JP5125902B2 - X線ct装置 - Google Patents
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Description
図1は本発明の実施の形態の構成図である。
2 X線検出器
3 試料ステージ
10 画像データ取り込み回路
11 データ記憶部
12 再構成演算部
13 断層像記憶部
14 輝度低減処理部
15 フィルタ処理部
15a 回転加算平均化処理部
15b フィルタ処理部
16 減算部
17 表示器
18 システム制御部
19 X線コントローラ
20 軸制御部
21 操作部
W 対象物
Claims (3)
- 互いに対向配置されたX線発生装置とX線検出器の間に、対象物を搭載するための試料ステージが設けられ、上記X線発生装置とX線検出器の対と試料ステージとを回転機構により相対的に回転させて収集した複数の回転角度でのX線投影データを再構成することにより、上記回転機構の回転軸に直交する面に沿った断層像を構築するX線CT装置において、
上記断層像について、当該断層像上で上記回転機構の回転中心に相当する位置に関連づけたフィルタ処理を含む処理を施すことにより、当該断層像に現れるリングアーチファクトを抽出した画像を生成するリングアーチファクト抽出手段と、そのリングアーチファクトを抽出した画像を、上記断層像から差し引く減算手段を備えるとともに、上記リングアーチファクト抽出手段による処理に供する前の断層像について、当該断層像上であらかじめ設定されている輝度以上の高輝度領域を抽出し、その領域の輝度を低減する処理を施す輝度低減処理手段を備え、
上記輝度低減処理手段は、上記断層像を構成する画素の平均輝度を算出し、その平均輝度よりも高輝度の領域を構成する画素について、その輝度を上記平均輝度に変更する処理を施すことを特徴とするX線CT装置。 - 上記リングアーチファクト抽出手段が、上記輝度低減処理手段による処理を施された断層像を構成する各画素の画素値を、当該断層像上で上記回転機構の回転中心に相当する位置を中心とする扇形状のコンボリューションフィルタカーネルを用いてフィルタ処理を施す手段であることを特徴とする請求項1に記載のX線CT装置。
- 上記リングアーチファクト抽出手段が、上記輝度低減処理手段による処理を施された断層像を、当該断層像上で上記回転機構の回転中心に相当する位置を中心に所定角度だけ回転させて各画素値を加算平均する回転加算平均化手段と、その回転加算平均され画像を構成する各画素について、当該画素と上記回転中心とを結ぶ線に沿う1次元もしくは2次元フィルタ処理を施すフィルタ処理手段によって構成されていることを特徴とする請求項1に記載のX線CT装置。
Priority Applications (1)
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| JP2008224249A JP5125902B2 (ja) | 2008-09-02 | 2008-09-02 | X線ct装置 |
Applications Claiming Priority (1)
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| JP2008224249A JP5125902B2 (ja) | 2008-09-02 | 2008-09-02 | X線ct装置 |
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Family
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Family Applications (1)
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| JP2008224249A Active JP5125902B2 (ja) | 2008-09-02 | 2008-09-02 | X線ct装置 |
Country Status (1)
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