JP4954992B2 - 半導体光反射素子及び該半導体光反射素子を用いる半導体レーザ及び該半導体レーザを用いる光トランスポンダ - Google Patents
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- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 title claims description 247
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 title claims description 174
- 230000001105 regulatory effect Effects 0.000 claims description 120
- 238000005253 cladding Methods 0.000 claims description 94
- 239000000758 substrate Substances 0.000 claims description 62
- 238000009826 distribution Methods 0.000 claims description 36
- 239000000463 material Substances 0.000 claims description 30
- 230000008859 change Effects 0.000 claims description 15
- 238000010438 heat treatment Methods 0.000 claims description 10
- 230000005540 biological transmission Effects 0.000 claims description 5
- 239000012071 phase Substances 0.000 description 16
- GPXJNWSHGFTCBW-UHFFFAOYSA-N Indium phosphide Chemical compound [In]#P GPXJNWSHGFTCBW-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 15
- 238000000034 method Methods 0.000 description 13
- 238000002347 injection Methods 0.000 description 11
- 239000007924 injection Substances 0.000 description 11
- 230000003247 decreasing effect Effects 0.000 description 6
- 238000005530 etching Methods 0.000 description 6
- 229910000530 Gallium indium arsenide Inorganic materials 0.000 description 5
- 229910004298 SiO 2 Inorganic materials 0.000 description 5
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 5
- 239000000203 mixture Substances 0.000 description 5
- 230000004048 modification Effects 0.000 description 5
- 238000012986 modification Methods 0.000 description 5
- 239000011295 pitch Substances 0.000 description 5
- KRHYYFGTRYWZRS-UHFFFAOYSA-N Fluorane Chemical compound F KRHYYFGTRYWZRS-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 4
- OAICVXFJPJFONN-UHFFFAOYSA-N Phosphorus Chemical compound [P] OAICVXFJPJFONN-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 4
- 230000009471 action Effects 0.000 description 4
- 229910052698 phosphorus Inorganic materials 0.000 description 4
- 239000011574 phosphorus Substances 0.000 description 4
- 230000008569 process Effects 0.000 description 4
- 238000002310 reflectometry Methods 0.000 description 4
- 238000010408 sweeping Methods 0.000 description 4
- 230000005284 excitation Effects 0.000 description 3
- 238000000926 separation method Methods 0.000 description 3
- 125000006850 spacer group Chemical group 0.000 description 3
