JP5522443B2 - 走査型共焦点顕微鏡検査の改善、およびその関連技術 - Google Patents
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Description
本発明は、走査型共焦点顕微鏡検査に関連する。より詳細には、本発明は、走査型共焦点顕微鏡システムに取り付けられたサンプルの1つ以上の領域における、選択可能な照明に関連する。
共焦点顕微鏡は、半透明の顕微鏡体における内部の詳細を観察するために、特に生物学的な用途において、ごく普通に使用されており、多くの場合、蛍光照明が使用されている。このような顕微鏡における本質的な特徴は、ピンホールを介して集束された光による、サンプルの照明にある。これは、同じピンホールを介する戻り光の観察と組み合わされる。したがって、検出光は、実質的に、サンプル内のピンホールにおける特定の画像面(その上の面でも下の面でもなく)に関連するものとなる。これにより、サンプル内における正確な深さ分解能を得ることが可能となる。一般的には、ピンホールにおいて非常に強く集束された強力なビームを得るために、レーザが使用される。
い光源によって活性化されたときに、その蛍光色を変化させるものもある。この場合も、これによって、その領域に「タグをつける」ことが可能となり、そして、移送機構を研究することが可能となる。
本発明は、顕微鏡内に取り付けられたサンプルにおける選択された領域を照明するために、共振点走査ヘッドから走査型共焦点顕微鏡システムの顕微鏡に延びる光路内に光ビームを入力するためのアセンブリにおいて、光源からの光ビームを受ける光入力部と、サンプルにおける選択された領域の形状を参照して、光ビームの経路を制御するためのビーム方向づけ手段と、選択された領域を照明するために、ビーム方向づけ手段によってビームの方向が制御されている状態で、共振点走査ヘッドから顕微鏡までの光路内に光ビームを選択的に結合するためのビーム結合器と、を備えているアセンブリを提供する。
とに、この反射素子を、アセンブリによって照明されている間にサンプルを観察することを可能とする、ビームスプリッタとすることが可能である。
(a)所定のビーム方向づけ手段の設定にしたがって、少なくとも6つのポイントのそれぞれを順々に照明するステップと、
(b)各ポイントの位置を、カメラによって記録するステップと、
(c)各ポイントにおけるカメラの画素位置を決定するステップと、
(d)ビーム方向づけ手段の設定(u,v)と画素位置(x,y)との対を、以下に示す方程式に入力し、
u=a1,1+a2,1x+a3,1y+a4,1xy+a5,1x2+a6,1y2
v=a1,2+a2,2x+a3,2y+a4,2xy+a5,2x2+a6,2y2
さらに、その結果として生じた連立方程式から、係数a1,1〜a6,2を演算するステップと、を含んでいる。
(a)光源からの光ビームを受けるステップと、
(b)サンプルにおける選択された領域の形状を参照して、光ビームの経路を制御するステップと、
(c)サンプルにおける選択された領域を照明するために、ビーム方向づけ手段によってビームの方向が制御されている状態で、共振点走査ヘッドから顕微鏡までの光路内に光ビームを選択的に結合するステップと、を含んでいる。
図1は、本発明の実施形態にかかる走査型共焦点顕微鏡システムのブロック図を示している。これは、ここに説明されるような光ビーム入力アセンブリを具体化した、ターゲット照明モジュールを含んでいる。このモジュールは、以下では、「FRAPモジュール」とも称される。
FRAPモジュールの機能は、強く集束され正確に配置された高出力レーザ照射を、顕微鏡の視野内においてユーザに選択されたターゲットに出射するとともに、通常の共焦点法によって、ターゲットを非常に素早く観察することを可能とすることにある。このモジュールは、共焦点ヘッドとほぼ同様のサイズおよび形状を有するボックスであり、共焦点ヘッドと顕微鏡の出力ポートとの間に配されている。FRAPモジュールの光学素子を示す略図が、図2〜図8に示されている。
1 コリメータを有する、単一モード入力ファイバー
2 入力調整バレルの端部
3 第1の折り返しミラー
4 ビーム拡大器における第1のレンズ(凹レンズ)
5 ビーム拡大器における第2のレンズ(凸レンズ)
6 第2の折り返しミラー
7 減光フィルタ(アッテネータ)
8 Xガルバノメータミラー
9 第1のガルバノリレーレンズ
10 ルーフミラー対
11 第2のガルバノリレーレンズ
12 Yガルバノメータミラー
13 第3の折り返しミラー
14 fθレンズ
15 第4の折り返しミラー
16 出射ミラー(ビームスプリッタ)
17 サンプル画像面
18 Cマウントのフランジ位置(顕微鏡の連結器)
19 視野レンズ
20 顕微鏡への出力ビーム。
21 第1のメインリレーレンズ
22 中央リレーバッフル(開口部)
23 第2のメインリレーレンズ
24 リレーされたサンプル画像面(共焦点ヘッドの内部)。
ムを導くように動かされる。そして、レーザがONとなる。FRAPの動作が完了した後、すぐに、出射ミラーおよび光スイッチミラーは、これらのもともとの位置に戻される。これにより、通常の方法でサンプルを観察できるようになる。なお、ガルバノが非常に素早く動作するため、プログラム制御によって、孤立したスポットだけというよりも、むしろ、サンプルにおける走査領域をターゲットとすることが可能である。
おける光学リレー9、11によって達成される。これは、ビームに干渉せず、それ以外には変化はない。
にシステムを再調整することを可能とするために、テストソフトウェア、および、折り畳み式の単純な光学的アクセサリを備えることも可能である。
め、単純なレンズを使用することで、リレーは、良質の画像を維持するために、長い焦点距離をもたなければならない。個々のレンズのそれぞれは、表面間の屈折を共有するレンズ22、24の対と交換される。これは、リレーを短縮しながら良質の画像化を維持するためである。各レンズ自体は、アクロマート対である。これは、色収差の修正に加えて、さらに、画像の品質を改善するためにも役立つものである。たとえそうであっても、画像の品質は、決定的に、テレセントリックな入力ビームによって提供される、開口数に依存する。これについては、リレー入力の上流側で制御することが可能である。また、これに代えて、図示されているようなバッフル23によって規定される、中央の開口部によって制御することが可能である。この開口部は、また、リレーを介した伝播からの迷光を制限するように機能することも可能である。
4、5;4a、5a テレスコープレンズ対
6 折り返しミラー
26 DCモータ
27 回転エンコーダ
30 サブフレーム
31 クランプ板
32 レンズマウント
33 磁石
34 エンドストップ
35 エンドストップピン
36 クランプ板
37 V字底のスロット。
