JP5657232B2 - 半導体パッケージ - Google Patents

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Description

本発明は、半導体パッケージに関し、より詳細には、フィルム型配線基板を含む半導体パッケージに関する。
最近、電子機器、例えば、携帯電話(mobile phone)、携帯情報端末機(Personal Digital Assistant:PDA)、液晶表示用パネル(Liquid Crystal Display panel:LCD panel)及び携帯用コンピュータ(notebook computer)などの小型化、薄型化、軽量化が進行している。これによって、このような電子機器に搭載される半導体装置及び各種部品も小型化、軽量化、高機能化、高性能化、高密度化が進行している。
このような半導体装置の薄型化、小型化、高集積化、高速化、高密度化の趨勢によって、半導体素子の実装技術分野ではテープ配線基板の使用が増えている。
特開2003‐098973号公報 特開平11−095243号公報
本発明は、上述の問題点に鑑みてなされたもので、その目的は、高集積化され、信号伝達速度が改善された半導体パッケージを提供することにある。
上述の目的を達成するため、半導体パッケージを提供する。このパッケージは、第1導電リード及び第2導電リードを含む配線基板と、信号が提供される第1セル領域と、前記信号と同一の信号が提供される第2セル領域と、前記第1セル領域と電気的に接続する第1導電パッドと、前記第2セル領域と電気的に接続する第2導電パッドと、を含み、前記配線基板上に実装され、前記第2導電リード上に前記第1及び第2導電パッドを配置する半導体チップと、を含む。
本発明の実施形態によると、前記第1及び第2セル領域は、隣接し、平面上に互いに左右又は上下対称に配置されることができる。
本発明の実施形態によると、前記第2導電リードは、前記第1導電パッドと前記第2導電パッドとの間に曲がった部分(bending portion)を有することができる。
前記第1導電パッドは、前記半導体チップの一側に配置され、前記第2導電パッドは、前記半導体チップの他の側に配置されることができる。
本発明の実施形態によると、前記半導体チップは、その上面に前記第1及び第2セル領域と前記第1及び第2導電パッドを提供することができる。
本発明の実施形態によると、前記半導体チップは、前記第1セル領域と前記第1導電パッドとの間及び前記第2セル領域と前記第2導電パッドとの間に配置され、互いに電気的に接続する内部配線パターンをさらに含むことができる。
本発明の実施形態によると、前記半導体チップは、前記第2導電リードと前記第1導電パッドとの間及び前記第2導電リードと前記第2導電パッドとの間に各々に介在する接続端子をさらに含むことができる。
本発明の実施形態によると、前記配線基板は、ベース基板及び前記ベース基板上の保護絶縁膜をさらに含むことができる。前記第1及び第2導電リードは、前記ベース基板上に互いに離隔されて配置されることができる。前記配線基板は、前記半導体チップが実装される実装領域及び前記実装領域の他の非実装領域をさらに含むことができる。前記第1及び第2導電リードは、前記実装領域で露出され、前記非実装領域で前記保護絶縁膜でさらに覆われることができる。
本発明の実施形態によると、高集積化及び高密度化された半導体パッケージを提供することができる。
本発明の実施形態によると、電圧降下などの特性異常と信号伝達速度の遅延現状が減少された半導体パッケージを提供することができる。
本発明の実施形態による半導体パッケージの斜視図である。 本発明の実施形態による配線基板の斜視図である。 本発明の実施形態による半導体チップの斜視図である。 図1の点線I−I’に沿って見られる断面図である。 図1の点線II−II’に沿って見られる断面図である。 図4又は図5の点線III−III’に沿って見られる平面図である。 図6の領域Mの拡大図である。 本発明の実施形態の変形形態による半導体パッケージの平面図である。 本発明の実施形態の変形形態による半導体パッケージの平面図である。 本発明の実施形態又は変形形態による半導体パッケージを含むメモリカードシステムを示すための図である。 本発明の実施形態又は変形形態による半導体パッケージを含む電子装置を説明するためのブロック図である。
添付した図面を参照して本発明の望ましい実施形態を詳細に説明する。しかし、本発明はここで説明される実施形態に限定されずに他の形態に具体化されることができる。正確には、ここで紹介される実施形態は、開示された内容が徹底され、完全になるように、そして当業者に本発明の思想が十分に伝えられるようにするために提供されるものである。明細書の全体にかけて同一の参照番号に示された部分は同一の構成要素を示す。
図1乃至図7を参照して、本発明の第1実施形態による半導体パッケージ500が説明される。
