JP5500534B2 - 有機半導体素子 - Google Patents
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Description
しかし、これらの方法では、面内異方性が制御できないため、配向制御が不十分である。これは、有機電界効果トランジスタへの応用を考えた場合、有機半導体素子の持つ電荷移動性を最大に引き出すためには、単結晶のように移動度が最大になる結晶軸を各有機半導体素子のチャンネル長方向に配向させることが必要である。つまり、基板の絶縁膜上に半導体材料の分子を立てて並べるだけでなく、面内での配向制御技術の開発が望まれている。
[1] 光配向膜と有機半導体膜とを含む有機半導体素子であり、光配向膜は、光の照射による配向処理を施されたポリイミドであり、有機半導体膜は、該光配向膜上で面内異方性を有することを特徴とする有機半導体素子。
[2] 前記光配向膜が、光の照射による配向処理を施されることにより、式(1)で表される配向膜の配向指数の絶対値|Δ|が、0<|Δ|≦1となる前記[1]項記載の有機半導体素子。
式中、A‖は配向処理方向に平行な偏光成分を有する赤外光を配向膜に入射させたときの特性基振動による吸光度であり、A⊥は配向処理方向に垂直な偏光成分を有する赤外光を配向膜に入射させたときの配向膜の特性基振動による吸光度である。
[3] 前記配向処理が、アゾ基の光異性化反応を利用した配向処理である前記[1]項または前記[2]項記載の有機半導体素子。
[4] 前記配向処理が、ポリアミック酸膜に直線偏光紫外光を照射した後に、熱イミド化する配向処理である前記[1]項または前記[2]項記載の有機半導体素子。
[5] 前記有機半導体膜が、光配向膜上に真空蒸着法により製膜されることを特徴とする前記[1]〜[4]のいずれか1項記載の有機半導体素子。
[6] 前記有機半導体膜が、光配向膜上に溶液法により製膜されることを特徴とする前記[1]〜[4]のいずれか1項記載の有機半導体素子。
[7] 前記有機半導体膜が、光配向膜上に製膜することで面内異方性を形成することができる有機半導体化合物を含有することを特徴とする前記[1]〜[6]のいずれか1項記載の有機半導体素子。
[8] 前記有機半導体化合物が、アセン、オリゴチオフェン、ジチエニルアセン、2,7−ジフェニル[1]ベンゾチエノ[3,2−b][1]ベンゾチエノフェン、ポルフィリン、ルブレンまたはこれらの誘導体からなる群から選ばれる少なくとも1種である前記[7]項記載の有機半導体素子。
体素子が得られる。
式中、A‖は配向処理方向に平行な偏光成分を有する赤外光を配向膜に入射させたときの特性基振動による吸光度であり、A⊥は配向処理方向に垂直な偏光成分を有する赤外光を配向膜に入射させたときの配向膜の特性基振動による吸光度である。
下記の具体例中におけるnは1〜20の整数である。シクロヘキサン環およびベンゼン環の任意の水素は、ハロゲンまたは炭素数1〜5のアルキルで置き換えられてもよい。
一般式(9)において、nは0〜5であり、R18、およびR19は独立して、水素、炭素数が1〜20のアルキル、アルキルオキシまたはアルキルケトンである。好ましくはR18、およびR19は炭素数が1〜15のアルキルある。
一般式(10)において、nは3〜7であり、R20、およびR21は独立して水素、炭素数が1〜20のアルキル、アルキルオキシまたはアルキルケトンである。好ましくはR20、およびR21は炭素数が1〜15のアルキルある。
一般式(11)において、R22、およびR23は独立して水素、炭素数が1〜20のアルキル、アルキルオキシまたはアルキルケトンである。好ましくはR22、およびR23は水素もしくは炭素数が1〜15のアルキルある。
ピロメリット酸二無水物:PMDA
・ジアミン
4,4’−ジアミノアゾベンゼン:DAZ
・溶剤
N−メチル−2−ピロリドン:NMP
温度計、攪拌機、原料投入仕込み口および窒素ガス導入口を備えた200mlの四つ口フラスコにDAZを2.4660g、脱水NMPを30.00g導入し、乾燥窒素気流下攪拌溶解した。反応系の温度を5℃に保ちながらPMDAを2.5340g添加し(PMDA/DAZの原料モル比=50/50)、30時間反応させた後、脱水NMPを65.00g加えて、5重量%のポリアミック酸の配向剤を調製した。前記反応中に反応熱により温度が上昇するときは、反応温度を約70℃以下に抑えて反応させた。ここで得られたポリアミック酸は、重量平均分子量がMw=24600、MNP中での分散度が2.9であった。
前記配向剤をNMPで希釈して1.60重量%とした後、シリコンウエーハ基板(ドライ熱酸化膜300nm付低ドープn型、Si(100)、抵抗率:5〜10 オームcm)上にスピンナーにて塗布した。塗布条件は3000rpm、60秒であった。
塗膜後、ウシオ電機株式会社製の500W Deep UVランプ(UXM−501MD)を光源とし、グランテーラー偏光プリズムを通して直線偏光とした光を基板面垂直方向から時間0分〜120分間照射した。その後、窒素雰囲気中250℃にて120分間加熱処理を行い配向膜を焼成した。なお、光配向処理条件は、朝日分光社製のバンドパスフィルターを用いて波長領域340〜500nmとし、照射光強度は88mWであった。
光配向処理を行わないことを除いてはまったく同じ条件で石英ガラス基板上に作製された配向膜の膜厚を、株式会社島津製作所製の自動偏光解析装置(APE−100)を用いて、測定波長632.8nm(He−Neレーザー)、入射角62.5度で測定したところで11nmであった。
