルチオ基、4−t−ブチルフェニルチオ基、ナフチルチオ基、フェロセニルチオ基、コバルトセニルチオ基、ニッケロセニルチオ基、オクタメチルフェロセニルチオ基、オクタメチルコバルトセニルチオ基、オクタメチルニッケロセニルチオ基等の炭素数6〜10のアリールチオ基などである。
【0076】
また、R1〜R8が置換又は無置換のアルケニルチオ基である場合の具体例としては、前述したアルキル基の場合と同様な置換基を有するアルケニルチオ基が挙げられ、好ましいのは、ビニルチオ基、アリルチオ基、ブテニルチオ基、ヘキサンジエニルチオ基、シクロペンタジエニルチオ基、スチリルチオ基、シクロヘキセニルチオ基、デセニルチオ基等の炭素数2〜10のアルケニルチオ基などである。
【0077】
また、R1〜R8がモノ置換アミノ基である場合の具体例としては、前述したアルキル基の場合と同様な置換基を有するモノ置換アミノ基が挙げられ、好ましいのは、次の(イ)〜(ホ)の基である。
(イ) メチルアミノ基、エチルアミノ基、プロピルアミノ基、ブチルアミノ基、ペンチルアミノ基、ヘキシルアミノ基、ヘプチルアミノ基、オクチルアミノ基、(2−エチルヘキシル)アミノ基、シクロヘキシルアミノ基、(3,5,5−トリメチルヘキシル)アミノ基、ノニルアミノ基、デシルアミノ基などの炭素数1〜10のモノアルキルアミノ基;
【0078】
(ロ) ベンジルアミノ基、フェネチルアミノ基、(3−フェニルプロピル)アミノ基、(4−エチルベンジル)アミノ基、(4−イソプロピルベンジル)アミノ基、(4−メチルベンジル)アミノ基、(4−エチルベンジル)アミノ基、(4−アリルベンジル)アミノ基、〔4−(2−シアノエチル)ベンジル〕アミノ基、〔4−(2−アセトキシエチル)ベンジル〕アミノ基などの炭素数7〜10のモノアラルキルアミノ基;
【0079】
(ハ) アニリノ基、ナフチルアミノ基、トルイジノ基、キシリジノ基、エチルアニリノ基、イソプロピルアニリノ基、メトキシアニリノ基、エトキシアニリノ基、クロロアニリノ基、アセチルアニリノ基、メトキシカルボニルアニリノ基、エトキシカルボニルアニリノ基、プロポキシカルボニルアニリノ基、4−メチルアニリノ基、4−エチルアニリノ基、フェロセニルアミノ基、コバルトセニルアミノ基、ニッケロセニルアミノ基、ジルコノセニルアミノ基、オクタメチルフェロセニルアミノ基、オクタメチルコバルトセニルアミノ基、オクタメチルニッケロセニルアミノ基、オクタメチルジルコノセニルアミノ基など、炭素数6〜10のモノアリールアミノ基;
【0080】
(ニ) ビニルアミノ基、アリルアミノ基、ブテニルアミノ基、ペンテニルアミノ基、ヘキセニルアミノ基、シクロヘキセニルアミノ基、シクロペンタジエニルアミノ基、オクタジエニルアミノ基、アダマンテニルアミノ基などの炭素数2〜10のモノアルケニルアミノ基;
【0081】
(ホ) ホルミルアミノ基、メチルカルボニルアミノ基、エチルカルボニルアミノ基、n−プロピルカルボニルアミノ基、iso−プロピルカルボニルアミノ基、n−ブチルカルボニルアミノ基、iso−ブチルカルボニルアミノ基、sec−ブチルカルボニルアミノ基、t−ブチルカルボニルアミノ基、n−ペンチルカルボニルアミノ基、iso−ペンチルカルボニルアミノ基、ネオペンチルカルボニルアミノ基、2−メチルブチルカルボニルアミノ基、ベンゾイルアミノ基、メチルベンゾイルアミノ基、エチルベンゾイルアミノ基、トリルカルボニルアミノ基、プロピルベンゾイルアミノ基、4−t−ブチルベンゾイルアミノ基、ニトロベンジルカルボニルアミノ基、3−ブトキシ−2−ナフトイルアミノ基、シンナモイルアミノ基、フェロセンカルボニルアミノ基、1−メチルフェロセン−1′−カルボニルアミノ基、コバルトセンカルボニルアミノ基、ニッケロセンカルボニルアミノ基などの炭素数1〜16のアシルアミノ基等のアミノ基。
【0082】
また、R1〜R8がジ置換アミノ基である場合の具体例としては、前述したアルキル基の場合と同様な置換基を有するジ置換アミノ基が挙げられ、好ましいのは、次の(イ)〜(ヘ)の基である。
(イ) ジメチルアミノ基、ジエチルアミノ基、メチルエチルアミノ基、ジプロピルアミノ基、ジブチルアミノ基、ジ−n−ヘキシルアミノ基、ジシクロヘキシルアミノ基、ジオクチルアミノ基、ビス(メトキシエチル)アミノ基、ビス(エトキシエチル)アミノ基、ビス(プロポキシエチル)アミノ基、ビス(ブトキシエチル)アミノ基、ジ(アセチルオキシエチル)アミノ基、ジ(ヒドロキシエチル)アミノ基、N−エチル−N−(2−シアノエチル)アミノ基、ジ(プロピオニルオキシエチル)アミノ基などの炭素数2〜16のジアルキルアミノ基;
【0083】
(ロ) ジベンジルアミノ基、ジフェネチルアミノ基、ビス(4−エチルベンジル)アミノ基、ビス(4−イソプロピルベンジル)アミノ基などの炭素数14〜20のジアラルキルアミノ基;
(ハ) ジフェニルアミノ基、ジトリルアミノ基、N−フェニル−N−トリルアミノ基などの炭素数12〜14のジアリールアミノ基;
(ニ) ジビニルアミノ基、ジアリルアミノ基、ジブテニルアミノ基、ジペンテニルアミノ基、ジヘキセニルアミノ基、ビス(シクロペンタジエニル)アミノ基、N−ビニル−N−アリルアミノ基などの炭素数4〜12のジアルケニルアミノ基;
【0084】
(ホ) ジホルミルアミノ基、ジ(メチルカルボニル)アミノ基、ジ(エチルカルボニル)アミノ基、ジ(n−プロピルカルボニル)アミノ基、ジ(iso−プロピルカルボニル)アミノ基、ジ(n−ブチルカルボニル)アミノ基、ジ(iso−ブチルカルボニル)アミノ基、ジ(sec−ブチルカルボニル)アミノ基、ジ(t−ブチルカルボニル)アミノ基、ジ(n−ペンチルカルボニル)アミノ基、ジ(iso−ペンチルカルボニル)アミノ基、ジ(ネオペンチルカルボニル)アミノ基、ジ(2−メチルブチルカルボニル)アミノ基、ジ(ベンゾイル)アミノ基、ジ(メチルベンゾイル)アミノ基、ジ(エチルベンゾイル)アミノ基、ジ(トリルカルボニル)アミノ基、ジ(プロピルベンゾイル)アミノ基、ジ(4−t−ブチルベンゾイル)アミノ基、ジ(ニトロベンジルカルボニル)アミノ基、ジ(3−ブトキシ−2−ナフトイル)アミノ基、ジ(シンナモイル)アミノ基、コハク酸イミノ基などの炭素数2〜30のジアシルアミノ基;
【0085】
(ヘ) N−フェニル−N−アリルアミノ基、N−(2−アセチルオキシエチル)−N−エチルアミノ基、N−トリル−N−メチルアミノ基、N−ビニル−N−メチルアミノ基、N−ベンジル−N−アリルアミノ基、N−メチル−フェロセニルアミノ基、N−エチル−コバルトセニルアミノ基、N−ブチル−ニッケロセニルアミノ基、N−ヘキシル−オクタメチルフェロセニルアミノ基、N−メチル−オクタメチルコバルトセニルアミノ基、N−メチル−オクタメチルニッケロセニルアミノ基など等の置換又は無置換のアルキル基、アラルキル基、アリール基、アルケニル基より選択した置換基を有する炭素数3〜24のジ置換アミノ基。
【0086】
また、R1〜R8が置換又は無置換のアシル基である場合の具体例としては、前述したアルキル基の場合と同様な置換基を有するアシル基が挙げられ、好ましいのは、ホルミル基、メチルカルボニル基、エチルカルボニル基、n−プロピルカルボニル基、iso−プロピルカルボニル基、n−ブチルカルボニル基、iso−ブチルカルボニル基、sec−ブチルカルボニル基、t−ブチルカルボニル基、n−ペンチルカルボニル基、iso−ペンチルカルボニル基、ネオペンチルカルボニル基、2−メチルブチルカルボニル基、ベンゾイル基、メチルベンゾイル基、エチルベンゾイル基、トリルカルボニル基、プロピルベンゾイル基、4−t−ブチルベンゾイル基、ニトロベンジルカルボニル基、3−ブトキシ−2−ナフトイル基、シンナモイル基、フェロセンカルボニル基、1−メチルフェロセン−1′−カルボニル基、コバルトセンカルボニル基、ニッケロセンカルボニル基などの炭素数1〜16のアシル基である。
【0087】
また、R1〜R8が置換又は無置換のアルコキシカルボニル基である場合の具体例としては、前述したアルキル基の場合と同様な置換基を有するアルコキシカルボニル基が挙げられ、好ましいのは、次の(イ)〜(ト)の基である。
(イ) メトキシカルボニル基、エトキシカルボニル基、n−プロポキシカルボニル基、iso−プロポキシカルボニル基、n−ブトキシカルボニル基、iso−ブトキシカルボニル基、sec−ブトキシカルボニル基、t−ブトキシカルボニル基、n−ペントキシカルボニル基、iso−ペントキシカルボニル基、ネオペントキシカルボニル基、2−ペントキシカルボニル基、2−エチルヘキシルオキシカルボニル基、3,5,5−トリメチルヘキシルオキシカルボニル基、デカリルオキシカルボニル基、シクロヘキシルオキシカルボニル基、クロロエトキシカルボニル基、ヒドロキシメトキシカルボニル基、ヒドロキシエトキシカルボニル基などの炭素数2〜11のアルコキシカルボニル基;
【0088】
(ロ) メトキシメトキシカルボニル基、メトキシエトキシカルボニル基、エトキシエトキシカルボニル基、プロポキシエトキシカルボニル基、ブトキシエトキシカルボニル基、ペントキシエトキシカルボニル基、ヘキシルオキシエトキシカルボニル基、ブトキシブトキシカルボニル基、ヘキシルオキシブトキシカルボニル基、ヒドロキシメトキシメトキシカルボニル基、ヒドロキシエトキシエトキシカルボニル基などのアルコキシ基が置換した炭素数3〜11のアルコキシカルボニル基;
【0089】
(ハ) メトキシメトキシメトキシカルボニル基、メトキシエトキシエトキシカルボニル基、エトキシエトキシエトキシカルボニル基、プロポキシエトキシエトキシカルボニル基、ブトキシエトキシエトキシカルボニル基、ペントキシエトキシエトキシカルボニル基、ヘキシルオキシエトキシエトキシカルボニル基などのアルコキシアルコキシ基が置換した炭素数4〜11のアルコキシカルボニル基;
【0090】
(ニ) フェロセニルメトキシカルボニル基、フェロセニルエトキシカルボニル基、フェロセニルプロポキシカルボニル基、フェロセニルブトキシカルボニル基、フェロセニルペンチルオキシカルボニル基、フェロセニルヘキシルオキシカルボニル基、フェロセニルヘプチルオキシカルボニル基、フェロセニルオクチルオキシカルボニル基、フェロセニルノニルオキシカルボニル基、フェロセニルデシルオキシカルボニル基、
【0091】
(ホ) コバルトセニルメトキシカルボニル基、コバルトセニルエトキシカルボニル基、コバルトセニルプロポキシカルボニル基、コバルトセニルブトキシカルボニル基、コバルトセニルペンチルオキシカルボニル基、コバルトセニルヘキシルオキシカルボニル基、コバルトセニルヘプチルオキシカルボニル基、コバルトセニルオクチルオキシカルボニル基、コバルトセニルノニルオキシカルボニル基、コバルトセニルデシルオキシカルボニル基、
(ヘ) ニッケロセニルメトキシカルボニル基、ニッケロセニルエトキシカルボニル基、ニッケロセニルプロポキシカルボニル基、ニッケロセニルブトキシカルボニル基、ニッケロセニルペンチルオキシカルボニル基、ニッケロセニルヘキシルオキシカルボニル基、ニッケロセニルヘプチルオキシカルボニル基、ニッケロセニルオクチルオキシカルボニル基、ニッケロセニルノニルオキシカルボニル基、ニッケロセニルデシルオキシカルボニル基、
【0092】
(ト) ジクロロチタノセニルメトキシカルボニル基、トリクロロチタンシクロペンタジエニルメトキシカルボニル基、ビス(トリフルオロメタンスルホナト)チタノセンメトキシカルボニル基、ジクロロジルコノセニルメトキシカルボニル基、ジメチルジルコノセニルメトキシカルボニル基、ジエトキシジルコノセニルメトキシカルボニル基、ビス(シクロペンタジエニル)クロムメトキシカルボニル基、ビス(シクロペンタジエニル)ジクロロハフニウムメトキシカルボニル基、ビス(シクロペンタジエニル)ジクロロニオブメトキシカルボニル基、ビス(シクロペンタジエニル)ルテニウムメトキシカルボニル基、ビス(シクロペンタジエニル)バナジウムメトキシカルボニル基、ビス(シクロペンタジエニル)ジクロロバナジウムメトキシカルボニル基、ビス(シクロペンタジエニル)オスミウムメトキシカルボニル基などのメタロセニル基で置換した炭素数11〜20のアルコキシカルボニル基。
【0093】
また、R1〜R8が置換又は無置換のアラルキルオキシカルボニル基である場合の具体例としては、前述したアルキル基の場合と同様な置換基を有するアラルキルオキシカルボニル基が挙げられ、好ましいのは、ベンジルオキシカルボニル基、ニトロベンジルオキシカルボニル基、シアノベンジルオキシカルボニル基、ヒドロキシベンジルオキシカルボニル基、メチルベンジルオキシカルボニル基、トリフルオロメチルベンジルオキシカルボニル基、ナフチルメトキシカルボニル基、ニトロナフチルメトキシカルボニル基、シアノナフチルメトキシカルボニル基、ヒドロキシナフチルメトキシカルボニル基、メチルナフチルメトキシカルボニル基、トリフルオロメチルナフチルメトキシカルボニル基、フルオレン−9−イルエトキシカルボニル基などの炭素数8〜16のアラルキルオキシカルボニル基等である。
【0094】
また、R1〜R8が置換又は無置換のアリールオキシカルボニル基である場合の具体例としては、前述したアルキル基の場合と同様な置換基を有するアリールオキシカルボニル基が挙げられ、好ましいのは、フェノキシカルボニル基、2−メチルフェノキシカルボニル基、4−メチルフェノキシカルボニル基、4−t−ブチルフェノキシカルボニル基、2−メトキシフェノキシカルボニル基、4−iso−プロピルフェノキシカルボニル基、ナフトキシカルボニル基、フェロセニルオキシカルボニル基、コバルトセニルオキシカルボニル基、ニッケロセニルオキシカルボニル基、ジルコノセニルオキシカルボニル基、オクタメチルフェロセニルオキシカルボニル基、オクタメチルコバルトセニルオキシカルボニル基、オクタメチルニッケロセニルオキシカルボニル基、オクタメチルジルコノセニルオキシカルボニル基などの炭素数7〜11のアリールオキシカルボニル基である。
【0095】
