JP5000585B2 - 電流センサ - Google Patents

電流センサ Download PDF

Info

Publication number
JP5000585B2
JP5000585B2 JP2008132010A JP2008132010A JP5000585B2 JP 5000585 B2 JP5000585 B2 JP 5000585B2 JP 2008132010 A JP2008132010 A JP 2008132010A JP 2008132010 A JP2008132010 A JP 2008132010A JP 5000585 B2 JP5000585 B2 JP 5000585B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
offset
sensor signal
hall element
signal
circuit
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired - Fee Related
Application number
JP2008132010A
Other languages
English (en)
Other versions
JP2009281772A (ja
Inventor
典之 篠塚
修 佐々木
雅也 高橋
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Honda Motor Co Ltd
Original Assignee
Honda Motor Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Honda Motor Co Ltd filed Critical Honda Motor Co Ltd
Priority to JP2008132010A priority Critical patent/JP5000585B2/ja
Publication of JP2009281772A publication Critical patent/JP2009281772A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP5000585B2 publication Critical patent/JP5000585B2/ja
Expired - Fee Related legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Images

Landscapes

  • Measuring Instrument Details And Bridges, And Automatic Balancing Devices (AREA)
  • Measurement Of Current Or Voltage (AREA)
  • Hall/Mr Elements (AREA)

