本発明は、脆性材料(硬く脆い材料)からなる被加工基板を局部的に加熱し、その熱応力によって当該被加工基板に亀裂を生じさせて割断加工を行う割断加工システムに係り、とりわけ、脆性材料からなる被加工基板の高品位でかつ高速な割断加工を実現することができる、脆性材料の割断加工システム及びその方法に関する。
従来から、脆性材料からなる被加工基板に対して割断加工を行う方法として、(a)ダイヤモンドなどの硬質材料を用いて被加工基板の表面を引っかくなどの作業を行って、被加工基板の表面に連続的でかつ微細な線状の亀裂や加工溝などを形成した後、その亀裂や加工溝などを拡げるように圧力または衝撃荷重を加えることにより被加工基板を割断する方法、(b)ダイヤモンド砥石などの研削砥石を用いて被加工基板の表面にスクライビング加工を施し、その加工線に沿って被加工基板を割断する方法が知られている。このうち、後者の(b)の方法は、液晶ディスプレイやプラズマディスプレイパネル(PDP)、フィールドエミッションディスプレイ(FED)などを製造するための製造プロセスにおいてガラス基板などを割断するために一般的に用いられている。
しかしながら、上記(a)の方法では、被加工基板の割断面に応力集中の原因となる不規則な微細な亀裂が残存しやすく、割断加工を行った後に端面の研磨などの仕上げ加工が必要になるなどの問題がある。
また、上記(b)の方法では、スクライビング加工を施すために加工しろが必要になるという問題がある。また、硬い脆性材料からなる被加工基板ではスクライビング加工を施すこと自体が難しいという問題もある。さらに、被加工基板の割断面の表面にバリなどの不規則な面が発生しやすく、質の高い加工面を形成するのが困難であるなどの問題もある。
さらに、上記(b)の方法を利用して、液晶ディスプレイやプラズマディスプレイパネル、フィールドエミッションディスプレイなどに用いられるガラス基板を割断する場合には、(1)研削砥石などによってスクライビング加工を施すための刃の寿命が短くなる、(2)刃を交換する際の再調整に時間がかかり、製造プロセスを停止するための無駄な時間が必要になる、(3)被加工基板の割断面の表面に生じるバリやゴミなどを除去するための洗浄工程や仕上げのための研磨工程などが別途必要になる、(4)近年一般的になりつつある薄厚のガラス基板(例えば、0.1mm〜0.数mm程度の厚さの基板)に対しての割断が難しく、スクライビング加工中に破損やチッピングなどを生じるおそれがある、という問題がある。
このような事情の下で、液晶ディスプレイやプラズマディスプレイパネル、フィールドエミッションディスプレイなどに用いられるガラス基板を割断する方法としては、(c)CO2レーザ(炭酸ガスレーザ)などのレーザビームを用いて脆性材料からなる被加工基板を局部的に加熱し、その熱応力によって当該被加工基板に亀裂を生じさせて割断する方法が提案されている(特許文献1参照)。
この(c)の方法では、ガラス基板を割断する場合でも、(1)研削砥石などを用いないことから刃の交換などに伴う問題がなく、(2)被加工基板の割断面の表面にバリやゴミなどが生じないことから洗浄工程や研磨工程などを省略することができ、さらに、(3)薄厚のガラス基板を割断する場合でも破損やチッピングなどが生じるおそれがない、という利点がある。
しかしながら、上記(c)の方法(レーザビームを用いて被加工基板を割断する方法)では、被加工基板に損傷(溶融や変形、変質など)を与えずに投入することが可能なレーザビームのエネルギーに制約があり、脆性材料からなる被加工基板の割断加工を高速に実現することが困難であった。具体的には例えば、1mmオーダの厚さのガラス基板では、表面割断(Micro Crack Method)(ガラス基板の表面のみを割断する方法)の場合にはその速度を数百mm/秒以下程度に抑え、全割断(Full Body Crack Method)(ガラス基板の表面から裏面までを貫通した状態で割断する方法)の場合にはその速度は数十mm/秒以下程度に抑える必要があった。ここで、このような速度を越えて割断加工が行われると、表面割断及び全割断のいずれの場合でも、被加工基板の割断面の品位を良好に維持することができなくなる。特に、全割断の場合においては、その割断加工の速度を順次高速化していくと、例えば割断速度がVaのときに全割断が可能であっても、割断速度を(Va+α)に高速化したときには全割断が不可能となり、被加工基板の裏面にまで割断が到達しなくなる。
このような問題点を解消するため、従来においては、レーザビームが照射される被加工基板の割断予定線に機械的な応力を印加し、レーザビームの照射により発生する局部的な熱応力(引張応力)に機械的な応力(引張応力)を重畳させた状態で被加工基板に亀裂を生じさせることで、被加工基板の割断加工をより高速に行う方法が提案されている(特許文献2及び3参照)。ここで、被加工基板の割断予定線に沿って機械的な応力を印加する方法としては、特許文献2及び3に記載されているように、被加工基板の全体を真空排気系や治具等により湾曲させる方法が知られている。
特表平8−509947号公報
特開平7−323384号公報
特開平10−71483号公報
しかしながら、上述した従来の方法ではいずれも、被加工基板の割断予定線に機械的な応力を印加した状態で当該割断予定線にレーザビームを照射して割断加工を行っているので、機械的な応力が印加された分だけ被加工基板の割断速度が高速化するものの、亀裂の形成時に機械的な応力が与えられることによる影響により被加工基板の品質(割断面の表面粗さや、真直性、割断面のガラス表面に対する直角度)が悪くなるという問題がある。
本発明はこのような点を考慮してなされたものであり、脆性材料の高品位でかつ高速な割断加工を実現することができる、脆性材料の割断加工システム及びその方法を提供することを目的とする。
本発明は、第1の解決手段として、脆性材料からなる被加工基板を局部的に加熱し、その熱応力によって当該被加工基板に亀裂を生じさせて割断加工を行う割断加工システムにおいて、被加工基板上にレーザビームを照射して当該被加工基板を局部的に加熱することにより、当該被加工基板に亀裂を生じさせる割断ユニットと、前記割断ユニットにより前記被加工基板に生じた亀裂が当該被加工基板の割断予定線に沿って進展するように、当該被加工基板上で局部的に加熱が行われた領域を当該被加工基板に対して相対的に移動させる移動ユニットと、前記被加工基板上で進展する亀裂を押し拡げるように、当該亀裂の先端部から所定の距離だけ離間した部分に局部的に機械的な応力を印加する加圧機構とを備え、前記加圧機構により前記被加工基板上で局部的に機械的な応力が印加された領域が、前記割断ユニットにより前記被加工基板上で局部的に加熱が行われた領域の移動に追従するように前記被加工基板の前記割断予定線に沿って移動するように構成されていることを特徴とする割断加工システムを提供する。
なお、上述した第1の解決手段においては、前記割断ユニットにより前記被加工基板上で局部的に加熱が行われた領域を局部的に冷却する冷却ユニットをさらに備え、前記移動ユニットは、前記割断ユニット及び前記冷却ユニットにより前記被加工基板上で局部的に加熱及び冷却が行われた領域を当該被加工基板に対して相対的に移動させることが好ましい。
また、上述した第1の解決手段においては、前記加圧機構は、前記被加工基板のうち前記割断予定線の両側に位置する部分を、前記レーザビームが照射される側の第1表面から当該第1表面の反対側の第2表面へ向けて加圧する第1加圧部と、前記被加工基板のうち前記割断予定線上に位置する部分を、前記第2表面から前記第1表面へ向けて加圧する第2加圧部とを有し、前記第1加圧部により加圧される領域及び前記第2加圧部により加圧される領域のうちの少なくともいずれか一方が前記被加工基板の前記割断予定線に沿って移動するように構成されていることが好ましい。