また、R1〜R8が置換又は無置換のアルケニルオキシカルボニル基である場合の具体例としては、前述したアルキル基の場合と同様な置換基を有するアルケニルオキシカルボニル基が挙げられ、好ましいのは、ビニルオキシカルボニル基、プロペニルオキシカルボニル基、1−ブテニルオキシカルボニル基、iso−ブテニルオキシカルボニル基、1−ペンテニルオキシカルボニル基、2−ペンテニルオキシカルボニル基、シクロペンタジエニルオキシカルボニル基、2−メチル−1−ブテニルオキシカルボニル基、3−メチル−1−ブテニルオキシカルボニル基、2−メチル−2−ブテニルオキシカルボニル基、2,2−ジシアノビニルオキシカルボニル基、2−シアノ−2−メチルカルボキシルビニルオキシカルボニル基、2−シアノ−2−メチルスルホンビニルオキシカルボニル基、スチリルオキシカルボニル基、4−フェニル−2−ブテニルオキシカルボニル基などの炭素数3〜11のアルケニルオキシカルボニル基である。
【0096】
また、R1〜R8がモノ置換アミノカルボニル基である場合の具体例としては、前述したアルキル基の場合と同様な置換基を有するモノ置換アミノカルボニル基が挙げられ、好ましいのは、次の(イ)〜(ニ)の基である。
(イ) メチルアミノカルボニル基、エチルアミノカルボニル基、プロピルアミノカルボニル基、ブチルアミノカルボニル基、ペンチルアミノカルボニル基、ヘキシルアミノカルボニル基、ヘプチルアミノカルボニル基、オクチルアミノカルボニル基、(2−エチルヘキシル)アミノカルボニル基、シクロヘキシルアミノカルボニル基、(3,5,5−トリメチルヘキシル)アミノカルボニル基、ノニルアミノカルボニル基、デシルアミノカルボニル基などの炭素数2〜11のモノアルキルアミノカルボニル基;
【0097】
(ロ) ベンジルアミノカルボニル基、フェネチルアミノカルボニル基、(3−フェニルプロピルアミノカルボニル基、(4−エチルベンジル)アミノカルボニル基、(4−イソプロピルベンジル)アミノカルボニル基、(4−メチルベンジル)アミノカルボニル基、(4−エチルベンジル)アミノカルボニル基、(4−アリルベンジル)アミノカルボニル基、〔4−(2−シアノエチル)ベンジル〕アミノカルボニル基、〔4−(2−アセトキシエチル)ベンジル〕アミノカルボニル基などの炭素数8〜11のモノアラルキルアミノカルボニル基;
【0098】
(ハ) アニリノカルボニル基、ナフチルアミノカルボニル基、トルイジノカルボニル基、キシリジノカルボニル基、エチルアニリノカルボニル基、イソプロピルアニリノカルボニル基、メトキシアニリノカルボニル基、エトキシアニリノカルボニル基、クロロアニリノカルボニル基、アセチルアニリノカルボニル基、メトキシカルボニルアニリノカルボニル基、エトキシカルボニルアニリノカルボニル基、プロポキシカルボニルアニリノカルボニル基、4−メチルアニリノカルボニル基、4−エチルアニリノカルボニル基など、炭素数7〜11のモノアリールアミノカルボニル基;
【0099】
(ニ) ビニルアミノカルボニル基、アリルアミノカルボニル基、ブテニルアミノカルボニル基、ペンテニルアミノカルボニル基、ヘキセニルアミノカルボニル基、シクロヘキセニルアミノカルボニル基、オクタジエニルアミノカルボニル基、アダマンテニルアミノカルボニル基、などの炭素数3〜11のモノアルケニルアミノカルボニル基。
【0100】
また、R1〜R8がジ置換アミノカルボニル基である場合の具体例としては、前述したアルキル基の場合と同様な置換基を有するジ置換アミノカルボニル基が挙げられ、好ましいのは、次の(イ)〜(ホ)の基である。
(イ) ジメチルアミノカルボニル基、ジエチルアミノカルボニル基、メチルエチルアミノカルボニル基、ジプロピルアミノカルボニル基、ジブチルアミノカルボニル基、ジ−n−ヘキシルアミノカルボニル基、ジシクロヘキシルアミノカルボニル基、ジオクチルアミノカルボニル基、ピロリジノカルボニル基、ピペリジノカルボニル基、モルホリノカルボニル基、ビス(メトキシエチル)アミノカルボニル基、ビス(エトキシエチル)アミノカルボニル基、ビス(プロポキシエチル)アミノカルボニル基、ビス(ブトキシエチル)アミノカルボニル基、ジ(アセチルオキシエチル)アミノカルボニル基、ジ(ヒドロキシエチル)アミノカルボニル基、N−エチル−N−(2−シアノエチル)アミノカルボニル基、ジ(プロピオニルオキシエチル)アミノカルボニル基などの炭素数3〜17のジアルキルアミノカルボニル基;
【0101】
(ロ) ジベンジルアミノカルボニル基、ジフェネチルアミノカルボニル基、ビス(4−エチルベンジル)アミノカルボニル基、ビス(4−イソプロピルベンジル)アミノカルボニル基などの炭素数15〜21のジアラルキルアミノカルボニル基;
(ハ) ジフェニルアミノカルボニル基、ジトリルアミノカルボニル基、N−フェニル−N−トリルアミノカルボニル基などの炭素数13〜15のジアリールアミノカルボニル基;
【0102】
(ニ) ジビニルアミノカルボニル基、ジアリルアミノカルボニル基、ジブテニルアミノカルボニル基、ジペンテニルアミノカルボニル基、ジヘキセニルアミノカルボニル基、N−ビニル−N−アリルアミノカルボニル基などの炭素数5〜13のジアルケニルアミノカルボニル基;
(ホ) N−フェニル−N−アリルアミノカルボニル基、N−(2−アセチルオキシエチル)−N−エチルアミノカルボニル基、N−トリル−N−メチルアミノカルボニル基、N−ビニル−N−メチルアミノカルボニル基、N−ベンジル−N−アリルアミノカルボニル基等の置換又は無置換のアルキル基、アラルキル基、アリール基、アルケニル基より選択した置換基を有する炭素数4〜11のジ置換アミノカルボニル基。
【0103】
また、R1〜R8が置換又は無置換のアシルオキシ基である場合の具体例としては、前述したアルキル基の場合と同様な置換基を有するアシルオキシ基が挙げられ、好ましいのは、ホルミルオキシ基、メチルカルボニルオキシ基、エチルカルボニルオキシ基、n−プロピルカルボニルオキシ基、iso−プロピルカルボニルオキシ基、n−ブチルカルボニルオキシ基、iso−ブチルカルボニルオキシ基、sec−ブチルカルボニルオキシ基、t−ブチルカルボニルオキシ基、n−ペンチルカルボニルオキシ基、iso−ペンチルカルボニルオキシ基、ネオペンチルカルボニルオキシ基、2−メチルブチルカルボニルオキシ基、ベンゾイルオキシ基、メチルベンゾイルオキシ基、エチルベンゾイルオキシ基、トリルカルボニルオキシ基、プロピルベンゾイルオキシ基、4−t−ブチルベンゾイルオキシ基、ニトロベンジルカルボニルオキシ基、3−ブトキシ−2−ナフトイルオキシ基、シンナモイルオキシ基、フェロセンカルボニルオキシ基、1−メチルフェロセン−1′−カルボニルオキシ基、コバルトセンカルボニルオキシ基、ニッケロセンカルボニルオキシ基などの炭素数2〜16のアシルオキシ基である。
【0104】
また、R1〜R8が置換又は無置換のヘテロアリール基である場合の具体例としては、前述したアルキル基の場合と同様な置換基を有するヘテロアリール基が挙げられ、好ましいのは、次の(a)に示す無置換ヘテロアリール基、或いは(b)に示す置換基により置換したヘテロアリール基である。
(a) フラニル基、ピロリル基、3−ピロリノ基、ピラゾリル基、イミダゾリル基、オキサゾリル基、チアゾリル基、1,2,3−オキサジアゾリル基、1,2,3−トリアゾリル基、1,2,4−トリアゾリル基、1,3,4−チアジアゾリル基、ピリジニル基、ピリダジニル基、ピリミジニル基、ピラジニル基、ピペラジニル基、トリアジニル基、ベンゾフラニル基、インドーリル基、チオナフセニル基、ベンズイミダゾリル基、ベンゾチアゾリル基、ベンゾトリアゾール−2−イル基、ベンゾトリアゾール−1−イル基、プリニル基、キノリニル基、イソキノリニル基、クマリニル基、シンノリニル基、キノキサリニル基、ジベンゾフラニル基、カルバゾリル基、フェナントロニリル基、フェノチアジニル基、フラボニル基、フタルイミド基、ナフチルイミド基などの無置換ヘテロアリール基;
【0105】
(b)ヘテロアリール基の置換基
・フッ素原子、塩素原子、臭素原子、ヨウ素原子等のハロゲン原子;
・シアノ基;
・メチル基、エチル基、プロピル基、ブチル基、ペンチル基、ヘキシル基、ヘプチル基、オクチル基、デシル基、メトキシメチル基、エトキシエチル基、エトキシエチル基、トリフルオロメチル基等のアルキル基;
・ベンジル基、フェネチル基などのアラルキル基;
・フェニル基、トリル基、ナフチル基、キシリル基、メシル基、クロロフェニル基、メトキシフェニル基等のアリール基;
・メトキシ基、エトキシ基、プロポキシ基、ブトキシ基、ペントキシ基、ヘキシルオキシ基、ヘプチルオキシ基、オクチルオキシ基、ノニルオキシ基、デシルオキシ基、2−エチルヘキシルオキシ基、3,5,5−トリメチルヘキシルオキシ基、フェロセンメトキシ基、コバルトセンメトキシ基、ニッケロセンメトキシ基等のアルコキシ基;
【0106】
・ベンジルオキシ基、フェネチルオキシ基などのアラルキルオキシ基;
・フェノキシ基、トリルオキシ基、ナフトキシ基、キシリルオキシ基、メシチルオキシ基、クロロフェノキシ基、メトキシフェノキシ基等のアリールオキシ基;
・ビニル基、アリル基、ブテニル基、ブタジエニル基、ペンテニル基、シクロペンタジエニル基、オクテニル基等のアルケニル基;
・ビニルオキシ基、アリルオキシ基、ブテニルオキシ基、ブタジエニルオキシ基、ペンテニルオキシ基、シクロペンタジエニルオキシ基、オクテニルオキシ基等のアルケニルオキシ基;
・メチルチオ基、エチルチオ基、プロピルチオ基、ブチルチオ基、ペンチルチオ基、ヘキシルチオ基、ヘプチルチオ基、オクチルチオ基、デシルチオ基、メトキシメチルチオ基、エトキシエチルチオ基、エトキシエチルチオ基、トリフルオロメチルチオ基等のアルキルチオ基;
・ベンジルチオ基、フェネチルチオ基などのアラルキルチオ基;
・フェニルチオ基、トリルチオ基、ナフチルチオ基、キシリルチオ基、メシルチオ基、クロロフェニルチオ基、メトキシフェニルチオ基等のアリールチオ基;
【0107】
・ジメチルアミノ基、ジエチルアミノ基、ジプロピルアミノ基、ジブチルアミノ基等のジアルキルアミノ基;
・アセチル基、プロピオニル基、ブタノイル基、フェロセンカルボニル基、コバルトセンカルボニル基、ニッケロセンカルボニル基等のアシル基;
・メトキシカルボニル基、エトキシカルボニル基、フェロセンメトキシカルボニル基、1−メチルフェロセン−1′−イルメトキシカルボニル基、コバルトセニルメトキシカルボニル基、ニッケロセニルメトキシカルボニル基等のアルコキシカルボニル基;
・ベンジルオキシカルボニル基、フェネチルオキシカルボニル基等のアラルキルオキシカルボニル基;
・フェノキシカルボニル基、トリルオキシカルボニル基、ナフトキシカルボニル基、キシリルオキシカルボニル基、メシルオキシカルボニル基、クロロフェノキシカルボニル基、メトキシフェノキシカルボニル基等のアリールオキシカルボニル基;
【0108】
・ビニルオキシカルボニル基、アリルオキシカルボニル基、ブテニルオキシカルボニル基、ブタジエニルオキシカルボニル基、シクロペンタジエニルオキシ基、ペンテニルオキシカルボニル基、オクテニルオキシカルボニル基等のアルケニルオキシカルボニル基;
・メチルアミノカルボニル基、エチルアミノカルボニル基、プロピルアミノカルボニル基、ブチルアミノカルボニル基、ペンチルアミノカルボニル基、ヘキシルアミノカルボニル基、ヘプチルアミノカルボニル基、オクチルアミノカルボニル基、ノニルアミノカルボニル基、3,5,5−トリメチルヘキシルアミノカルボニル基、2−エチルヘキシルアミノカルボニル基等の炭素数2〜10のモノアルキルアミノカルボニル基
・ジメチルアミノカルボニル基、ジエチルアミノカルボニル基、ジプロピルアミノカルボニル基、ジブチルアミノカルボニル基、ジペンチルアミノカルボニル基、ジヘキシルアミノカルボニル基、ジヘプチルアミノカルボニル基、ジオクチルアミノカルボニル基、ピペリジノカルボニル基、モルホリノカルボニル基、4−メチルピペラジノカルボニル基、4−エチルピペラジノカルボニル基等の炭素数3〜20のジアルキルアミノカルボニル基等のアルキルアミノカルボニル基;
【0109】
・フラニル基、ピロリル基、3−ピロリノ基、ピロリジノ基、1,3−オキソラニル基、ピラゾリル基、2−ピラゾリニル基、ピラゾリジニル基、イミダゾリル基、オキサゾリル基、チアゾリル基、1,2,3−オキサジアゾリル基、1,2,3−トリアゾリル基、1,2,4−トリアゾリル基、1,3,4−チアジアゾリル基、4H−ピラニル基、ピリジニル基、ピペリジニル基、ジオキサニル基、モルホリニル基、ピリダジニル基、ピリミジニル基、ピラジニル基、ピペラジニル基、トリアジニル基、ベンゾフラニル基、インドーリル基、チオナフセニル基、ベンズイミダゾリル基、ベンゾチアゾリル基、プリニル基、キノリニル基、イソキノリニル基、クマリニル基、シンノリニル基、キノキサリニル基、ジベンゾフラニル基、カルバゾリル基、フェナントロニリル基、フェノチアジニル基、フラボニル基等の複素環基;
・フェロセニル基、コバルトセニル基、ニッケロセニル基、ルテノセニル基、オスモセニル基、チタノセニル基などのメタロセニル基。
【0110】
L1、L2、L3で表される置換されていてもよいメチン基の置換基R9、R10、R11の例としては、シアノ基;前述のR1〜R8において示したのと同様のハロゲン原子、置換又は無置換の「アルキル基、アラルキル基、アリール基」が挙げられる。
【0111】
R1〜R11が連結基を介して、それぞれ環を形成する際の連結基としては、窒素原子、酸素原子、硫黄原子、リン原子、金属原子、半金属原子などのヘテロ原子及び炭素原子の中から適宜選択して組み合わせてなる基であり、好ましい連結基の例としては、−O−、−S−、−C(=O)−、又は置換されていてもよいメチレン基、イミノ基、金属原子などが挙げられ、適宜組み合わせて所望する環を得ることができる。連結基により形成する環としては、連結基により連結した鎖状、面状又は立体状の環が挙げられる。