- 238000001228 spectrum Methods 0.000 description 3
- 238000001039 wet etching Methods 0.000 description 3
- GYHNNYVSQQEPJS-UHFFFAOYSA-N Gallium Chemical compound [Ga] GYHNNYVSQQEPJS-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- QAOWNCQODCNURD-UHFFFAOYSA-N Sulfuric acid Chemical compound OS(O)(=O)=O QAOWNCQODCNURD-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- KXNLCSXBJCPWGL-UHFFFAOYSA-N [Ga].[As].[In] Chemical compound [Ga].[As].[In] KXNLCSXBJCPWGL-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 229910052785 arsenic Inorganic materials 0.000 description 2
- RQNWIZPPADIBDY-UHFFFAOYSA-N arsenic atom Chemical compound [As] RQNWIZPPADIBDY-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 239000011248 coating agent Substances 0.000 description 2
- 238000000576 coating method Methods 0.000 description 2
- 230000001276 controlling effect Effects 0.000 description 2
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 2
- 229910052733 gallium Inorganic materials 0.000 description 2
- 229910052738 indium Inorganic materials 0.000 description 2
- APFVFJFRJDLVQX-UHFFFAOYSA-N indium atom Chemical compound [In] APFVFJFRJDLVQX-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 2
- 230000010355 oscillation Effects 0.000 description 2
- 238000000206 photolithography Methods 0.000 description 2
- 238000005498 polishing Methods 0.000 description 2
- 230000003595 spectral effect Effects 0.000 description 2
- WKBOTKDWSSQWDR-UHFFFAOYSA-N Bromine atom Chemical class [Br] WKBOTKDWSSQWDR-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 238000004458 analytical method Methods 0.000 description 1
- 230000000903 blocking effect Effects 0.000 description 1
- 238000004891 communication Methods 0.000 description 1
- 239000013078 crystal Substances 0.000 description 1
- 238000001312 dry etching Methods 0.000 description 1
- 238000010894 electron beam technology Methods 0.000 description 1
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 1
- 230000001747 exhibiting effect Effects 0.000 description 1
- 230000009036 growth inhibition Effects 0.000 description 1
- JGJLWPGRMCADHB-UHFFFAOYSA-N hypobromite Inorganic materials Br[O-] JGJLWPGRMCADHB-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 1
- 229910052751 metal Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000002184 metal Substances 0.000 description 1
- 230000002093 peripheral effect Effects 0.000 description 1
