JP4939138B2 - 質量分析装置用イオン光学系の設計方法 - Google Patents
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Description
x=(x|x)x0+(x|α)α0+(x|δ)δ …(1)
α=(α|x)x0+(α|α)α0+(α|δ)δ …(2)
y=(y|y)y0+(y|β)β0 …(3)
β=(β|y)y0+(β|β)β0 …(4)
t=(t|x)x0+(t|α)α0+(t|δ)δ …(5)
ここで、x0、α0は入射面における周回軌道面内で中心軌道に直交する方向の位置及び中心軌道に対する角度(飛行方向)のずれ量である。y0、β0は入射面における周回軌道面に垂直な平面内で中心軌道に直交する方向の位置及び中心軌道に対する角度のずれ量である。x、αは出射面における周回軌道面内で中心軌道に直交する方向の位置及び中心軌道に対する角度の変位量である。y、βは出射面における周回軌道面に垂直な平面内で中心軌道に直交する方向の位置及び中心軌道に対する角度の変位量である。δは入射面におけるエネルギーのずれ量である。tは任意イオンの基準イオンに対する中心軌道に平行な方向への飛行距離のずれ(つまり進み又は遅れ)を表し、基準イオンに対する飛行時間のずれに対応するものである。そして、(x|x)、(x|α)、(x|δ)、(α|x)、(α|α)、(α|δ)、(y|y)、(y|β)、(β|y)、(β|β)、(t|x)、(t|α)、(t|δ)は、イオン光学系において()内の記号の要素により決まる定数であり、イオン光学系の特性を表す。
(t|x)=0 …(6)
(t|α)=0 …(7)
(t|δ)=0 …(8)
であり、これが要求される時間収束条件となる。一方、空間的な特性は、
(x|x)=±1 …(9)
(x|α)=0 …(10)
(x|δ)=0 …(11)
(α|x)=0 …(12)
(α|α)=±1 …(13)
(α|δ)=0 …(14)
(y|y)=±1 …(15)
(y|β)=0 …(16)
(β|y)=0 …(17)
(β|β)=±1 …(18)
で与えられるから、これが要求される空間収束条件となる。上記時間収束条件及び空間収束条件が共に満たされれば、上記閉軌道を飛行するイオンの飛行時間は位置、角度及び運動エネルギーの影響を受けず、イオンの質量のみに依存したものとなる。
時間収束条件として、
(t|x)=(t|α)=(t|δ)=0 …(19)
を満たし、空間収束条件として、
−2<(x|x)+(α|α)<2 …(20)
−2<(y|y)+(β|β)<2 …(21)
を満たすように、前記周回軌道を形成するためのイオン光学系を設計することを特徴としている。
本発明に係る設計方法により設計されたイオン光学系を備える、一実施例(第1実施例)である多重周回飛行時間型質量分析装置について図面を参照して説明する。本実施例の質量分析装置におけるイオン光学系を設計するにあたっては、時間収束条件として
(t|x)=(t|α)=(t|δ)=0 …(19)
を満たし、空間収束条件として、
−2<(x|x)+(α|α)<2 …(20)
−2<(y|y)+(β|β)<2 …(21)
を設定した。そして、周回軌道を第1乃至第4なる4つのトロイダル扇形電場で形成するようにし、且つ幾何学的な構造に二重対称性を持たせるように第1トロイダル扇形電場と第3トロイダル扇形電場とを同一形状とし、第2トロイダル扇形電場と第4トロイダル扇形電場とを同一形状とするようにした上で、各電場を構成するパラメータを探索した。
(x|x)=0.5175
(α|α)=1.1046
(x|x)+(α|α)=1.6221
(x|δ)=0
(y|y)=0.1626
(β|β)=−0.0239
(y|y)+(β|β)=0.1387
(t|x)=0.0004
(t|α)=0.0000
(t|δ)=0.0001
次に、本発明の他の実施例(第2実施例)について図面を参照して説明する。この実施例は第1実施例で説明したイオン光学系1をフーリエ変換型質量分析装置に適用したものである。図7は本実施例の質量分析装置におけるイオン光学系1の概略上面図、図8は本装置で作成される飛行時間スペクトルの一例を示す図である。
E1、E2、E3、E4…トロイダル扇形電場
2…イオン非破壊型検出器
C…周回軌道
Claims (1)
- 複数の扇形電場を含む電場の作用によってイオンを閉じた周回軌道に沿って繰り返し飛行させることで該イオンを質量電荷比に応じて分離する多重周回飛行時間型又はフーリエ変換型質量分析装置のイオン光学系を設計する設計方法であって、
時間収束条件として、
(t|x)=(t|α)=(t|δ)=0
を満たし、空間収束条件として、
−2<(x|x)+(α|α)<2
−2<(y|y)+(β|β)<2
を満たすように、前記周回軌道を形成するためのイオン光学系を設計することを特徴とする質量分析装置用イオン光学系の設計方法。
但し、前記イオン光学系におけるイオン軌道の表現方法は次の通りとする。即ち、イオンが入射面から入射し任意のイオン光学系により輸送されて出射面から出射する場合に、基準となる特定エネルギーを持つイオンの軌道を中心軌道としたとき、該基準イオンからずれた初期値を持って入射面から入射したイオンの、出射面において中心軌道に対する変位を次のような一次近似式で表すものとする。
x=(x|x)x0+(x|α)α0+(x|δ)δ
α=(α|x)x0+(α|α)α0+(α|δ)δ
y=(y|y)y0+(y|β)β0
β=(β|y)y0+(β|β)β0
t=(t|x)x0+(t|α)α0+(t|δ)δ
ここで、x0、α0は入射面における周回軌道面内で中心軌道に直交する方向の位置及び中心軌道に対する角度(飛行方向)のずれ量である。y0、β0は入射面における周回軌道面に垂直な平面内で中心軌道に直交する方向の位置及び中心軌道に対する角度のずれ量である。x、αは出射面における周回軌道面内で中心軌道に直交する方向の位置及び中心軌道に対する角度の変位量である。y、βは出射面における周回軌道面に垂直な平面内で中心軌道に直交する方向の位置及び中心軌道に対する角度の変位量である。δは入射面におけるエネルギーのずれ量である。tは任意イオンの基準イオンに対する中心軌道に平行な方向への飛行距離のずれを表し、基準イオンに対する飛行時間のずれに対応するものである。そして、(x|x)、(x|α)、(x|δ)、(α|x)、(α|α)、(α|δ)、(y|y)、(y|β)、(β|y)、(β|β)、(t|x)、(t|α)、(t|δ)は、イオン光学系において()内の記号の要素により決まる定数であり、イオン光学系の特性を表す。
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