る。この方策は、フライス盤における固有の精密度を最大限に活用するものである。例えば、通常の慣行では、モータシャフトを通すために、マウントにおける垂直軸に沿って、下向きにドリルで孔を開けるはずである。このためには、加工対象物を回転することを必要とする。これは、追加的な設定誤差をもたらす可能性があり、また、どんな場合でも、単にドリルのぶれのみに起因して、中心からずれた孔を形成してしまう可能性がある。その代わりとして、好ましい実施形態では、モータシャフトを入れるために、V字底のスロット37が削り出され、板36によって、適当な位置にシャフトをクランプする。これにより、レンズマウントにおける極めてよい対称性を保証する。
r/f=θ=/(π*w0)。
3種類のサイズのレーザビームの全ては、顕微鏡対物における背面の光学開口部の中心を通過するべきである。これは、サンプルに到達する照明錐が、局所的に光学軸に平行であることを確保し、また、最大の光量が目的物にまで到達することを保証する。fθレンズ14は、ターゲット照明モジュールからの出力ビームの照準をあわせるために使用される。しかしながら、この1回の調整は、ビームサイズにおける3つの全ての選択肢にとって十分であるはずである。したがって、3本の全てのビームが、目的物の背面において一致していることが重要である。完全に構築されたシステムでは、これはその場合に該当するはずである。しかしながら、テレスコープにおける中心出しの誤差が、直交アセンブリ方法によってこれを得ることを、事実上不可能としている。それでもやはり、入力レーザビーム調節器において利用可能な4つの自由度の全てを使用することによって、目的物の背面において実質的にビームの一致を得る、単一の入力経路を見つけることが可能である。これについては、以下に示すような古典的な光学系によって、証明することが可能である。
38 図14Aにおける、3xビーム拡大器による虚像位置
39 図14Bにおける、1/3xビーム縮小器による虚像位置
40 図14Cにおける、1xビーム拡張(テレスコープなし)による虚像位置。
のいずれか1つが、何らかの理由で横方向にずれている場合(図16AおよびBによって例示されているように)、ポイントは直線上にのらず、このために、前記照準を得ることが不可能である、ということも分かっている。
41 レーザビームコリメータバレル
42 クランプおよび伸縮スプリング
43 囲い壁(enclosure wall)の内部
44 押しピンのガイドアセンブリ
45 調整ネジ(全部で4つ)
46 球形の端部を有する真鍮製の押しピン(全部で4つ)。
レスコープに関連するもの)だけを調整する。これは、この調整が中程度のスポットにも影響するために、何度かの繰り返しを必要とするはずである。
60 筐体
61 伸縮スプリング
62 水平方向の調整ネジ
63 垂直方向の調整ネジ。
光スイッチ(図1において110として指定されている)の機能は、レーザビームの方向を、通常の共焦点ヘッドの観察チャネルからFRAPモチャネルに、自由自在に転換することである。このスイッチは、レーザ光源108内あるいはその近傍に配置されている。そして、その出力は、補強された単一モードの光ファイバーを介して、共焦点ヘッド102およびFRAPモジュール100に結合されている。
26’ DCモータ
27’ 回転エンコーダ
50 入力レンズ
51 出力レンズ(ミラーのない場合)
52 モータ付の平面ミラー(挿入された状態で示されている)
53 代替的な出力レンズ(ミラーが挿入されている場合)
54 入力レンズ上の焦点リング
55 筐体
56 平行な出力ファイバーの配置に関するマイクロ操作装置。
mの長さの旋回ミラーにおいては、たったの0.5マイクロメートルの屈曲に対応するにすぎない。
ここで、サンプルの周囲の3つの軸においてレーザビームを制御するための、ハードウェア実装について説明する。このビームについては、あらかじめ規定された形状あるいはフリーハンドの動作(FRAP)における関心領域の周囲に導くことが可能である。X、Y軸、およびレーザパワーのオン/オフに対する同時実行制御、および、非常に詳細な形状の図面も設計されている。
システムの主な部品は、制御ユニット(同期装置114)、光学ユニット70(ターゲット照明モジュールを含む)、レーザエンジン108、およびPC112(図25参照)である。顕微鏡システムにおける他の部材についても、前記同期装置によって制御することが可能である。
・PCとのインターフェイス(CypressFX2USBマイクロプロセッサデバイス72の周囲のインターフェイス(USB2.0インターフェイス))。
・パターン描画エンジン(FRAP)は、Spartan3FPGAデバイス74によっ
て駆動される。
・二元DAC76は、2つのガルボを駆動するために付加されている。
・シリアルの4チャネルADC78は、ガルボの位置をリードバックすることが可能である。
・7つの光スイッチ(図示せず)を制御するための、追加的なハードウェア。
・レーザ制御ハードウェア80。
・レーザイベント(レーザイベント)を格納するための、SRAM82。
・ガルボベクトル(ガルボベクトル;動き)を格納するための、SRAM84。
・実験の状態(STATES)を格納するための、SRAM86。
1.ユーザは、彼のPCの画面上で、彼が生体サンプルの周囲に「レーザビームによって描きたい」と思う形状を規定する。
2.この領域が、(アプリケーションソフトウェアにおいて)ガルボベクトル、レーザイベント、および制御(CONTROL)コマンドに「変換」される。ガルボベクトルは、ガルバノメータのモータ(ガルボ)を動かすために必要とされる、DAC値を与える。レーザイベントは、レーザビームにおけるオン/オフのパターンを与える。
3.前記情報が、制御ユニットに(USB2.0を用いて)ダウンロードされる。
4.制御コマンドに続くFPGAが、レーザビームのオン/オフを切り替えながらガルボモータを動かすことによって、パターンを描く。
レーザビームは、XおよびY制御モータ90および92をそれぞれ有する2つのガルバノモータ内に取り付けられている、2つのミラー8、12上に落下する(図27参照)。2つのミラーを独立に動かすことによって、我々は、2つの軸において、レーザビームの反射を制御することが可能となる。
いてオフとなり、ガルバノモータが理想的な位置となったときに、オンに戻る。
FPGA74の主要な機能は、2つのモータ、および、レーザにおけるオン/オフのイベントを駆動することである。それは、同時に、ガルボメモリおよびレーザメモリをデータで満たすための、ブリッジとしても使用される。さらに、全てのうちで最も重要なことは、動作(パターンの描画)中に、2つの主なエンジン(ガルボ、レーザ)を同期させる(コマンド構造エンジン)ことである。