ここで、前記第1加圧部及び前記第2加圧部のうちの少なくともいずれか一方は、前記被加工基板を押圧することで当該被加工基板を加圧するローラ部材を有し、このローラ部材が前記被加工基板の前記割断予定線に沿って移動することにより、当該被加工基板上で加圧される領域が移動するように構成されていることが好ましい。
また、前記第1加圧部及び前記第2加圧部のうちの少なくともいずれか一方は、前記被加工基板に気体を吹き付けることで当該被加工基板を加圧する気体吹付機構を有し、この気体吹付機構が前記被加工基板の前記割断予定線に沿って移動することにより、当該被加工基板上で加圧される領域が移動するように構成されていてもよい。
さらに、前記第1加圧部及び前記第2加圧部のうちの少なくともいずれか一方は、前記被加工基板のまわりの気体を吸引することで当該被加工基板を加圧する気体吸引機構を有し、この気体吸引機構が前記被加工基板の前記割断予定線に沿って移動することにより、当該被加工基板上で加圧される領域が移動するように構成されていてもよい。
さらに、前記第1加圧部及び前記第2加圧部のうちの少なくともいずれか一方は、前記被加工基板の前記割断予定線に沿って配列された複数の気体噴出口を有し、これらの各気体噴出口による気体の噴出状態を前記被加工基板の前記割断予定線に沿って順次切り替えることにより、当該被加工基板上で加圧される領域が移動するように構成されていてもいお。
さらに、前記第1加圧部及び前記第2加圧部のうちの少なくともいずれか一方は、前記被加工基板の前記割断予定線に沿って配列された複数の気体吸引口を有し、これらの各気体吸引口による気体の吸引状態を前記被加工基板の前記割断予定線に沿って順次切り替えることにより、当該被加工基板上で加圧される領域が移動するように構成されていてもよい。
本発明は、第2の解決手段として、脆性材料からなる被加工基板を局部的に加熱し、その熱応力によって当該被加工基板に亀裂を生じさせて割断加工を行う割断加工方法において、割断対象となる被加工基板を準備する準備工程と、前記被加工基板上にレーザビームを照射して当該被加工基板を局部的に加熱しつつ、当該被加工基板上で局部的に加熱が行われた領域を当該被加工基板の割断予定線に沿って移動させることにより、当該被加工基板に亀裂を生じさせるとともに当該亀裂を進展させる割断工程と、前記被加工基板上で進展する亀裂を押し拡げるように、当該亀裂の先端部から所定の距離だけ離間した部分に局部的に機械的な応力を印加する加圧工程とを含み、前記加圧工程において、前記被加工基板上で局部的に機械的な応力が印加される領域を、前記被加工基板上で局部的に加熱が行われた領域の移動に追従するように前記被加工基板の前記割断予定線に沿って移動させることを特徴とする割断加工方法を提供する。
なお、上述した第2の解決手段においては、前記割断工程において、前記被加工基板上で局部的に加熱が行われた領域を冷却することが好ましい。
本発明によれば、レーザビームの照射により被加工基板上で局部的に加熱が行われた領域を当該被加工基板の割断予定線に沿って移動させることにより、当該被加工基板に亀裂を生じさせて進展させるとともに、このようにして当該被加工基板上で進展する亀裂を押し拡げるように、当該亀裂の先端部から所定の距離だけ離間した部分に局部的に機械的な応力を印加するようにしている。またこのとき、被加工基板上で局部的に機械的な応力が印加される領域を、被加工基板上で局部的に加熱が行われた領域の移動に追従するように被加工基板の割断予定線に沿って移動させるようにしている。このように、レーザビームの照射により被加工基板に亀裂を生じさせた後に当該亀裂を押し拡げるように(すなわち割断面に間隙を持たせるように)局部的に機械的な応力を印加するようにしているので、亀裂の形成時に機械的な応力が与えられることにより生じる被加工基板の割断面の品質(割断面の表面粗さや、真直性、割断面のガラス表面に対する直角度)の劣化を抑え、被加工基板の裏面まで割断面を効果的に到達させることが可能である。このため、被加工基板の品質(割断面の表面粗さや、真直性、割断面のガラス表面に対する直角度)を良好に保ちつつ、被加工基板の割断速度の高速化を図ることができる。
また、本発明によれば、レーザビームの照射により被加工基板に生じた亀裂を押し拡げるように局部的に機械的な応力を印加するようにしているので、被加工基板として2枚のガラス基板がシール材を介して貼り合わされたような液晶基板が用いられる場合であっても、亀裂を押し拡げる(すなわち割断面に間隙を持たせる)ことにより粘着性の接着部材からなるシール材のあるガラス基板の部分を容易に切り離すことが可能であり、高品位な割断加工を容易に実現することができる。
さらに、本発明によれば、被加工基板に対してレーザビームを照射することにより割断加工を行っているので、被加工基板の割断面の表面にバリやゴミなどが生じず、洗浄工程や仕上げのための研磨工程なども省略することができる。また、薄厚基板を割断する場合でも破損やチッピングなどが生じるおそれもない。
発明を実施するための形態
以下、図面を参照して本発明の実施の形態について説明する。
第1の実施の形態
まず、図1により、本発明の第1の実施の形態に係る割断加工システムの全体構成について説明する。
図1に示すように、本発明の第1の実施の形態に係る割断加工システム1は、脆性材料からなる被加工基板60を局部的に加熱し、その熱応力によって被加工基板60に亀裂を生じさせて割断加工を行うものであり、被加工基板60に対して割断加工を行うための加工部ユニット5と、被加工基板60を支持するとともに加工部ユニット5に対して被加工基板60を相対的に移動させる移動ユニット50とを備えている。なおここでは、割断対象となる被加工基板60として、2枚のガラス基板(上基板61及び下基板62)がシール材(図2の符号63参照)を介して貼り合わされた液晶基板を用いるものとする。
このうち、加工部ユニット5は、加熱冷却ユニット10(予熱ユニット20、割断ユニット30及び冷却ユニット40)及び加圧ユニット45を含み、これらの各ユニットが被加工基板60上で割断予定線71に沿って相対的に移動するように構成されている。なお、加熱冷却ユニット10(予熱ユニット20、割断ユニット30及び冷却ユニット40)及び加圧ユニット45は、被加工基板60上での移動方向に関して先頭側から後尾側へ向かってこの順番で一直線状に配置されている。
以下、加工部ユニット5に含まれる加熱冷却ユニット10(予熱ユニット20、割断ユニット30及び冷却ユニット40)及び加圧ユニット45の詳細について説明する。
加熱冷却ユニット10の予熱ユニット20は、被加工基板60上にレーザビームLB1を照射して被加工基板60を局部的に予熱するためのものであり、200W程度のCO2レーザを出射するレーザ発振器21と、レーザ発振器21により出射されたレーザを反射する反射ミラー22と、反射ミラー22により反射されたレーザを被加工基板60上で走査するポリゴンミラー23とを有している。これにより、レーザ発振器21により出射されたレーザが反射ミラー22を経てポリゴンミラー23で反射され、被加工基板60上で割断予定線71に沿って所定の長さL1に亘って繰り返し走査されることにより、線状のレーザビームLB1が生成される。なお、図2に示すように、線状のレーザビームLB1は、割断予定線71に沿う方向に延びる線状の照射パターン65を有するものであり、その幅W1(割断予定線71に直交する方向の長さ)を数mm〜数十mm程度とし、その長さL1(割断予定線71に沿う方向の長さ)を数十mmから被加工基板60の全長に達する長さ程度とすることが好ましい。