連結した骨格の好適な例としては、次の(イ)〜(ニ)のものが挙げられる。(イ) −CH2−CH2−CH2−CH2−、−CH2(NO2)−CH2−CH2−CH2−、−CH(CH3)−CH2−CH2−CH2−、−CH(Cl)−CH2−CH2−等(脂肪族縮合環を形成する);
【0112】
(ロ) −CH=CH−CH=CH−、−C(NO2)=CH−CH=CH−、−C(CH3)=CH−CH=CH−、−C(CH3)=CH−CH=CH−、−C(CH3)=CH−CH=C(CH3)−、−C(OCH3)=CH−CH=C(OCH3)−、−C〔OCH2CH2CH(CH3)−(OCH3)〕=C(Cl)−C(Cl)=C〔OCH2CH2CH(CH3)−(OCH3)〕−、−C〔OCH2CH2CH(CH3)2〕=C(Cl)−C(Cl)=C〔OCH2CH2CH(CH3)2〕−、−CH=C(CH3)−C(CH3)=CH−、−C(Cl)=CH−CH=CH−、−C{OCH〔CH(CH3)2〕2}=CH−CH=CH−、−C{OCH〔CH(CH3)2〕2}=C(Br)−CH=CH−、−C{OCH〔CH(CH3)2〕2}=CH−C(Br)=CH−、−C{OCH〔CH(CH3)2〕2}=CH−CH=C(Br)−等(芳香族縮合環を形成する);
【0113】
(ハ) −O−CH2−CH2−O−、−O−CH(CH3)−CH(CH3)−O−、−COO−CH2−CH2−、−COO−CH2−、−CONH−CH2−CH2−、−CONH−CH2−、−CON(CH3)−CH2−CH2−、−CON(CH3)−CH2−等(複素環を形成する);
【0114】
(ニ)
【化14】
〔式中、M′は、Fe、Ru、Co、Ni、Os又はM″R′2(M″はTi、Zr、Hf、Nb、Mo、Vの何れかを表し、R′は、CO、F、Cl、Br、I、前述のR1〜R8と同様の置換基を有する炭素数1〜10のアルキル基、アルコキシ基、アリール基、アリールオキシ基、アラルキル基、アラルキルオキシ基の何れかを表す。)の何れかを表す。〕等(金属錯体残基を含む複素環を形成する)。
【0115】
R1〜R11が各々隣接する置換基と連結基を介して連結する際に好適な連結の組合せは、R1とR2、R3とR4、R5とR6、R7とR8、R2とR9、R3とR9、R4とR10、R5とR10、R6とR11、R7とR11等が挙げられる。
【0116】
M1が2価の無置換金属原子である場合の具体例としては、Cu、Zn、Fe、Co、Ni、Ru、Rh、Pd、Pt、Mn、Sn、Mg、Pb、Hg、Cd、Ba、Ti、Be、Ca等が挙げられる。
M1が配位子を有する2価の金属原子である場合の具体例としては、Cu(NH3)2、Fe(NH3)2、Fe(ピリジン)2、Fe(γ−ピコリン)2、Fe(トシルメチルイソシアニド)2、Fe(ベンジルイソシアニド)2等の含窒素化合物が配位した2価の金属原子が挙げられる。
【0117】
M1が置換基を有する3価の金属原子である場合の具体例としては、Al−F、Al−Cl、Al−Br、Al−I、Ga−F、Ga−Cl、Ga−Br、Ga−I、In−F、In−Cl、In−Br、In−I、Ti−F、Ti−Cl、Ti−Br、Ti−I、Al−C6H5、Al−C6H4(CH3)、In−C6H5、In−C6H4(CH3)、Mn(OH)、Mn(OCH3)、Mn(OC6H5)、Mn〔OSi(CH3)3〕、Fe−F、Fe−Cl、Fe−Br、Fe−I、Ru−F、Ru−Cl、Ru−Br、Ru−I等の1置換の3価の金属原子が挙げられる。
【0118】
M1が置換基を有する4価の金属原子である場合の具体例としては、CrCl2、SnF2、SnCl2、SnBr2、SnI2、ZnF2、ZnCl2、ZnBr2、ZnI2、GeF2、GeCl2、GeBr2、GeI2、TiF2、TiCl2、TiBr2、TiI2、Sn(OH)2、Ge(OH)2、Zr(OH)2、Mn(OH)2、TiA2、CrA2、SiA2、SnA2、GeA2、Ti(OA)2、Cr(OA)2、Sn(OA)2、Ge(OA)2、Ti(SA)2、Cr(SA)2、Sn(SA)2、Ge(SA)2〔Aは、前述のR1〜R8において示したのと同様の置換又は無置換の「アルキル基、アリール基、ヘテロアリール基」を表す。〕等の2置換の4価の金属原子が挙げられる。
【0119】
M1が置換基を有する3価又は4価の半金属原子である場合の具体例としては、B−F、B−Cl、B−Br、B−I、B−A、B(OH)、B(OA)、B〔OSi(CH3)3〕〔Aは、前述のAと同じ〕等の1置換の3価の半金属原子や、SiF2、SiCl2、SiBr2、SiI2、Si(OH)2、SiA2、Si(OA)2、Si(SA)2〔Aは、前述のAと同じ〕等の2置換の4価の半金属原子が挙げられる。
M1がオキシ金属原子である場合の具体例としては、VO、MnO、TiO等が挙げられる。
【0120】
上記の中でもM1として好ましいのは、Pd、Cu、Pt、Ni、Co、Rh、Zn、Fe、Fe(ピリジン)2、Fe(γ−ピコリン)2、Fe(トシルメチルイソシアニド)2、Fe(ベンジルイソシアニド)2、Fe−F、Fe−Cl、Fe−Br、Fe−I、VO、TiO、TiA2、SiA2、SnA2、RuA2、RhA2、GeA2、SiA2、Si(OA)2、Sn(OA)2、Ge(OA)2、Si(SA)2、Sn(SA)2、Ge(SA)2〔Aは、前述のAと同じ〕である。
【0121】
前記一般式(7)で表されるジアザポルフィリン化合物において、ピロール環上の置換基R12〜R19の例としては、ハロゲン原子、ニトロ基、シアノ基、ヒドロキシル基、アミノ基、カルボキシル基、スルホン酸基、又は前述のR1〜R8で示されるハロゲン原子、アルキル基、アラルキル基、アリール基、アルケニル基、アルコキシ基、アラルキルオキシ基、アリールオキシ基、アルケニルオキシ基、アルキルチオ基、アラルキルチオ基、アリールチオ基、アルケニルチオ基、モノ置換アミノ基、ジ置換アミノ基、アシル基、アルコキシカルボニル基、アラルキルオキシカルボニル基、アリールオキシカルボニル基、アルケニルオキシカルボニル基、モノ置換アミノカルボニル基、ジ置換アミノカルボニル基、アシルオキシ基、ヘテロアリール基と同様のハロゲン原子、置換又は無置換のアルキル基、アラルキル基、アリール基、アルケニル基、アルコキシ基、アラルキルオキシ基、アリールオキシ基、アルケニルオキシ基、アルキルチオ基、アラルキルチオ基、アリールチオ基、アルケニルチオ基、モノ置換アミノ基、ジ置換アミノ基、アシル基、アルコキシカルボニル基、アラルキルオキシカルボニル基、アリールオキシカルボニル基、アルケニルオキシカルボニル基、モノ置換アミノカルボニル基、ジ置換アミノカルボニル基、アシルオキシ基、ヘテロアリール基が挙げられる。
【0122】
また、R20、R21で表される置換されていてもよいメチン基の置換基の例としては、シアノ基;又は前述のR1〜R8において示したのと同様のハロゲン原子、置換又は無置換の「アルキル基、アラルキル基、アリール基」が挙げられる。特に、溶解性向上並びに光学特性向上のため、置換基R20、R21は置換又は無置換の炭素数1以上の基が好ましく、置換又は無置換のフェニル基がより好ましい。
また、R12〜R19が連結基を介して、それぞれ形成する環の例としては、前述のR1〜R11において示したのと同様の脂肪族縮合環、芳香族縮合環、複素環が挙げられる。
また、M2で表される中心原子の例としては、2個の水素原子;又は前述のM1において示したのと同様の、2価の無置換又は配位子を有する金属原子、置換基を有する3価又は4価の金属原子又は半金属原子、オキシ金属原子が挙げられる。
【0123】
前記一般式(8)で表されるモノアザポルフィリン化合物において、ピロール環上の置換基R22〜R29の例としては、ハロゲン原子、ニトロ基、シアノ基、ヒドロキシル基、アミノ基、カルボキシル基、スルホン酸基、又は前述のR1〜R8において示したハロゲン原子、アルキル基、アラルキル基、アリール基、アルケニル基、アルコキシ基、アラルキルオキシ基、アリールオキシ基、アルケニルオキシ基、アルキルチオ基、アラルキルチオ基、アリールチオ基、アルケニルチオ基、モノ置換アミノ基、ジ置換アミノ基、アシル基、アルコキシカルボニル基、アラルキルオキシカルボニル基、アリールオキシカルボニル基、アルケニルオキシカルボニル基、モノ置換アミノカルボニル基、ジ置換アミノカルボニル基、アシルオキシ基、ヘテロアリール基と同様のハロゲン原子、置換又は無置換のアルキル基、アラルキル基、アリール基、アルケニル基、アルコキシ基、アラルキルオキシ基、アリールオキシ基、アルケニルオキシ基、アルキルチオ基、アラルキルチオ基、アリールチオ基、アルケニルチオ基、モノ置換アミノ基、ジ置換アミノ基、アシル基、アルコキシカルボニル基、アラルキルオキシカルボニル基、アリールオキシカルボニル基、アルケニルオキシカルボニル基、モノ置換アミノカルボニル基、ジ置換アミノカルボニル基、アシルオキシ基、ヘテロアリール基が挙げられる。
【0124】
また、R30〜R32で表される置換されていてもよいメチン基の置換基の例としては、シアノ基;又は前述のR1〜R8において示したのと同様のハロゲン原子、置換又は無置換のアルキル基、アラルキル基、アリール基が挙げられる。R22〜R32が連結基を介して、それぞれ形成した環の例としては、前述のR1〜R11において示したのと同様の脂肪族縮合環、芳香族縮合環、複素環が挙げられる。
M3で表される中心原子の例としては、2個の水素原子;又は前述のM1において示したのと同様の、2価の無置換又は配位子を有する金属原子、置換基を有する3価又は4価の金属原子又は半金属原子、オキシ金属原子が挙げられる。
【0125】
前記一般式(9)で表されるアザポルフィリン化合物において、ピロール環上の置換基R33〜R44の例としては、ハロゲン原子、ヒドロキシル基、又は前述のR1〜R8において示したハロゲン原子、アルキル基、アリール基、アルコキシ基、アラルキルオキシ基、アリールオキシ基、アルケニルオキシ基、アルキルチオ基、アリールチオ基、ヘテロアリール基と同様のハロゲン原子、置換又は無置換のアルキル基、アリール基、アルコキシ基、アラルキルオキシ基、アリールオキシ基、アルケニルオキシ基、アルキルチオ基、アリールチオ基、ヘテロアリール基が挙げられる。
R33〜R44が連結基を介して、それぞれ形成した環の例としては、前述のR1〜R11において示したのと同様の脂肪族縮合環、芳香族縮合環、複素環が挙げられる。
M4で表される中心原子の例としては、2個の水素原子;又は前述のM1において示したのと同様の、2価の無置換又は配位子を有する金属原子、置換基を有する3価又は4価の金属原子又は半金属原子、オキシ金属原子が挙げられる。
【0126】
前記一般式(10)で表されるアザポルフィリン化合物において、ピロール環上の置換基R45〜R56の例としては、ハロゲン原子、ヒドロキシル基、又は前述のR1〜R8において示したハロゲン原子、アルキル基、アリール基、アルコキシ基、アラルキルオキシ基、アリールオキシ基、アルケニルオキシ基、アルキルチオ基、アリールチオ基、ヘテロアリール基と同様のハロゲン原子、置換又は無置換のアルキル基、アリール基、アルコキシ基、アラルキルオキシ基、アリールオキシ基、アルケニルオキシ基、アルキルチオ基、アリールチオ基、ヘテロアリール基が挙げられる。
R45〜R56が連結基を介して、それぞれ形成した環の例としては、前述のR1〜R11において示したのと同様の脂肪族縮合環、芳香族縮合環、複素環が挙げられる。
M5で表される中心原子の例としては、2個の水素原子;又は前述のM1において示したのと同様の、2価の無置換又は配位子を有する金属原子、置換基を有する3価又は4価の金属原子又は半金属原子、オキシ金属原子が挙げられる。
【0127】
前記一般式(11)で表されるアザポルフィリン化合物において、ピロール環上の置換基R57〜R68の例としては、ハロゲン原子、ヒドロキシル基、又は前述のR1〜R8において示したハロゲン原子、アルキル基、アリール基、アルコキシ基、アラルキルオキシ基、アリールオキシ基、アルケニルオキシ基、アルキルチオ基、アリールチオ基、ヘテロアリール基と同様のハロゲン原子、置換又は無置換のアルキル基、アリール基、アルコキシ基、アラルキルオキシ基、アリールオキシ基、アルケニルオキシ基、アルキルチオ基、アリールチオ基、ヘテロアリール基が挙げられる。
R57〜R68が連結基を介して、それぞれ形成した環の例としては、前述のR1〜R11において示したのと同様の脂肪族縮合環、芳香族縮合環、複素環が挙げられる。
M6で表される中心原子の例としては、2個の水素原子;又は前述のM1において示したのと同様の、2価の無置換又は配位子を有する金属原子、置換基を有する3価又は4価の金属原子又は半金属原子、オキシ金属原子が挙げられる。
【0128】
前記一般式(12)で表されるアザポルフィリン化合物において、ピロール環上の置換基R69〜R80の例としては、ハロゲン原子、ヒドロキシル基、又は前述のR1〜R8において示したハロゲン原子、アルキル基、アリール基、アルコキシ基、アラルキルオキシ基、アリールオキシ基、アルケニルオキシ基、アルキルチオ基、アリールチオ基、ヘテロアリール基と同様のハロゲン原子、置換又は無置換のアルキル基、アリール基、アルコキシ基、アラルキルオキシ基、アリールオキシ基、アルケニルオキシ基、アルキルチオ基、アリールチオ基、ヘテロアリール基が挙げられる。
R69〜R80が連結基を介して、それぞれ形成した環の例としては、前述のR1〜R11において示したのと同様の脂肪族縮合環、芳香族縮合環、複素環が挙げられる。
M7で表される中心原子の例としては、2個の水素原子;又は前述のM1において示したのと同様の、2価の無置換又は配位子を有する金属原子、置換基を有する3価又は4価の金属原子又は半金属原子、オキシ金属原子が挙げられる。
【0129】
前述したようなアザポルフィリン系化合物の製造方法は特に限定されないが、例えば前記化合物(7)の場合、J.Chem.Soc.(C),22−29(1996)、J.Biochem.,121,654−660(1997)、Z.Physiol.Chem,214,145(1933)、Die Chemie des Pyrrols,Band II,Halfte 2,pp.411−414,Akademische Verlagesellschuft,Leipzig(1940)等に記載の方法に準じて製造される。