ガルボエンジン120は、2元DAC76の値を設定することによって、2つのガルボモータを制御する。それが起動すると、それは、外部メモリからベクトルを読み出して、DACに関する値を与える。それが全てのベクトル(特定のパターンに関するもの)を読み出したとき、それは、マイクロプロセッサ72に対する割り込み信号を生成する。全てのベクトルに関して、3つの語句が要求される。したがって、ガルボエンジンは、DACをアップデートする前に、3回、外部のガルボメモリを読む必要がある。
ガルボメモリ84は、XおよびYベクトルを格納するために使用される。まず、マイクロプロセッサ72は、ガルボメモリをベクトルによって満たす。そして、FRAPサイクルの間、ガルボエンジン120は、前記ベクトルを読み出して、DAC76に、あらかじめ規定された値をロードする。
レーザエンジン122は、8つのレーザのオン/オフ状態を制御する。このエンジンは、外部メモリ(レーザメモリ82)からイベントを読み出す。そして、それは、イベントを順々に実行する。レーザエンジンは、レーザのスイッチをオン/オフすることができるようになる前に、レーザメモリから、2つの語句を読み出さなければならない。
レーザメモリ82は、ガルボメモリ84とは物理的に異なっており、レーザイベントを格納するために使用される。マイクロプロセッサは、レーザメモリ内にイベントを格納し、そして、レーザエンジンは、これらのイベントをロードして、それに応じて、レーザのスイッチをオン/オフする。このレーザメモリは、以下のような構造を有している。
・それが通常どおりに処理していることが示されていない場合に、動作を停止するための
ビットパターン(End of Data)。
・レーザイベントの間の時間を計るためのタイマー
・レーザのオン/オフ状態を制御するためのビットパターン。
メモリインターフェイスブロック124は、FPGA74とマイクロプロセッサ72との間のリンクに関して責任を負う。このプロセスは、以下の事項に責任を負う。
・ガルボメモリ84へのアクセス
・レーザメモリ82へのアクセス
・状態メモリ86へのアクセス(このメモリは、複雑な実験の状態を格納するために使用される)
・コマンドメモリ88へのアクセス(このメモリは、FPGAメモリの内部にあるものである。これについては後述する)。
マイクロプロセッサがFRAPサイクル(パターンの描画)を開始したとき、コマンド構造エンジンブロック126が、動作の制御を引き継ぐ。まず、それは、内部のRAM(コマンドメモリ88)に格納されていた(PCによってダウンロードされていた)コマンドを読み出し、そして、命令を順々に実行する。レーザおよびガルボエンジン120、122を同期させるために使用することの可能な、7つのコマンドがある。
GALVONOWコマンドは、ガルボX(GALVO X)への値(DAC)、および、ガルボY(GALVO Y)への値(DAC)をロードする。両方のガルボは、固定された位置に向かって進むことになる。ユーザは、ガルボのための準備時間を確保するために、必要な遅延時間(DELAY)を加えることが可能である。DELAYコマンドは、常に、GALVONOWコマンドおよびSTARTFRAPコマンドとの間において使用するべきものである。
LASERNOWコマンドは、レーザラインを有効(イネーブル)にする、あるいはこれを無効にするために使用される。このコマンドは、AOTFレーザイネーブルを制御する。FPGAは、FRAPサイクルの間でだけ、このレーザイネーブルを駆動する。他の全ての時間では、このレーザイネーブルは、マイクロプロセッサによって駆動される。
このコマンドは、メモリ(ガルボ)アドレスポインタをガルボエンジンに提供する。STARTFRAPコマンドが実行されたとき、ガルボエンジンは、この位置からスタートしているベクトルを(外部のガルボメモリから)読み出す。
このコマンドは、LOADPOINTERXに類似している。ポインタは、レーザエンジンにロードされることになる。STARTFRAPが実行されたとき、このレーザエンジンは、この位置から、(外部のレーザメモリから)データを読み出す。
このコマンドは、FRAPサイクルを開始する。ガルボエンジンは、それが停止する前に、ガルボメモリからの多数のベクトルを実行することになる(「ベクトルの数」は、このコマンドに格納されている)。
このコマンドは、コマンド構造メモリブロックの最後に、START FRAPコマンドの直後に使用するべきものである。これら2つのコマンドは、ともに、FRAPサイクルを開始し、終了させる。
このコマンドは、FRAPサイクルの実行に遅延時間を加える。それを、GALVONOWコマンドの実行後に、ガルボモータのための準備時間を確保するために使用することも可能である。また、それは、レーザとガルボエンジンとの間の同期をとるためにも使用される。
以下に示す実施例は、典型的なパターンのサイクルであり、それは、内部のコマンド構造メモリブロックの利用を実例によって説明する。
実行の速度
FPGAの構造は、2つの主なプロセス(ガルボおよびレーザエンジン)の同時実行を可能とする。これらが独立に機能するために、これらは、高い動作速度を得ることが可能である。したがって、ガルボを、10usごとにアップデートすることが可能である。一
方、レーザエンジンは、100nm以内に、オンからオフに状態を変えることが可能である。
レーザおよびガルボエンジンに関する独立した外部メモリにより、ユーザは、非常に素早く、ベクトルあるいはレーザイベントだけを修正することが可能となる。すなわち、ユーザが、同じ形状/パターンを描きたいのだがレーザイベントだけを変えたい、と思った場合、彼は、このパターンのベクトルを再ダウンロードする必要がない。彼は、単に、レーザメモリをアップデートすることが可能である。したがって、ユーザにとって、非常に動作が速いという利点がある。
GALVONOWコマンドを使用することにより、ユーザは、画面上のいずれのポイントに対しても、ガルバノモータを動かすことが可能となる。したがって、生体サンプルの周囲にボックスを描くために、我々は、レーザイベント、ガルボベクトルおよびコマンドメモリをダウンロードする必要がある。その後、マイクロプロセッサは、FRAPサイクル(パターンの描画)を開始する。サンプルが動いており、我々がその周囲の領域を再描画したいと考えた場合には、我々は、前記メモリを再び満たす必要はない。我々は、GALVONOWコマンドを使用することによって、パターンのスタート位置を単にアップデートし、そして、我々は、FRAPサイクルを開始する。これにより、cFRAPでは、ユーザ/アプリケーションソフトウェアは、どのような生体サンプルであっても、非常に素早く、モニタおよびフラップすることが可能となる。
この設計における2つの主なエンジンは、互いに独立して機能する。このため、これらは、起動している間、同期される必要がある。このため、レーザエンジンをスタートさせるガルボエンジンからの内部信号があるが、デバイスの内部には、我々が動作中に補償する必要のある、伝播遅延がまだ残っている。これは、delayコマンドを用いて実現される。delayコマンドは、(GALVONOWの間に)特定の位置に移動するための十分な時間をガルボモータに与えるだけでなく、これにより、ユーザは、システムにおける伝播遅延時間を解消することが可能となる。このように、1つのコマンドを用いることによって、我々は、ガルバノモータ/システムの慣性、および、FPGAの伝播遅延時間を取り除く。