Description

本発明は、第1ホール素子および第2ホール素子を用いた電流センサに関する。
従来より、ホール素子を利用した電流センサを用いて、各種電気機器のライン電流の電流値を検出することが行われている。
この電流センサでは、具体的には、ギャップを有するコアを用意し、測定対象となるライン電流がコアの中心軸上を通過するように配置する。そして、ギャップの間にホール素子を配置し、このホール素子に制御電流を流す。
この電流センサによれば、ライン電流に比例して発生する磁力は、コアで収束されて、ホール素子を通過する。すると、このホール素子は、磁力を電圧に変換して、検出信号として出力する。
ところで、以上の電流センサを構成するホール素子には、部品較差、固体差等に伴う固有のオフセット電圧が存在する。
そこで、ホール素子のオフセット電圧を予め測定しておき、この測定結果に基づいてオフセット電圧を除去する手法がある。この手法によれば、応答性を維持しつつオフセット電圧を除去できるが、このオフセット電圧は、周囲温度の変化や時間の経過に伴って変化するという特性があるため、一度設定したオフセット電圧のレベルが変化する場合があった。
この問題を解決するため、ホール素子に流す制御電流の極性を切り換えるチョッピング制御を行って、出力された電流検出信号の差分値を求めることにより、ホール素子のオフセット電圧を除去する手法が提案されている(例えば、特許文献1参照)。
この手法によれば、周囲温度の変化や時間の経過などによりオフセット電圧のレベルが変化しても、このオフセット電圧を動的に除去できる。
特開2005−300303号公報
しかしながら、特許文献1に示された手法では、電流の極性を切り換えるための時間や出力信号が安定するまでの時間、演算に必要な時間等が制約となり、チョッピング周波数を上げることに限界があった。よって、応答性が低くなる、という問題があった。
本発明は、オフセットを動的に除去できかつ応答性が高い電流センサを提供することを目的とする。
本発明の電流センサ(例えば、後述の電流センサ1)は、第1ホール素子(例えば、後述の第1ホール素子11)および第2ホール素子(例えば、後述の第2ホール素子21)を用いた電流センサであって、前記第1ホール素子から出力される第1センサ信号のゲインに、前記第2ホール素子から出力される第2センサ信号のゲインが一致するように、前記第2センサ信号のゲインを調整するゲイン調整手段(例えば、後述の補正値演算回路33および波形修正回路34)と、前記第2ホール素子に供給する電源の極性を切り換えるチョッピング制御を行い、前記ゲインを調整した第2センサ信号および極性が反転されてかつゲインを調整した反転第2センサ信号に基づいて、第2センサ信号のオフセット量を検出する第2センサ信号オフセット検出手段(例えば、後述の第2センサ信号オフセット検出回路35およびシーケンス制御回路41)と、前記第2センサ信号から前記オフセット量を除去する第2センサ信号オフセット除去手段(例えば、後述の減算器37)と、前記オフセット量が除去された第2センサ信号に基づいて、前記第1センサ信号のオフセット量を検出する第1センサ信号オフセット検出手段(例えば、後述の第1センサ信号オフセット検出回路38)と、前記第1センサ信号から前記オフセット量を除去する第1センサ信号オフセット除去手段(例えば、後述の減算器40)と、を備えることを特徴とする。
この場合、前記第1センサ信号および前記第2センサ信号のそれぞれの最大値および最小値を検出するピーク検出手段(例えば、後述の第1ピーク検出回路31および第2ピーク検出回路32)を備え、前記ゲイン調整手段は、前記ピーク検出手段で検出した最大値および最小値に基づいて、それぞれのゲインを求めることが好ましい。
この場合、前記各オフセット検出手段と前記各オフセット除去手段との間に設けられ、前記各オフセット検出手段で検出したオフセット量をラッチするサンプルアンドホールド回路(例えば、後述のサンプルアンドホールド回路36、39)を備えることが好ましい。
この発明によれば、以下の手順で、第1ホール素子の出力信号のオフセットを除去する。
まず、ゲイン調整手段により、第1ホール素子から出力される第1センサ信号のゲインに、第2ホール素子から出力される第2センサ信号のゲインが一致するように、第2センサ信号のゲインを調整する。
次に、第2センサ信号オフセット検出手段により、第2ホール素子をチョッピング制御して、ゲインを調整した第2センサ信号および極性が反転されてかつゲインを調整した反転第2センサ信号に基づいて、第2センサ信号のオフセット量を検出する。
次に、第2センサ信号オフセット除去手段により、第2センサ信号からオフセット量を除去する。
次に、第1センサ信号オフセット検出手段により、オフセット量が除去された第2センサ信号に基づいて、第1センサ信号のオフセット量を検出する。
次に、第1センサ信号オフセット除去手段により、第1センサ信号からオフセット量を除去する。
これにより、電流値を検出する第1ホール素子をチョッピング制御しないため、応答性が高くなる。また、オフセット量が変化しても、このオフセット量の変化に追従して、動的にオフセットを除去できる。
さらに、修正値を用いるので、第1ホール素子の特性と第2ホール素子の特性とが異なっても、精度良くオフセットを除去できる。
また、オフセット量を検出している期間、第2ホール素子からの出力信号の極性を反転させるため、オフセット量の出力が途切れてしまう。
そこで、この発明によれば、オフセット検出手段とオフセット除去手段との間にサンプルアンドホールド回路を設けた。これにより、オフセット量を途切れることなく連続して出力できる。
本発明によれば、電流値を検出する第1ホール素子をチョッピング制御しないため、応答性が高くなる。また、オフセット量が変化しても、このオフセット量の変化に追従して、動的にオフセットを除去できる。さらに、修正値を用いるので、第1ホール素子の特性と第2ホール素子の特性とが異なっても、精度良くオフセットを除去できる。
以下、本発明の一実施形態について説明する。
図1は、本発明の一実施形態に係る電流センサ1の信号処理回路の構成を示す図である。
