JP5347272B2 - スポット定量装置、スポット定量方法及びプログラム - Google Patents
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Description
を有する。
本発明を実施するための第1実施形態について図1〜図9を参照して詳細に説明する。
本発明を実施するための第2実施形態について図10及び図11を参照して詳細に説明する。
10 画像入力部
15 フィルタリング部
20 画像フィルタリング部
30 領域分割部
40 スポット検出部
50 特徴量算出部
60 クラスタリング部
100 光源
101 励起フィルタ
102 バリアフィルタ
103 CCDカメラ
104 試料
105 対眼レンズ
106 対物レンズ
107 ダイクロックミラー
108 コンピュータ
109 モニタ
S1〜S6,A1〜A10,T1 ステップ
P1,P2,P6,P7 スポット
I’,D1’,D2’,D3’,D4’,R0’ R1’ 画像領域
Claims (11)
- スポットを含む画像を入力する画像入力手段と、
前記画像入力手段により入力された画像に対して、カーネルのパラメータを所定範囲内で変更してフィルタリングを複数回施すフィルタリング手段と、
前記フィルタリング手段によりフィルタリングが複数回施された各画像における輝度分布に基づいて前記スポットの特徴を定量するスポット定量手段と、
を有し、
前記カーネルが、ガウシアンカーネル、イパネクニコフカーネル、又はメキシカンハットカーネルであり、
前記フィルタリング手段は、前記カーネルのバンド幅を所定範囲内で変更してフィルタリングを複数回施し、
前記スポット定量手段は、前記フィルタリング手段によりフィルタリングが複数回施された各画像における正規化された輝度分布のピーク値を求め、該ピーク値が最大となる画像で使用されたカーネルのバンド幅を前記スポットの直径として定量する、スポット定量装置。 - スポットを含む画像を入力する画像入力手段と、
前記画像入力手段により入力された画像に対して、カーネルのパラメータを所定範囲内で変更してフィルタリングを複数回施すフィルタリング手段と、
前記フィルタリング手段によりフィルタリングが複数回施された各画像における輝度分布に基づいて前記スポットの特徴を定量するスポット定量手段と、
を有し、
前記カーネルが同心円カーネルであり、
前記フィルタリング手段は、前記カーネルの内円半径を所定範囲内で変更してフィルタリングを複数回施し、
前記スポット定量手段は、前記フィルタリング手段によりフィルタリングが複数回施された各画像における正規化された輝度分布のピーク値を求め、該ピーク値が最大となる画像で使用されたカーネルの内円半径を前記スポットの半径として定量する、スポット定量装置。 - 前記スポット定量手段は、
前記フィルタリング手段によりフィルタリングが複数回施された各画像における正規化された輝度分布のピーク値を求め、該ピーク値が最大となる画像で使用されたカーネルのパラメータの値に基づいて前記スポットの特徴を定量する、請求項1又は2に記載のスポット定量装置。 - 前記フィルタリング手段は、前記カーネルのパラメータを、前記スポットの特徴量に対応するパラメータの値を含む所定範囲内で変更してフィルタリングを施す、請求項1乃至3のいずれか1項に記載のスポット定量装置。
- 前記フィルタリング手段は、
前記画像入力手段により入力された画像に対して所定のカーネルを使用してフィルタリングを施す第1のフィルタリング手段と、
前記第1のフィルタリング手段によりフィルタリングが施された画像をスポットの中心間の距離に基づいてスポットを含む画像領域と含まない画像領域とに分割する画像領域分割手段と、
前記画像領域分割手段により分割されたスポットを含む画像領域におけるスポットの中心をスポット位置として検出するスポット検出手段と、
前記スポット検出手段により検出されたスポット位置を中心とした所定の画像領域を前記画像入力手段により入力された画像から抽出し、抽出した画像領域に対してカーネルのパラメータを所定範囲内で変更してフィルタリングを複数回施す第2のフィルタリング手段と、