ここで記載されている顕微鏡システムは、2つの光学システムを含む。1つのシステム(共焦点ヘッド)は、サンプルを撮像し、また、他のもの(FRAPモジュール)が、サンプルの選択された領域を照明する。サンプル画像(WYSIWYG)から特定されるサンプルの領域を、照明することが望ましい。したがって、これら2つの光学システム内の座標を関連づけるための方法を、有することが好ましい。
を、ガルボポイント(u,v)に移動する。
u=a1,1+a2,1x+a3,1y+a4,1xy+a5,1x2+a6,1y2
v=a1,2+a2,2x+a3,2y+a4,2xy+a5,2x2+a6,2y2。
1 観察ビーム内に、ビームスプリッタ16および較正ミラーを挿入する。
2 ターゲット照明モデルに向けてビームを方向づけるために、レーザビーム内にスイッチミラー52を挿入する。
3 あらかじめ設定された少なくとも6つの電気的な駆動条件の1つに向けて、ガルバノメータミラーを回転する。
4 必要であれば、レーザビームをオンにする。そして、システムカメラを使用して、レーザスポットの画像を記録する。
5 スポットの中心における画素位置を決定する(例えば、その重心によって、あるいは、ガウシアンピークフィットによって、決定する。)
6 視野の周囲にほぼ均等に分散されている、少なくとも5つ以上のあらかじめ設定されたガルボ位置に関して、ステップ2〜5をくり返す。
7 標準的な数学的技術を用いて、係数に関する連立方程式を解く。厳密決定系(exactly determined case)に関しては(6つの位置)、消去法を使用する。好ましい過剰決定系(overdetermined case)に関しては(6つより多くの位置)、最小2乗法を使用する(「正規方程式」を解く)。
Claims (33)
- 顕微鏡内に取り付けられたサンプルにおける選択された領域を照明するために、共焦点走査ヘッドから走査型共焦点顕微鏡システムの顕微鏡に延びる光路内に光ビームを入力するためのアセンブリにおいて、
光源からの光ビームを受ける光入力部と、
サンプルにおける選択された領域の形状を参照して、光ビームの経路を制御するためのビーム方向づけ手段と、
選択された領域を照明するために、ビーム方向づけ手段によってビームの方向が制御されている状態で、共焦点走査ヘッドから顕微鏡までの光路内に光ビームを選択的に結合するためのビーム結合器と、
サンプル画像を、当該画像を前記光路に沿って前記共焦点走査ヘッドに向けて送るために、アセンブリの顕微鏡側からアセンブリの共焦点走査ヘッド側にリレーするための、前記アセンブリ内の前記光路上に設けられた、光学リレーと、を備えているアセンブリ。 - 光学リレーが、迷光の伝送を減少するために、光路内の孔を規定するバッフルを備えている、請求項1に記載のアセンブリ。
- 光ビームを集束するために、ビーム結合器と顕微鏡との間に視野レンズを備えている、請求項1〜2のいずれかに記載のアセンブリ。
- ビーム結合器が、伝送された光ビームにおける光路への出射を促進するために、共焦点走査ヘッドと顕微鏡との間の光路内に選択的に挿入することの可能な、反射素子を備えている、請求項1〜3のいずれかに記載のアセンブリ。
- 反射素子がビームスプリッタであり、このビームスプリッタが、それを通して共焦点走査ヘッドによってサンプルを観察することを可能とする、請求項4に記載のアセンブリ。
- サンプルに形成される照明スポットサイズを調整するために、光ビームの直径を選択的に変更するためのビーム直径調整手段を備えている、請求項1〜5のいずれかに記載のアセンブリ。
- ビーム直径調整手段が、光ビーム内に選択的に挿入されるように構成されているテレスコープを備えている、請求項6に記載のアセンブリ。
- 異なる光学特性を有する複数のテレスコープが、光ビーム内に選択的に挿入可能となっており、さらに、各テレスコープに関する前面および背面レンズが、回転可能な個別の支持材に取り付けられており、これにより、各支持材上のレンズにおける光ビーム内への選択的な挿入が可能となっている、請求項7に記載のアセンブリ。
- アセンブリ内に入力される光ビームの方向および横方向の変位を調整するための、入力ビーム誘導器を備えている、請求項1〜8のいずれかに記載のアセンブリ。
- 入力ビーム誘導器が入力ビームコリメータを備えており、この入力ビームコリメータが、アセンブリ内に入力された光ビームの方向および横方向の変位を調整するために、その方向を変えることができるように取り付けられている、請求項9に記載のアセンブリ。
- コリメータが、各端部に隣接する円筒形の外表面を有しており、1対の線形調節器が、これらの表面のそれぞれに接触した状態で設けられており、これらの調節器の軸が、実質的に平行になっている、請求項10に記載のアセンブリ。
- ビーム方向づけ手段が、旋回可能に取り付けられた2つのミラーを備えており、これらの旋回軸が、実質的に互いに直交しており、これにより、光ビームの方向を、2つの直交方向において制御することが可能となっており、旋回可能に取り付けられたミラーの間の光路内に、追加的なミラーが設けられており、これによって占拠されるスペースの長さを減少する、請求項1〜11のいずれかに記載のアセンブリ。
- 追加的なミラーが、互いに直交した構成となっている1対の平面ミラーを備えており、これにより、それらの1つに入射するビームの方向を反転する、請求項12に記載のアセンブリ。
- 焦点調整を可能とするために、1対の平面ミラーが、これらの位置を入射ビームに平行な線に沿って調整できるように、取り付けられている、請求項13に記載のアセンブリ。
- ビーム方向づけ手段によって引き起こされた光ビームの角度偏向を、平行なビーム変位に変換するために、照準レンズが設けられている、請求項1〜14のいずれかに記載のアセンブリ。
- 光ビームの照準を調整するために、照準レンズが、その位置を横方向に調整できるように取り付けられている、請求項15に記載のアセンブリ。
- アセンブリの較正を補助するために、アセンブリの顕微鏡側における画像面内の光路に対して選択的に挿入することの可能なターゲットを含んでいる、請求項1〜16のいずれかに記載のアセンブリ。
- 顕微鏡と、
カメラと、
このカメラを用いて顕微鏡内に取り付けられているサンプルを観察するための共焦点走査ヘッドと、
請求項1〜17のいずれかに記載のアセンブリと、
このアセンブリに結合されている光源とを備えている顕微鏡システムにおいて、
サンプルにおける選択された領域を照明するために、ビーム方向づけ手段および光源の