代表的には、以下のような三段階の反応にて製造することができる。
まず、第一段階では、一般式(16)及び一般式(17)で表されるジピロメタン化合物をそれぞれ酢酸等のカルボン酸系溶媒あるいは塩化メチレン等のハロゲン化炭化水素系溶媒中で、臭素、ヨウ素、N−ブロモコハク酸イミド、N−ヨードコハク酸イミド等のハロゲン化剤によりハロゲン化し、各々一般式(18)及び一般式(19)で示されるジピロメテン化合物を得る。
【0130】
【化15】
【化16】
〔式(16)、(17)中、R12〜R21は、一般式(7)のR12〜R21とそれぞれ同一の基を表し、rは水素原子又はカルボキシル基を表す。〕
【化17】
【化18】
〔式(18)、(19)中、R12〜R21は、一般式(7)のR12〜R21とそれぞれ同一の基を表し、aはハロゲン原子を表す。〕
【0131】
次いで第二段階では、一般式(18)及び一般式(19)で表されるジピロメテン化合物を、それぞれエタノール等のアルコール系溶媒及び/又はジメチルホルムアミド等のアミド溶媒などの有機溶媒中で、金属又は半金属の硫酸塩、硝酸塩、ハロゲン化塩などの無機塩、或いは酢酸塩、アセチルアセトナート塩等の有機金属塩等の金属又は半金属化合物を用い、空気などの酸化剤の存在下或いは非存在下で反応させることにより、一般式(20)で表されるジピロメテン金属錯体を得る。
【化19】
〔式中、R12〜R21は一般式(7)のR12〜R21とそれぞれ同一の基を表し、aはハロゲン原子を表し、M2は一般式(7)のM2と同一の意を表す。〕
【0132】
次いで、第三段階では、上記ジピロメテン金属錯体(2716)をエタノール等のアルコール系溶媒及び/又はジメチルホルムアミド等のアミド溶媒などの有機溶媒中でアジ化ナトリウム等のアジ化塩と反応させることにより、一般式(7)で示される本発明のジアザポルフィリン化合物を得ることができる。
ここで、第一段階で得られた一般式(18)及び一般式(19)で示されるジピロメテン化合物を、それぞれエタノール等のアルコール系溶媒及び/又はジメチルホルムアミド等のアミド溶媒などの有機溶媒中で、金属又は半金属の硫酸塩、硝酸塩、ハロゲン化塩などの無機塩、或いは酢酸塩、アセチルアセトナート塩等の有機金属塩等を用い、空気などの酸化剤の存在下又は非存在下で、アジ化ナトリウム等のアジ化塩と反応させることにより、一般式(7)の化合物を得ることもできる。
更に、無金属の一般式(7)で表されるジアザポルフィリン化合物〔Mが2個の水素原子〕は、一般式(18)及び(19)で表されるジピロメテン化合物をメタノール等のアルコール系溶媒及び/又はジメチルホルムアミド等のアミド溶媒などの有機溶媒中でアジ化ナトリウム等と反応させるか、或いは、金属錯体化した一般式(20)の化合物をクロロホルム等の溶媒中で、トリフルオロ酢酸等の有機酸と反応させることにより得ることができる。
【0133】
一般式(7)で表されるジアザポルフィリン化合物の具体例としては、例えば表1〜表5に記載する置換基を有する化合物(1−1)〜(1−65)等が挙げられる。
【表1】
【表2】
【表3】
【表4】
【表5】
【0134】
また、好ましいポルフィリンとしては、下記一般式(21)で示される化合物が挙げられる。
【化20】
〔式中、A1〜A4、B1〜B8は、水素原子、アルキル基、シクロアルキル基、フェニル基の何れかを表す。BnとBn+1(n=1、3、5、7)は、C4H4残基を介して環状に結合していてもよい。Mは2個又は4個のプロトン若しくは1個の金属原子を表す。〕
【0135】
中でも、下記一般式(22)で示される化合物が好ましく、特に好ましいのは下記一般式(23)で示される化合物である。
【化21】
〔式中、R1は水素原子、メチル基、アリル基、又はフェニル基を表し、R2は水素原子、メチル基、アリル基、フェニル基、メトキシフェニル基、トリル基、ニトロ基、アミノ基、又はシアノ基を表し、R3は水素原子、メチル基、ハロゲン原子、アリル基、フェニル基、メトキシフェニル基、トリル基、ニトロ基、アミノ基、又はシアノ基を表す。Mは2個又は4個のプロトン若しくはMn、Co、Ni、Cu、Znから選ばれた2価の金属を表す。〕
【化22】
〔式中、A1〜A4は、水素原子又はフェニル基を表す。Mは2個又は4個のプロトン若しくはZnを表す。〕
【0136】
ポルフィリン誘導体はその構造の対称性から結晶化し易いため、結晶化することなく良好な溶解性で溶解させるためには、配位能を持つ分子構造を側鎖に有する沸点の低い高分子と共に溶剤に溶解させることが好ましい。
この溶液をスピンコートすると、ポルフィリン同士のスタックのない分散性に優れた記録層が形成される。
本発明で用いるテトラベンゾポルフィリンとしては、300〜500nmの記録波長で記録が行われるものがよく、339〜435nmで記録が行われるものが更に好ましく、亜鉛錯体であるものが最も好ましい。そのようなものとして、テトラフェニルテトラベンゾポルフィリン亜鉛錯体が挙げられる。
【0137】
また、高分子物質としては、ポルフィリン誘導体の中心金属に配位できる側鎖を有するもの、例えばイミダゾール誘導体、ピリジン誘導体、キノリン誘導体、フェノール誘導体を側鎖に有する高分子物質のうち、ポルフィリン誘導体との相溶性を考慮して選択することが望ましい。中でも、ポリ−4−ビニルピリジンが好適である。
ポルフィリン誘導体と高分子物質の組成比は、高分子物質を構成するモノマーが、ポルフィリン誘導体に対して50倍以上のモル比で存在するように設定することが好ましい。この組成比で、ポルフィリン誘導体と高分子物質を混合することにより、ポルフィリンをスタックさせることなく記録層中に良好に分散できる。なお、更に最適な組成比は、用いる高分子物質とポルフィリン誘導体の種類によって多少変化する。高分子物質としてポリビニルピリジンを用いる場合には、ビニルピリジンモノマーがポルフィリン誘導体に対して67倍以上のモル比で存在するように組成比を設定することが好ましい。
【0138】
また、上記配位能を持つモノマーの高分子物質全体に対する比率は、モル比で50%以上であることが望ましい。配位能を持つモノマーをこの範囲で含有する高分子物質は、配位子としてポルフィリンと良好に相互作用し、ソーレー帯を長波長シフトさせ分子吸光係数を増大させる。
なお、このような記録層には、ポルフィリン誘導体、高分子物質の他に、耐光性向上の目的で、ヒンダードアミン類、ニッケル錯体等を30重量部以内の量、好ましくは0.1〜10重量部添加しても良い。
第一の光吸収層4の厚さは、5〜200nmが好ましい。膜厚が5nmより薄い場合は熱の吸収が十分ではなく、変形や変化が不十分となる。また、膜厚が200nmより厚い場合は体積が大きいため変形が抑えられたり、熱的な影響を受けて光学的に変化できない部分が存在するため問題である。
【0139】
特に好ましい色素の具体例としては、次のようなメタルフタロシアニン系色素(以下、MPcという)が挙げられる。なお、多数の式中に使用される同一の符号は同一の置換基を表すので、一度だけ記載することにした。
MPc−Rn(R=アルキル基、シクロアルキル基、オキサアルキル基)、MPc−(XR)n(X=O、S、Se、Te)、MPc−(Ar)n(Ar=アリール基)、MPc−(YAr)n(Y=O、S、Se)、MPc−(SO3M)n(M=H、金属イオン)、MPc−(SO2NR1R2)n(R1、R2=H、アルキル基、アリール基)、MPc−(COOM)n(M=金属イオン)、MPc−(COZ)n(Z=R、OR、NR1R2)、MPc−(NR1R2)n、MPc−(NR1−COR2)n、MPc−(SiNR1R2R3)n(R3=アルキル基、アリール基)、MPc−(NO2)n、MPc−Fnなど。
上記色素の中心金属Mとしては、Li、Na、K、Be、Mg、Ca、Ba、Al、Ga、In、Ti、Si、Ge、Sn、Pb、As、Sb、Sc、Y、La、Ce、Pr、Nd、Pm、Sm、Eu、Gd、Tb、Dy、Ho、Er、Tm、Yb、Lu、Th、Pa、U、Np、Am、Ti、Zr、Hf、V、Nb、Ta、Cr、Mo、W、Mn、Tc、Re、Fe、Co、Ni、Ru、Rh、Ir、Os、Ir、Pt、Cu、Ag、Au、Zn、Cd、Hgなどが挙げられる。
【0140】
更に、下記化学式(24)で示されるポルフィリン系色素を用いた場合も、変調度が大きく、良好な記録が達成できる。この場合、膜厚は10〜100nmが好適であり、10nmより薄いと吸収率が少なくなり問題である。また、膜厚が100nmより厚い場合は体積が記録を阻害し、良好な記録を達成できない。
【化23】
(式中、X1〜X3はそれぞれ独立に窒素原子又はCH基を示し、R1〜R8はそれぞれ独立に、水素原子、ハロゲン原子、炭素数1〜12の置換又は無置換のアルキル基、炭素数6〜20の置換又は無置換のアリール基、水酸基、置換又は無置換のアルコキシ基、置換又は無置換のアリールオキシ基、アミノ基又はアルキルアミノ基、ニトロ基、シアノ基、カルボキシ基、置換又は無置換のカルボン酸エステル基、置換又は無置換のカルボン酸アミド基、アルキルチオ基、アリールチオ基、スルホン酸基、置換又は無置換のスルホン酸エステル基、置換又は無置換のスルホンアミド基、置換又は無置換のシリル基、及びシロキシ基から選択される。また、中心金属Mは遷移金属を示し、電荷を有してカチオン塩構造をとっても良い。)
【0141】
第一の光吸収層の材料としてにフタロシアニン色素を選択する場合、この色素は、溶液状態において波長λ=300〜400nmの間にポルフィリン環に起因するB帯の吸収を示すが、その強度は、log10ε(εは分子吸光係数)で表したとき、3.5以上でなければならない。3.5より小さいと、吸収が少なく良好な記録を達成することができない。
また、上記色素材料群より選択される1種又は2種以上の色素材料を樹脂中に分散して用いることもできる。
色素材料を分散可能な樹脂としては、アクリル樹脂、特にアクリレート系樹脂、ビニル樹脂、特にビニールアルコール系樹脂、ビニールアセテート系樹脂、フェノール樹脂、フッ素樹脂、シリコーン樹脂、ポリアミド樹脂、ポリエステル樹脂、ポリエーテル樹脂、ポリスチレン樹脂、ポリウレタン樹脂、セルロース樹脂、脂肪酸系樹脂などを挙げることができる。樹脂の配合量は全体の50重量%以下とすることが好ましい。
【0142】
上記の樹脂として、ポリビニルアルコール(PVA)、ポリエチレンオキシド、ポリアクリル酸、ポリスチレンスルホン酸ナトリウム、ポリビニルピロリドン、ポリメタクリル酸、ポリプロピレングリコール、メチルセルロース、ポリビニルナイトレート、ニトロセルロースなどの親水性樹脂を用いてもよく、その場合には、上記親水性樹脂の水溶液を、透明基板1のプリフォーマットパターン形成面2にスピンコートして形成する。
なお、親水性樹脂を用いると、耐水性(耐湿性、透湿性)や耐熱性が悪いので、架橋処理や結晶化処理を施して耐水性や耐熱性を改善することが好ましい。具体的には、親水性樹脂の水溶液に架橋剤を添加し、第一光吸収層3を成膜した後に、光照射による架橋反応や加熱による架橋反応を起させたり、或いは架橋剤を添加することなく第一光吸収層3を熱処理して結晶化(例えば、親水性樹脂としてPVAを用いる場合には、変性PVA化する)させたりする。
【0143】
架橋処理と結晶化処理とを比較すると、加熱による悪影響を透明基板1に与えることがなく、かつ作業性にも優れていることから、架橋処理の方が好ましい。以下に、架橋反応の具体例を示すが、実施に際しては、これらの架橋反応の中から、必要に応じて任意の手段を選択することができる。
(1)架橋剤として重クロム酸アンモニウムを添加し、色素表面を処理すると同時に、成膜後に反応光を照射して、第一の光吸収層に架橋反応を起させる方法。
(2)無機系架橋剤として、例えば銅、ホウ素、アルミニウム、チタン、ジルコニウム、スズ、バナジウム、クロム等を添加する方法。
(3)アルデヒドを用いてアセタール化する方法。
(4)水酸基をアルデヒド化する方法。
(5)活性化ビニル化合物を添加する方法。
(6)エポキシ化合物を添加してエーテル化する方法。
(7)酸触媒の存在下でジカルボン酸反応を起させる方法。
(8)コハク酸及び硫酸を添加する方法。
(9)トリエチレングリコール及びアクリル酸メチルを添加する方法。
(10)ポリアクリル酸及びメチルビニルエーテルマレイン酸共重合体をブレンドする方法。
【0144】
また、第一の光吸収層の材料としては、芳香族化合物、脂肪族化合物、アミド、エステル、アミン、ウレア、硫黄化合物及びヒドロキシ化合物からなる群から選択される少なくとも1つを用いることもできる。
更に、第一の光吸収層は、分解温度が160℃以上、500℃以下の有機物質を含有することが望ましい。このような有機物質は、上記例示化合物の中から適宜選択すればよい。分解温度が160℃より低いと環境に影響され、保存性に問題が発生する。また、分解温度が500℃より高いと記録時に材料の分解を誘発することができず記録感度が低下するという問題がある。
また、第一の光吸収層は熱伝導率が1.1W/mkより小さい材料により構成されていることが望ましい。熱伝導率がこれよりも大きいと、伝導により熱が逃げてしまって記録が阻害され十分なコントラストを得ることができない。
【0145】
第一の光吸収層は、透明基板1のプリフォーマットパターン形成面に、例えば上記色素材料群より選択された色素材料の溶剤溶液をスピンコートして形成する。即ち、溝状のプリフォーマットパターン2内に色素材料を充填した後、プリフォーマットパターン2の間のランド部2cに付着した色素材料を選択的に除去し、透明基板1の表面を露出すると共に、プリフォーマットパターン2内にのみ色素材料を充填することによって形成できる。なお、色素材料の溶剤としては、25℃における誘電率が80未満であり、色素材料を0.1重量%以上溶解させることができるものを用いる必要がある。溶解能力が0.1重量%より小さいと膜厚を確保することができない。具体的にはアルコール系溶剤やセルソルブ系溶剤などを用いることができる。