電流センサ1は、第1ホール素子回路10、第2ホール素子回路20、ピーク検出手段としての第1ピーク検出回路31、ピーク検出手段としての第2ピーク検出回路32、ゲイン調整手段としての補正値演算回路33、ゲイン調整手段としての波形修正回路34、第2センサ信号オフセット検出手段としての第2センサ信号オフセット検出回路35、サンプルアンドホールド回路36、第2センサ信号オフセット除去手段としての減算器37、第1センサ信号オフセット検出手段としての第1センサ信号オフセット検出回路38、サンプルアンドホールド回路39、第1センサ信号オフセット除去手段としての減算器40、および、これらを制御する第2センサ信号オフセット検出手段としてのシーケンス制御回路41を備える。
第1ホール素子回路10は、磁気を電気信号に変換して出力する回路である。この出力信号には、オフセットが含まれる。
この第1ホール素子回路10は、第1ホール素子11および差動増幅器12を備える。
差動増幅器12は、入力される2つの信号の差分を増幅して出力するものである。ここで、この差動増幅器12のゲインは、適切な値に設定されているものとする。
第1ホール素子11は、磁気を電気信号に変換する略十字形状の素子であり、相対向して設けられたホール端子11a、11bと、これら11a、11bの配置方向とは交差する方向に相対向して設けられたホール端子11c、11dと、を備える。
ホール端子11aは、定電流源13に接続され、ホール端子11bは、グランドに接続され、ホール端子11cは、差動増幅器12の正端子に接続され、ホール端子11dは、差動増幅器12の負端子に接続される。
第2ホール素子回路20は、磁気を電気信号に変換して出力する回路である。この出力信号には、オフセットが含まれている。
この第2ホール素子回路20は、第2ホール素子21、スイッチ回路網22、および差動増幅器23を備える。
差動増幅器23は、入力される2つの信号の差分を増幅して出力するものである。ここで、この差動増幅器23のゲインは、適切な値に設定されているものとする。
第2ホール素子21は、磁気を電気信号に変換する略十字形状の素子であり、相対向して設けられたホール端子21a、21bと、これら21a、21bの配置方向とは交差する方向に相対向して設けられたホール端子21c、21dと、を備える。
スイッチ回路網22は、4つの切り換えスイッチSa、Sb、Sc、Sdからなる。スイッチSaは、ホール端子21aを、定電流源24または差動増幅器23の正端子に接続する。スイッチSbは、ホール端子21bを、グランドまたは差動増幅器23の負端子に接続する。スイッチScは、ホール端子21cを、定電流源24または差動増幅器23の正端子に接続する。スイッチSdは、ホール端子21dを、グランドまたは差動増幅器23の負端子に接続する。
スイッチ回路網22では、スイッチSa、Sd、Sb、Scを制御して、ホール端子21aを定電流源24に接続し、ホール端子21bをグランドに接続し、ホール端子21cを差動増幅器23の正端子に接続し、ホール端子21dを差動増幅器23の負端子に接続した状態と、ホール端子21aを差動増幅器23の正端子に接続し、ホール端子21bを差動増幅器23の負端子に接続し、ホール端子21cを定電流源24に接続し、ホール端子21dをグランドに接続した状態と、を切り換え可能となっている。
以上の第2ホール素子回路20によれば、スイッチ回路網22を制御することにより、定電流源24から第2ホール素子21に供給する電流の極性を切り換えて、出力信号の極性を反転できる。
第1ピーク検出回路31は、シーケンス制御回路41から初期化信号が入力されると、その後の一定期間に亘って、第1ホール素子回路10の出力信号の最大値および最小値を検出する。
第2ピーク検出回路32は、シーケンス制御回路41から初期化信号が入力されると、その後の一定期間に亘って、第2ホール素子回路20の出力信号の最大値および最小値を検出する。
補正値演算回路33は、第1ピーク検出回路31および第2ピーク検出回路32で検出した出力信号の最大値および最小値に基づいて、第1ホール素子回路10の第1センサ信号としての出力信号のゲインおよび第2ホール素子回路20の第2センサ信号としての出力信号のゲインを求める。そして、第1ホール素子回路10の出力信号のゲインに、第2ホール素子回路20の出力信号のゲインが一致するように、第2ホール素子回路20の出力信号のゲインを修正するための修正値を求める。
波形修正回路34は、第2ホール素子回路20からの出力信号を修正値に基づいて修正する。
第2センサ信号オフセット検出回路35は、入力される2つの信号に基づいて、オフセット量を求める。具体的には、修正した信号と、極性が反転されてかつ修正した反転第2センサ信号と、の平均値を求めることで、第2センサ信号のオフセット量を検出する。
サンプルアンドホールド回路36は、入力信号を所定のサンプリング周波数でサンプリングし、サンプリングした値を一時的に保持する回路である。具体的には、オフセット検出回路35で検出したオフセットをラッチする。
減算器37は、第2ホール素子回路20から出力されてゲインを修正した信号から、オフセットを除去する。
第1センサ信号オフセット検出回路38は、入力される2つの信号に基づいて、オフセット量を求める。具体的には、入力される2つの信号の差分を求めて、オフセット量とする。
サンプルアンドホールド回路39は、入力信号を所定のサンプリング周波数でサンプリングし、サンプリングした値を一時的に保持する回路である。具体的には、第1センサ信号オフセット検出回路38で検出したオフセットをラッチする。
減算器40は、第1ホール素子回路10の出力信号からオフセットを除去する。
以上の電流センサ1の動作を、図2のフローチャートを参照しながら説明する。
まず、第1ホール素子回路10から信号Sig(HE1)が出力され、第2ホール素子回路20から信号Sig(HE2)が出力されているものとする。これら信号Sig(HE1)および信号Sig(HE2)は、同時に得られる信号であるため、印加磁界に対する位相の変化が同じになっている。
