JP5240218B2 - 結晶粒径計測装置、方法及びプログラム - Google Patents
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Description
本発明の結晶粒径計測装置の他の特徴とするところは、前記エネルギー値算出手段で算出したエネルギー値のうち、前記最大のエネルギー値を除いた各エネルギー値の平均値を、前記他のエネルギー値とする点にある。
本発明の結晶粒径計測装置の他の特徴とするところは、前記補正手段は、前記最大エネルギー値検出手段で検出した最大のエネルギー値と、前記エネルギー値算出手段で算出したエネルギー値のうち、前記最大のエネルギー値以外の他のエネルギー値とをそれぞれ室温時換算する点にある。
本発明の結晶粒径計測方法は、被計測板の表面の所定位置に配置された送受信プローブを介して、前記被計測板の板厚方向における共振周波数を含む所定の周波数領域の超音波を発振する超音波発振ステップと、前記被計測板の板厚方向に伝播した前記所定の周波数領域の各周波数における超音波の波形を、前記送受信プローブを介して検出する波形検出ステップと、前記波形検出ステップで検出した超音波の波形に基づいて、前記所定の周波数領域の各周波数における超音波のエネルギー値を算出するエネルギー値算出ステップと、前記エネルギー値算出ステップで算出したエネルギー値の中から、前記共振周波数における超音波のエネルギー値である最大のエネルギー値を検出する最大エネルギー値検出ステップと、前記最大エネルギー値検出ステップで検出した最大のエネルギー値と、前記エネルギー値算出ステップで算出したエネルギー値のうち、前記最大のエネルギー値以外の他のエネルギー値とを、前記送受信プローブの温度情報及び前記被計測板の温度情報のうち少なくともいずれか一方を用いてそれぞれ補正する補正ステップと、前記補正ステップで補正した最大のエネルギー値と、前記補正ステップで補正した他のエネルギー値との比を算出する比算出ステップと、前記比算出ステップで算出したエネルギー値の比に基づいて、前記被計測板における結晶粒径を算出する結晶粒径算出ステップとを有することを特徴とする。
本発明のプログラムは、被計測板の表面の所定位置に配置された送受信プローブを介して、前記被計測板の板厚方向における共振周波数を含む所定の周波数領域の超音波を発振する超音波発振処理と、前記被計測板の板厚方向に伝播した前記所定の周波数領域の各周波数における超音波の波形を、前記送受信プローブを介して検出する波形検出処理と、前記波形検出処理で検出した超音波の波形に基づいて、前記所定の周波数領域の各周波数における超音波のエネルギー値を算出するエネルギー値算出処理と、前記エネルギー値算出処理で算出したエネルギー値の中から、前記共振周波数における超音波のエネルギー値である最大のエネルギー値を検出する最大エネルギー値検出処理と、前記最大エネルギー値検出処理で検出した最大のエネルギー値と、前記エネルギー値算出処理で算出したエネルギー値のうち、前記最大のエネルギー値以外の他のエネルギー値とを、前記送受信プローブの温度情報及び前記被計測板の温度情報のうち少なくともいずれか一方を用いてそれぞれ補正する補正処理と、前記補正処理で補正した最大のエネルギー値と、前記補正処理で補正した他のエネルギー値との比を算出する比算出処理と、前記比算出処理で算出したエネルギー値の比に基づいて、前記被計測板における結晶粒径を算出する結晶粒径算出処理とをコンピュータに実行させる。
図1は、本発明の実施形態に係る結晶粒径計測装置の概略構成を示すブロック図である。図1において、2は鋼板等からなる板厚dの被計測板、3は被計測板2を支持する支持体である。1は支持体3上の被計測板2の結晶粒径を計測する結晶粒径計測装置である。被計測板2の表面温度を測定する不図示の温度センサ(例えば放射温度計)が設置されており、その温度情報T1が結晶粒径計測装置1に入力される。
Sroom=(RT1/Rroom)*(μroom/μT1)2*ST1・・・(数式9)
但し、Rroomは室温での電気抵抗率、μroomは室温での透磁率を表す。
Nroom=(√室温/√T2)*NT2・・・(数式10)
また、本発明は、以下の処理を実行することによっても実現される。すなわち、上述した実施形態の機能を実現するソフトウェア(プログラム)を、ネットワーク又は各種記憶媒体を介してシステム或いは装置に供給し、そのシステム或いは装置のコンピュータ(又はCPUやMPU等)がプログラムを読み出して実行する処理である。
2:被計測板
3:支持体
10:送受信プローブ
20:超音波発振手段
30:波形検出手段
40:エネルギー値算出手段
50:最大エネルギー値検出手段
60:補正手段
70:物性値記憶部
80:比算出手段
90:相関値記憶部
100:結晶粒径算出手段
Claims (5)
- 被計測板の表面の所定位置に配置された送受信プローブを介して、前記被計測板の板厚方向における共振周波数を含む所定の周波数領域の超音波を発振する超音波発振手段と、
前記被計測板の板厚方向に伝播した前記所定の周波数領域の各周波数における超音波の波形を、前記送受信プローブを介して検出する波形検出手段と、
前記波形検出手段で検出した超音波の波形に基づいて、前記所定の周波数領域の各周波数における超音波のエネルギー値を算出するエネルギー値算出手段と、
前記エネルギー値算出手段で算出したエネルギー値の中から、前記共振周波数における超音波のエネルギー値である最大のエネルギー値を検出する最大エネルギー値検出手段と、