- 229920002120 photoresistant polymer Polymers 0.000 description 1
- 238000001020 plasma etching Methods 0.000 description 1
- 230000007704 transition Effects 0.000 description 1
- 238000000927 vapour-phase epitaxy Methods 0.000 description 1
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- H01S—DEVICES USING THE PROCESS OF LIGHT AMPLIFICATION BY STIMULATED EMISSION OF RADIATION [LASER] TO AMPLIFY OR GENERATE LIGHT; DEVICES USING STIMULATED EMISSION OF ELECTROMAGNETIC RADIATION IN WAVE RANGES OTHER THAN OPTICAL
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- H01S5/062—Arrangements for controlling the laser output parameters, e.g. by operating on the active medium by varying the potential of the electrodes
- H01S5/0625—Arrangements for controlling the laser output parameters, e.g. by operating on the active medium by varying the potential of the electrodes in multi-section lasers
- H01S5/06255—Controlling the frequency of the radiation
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- H01S5/06255—Controlling the frequency of the radiation
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- H01S—DEVICES USING THE PROCESS OF LIGHT AMPLIFICATION BY STIMULATED EMISSION OF RADIATION [LASER] TO AMPLIFY OR GENERATE LIGHT; DEVICES USING STIMULATED EMISSION OF ELECTROMAGNETIC RADIATION IN WAVE RANGES OTHER THAN OPTICAL
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- H01S5/1206—Construction or shape of the optical resonator, e.g. extended or external cavity, coupled cavities, bent-guide, varying width, thickness or composition of the active region the resonator having a periodic structure, e.g. in distributed feedback [DFB] lasers having a non constant or multiplicity of periods
- H01S5/1212—Chirped grating
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Description
λB=2nΛ
で表されることが知られている。
n型基板(23)と、
前記n型基板(23)自体の一部または前記n型基板(23)の上方に形成されているn型クラッド層(23a)と、
前記n型基板(23)の上方に形成されているp型クラッド層(22)と、
前記p型クラッド層(22)と前記n型クラッド層(23a)との間に形成されている、光を導波するためのガイド層(24)と、
前記n型基板(23)の底面及び前記p型クラッド層(22)の上面にそれぞれ形成されている第1及び第2の電極(40,41)と、
前記ガイド層(24)の近傍に該ガイド層(24)の光導波方向に沿って規則的に配置された複数の電流規制部材(31)と、を具備し、該複数の電流規制部材(31)は、周囲の物質とほぼ等しい屈折率を示すと共に、前記第1及び第2の電極(40,41)間に電流が注入された状態で前記ガイド層(24)内に該ガイド層(24)の光導波方向に沿って規則的な電流密度分布をもたらすと共に、該規則的な電流密度分布に基づいて前記ガイド層(24)内に該ガイド層(24)の光導波方向に沿って規則的な屈折率の分布を生じせしめるようになっており、
それによって、前記ガイド層(24)は、外部から入射される光のうち、前記規則的な屈折率の分布によって決定される波長の光を外部に反射することを特徴とする半導体光反射素子(20)が提供される。
前記複数の電流規制部材(31)のうち前記所定の間隔としてΛ1を有する第1の電流ブロック群(30A)に対応する第1の個別電極(41A)と前記共通電極(40)とに電流を注入した状態でブラッグ反射の条件λB1=2n1Λ1(但し、n1は導波路の等価屈折率である)を満たす波長λB1で反射率がピークとなる第1の反射特性(F1)を示し、