双方を制御するためのコントローラを備えている、顕微鏡システム。 - ビーム方向づけ手段が、光源と共同して、サンプルにおける1つ以上の別個のポイントに向けてビームを方向づけるように機能する、請求項18に記載のシステム。
- ビーム方向づけ手段が、サンプルにおける所定の領域が実質的に均一に照明されるように、ビームを操作するように機能する、請求項18あるいは19に記載のシステム。
- コントローラが、選択された領域の形状を参照して、ビーム方向づけ手段に対して制御信号を出力するように機能し、この信号が、実質的に等しい長さのステップのシーケンスとして、サンプル上のビームの動きを規定する、請求項20に記載のシステム。
- 光ビームが実質的に一定の速度でサンプル上を移動するように、コントローラが、ビーム方向づけ手段を制御するように機能する、請求項18〜21のいずれかに記載のシステム。
- コントローラが、ビーム方向づけ手段を制御するための命令のセットから切り離して、光源を制御するための命令のセットを格納するように構成されている記憶手段を含んでおり、これにより、いずれか一方の命令のセットを、他のセットとは独立にアップデートすることが可能となっている、請求項18〜22のいずれかに記載のシステム。
- コントローラが、光源を制御するための命令と、ビーム方向づけ手段を制御するための命令とを、並行して処理するように機能する、請求項18〜23のいずれかに記載のシステム。
- コントローラが、ビーム方向づけ手段および光源に出力される制御パラメータを演算するようにプログラムされている、FPGAを含んでいる、請求項18〜24のいずれかに記載のシステム。
- FPGAが、前記パラメータを演算する複数のプログラムを並行して実行するように構成されている、請求項24に従属している請求項25に記載のシステム。
- 走査共焦点ヘッドの光入力部とアセンブリの光入力部との間で、光源によって出力される光ビームを選択的に切り替えるための光スイッチを備えている、請求項18〜26のいずれかに記載のシステム。
- 光スイッチが、第1の位置と第2の位置との間で切り替え可能なミラーと、第1の位置と第2の位置との間でミラーを移動するためのドライバとを有しており、
第1の位置では、光ビームが、ミラーに入射しないけれど、スイッチを介して直接的に走査共焦点ヘッドに到達する一方、第2の位置では、光ビームが、アセンブリの光入力部に対して伝送されるように転換される、請求項27に記載のシステム。 - スイッチ内における角度のミスアライメントに対する感度を減少するために、光スイッチを介する各光路に光学リレーが設けられており、
このリレーが、スイッチアセンブリに対する光入力を、それぞれの出力部に伝送するように構成されているとともに、入力ビームの焦点を、ミラーに近接している出力部と入力部との間のポイントにあわせるように構成されており、
ミラーが、2つのエンドストップ間において切り替え可能であり、
制御手段が、エンドストップ間におけるミラーの道程における第1の位置にある間にミラーを加速する一方、その道程における第2の位置にある間にミラーを減速するためのド
ライバに結合している、請求項28に記載のシステム。 - 1対のアクロマートレンズが、入力部と出力部とのそれぞれに設けられている、請求項29に記載のシステム。
- 光スイッチが、ミラーの方向を示す信号を生成するための回転エンコーダを備えている、請求項28あるいは29に記載のシステム。
- ミラーが、ドライバによって、各エンドストップに抗するバイアスを印加されている、請求項28あるいは29に記載のシステム。
- 請求項18〜32のいずれかに記載の顕微鏡システムを較正する方法において、
(a)所定のビーム方向づけ手段の設定にしたがって、少なくとも6つのポイントのそれぞれを順々に照明するステップと、
(b)各ポイントの位置を、カメラによって記録するステップと、
(c)各ポイントにおけるカメラの画素位置を決定するステップと、
(d)ビーム方向づけ手段の設定(u,v)と画素位置(x,y)との対を、以下に示す方程式に入力し、
u=a1,1+a2,1x+a3,1y+a4,1xy+a5,1x2+a6,1y2
v=a1,2+a2,2x+a3,2y+a4,2xy+a5,2x2+a6,2y2
さらに、その結果として生じた連立方程式から、係数a1,1〜a6,2を演算するステップと、を含んでいる方法。
Applications Claiming Priority (3)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| GB0618057.4 | 2006-09-14 | ||
| GBGB0618057.4A GB0618057D0 (en) | 2006-09-14 | 2006-09-14 | Improvements in and relating to scanning confocal microscopy |
| PCT/GB2007/003446 WO2008032055A1 (en) | 2006-09-14 | 2007-09-14 | Improvements in and relating to scanning confocal microscopy |
Publications (3)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JP2010503884A JP2010503884A (ja) | 2010-02-04 |
| JP2010503884A5 JP2010503884A5 (ja) | 2010-09-16 |
| JP5522443B2 true JP5522443B2 (ja) | 2014-06-18 |
Family
ID=37309882
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2009527884A Active JP5522443B2 (ja) | 2006-09-14 | 2007-09-14 | 走査型共焦点顕微鏡検査の改善、およびその関連技術 |
Country Status (9)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US8284484B2 (ja) |
| EP (1) | EP2059844B1 (ja) |
| JP (1) | JP5522443B2 (ja) |
| CN (2) | CN101595414B (ja) |
| AU (1) | AU2007296003B2 (ja) |
| CA (1) | CA2663597C (ja) |
| GB (1) | GB0618057D0 (ja) |
| SG (1) | SG170814A1 (ja) |
| WO (1) | WO2008032055A1 (ja) |