図1は、本発明の実施形態による半導体パッケージの斜視図である。図1を参照すると、本発明の実施形態による半導体パッケージ500は、配線基板100と、配線基板100上に実装された半導体チップ200と、を含む。
図2は、本発明の実施形態による配線基板の斜視図である。図4は、図1の点線I−I’に沿って見られる断面図である。図5は、図1の点線II−II’に沿って見られる断面図である。図1、図2、図4、図5を参照すると、配線基板100は、半導体チップ200が実装される実装領域302と、実装領域302の他の非実装領域304と、を含むことができる。
配線基板100は、ベース膜110(base layer)と、ベース膜110上のリードパターン120、120Aと、リードパターン120、120Aを覆う保護絶縁膜130と、を含むことができる。ベース膜110は、例えばポリイミドを含むことができる。保護絶縁膜130は、例えばソルダレジスト膜であることができる。
配線基板100は、配線基板100と半導体チップ200との間及び半導体チップ200の側面204に配置される補充絶縁膜140をさらに含むことができる。補充絶縁膜140は、例えば絶縁性樹脂を含むことができる。保護絶縁膜130及び補充絶縁膜140は、外部環境からリードパターン120、120Aを保護すると同時に前記半導体パッケージ500を保護することができる。
リードパターン120、120Aは、ベース膜110上に互いに離隔されている。リードパターン120、120Aの各々は、例えば棒形状を有することができる。リードパターン120、120Aは、例えば導電性が良い銅Cuを含むことができる。リードパターン120、120Aは、例えばダマシン工程(damascene process)を実行して形成されることができる。リードパターン120、120Aの各々は、ベース膜110の側面に沿って外部に露出されることができる。例えば、リードパターン120、120Aの各々は、非実装領域304の保護絶縁膜130の端の一部が除去されて、外部にその一部が露出されることができる。リードパターン120、120Aは、半導体チップ200と外部装置を電気的に接続させることができる電極の役割をすることができる。
保護絶縁膜130は、非実装領域304のリードパターン120、120Aを覆うことができる。保護絶縁膜130は、互いに離隔されたリードパターン120、120Aの間に介在されて、リードパターン120、120Aの各々を電気的に分離することができる。保護絶縁膜130は、リードパターン120、120Aを露出する開口部134を有することができる。前記開口部134は、例えば実装領域302に定義されることができる。
図6は、図4又は図5の点線III−III’に沿って見られる平面図である。図1、図2、図4、図5、図6を参照すると、リードパターン120、120Aの各々は、実装領域302内に露出されることができる。リードパターン120、120Aは、第1リード導電パターン120と、第2リード導電パターン120Aと、を含むことができる。
第1リード導電パターン120は、第1内部リード120Iと、第1内部リード120Iから延びた第1外部リード120Tに構成されることができる。第1内部リード120Iは、実装領域302で露出されることができる。第1外部リード120Tは、非実装領域304で保護絶縁膜130でさらに覆われることができる。
第2リード導電パターン120Aは、第2内部リード120AIと、第2内部リード120AIから延びた第2外部リード120ATに構成されることができる。第2内部リード120AIは、実装領域302で第1内部リード120Iより延びることができる。
図3は、本発明の実施形態による半導体チップの斜視図である。図3乃至図5を参照すると、半導体チップ200は、互いに対向する上面202及び下面204と側面206を有することができる。前記上面202は、セル領域C、C1、C2及びチップパッド212が提供される活性面であることができる。
セル領域C、C1、C2の各々は、互いに分離されるように区画されることができる。区画されたセル領域C、C1、C2の各々には、トランジスタなどの電子素子(図示せず)が配置されることができ、電子素子は、セル領域C、C1、C2の各々の内で導電体(図示せず)によって電気的に接続されることができる。セル領域C、C1、C2は、例えばロジック領域と、出力駆動領域及び/又はメモリ領域を含むことができる。
セル領域C、C1、C2は、第1及び第2セル領域C1、C2と、第3セル領域Cに区分することができる。第1セル領域C1は、信号が提供される部分を含むことができる。第2セル領域C2は、前記信号と同一の信号が提供される部分を含むことができる。第3セル領域Cは、前記信号と同一の信号が提供されないことがありうる。第1及び第2セル領域C1、C2は、例えば平面上に互いに左右又は上下対称に配置されることができる。