を有する、請求項1乃至4のいずれか1項に記載のスポット定量装置。 - 前記画像領域分割手段は、互いの中心点が所定距離内にあるスポットを同一の画像領域に帰属させ、互いの中心点が所定距離より離れたスポットを異なる画像領域に帰属させることで、前記第1のフィルタリング手段によりフィルタリングが施された画像をスポットを含む画像領域と含まない画像領域とに分割する、請求項5に記載のスポット定量装置。
- 前記スポット検出手段は、前記画像領域分割手段により分割されたスポットを含む画像領域における各画素を輝度分布に基づいて複数のクラスタに分類し、輝度値の平均値が最も高いクラスタに帰属する画素のうち最高輝度の画素の位置をスポット位置として検出する、請求項5又は6に記載のスポット定量装置。
- スポットを含む画像を入力する画像入力ステップと、
入力した画像に対してカーネルのパラメータを所定範囲内で変更してフィルタリングを複数回施すフィルタリングステップと、
複数のフィルタリングが施された各画像における輝度分布に基づいて前記スポットの特徴を定量するスポット定量ステップと、を有し、
前記カーネルが、ガウシアンカーネル、イパネクニコフカーネル、又はメキシカンハットカーネルであり、
前記フィルタリングステップでは、前記カーネルのバンド幅を所定範囲内で変更してフィルタリングを複数回施し、
前記スポット定量ステップでは、複数のフィルタリングが施された各画像における正規化された輝度分布のピーク値を求め、該ピーク値が最大となる画像で使用されたカーネルのバンド幅を前記スポットの直径として定量する、スポット定量方法。 - スポットを含む画像を入力する画像入力ステップと、
入力した画像に対してカーネルのパラメータを所定範囲内で変更してフィルタリングを複数回施すフィルタリングステップと、
複数のフィルタリングが施された各画像における輝度分布に基づいて前記スポットの特徴を定量するスポット定量ステップと、を有し、
前記カーネルが同心円カーネルであり、
前記フィルタリングステップでは、前記カーネルの内円半径を所定範囲内で変更してフィルタリングを複数回施し、
前記スポット定量ステップでは、複数のフィルタリングが施された各画像における正規化された輝度分布のピーク値を求め、該ピーク値が最大となる画像で使用されたカーネルの内円半径を前記スポットの半径として定量する、スポット定量方法。 - コンピュータを、
スポットを含む画像に対してカーネルのパラメータを所定範囲内で変更してフィルタリングを複数回施すフィルタリング手段、及び
前記フィルタリング手段によりフィルタリングが複数回施された各画像領域における輝度分布に基づいて前記スポットの特徴を定量するスポット定量手段、
として機能させるためのプログラムであって、
前記カーネルが、ガウシアンカーネル、イパネクニコフカーネル、又はメキシカンハットカーネルであり、
前記フィルタリング手段は、前記カーネルのバンド幅を所定範囲内で変更してフィルタリングを複数回施し、
前記スポット定量手段は、前記フィルタリング手段によりフィルタリングが複数回施された各画像における正規化された輝度分布のピーク値を求め、該ピーク値が最大となる画像で使用されたカーネルのバンド幅を前記スポットの直径として定量する、プログラム。 - コンピュータを、
スポットを含む画像に対してカーネルのパラメータを所定範囲内で変更してフィルタリングを複数回施すフィルタリング手段、及び
前記フィルタリング手段によりフィルタリングが複数回施された各画像領域における輝度分布に基づいて前記スポットの特徴を定量するスポット定量手段、
として機能させるためのプログラムであって、
前記カーネルが同心円カーネルであり、
前記フィルタリング手段は、前記カーネルの内円半径を所定範囲内で変更してフィルタリングを複数回施し、
前記スポット定量手段は、前記フィルタリング手段によりフィルタリングが複数回施された各画像における正規化された輝度分布のピーク値を求め、該ピーク値が最大となる画像で使用されたカーネルの内円半径を前記スポットの半径として定量する、プログラム。
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