前記複数の電流規制部材(31)のうち前記所定の間隔としてΛ2を有する第2の電流ブロック群(30B)に対応する第2の個別電極(41B)と前記共通電極(40)とに電流を注入した状態でブラッグ反射の条件λB2=2n2Λ2(但し、n2は導波路の等価屈折率である)を満たす波長λB2で反射率がピークとなる第2の反射特性(F2)を示し、
前記複数の電流規制部材(31)のうち前記所定の間隔としてΛ3を有する第3の電流ブロック群(30C)に対応する第3の個別電極(41C)と前記共通電極(40)とに電流を注入した状態でブラッグ反射の条件λB3=2n3Λ3(但し、n3は導波路の等価屈折率である)を満たす波長λB3で反射率がピークとなる第3の反射特性(F3)を示し、
前記第1の反射特性(F1)、前記第2の反射特性(F2)及び前記第3の反射特性 (F3)のうち少なくとも二つの反射特性を任意の組み合わせで切り換え可能としたことを特徴とする第5の態様に従う半導体光反射素子(20)が提供される。
前記第1及び第2の電極(40.41)は、前記複数の電流規制部材(31)の間隔または前記ガイド層(24)の幅が規則的に変化している領域毎に選択的に電流を注入できるように、一方の電極が共通電極(40)として形成され、他方の電極が複数の個別電極(411、412、413、…、41N−1、41N)として形成されていることを特徴とする第1の態様に従う半導体光反射素子(20)が提供される。
光を誘導放出するための活性層(61)がp型クラッド層(22)とn型クラッド層(23a)の間に形成され、前記活性層(61)の少なくとも一端側に波長選択性を有して光を反射する半導体光反射器(20)が設けられ、前記活性層(61)で誘導放出された光のうち、前記半導体光反射器(20)によって反射される波長の光を選択的に発振する半導体レーザにおいて、
前記半導体光反射器(20)は、
n型基板(23)と、
前記n型基板(23)自体の一部または前記n型基板(23)の上方に形成されているn型クラッド層(23a)と、
前記n型基板(23)の上方に形成されているp型クラッド層(22)と、
前記p型クラッド層(22)と前記n型クラッド層(23a)との間に形成されている、光を導波するためのガイド層(24)と、
前記n型基板(23)の底面及び前記p型クラッド層(22)の上面にそれぞれ形成されている第1及び第2の電極(40,41)と、
前記ガイド層(24)の近傍に該ガイド層(24)の光導波方向に沿って規則的に配置された複数の電流規制部材(31)と、を具備し、該複数の電流規制部材(31)は、周囲の物質とほぼ等しい屈折率を示すと共に、前記第1及び第2の電極(40,41)間に電流が注入された状態で前記ガイド層(24)内に該ガイド層(24)の光導波方向に沿って規則的な電流密度分布をもたらすと共に、該規則的な電流密度分布に基づいて前記ガイド層(24)内に該ガイド層(24)の光導波方向に沿って規則的な屈折率の分布を生じせしめるようになっており、
それによって、前記ガイド層(24)は入射される光のうち、前記規則的な屈折率の分布によって決定される波長の光を外部へ反射することを特徴とする半導体レーザ(60)が提供される。
前記複数の電流規制部材(31)のうち前記所定の間隔としてΛ1を有する第1の電流ブロック群(30A)に対応する第1の個別電極(41A)と前記共通電極(40)とに電流を注入した状態でブラッグ反射の条件λB1=2n1Λ1(但し、n1は導波路の等価屈折率である)を満たす波長λB1で反射率がピークとなる第1の反射特性(F1)を示し、
前記複数の電流規制部材(31)のうち前記所定の間隔としてΛ2を有する第2の電流ブロック群(30B)に対応する第2の個別電極(41B)と前記共通電極(40)とに電流を注入した状態でブラッグ反射の条件λB2=2n2Λ2(但し、n2は導波路の等価屈折率である)を満たす波長λB2で反射率がピークとなる第2の反射特性(F2)を示し、
前記複数の電流規制部材(31)のうち前記所定の間隔としてΛ3を有する第3の電流ブロック群(30C)に対応する第3の個別電極(41C)と前記共通電極(40)とに電流を注入した状態でブラッグ反射の条件λB3=2n3Λ3(但し、n3は導波路の等価屈折率である)を満たす波長λB3で反射率がピークとなる第3の反射特性(F3)を示し、
前記第1の反射特性(F1)、前記第2の反射特性(F2)及び前記第3の反射特性 (F3)のうち少なくとも二つの反射特性を任意の組み合わせで切り換え可能としたことを特徴とする第13の態様に従う半導体レーザ(60)が提供される。
前記第1及び第2の電極(40.41)は、前記複数の電流規制部材(31)の間隔または前記ガイド層(24)の幅が規則的に変化している領域毎に選択的に電流を注入できるように、一方の電極が共通電極(40)として形成され、他方の電極が複数の個別電極(411、412、413、…、41N−1、41N)として形成されていることを特徴とする第9の態様に従う半導体レーザ(60)が提供される。
波長可変型の半導体レーザ(60)の出射光を電気信号で変調して出力する送信部(91)と、入射光を電気信号に変換して出力する受信部(95)とを有する光トランスポンダ(90)において、
前記送信部(91)の半導体レーザ(60)は、光を誘導放出するための活性層(61)がp型クラッド層(22)とn型クラッド層(23a)の間に形成され、前記活性層 (61)の少なくとも一端側に波長選択性を有して光を反射する半導体光反射器(20)が設けられ、前記活性層(61)で誘導放出された光のうち、前記半導体光反射器(20)によつて反射される波長の光を選択的に発振する半導体レーザ(60)であって、