第1乃至第3セル領域C1、C2、Cは、チップパッド212と電気的に接続されることができる。チップパッド212上にはチップパッド212の各々に対応する接続端子210、210A、210Bが配置されることができる。接続端子210、210A、210Bは、例えばバンプ(bump)であることができる。チップパッド212と、これに対応する接続端子210、210A、210Bは、互いに電気的に接触する導電性を有する導電構造体に見ることができる。従って、導電体の配置の側面で、接続端子210、210A、210Bの配置を中心に説明する。即ち、接続端子210、210A、210Bの配置は、チップパッド212の配置と同一又は類似であることができる。
接続端子210、210A、210Bは、セル領域C、C1、C2を囲むことができる。接続端子210、210A、210Bの各々は、例えば半導体チップ200の上面202の端に配列されることができる。接続端子210、210A、210Bは、第1導電端子210及び第2導電端子210A、210Bに区分されることができる。第1導電端子210は、例えば一個ずつにそれに該当する第1乃至第3セル領域C1、C2、Cの各々の部分に電気的に接続されることができる。第2導電端子210A、210Bは、同一の信号を提供するための導電体であることができる。第2導電端子210A、210Bは、互いに分際されて、対に配置されることができる。例えば、第2導電端子210A、210Bは、第1端子パターン210A及び第2端子パターン210Bに区分することができる。第1端子パターン210Aは、第1セル領域C1と隣接することができる。第2端子パターン210Bは、第2セル領域C2と隣接することができる。互いに同一の信号が提供されるために、第1セル領域C1の部分と第1端子パターン210A、そして第2セル領域C2の部分と第2端子パターン210Bが電気的に接続されることができる。第1端子パターン210Aと第2端子パターン210Bとの間に第1及び第2セル領域C1、C2が配置されることができる。第1セル領域C1及び第2セル領域C2は、これらの間の活性面に導電体が提供されなく、互いに隣接することができる。
半導体チップ200は、その上面202が実装領域302(図4又は図5に示す)内の配線基板100に接するように実装されている。前記実装方式は、例えば熱圧着(thermo−compression bonding)方式又は熱超音波接合(thermo−sonic bonding)方式であることができる。
図3乃至図6を参照すると、第1リード導電パターン120は、例えば一つの第1導電端子210と電気的に接続されることができる。即ち、実装領域302で露出された第1内部リード120Iと第1導電端子210が電気的に接触することができる。第2リード導電パターン120Aは、第1端子パターン210Aと第2端子パターン210Bと共に電気的に接続されている。即ち、実装領域302内で露出された第2内部リード120AIが第1端子パターン210A及び第2端子パターン210Bと同時に電気的に接触することができる。第1端子パターン210A、第1セル領域C1、第2セル領域C2及び第2端子パターン210Bは、第2内部リード120AI上に配置されることができる。
接続端子210、210A、210Bと、それに対応するセル領域C、C1、C2は、内部配線によって電気的に接続されることができる。内部配線は、接続端子210、210A、210Bと、これに対応する区画されたセル領域C、C1、C2を電気的に接続する導電体に定義することができる。内部配線は、半導体チップ200の上面202に提供されることができる。内部配線は、例えば接続端子210、210A、210Bと、これらに相応するセル領域C、C1、C2の間に配置されることができる。内部配線のうち、同一の信号が提供される第1及び第2セル領域C1、C2と、電気的に接続する導電体を内部配線パターン215と定義することができる。内部配線パターン215は、第1端子パターン210Aと第1セル領域C1との間及び第2端子パターン210Bと第2セル領域C2との間に配置されることができる。
一方、半導体チップが同一の信号が提供されるセル領域を含む場合、内部配線は、前記セル領域の各々の間又は/及び周囲の活性面に配置されることができる。本発明の実施形態によると、前記セル領域の間又は/及び周囲に提供される内部配線の代りに第2リード導電パターン120Aの第2内部リード120AIが使われることができる。即ち、半導体チップの上面にセル領域の間又は/及び周囲に提供される内部配線の代りに配線基板100の第2内部リード120ATが使われることができる。従って、前記内部配線が提供される領域に相当する半導体チップ200の大きさ(size)を減少させることができて、高集積化及び高密度化された半導体パッケージ500を提供することができる。
図7は、図6の領域Mの拡大図である。図7を参照すると、第2内部リード120AIが第1端子パターン210A及び第2端子パターン210Bの直ぐ下に接触されることができる。本発明の実施形態によると、同一の信号が前記セル領域の間又は/及び周囲に提供される内部配線に迂回することに比べて速く伝えられることができる。従って、電圧降下などの特性異常と信号伝達速度の遅延現状が減少された半導体パッケージ500を提供することができる。参照符号300は、同一の信号の伝達経路である。