加熱冷却ユニット10の割断ユニット30は、被加工基板60上にレーザビームLB2を照射して被加工基板60を局部的に加熱することにより、被加工基板60に亀裂を生じさせるためのものであり、数十W〜百数十W程度のCO2レーザを出射するレーザ発振器31と、レーザ発振器31により出射されたレーザを反射する反射ミラー32と、反射ミラー32により反射されたレーザを被加工基板60上で走査するポリゴンミラー33とを有している。これにより、レーザ発振器31により出射されたレーザが反射ミラー32を経てポリゴンミラー33で反射され、被加工基板60上で割断予定線71に沿って所定の長さL2に亘って繰り返し走査されることにより、線状のレーザビームLB2が生成される。なお、図2に示すように、線状のレーザビームLB2は、割断予定線71に沿う方向に延びる線状の照射パターン66を有するものであり、その幅W2(割断予定線71に直交する方向の長さ)を十分の数mm〜十数mm程度とし、その長さL2(割断予定線71に沿う方向の長さ)を数mm〜百mm程度とすることが好ましい。
加熱冷却ユニット10の冷却ユニット40は、被加工基板60に冷却剤Cを吹き付けて被加工基板60上で局部的に加熱が行われた領域を局部的に冷却するためのものであり、水や霧(水と気体との混合物)、窒素などの気体、二酸化炭素粒子(ドライアイス)などの微粒子固体、アルコールなどの液体、霧状のアルコール、雪状のドライアイスなどの冷却剤Cを被加工基板60の表面に噴射する冷却ノズル41を有している。なお、冷却ノズル41は、その直径(内径)が数mm以下であることが好ましい。
加圧ユニット45は、被加工基板60に局部的に機械的な応力を印加するためのものであり、加圧ユニット本体46と、加圧ユニット本体46に取り付けられたアーム47と、アーム47の先端部にシャフト49を介して回動自在に装着され被加工基板60の表面に転がり接触しながら当該被加工基板60を押圧して加圧する、割断予定線71を挟んで等距離に位置した2個のローラ部材48とを有している。なお、加圧ユニット45は、被加工基板60上で割断予定線71に沿って相対的に移動するようになっており、それに伴ってローラ部材48により被加工基板60上で加圧される領域も被加工基板60の割断予定線71に沿って移動するようになっている。なお、ローラ部材48は、上述したように被加工基板60の表面を滑ることなく当該表面に転がり接触しながら移動する。ここで、ローラ部材48は、その直径が数mm〜数十mmであり、被加工基板60に傷などの損傷を与えない、樹脂やゴムなどの材料で作られていることが好ましい。なお、ローラ部材48は、単一の材料で作られている他、複数の材料で作られていてもよい。特に、本発明における割断加工では、レーザビームの照射により発生する熱応力を用いているので、比熱や熱伝導係数などの熱的挙動が重要であり、その点を考慮して適切な材料を選択する必要がある。なおここで、ローラ部材48の被加工基板60への接触条件としては、各種の条件(ローラ部材48の押し付け力や、ガラス基板である被加工基板60のたわみ量など)を選択することができる。
以上において、加工部ユニット5に含まれる加熱冷却ユニット10(予熱ユニット20、割断ユニット30及び冷却ユニット40)及び加圧ユニット45はいずれも移動ステージ(図示せず)により被加工基板60に沿う方向(X方向及びY方向)に移動することができるようになっており、加熱冷却ユニット10(予熱ユニット20、割断ユニット30及び冷却ユニット40)及び加圧ユニット45がいずれも被加工基板60上で割断予定線71に沿って適切な間隔で一直線状に配置されるようにアライメント調整を行うことができるようになっている。
一方、移動ユニット50は、加熱冷却ユニット10(予熱ユニット20、割断ユニット30及び冷却ユニット40)及び加圧ユニット45を含む加工部ユニット5に対して被加工基板60を相対的に移動させるためのものであり、被加工基板60を支持する基板ホルダ51と、基板ホルダ51により支持された被加工基板60を位置決めするための位置決めピン52と、基板ホルダ51を加熱冷却ユニット10に対してXY平面内で相対的に移動させる移動ステージ53とを有している。
また、基板ホルダ51上には、被加工基板60のうち割断予定線71上に位置する部分を支持する基板支え54が設けられている。ここで、基板支え54は、図3(a)(b)に示すように、断面形状が三角形状をなしている。また、基板支え54は、テフロン(登録商標)などのフッ素系樹脂や、PEEK(登録商標)などのポリアリルエーテルエーテルケトン系樹脂、アクリル、ポリイミド樹脂、軟質ガラスなどのように、被加工基板60を傷つけない程度の硬度の材料で作られた部材からなっていることが好ましい。なお、図3(a)(b)においては、被加工基板60のうち割断予定線71上に位置する部分を支持する基板支えとして、図示されているような基板支え54を一つだけ設けているが、これに限らず、図示されているような基板支え54と平行に複数本の基板支えを設け、被加工基板60の全面を支持するようにしてもよい。
なお、以上において、上述した加圧ユニット45(第1加圧部)及び基板支え54(第2加圧部)により加圧機構が構成されている。
より具体的には、図3(a)(b)に示すように、加圧ユニット45の2個のローラ部材48が被加工基板60の上方に配置され、被加工基板60のうち割断予定線71の両側に位置する部分を、レーザビームLB1,LB2が照射される側の表面(第1表面)から当該表面の反対側の裏面(第2表面)へ向けて加圧する。一方、基板支え54は、被加工基板60の下方に配置され、被加工基板60のうち割断予定線71上に位置する部分を、裏面(第2表面)から表面(第1表面)へ向けて加圧する。なお、基板支え54は、被加工基板60の割断予定線71に沿ってその全長に亘って延びており、このようにして延びる基板支え54に沿ってその全長に亘ってローラ部材48が移動するようになっている。このようにすると、加圧ユニット45に先行して移動する加熱冷却ユニット10により形成された亀裂68に機械的な応力(符号69参照)が印加され、亀裂68がより深く入ることにより、被加工基板60がその割断面のところで容易に切り離される。
なお、図3(a)(b)においては、基板支え54として、断面形状が三角形状のものを用いているが、これに限らず、図4(a)〜(f)に示すような各種の断面形状(多角形、台形、蒲鉾形、半円形、円形、楕円形など)の基板支え54A〜54Fを用いるようにしてもよい。なお、基板支え54,54A〜54Fの断面形状は、長さ方向に関して一様にする他、長さ方向に関してその大きさや形状などを場所により変えるようにしてもよい。これにより、被加工基板60上の場所に応じて、ローラ部材48及び基板支え54,54A〜54Fにより被加工基板60上で局部的に印加される機械的な応力を制御することができる。
一方、図3(a)(b)においては、加圧ユニット45のローラ部材48として、円筒形のものを用いているが、これに限らず、図5(a)〜(f)に示すような各種の形状(楕円球形、球形、裁頭円錐台形、算盤玉形、鼓形など)のローラ部材48A〜48Fを用いるようにしてもよい。なお、図5(a)〜(d)においては、互いに分離した二つのローラ部材48A〜48Dにより被加工基板60を押圧する構成がとられており、図5(e)(f)においては、一体型のローラ部材48E,48Fにより被加工基板60を押圧する構成がとられている。
次に、このような構成からなる本発明の第1の実施の形態の作用について説明する。
図1に示す割断加工システム1において、割断対象となる被加工基板60を移動ユニット50の移動ステージ53上に搭載された基板ホルダ51上に位置決めする。具体的には、被加工基板60に付けられたアライメントマーク(図示せず)をCCD力メラ(図示せず)により撮像し、画像処理装置(図示せず)による撮像結果に基づいて被加工基板60のアライメントマークが基板ホルダ51上の所定の場所にくるように両者の相対的な位置関係を変化させる。これにより、被加工基板60が基板ホルダ51上の所定の場所に位置決めされる。なお、このようにして基板ホルダ51上に位置決めされた被加工基板60は位置決めピン52により固定される。