前記半導体レーザ(60)の前記半導体光反射器(20)は、
n型基板(23)と、
前記n型基板(23)自体の一部または前記n型基板(23)の上方に形成されているn型クラッド層(23a)と、
前記n型基板(23)の上方に形成されているp型クラッド層(22)と、
前記p型クラッド層(22)と前記n型クラッド層(23a)との間に形成されている、光を導波するためのガイド層(24)と、
前記n型基板(23)の底面及び前記p型クラッド層(22)の上面にそれぞれ形成されている第1及び第2の電極(40,41)と、
前記ガイド層(24)の近傍に該ガイド層(24)の光導波方向に沿って規則的に配置された複数の電流規制部材(31)とを具備し、該複数の電流規制部材(31)は、周囲の物質とほぼ等しい屈折率を示すと共に、前記第1及び第2の電極(40,41)間に電流が注入された状態で前記ガイド層(24)内に該ガイド層(24)の光導波方向に沿って規則的な電流密度分布をもたらすと共に、該規則的な電流密度分布に基づいて前記ガイド層(24)内に該ガイド層(24)の光導波方向に沿って規則的な屈折率の分布を生じせしめるようになっており、
それによって、前記ガイド層(24)は入射される光のうち、前記規則的な屈折率の分布によって決定される波長の光を反射することを特徴とする光トランスポンダ(90)が提供される。
前記複数の電流規制部材(31)のうち前記所定の間隔としてΛ2を有する第2の電流ブロック群(30B)に対応する第2の個別電極(41B)と前記共通電極(40)とに電流を注入した状態でブラッグ反射の条件λB2=2n2Λ2(但し、n2は導波路の等価屈折率である)を満たす波長λB2で反射率がピークとなる第2の反射特性(F2)を示し、
前記複数の電流規制部材(31)のうち前記所定の間隔としてΛ3を有する第3の電流ブロック群(30C)に対応する第3の個別電極(41C)と前記共通電極(40)とに電流を注入した状態でブラッグ反射の条件λB3=2n3Λ3(但し、n3は導波路の等価屈折率である)を満たす波長λB3で反射率がピークとなる第3の反射特性(F3)を示し、
前記第1の反射特性(F1)、前記第2の反射特性(F2)及び前記第3の反射特性 (F3)のうち少なくとも二つの反射特性を任意の組み合わせで切り換え可能としたことを特徴とする第21の態様に従う光トランスポンダ(90)が提供される。
前記第1及び第2の電極(40.41)は、前記複数の電流規制部材(31)の間隔または前記ガイド層(24)の幅が規則的に変化している領域毎に選択的に電流を注入できるように、一方の電極が共通電極(40)として形成され、他方の電極が複数の個別電極(411、412、413、…、41N−1、41N)として形成されていることを特徴とする形成されていることを特徴とする第17の態様に従う光トランスポンダ(90)が提供される。
まず、図1乃至図3を参照して、本発明の第1実施形態による半導体光素子としての半導体光反射器20について説明する。
λB1=2n1Λ1(但し、n1は導波路の等価屈折率である。)
を満たす波長λB1で反射が起こる。
λB2=2n2Λ2(但し、n2は導波路の等価屈折率である。)
を満たす波長λB2で反射が起こる。
λB3=2n3Λ3(但し、n3は導波路の等価屈折率である。)
を満たす波長λB3で反射が起こる。
次に、図10、図11を参照して、本発明の第2実施形態による半導体レーザ60について説明する。
次に、図12を参照して、本発明の第3実施形態による半導体レーザ60について説明する。
次に、図13を参照して、本発明の第4実施形態による半導体レーザ60について説明する。
次に、図14を参照して、本発明の第5実施形態による半導体レーザ60について説明する。
次に、図15を参照して、上記した各実施形態の半導体レーザ60を送信部91に用い本発明の第6実施形態による光トランスポンダ90について説明する。
Claims (24)
- n型基板と、
前記n型基板自体の一部または前記n型基板の上方に形成されているn型クラッド層と、
前記n型基板の上方に形成されているp型クラッド層と、
前記p型クラッド層と前記n型クラッド層との間に形成されている、光を導波するためのガイド層と、
前記n型基板の底面及び前記p型クラッド層の上面にそれぞれ形成されている第1及び第2の電極と、
前記ガイド層の近傍に該ガイド層の光導波方向に沿って規則的に配置された複数の電流規制部材と、を具備し、該複数の電流規制部材は、周囲の物質とほぼ等しい屈折率を示すと共に、前記第1及び第2の電極間に電流が注入された状態で前記ガイド層内に該ガイド層の光導波方向に沿って規則的な電流密度分布をもたらすと共に、該規則的な電流密度分布に基づいて前記ガイド層内に該ガイド層の光導波方向に沿って規則的な屈折率の分布を生じせしめるようになっており、
それによって、前記ガイド層は、外部から入射される光のうち、前記規則的な屈折率の分布によって決定される波長の光を外部に反射することを特徴とする半導体反射光素子。 - 前記複数の電流規制部材は、前記p型クラッド層と前記n型クラッド層との少なくとも一方の内部に形成されていることを特徴とする請求項1に記載の半導体光反射素子。
- 前記複数の電流規制部材は、周囲のクラッド層の導電型と反対の導電型を有していることを特徴する請求項2に記載の半導体光反射素子。
- 前記複数の電流規制部材は、高抵抗材料からなることを特徴する請求項1に記載の半導体光反射素子。