【0146】
また、第一の吸収層を形成するための誘電率の小さい溶剤の例としては、酢酸ブチル、セロソルブアセテートなどのエステル;メチルエチルケトン、シクロヘキサノン、メチルイソブチルケトンなどのケトン;ジクロルメタン、1,2−ジクロルエタン、クロロホルムなどの塩素化炭化水素;ジメチルホルムアミドなどのアミド;シクロヘキサンなどの炭化水素;テトラヒドロフラン、エチルエーテル、ジオキサンなどのエーテル;エタノール、n−プロパノール、イソプロパノール、n−ブタノールジアセトンアルコールなどのアルコール;2,2,3,3−テトラフロロプロパノールなどのフッ素系溶剤;エチレングリコールモノメチルエーテル、エチレングリコールモノエチルエーテル、プロピレングリコールモノメチルエーテルなどのグリコールエーテル類などを挙げることができる。
上記溶剤は使用する色素の溶解性を考慮して単独又は二種以上併用して適宜用いることができる。塗布液中には更に酸化防止剤、UV吸収剤、可塑剤、潤滑剤など各種の添加剤を目的に応じて添加してもよい。
【0147】
更に、二座配位を取り得るキレート剤を含有させて、色素の褪色防止を図ることもできる。このようなキレート剤としては、無機酸類、ジカルボン酸類、オキシカルボン酸類、ジオキシ化合物類、オキシオキシム類、オキシアルデヒド及び誘導体類、ジケトン及び類似化合物類、オキシキノン類、トロボロン類、N−オキシド化合物類、アミノカルボン酸及び類似化合物類、ヒドロキシルアミン類、オキシン類、アルジミン類、オキシアゾ化合物類、ニトロソナフトール類、トリアゼン類、ピウレット類、ホルマザン類及びジチゾン類、ビクアリド類、グリオキシム類、ジアミン及び類似化合物類、ヒドラジン誘導体類、チオエーテル類などが挙げられる。
更に、イミノ基を有する誘導体も使用可能である。
【0148】
第一の光吸収層の成膜に際し結合剤を使用する場合の結合剤の例としては、ゼラチン、セルロース誘導体、デキストラン、ロジン、ゴムなどの天然有機高分子物質;ポリエチレン、ポリプロピレン、ポリスチレン、ポリイソブチレン等の炭化水素系樹脂;ポリ塩化ビニル、ポリ塩化ビニリデン、ポリ塩化ビニル・ポリ酢酸ビニル共重合体等のビニル系樹脂;ポリアクリル酸メチル、ポリメタクリル酸メチル等のアクリル樹脂;ポリビニルアルコール、塩素化ポリエチレン、エポキシ樹脂、ブチラール樹脂、ゴム誘導体、フェノール・ホルムアルデヒド樹脂等の熱硬化性樹脂の初期縮合物などの合成有機高分子を挙げることができる。
結合剤の使用量は、一般に色素に対して0.01〜50倍量(質量比)の範囲にあり、好ましくは0.1〜5倍量(質量比)の範囲にある。
このようにして調製される塗布液の濃度は、一般に0.01〜10質量%の範囲にあり、好ましくは0.1〜5質量%の範囲にある。
塗布方法としては、スプレー法、スピンコート法、ディップ法、ロールコート法、ブレードコート法、ドクターロール法、スクリーン印刷法などを挙げることができる。
第一の光吸収層の厚さは、1〜200nmが好適である。膜厚が1nmより薄いと吸収率が低下し光から熱への変換が不十分となる。また膜厚が200nmより厚い場合、体積が大き過ぎるため、形状変化や熱の伝達が不十分となる。
第一の光吸収層は単層でも重層でもよい。
【0149】
第二の光吸収層4は、金属材料及び/又は無機材料を主成分とするが、ここで主成分とするとは金属材料及び/又は無機材料を50重量%以上含有することを意味する。また、第二の光吸収層も、第一の光吸収層と同様に、500nm以下の青色レーザ波長領域の記録再生光に対する吸光度が0.5以下となるように材料や膜厚を選択する。吸光度が0.5より高い場合は、光が吸収されてしまって反射率が低くなり良好な記録ができない。
更に、第一及び第二の光吸収層の、500nm以下の青色レーザ波長領域の記録再生光に対する吸光度の合計は0.05以上であることが好ましい。0.05より少ないと光吸収量が少なく、良好な記録をすることが難しくなるので好ましくない。
なお、ここで言う吸光度とは材料の光吸収能を意味する。反射性を有する材料の吸光度を分光器で測定した場合、ディテクターに検出される光が反射のために少なくなり、見掛け上の吸光度が増加する場合もあるが、ここでの吸光度には、反射により増加する量は加味せず、材料が吸収する光量のみを吸光度とする。
従って、反射が無視できる程度に少ない材料に関しては、ディテクターで検出される光量から計算された吸光度をそのまま吸光度として用いる。つまり、分析機器の値をそのまま吸光度とすることができる。
【0150】
第二の光吸収層に用いることができる金属材料としては、Fe、Ti、Zr、Ta、Cr、Mo、W、Ni、Rh、Pd、Pt、Cu、Ag、Au、Zn、Al、In、Si、Ge、Te、Sn、Bi、Sb、Tl及びPtからなる群より選ばれる少なくとも一種の物質が挙げられる。中でもブリネル硬さ78Hb以下又はビッカース硬さ360Hv以下の金属材料が好ましく用いられる。特にビッカース硬さ130Hv以下では温度、湿度の変化が起きた場合でも割れがなく好ましい。硬さが360Hvよりも大きくなると、成膜後、チルトの変化に伴い割れが発生するため好ましくない。また、硬さの下限は、スクラッチ(キズ)の発生頻度からみて0.9Hb程度であり、この値より小さいとキズが頻繁に発生してしまい、ハンドリングが困難になる。このような条件を満足するものの中では特にTeが好ましい。
また、銀を主体とする金属又は合金を用いる場合には、銀の含有率が80原子%以上、好ましくは90原子%以上であることが好ましい。
【0151】
特に、少なくとも2種類の元素を主成分とし、これらの元素の融点が600℃以下である材料が好ましく、例えばBi、In、Pb、Sn、Te、Tl、Zn、Na、Ga、Ag、Al、Ca、Ge、Sb、Si、Au、Cu、Ni、Ce、La、Mg、Pr、Pd、Ptなどからなる材料のうちから少なくとも2種類を選ぶことができる。具体的には、In−Bi系、Bi−Na系、Pb−Bi系、Sn−Bi系、In−Pb系、In−Sn系、In−Tl系、In−Zn系、Sn−Pb系、Tl−Sn系、Zn−Sn系などの組み合わせが可能である。
更に、少なくとも1方の元素の融点が600℃以上であって、その元素がもう一方の元素との間で融点600℃以下の共晶組成を有し、該2種類の元素の含有量が共晶組成又はその近辺の組成である材料がより好ましい。具体的には、Ag−Al系、Ag−Bi系、Ag−Ca系、Ag−In系、Ag−Pb系、Ag−Sb系、Ag−Sn系、Ag−Te系、Ag−Tl系、Al−Au系、Al−Cu系、Al−Ge系、Al−Si系、Al−Sn系、Al−Te系、Al−Zn系、Au−Bi系、Au−Ge系、Au−Pb系、Au−Sb系、Au−Sn系、Au−Si系、Au−Te系、Au−Tl系、Ni−Ce系、Cu−La系、Cu−Mg系、Cu−Pr系、Cu−Sb系、Ga−Te系、Ge−Te系、Zn−Ge系、In−Sb系、Pb−Pd系、Pt−Pb系、Pb−Sb系、Sb−Te系、Tl−Sb系などの組み合わせが可能である。
【0152】
第二の光吸収層の材料としては、上記の材料の他に原子配列を変化させることにより情報の記録ができる相変化記録材料を使用することもできる。
具体的にはα−β−γ−Ge−Teで代表される金属及び合金が挙げられる。ここでαは、Cu、Ag、Au、Sc、Y、Ti、Zr、V、Nb、Cr、Mo、Mn、Fe、Ru、Co、Rh、Ni、Pd、Hf、Ta、W、Ir、Pt、Hg、B、C、N、P、O、S、Se、ランタニド元素、アクチニド元素、アルカリ土類金属元素、不活性ガス元素などから選ばれた少なくとも一つの元素を表し、βは、Tl、Iなどのハロゲン元素、Naなどのアルカリ金属元素から選ばれた少なくとも一つの元素を表し、γは、Sb、Sn、As、Pb、Bi、Zn、Cd、Si、Al、Ga、Inから選ばれた少なくとも一つの元素を表す。
また、光磁気記録材料に使用される金属材料、例えば上記金属元素の中のTb、Fe、Coなども第二の光吸収層として使用可能である。
更に、Fe、Ti、Zr、Ta、Cr、Mo、W、Ni、Rh、Pd、Pt、Cu、Ag、Au、Zn、Al、In、Si、Ge、Te、Sn、Bi、Sb及びTlからなる群より選択される少なくとも一種の物質の酸化物、硫化物、窒化物、炭化物を含有することが望ましい。酸化物などの具体例としては、SiO、ZnO2、ZnO−SiO2、In2O3−SnO2、In2O3−ZnO、ZnS、SiN、AlN、SiC、TiC、ZnC、TaC、NbC、TiC−TiO2、TaC−TaO2、NbC−NbO2等が挙げられる。
【0153】
また、各種セラミックス材料も使用可能である。
セラミックスとしては、Al2O3、MgO、BeO、ZrO2、ZnO2、UO2、ThO2などの単純酸化物系の酸化物;SiO2、2MgO・SiO2、MgO・SiO2、CaO・SiO2、ZrO2・SiO2、3Al2O3・2SiO2、2MgO・2Al2O3・5SiO2、Li2O・Al2O3・4SiO2などのケイ酸塩系の酸化物;Al2TiO5、MgAl2O4、Ca10(PO4)6(OH)2、BaTiO3、LiNbO3、PZT〔Pb(Zr、Ti)O3〕、PLZT〔(Pb、La)(Zr、Ti)〕、フェライトなどの複酸化物系の酸化物;SiN、Si3N4、Si6−ZAlZOZN8−Z、AlN、BN、TiNなどの窒化物系の非酸化物;SiC、B4C、TiC、WCなどの炭化物系の非酸化物;LaB6、TiB2、ZrB2などのホウ化物系の非酸化物;CdS、MoS2などの硫化物系の非酸化物;MoSi2などのケイ化物系の非酸化物;アモルファス炭素、黒鉛、ダイアモンド等の炭素系の非酸化物を用いることができる。
上記の材料は透過率が高く、吸収率が少ないため好適である。
【0154】
第二の光吸収層の膜厚は、1〜200nmが好適である。膜厚が1nmより薄いと、割れを生じ良好な成膜ができない。また、膜厚が200nmより厚い場合には、熱の伝達が大きくなり、良好な記録をすることができない。
材料別の好適な膜厚の例を示すと、SiCの場合、8〜14nm、Agの場合、10〜100nm、Teの場合、1〜5nm、TeOの場合、1〜100nm、ZnO−SiO2の場合、5〜50nm、好ましくは10〜40nm、更に好ましくは20〜30nm、ZnSの場合、5〜50nm、好ましくは10〜40nm、更に好ましくは20〜30nm、SiO2、SiN、AlN、ZnO2、In2O3−SnO2、In2O3−ZnOの場合、1〜50nm、好ましくは10〜40nm、更に好ましくは20〜30nm、Si3N4の場合、5〜50nm、好ましくは10〜40nm、更に好ましくは30〜40nmである。
第二の光吸収層は、スパッタリングや真空蒸着などの真空成膜法によって形成することができる。その場合、真空槽内の真空度を変えて(例えば、10〜5torr程度)スパッタリングを行い、密度又は結晶化状態の違う膜を形成することにより金属膜の反射率を高くする技術を採用することもできる。
【0155】
保護層15は、例えばSiO、SiN、AlN等の無機材料や、光硬化性樹脂などの有機材料を用いて形成することができる。無機保護層は、真空成膜方法によって形成することができ、有機保護層は、反射膜4上に光硬化性樹脂膜(例えば、大日本インキ化学工業社製のSD1700、SD318、SD301)をスピンコートした後、樹脂硬化光を照射することによって形成できる。
また、高密度化を図るために高NAのレンズを用いる場合、保護層を光透過性とする必要がある。
更に、高NA化すると、再生光が透過する部分の厚さを薄くする必要がある。これは、高NA化に伴い、光学ピックアップの光軸に対してディスク面が垂直からズレる角度(いわゆるチルト角、光源の波長の逆数と対物レンズの開口数の積の2乗に比例する)により発生する収差の許容量が小さくなるためであり、このチルト角が基板の厚さによる収差の影響を受け易いためである。
従って、基板の厚さを薄くしてチルト角に対する収差の影響をなるべく小さくするようにする必要がある。
【0156】
そこで、例えば基板上に凹凸を形成して記録層とし、その上に反射膜を設け、更にその上に光を透過する薄膜である光透過性の保護層を設けるようにし、保護層側から再生光を照射して記録層の情報を再生するような光記録媒体や、基板上に反射膜を設け、その上に熱受容層、光吸収層を形成して記録層とし、更にその上に光透過性を有する保護層を設けるようにし、保護層側から再生光を照射して記録層の情報を再生するような光記録媒体が提案されている。このようにすれば、カバー層を薄型化していくことで対物レンズの高NA化に対応可能である。つまり、薄いカバー層を設け、このカバー層側から記録再生することで、更なる高記録密度化を図ることができる。
なお、このような保護層は、ポリカーボネートシートや紫外線硬化型樹脂により形成する方法、又は、厚さ70μmのシートを厚さ30μmの接着剤で固定する方法が一般的である。合計の厚みは0.1mm程度が好適である。
【0157】
更に、必要に応じて第一の光吸収層と基板の間に下地層を設け3層構造とする事もできる。
下地層の材料としては、Fe、Ti、Zr、Ta、Cr、Mo、W、Ni、Rh、Pd、Pt、Cu、Ag、Au、Zn、Al、In、Si、Ge、Te、Sn、Bi、Sb、Tl、Na、Ga及びPtからなる群より選ばれる少なくとも一種の物質を用いることができる。また、各種セラミックス材料も使用可能である。
特に、少なくとも2種類の元素を主成分とし、これらの元素の融点が600℃以下である材料が好ましく、例えばBi、In、Pb、Sn、Te、Tl、Zn、Na、Gaなどからなる材料のうちから少なくとも2種類を選ぶことができる。具体的には、In−Bi系、Bi−Na系、Pb−Bi系、Sn−Bi系、In−Pb系、In−Sn系、In−Tl系、In−Zn系、Sn−Pb系、Tl−Sn系、Zn−Sn系などの組み合わせが可能である。また、これらの元素が融点600℃以下の共晶組成を有し、その含有量が共晶組成又はその近辺の組成であるものを用いてもよい。