そして、移動ユニット50の移動ステージ53により基板ホルダ51を移動させ、基板ホルダ51上に位置決めされた被加工基板60の割断予定線71上に加工部ユニット5を位置付ける。なお、加工部ユニット5に含まれる加熱冷却ユニット10(予熱ユニット20、割断ユニット30及び冷却ユニット40)及び加圧ユニット45は、被加工基板60の割断予定線71上に位置付けられたときに当該割断予定線71に沿って適切な間隔で一直線状に配置されるように予めアライメント調整が行われている。
この状態で、移動ユニット50の移動ステージ53により、基板ホルダ51上に位置決めされた被加工基板60を加工部ユニット5に対して相対的に移動させ、加工部ユニット5に含まれる加熱冷却ユニット10(予熱ユニット20、割断ユニット30及び冷却ユニット40)及び加圧ユニット45を被加工基板60上で割断予定線71に沿ってこの順番で相対的に移動させる。
これにより、図1及び図2に示すように、まず、被加工基板60上で割断予定線71に沿って加熱冷却ユニット10の予熱ユニット20が相対的に移動し、被加工基板60上に線状のレーザビームLB1を照射することにより、被加工基板60を所定の温度(30℃〜200℃程度)で局部的に予熱する。なおこのとき、予熱ユニット20においては、レーザ発振器21により出射されたレーザが反射ミラー22を経てポリゴンミラー23で反射され、被加工基板60上で割断予定線71に沿って所定の長さL1に亘って繰り返し走査されることにより、照射パターン65を有する線状のレーザビームLB1が生成される。
そして、このようにして予熱ユニット20により局部的に予熱された被加工基板60上で割断予定線71に沿って割断ユニット30が相対的に移動し、予熱ユニット20により被加工基板60上で局部的に予熱が行われた領域よりも幅の狭い線状の領域に線状のレーザビームLB2を照射することにより、被加工基板60を所定の温度(100℃〜400℃程度)で局部的に加熱する。なおこのとき、割断ユニット30においては、レーザ発振器31により出射されたレーザが反射ミラー32を経てポリゴンミラー33で反射され、被加工基板60上で割断予定線71に沿って所定の長さL2に亘って繰り返し走査されることにより、照射パターン66を有する線状のレーザビームLB2が生成される。
その後、このようにして割断ユニット30により局部的に加熱された被加工基板60上で割断予定線71に沿って冷却ユニット40が相対的に移動し、割断ユニット30により被加工基板60上で局部的に加熱が行われた領域よりも幅の広い円形状の領域に冷却剤Cを吹き付けることにより、被加工基板60を局部的に冷却する。なおこのとき、冷却ユニット40においては、冷却ノズル41から噴射された冷却剤Cが被加工基板60の表面に所定の吹付パターン67で吹き付けられる。
さらに、このようにして冷却ユニット40により局部的に冷却された被加工基板60上で割断予定線71に沿って加圧ユニット45が相対的に移動し、被加工基板60の表面をローラ部材48が転がりながら押圧することにより、被加工基板70の裏面を支持する基板支え54との協働により被加工基板60に局部的に機械的な応力を印加する。より具体的には、加圧ユニット45は、被加工基板60のうち割断予定線71の両側に位置する部分を被加工基板60の表面側から加圧し、基板支え54は、被加工基板60のうち割断予定線71上に位置する部分を被加工基板60の裏面側から加圧する。
以上のようにして、被加工基板60上で割断予定線71に沿って加熱冷却ユニット10による処理(予熱ユニット20による予熱、割断ユニット30による加熱及び冷却ユニット40による冷却)が順次行われると、主として被加工基板60の加熱により発生した熱応力(引張応力)と被加工基板60の冷却により発生した引張応力とによって亀裂68が形成され、かつ、加熱冷却ユニット10(予熱ユニット20、割断ユニット30及び冷却ユニット40)が被加工基板70上で割断予定線71に沿って相対的に移動することに伴って割断予定線71に沿って亀裂68が進展する。
具体的には、割断ユニット30により被加工基板60を局部的に加熱すると、被加工基板60の加熱により発生した熱応力(引張応力)によって被加工基板60に亀裂68が生じる。そして、この状態で、被加工基板60上で局部的に加熱が行われる領域(照射パターン66に対応)を割断予定線71に沿って移動させると、割断ユニット30による加熱により発生した熱応力が被加工基板60の亀裂68の先端部に順次加えられ、この亀裂68の先端部での応力拡大効果(破壊工学でいう「亀裂先端周りの持つ特異的効果」)によって領域66の移動に追従する形で亀裂68が進展する。
このとき、割断ユニット30により被加工基板60を局部的に加熱するのに続いて、冷却ユニット40により、割断ユニット30により被加工基板60上で局部的に加熱が行われた領域(照射パターン66に対応)よりも幅の広い円形状の領域(吹付パターン67に対応)に冷却剤Cを吹き付けると、被加工基板60の冷却により発生した引張応力が、割断ユニット30による加熱により発生した引張応力と重ね合わされる。これにより、割断ユニット30による加熱のみにより発生した引張応力がさらに拡大され、被加工基板60の亀裂68の先端部で生じる応力拡大効果がより大きくなって亀裂68をより高速に進展させることができる。なお、このようにして被加工基板60の加熱により発生した熱応力(引張応力)と被加工基板60の冷却により発生した引張応力とによって亀裂68を進展させる場合には、亀裂68の先端部は通常、冷却ユニット40の近傍に位置する。
なお、以上において、割断ユニット30により被加工基板60を局部的に加熱するのに先行して、割断ユニット30により被加工基板60上で局部的に加熱が行われる領域(割断ユニット30により実際に加熱が行われる領域と同程度の大きさかそれよりも広い領域)(照射パターン65に対応)を局部的に予熱すると、割断ユニット30により被加工基板60上で局部的に加熱が行われる領域の温度を予め上昇させておくことができ、割断ユニット30により行われる割断のための加熱を効果的に補助することができる。
さらに、冷却ユニット40により被加工基板60を局部的に冷却するのに続いて、加圧ユニット45により、加熱冷却ユニット10に含まれる割断ユニット30及び冷却ユニット40により被加工基板60上で局部的に加熱及び冷却が行われた領域の移動に追従するような態様で、被加工基板60上で進展する亀裂68の先端部から所定の距離だけ離間した部分を押圧すると、当該部分に局部的に機械的な応力が印加され、被加工基板60の裏面を支持する基板支え54との協働により被加工基板60上で進展する亀裂68が押し拡げられる。このようにして、加圧ユニット45及び基板支え54は、被加工基板60の割断面に僅かな間隙を持たせるように作用し、被加工基板60の表面のみが割断され又は被加工基板60の裏面まで割断面が到達することなく非割断面が僅かに残されているような場合でも、被加工基板60の裏面まで割断面を十分に到達させて全割断に至らしめることが可能となる。
ここで、加圧ユニット45及び基板支え54からなる加圧機構に関する最も重要な点は、加熱冷却ユニット10に含まれる予熱ユニット20、割断ユニット30及び冷却ユニット40により被加工基板60の割断をほぼ完了させた後に、加圧ユニット45及び基板支え54により被加工基板60に対して機械的な圧力を印加することである。すなわち、加圧ユニット45及び基板支え54により印加される機械的な応力は、既に発生している被加工基板60の割断面に対して作用し、当該割断面を押し拡げることで被加工基板60をその厚さ方向に貫通させる。言い換えれば、加熱冷却ユニット10(予熱ユニット20、割断ユニット30及び冷却ユニット40)により被加工基板60の割断が行われている間は、被加工基板60の当該部分に積極的に変形(湾曲等)を加えることはしない。
