JP4553748B2 - 建物検査システム - Google Patents
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Description
建物検査システムの概略構成について説明する。図1は建物検査システム1の構成要素の説明図であり、図2は構成部材10に付帯されるICタグ20の説明図である。
上述のように、建物検査システム1は、位置情報形成手段2、相対位置情報取得手段3、完成位置情報記憶手段4及び比較検討手段5によって構成される。次に、各手段の詳細構成を具体的に説明する。
ICタグ20間の情報のやり取りの方法について、図3を用いて説明する。図3はICタグ20間の情報のやり取りの説明図である。本発明の特徴としては、各ICタグ20が他の近隣のICタグを検知すること、ICタグ間で情報を中継すること、相対位置情報取得手段3によって特定された特定ICタグを基準として相対位置情報を構築すること、が挙げられる。このようにICタグ間で中継して情報をやり取りすることにより、各ICタグの記憶手段23の記憶容量を減らすことができる。このため、ICタグの小型化が可能となる。また、やり取りする情報の容量が少なくて済むため、通信速度が速くなり、相対位置情報を取得し、建物の検査が完了するまでの時間も短縮することができる。また、中継をすることにより、遠くのICタグまで電波を到達させなくてもよいため、消費電力を低く抑えることができる。
前述した方法で、相対位置情報取得手段3は、特定ICタグを基準としてICタグの並びを把握することができる。次に、建物の構成部材を組み付けた後に、ICタグの前述の情報のやり取りを行うことにより、相対位置情報をどのように形成するかを図4乃至図6を用いて説明する。図4乃至図6は建物とICタグ20の模式図及び相対位置情報取得手段により認識されたICタグの相対位置情報のツリー図である。
本発明の第2実施形態について、図7及び図8を用いて説明する。前述と同様の構成については、同じ符号を付すことで、説明を省略する。前述の実施形態と本実施形態とは、ICタグによる相対位置情報の形成方法のみが異なる。
構成部材を組み付けた建物の立体的な模式図を図7(a)に示す。符号の付し方は前述の実施形態と同様である。ここで、相対位置情報取得手段3によって、例えばICタグ20A1が特定ICタグとされる。この特定ICタグ20A1から、相対位置情報取得手段3が相対位置情報を取得することになる。
2 …位置情報形成手段
3 …相対位置情報取得手段
4 …完成位置情報記憶手段
5 …比較検討手段
10 …構成部材
20 …ICタグ
20a …アンテナ
20b …半導体ICチップ
21 …送受信手段
22 …制御手段
23 …記憶手段
Claims (3)
- 建物の各構成部材に付帯されたICタグの情報を取得し建物に配置された全てのICタグ間の相対位置情報を形成する位置情報形成手段と、
前記相対位置情報を取得するための相対位置情報取得手段と、
建物完成後のICタグの相対位置である完成位置情報が予め記憶された完成位置情報記憶手段と、
前記相対位置情報取得手段から得たICタグ間の相対位置情報と前記完成位置情報記憶手段に記憶された完成位置情報とを比較して前記各構成部材が正しく配置されているか否かを検討する比較検討手段と、
を有することを特徴とする建物検査システム。 - 前記位置情報形成手段は、
信号を送受信するための送受信手段と、
前記ICタグが貼付された構成部材の情報が記憶され前記送受信手段により送受信された信号により情報の読み書きがなされる記憶手段と、
前記送受信手段及び前記記憶手段を制御する制御手段とを、
前記各構成部材に付帯されたICタグに一体的に配設し、前記各構成部材に付帯されるICタグ間で情報を中継することにより、ICタグ間の相対位置情報を形成することを特徴とする請求項1に記載の建物検査システム。 - 前記位置情報形成手段は、隣接する構成部材のICタグを検索しつつ、前記相対位置情報を形成することを特徴とする請求項1又は2に記載の建物検査システム。
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| JP2005041656A JP4553748B2 (ja) | 2005-02-18 | 2005-02-18 | 建物検査システム |
Applications Claiming Priority (1)
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| JP2005041656A JP4553748B2 (ja) | 2005-02-18 | 2005-02-18 | 建物検査システム |
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