【0158】
更に、2種類の元素を主成分とし、少なくとも1方の元素の融点が600℃以上であって、その元素がもう一方の元素との間で融点600℃以下の共晶組成を有し、該2種類の元素の含有量が共晶組成又はその近辺の組成である材料がより好ましい。例えば、Bi、In、Pb、Sn、Te、Tl、Zn、Na、Ga、Ag、Al、Ca、Ge、Sb、Si、Au、Cu、Ni、Ce、La、Mg、Pr、Pd、Ptなどからなる材料の中から少なくとも2種類を選ぶことができる。具体的には、Ag−Al系、Ag−Bi系、Ag−Ca系、Ag−In系、Ag−Pb系、Ag−Sb系、Ag−Sn系、Ag−Te系、Ag−Tl系、Al−Au系、Al−Cu系、Al−Ge系、Al−Si系、Al−Sn系、Al−Te系、Al−Zn系、Au−Bi系、Au−Ge系、Au−Pb系、Au−Sb系、Au−Sn系、Au−Si系、Au−Te系、Au−Tl系、Ni−Ce系、Cu−La系、Cu−Mg系、Cu−Pr系、Cu−Sb系、Ga−Te系、Ge−Te系、Zn−Ge系、In−Sb系、Pb−Pd系、Pt−Pb系、Pb−Sb系、Sb−Te系、Tl−Sb系などの組み合わせが可能である。
【0159】
セラミックスとしては、Al2O3、MgO、BeO、ZrO2、ZnO2、UO2、ThO2などの単純酸化物系の酸化物;SiO2、2MgO・SiO2、MgO・SiO2、CaO・SiO2、ZrO2・SiO2、3Al2O3・2SiO2、2MgO・2Al2O3・5SiO2、Li2O・Al2O3・4SiO2などのケイ酸塩系の酸化物;Al2TiO5、MgAl2O4、Ca10(PO4)6(OH)2、BaTiO3、LiNbO3、PZT〔Pb(Zr、Ti)O3〕、PLZT〔(Pb、La)(Zr、Ti)〕、フェライトなどの複酸化物系の酸化物;SiN、Si3N4、Si6−ZAlZOZN8−Z、AlN、BN、TiNなどの窒化物系の非酸化物;SiC、B4C、TiC、WCなどの炭化物系の非酸化物;LaB6、TiB2、ZrB2などのホウ化物系の非酸化物;CdS、MoS2などの硫化物系の非酸化物;MoSi2などのケイ化物系の非酸化物;アモルファス炭素、黒鉛、ダイアモンド等の炭素系の非酸化物を用いることができる。
【0160】
また、下地層は、反射層としての機能を有する材料で形成される場合もある。用いる材料に特に限定はないが、銀、銅、アルミニウムなどの金属又はこれらを主成分とする合金を使用することができる。特に銀又は銀を主成分とする合金が好適である。ここで銀を主成分とするとは、銀の含有率が80〜100原子%、好ましくは90〜100原子%であることを意味する。
また、安価で且つコンパクトディスクにおいて使用されて実績があることから、アルミニウムを使用することもできる。
金属又は合金を用いる場合には、スパッタリングや真空蒸着などの真空成膜方法によって成膜することができる。この場合、真空槽内の真空度を変えて(例えば、10〜5torr程度)スパッタリングを行い、密度又は結晶化の状態の違う膜を形成して下地層の反射率を高くする技術を適用することもできる。
下地層の膜厚は、1〜200nmが好適である。1nmより薄いと、熱の伝導が不十分であり、200nmより厚いと、吸収率が高くなり反射率が低下してしまう。材料としてSiCを選択した場合の膜厚は8〜14nm、Agを選択した場合の膜厚は10〜150nm、Te合金を選択した場合の膜厚は1〜10nmが好適である。
【0161】
下地層にはマイクロポアが存在してもよく、貫通している連続気泡タイプのものが存在してもよい。
下地層上に第一の光吸収層3を成膜するための溶剤は、下地層にマイクロポアがある場合は、マイクロポアに進入しない一定の接触角を有する溶液を形成しうる材料を選択する必要があるが、それ以外には特に限定はない。
ここで、マイクロポアに進入しない一定の接触角は、マイクロポアのサイズにより必要とされる表面張力が異なるため、その値を数値で示すことはできない。しかし、成膜後のマイクロポア部分に発生する平均膜厚よりも平均膜厚の2%以上薄い部分の面積は225μm2が上限であり、225μm2を超えるとトラッキング精度、エラー訂正が不可能になるなどの問題が発生するので、マイクロポアに溶液が浸透した場合でも上記の範囲以上に浸透が広がらなければ、マイクロポアに進入しない一定の接触角を有する溶液に相当すると判断する。
【0162】
上記マイクロポアに進入しない一定の接触角を有する溶液を形成することができる溶剤としては、例えば、酢酸ブチル、セロソルブアセテートなどのエステル;メチルエチルケトン、シクロヘキサノン、メチルイソブチルケトンなどのケトン;ジクロルメタン、1,2−ジクロルエタン、クロロホルムなどの塩素化炭化水素;ジメチルホルムアミドなどのアミド;シクロヘキサンなどの炭化水素;テトラヒドロフラン、エチルエーテル、ジオキサンなどのエーテル;エタノール、n−プロパノール、イソプロパノール、n−ブタノール、ジアセトンアルコールなどのアルコール;2,2,3,3−テトラフルオルプロパノールなどのフッ素系溶剤;エチレングリコールモノメチルエーテル、エチレングリコールモノエチルエーテル、プロピレングリコールモノメチルエーテルなどのグリコールエーテル類などが挙げられる。
また、これらの溶剤としては、使用する色素の溶解度が5mg/1ml以上あるものを用いる必要がある。そこで使用する色素の溶解性を考慮して適宜単独で又は二種以上併用して用いる。また、塗布液中には、必要に応じて酸化防止剤、UV吸収剤、可塑剤、潤滑剤など各種の添加剤を添加してもよい。
【0163】
従来の追記型光記録媒体は、情報の記録再生が行われる領域のディスク1周分のトラック及び/又はランド上の第一の光吸収層に存在する、該ディスク1周分のトラック及び/又はランド上の第一の光吸収層の平均膜厚よりも2%以上薄い連続した部分の面積が300〜450μm2もあり、良好な記録を行うことは困難であった。
そこで本発明者は、該平均膜厚よりも2%以上薄い連続した部分の面積をどのようにして減らすかについて検討したところ、マイクロポアに塗布溶媒が進入しない一定の接触角を有する溶媒を用いたり、マイクロポアに塗布溶媒が進入しないように瞬時に溶媒を乾燥させることによって、その面積を225μm2以下に抑えることができ、この条件を満足すれば、電気信号で確認する場合に記録波形の変形又は変調度の不足が生じたり、光学顕微鏡100倍以上で観察した場合にコントラストの差が認識できないなどの問題も起らず、良好な記録が行えることを見出した。
また、上記のような条件を満足する追記型光記録媒体を得るには、基板と第一の光吸収層の間に設ける下地層の、情報の記録再生が行われる領域に存在するマイクロポアの直径を全て10μm以下とすることが好ましいことも見出した。
【0164】
前記平均膜厚よりも2%以上薄い連続した部分は、その面積が225μm2以下である限り、また、前記下地層に存在するマイクロポアについても、直径10μm以下ならば、何れもプレーヤーのエラー修正機能により記録再生に悪影響を与えないように処理できるため、それらの個数は問題にならない。なお、前記平均膜厚よりも2%以上薄い連続した部分の薄さの上限値は100%である。即ち、第一の光吸収層に孔があいて第一の光吸収層が全くない状態でも構わない。
また、通常は上記の範囲であればエラー処理が可能であるが、ディスクを記録再生する環境(例えば、評価装置周辺の温度が上がりディスクが傾いた状態)によってはエラーが発生することもある。その場合は前記平均膜厚よりも2%以上薄い連続した部分の面積は100μm2以下、また、前記下地層に存在するマイクロポアも直径5μm以下とすることが好ましい。更に厳しい条件(例えば、長時間使用した結果、レーザの出力が低下し良好な反射光光量が得られない状態)で記録再生する場合は、前記平均膜厚よりも2%以上薄い連続した部分の面積は25μm2以下、また、前記下地層に存在するマイクロポアも直径1μm以下とすることが好ましい。
【0165】
情報の記録再生が行われる領域の第一の光吸収層に、上記1トラックの平均膜厚よりも2%以上薄い連続した部分が存在すると、電気信号で確認する場合は記録波形の変形又は変調度の不足が生じ、光学顕微鏡100倍以上で観察した場合はコントラストの差が認識できないなど、良好な記録再生が行われなくなる。
記録の阻害は、通常、平均膜厚よりも2%以上薄い場合に発生するが、チルトなどの制御により平均膜厚よりも5%以上薄い場合に初めて阻害されることもあるし、ドライブの環境によっては、平均膜厚よりも10%以上薄い場合に初めて阻害されることもあり、更には、エンハンスなどの処置を行うことにより信号を補正できる場合には、平均膜厚よりも20%以上薄い場合に初めて阻害されることもある。
【0166】
記録用レーザー光と再生用レーザー光の波長は、再生用レーザー光による記録部の破壊や記録層材料の光による劣化を防止できるため異なっていても良い。
また、前記平均膜厚よりも2%以上薄い連続した部分の面積が最大で225μm2である場合には、この面積おいてエラー訂正可能とされるために必要なピットのサイズは、最短ピット長が0.25μm、即ちピット長が0.25μm以上となるような記録条件で用いることが好ましい。
つまり、ピットが上記より小さいサイズの場合は、そのサイズに相関して訂正可能な最大面積225μm2は小さくなる。
下地層にAg、Cu、Alなどの金属を選択し、第二の光吸収層にSiC、SiO2などの誘電体又はTeなどの金属を選択した場合、熱伝導率の比は3〜310倍の範囲となり、変質部分が記録マーク領域とほぼ等しく、ジッターやディビエーションの少ない良好な記録をすることができる。この場合の第一の光吸収層は変質が促進され変形は僅かである。
【0167】
また、必要に応じて第二の光吸収層上に熱受容層5を設ける事もできる。
熱受容層5の材料としては、例えばポリメチン系色素、アントラキノン系色素、シアニン系色素、フタロシアニン系色素、ナフタロシアニン系色素、キサンテン系色素、トリフェニルメタン系色素、ピリリウム系色素、アズレン系色素、含金属アゾ染料、アゾ染料等の色素材料を挙げることができる。中でも、ジカルボシアニン誘導体、フタロシアニン誘導体、ナフタロシアニン誘導体、シアニン誘導体、アゾ染料誘導体が特に好適に用いられる。また、アミニウム系色素などの各種クエンチャが添加された色素材料を用いることもできる。
更には、上記色素材料群より選択される1種又は2種以上の色素材料を樹脂中に分散して用いることもできる。このような樹脂としては、アクリル樹脂、ビニル樹脂、フェノール樹脂、フッ素樹脂、シリコーン樹脂、ポリアミド樹脂、セルロース樹脂などを挙げることができる。
【0168】
更に、二座配位を取り得るキレート材を含有させて色素の褪色防止を図ることもできる。このようなキレート材としては、無機酸類、ジカルボン酸類、オキシカルボン酸類、ジオキシ化合物類、オキシオキシム類、オキシアルデヒド及び誘導体類、ジケトン及び類似化合物類、オキシキノン類、トロボロン類、N−オキシド化合物類、アミノカルボン酸及び類似化合物類、ヒドロキシルアミン類、オキシン類、アルジミン類、オキシアゾ化合物類、ニトロソナフトール類、トリアゼン類、ピウレット類、ホルマザン類及びジチゾン類、ビクアリド類、グリオキシム類、ジアミン及び類似化合物類、ヒドラジン誘導体類、チオエーテル類などが挙げられる。
更に、イミノ基を有する誘導体も使用可能である。
【0169】
熱受容層5は、光吸収層から熱的な影響を受けて溶融、融解、分解、昇華等の熱的状態変化を起すか、膨張、陥没、空洞化、凹凸変形等の形状変化を起すか、変質するか又は光学的に変化する。
通常、熱受容層5はガウス分布を示す光を照射して記録を行った際に、ガウス分布の中央部に対応する部分の色素層材料の量がガウス分布の外周部に対応する部分の色素層材料の量より少なくなる形状変化を起す。
熱受容層以外の各層の形状変化の例を以下に示す。
基板1は、図3に示すように隆起する場合、図4に示すように形状変化しないか又は一時的に変化して最終的に形状変化なしの形となる場合、図5、図7、図8に示すように陥没する場合などがある。
基板上に積層された第一の光吸収層3は、図10に示すように基板と反対の方向に隆起する場合、図3に示すように基板側が凹状に形状変化する場合、図4に示すように内部に空洞を有する場合、図5に示すように基板側に陥没する場合、図7に示すように基板と反対側が凹状に形状変化する場合、図8に示すように膨潤する場合がある。また、図9に示すように第一の光吸収層3の膜厚が殆んど無くなる場合もある。更に、図7に示すように基板と第一の光吸収層3の間に空洞が形成される場合もある。
【0170】
第一の光吸収層3上に積層された第二の光吸収層4は、図8に示すように基板と反対の方向に隆起する場合、図10に示すように基板側が凹状に形状変化する場合、図3に示すように内部に空洞を有する場合、図5に示すように基板側に陥没する場合、図4に示すように基板と反対側が凹状に形状変化する場合、図6に示すように膨潤する場合がある。また、図7に示すように第一の光吸収層3と第二の光吸収層4の間に空洞が形成される場合もある。
第二の光吸収層4上に積層された熱受容層5は、図8に示すように基板と反対の方向に隆起する場合、図6に示すように基板側が凹状に形状変化する場合、図5に示すように内部に空洞を有する場合、図4に示すように基板側に陥没する場合、図10に示すように基板と反対側が凹状に形状変化する場合、図11に示すように膨潤する場合がある。また、図7に示すように第二の光吸収層4と熱受容層5の間に空洞が形成される場合もある。
【0171】
反射層の形状変化は、図11に示すように層の上下が基板と反対側に隆起する場合、図3に示すように基板と反対側に凸状に形状変化する場合、図4に示すように基板側に凸状に形状変化する場合、図10に示すように基板側に陥没する場合などがある。
基板、第一、第二の光吸収層、熱受容層、反射層の形状変化は、それぞれ独自に適宜組み合わせることができる。その際、各界面での形状変化が逆方向の場合には、図7に示すように界面に空洞が形成される。