図8A及び図8Bは、本発明の実施形態の変形形態による半導体パッケージの平面図である。前記変形形態による半導体パッケージは、上述した本発明の実施形態による半導体パッケージと類似であることができる。従って、説明の簡潔化のために以下では上述した実施形態による半導体パッケージと重複する技術的特徴に対する説明は概略的に言及される、或いは省略される。
図8A及び図8Bを参照して、第2リード導電パターン120A、120Bを含む本発明の実施形態の変形形態による半導体パッケージ510が説明される。第2リード導電パターン120A、120Bは、第1リードパターン120Aと、第2リードパターン120Bと、を含むことができる。
第1リードパターン120Aは、半導体チップ200の端に隣接するように配置されることができる。第1リードパターン120Aを媒介体として第1及び第2セル領域C1、C2に同一の信号が伝達されることができる。前記第1及び第2セル領域C1、C2と、第1端子パターン210A及び第2端子パターン210Bの配置によって、第1リードパターン120Aは、半導体チップ200の上面202の一側部上又は/及び中心部上に配置されることができる。
第2リードパターン120Bは、斜線形状部を含むことができる。第2リードパターン120Bを媒介体として第3及び第4セル領域C3、C4に同一の信号が伝達されることができる。前記第3及び第4セル領域C3、C4は、平面上の左右又は上下に対称でないことがありうる。従って、第3及び第4セル領域C3、C4の各々の同一の信号が伝達される部分に各々に対応する第3端子パターン210Cと第4端子パターン210Dも平面上の左右又は上下に対称でないことがありうる。本発明の変形形態によると、斜線形状部を含む第2リードパターン120Bによって、第3端子パターン210Cと第4端子パターン210Dに容易に電気的に接触することができる。前記第2リードパターン120Bは、前記第3端子パターン210Cと第4端子パターン210Dとの間に曲がった(bent)形態を有することができる。同一の信号を伝達するために、第2リードパターン120Bは、直線の棒形状の他にも多様な形状、例えば斜線形状を含むことができる。
図9は、本発明の実施形態又は変形形態による半導体パッケージを含むメモリカードシステムを示すための図である。
図9を参照して、本発明の実施形態又は変形形態による半導体パッケージ500、510を含むメモリカードシステム800が説明される。前記メモリカードシステム800は、コントローラ810と、メモリ820と、インタフェース830と、を含むことができる。前記メモリ820は、例えば、前記コントローラ810によって実行されるコマンド(command)、及び/又は使用者のデータ(data)を格納することに使われることができる。前記コントローラ810と前記メモリ820は、前記コマンド及び/又はデータを取り交わすことができるように構成されることができる。前記インタフェース830は、外部とのデータの入出力を担当することができる。
前記メモリカードシステム800は、マルチメディアカード(multimedia card:MMC)、セキュアデジタルカード(secure digital card:SD)又は携帯用データ格納装置であることができる。
図10は、本発明の実施形態又は変形形態による半導体パッケージを含む電子装置を説明するためのブロック図である。
図10を参照して、本発明の実施形態又は変形形態による半導体パッケージを含む電子装置1000が説明される。前記電子装置1000は、プロセッサ1010と、メモリ1020と、入出力装置I/O1030と、を含むことができる。前記プロセッサ1010、メモリ1020及び入出力装置1030は、バス1040を通じて接続されることができる。前記メモリ1020は、前記プロセッサ1010から、RAS*、WE*、CAS*などの制御信号を受けることができる。前記メモリ1020は、バス1040を通じてアクセスされるデータを格納するように使われることができる。発明の具体的な実現及び変形のために、追加的な回路及び制御信号が提供されることができることは、通常の知識を有した者には自明である。
前記電子装置1000は、コンピュータシステム、無線通信装置、例えば、PDA、ラップトップ(laptop)コンピュータ、携帯用コンピュータ、ウェブタブレット(webtablet)、無線電話機、携帯電話、デジタル音楽再生機(digital music player)、MP3プレーヤ、ナビゲーション、ソリッドステートディスク(solid state disk:SSD)、家電製品(household appliance)又は情報を無線環境で送受信することができる全ての素子に使われることができる。
前記した実施形態の説明は、本発明のより徹底した理解を提供するために図面を参照して例としたものに過ぎず、本発明を限定するものではない。そして、本発明の技術分野で通常の知識を有した者に本発明の基本的な原理を逸脱しない範囲内で多様な変化と変更が可能である。