Families Citing this family (60)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO2011108371A1 (ja) | 2010-03-01 | 2011-09-09 | オリンパス株式会社 | 光分析装置、光分析方法並びに光分析用コンピュータプログラム |
| JP5897563B2 (ja) * | 2010-06-30 | 2016-03-30 | ジーイー・ヘルスケア・バイオサイエンス・コーポレイション | ライン走査式顕微鏡における同期用システム |
| CN103026205B (zh) | 2010-07-26 | 2016-03-23 | 奥林巴斯株式会社 | 使用发光探针检测溶液中稀疏颗粒的方法 |
| CN103097878B (zh) | 2010-09-10 | 2015-07-22 | 奥林巴斯株式会社 | 使用单个发光颗粒的光强度的光学分析方法 |
| EP2602612A4 (en) | 2010-09-10 | 2018-05-16 | Olympus Corporation | Optical analysis method using optical measurement in multiple wavelength bands |
| EP2620763A4 (en) | 2010-10-19 | 2015-05-27 | Olympus Corp | OPTICAL ANALYSIS DEVICE FOR OBSERVING THE POLARIZATION CHARACTERISTICS OF A SINGLE LIGHT-EMITTING PARTICLE, OPTICAL ANALYSIS METHOD, AND OPTICAL ANALYSIS COMPUTER PROGRAM |
| JP5945506B2 (ja) | 2010-11-25 | 2016-07-05 | オリンパス株式会社 | 単一発光粒子の光の波長特性を用いた光分析装置及び光分析方法 |
| DE102010061612B4 (de) * | 2010-12-29 | 2023-12-28 | Leica Microsystems Cms Gmbh | Verfahren zum Ermitteln von Scankoordinaten zum Betreiben einer Scaneinheit eines konfokalen Scan-Mikroskops und konfokales Scan-Mikroskop |
| JP5856983B2 (ja) | 2011-01-20 | 2016-02-10 | オリンパス株式会社 | 単一発光粒子からの光の検出を用いた光分析方法及び光分析装置 |
| JP6009944B2 (ja) | 2011-01-26 | 2016-10-19 | オリンパス株式会社 | 核酸分子の多型識別方法 |
| WO2012102260A1 (ja) | 2011-01-26 | 2012-08-02 | オリンパス株式会社 | 核酸分子の多型識別方法 |
| WO2012133292A1 (ja) | 2011-03-29 | 2012-10-04 | オリンパス株式会社 | 単一発光粒子検出を用いた光分析装置、光分析方法並びに光分析用コンピュータプログラム |
| WO2012141019A1 (ja) | 2011-04-13 | 2012-10-18 | オリンパス株式会社 | 単一発光粒子検出を用いた光分析装置、光分析方法及び光分析用コンピュータプログラム |
| CN103620389B (zh) | 2011-04-18 | 2016-08-17 | 奥林巴斯株式会社 | 目标粒子的定量方法、光分析装置以及光分析用计算机程序 |
| WO2013021687A1 (ja) | 2011-08-11 | 2013-02-14 | オリンパス株式会社 | 標的粒子の検出方法 |
| WO2013024650A1 (ja) | 2011-08-15 | 2013-02-21 | オリンパス株式会社 | 単一発光粒子検出を用いた光分析装置、光分析方法及び光分析用コンピュータプログラム |
| CN103765195B (zh) | 2011-08-26 | 2018-06-01 | 奥林巴斯株式会社 | 利用光分析的单个粒子检测装置、单个粒子检测方法以及单个粒子检测用计算机程序 |
| WO2013031439A1 (ja) | 2011-08-26 | 2013-03-07 | オリンパス株式会社 | 単一発光粒子検出を用いた光分析装置、光分析方法及び光分析用コンピュータプログラム |
| EP2752654A4 (en) | 2011-08-30 | 2015-04-15 | Olympus Corp | OPTICAL ANALYZER WITH SINGLE DETECTION OF LIGHT-EMITTING PARTICLES, OPTICAL ANALYSIS PROCEDURE AND COMPUTER PROGRAM FOR OPTICAL ANALYZES |
| EP2752655A4 (en) | 2011-08-30 | 2015-06-17 | Olympus Corp | PROCEDURE FOR DETECTING TARGET PARTICLES |
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| JP5996625B2 (ja) | 2012-02-17 | 2016-09-21 | オリンパス株式会社 | 単一粒子検出を用いた光分析装置、光分析方法及び光分析用コンピュータプログラム |
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| JP6095645B2 (ja) | 2012-03-21 | 2017-03-15 | オリンパス株式会社 | 標的核酸分子の検出方法 |
| JP6010114B2 (ja) | 2012-04-18 | 2016-10-19 | オリンパス株式会社 | 光分析を用いた単一粒子検出装置、単一粒子検出方法及び単一粒子検出用コンピュータプログラム |
| WO2013157283A1 (ja) | 2012-04-18 | 2013-10-24 | オリンパス株式会社 | 標的粒子の検出方法 |
| JP6360481B2 (ja) | 2013-07-31 | 2018-07-18 | オリンパス株式会社 | 単一発光粒子検出技術を用いた光学顕微鏡装置、顕微鏡観察法及び顕微鏡観察のためのコンピュータプログラム |
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| WO2015052965A1 (ja) | 2013-10-07 | 2015-04-16 | オリンパス株式会社 | 単一発光粒子検出を用いた光分析装置、光分析方法及び光分析用コンピュータプログラム |