また、反射層が形状変化しない場合には、記録層を多層化することが可能となる。なお、ここでいう形状変化しない場合とは、全く形状変化しない場合だけでなく、再生用レーザ光を照射して情報を再生する際に、反射光量に実質的な影響を与えない程度の僅かな形状変化を起している場合も含むものとする。
【0172】
次に第一の光吸収層や熱受容層に含まれる色素材料の変質について説明する。
色素材料は、隣接する層より熱を受け取るか又は色素自身が光を吸収し、その一部又は全部が分解、溶融、昇華等の熱的状態変化を起す。その結果、通常、色素材料は変質し、熱受容層の場合、変質部分は反射層に癒着し、熱受容層を境目として剥離した際、変質部は反射層に非変質部は第二の光吸収層にそれぞれ優先的に密着して剥離される。この系では反射層/熱受容層界面が反射の担い手であるため、反射層界面に変質した色素材料が癒着することは、その部分からの反射光を制御する意味で重要である。
また、逆に変質により密着性が変わり、非変質部分が反射層に癒着し熱受容層を境目として剥離した際、非変質部は反射層に変質部は第二の光吸収層にそれぞれ優先的に密着して剥離される場合もある。この場合は記録後に反射率が増加することがある。
【0173】
また、変質の様子や範囲を確認しながら、記録パワー、記録パルスの長さ、種類を決める必要がある。変質部の色素はその構造が破壊されているため、溶解性が変化する。その変化は、溶け難い方向に変化する場合と、色素が分解して低分子化し溶解性が上がる、つまり溶け易い方向に変化する場合がある。溶解性の変化について変質部と非変質部とで差が生じれば変質の範囲を確認することができる。
本発明者の検討によれば、変質部の溶解性が下がり、溶け難い方向に変質することが、色素の溶融、分解、昇華などの熱的状態変化に伴う光学的特性の変化である反射率の低下の方向と一致し好適であった。
【0174】
溶解性の確認に際しては、直接、変質部と非変質部に溶媒を浸透させ、溶解性を比較する。用いる溶媒としては、例えば、酢酸ブチル、セロソルブアセテートなどのエステル;メチルエチルケトン、シクロヘキサノン、メチルイソブチルケトンなどのケトン;ジクロルメタン、1,2−ジクロルエタン、クロロホルムなどの塩素化炭化水素;ジメチルホルムアミドなどのアミド;シクロヘキサンなどの炭化水素;テトラヒドロフラン、エチルエーテル、ジオキサンなどのエーテル;エタノール、n−プロパノール、イソプロパノール、n−ブタノールジアセトンアルコールなどのアルコール;2,2,3,3−テトラフルオルプロパノールなどのフッ素系溶剤;エチレングリコールモノメチルエーテル、エチレングリコールモノエチルエーテル、プロピレングリコールモノメチルエーテルなどのグリコールエーテル類などを挙げることができる。上記溶剤は使用する色素の溶解性を考慮して単独で又は二種以上併用して適宜用いることができる。
【0175】
変質は、ガウス分布を示す光を照射して記録を行ったとき、記録のため光強度を高くした範囲、いわゆる記録マーク領域の熱受容層で起きる。
記録マーク領域とは、記録スポット径rを有する光を照射し移動することで得られる範囲である。ここで、記録スポット径rとは、r=λ/NA×0.82(λは記録に用いる波長、NAはレンズの開口数)で表される範囲であり、この範囲の場合、信号はジッターの少ない良好な記録となる。これは、1/e2(=0.82)の強さで定義する範囲である。
また、r=λ/NAの場合でも、熱受容層の膜厚を制御することでジッターの少ない良好な記録を達成することができる。
また、r=λ/NA×1.22の場合には、未記録部分の反射率を低下させることができ、未記録部分の反射率も制御することが出来る。これはいわゆるエアリー像の範囲であり、本系においてはエアリー像の範囲に影響が及んでいる場合がある。
【0176】
本発明では特に記録後の未記録部の見掛け上の光学特性の変化量が、記録前の未記録部の光学特性の値に対して相対値で±50%以内となるように設定することが好ましく、このことにより、未記録部の反射率が記録により変化しないため、記録領域と非記録領域で反射率の変動によるトラックオフなどが起きなくなる。
熱受容層は、膜厚が5nmより薄いと熱の吸収が十分でなく、形状変化や変質が不十分となる。また、膜厚が200nmより厚いと体積が大きいため形状変化が抑えられたり、熱的な影響を受けて光学的に変化できない部分が生じるようになるため問題である。
【0177】
図14は中間層7を設けた本発明の参考例の追記型光記録媒体の要部拡大断面図である。この図から明らかなように、反射層10と熱受容層5を、中間層7を介して積層している。
中間層7は、反射層10と熱受容層5との密着性や記録感度の改善、又は各層の保護等のために設けられるものであって、第一の光吸収層3と同種の材料を使用することができる。
中間層7の材料として親水性樹脂を選択した場合には、第一の光吸収層3の場合と同様に、耐水性及び耐熱性を改善するため、スピンコートされた中間層7に、架橋処理や結晶化処理を施すことが好ましい。架橋処理及び結晶化処理は、前述した第一の光吸収層の場合と同様の方法で行うことができる。
ディスク形態の場合には、熱受容層を内側に挟む形で2枚の基板を貼り合わせた構造を取ることができる。また、2枚の基板を貼り合せない、いわゆる単板の構造を取ることもできる。
【0178】
【実施例】
以下、実施例により本発明を具体的に説明するが、本発明はこれらの実施例により限定されるものではない。
【0179】
参考例1
図1及び図2に示すプリフォーマットパターンを有するポリカーボネート基板上に、1,4−ビス(5′−フェニルオキサザール−2′−イル)ベンゼン、1,4−ビス(4′−メチル−5′−フェノキサゾール−2′−イル)ベンゼン、4,4′−ビス(2′−スルホスチリル)ビフェニル、2,5−ビス(5′−メチルベンゾオキサゾール−2′−イル)チオフェンの何れかと下記〔化24〕の材料の混合物よりなる厚さ60nmの第一の光吸収層をスピンコート法で成膜した。
【化24】
用いた溶媒の誘電率は以下のようである。
溶媒 誘電率 混合比(重量%)
メタノール 33.1(25℃) 20
エタノール 23.8(25℃) 50
2−プロパノール 18.3(25℃) 30
この第一の光吸収層の上に、Teを厚さ4nmとなるようにスパッタし第二の光吸収層とした。
波長405nmにおける第一の光吸収層の吸光度は0.26、同じく第二の光吸収層の吸光度は0.21である。
吸光度は反射光量、記録感度との関係より適宜決定されるが、ここでは、両層合計で0.05より吸収が少ない場合は、良好な記録が達成できなかった。
第二の光吸収層の上に、下記〔化25〕で示される色素の混合物からなる層をスピンコート法によって形成し(平均膜厚100nm)、熱受容層を形成した。
この熱受容層上にAgを厚さ100nmとなるようにスパッタし反射層とした。
反射層上に大日本インキ化学工業社製のSD1700(熱伝導率1.0以下)を膜厚5μmで積層し保護層とした。
【0180】
【化25】
【0181】
上記光記録媒体に対し、パルステック工業社製の光ディスク評価装置DDU−1000(波長:405nm、NA:0.65)を用いて、下記の条件で記録を行なったところ、短マーク、長マークとも、変調度が充分大きく、非常に明瞭な信号が得られた。
<記録条件>
記録線速度:6.0(m/s)
記録ストラテジ:Basic strategy(基本ストラテジ)
Ttop−Tmp=1.40−0.75(T)
記録パワー:11.0(mW)
記録パターン:3T、4T、5T、8T、14Tの単一周期信号
上記の記録条件は記録媒体の記録部を観察しながら決定した。具体的には、熱受容層を境目として媒体を剥離し光学顕微鏡で観察したところ、変質部の色素材料が反射膜に優先的に癒着し、非変質部は光吸収層側に優先的に癒着していた。
更に、熱受容層を境目として剥離された反射膜及び光吸収層にエタノールを滴下し、変質の範囲を測定し、その結果を記録条件に反映させることにより、上記の記録条件を見出した。
ランドに記録した場合の記録部の断面の様子を図12に、グルーブに記録した場合の記録部の断面の様子を図13に示す。
図示したように、本実施例では、記録スポットの中央部に相当する有機熱受容層の色素量が減少すると共に、「101」の×印で示した個所が外観上コークスのようになり、溶解特性が変わる変質を起した。
ここで、用いた記録スポット径rとは、r=λ/NA×1.22(エアリー像)で表される範囲である。
記録部の形状や記録部の変質の程度を、上記変質の確認方法により確認することにより、未記録部の反射率を100とした場合の記録部の反射率を10〜250の範囲で任意に調整できる。
【0182】
図15は本ディスク製造のフローチャートであり各工程は公知であるが、簡単に説明すると以下の通りである。なお、S12のハードコート層形成工程は、必要に応じて行えばよい。
S1:ガラス円盤を研磨、洗浄する。
S2:シランコートを行う。
S3:ガラス円盤上にフォトレジストをスピンコートし、所定の膜厚を有するレジスト層を形成する。
S4:溶剤をとばすためプリベークを行う。
S5:集光レンズを介してレジスト層にレーザーを照射する(カッティング)。
S6:この露光済みガラス円盤を現像処理する。
S7:レジストをTg以上に加熱し溝形状を整形する(第一ベーク)。
S8:パターンの固化のためベークを行う(第二ベーク)。
S9:蒸着、メッキを行う。
S10:ガラス円盤の凹凸面に金属膜を形成し、該金属膜を剥離することによりスタンパを作成する。
S11:スタンパを用いて射出成形を行い、所定の膜厚を有するレプリカを形成する。
S12:透明基板の片側にスピンコート法によりハードコート層を形成する。
S13:透明基板の片面に必要に応じてスピンコート法又はスパッタ法により第一の光吸収層を形成する。
S14:第一の光吸収層の上にスピンコート法又はスパッタ法で第二の光吸収層を形成する。
S15:第二の光吸収層の上に熱受容層を形成する。
S16:熱受容層の上に反射層を形成する。
S17:必要に応じて保護層などの他の層を積層し、ディスク単板とする。
(単板のままで使用する場合)
S18:必要に応じて保護層などの他の層を積層して得られる単板ディスクを2枚貼り合わせて両面ディスクとする。
S19:ディスクをカートリッジに収納する。
S20:特性の評価を行う。
このフローチャートにおいて、S7とS8の工程は同時に行うこともできる。また、S7工程の溝形状の整形は、加熱温度90〜180℃、時間5〜90分の範囲から任意に選択できる。
【0183】
参考例2
第一の光吸収層の材料として、NK1342(0.26)、NK1977(0.33)、NK1886(0.12)、NK1819(0.32)、NK1331(0.22)、NK1837(0.25)、NK863(0.22)、NK3212(0.19)、NK88(0.15)、NK3989(0.23)、NK1204(0.23)、NK723(0.33)、NK3984(0.21)〔何れも日本感光色素社製、( )内の数値は、波長λ=405nmにおける各色素材料の吸光度〕の何れかの色素を用いた点以外は、参考例1と同様にして追記型光記録媒体を作製し記録を行ったところ、参考例1と同様に明瞭な信号が得られた。
【0184】
参考例3
第一の光吸収層の材料として、下記〔化26〕〜〔化29〕の色素〔( )内の数値は、波長λ=405nmにおける各色素材料の吸光度〕の何れかを用いた点以外は、参考例1と同様にして追記型光記録媒体を作製し、参考例1と同様の記録を行ったところ、何れも明瞭な信号が得られた。
【化26】
(ε=0.23)
【化27】
(ε=0.21)
【化28】
(ε=0.28)
【化29】
(ε=0.23)
【0185】
参考例4
図1及び図2に示すプリフォーマットパターンを有するポリカーボネート基板上に、Teと酸素を含む第二の光吸収層を、雰囲気中に酸素を導入しながらTeをスパッタリングすることにより厚さ5nm成膜し、その上に、下記〔化30〕に示す構造のフタロシアニンをスピンコート法で厚さ40nmとなるように積層して第一の光吸収層とした。
更に、高い反射率を得るため、第一の光吸収層上にAg反射膜をスパッタ法により厚さ100nm成膜した。Ag反射膜がない場合の反射率は13%であり、Ag反射膜がある場合は18%であった。
このようにして得られた追記型光記録媒体に対し、参考例1と同様の記録を行ったところ、明瞭な信号が得られた。
なお、フタロシアニンはポルフィリン環内にある二重結合の共役に起因する、HOMOからの遷移ではない、B帯(soret帯)の吸収を利用して記録を行った。
また、第二の光吸収層を、酸素を導入せず大気中でTeをスパッタリングして大気中の酸素を取り込む方法で成膜した場合、及び、第一の光吸収層を、スピンコート法に代えて蒸着法で積層した場合も同様の結果が得られた。
なお、第一及び第二の光吸収層の波長λ=405nmにおける吸光度は何れも0.2とした。
【化30】
【0186】
参考例5
第一の光吸収層の材料として、下記〔化31〕の化合物と1−フェニルアゾ−2−アンスラミンの混合物を用いた点以外は、参考例1と同様にして追記型光記録媒体を作製し、参考例1と同様の記録を行ったところ、明瞭な信号が得られた。
なお、第一の光吸収層の波長λ=405nmにおける吸光度は0.2とした。
【化31】
(式中、X,Y=H)
【0187】
参考例6
熱受容層の材料として、下記〔化32〕のシアニン色素と〔化33〕のメロシアニン色素の混合物を用いた点以外は、参考例1と同様にして追記型光記録媒体を作製し、参考例1と同様の記録を行ったところ、明瞭な信号が得られた。
【化32】
【化33】
【0188】
参考例7
熱受容層の材料として、下記一般式〔化34〕で示されるシアニン色素の1種である、テトラβ−(1−ベンズイミダゾリル)フタロシアニンと、下記一般式〔化35〕で示されるメロシアニン色素の1種である、バナジル5,14,23,32−テトラフェニル−2,3−ナフタロシアニンとの混合物を用いた点以外は、参考例1と同様にして追記型光記録媒体を作製し、参考例1と同様の記録を行ったところ、何れも明瞭な信号が得られた。