なお、従来の割断加工システムとしては、既に説明したように、レーザビームの照射により発生する局部的な熱応力(引張応力)に機械的な応力(引張応力)を重畳させた状態で被加工基板の割断を行うものが知られている。ここで、このような従来の割断加工システムにおいて、被加工基板に対して割断が行われる以前又は割断が行われている最中に被加工基板の変形などにより機械的な応力が印加されていると、割断時に亀裂の先端部に印加される引張応力は、レーザビームの照射により発生する局部的な熱応力と、変形による機械的な応力との和になる。ここで、このような変形による機械的な応力は、被加工基板の割断予定線に対して対称的にかつ均等に印加することは極めて難しい。このため、このような引張応力による割断では、変形による機械的な応力の不均一性により、レーザビームの照射による割断の均一性が乱され、その結果、被加工基板の品質(割断面の表面粗さや、真直性、割断面のガラス表面に対する直角度)の劣化をきたすことになる。
以下、このような現象の詳細につき図16(a)(b)により説明する。なお、図16(a)は、本発明の第1の実施の形態に係る割断加工システム1(被加工基板60に対して割断を行った後に被加工基板60に機械的な応力を印加するシステム)において得られた被加工基板60の割断面の品質を示し、図16(b)は、従来の割断加工システム(被加工基板60に対して割断を行うと同時に被加工基板60に機械的な応力を印加するシステム)により得られた被加工基板60の割断面の品質を示す。なお、図16(c)は、被加工基板60が割断される様子を示す模式図であり、図16(c)に示す「うねり」及び「位置」がそれぞれ図16(a)(b)に示す「うねり」及び「位置」に対応している。また、符号68、71はそれぞれ割断線(亀裂)及び割断予定線を示している。
図16(a)に示すように、本発明の第1の実施の形態に係る割断加工システム1により得られた割断後の被加工基板60では、割断予定線71からの実際の割断線(亀裂)68のうねりの幅は−0.02mm〜0.1mmでその振幅は小さく、脈動の繰り返しも滑らかである。これに対し、図16(b)に示すように、従来の割断加工システムにより得られた被加工基板60では、割断予定線71からの実際の割断線(亀裂)68のうねりの幅は0mm〜0.4mmでその振幅はかなり大きく、脈動の繰り返しも大きい。
以上から明らかなように、本発明の第1の実施の形態のように、被加工基板60に対して割断を行った後に被加工基板60に対して機械的な応力を印加する場合には、従来のように、被加工基板60に対して割断を行うと間に同時に機械的な応力を印加する場合に比べて、被加工基板60の割断面の品質(特に割断面の真直性)が良好である。なお、データとしては示していないが、両者の場合における割断面の微小な面(例えば幅10t[mm]×厚さt[mm]の面)の二次元的な滑らかさを観察すると、明らかに前者の方が後者に比べて良好な結果が得られた。
このように本発明の第1の実施の形態によれば、レーザビームの照射により被加工基板60上で局部的に加熱が行われた領域を当該被加工基板60の割断予定線71に沿って移動させることにより、当該被加工基板60に亀裂68を生じさせて進展させるとともに、このようにして当該被加工基板60上で進展する亀裂68を押し拡げるように、加圧ユニット45及び基板支え54により当該亀裂68の先端部から所定の距離だけ離間した部分に局部的に機械的な応力を印加するようにしている。またこのとき、加熱冷却ユニット10(予熱ユニット20、割断ユニット30及び冷却ユニット40)に対して加圧ユニット45を連動させて移動させ、被加工基板60上で局部的に機械的な応力が印加される領域を、被加工基板60上で局部的に加熱が行われた領域の移動に追従するように被加工基板60の割断予定線71に沿って移動させるようにしている。このように、レーザビームの照射により被加工基板60に亀裂68を生じさせた後に当該亀裂68を押し拡げるように(すなわち割断面に間隙を持たせるように)局部的に機械的な応力を印加するようにしているので、亀裂68の形成時に機械的な応力が与えられることにより生じる被加工基板60の割断面の品質(割断面の表面粗さや、真直性、割断面のガラス表面に対する直角度)の劣化を抑え、被加工基板60の裏面まで割断面を効果的に到達させることが可能である。このため、被加工基板60の品質(割断面の表面粗さや、真直性、割断面のガラス表面に対する直角度)を良好に保ちつつ、被加工基板60の割断速度の高速化を図ることができる。
また、本発明の第1の実施の形態によれば、レーザビームの照射により被加工基板60に生じた亀裂68を押し拡げるように局部的に機械的な応力を印加するようにしているので、被加工基板60として2枚のガラス基板(上基板61及び下基板62)がシール材63を介して貼り合わされたような液晶基板が用いられる場合であっても、亀裂68を押し拡げる(すなわち割断面に間隙を持たせる)ことにより粘着性の接着部材からなるシール材63のあるガラス基板の部分を容易に切り離すことが可能であり、高品位な割断加工を容易に実現することができる。
さらに、本発明の第1の実施の形態によれば、被加工基板60に対してレーザビームを照射することにより割断加工を行っているので、割断面の表面にバリやゴミなどが生じず、洗浄工程や仕上げのための研磨工程などを省略することができ、また、薄厚基板(例えば0.4mm以下)に対しても破損やチッピングなどが生じるおそれもない。特に、薄厚基板の場合には、レーザビームの熱が基板の裏面に伝わるまでの時間が短くなるので、レーザビームのパワーが同じであれば、より高速に割断を行うことができ、一方、レーザビームの移動速度(割断速度)が同じであれば、より小さなパワーのレーザビームにより割断を行うことができ、システムを小型でかつ安価に実現することができる。
なお、上述した第1の実施の形態においては、加熱冷却ユニット10(予熱ユニット20、割断ユニット30及び冷却ユニット40)及び加圧ユニット45は、被加工基板60に対して同一の相対速度で移動するように構成されているが、加熱冷却ユニット10(予熱ユニット20、割断ユニット30及び冷却ユニット40)及び加圧ユニット45にそれぞれ別個の移動ステージを取り付け、被加工基板60の割断予定線71上の特定の部分においてそれぞれが互いに離反するように移動させること等により、所定のタイミングにおいてそれぞれの相対速度を異ならせるようにしてもよい。
また、上述した第1の実施の形態においては、加熱冷却ユニット10に含まれる予熱ユニット20及び割断ユニット30において、被加工基板60上でレーザを走査するための光学部品としてポリゴンミラー23,33を用いているが、これに限らず、例えば、ガルバノミラーや円筒型反射鏡などを用いるようにしてもよい。なお、このような光学部品としては、透過型、非透過型(反射型)のいずれのものも用いることができる。
さらに、上述した第1の実施の形態においては、加熱冷却ユニット10に含まれる予熱ユニット20及び割断ユニット30により被加工基板60に亀裂を直接生じさせているが、加熱冷却ユニット10の予熱ユニット20に先行して移動する割断線リードユニットをさらに設け、被加工基板60の表面に円盤などが接触した状態で割断予定線に沿って相対的に移動させることにより、被加工基板60の表面に百分の数μm〜数十μm程度の深さの圧痕(微細なクラック)を形成するようにしてもよい。これにより、加熱冷却ユニット10の予熱ユニット20及び割断ユニット30により形成される亀裂68の真直性などを向上させることができる。
