JP6286560B2 - 発色処理された基材およびこのための基材の発色処理方法 - Google Patents
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Description
本発明は、一つの実施例において、
マグネシウムを含むマトリックス;
前記マトリックス上に形成され、下記の化学式1で表される化合物を含有する皮膜;
前記皮膜上に形成された波長変換層を含み:
[化学式1]
M(OH)m
前記化学式1において、
Mは、Na、K、Mg、CaおよびBaからなる群から選択される1種以上を含み、
mは1または2であり、
波長変換層上に存在する任意の地点Aに対し、
下記の数学式1の条件を満足する発色処理された基材を提供する:
[数学式1]
0.1≦Tfilm/TML≦10
前記数学式1において、
Tfilmは地点Aでの皮膜の平均厚さを表わし、
TMLは地点Aでの波長変換層の平均厚さを表わす。
また、本発明は他の一つの実施例において、
マグネシウムを含むマトリックス上に皮膜を形成する段階;
前記皮膜上に波長変換層を形成する段階を含み、
前記波長変換層上に存在する任意の地点Aに対し、
下記の数学式1の条件を満足する基材の発色処理方法を提供する:
[数学式1]
0.1≦Tfilm/TML≦10
前記数学式1において、
Tfilmは地点Aでの皮膜の平均厚さを表わし、
TMLは地点Aでの波長変換層の平均厚さを表わす。
マグネシウムを含むマトリックス;
前記マトリックス上に形成され、下記の化学式1で表される化合物を含有する皮膜;
前記皮膜上に形成された波長変換層を含み:
[化学式1]
M(OH)m
前記化学式1において、
Mは、Na、K、Mg、CaおよびBaからなる群から選択される1種以上を含み、
mは1または2であり、
波長変換層上に存在する任意の地点Aに対し、
下記の数学式1の条件を満足する発色処理された基材を提供する:
[数学式1]
0.1≦Tfilm/TML≦10
前記数学式1において、
Tfilmは地点Aでの皮膜の平均厚さを表わし、
TMLは地点Aでの波長変換層の平均厚さを表わす。
具体的に、前記基材は数学式1の条件を0.1〜10;0.1〜9;0.1〜8.5;0.5〜6;0.5〜4;または1〜8.5で満足させることができる。
まず、マグネシウムを含む前記マトリックスは基材の基本骨格および物性を決める役割を遂行し、本発明に係る発色処理された基材が発色処理される以前の形態と言える。
マグネシウムを含むマトリックス上に皮膜を形成する段階;
前記皮膜上に波長変換層を形成する段階を含み、
前記波長変換層上に存在する任意の地点Aに対し、
下記の数学式1の条件を満足する基材の発色処理方法を提供する:
[数学式1]
0.1≦Tfilm/TML≦10
前記数学式1において、
Tfilmは地点Aでの皮膜の平均厚さを表わし、
TMLは地点Aでの波長変換層の平均厚さを表わす。
マトリックスで準備されたマグネシウムを含む試片(横1cm×縦1cm×0.4T)をアルカリ洗浄液に浸漬して脱脂し、脱脂された試片を下記の表1に表わした時間の間、100℃、10重量%NaOH水溶液に浸漬した。その後、前記試片を蒸溜水でリンシングし、乾燥オーブンで乾燥させた後、スパッタ法でクロム(Cr)からなる波長変換層を形成して発色処理された試片を得た。また、得られた発色処理された試片上に存在する任意の地点Aを選定し、透過電子顕微鏡(TEM)を利用して地点Aでの皮膜および波長変換層の厚さを3回測定して平均厚さを導き出した。
マトリックスで準備されたマグネシウムを含む試片(横1cm×縦1cm×0.4T)をアルカリ洗浄液に浸漬して脱脂し、脱脂された試片を100℃、10重量%NaOH水溶液に20秒間浸漬した。その後、前記試片を蒸溜水でリンシングし、乾燥オーブンで乾燥させた後、スパッタ法でクロム(Cr)からなる波長変換層を形成した。前記波長変換層上に液相の艶消しクリア塗料を塗布し120℃−150℃オーブン乾燥して発色処理された試片を製造した。このとき、コーティングされた艶消しクリアの平均厚さは約25μmであった。
マトリックスで準備されたマグネシウムを含む試片(横1cm×縦1cm×0.4T)をアルカリ洗浄液に浸漬して脱脂し、脱脂された試片を100℃、10重量%NaOH水溶液に15分間浸漬した。その後、前記試片を蒸溜水でリンシングし、乾燥オーブンで乾燥させた後、スパッタ法でクロム(Cr)からなる波長変換層を形成してマトリックス上に皮膜と波長変換層が順次積層された試片を製造した。このとき、マトリックス上に形成された皮膜および波長変換層の平均厚さはそれぞれ約150±5nmおよび220nmであった。