【化34】
【化35】
【0189】
参考例8
熱受容層の材料として、下記一般式〔化36〕で示されるアゾ染料の1種であるR1〜R6=Hの化合物を用いた点以外は、参考例1と同様にして追記型光記録媒体を作製し、参考例1と同様の記録を行ったところ、何れも明瞭な信号が得られた。
【化36】
【0190】
実施例1〜10
射出成形により、表面に下記のようなトラックピッチ、グルーブ幅、グルーブの深さのスパイラル状のプレグルーブが形成されたポリカーボネート基板(直径120mm、厚さ1.1mm)の上に、スパッタ法により膜厚60nmのAgからなる反射層を設け、その上に下記〔化37〕のフタロシアニン色素をTHF2.6g、エチルシクロヘキサン6.2g、IPA2.4g、1−メトキシ−2−プロパノール4.6gの混合液に溶解した塗布液をスピンコート法により塗布し、第一の光吸収層(プレグルーブ内の厚さ約35〜45nm)を形成した。
トラックピッチ グルーブ幅 グルーブの深さ
・実施例1 0.32μm 0.16μm 0.06μm
・実施例2 0.37μm 0.18μm 0.06μm
・実施例3 0.40μm 0.20μm 0.06μm
・実施例4 0.43μm 0.21μm 0.06μm
・実施例5 0.46μm 0.23μm 0.06μm
・実施例6 0.32μm 0.16μm 0.08μm
・実施例7 0.37μm 0.18μm 0.08μm
・実施例8 0.40μm 0.20μm 0.08μm
・実施例9 0.43μm 0.21μm 0.08μm
・実施例10 0.47μm 0.23μm 0.08μm
【化37】
〔式中、MはVOであり、4個のRはC 6 H 5 −(CF3)2C−O−である。〕
次いで、その上に第二の光吸収層としてZnS−SiO2をスパッタして厚さ約40nmの層を形成した。
なお、第一、第二の光吸収層の波長λ=405nmにおける吸光度は、それぞれ、0.2、0.1とした。
更に第二の光吸収層の上に、UV硬化接着剤(大日本インキ化学工業社製、商品名:SD−347)をスピンコート法により200rpmで塗布し、300rpmから4000rpmまで変化させながら全面に接着剤を広げた後、0.07mm厚のポリカーボネート樹脂シート(帝人社製、商品名:ピュアエース)からなるカバー層を重ね、紫外線を照射して接着剤を硬化させカバー層を貼り合わせて追記型光記録媒体を作製した。
【0191】
上記光記録媒体に対し、パルステック工業社製の光ディスク評価装置DDU−1000(波長:405nm、NA:0.85)を用いて、下記の条件で記録を行なったところ、短マーク、長マークとも、変調度が充分大きく、非常に明瞭な信号が得られた。
<記録条件>
記録線速度:6.0(m/s)
記録ストラテジ:Basic strategy(基本ストラテジ)
Ttop−Tmp=1.40−0.75(T)
記録パワー:4.5〜8.0(mW)
【0192】
参考例9〜18
射出成形により、表面に下記のようなトラックピッチ、グルーブ幅、グルーブの深さのスパイラル状のプレグルーブが形成されたポリカーボネート基板(直径120mm、厚さ1.1mm)の上に、下記〔化38〕のフタロシアニン色素をTHF2.6g、エチルシクロヘキサン6.2g、IPA2.4g、1−メトキシ−2−プロパノール4.6gの混合液に溶解した塗布液をスピンコート法により塗布し、第一の光吸収層(プレグルーブ内の厚さ約35〜45nm)を形成した。この第一の光吸収層の波長λ=405nmにおける吸光度は0.2とした。
次いで、その上に、スパッタ法により膜厚100nmのAgからなる第二の光吸収層を形成した。
更に、その上に、UV硬化性樹脂(大日本インキ化学工業社製、商品名:SD318)を塗布し、紫外線を照射して硬化させ、層厚7μmの保護層を形成し追記型光記録媒体を作製した。
トラックピッチ グルーブ幅 グルーブの深さ
・参考例9 0.32μm 0.16μm 0.06μm
・参考例10 0.37μm 0.18μm 0.06μm
・参考例11 0.40μm 0.20μm 0.06μm
・参考例12 0.43μm 0.21μm 0.06μm
・参考例13 0.46μm 0.23μm 0.06μm
・参考例14 0.32μm 0.16μm 0.08μm
・参考例15 0.37μm 0.18μm 0.08μm
・参考例16 0.40μm 0.20μm 0.08μm
・参考例17 0.43μm 0.21μm 0.08μm
・参考例18 0.47μm 0.23μm 0.08μm
【化38】
〔式中、MはVOであり、4個のRはC 6 H 5 −(CF3)2C−O−である。〕
上記〔化38〕の色素の光吸収スペクトルを図16に示すが、図から明らかなように、波長λ=350nm付近に副吸収の極大を有する。
<記録条件>
・NA=0.65、レーザ波長405nm
・線速:6m/s
・周期:65.4MHz
・ストラテジ:矩形波
その結果、副吸収の極大が330nmより長波長にある参考例12の場合は、図18に示すアイパターン(写真)が得られた。これに対して、副吸収の極大が330nmより短波長にある場合は、記録感度が悪く短いピットを形成することができなかった。従って波長405nmで記録を行う場合、色素の吸収は330nm以上の長波長側に存在する必要がある。なお、参考例12以外の参考例9〜18の光記録媒体は何れも参考例12と近似したアイパターンとジッタを示した。
また、同様に波長405nmで記録を行う場合、副吸収の極大が400nmより長波長側にある場合は、吸収が大きくなり過ぎるために良好な記録を行う事ができなかった。従って、第一の光吸収層は、波長λ=330〜400nmの範囲に吸収極大を有する事が好適である。
一方、記録再生消去に用いる波長をλ1として、λ1±10nmの範囲の測定光を基板側から入射して得られる第一の光吸収層の反射率が7%以上あれば、干渉効果により高いコントラストが得られる。
同様に、記録再生消去に用いる波長をλ1として、λ1±10nmの範囲の測定光を光吸収層側から入射して得られる第一の光吸収層の反射率が8%以上であることが好ましい。
なお、上記記録再生消去に用いる波長λ1は、現状では390〜420nmの範囲が一般的であり、更に詳しくは、780nmのSHG(非線形効果)を利用した場合は390〜400nm、ブルーレーザを使用した場合は400〜410nm、830nmのSHGを使用した場合は410〜420nmである。
ブルーレーザを使用した場合は、波長λ1=395〜415nmの範囲の測定光を基板側から入射して得られる第一の光吸収層の反射率が7%以上であることが必要であり、また、波長λ1=395〜415nmの範囲の測定光を光吸収層側から入射して得られる第一の光吸収層の反射率が8%以上であることが好ましい。
更に、第一の光吸収層の膜厚を、記録再生に用いる波長において反射極大を示す膜厚より厚くすることにより、記録前後のコントラスト比を大きく取ることができる。
以下、図19〜図20に参考例12の記録再生消去に用いる波長での反射を有する場合のスペクトルを示す。図中のRgは基板側からの測定光を照射した場合、Rlは膜面側から光を照射した場合である。
図の反射率は、石英基板上に材料をスピンコートし、そのサンプルを島津製作所社製UV−2500(PC)SGLPを用いて測定した絶対反射率である。
また、吸光度(εは分子吸光係数)は、同様に石英基板上に材料をスピンコートし、そのサンプルを島津製作所社製UV−2500(PC)SGLPを用いて測定した値である。
【0193】
なお、上記実施例においては、ディスク状記録媒体を例にとって説明したが、本発明はこれに限定されるものではなく、例えばカード状、スティック状、テープ状などの、他の形態の追記型光記録媒体にも応用できることは勿論である。
また、第一の光吸収層と第二の光吸収層の積層順は、本例では光照射側から見て、第一の光吸収層を光照射側としたが、必要に応じてこの順番を変えてもよい。
以上、本発明の実施例から、本発明の光記録媒体の層構成と記録原理が、青色レーザ波長対応の、有機材料からなる追記型光記録媒体、更には高変調度が確保できる追記型光記録媒体の実現に非常に有効であることが確認できた。
【0194】
【発明の効果】
本発明によれば、500nm以下の青色レーザ波長領域、特に405nm近傍の波長領域であっても記録可能な、有機材料を用いた追記型光記録媒体、また、高密度化が図れ、変調度が大きく、更には、記録再生波長の変動に対し、記録感度、変調度、ジッタ、エラー率といったような記録特性や、反射率等の変化が少ない追記型光記録媒体を提供できる。
【図面の簡単な説明】
【図1】 本発明の参考例の追記型光記録媒体の層構成の一例を示す要部拡大断面図。
【図2】 本発明の参考例の追記型光記録媒体(光ディスク)の構成の一例を示す斜視図。
【図3】 本発明の参考例の追記型光記録媒体の記録状態を示す要部拡大断面図。
【図4】 本発明の参考例の追記型光記録媒体の記録状態を示す要部拡大断面図。
【図5】 本発明の参考例の追記型光記録媒体の記録状態を示す要部拡大断面図。
【図6】 本発明の参考例の追記型光記録媒体の記録状態を示す要部拡大断面図。
【図7】 本発明の参考例の追記型光記録媒体の記録状態を示す要部拡大断面図。
【図8】 本発明の参考例の追記型光記録媒体の記録状態を示す要部拡大断面図。
【図9】 本発明の参考例の追記型光記録媒体の記録状態を示す要部拡大断面図。
【図10】 本発明の参考例の追記型光記録媒体の記録状態を示す要部拡大断面図。
【図11】 本発明の参考例の追記型光記録媒体の記録状態を示す要部拡大断面図。
【図12】 ランドに記録した場合の記録部の第一の光吸収層と熱受容層の変質の様子を示す要部拡大断面図。
【図13】 グルーブに記録した場合の記録部の第一の光吸収層と熱受容層の変質の様子を示す要部拡大断面図。
【図14】 本発明の参考例の追記型光記録媒体の層構成の他の例を示す要部拡大断面図。
【図15】 本発明の追記型光記録媒体(光ディスク)製造のフローチャート。
【図16】 〔化50〕のフタロシアニン色素の光吸収スペクトルを示す図。
【図17】 〔化51〕のフタロシアニン色素の光吸収スペクトルを示す図。
【図18】 参考例12のアイパターンを示す図。
【図19】 基板側からの測定光を照射した場合で、記録再生消去に用いる波長での反射を有する場合のスペクトルを示す図。
【図20】 膜面側からの測定光を照射した場合で、記録再生消去に用いる波長での反射を有する場合のスペクトルを示す図。
【符号の説明】
1 透明基板
1a センタ孔
2 プリフォーマットパターン
2a 案内溝
2b プリピット
2c ランド部
3 第一の光吸収層
4 第二の光吸収層
5 熱受容層
7 中間層
10 反射層
15 保護層
101 色素の変質した部分
Rg 基板側からの測定光を照射した場合
Rl 膜面側から光を照射した場合
ε 分子吸光係数
Claims (1)
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2003135745A JP4313085B2 (ja) | 2002-05-17 | 2003-05-14 | 追記型光記録媒体 |
Applications Claiming Priority (3)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2002143708 | 2002-05-17 | ||
| JP2002215782 | 2002-07-24 | ||
| JP2003135745A JP4313085B2 (ja) | 2002-05-17 | 2003-05-14 | 追記型光記録媒体 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JP2004111011A JP2004111011A (ja) | 2004-04-08 |
| JP4313085B2 true JP4313085B2 (ja) | 2009-08-12 |
Family
ID=32303236
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2003135745A Expired - Fee Related JP4313085B2 (ja) | 2002-05-17 | 2003-05-14 | 追記型光記録媒体 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP4313085B2 (ja) |
Families Citing this family (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2005297406A (ja) | 2004-04-13 | 2005-10-27 | Toshiba Corp | 媒体用記録材料 |
| JP4721078B2 (ja) * | 2009-01-19 | 2011-07-13 | ソニー株式会社 | 光情報記録媒体 |
| JP5996836B2 (ja) | 2010-02-25 | 2016-09-21 | タレックス光学工業株式会社 | 眼鏡用合わせガラスレンズ |
-
2003
- 2003-05-14 JP JP2003135745A patent/JP4313085B2/ja not_active Expired - Fee Related
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| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JP2004111011A (ja) | 2004-04-08 |
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