- 前記第1及び第2の電極は、一方の電極が共通電極として形成され、他方の電極が複数の個別電極として形成されていることを特徴とする請求項1に記載の半導体光反射素子。
- 前記複数の電流規制部材は、前記複数の個別電極毎に対応付けられたそれぞれ所定の間隔を有する複数の電流ブロック群として形成されており、
前記複数の電流規制部材のうち前記所定の間隔としてΛ1を有する第1の電流ブロック群に対応する第1の個別電極と前記共通電極とに電流を注入した状態でブラッグ反射の条件λB1=2n1Λ1(但し、n1は導波路の等価屈折率である)を満たす波長λB1で反射率がピークとなる第1の反射特性を示し、
前記複数の電流規制部材のうち前記所定の間隔としてΛ2を有する第2の電流ブロック群に対応する第2の個別電極と前記共通電極とに電流を注入した状態でブラッグ反射の条件λB2=2n2Λ2(但し、n2は導波路の等価屈折率である)を満たす波長λB2で反射率がピークとなる第2の反射特性を示し、
前記複数の電流規制部材のうち前記所定の間隔としてΛ3を有する第3の電流ブロック群に対応する第3の個別電極と前記共通電極とに電流を注入した状態でブラッグ反射の条件λB3=2n3Λ3(但し、n3は導波路の等価屈折率である)を満たす波長λB3で反射率がピークとなる第3の反射特性を示し、
前記第1の反射特性、前記第2の反射特性及び前記第3の反射特性のうち少なくとも二つの反射特性を任意の組み合わせで切り換え可能としたことを特徴とする請求項5に記載の半導体光反射素子。 - 前記複数の電流規制部材の間隔または前記ガイド層の幅の少なくとも一方が前記ガイド層の光導波方向に沿って規則的に変化するように形成され、
前記第1及び第2の電極は、前記複数の電流規制部材の間隔または前記ガイド層の幅が規則的に変化している領域毎に選択的に電流を注入できるように、一方の電極が共通電極として形成され、他方の電極が複数の個別電極として形成されていることを特徴とする請求項1に記載の半導体光反射素子。 - 前記ガイド層の温度を可変するための加熱体が設けられていることを特徴とする請求項1に記載の半導体光反射素子。
- 光を誘導放出するための活性層がp型クラッド層とn型クラッド層の間に形成され、前記活性層の少なくとも一端側に波長選択性を有して光を反射する半導体光反射器が設けられ、前記活性層で誘導放出された光のうち、前記半導体光反射器によって反射される波長の光を選択的に発振する半導体レーザにおいて、
前記半導体光反射器は、
n型基板と、
前記n型基板自体の一部または前記n型基板の上方に形成されているn型クラッド層と、
前記n型基板の上方に形成されているp型クラッド層と、
前記p型クラッド層と前記n型クラッド層との間に形成されている、光を導波するためのガイド層と、
前記n型基板の底面及び前記p型クラッド層の上面にそれぞれ形成されている第1及び第2の電極と、
前記ガイド層の近傍に該ガイド層の光導波方向に沿って規則的に配置された複数の電流規制部材と、を具備し、該複数の電流規制部材は、周囲の物質とほぼ等しい屈折率を示すと共に、前記第1及び第2の電極間に電流が注入された状態で前記ガイド層内に該ガイド層の光導波方向に沿って規則的な電流密度分布をもたらすと共に、該規則的な電流密度分布に基づいて前記ガイド層内に該ガイド層の光導波方向に沿って規則的な屈折率の分布を生じせしめるようになっており、
それによって、前記ガイド層は、外部から入射される光のうち、前記規則的な屈折率の分布によって決定される波長の光を外部に反射することを特徴とする半導体レーザ。 - 前記半導体光反射器の前記複数の電流規制部材は、前記p型クラッド層と前記n型クラッド層との少なくとも一方の内部に形成されていることを特徴とする請求項9に記載の半導体レーザ。
- 前記半導体光反射器の前記複数の電流規制部材は、周囲のクラッド層の導電型と反対の導電型を有していることを特徴する請求項10に記載の半導体レーザ。
- 前記半導体光反射器の前記複数の電流規制部材は、高抵抗材料からなることを特徴する請求項9に記載の半導体レーザ。
- 前記半導体光反射器の前記第1及び第2の電極は、一方の電極が共通電極として形成され、他方の電極が複数の個別電極として形成されていることを特徴とする請求項9に記載の半導体レーザ。
- 前記半導体光反射器の前記複数の電流規制部材は、前記複数の個別電極毎に対応付けられたそれぞれ所定の間隔を有する複数の電流ブロック群として形成されており、
前記複数の電流規制部材のうち前記所定の間隔としてΛ1を有する第1の電流ブロック群に対応する第1の個別電極と前記共通電極とに電流を注入した状態でブラッグ反射の条件λB1=2n1Λ1(但し、n1は導波路の等価屈折率である)を満たす波長λB1で反射率がピークとなる第1の反射特性を示し、
前記複数の電流規制部材のうち前記所定の間隔としてΛ2を有する第2の電流ブロック群に対応する第2の個別電極と前記共通電極とに電流を注入した状態でブラッグ反射の条件λB2=2n2Λ2(但し、n2は導波路の等価屈折率である)を満たす波長λB2で反射率がピークとなる第2の反射特性を示し、
前記複数の電流規制部材のうち前記所定の間隔としてΛ3を有する第3の電流ブロック群)に対応する第3の個別電極と前記共通電極とに電流を注入した状態でブラッグ反射の条件λB3=2n3Λ3(但し、n3は導波路の等価屈折率である)を満たす波長λB3で反射率がピークとなる第3の反射特性を示し、
前記第1の反射特性、前記第2の反射特性及び前記第3の反射特性のうち少なくとも二つの反射特性を任意の組み合わせで切り換え可能としたことを特徴とする請求項13に記載の半導体レーザ。 - 前記半導体光反射器の前記複数の電流規制部材の間隔または前記ガイド層の幅の少なくとも一方が前記ガイド層の光導波方向に沿って規則的に変化するように形成され、