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| CN105684441B (zh) | 2013-10-25 | 2018-09-21 | 微软技术许可有限责任公司 | 视频和图像编码中的基于散列的块匹配 |
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| CN105706450B (zh) | 2014-06-23 | 2019-07-16 | 微软技术许可有限责任公司 | 根据基于散列的块匹配的结果的编码器决定 |
| JP6462119B2 (ja) | 2014-09-30 | 2019-01-30 | マイクロソフト テクノロジー ライセンシング,エルエルシー | コンピューティングデバイス |
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| CN109782564B (zh) * | 2017-11-15 | 2021-03-23 | 许家维 | 雷射投射钟 |
| CN114755813B (zh) | 2018-01-29 | 2024-09-03 | 汉密尔顿-索恩公司 | 带有可移动激光束的模块化物镜组件 |
| NL2022286B1 (en) * | 2018-09-19 | 2020-05-07 | Illumina Inc | Structured illumination of a sample |
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| US11202085B1 (en) | 2020-06-12 | 2021-12-14 | Microsoft Technology Licensing, Llc | Low-cost hash table construction and hash-based block matching for variable-size blocks |
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| CN112162395A (zh) * | 2020-10-27 | 2021-01-01 | 江苏三米科思半导体设备有限公司 | 一种深紫外斜入射高分辨率暗场照明光学系统 |
| JP7767429B2 (ja) * | 2020-12-15 | 2025-11-11 | ザ・トラスティーズ・オブ・コロンビア・ユニバーシティ・イン・ザ・シティ・オブ・ニューヨーク | 生体内のボリュメトリック組織学的画像のリアルタイムでの取得のためのポイントオブケア顕微鏡 |
| KR102576472B1 (ko) * | 2021-08-11 | 2023-09-11 | 주식회사 나노바이오라이프 | 다채널 광학 진단 장치 |
| CN113946057A (zh) * | 2021-10-14 | 2022-01-18 | 深圳赛陆医疗科技有限公司 | 一种多模光纤匀光装置 |
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| AU4216399A (en) | 1998-05-28 | 1999-12-13 | Mckinley Optics Incorporated | Multiple magnification stereo video telescope objective lens system |
| DE10039520A1 (de) * | 2000-08-08 | 2002-02-21 | Leica Microsystems | Vorrichtung zur Untersuchung und Manipulation von mikroskopischen Objekten |
| CN2546893Y (zh) | 2001-12-01 | 2003-04-23 | 鸿富锦精密工业(深圳)有限公司 | 光开关装置 |
| CN1222795C (zh) | 2002-06-21 | 2005-10-12 | 中国科学院上海微系统与信息技术研究所 | 一种采用双压电晶片驱动器制作的二维光开关矩阵及其方法 |
| US6857752B2 (en) | 2003-04-11 | 2005-02-22 | 3M Innovative Properties Company | Projection illumination system with tunnel integrator and field lens |
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| DE102004034959A1 (de) * | 2004-07-16 | 2006-02-16 | Carl Zeiss Jena Gmbh | Lichtrastermikroskop mit punktförmiger Lichtquellenverteilung und Verwendung |
| DE102004034954A1 (de) * | 2004-07-16 | 2006-02-02 | Carl Zeiss Jena Gmbh | Verfahren zur Erfassung mindestens eines Probenbereiches mit einem Lichtrastermikroskop |
| JP2006058747A (ja) | 2004-08-23 | 2006-03-02 | Hitachi Maxell Ltd | 光スイッチ及び光スイッチング方法 |
-
2006
- 2006-09-14 GB GBGB0618057.4A patent/GB0618057D0/en not_active Ceased
-
2007
- 2007-09-14 AU AU2007296003A patent/AU2007296003B2/en active Active
- 2007-09-14 CN CN2007800420951A patent/CN101595414B/zh active Active
- 2007-09-14 JP JP2009527884A patent/JP5522443B2/ja active Active
- 2007-09-14 SG SG201102307-4A patent/SG170814A1/en unknown
- 2007-09-14 CA CA2663597A patent/CA2663597C/en active Active
- 2007-09-14 WO PCT/GB2007/003446 patent/WO2008032055A1/en not_active Ceased