ステップS1では、シーケンス制御回路41により第1ピーク検出回路31を初期化し、その後、この第1ピーク検出回路31により、図3に示すように、第1ホール素子回路10から出力される信号Sig(HE1)の最大値および最小値を検出し、次回更新されるまでこれらの値を保持する。
ステップS2では、シーケンス制御回路41により第2ピーク検出回路32を初期化し、その後、この第2ピーク検出回路32により、図3に示すように、第2ホール素子回路20から出力される信号Sig(HE2)の最大値および最小値を検出し、次回更新されるまでこれらの値を保持する。
ステップS3では、補正値演算回路33により、信号Sig(HE1)と信号Sig(HE2)とのゲインのずれ量を修正値として求める。
具体的には、第1ピーク検出回路31および第2ピーク検出回路32から出力される最大値および最小値に基づいて、図4に示すように、ゲインのずれ量を修正値として求めて、次回更新されるまでこれらの値を保持する。
ステップS4では、波形修正回路34により、修正値に基づいて、信号Sig(HE2)の波形を修正する。すると、この信号Sig(HE2)のゲインは信号Sig(HE1)のゲインに近似することになる。
ステップS5では、シーケンス制御回路41により、第2ホール素子回路20のスイッチ回路網22を所定の周波数で切り換えて、第2ホール素子21に供給する電源の極性を切り換えるチョッピング制御を開始し、信号Sig(HE2)と、波形の極性が反転した反転信号dSig(HE2)と、を第2ホール素子回路20から出力させる。すると、波形修正回路34により、これら信号Sig(HE2)および反転信号dSig(HE2)の波形が修正値に基づいて修正される。
ステップS6では、第2センサ信号オフセット検出回路35により、修正した信号Sig(HE2)と修正した反転信号dSig(HE2)とに基づいて、信号Sig(HE2)のオフセット量として求めて、サンプルアンドホールド回路36により、このオフセット量を保持する。
具体的には、図5に示すように、修正した信号Sig(HE2)と修正した反転信号dSig(HE2)との平均値を、信号Sig(HE2)のオフセット量として求める。
ステップS7では、シーケンス制御回路41により、第2ホール素子回路20のチョッピング制御を終了する。
ステップS8では、減算器37により、図6に示すように、ゲインを修正した信号Sig(HE2)からオフセットを除去する。
ステップS9では、第1センサ信号オフセット検出回路38により、信号Sig(HE1)と、ゲインを修正しかつオフセットを除去した信号Sig(HE2)と、を用いて、信号Sig(HE1)のオフセット量を求めて、サンプルアンドホールド回路39により、このオフセット量を次回更新されるまで保持する。
具体的には、図7に示すように、信号Sig(HE1)から、ゲインを修正しかつオフセットを除去した信号Sig(HE2)を減算して、信号Sig(HE1)のオフセット量とする。
ステップS10では、減算器40により、図8に示すように、信号Sig(HE1)からこのオフセットを除去する。
本実施形態によれば、以下のような効果がある。
(1)電流値を検出する第1ホール素子11をチョッピング制御しないため、応答性が高くなる。また、オフセット量が変化しても、このオフセット量の変化に追従して、動的にオフセットを除去できる。
さらに、ゲインを修正したので、第1ホール素子11の特性と第2ホール素子21の特性とが異なっても、精度良くオフセットを除去できる。
(2)オフセット検出回路35、38と減算器37、40との間にサンプルアンドホールド回路36、39を設けた。これにより、オフセット値を途切れることなく連続して出力できる。
(3)第1ホール素子回路10の出力信号を主信号として、この主信号の極性を反転させずにオフセット量を調整したので、第1ホール素子回路10から主信号を常時出力できる。
(4)オフセット量のドリフトは緩やかであるため、第2ホール素子回路20を頻繁にチョッピング制御せずに間欠的にオフセット量を補正することにより、電力消費を抑えることができる。
(5)シーケンス制御回路41によりチョッピング制御を行っていない期間中に、信号Sig(HE1)と、ゲインを修正しかつオフセットを除去した信号Sig(HE2)と、を用いて、信号Sig(HE1)のオフセット量を求めた。よって、応答遅れが生じるのを抑制できるので、信号Sig(HE1)と、ゲインを修正しかつオフセットを除去した信号Sig(HE2)との一致率が高まるので、精度を向上できる。
なお、本発明は前記実施形態に限定されるものではなく、本発明の目的を達成できる範囲での変形、改良等は本発明に含まれるものである。
本発明の一実施形態に係る電流センサの信号処理回路の構成を示す図である。 前記実施形態に係る電流センサの動作を示すフローチャートである。 前記実施形態に係る電流センサについて、出力信号の最大値よび最小値を検出する手順を説明するための図である。 前記実施形態に係る電流センサについて、出力信号のゲインのずれ量を検出する手順を説明するための図である。 前記実施形態に係る電流センサについて、第2センサ信号のオフセット量を求める手順を説明するための図である。 前記実施形態に係る電流センサについて、第2センサ信号からオフセットを除去する手順を説明するための図である。 前記実施形態に係る電流センサについて、第1センサ信号のオフセット量を求める手順を説明するための図である。 前記実施形態に係る電流センサについて、第1センサ信号からオフセットを除去する手順を説明するための図である。
符号の説明
1 電流センサ
11 第1ホール素子
21 第2ホール素子
31 第1ピーク検出回路(ピーク検出手段)
32 第2ピーク検出回路(ピーク検出手段)
33 補正値演算回路(ゲイン調整手段)
34 波形修正回路(ゲイン調整手段)
35 第2センサ信号オフセット検出回路(第2センサ信号オフセット検出手段)
36 サンプルアンドホールド回路
37 減算器(第2センサ信号オフセット除去手段)
38 第1センサ信号オフセット検出回路(第1センサ信号オフセット検出手段)
39 サンプルアンドホールド回路
40 減算器(第1センサ信号オフセット除去手段)
41 シーケンス制御回路(第2センサ信号オフセット検出手段)