水酸化溶液の種類による発色処理された基材の発色速度および発色力を評価するために下記のような実験を遂行した。
本発明により発色処理された基材の皮膜および波長変換層の平均厚さ比率による表面に具現される色相および色相均一性を評価するために下記のような実験を遂行した。
トップコートが形成された発色処理された基材の耐腐食性および密着力を評価するために下記のような実験を遂行した。
Claims (12)
- マグネシウムを含むマトリックス;
前記マトリックス上に形成され、下記の化学式1で表される化合物を含有する皮膜;
前記皮膜上に形成された波長変換層を含み、
波長変換層の平均厚さは200nm以下であり、
波長変換層上に存在する任意の地点Aに関し下記の数学式1の条件を満足する、
発色処理された基材:
[化学式1]
M(OH)m
前記化学式1において、
Mは、Na、K、Mg、CaおよびBaからなる群から選択される1種以上を含み、
mは1または2であり、
[数学式1]
0.1≦Tfilm/TML≦10
前記数学式1において、
Tfilmは地点Aでの皮膜の平均厚さを表わし、
TMLは地点Aでの波長変換層の平均厚さを表わす。 - 波長変換層上に存在する任意の地点Aに対する皮膜と波長変換層の平均厚さ比率(Tfilm/TML)が0.1〜6.0で、皮膜の平均厚さが80nm未満の場合、
波長変換層上に存在する任意の領域(横1cmおよび縦1cm)に含まれる任意の3点のCIE平均色座標は、L*が60以下である、請求項1に記載の発色処理された基材。 - 波長変換層上に存在する任意の地点Aに対する皮膜と波長変換層の平均厚さ比率(Tfilm/TML)が0.2〜4.0で、皮膜の平均厚さは80〜140nmである場合、
波長変換層上に存在する任意の領域(横1cmおよび縦1cm)に含まれる任意の3点のCIE平均色座標は、L*が60超であり、b*が5未満である、請求項1に記載の発色処理された基材。 - 波長変換層上に存在する任意の地点Aに対する皮膜と波長変換層の平均厚さ比率(Tfilm/TML)が0.7〜8.5で、皮膜の平均厚さは140nmを超過して300nm以下である場合、
波長変換層上に存在する任意の領域(横1cmおよび縦1cm)に含まれる任意の3点のCIE平均色座標は、L*が60超であり、a*が−5以下であり、b*が5以上である、請求項1に記載の発色処理された基材。 - 皮膜は、マグネシウム水酸化物(Mg(OH)2)を含む、請求項1に記載の発色処理された基材。
- 波長変換層は、アルミニウム(Al)、クロム(Cr)、チタニウム(Ti)、金(Au)、モリブデン(Mo)、銀(Ag)、マンガン(Mn)、ジルコニウム(Zr)、パラジウム(Pd)、白金(Pt)、コバルト(Co)、カドミウム(Cd)または銅(Cu)を含む金属および前記金属のイオンからなる群から選択される1種以上を含む、請求項1に記載の発色処理された基材。
- マトリックスは、ステンレス鋼またはチタニウム(Ti)をさらに含む、請求項1に記載の発色処理された基材。
- マグネシウムを含むマトリックス上に皮膜を形成する段階;
前記皮膜上に波長変換層を形成する段階を含み、
前記皮膜を形成する段階において、皮膜は、マグネシウムを含むマトリックスを水酸化溶液に浸漬することにより形成され、
前記皮膜は、下記の化学式1で表される化合物を含有し、
前記波長変換層の平均厚さは200nm以下であり、
前記波長変換層上に存在する任意の地点Aに関し、下記の数学式1の条件を満足する、
基材の発色処理方法:
[化学式1]
M(OH) m
前記化学式1において、
Mは、Na、K、Mg、CaおよびBaからなる群から選択される1種以上を含み、
mは1または2であり、
[数学式1]
0.1≦Tfilm/TML≦10
前記数学式1において、
Tfilmは地点Aでの皮膜の平均厚さを表わし、
TMLは地点Aでの波長変換層の平均厚さを表わす。 - 前記水酸化溶液に浸漬する段階の前に表面を前処理する段階;および、前記水酸化溶液に浸漬する段階の後でリンシングする段階のうちいずれか一つ以上をさらに含む、請求項8に記載の基材の発色処理方法。
- 水酸化溶液の温度は、95℃〜110℃で、
浸漬時間は、20分以下であることを特徴とする、請求項8に記載の基材の発色処理方法。 - 水酸化溶液は、NaOH、KOH、Mg(OH)2、Ca(OH)2およびBa(OH)2からなる群から選択される1種以上を含む、請求項8に記載の基材の発色処理方法。
- 水酸化溶液の濃度は、1重量%〜40重量%である、請求項8に記載の基材の発色処理方法。
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