さらに、上述した第1の実施の形態においては、移動ユニット50の移動ステージ53により加工部ユニット5に対して被加工基板60側(基板ホルダ51側)を移動させることにより加工部ユニット5と被加工基板60との相対的な移動を実現するようにしているが、これに限らず、加工部ユニット5側を移動させることにより加工部ユニット5と被加工基板60との相対的な移動を実現するようにしてもよい。
さらに、上述した第1の実施の形態においては、割断対象となる被加工基板60として、2枚のガラス基板(上基板61及び下基板62)がシール材63を介して貼り合わされた液晶基板を用いているが、上基板61及び下基板62の間に液晶材が注入された状態の液晶基板に対しても同様に高品位でかつ高速な割断加工を行うことができる。具体的には例えば、このような液晶基板のうち液晶を封止するためのシール材の外側の部位(基板の面内方向で液晶端から約1mm、基板の厚さ方向で基板の厚さ分(約1mm〜0.5mm)だけ離れた部位)を割断する。ただし、この場合には、ガラス基板の表面温度がガラス歪点(熱により特性が変わる温度)を越えることがなく、かつ、ガラス基板の裏面の液晶接触部分において液晶が損傷を受けて正常な動作をしなくなる温度(約80℃)にならないように、予熱ユニット20及び割断ユニット30により照射されるレーザビームLB1,LB2のパワーや照射時間、冷却ユニット30により吹き付けられる冷却剤Cの量や温度などのパラメータを設定し、予熱温度や加熱温度、冷却温度などを調整することが好ましい。
さらに、上述した第1の実施の形態においては、被加工基板60を表面側から加圧する機構として、ローラ部材48,48A〜48Fを有する加圧ユニット48を用いているが、これに限らず、図6に示すように、被加工基板60にエアー(空気やその他のガス(窒素や酸素などを含む)などの気体)を吹き付けて加圧するエアーパッド(気体吹付機構)80Aを用いてもよい。ここで、エアーパッド80Aは、被加工基板60のうち割断予定線71の両側に位置する部分を加圧するように少なくとも一対設けられており、被加工基板60の割断予定線71に沿って移動することにより、当該被加工基板60上で加圧される領域が移動するように構成されている。なお、エアーパッド80Aは、支持体81に支持されたエアーパッド本体82を有しており、支持体81に形成されたエアー通路83及びエアーパッド本体82に形成されたエアー噴出口84を介して噴出されたエアーが被加工基板60へ向けて吹き付けられるようになっている。ここで、図6に示すエアーパッド80Aでは、被加工基板60の表面にエアーパッド本体82を押し付けて加圧することとなるが、このとき、被加工基板60とエアーパッド本体82との間にエアーの噴出により間隙ができる。このため、被加工基板60及びエアーパッド本体82の両者は非接触状態となり、エアーパッド80Aを被加工基板60の表面に沿って移動させた場合でも、被加工基板60の表面に傷などが発生することがない。また、図6に示すエアーパッド80Aでは、被加工基板60に吹き付けられるエアーの温度を制御して適宜高温又は低温にすることができるので、それに伴って被加工基板60の表面の温度を制御することができる。
ここで、図6に示す構成においては、互いに分離した二つのエアーパッド80Aにより被加工基板60を加圧しているが、これに限らず、図7及び図8(a)(b)に示すように、一体型のエアーパッド80B,80Cにより被加工基板60を加圧するようにしてもよい。このうち、エアーパッド80Bは、図7に示すように、エアーパッド本体82に一つのエアー通路83から分岐された2系統のエアー噴出口85が形成され、エアー通路83から供給されたエアーを割断予定線71の左右に振り分けることにより被加工基板60のうち割断予定線71の両側に位置する部分にエアーを吹き付けて加圧するように構成されている。また、エアーパッド80Cは、図8(a)(b)に示すように、エアーパッド本体82の底面82aに、エアー通路83に連結された大型の開口部86が形成され、エアー通路83から供給されたエアーを開口部86を介して流すことにより被加工基板60のうち割断予定線71の両側に位置する部分にエアーを吹き付けて加圧するように構成されている。
なお、図6、図7及び図8(a)(b)に示す構成において、被加工基板60を裏面側から加圧する基板支えとしては、図示されているような基板支え54に代えて、図4(a)〜(f)に示すような各種の断面形状(多角形、台形、蒲鉾形、半円形、円形、楕円形など)の基板支え54A〜54Fを用いることもできる。
さらに、上述した第1の実施の形態においては、被加工基板60を裏面側から加圧する機構として、基板支え54,54A〜54Fを用いているが、これに限らず、図9に示すように、被加工基板60の裏面にエアー(空気やその他のガス(窒素や酸素などを含む)などの気体)を吹き付けて加圧する基板ホルダ91Aを用いるようにしてもよい。ここで、基板ホルダ91Aは、エアーを供給するためのエアー通路92と、エアー通路92に接続されるとともに被加工基板60のうち割断予定線71上に位置する部分へ向けて開口した円形開口を持つ複数のエアー噴出口93とを有している。なお、各エアー噴出口93は、被加工基板60の割断予定線71に沿って複数配列されており、エアー通路92から供給されたエアーを被加工基板60のうち割断予定線71上に位置する部分に吹き付けて加圧するように構成されている。ここで、基板ホルダ91Aのエアー噴出口93から噴出されるガスの温度は大気温度である必要はなく、被加工基板60に損傷を与えない程度の高温(例えば70℃程度)のガスを用いるようにしてもよい。これにより、エアー噴出口93から噴出されるガスにより被加工基板60を予熱しておくことが可能となり、被加工基板60の割断速度及び割断品位をより向上させることができる。
さらに、上述した第1の実施の形態においては、被加工基板60を表面側から加圧するローラ部材48,48A〜48F又はエアーパッド80A〜80Cを被加工基板60の割断予定線71に沿って移動させることにより、被加工基板60上で加圧される領域を移動させるようにしているが、これに限らず、図10(a)(b)に示すように、被加工基板60の割断予定線71に沿って複数のエアー噴出口93が配列された基板ホルダ91Bにおいて、各エアー噴出口93によるエアーの噴出状態を電動式バルブなどによって被加工基板60の割断予定線71に沿って順次切り替えることにより、被加工基板60上で加圧される領域を移動させるようにしてもよい。なお、図10(a)(b)においては、基板ホルダ91Bの載置面91aに形成された複数のエアー吸引口95からエアー通路94を介して空気などのエアーを吸引することにより被加工基板60を加圧するようにしているが、ローラ部材やエアーパッドにより被加工基板60を表面側から押圧して加圧するようにしてもよい。また、図10(a)(b)においては、基板ホルダ91Bに形成された全てのエアー吸引口95からエアー通路94を介して同一の吸引力でエアーを吸引するようにしているが、各エアー噴出口93によるエアーの噴出状態の切り替えに連動して、各エアー吸引口95によるエアーの吸引状態(吸引の有無や吸引力)を被加工基板60の割断予定線71に沿って順次切り替えるようにしてもよい。
さらに、上述した第1の実施の形態においては、被加工基板60を表面側から加圧する機構及び被加工基板を裏面側から加圧する機構のうちのいずれか一方のみを移動又は稼働させることにより、被加工基板60上で加圧される領域を移動させるようにしているが、これに限らず、図11乃至図15に示すように、被加工基板60を表面側から加圧する機構及び被加工基板60を裏面側から加圧する機構の両方を移動又は稼働させることにより、被加工基板60上で加圧される領域を移動させるようにしてもよい。