前記第1及び第2の電極は、前記複数の電流規制部材の間隔または前記ガイド層の幅が規則的に変化している領域毎に選択的に電流を注入できるように、一方の電極が共通電極として形成され、他方の電極が複数の個別電極として形成されていることを特徴とする請求項9に記載の半導体レーザ。 - 前記半導体光反射器には前記ガイド層の温度を可変するための加熱体が設けられていることを特徴とする請求項9に記載の半導体レーザ。
- 波長可変型の半導体レーザの出射光を電気信号で変調して出力する送信部と、入射光を電気信号に変換して出力する受信部とを有する光トランスポンダにおいて、
前記送信部の半導体レーザは、光を誘導放出するための活性層がp型クラッド層とn型クラッド層の間に形成され、前記活性層の少なくとも一端側に波長選択性を有して光を反射する半導体光反射器が設けられ、前記活性層で誘導放出された光のうち、前記半導体光反射器によって反射される波長の光を選択的に発振する半導体レーザであって、
前記半導体レーザの前記半導体光反射器は、
n型基板と、
前記n型基板自体の一部または前記n型基板の上方に形成されているn型クラッド層と、
前記n型基板の上方に形成されているp型クラッド層と、
前記p型クラッド層と前記n型クラッド層との間に形成されている、光を導波するためのガイド層と、
前記n型基板の底面及び前記p型クラッド層の上面にそれぞれ形成されている第1及び第2の電極と、
前記ガイド層の近傍に該ガイド層の光導波方向に沿って規則的に配置された複数の電流規制部材とを具備し、該複数の電流規制部材は、周囲の物質とほぼ等しい屈折率を示すと共に、前記第1及び第2の電極間に電流が注入された状態で前記ガイド層内に該ガイド層の光導波方向に沿って規則的な電流密度分布をもたらすと共に、該規則的な電流密度分布に基づいて前記ガイド層内に該ガイド層の光導波方向に沿って規則的な屈折率の分布を生じせしめるようになっており、
それによって、前記ガイド層は、外部から入射される光のうち、前記規則的な屈折率の分布によって決定される波長の光を外部に反射することを特徴とする光トランスポンダ。 - 前記半導体レーザの前記半導体光反射器の前記複数の電流規制部材は、前記p型クラッド層と前記n型クラッド層との少なくとも一方の内部に形成されていることを特徴とする請求項17に記載の光トランスポンダ。
- 前記半導体レーザの前記半導体光反射器の前記複数の電流規制部材は、周囲のクラッド層の導電型と反対の導電型を有していることを特徴する請求項18に記載の光トランスポンダ。
- 前記半導体レーザの前記半導体光反射器の前記複数の電流規制部材は、高抵抗材料からなることを特徴する請求項17に記載の光トランスポンダ。
- 前記半導体レーザの前記半導体光反射器の前記第1及び第2の電極は、一方の電極が共通電極として形成され、他方の電極が複数の個別電極として形成されていることを特徴とする請求項17に記載の光トランスポンダ。
- 前記半導体レーザの前記半導体光反射器の前記複数の電流規制部材は、前記複数の個別電極毎に対応付けられたそれぞれ所定の間隔を有する複数の電流ブロック群として形成されており、
前記複数の電流規制部材のうち前記所定の間隔としてΛ1を有する第1の電流ブロック群に対応する第1の個別電極と前記共通電極とに電流を注入した状態でブラッグ反射の条件λB1=2n1Λ1(但し、n1は導波路の等価屈折率である)を満たす波長λB1で反射率がピークとなる第1の反射特性を示し、
前記複数の電流規制部材のうち前記所定の間隔としてΛ2を有する第2の電流ブロック群に対応する第2の個別電極と前記共通電極とに電流を注入した状態でブラッグ反射の条件λB2=2n2Λ2(但し、n2は導波路の等価屈折率である)を満たす波長λB2で反射率がピークとなる第2の反射特性を示し、
前記複数の電流規制部材のうち前記所定の間隔としてΛ3を有する第3の電流ブロック群に対応する第3の個別電極と前記共通電極とに電流を注入した状態でブラッグ反射の条件λB3=2n3Λ3(但し、n3は導波路の等価屈折率である)を満たす波長λB3で反射率がピークとなる第3の反射特性を示し、
前記第1の反射特性、前記第2の反射特性及び前記第3の反射特性のうち少なくとも二つの反射特性を任意の組み合わせで切り換え可能としたことを特徴とする請求項21に記載の光トランスポンダ。 - 前記半導体レーザの前記半導体光反射器の前記複数の電流規制部材の間隔または前記ガイド層の幅の少なくとも一方が前記ガイド層の光導波方向に沿って規則的に変化するように形成され、
前記第1及び第2の電極は、前記複数の電流規制部材の間隔または前記ガイド層の幅が規則的に変化している領域毎に選択的に電流を注入できるように、一方の電極が共通電極として形成され、他方の電極が複数の個別電極として形成されていることを特徴とする請求項17に記載の光トランスポンダ。 - 前記半導体レーザの前記半導体光反射器には、前記ガイド層の温度を可変するための加熱体が設けられていることを特徴とする請求項17に記載の光トランスポンダ。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2008518528A JP4954992B2 (ja) | 2006-10-31 | 2007-10-09 | 半導体光反射素子及び該半導体光反射素子を用いる半導体レーザ及び該半導体レーザを用いる光トランスポンダ |
Applications Claiming Priority (4)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2006295482 | 2006-10-31 | ||