Claims (3)

  1. 第1ホール素子および第2ホール素子を用いた電流センサであって、
    前記第1ホール素子から出力される第1センサ信号のゲインに、前記第2ホール素子から出力される第2センサ信号のゲインが一致するように、前記第2センサ信号のゲインを調整するゲイン調整手段と、
    前記第2ホール素子に供給する電源の極性を切り換えるチョッピング制御を行い、前記ゲインを調整した第2センサ信号および極性が反転されてかつゲインを調整した反転第2センサ信号に基づいて、第2センサ信号のオフセット量を検出する第2センサ信号オフセット検出手段と、
    前記第2センサ信号から前記オフセット量を除去する第2センサ信号オフセット除去手段と、
    前記オフセット量が除去された第2センサ信号に基づいて、前記第1センサ信号のオフセット量を検出する第1センサ信号オフセット検出手段と、
    前記第1センサ信号から前記オフセット量を除去する第1センサ信号オフセット除去手段と、を備えることを特徴とする電流センサ。
  2. 請求項1に記載の電流センサにおいて、
    前記第1センサ信号および前記第2センサ信号のそれぞれの最大値および最小値を検出するピーク検出手段を備え、
    前記ゲイン調整手段は、前記ピーク検出手段で検出した最大値および最小値に基づいて、それぞれのゲインを求めることを特徴とする電流センサ。
  3. 請求項1に記載の電流センサにおいて、
    前記各オフセット検出手段と前記各オフセット除去手段との間に設けられ、前記各オフセット検出手段で検出したオフセット量をラッチするサンプルアンドホールド回路を備えることを特徴とする電流センサ。
JP2008132010A 2008-05-20 2008-05-20 電流センサ Expired - Fee Related JP5000585B2 (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2008132010A JP5000585B2 (ja) 2008-05-20 2008-05-20 電流センサ

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2008132010A JP5000585B2 (ja) 2008-05-20 2008-05-20 電流センサ

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2009281772A JP2009281772A (ja) 2009-12-03
JP5000585B2 true JP5000585B2 (ja) 2012-08-15

Family

ID=41452388

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2008132010A Expired - Fee Related JP5000585B2 (ja) 2008-05-20 2008-05-20 電流センサ

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP5000585B2 (ja)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN103134974A (zh) * 2011-11-29 2013-06-05 英飞凌科技股份有限公司 电流传感器组件、装置和系统