具体的には例えば、図11及び図12に示すように、被加工基板60の上方に、被加工基板60にエアー(空気やその他のガス(窒素や酸素などを含む)などの気体)を吹き付けて加圧するエアーパッド(気体吹付機構)80Dを配置し、被加工基板60の下方に、シャフト103に回動自在に装着されたローラ部材104(105)を有する加圧ユニット(全体構成については省略)を配置するようにするとよい。ここで、エアーパッド80D、及びローラ部材104(105)を有する加圧ユニットはいずれも、互いに同期した状態で被加工基板60の割断予定線71に沿って移動するように構成されている。なお、エアーパッド80Dは、図11及び図12に示すように、エアーパッド本体82の底面82a及びその底面82aに形成された開口部88に連結されたエアー通路87を有し、エアー通路87から供給されたエアーをエアー噴出口89を介して被加工基板60のうち割断予定線71の両側に位置する部分に吹き付けて加圧するように構成されている。また、ローラ部材104(105)は、図1に示す加圧ユニット45と同様の構成を備えた加圧ユニットに組み込まれており、全体として、基板ホルダ101の開口部102内に配置されている。
また、図13に示すように、被加工基板60の上方及び下方のいずれにも、被加工基板60にエアー(空気やその他のガス(窒素や酸素などを含む)などの気体)を吹き付けて加圧するエアーパッド(気体吹付機構)80D,113Aを配置するようにしてもよい。ここで、エアーパッド80D,113Aはいずれも、互いに同期した状態で被加工基板60の割断予定線71に沿って移動するように構成されている。なお、エアーパッド80Dは、図11及び図12に示すエアーパッド80Dと同様の構成を備えている。また、エアーパッド113Aは、支持体114に支持されたエアーパッド本体115を有しており、支持体114に形成されたエアー通路116及びエアーパッド本体115に形成されたエアー噴出口117を介して噴出されたエアーが被加工基板60へ向けて吹き付けられるようになっている。なお、エアーパッド113Aは、基板ホルダ101の開口部102内に配置されている。
さらに、図14に示すように、被加工基板60の上方に、シャフト49に回動自在に装着されたローラ部材48を有する加圧ユニット(全体構成については省略)を配置し、被加工基板60の下方に、被加工基板60にエアー(空気やその他のガス(窒素や酸素などを含む)などの気体)を吹き付けて加圧するエアーパッド(気体吹付機構)113Bを配置するようにしてもよい。ここで、ローラ部材48を有する加圧ユニット及びエアーパッド113Bはいずれも、互いに同期した状態で被加工基板60の割断予定線71に沿って移動するように構成されている。なお、ローラ部材48を有する加圧ユニットは、図1に示す加圧ユニット45と同様の構成を備えている。また、エアーパッド113Bは、支持体114に支持されたエアーパッド本体118を有しており、支持体114に形成されたエアー通路116及びエアーパッド本体118に形成されたエアー噴出口119を介して噴出されたエアーが被加工基板60に吹き付けられるようになっている。なお、エアーパッド113Bは、基板ホルダ101の開口部102内に配置されている。
さらに、図15に示すように、被加工基板60の上方及び下方のいずれにも、シャフト49,103に回動自在に装着されたローラ部材48G,105を有する加圧ユニット(全体構成については省略)を配置するようにしてもよい。ここで、ローラ部材48G,105を有する加圧ユニットはいずれも、互いに同期した状態で被加工基板60の割断予定線71に沿って移動するように構成されている。なお、ローラ部材48Gは、図1に示す加圧ユニット45と同様の構成を備えている。また、ローラ部材105は、図1に示す加圧ユニット45と同様の構成を備えた加圧ユニットに組み込まれており、全体として、基板ホルダ101の開口部102内に配置されている。
第2の実施の形態
次に、本発明の第2の実施の形態について説明する。なお、本発明の第2の実施の形態は、基板ホルダ51A上に配置された被加工基板60に対して、被加工基板60の下方に配置された加熱冷却ユニット10により被加工基板60の割断加工を行う点を除いて、他は上述した第1の実施の形態と略同一である。本発明の第2の実施の形態において、上述した第1の実施の形態と同一部分には同一符号を付して詳細な説明は省略する。
図17に示すように、本発明の第2の実施の形態に係る割断加工システム1′は、上述した第1の実施の形態の場合と同様に、加熱冷却ユニット10(予熱ユニット20、割断ユニット30及び冷却ユニット40)及び加圧ユニット120からなる加工部ユニット5を備えている。なお、図17に示す割断加工システム1′においては、移動ステージ(図示せず)により、加熱冷却ユニット10(予熱ユニット20、割断ユニット30及び冷却ユニット40)及び加圧ユニット120からなる加工部ユニット5を被加工基板60(基板ホルダ51A)に対して移動させることにより加工部ユニット5と被加工基板60との相対的な移動を実現している。
ここで、図17及び図18に示すように、被加工基板60が載置される基板ホルダ51Aには開口部55が形成されており、この開口部55を通して加熱冷却ユニット10からのレーザ光や冷却剤が被加工基板60に対して照射されたり吹き付けられたりするようになっている。(なお、図18においては、本実施の形態の特徴部分の構成を分かりやすく示すため、基板ホルダ51Aの開口部55内に配置される加熱冷却ユニット10については省略している。)
また、被加工基板60が載置される基板ホルダ51Aの上方には、加圧ユニット120が配置されている。ここで、加圧ユニット120は、被加工基板60に局部的に機械的な応力を印加するためのものであり、加圧ユニット本体121と、加圧ユニット本体121に取り付けられたアーム122と、アーム122の先端部にシャフト124を介して回動自在に装着され被加工基板60の表面に転がり接触しながら当該被加工基板60を押圧して加圧するローラ部材123とを有している。なお、加圧ユニット120は、被加工基板60上で割断予定線71に沿って相対的に移動するようになっており、それに伴ってローラ部材123により被加工基板60上で加圧される領域も被加工基板60の割断予定線71に沿って移動するようになっている。なお、ローラ部材123は、上述したように被加工基板60の表面を滑ることなく当該表面に転がり接触しながら移動する。ここで、加圧ユニット120は、一つのローラ部材123により被加工基板60を押圧する点を除いて、他の基本的な構成は加圧ユニット45と同一である。
なお、上述した加圧ユニット120(第2加圧部)及び基板ホルダ51A(第1加圧部)により加圧機構が構成されている。
より具体的には、図18に示すように、加圧ユニット120のローラ部材123が被加工基板60の上方に配置され、被加工基板60のうち割断予定線71上に位置する部分を、レーザビームLB1,LB2が照射される表面(第1表面)とは反対側の裏面(第2表面)から当該表面(第1表面)へ向けて加圧する。このとき、被加工基板60を支持する基板ホルダ51Aは、当該基板ホルダ51Aに形成された開口部55の両側に位置する部分により、加圧ユニット120のローラ部材123により印加される圧力に対する反作用として、被加工基板60のうち割断予定線71の両側に位置する部分を、レーザビームLB1,LB2が照射される側の表面(第1表面)から裏面(第2表面)へ向けて加圧する。このようにすると、加圧ユニット120に先行して移動する加熱冷却ユニット10により形成された亀裂68に機械的な応力(符号69参照)が印加され、亀裂68がより深く入ることにより、被加工基板60がその割断面のところで容易に切り離される。