100 配線基板
110 ベース膜
120 リードパターン
130 保護絶縁膜
140 補充絶縁膜
200 半導体チップ
202 半導体チップの上面
204 半導体チップの下面
206 半導体チップの側面
500 半導体パッケージ

Claims (10)

  1. 第1導電リード及び第2導電リードを含む配線基板と、
    信号が提供される第1セル領域と、前記第1セル領域から離れて配置されかつ前記信号と同一の信号が提供される第2セル領域と、前記第1セル領域と電気的に接続する第1導電パッドと、前記第2セル領域と電気的に接続する第2導電パッドと、を含み、前記配線基板上に実装され、前記第2導電リード上に前記第1及び第2導電パッドを配置する半導体チップと、を含み、
    前記第1導電パッドと前記第2導電パッドは互いに対向するように配置され、
    前記第1セル領域と前記第2セル領域は、前記第1導電パッドと前記第2導電パッドとの間に配置され、
    前記第2導電リードは、前記第1導電パッドと前記第2導電パッドに接続される前記第1セル領域と前記第2セル領域を横切るように配置され、
    前記第1セル領域及び前記第2セル領域の双方は外部ソースから前記第2導電リードに伝達された信号を受信することを特徴とする半導体パッケージ。
  2. 前記第1及び第2セル領域は、隣接し、平面上に互いに左右又は上下対称に配置されることを特徴とする請求項1に記載の半導体パッケージ。
  3. 前記第2導電リードは、前記第1導電パッドと前記第2導電パッドとの間に曲がった部分を有することを特徴とする請求項1に記載の半導体パッケージ。
  4. 前記第1導電パッドは、前記半導体チップの一側に配置され、前記第2導電パッドは、前記半導体チップの他の側に配置されることを特徴とする請求項1に記載の半導体パッケージ。
  5. 前記半導体チップは、前記第1セル領域と前記第1導電パッドとの間及び前記第2セル領域と前記第2導電パッドとの間に配置され、互いに電気的に接続する内部配線パターンをさらに含むことを特徴とする請求項1に記載の半導体パッケージ。
  6. 前記半導体チップは、前記第2導電リードと前記第1導電パッドとの間及び前記第2導電リードと前記第2導電パッドとの間に各々に介在される接続端子をさらに含むことを特徴とする請求項1に記載の半導体パッケージ。
  7. 前記配線基板は、ベース基板と、前記ベース基板上の保護絶縁膜とをさらに含むことを特徴とする請求項1に記載の半導体パッケージ。
  8. 前記第1及び第2導電リードは、前記ベース基板上に互いに離隔されて配置されることを特徴とする請求項7に記載の半導体パッケージ。
  9. 前記配線基板は、前記半導体チップが実装される実装領域及び前記実装領域の他の非実装領域をさらに含むことを特徴とする請求項7に記載の半導体パッケージ。
  10. 前記第1及び第2導電リードは、前記実装領域で露出され、前記非実装領域で前記保護絶縁膜によって覆われることを特徴とする請求項9に記載の半導体パッケージ。
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Families Citing this family (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
FR2940521B1 (fr) * 2008-12-19 2011-11-11 3D Plus Procede de fabrication collective de modules electroniques pour montage en surface
KR102252380B1 (ko) 2014-04-24 2021-05-14 삼성전자주식회사 테이프 배선 기판, 반도체 패키지 및 상기 반도체 패키지를 포함한 디스플레이 장치
CN116111033B (zh) * 2023-03-03 2023-06-27 佛山市国星半导体技术有限公司 一种led车灯光源及其制作方法

Family Cites Families (29)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS54133878A (en) * 1978-04-07 1979-10-17 Nec Corp Semiconductor device
JPS57184226A (en) * 1981-05-08 1982-11-12 Nec Corp Semiconductor device
JPH04181748A (ja) * 1990-11-16 1992-06-29 Seiko Epson Corp Tabテープ
JP3025357B2 (ja) * 1991-11-14 2000-03-27 富士通株式会社 半導体装置
JPH0669276A (ja) * 1992-05-22 1994-03-11 Nec Corp 半導体装置
