JP4428077B2 - 自動分析装置 - Google Patents
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Description
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a)連続分析の実行時に、各分析において分析開始命令が発せられた時点から分析の準備が整って実際に分析が開始される時点までの分析前準備時間を実測する時間測定手段と、
b)該時間測定手段による分析前準備時間の実測値データを、分析前準備時間の長さに影響を与える、直前の分析における分析条件から当該分析における分析条件への遷移状態を示す情報を含むパラメータに対応付けて記憶しておく記憶手段と、
c)連続分析の所要時間又は終了予定時刻を推算する際に前記記憶手段を参照し、分析前準備時間の実測値データが存在するパラメータと同一のパラメータの下での分析に対しては該実測値データを用いるとともに、分析前準備時間の実測値データが存在しないパラメータの下での分析に対しては規定値を用い、これに実際に分析を実行する所要時間を加えて1分析における所要時間を算出し、スケジュールテーブルに則って最終分析までの各分析における所要時間の総和を求めて連続分析の所要時間を推算する演算処理手段と、
を備えることを特徴としている。
図1は本実施例による液体クロマトグラフの要部のブロック構成図である。この液体クロマトグラフは、溶離液(移動相)槽1、送液ポンプ2、オートサンプラ3、カラムオーブン5に内装されたカラム6、検出器7、これら各部をそれぞれ制御する制御部8、制御部8を通して分析作業を管理したり検出器7で得られたデータを解析・処理したりするパーソナルコンピュータ9を備える。
[i] Method_1 → Method_1
[ii] Method_1 → Method_2
[iii] Method_2 → Method_1
[iv] Method_2 → Method_2
[i]ではカラムオーブン温度は40℃を維持し、[iv]ではカラムオーブン温度は60℃を維持する。いずれの場合にもカラムオーブン5における昇温又は降温制御は不要であるので分析前準備時間は相対的にかなり短い。これに対し、[ii]ではカラムオーブン温度を40℃→60℃に昇温制御する必要があり、[iii]ではカラムオーブン温度を60℃→40℃に降温制御する必要があるため分析前準備時間は相対的にかなり長くなる(実際には数分程度掛かる)。これら4通りの遷移状態に対する分析前準備時間はそれぞれ異なる(偶然に一致する場合もあり得る)から、分析の実行過程でこれら4通りの遷移状態に対する分析前準備時間の実測値データを取得することが望ましい。すなわち、上記例の場合、分析前準備時間の実測値テーブルは図4に示すようになる。
2…送液ポンプ
3…オートサンプラ
4…ラック
5…カラムオーブン
6…カラム
7…検出器
8…制御部
9…パーソナルコンピュータ
10…入力部
11…ディスプレイ
Claims (2)
- 予め入力設定されたスケジュールテーブルに従って試料を順次交換・選択するとともにそれぞれ分析条件を設定して複数の試料の分析を連続的に実行する自動分析装置であって、連続分析の開始前又は連続分析の実行途中に連続分析の所要時間又は終了予定時刻を推算して提示する自動分析装置において、
a)連続分析の実行時に、各分析において分析開始命令が発せられた時点から分析の準備が整って実際に分析が開始される時点までの分析前準備時間を実測する時間測定手段と、
b)該時間測定手段による分析前準備時間の実測値データを、分析前準備時間の長さに影響を与える、直前の分析における分析条件から当該分析における分析条件への遷移状態を示す情報を含むパラメータに対応付けて記憶しておく記憶手段と、
c)連続分析の所要時間又は終了予定時刻を推算する際に前記記憶手段を参照し、分析前準備時間の実測値データが存在するパラメータと同一のパラメータの下での分析に対しては該実測値データを用いるとともに、分析前準備時間の実測値データが存在しないパラメータの下での分析に対しては規定値を用い、これに実際に分析を実行する所要時間を加えて1分析における所要時間を算出し、スケジュールテーブルに則って最終分析までの各分析における所要時間の総和を求めて連続分析の所要時間を推算する演算処理手段と、
を備えることを特徴とする自動分析装置。 - 試料に含まれる各成分をカラムにより時間的に分離し、分離された各成分を順次検出するクロマトグラフ分析を行うものであることを特徴とする請求項1に記載の自動分析装置。
Priority Applications (1)
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| JP2004038186A JP4428077B2 (ja) | 2004-02-16 | 2004-02-16 | 自動分析装置 |
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| JP2004038186A JP4428077B2 (ja) | 2004-02-16 | 2004-02-16 | 自動分析装置 |
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| JP2005227211A JP2005227211A (ja) | 2005-08-25 |
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Family
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Family Applications (1)
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|---|---|---|---|
| JP2004038186A Expired - Lifetime JP4428077B2 (ja) | 2004-02-16 | 2004-02-16 | 自動分析装置 |
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