このように本発明の第2の実施の形態によれば、レーザビームの照射により被加工基板60に亀裂68を生じさせた後に当該亀裂68を押し拡げるように(すなわち割断面に間隙を持たせるように)局部的に機械的な応力を印加するようにしているので、上述した第1の実施の形態の場合と同様に、亀裂68の形成時に機械的な応力が与えられることにより生じる被加工基板60の割断面の品質(割断面の表面粗さや、真直性、割断面のガラス表面に対する直角度)の劣化を抑え、被加工基板60の裏面まで割断面を効果的に到達させることが可能である。このため、被加工基板60の品質(割断面の表面粗さや、真直性、割断面のガラス表面に対する直角度)を良好に保ちつつ、被加工基板60の割断速度の高速化を図ることができる。
なお、上述した第2の実施の形態においては、加圧ユニット120のローラ部材123により印加される圧力に対する反作用を利用して、基板ホルダ51Aにより被加工基板60のうち割断予定線71の両側に位置する部分を加圧するようにしているが、これに限らず、図19に示すように、被加工基板60の割断予定線71に沿って複数のエアー通路56が配列された基板ホルダ51Bにおいて、被加工基板60が載置される載置面51aに形成された複数のエアー吸引口57からエアー通路56を介してエアーを吸引することにより被加工基板60を加圧するようにしてもよい。なおこのとき、各エアー吸引口57によるエアーの吸引状態を電動式バルブなどによって被加工基板60の割断予定線71に沿って順次切り替えることにより、被加工基板60上で加圧される領域を移動させるようにしてもよい。ここで、このようにして各エアー吸引口57によるエアーの吸引状態を電動式バルブなどによって被加工基板60の割断予定線71に沿って順次切り替える場合には、図20に示すように、加圧ユニット120自体を省略することもできる。
また、上述した第2の実施の形態においては、被加工基板60を裏面側から加圧する機構として、ローラ部材123を有する加圧ユニット120を用いているが、これに限らず、図21に示すように、被加工基板60にエアー(空気やその他のガス(窒素や酸素などを含む)などの気体)を吹き付けて加圧するエアーパッド(気体吹付機構)130を用いてもよい。ここで、エアーパッド130は、被加工基板60の割断予定線71に沿って移動することにより、当該被加工基板60上で加圧される領域が移動するように構成されている。なお、エアーパッド130は、支持体131に支持されたエアーパッド本体132を有しており、支持体131に形成されたエアー通路133及びエアーパッド本体132に形成されたエアー噴出口134を介して噴出されたエアーが被加工基板60に吹き付けられるようになっている。
さらに、上述した第2の実施の形態においては、被加工基板60を裏面側から加圧する機構として、被加工基板60の上方に配置された、ローラ部材123を有する加圧ユニット120を用いているが、これに限らず、図22に示すように、被加工基板60の下方に配置された、空気などのエアーを吸引して加圧するエアーパッド(気体吸引機構)140を用いるようにしてもよい。ここで、エアーパッド140は、被加工基板60の割断予定線71に沿って移動することにより、当該被加工基板60上で加圧される領域を移動させることができるように構成されている。なお、エアーパッド140は、支持体141に支持されたエアーパッド本体142を有しており、支持体141に形成されたエアー通路143及びエアーパッド本体142に形成されたエアー吸引口144を介してエアーを吸引することにより被加工基板60を加圧するようになっている。なおこのとき、図23に示すように、被加工基板60の下方に配置されたエアーパッド140とともに、被加工基板60の上方に配置された、ローラ部材123を有する加圧ユニット120を用いるようにしてもよい。
なお、上述した第2の実施の形態においては、移動ステージ(図示せず)により被加工基板60(基板ホルダ51A)に対して加工部ユニット5側を移動させることにより加工部ユニット5と被加工基板60との相対的な移動を実現するようにしているが、これに限らず、被加工基板60側(基板ホルダ51A側)を移動させることにより加工部ユニット5と被加工基板60との相対的な移動を実現するようにしてもよい。
本発明の第1の実施の形態に係る割断加工システムの全体構成を示す図。
図1に示す割断加工システムで行われる被加工基板の割断加工の様子を説明するための図。
図1に示す割断加工システムの加圧機構の詳細を説明するための図。
図1に示す割断加工システムの加圧機構に含まれる基板支えの変形例を示す図。
図1に示す割断加工システムの加圧機構に含まれる加圧ユニットのローラ部材の変形例を示す図。
図1に示す割断加工システムの加圧機構の第1の変形例を示す図。
図1に示す割断加工システムの加圧機構の第2の変形例を示す図。
図1に示す割断加工システムの加圧機構の第3の変形例を示す図。
図1に示す割断加工システムの加圧機構の第4の変形例を示す図。
図1に示す割断加工システムの加圧機構の第5の変形例を示す図。
図1に示す割断加工システムの加圧機構の第6の変形例を示す図。
図1に示す割断加工システムの加圧機構の第7の変形例を示す図。
図1に示す割断加工システムの加圧機構の第8の変形例を示す図。
図1に示す割断加工システムの加圧機構の第9の変形例を示す図。
図1に示す割断加工システムの加圧機構の第10の変形例を示す図。
図1に示す割断加工システムにより得られた被加工基板の割断面の品質を説明するための図。
本発明の第2の実施の形態に係る割断加工システムの全体構成を示す図。
図17に示す割断加工システムの加圧機構の第1の変形例を示す図。
図17に示す割断加工システムの加圧機構の第2の変形例を示す図。
図17に示す割断加工システムの加圧機構の第3の変形例を示す図。
図17に示す割断加工システムの加圧機構の第4の変形例を示す図。
図17に示す割断加工システムの加圧機構の第5の変形例を示す図。
図17に示す割断加工システムの加圧機構の第6の変形例を示す図。
符号の説明
1,1′ 割断加工システム
5 加工部ユニット
10 加熱冷却ユニット
20 予熱ユニット
21 レーザ発振器
22 反射ミラー
23 ポリゴンミラー
30 割断ユニット
31 レーザ発振器
32 反射ミラー
33 ポリゴンミラー
40 冷却ユニット
41 冷却ノズル
45 加圧ユニット
46 加圧ユニット本体
47 アーム
48,48A〜48F,48G ローラ部材
49 シャフト
50 移動ユニット
51,51A,51B 基板ホルダ
51a 載置面
52 位置決めピン
53 移動ステージ
54,54A〜54F 基板支え
55 開口部
56 エアー通路
57 エアー吸引口
60 被加工基板
61 上基板
62 下基板
63 シール材
65,66 レーザビームの照射パターン
67 冷却剤の吹付パターン
68 亀裂(割断線)
69 応力
71 割断予定線
80A〜80D エアーパッド
81 支持体
82 エアーパッド本体
82a 底面
83,87 エアー通路
84,85,89 エアー噴出口
86,88 開口部
91A,91B 基板ホルダ
91a 載置面
92,94 エアー通路
93 エアー噴出口
95 エアー吸引口
101 基板ホルダ
102 開口部
103 シャフト
104,105 ローラ部材
113A,113B エアーパッド
114 支持体
115,118 エアーパッド本体
116 エアー通路
117,119 エアー噴出口
120 加圧ユニット
121 加圧ユニット本体
122 アーム
123 ローラ部材
124 シャフト
130,140 エアーパッド
131,141 支持体
132,142 エアーパッド本体
133,143 エアー通路
134 エアー噴出口
144 エアー吸引口
LB1,LB2 レーザビーム
C 冷却剤