KR960008514B1 (ko) * 1993-07-23 1996-06-26 삼성전자 주식회사 테스트 소켓 및 그를 이용한 노운 굳 다이 제조방법
JPH09107048A (ja) * 1995-03-30 1997-04-22 Mitsubishi Electric Corp 半導体パッケージ
US6492719B2 (en) * 1999-07-30 2002-12-10 Hitachi, Ltd. Semiconductor device
JPH1195243A (ja) 1997-09-22 1999-04-09 Citizen Watch Co Ltd 液晶表示装置の電極駆動ic
KR19990041909A (ko) * 1997-11-25 1999-06-15 윤종용 반도체 칩
US6522018B1 (en) * 2000-05-16 2003-02-18 Micron Technology, Inc. Ball grid array chip packages having improved testing and stacking characteristics
JP4018375B2 (ja) * 2000-11-30 2007-12-05 株式会社東芝 半導体装置
JP4818519B2 (ja) * 2001-02-06 2011-11-16 ルネサスエレクトロニクス株式会社 磁気記憶装置
DE10231385B4 (de) * 2001-07-10 2007-02-22 Samsung Electronics Co., Ltd., Suwon Halbleiterchip mit Bondkontaktstellen und zugehörige Mehrchippackung
JP3708467B2 (ja) * 2001-09-26 2005-10-19 株式会社日立製作所 表示装置
JP2003330041A (ja) * 2002-05-10 2003-11-19 Sharp Corp 半導体装置及びそれを備えた表示パネルモジュール
US6870252B2 (en) * 2003-06-18 2005-03-22 Sun Microsystems, Inc. Chip packaging and connection for reduced EMI
KR100627006B1 (ko) * 2004-04-01 2006-09-25 삼성전자주식회사 인덴트 칩과, 그를 이용한 반도체 패키지와 멀티 칩 패키지
US20060060639A1 (en) * 2004-09-21 2006-03-23 Byrne Tiffany A Doped contact formations
US7176575B2 (en) * 2004-09-30 2007-02-13 Intel Corporation Input/output routing on an electronic device
KR100845774B1 (ko) * 2006-10-13 2008-07-14 주식회사 하이닉스반도체 반도체 메모리 장치 및 이를 이용한 전압 제어 방법
KR100800486B1 (ko) * 2006-11-24 2008-02-04 삼성전자주식회사 개선된 신호 전달 경로를 갖는 반도체 메모리 장치 및 그구동방법
US7791173B2 (en) * 2007-01-23 2010-09-07 Samsung Electronics Co., Ltd. Chip having side pad, method of fabricating the same and package using the same
JP5111878B2 (ja) * 2007-01-31 2013-01-09 ルネサスエレクトロニクス株式会社 半導体装置の製造方法
US8129845B2 (en) * 2007-09-25 2012-03-06 Stats Chippac, Ltd. Semiconductor device and method of forming interconnect structure in non-active area of wafer
KR100886717B1 (ko) * 2007-10-16 2009-03-04 주식회사 하이닉스반도체 적층 반도체 패키지 및 이의 제조 방법
US7901957B2 (en) * 2007-12-17 2011-03-08 Sandisk Corporation Disguising test pads in a semiconductor package
KR101479509B1 (ko) * 2008-08-29 2015-01-08 삼성전자주식회사 반도체 패키지
JP5580981B2 (ja) * 2008-11-21 2014-08-27 ラピスセミコンダクタ株式会社 半導体素子及び半導体装置

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