前記最大エネルギー値検出手段で検出した最大のエネルギー値と、前記エネルギー値算出手段で算出したエネルギー値のうち、前記最大のエネルギー値以外の他のエネルギー値とを、前記送受信プローブの温度情報及び前記被計測板の温度情報のうち少なくともいずれか一方を用いてそれぞれ補正する補正手段と、
前記補正手段で補正した最大のエネルギー値と、前記補正手段で補正した他のエネルギー値との比を算出する比算出手段と、
前記比算出手段で算出したエネルギー値の比に基づいて、前記被計測板における結晶粒径を算出する結晶粒径算出手段とを備えることを特徴とする結晶粒径計測装置。 - 前記エネルギー値算出手段で算出したエネルギー値のうち、前記最大のエネルギー値を除いた各エネルギー値の平均値を、前記他のエネルギー値とすることを特徴とする請求項1に記載の結晶粒径計測装置。
- 前記補正手段は、前記最大エネルギー値検出手段で検出した最大のエネルギー値と、前記エネルギー値算出手段で算出したエネルギー値のうち、前記最大のエネルギー値以外の他のエネルギー値とをそれぞれ室温時換算することを特徴とする請求項1又は2に記載の結晶粒径計測装置。
- 被計測板の表面の所定位置に配置された送受信プローブを介して、前記被計測板の板厚方向における共振周波数を含む所定の周波数領域の超音波を発振する超音波発振ステップと、
前記被計測板の板厚方向に伝播した前記所定の周波数領域の各周波数における超音波の波形を、前記送受信プローブを介して検出する波形検出ステップと、
前記波形検出ステップで検出した超音波の波形に基づいて、前記所定の周波数領域の各周波数における超音波のエネルギー値を算出するエネルギー値算出ステップと、
前記エネルギー値算出ステップで算出したエネルギー値の中から、前記共振周波数における超音波のエネルギー値である最大のエネルギー値を検出する最大エネルギー値検出ステップと、
前記最大エネルギー値検出ステップで検出した最大のエネルギー値と、前記エネルギー値算出ステップで算出したエネルギー値のうち、前記最大のエネルギー値以外の他のエネルギー値とを、前記送受信プローブの温度情報及び前記被計測板の温度情報のうち少なくともいずれか一方を用いてそれぞれ補正する補正ステップと、
前記補正ステップで補正した最大のエネルギー値と、前記補正ステップで補正した他のエネルギー値との比を算出する比算出ステップと、
前記比算出ステップで算出したエネルギー値の比に基づいて、前記被計測板における結晶粒径を算出する結晶粒径算出ステップとを有することを特徴とする結晶粒径計測方法。 - 被計測板の表面の所定位置に配置された送受信プローブを介して、前記被計測板の板厚方向における共振周波数を含む所定の周波数領域の超音波を発振する超音波発振処理と、
前記被計測板の板厚方向に伝播した前記所定の周波数領域の各周波数における超音波の波形を、前記送受信プローブを介して検出する波形検出処理と、
前記波形検出処理で検出した超音波の波形に基づいて、前記所定の周波数領域の各周波数における超音波のエネルギー値を算出するエネルギー値算出処理と、
前記エネルギー値算出処理で算出したエネルギー値の中から、前記共振周波数における超音波のエネルギー値である最大のエネルギー値を検出する最大エネルギー値検出処理と、
前記最大エネルギー値検出処理で検出した最大のエネルギー値と、前記エネルギー値算出処理で算出したエネルギー値のうち、前記最大のエネルギー値以外の他のエネルギー値とを、前記送受信プローブの温度情報及び前記被計測板の温度情報のうち少なくともいずれか一方を用いてそれぞれ補正する補正処理と、
前記補正処理で補正した最大のエネルギー値と、前記補正処理で補正した他のエネルギー値との比を算出する比算出処理と、
前記比算出処理で算出したエネルギー値の比に基づいて、前記被計測板における結晶粒径を算出する結晶粒径算出処理とをコンピュータに実行させるためのプログラム。
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|---|---|---|---|
| JP2010036475A JP5240218B2 (ja) | 2010-02-22 | 2010-02-22 | 結晶粒径計測装置、方法及びプログラム |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2010036475A JP5240218B2 (ja) | 2010-02-22 | 2010-02-22 | 結晶粒径計測装置、方法及びプログラム |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
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| JP2011169872A JP2011169872A (ja) | 2011-09-01 |
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ID=44684132
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2010036475A Active JP5240218B2 (ja) | 2010-02-22 | 2010-02-22 | 結晶粒径計測装置、方法及びプログラム |
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2010
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