得られた配向膜の赤外線吸収スペクトルの測定は、FT−IR装置(分光器:Mattson Galaxy 3020、検出器:mercury cadmium telluride)用いて、測定温度29℃、積算400回の条件で測定した。偏光子を透過した赤外光を配向膜の基板面垂直方向から照射した。サンプルの配向処理方向と偏光方向とが平行で測定したときの赤外光スペクトルおよび垂直で測定したときの赤外光スペクトルを測定した。配向膜の場合、(CO)2NC結合の伸縮振動に帰属される1370cm−1付近にピークを持つ吸収の積分強度(ベースライン 1321〜1445cm−1)を用い、配向膜の吸光度の差(A⊥−A‖)および配向膜の吸光度の和(A⊥+A‖)を算出した。一方、ペンタセンの場合、C−Hの面外振動である955付近にピークを持つ吸収の積分強度(ベースライン 947〜968cm−1)を用い吸光度の差(A⊥−A‖)および配向膜の吸光度の和(A⊥+A‖)を算出した。次いで、配向指数Δを前記式(1)に従い、得られた(A⊥−A‖)および(A⊥+A‖)の値より計算した。(図1、2)
有機半導体材料としてペンタセン(アルドリッチから購入)を用い、真空蒸着法により基板温度室温、蒸着レート0.3nm/min、圧力10−5Paで、ポリイミド光配向膜上に厚さ30nmのペンタセン薄膜を真空蒸着法により形成した。
X線回折のデータから、ペンタセン薄膜は、その分子長軸が平均として配向膜に対して垂直に配向している薄膜相結晶であることを示している。さらに、光配向処理によりペンタセンの回折強度の向上が見られ、結晶化度の向上が確認できる。
AFM(JEOL JSPM−5200)を用いて行った。光配向膜上では、光処理なしに比べ、ペンタセンの結晶グレインが大きいことが確認された。
光配向処理時間とともに配向膜の配向指数Δが急激に上昇し、約320J/cm2で飽和する傾向が見られる。
配向膜の配向指数の増加とペンタセン分子の配向指数の増加はほぼ相関がある。UV露光量が25J/cm2未満の少ない露光量では、ポリイミド分子の平均的な分子配向方向(偏光方向に垂直)に対して分子面がペンタセンの平均として平行となる分子配向をとるが、25J/cm2以上の露光量では、ポリイミド分子の平均的な分子配向方向(偏光方向に垂直)に対してペンタセンの分子面が平均として垂直になるようなペンタセン分子の配列が起こる。
基板としてドライ熱酸化膜(300nm)付高ドープn型シリコンウエーハ(Si(100)、抵抗率0.01〜0.0180オームcm)を用い、実施例1の記載に従い、UV露光量320J/cm2で光配向膜を形成した後、真空蒸着法により温度(室温)、蒸着レート0.3nm/min、圧力10−5Paの条件でペンタセン膜(厚さ:30nm)を形成した。その後、櫛歯電極マスク(図5)を用い蒸着により櫛歯電極を作成し、トップコンタクトタイプのTFT素子を製造した。チャンネル長はL=0.08mm、チャンネル幅は140mm、電極Au厚は10nmである。
ケースレー社製487picoanmeter/voltage source unitを2台用いて上記TFTの特性を測定した。
10V〜−30V間でゲート電圧(Vg)を5Vづつ変化させてソース−ドレイン間の電圧(Vd)−電流(Id)特性を測定し、FET特性を確認した(図6上図)。Vd=−30VのときのVg−Id特性を図6下図に示す。
飽和領域の関係式Id=W/2L[μCi(Vg−VT)2]より求めたキャリア移動度は、ソース−ドレイン電極方向に対し、ペンタセン分子平面の平均的な分子配列方向が垂直の場合、μ⊥=1.94×10−3 cm2v−1s−1 、ソース−ドレイン電極方向に対し、ペンタセン分子平面の平均的な分子配列方向が平行の場合、μ‖=9.6×10−4 cm2v−1s−1 で、ペンタセン分子の面内異方性制御の効果が確認できた。
Claims (5)
- 光配向膜と有機半導体膜とを含む有機半導体素子であり、光配向膜は、光の照射による配向処理の後に加熱処理を施されたポリイミドであり、有機半導体膜は、光配向膜上に真空蒸着法により製膜されて、該光配向膜上で面内異方性を有することを特徴とする有機半導体素子であって、
前記光配向膜が、光の照射による配向処理を施されることにより、式(1)で表される配向膜の配向指数の絶対値|Δ|が、0.2≦|Δ|≦0.8となる、有機半導体素子。
式中、A‖は配向処理方向に平行な偏光成分を有する赤外光を配向膜に入射させたときの特性基振動による吸光度であり、A⊥は配向処理方向に垂直な偏光成分を有する赤外光を配向膜に入射させたときの配向膜の特性基振動による吸光度である。 - 前記配向処理が、アゾ基の光異性化反応を利用した配向処理である請求項1記載の有機半導体素子。
- 前記配向処理が、ポリアミック酸膜への直線偏光紫外光の照射であり、前記加熱処理が、熱イミド化である請求項1記載の有機半導体素子。
- 前記有機半導体膜が、光配向膜上に製膜することで面内異方性を形成することができる有機半導体化合物を含有することを特徴とする請求項1〜3のいずれか1項記載の有機半導体素子。
- 前記有機半導体化合物が、アセン、オリゴチオフェン、ジチエニルアセン、2,7−ジフェニル[1]ベンゾチエノ[3,2−b][1]ベンゾチエノフェン、ポルフィリン、ルブレンまたはこれらの誘導体からなる群から選ばれる少なくとも1種である請求項4記載の有機
半導体素子。
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