Families Citing this family (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
AT511283B1 (de) * 2011-03-21 2013-01-15 Seibt Kristl & Co Gmbh Vorrichtung und verfahren zur korrektur von strangströmen einer drehstrommaschine
JP6031983B2 (ja) * 2012-12-06 2016-11-24 株式会社デンソー 電流センサ機構
JP6734138B2 (ja) * 2016-07-22 2020-08-05 旭化成エレクトロニクス株式会社 電流センサおよび電流センサの制御方法
JP2021036198A (ja) * 2017-10-04 2021-03-04 株式会社村田製作所 電流センサの製造方法および電流センサ
CN115020584B (zh) * 2022-05-07 2025-06-06 电子科技大学长三角研究院(湖州) 基于阵列型量子自旋霍尔效应绝缘体材料的暂态电压检测方法

Family Cites Families (11)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH03239965A (ja) * 1990-02-17 1991-10-25 Yaskawa Electric Mfg Co Ltd 電流検出装置
JPH0627150A (ja) * 1992-07-07 1994-02-04 Honda Motor Co Ltd ホール素子型電流センサ
JPH07294561A (ja) * 1994-04-28 1995-11-10 Nippon Soken Inc 電流計測装置
US5621319A (en) * 1995-12-08 1997-04-15 Allegro Microsystems, Inc. Chopped hall sensor with synchronously chopped sample-and-hold circuit
JP3916225B2 (ja) * 2002-06-19 2007-05-16 株式会社東芝 電流検出装置
JP4303631B2 (ja) * 2004-04-09 2009-07-29 東光株式会社 センサ回路
JP4603340B2 (ja) * 2004-11-30 2010-12-22 株式会社デンソー モータ制御装置、および操舵装置
JP2007078374A (ja) * 2005-09-12 2007-03-29 Meidensha Corp 直流電流計測装置および計測方法
JP4882706B2 (ja) * 2005-11-30 2012-02-22 富士電機株式会社 演算増幅器を含むアナログ回路の入出力特性測定装置及び演算増幅器を含むアナログ回路の入出力特性測定方法
JP2007213722A (ja) * 2006-02-10 2007-08-23 Nec Corp 対物レンズ位置検出方法および対物レンズ位置検出回路
JP2008069714A (ja) * 2006-09-14 2008-03-27 Toyota Motor Corp 内燃機関の制御装置

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN103134974A (zh) * 2011-11-29 2013-06-05 英飞凌科技股份有限公司 电流传感器组件、装置和系统
CN103134974B (zh) * 2011-11-29 2015-11-25 英飞凌科技股份有限公司 电流传感器组件、装置和系统

Also Published As

Publication number Publication date
JP2009281772A (ja) 2009-12-03

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP5000585B2 (ja) 電流センサ
US10386392B2 (en) Hall element driving circuit, sensor circuit, and current measuring apparatus
CN105759225B (zh) 磁场感测装置及其磁场感测方法
EP1789813B1 (en) Continuously calibrated magnetic field sensor
WO2018016510A1 (ja) 電流センサ
US8674690B2 (en) Feedback control circuit for a hall effect device
US9128127B2 (en) Sensor device
CN107076806A (zh) 具有偏移补偿的霍尔效应传感器电路
KR20150069936A (ko) 차동 증폭기의 오프셋 보정장치 및 방법
JP5000584B2 (ja) 電流センサ
CN103134981A (zh) 功率检测方法与装置
JP2009281774A (ja) 電流センサ
US9413228B2 (en) 2-phase threshold detector based circuits
JP7466617B2 (ja) 半導体装置及びその調整方法
Kayal et al. Automatic calibration of Hall sensor microsystems
JP6389161B2 (ja) センサインタフェースキャリブレーション装置
JP6445360B2 (ja) 電流測定装置
JP2015154352A (ja) 感度調整回路
CN117388565A (zh) 电流测量设备
JP2019138735A (ja) 電流検出装置、電流検出システム、及び電流検出装置の校正方法
US11016151B2 (en) Semiconductor device and method of adjusting the same
JP4590391B2 (ja) 電流センサおよび電流センサのオフセット除去方法
JP2018013454A (ja) 電流センサおよび電流センサの制御方法
JP2008157688A (ja) 電流センサおよび電流センサのオフセット除去方法
JP4523934B2 (ja) 電流センサ

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20101126

A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20120423

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20120508

A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20120516

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20150525

Year of fee payment: 3

LAPS Cancellation because of no payment of annual fees