| JP2006295482 | 2006-10-31 | ||
| JP2008518528A JP4954992B2 (ja) | 2006-10-31 | 2007-10-09 | 半導体光反射素子及び該半導体光反射素子を用いる半導体レーザ及び該半導体レーザを用いる光トランスポンダ |
| PCT/JP2007/069697 WO2008053672A1 (fr) | 2006-10-31 | 2007-10-09 | Composant optique à semiconducteur, laser à semiconducteur utilisant le composant optique à semiconducteur et transpondeur optique utilisant le laser à semiconducteur |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPWO2008053672A1 JPWO2008053672A1 (ja) | 2010-02-25 |
| JP4954992B2 true JP4954992B2 (ja) | 2012-06-20 |
Family
ID=39344021
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2008518528A Expired - Fee Related JP4954992B2 (ja) | 2006-10-31 | 2007-10-09 | 半導体光反射素子及び該半導体光反射素子を用いる半導体レーザ及び該半導体レーザを用いる光トランスポンダ |
Country Status (4)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US8184671B2 (ja) |
| EP (1) | EP2091118A4 (ja) |
| JP (1) | JP4954992B2 (ja) |
| WO (1) | WO2008053672A1 (ja) |
Families Citing this family (14)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP5784364B2 (ja) * | 2010-08-17 | 2015-09-24 | アンリツ株式会社 | 半導体発光素子の駆動方法、発光装置、および当該発光装置を用いた光パルス試験器 |
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| WO2016144831A1 (en) | 2015-03-06 | 2016-09-15 | Apple Inc. | Independent control of emission wavelength and output power of a semiconductor laser |
| CN107624206B (zh) * | 2015-04-30 | 2022-05-27 | 苹果公司 | 包括集成调谐元件的游标效应dbr激光器 |
| JP6350563B2 (ja) * | 2016-02-29 | 2018-07-04 | 住友大阪セメント株式会社 | 光変調器、及び光変調器を用いた光送信装置 |
| US11552454B1 (en) | 2017-09-28 | 2023-01-10 | Apple Inc. | Integrated laser source |
| CN113725725B (zh) | 2017-09-28 | 2025-05-02 | 苹果公司 | 使用量子阱混合技术的激光架构 |
| CN108155557B (zh) * | 2017-12-25 | 2019-11-05 | 南京大学 | 一种半导体激光器和控制方法 |
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-
2007
- 2007-10-09 JP JP2008518528A patent/JP4954992B2/ja not_active Expired - Fee Related
- 2007-10-09 US US11/992,980 patent/US8184671B2/en not_active Expired - Fee Related
- 2007-10-09 EP EP07829435.2A patent/EP2091118A4/en not_active Withdrawn
- 2007-10-09 WO PCT/JP2007/069697 patent/WO2008053672A1/ja not_active Ceased
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Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| WO2008053672A1 (fr) | 2008-05-08 |
| US20100150579A1 (en) | 2010-06-17 |
| US8184671B2 (en) | 2012-05-22 |
| EP2091118A4 (en) | 2015-05-27 |
| EP2091118A1 (en) | 2009-08-19 |
| JPWO2008053672A1 (ja) | 2010-02-25 |
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