- 2007-09-14 EP EP07804240.5A patent/EP2059844B1/en active Active
- 2007-09-14 CN CN201210236769.4A patent/CN102914861B/zh active Active
- 2007-09-14 US US12/440,790 patent/US8284484B2/en active Active
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| CN102914861A (zh) | 2013-02-06 |
| US20090279169A1 (en) | 2009-11-12 |
| CA2663597A1 (en) | 2008-03-20 |
| CN102914861B (zh) | 2016-01-20 |
| US8284484B2 (en) | 2012-10-09 |
| EP2059844A1 (en) | 2009-05-20 |
| GB0618057D0 (en) | 2006-10-25 |
| AU2007296003A1 (en) | 2008-03-20 |
| SG170814A1 (en) | 2011-05-30 |
| WO2008032055A9 (en) | 2009-04-23 |
| AU2007296003B2 (en) | 2013-01-31 |
| CA2663597C (en) | 2014-10-28 |
| CN101595414B (zh) | 2013-08-07 |
| CN101595414A (zh) | 2009-12-02 |
| EP2059844B1 (en) | 2017-05-17 |
| WO2008032055A1 (en) | 2008-03-20 |
| JP2010503884A (ja) | 2010-02-04 |
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| A621 | Written request for application examination |
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| A131 | Notification of reasons for refusal |
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| A521 | Request for written amendment filed |
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|
| A131 | Notification of reasons for refusal |
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|
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| TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
| A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
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|
| A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
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|
| R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
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|
| R250 | Receipt of annual fees |
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|
| R250 | Receipt of annual fees |
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|
| R250 | Receipt of annual fees |
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|
| R250 | Receipt of annual fees |
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|
| R250 | Receipt of annual fees |
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|
| R250 | Receipt of annual fees |
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|
| R250 | Receipt of annual fees |
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|
| R250 | Receipt of annual fees |
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|
| R250 | Receipt of annual fees |
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|
| S533 | Written request for registration of change of name |
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|
| R350 | Written notification of registration of transfer |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R350 |
|
| S531 | Written request for registration of change of domicile |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313531 |
|
| R350 | Written notification of registration of transfer |
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