JP6560647B2 - 損失測定システム、損失測定制御装置、損失測定方法、及びプログラム - Google Patents
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Description
連続光又はパルス光を出力する光源、
前記数モード光ファイバを伝送可能なLPモード数以上に前記光源からの光を分岐するパワーカプラ、
前記パワーカプラで分岐された光の光強度を減衰する光減衰器、
前記光減衰器で減衰された光を互いに異なるLPモードとして前記数モード光ファイバに入力するモード合分波器、
前記数モード光ファイバから出力した光を受光する受光器、及び
試験パルス光の時間差を発生させる時間差生成手段、
を備える測定系と、
前記受光器が受光した光の光強度が入力され、前記パワーカプラで分岐された光に光強度差を発生させる減衰量を前記光減衰器に設定する損失測定制御装置と、
を有し、
前記損失測定制御装置は、
前記測定系に、前記光源から前記連続光を出力させ、前記連続光から発生させた、前記数モード光ファイバを互いに異なるLPモードで伝搬する測定光について前記光強度差をつけて前記数モード光ファイバに伝搬させ、前記数モード光ファイバを伝搬後の前記測定光の光強度を全てのLPモードについて一括して前記受光器に測定させる光強度測定を、前記光強度差を変えて、前記数モード光ファイバを伝送可能なLPモード数以上の回数だけ実施させ、
任意の位置で切断された前記数モード光ファイバについて、前記測定系に、再度前記光強度測定を前記回数だけ実施させ、
前記数モード光ファイバの切断前後の前記測定光の光強度から前記数モード光ファイバの前記光強度差毎の損失測定値を算出し、
前記測定系に、前記光源から前記パルス光を出力させ、同一の前記パルス光から発生させた、前記数モード光ファイバを互いに異なるLPモードで伝搬する前記試験パルス光について前記光強度差及び時間差をつけて前記試験パルス光を前記数モード光ファイバに伝搬させ、任意の位置で切断された前記数モード光ファイバを伝搬後の前記試験パルス光についてLPモード毎に積算光強度を測定させ、LPモード毎の前記積算光強度の比をモード励振比とするモード励振比測定を、任意の位置で切断された前記数モード光ファイバについて実施させ、
前記損失測定値が前記モード励振比を係数とした各LPモードの伝送損失の線形和であるとした、前記光強度差の種類の数の方程式からLPモード毎の伝送損失を計算する
ことを特徴とする。
連続光又はパルス光を出力する光源、
前記数モード光ファイバを伝送可能なLPモード数以上に前記光源からの光を分岐するパワーカプラ、
前記パワーカプラで分岐された光の光強度を減衰する光減衰器、
前記光減衰器で減衰された光を互いに異なるLPモードとして前記数モード光ファイバに入力するモード合分波器、
前記数モード光ファイバから出力した光を受光する受光器、及び
試験パルス光の時間差を発生させる時間差生成手段、
を備える前記損失測定システムの測定系と接続され、
前記受光器が受光した光の光強度が入力され、前記パワーカプラで分岐された光に光強度差を発生させる減衰量を前記光減衰器に設定する機能を有しており、
前記測定系に、前記光源から前記連続光を出力させ、前記連続光から発生させた、前記数モード光ファイバを互いに異なるLPモードで伝搬する測定光について前記光強度差をつけて前記数モード光ファイバに伝搬させ、前記数モード光ファイバを伝搬後の前記測定光の光強度を全てのLPモードについて一括して前記受光器に測定させる光強度測定を、前記光強度差を変えて、前記数モード光ファイバを伝送可能なLPモード数以上の回数だけ実施させ、
任意の位置で切断された前記数モード光ファイバについて、前記測定系に、再度前記光強度測定を前記回数だけ実施させ、
前記数モード光ファイバの切断前後の前記測定光の光強度から前記数モード光ファイバの前記光強度差毎の損失測定値を算出し、
前記測定系に、前記光源から前記パルス光を出力させ、同一の前記パルス光から発生させた、前記数モード光ファイバを互いに異なるLPモードで伝搬する前記試験パルス光について前記光強度差及び時間差をつけて前記試験パルス光を前記数モード光ファイバに伝搬させ、任意の位置で切断された前記数モード光ファイバを伝搬後の前記試験パルス光についてLPモード毎に積算光強度を測定させ、LPモード毎の前記積算光強度の比をモード励振比とするモード励振比測定を、任意の位置で切断された前記数モード光ファイバについて実施させ、
前記損失測定値が前記モード励振比を係数とした各LPモードの伝送損失の線形和であるとした、前記光強度差の種類の数の方程式からLPモード毎の伝送損失を計算する
ことを特徴とする。
連続光又はパルス光を出力する光源、
前記数モード光ファイバを伝送可能なLPモード数以上に前記光源からの光を分岐するパワーカプラ、
前記パワーカプラで分岐された光の光強度を減衰する光減衰器、
前記光減衰器で減衰された光を互いに異なるLPモードとして前記数モード光ファイバに入力するモード合分波器、
前記数モード光ファイバから出力した光を受光する受光器、及び
試験パルス光の時間差を発生させる時間差生成手段、
を備える測定系と、
前記受光器が受光した光の光強度が入力され、前記パワーカプラで分岐された光に光強度差を発生させる減衰量を前記光減衰器に設定する損失測定制御装置と、
を有する損失測定システムを用い、
前記損失測定制御装置が、
前記測定系に、前記光源から前記連続光を出力させ、前記連続光から発生させた、前記数モード光ファイバを互いに異なるLPモードで伝搬する測定光について前記光強度差をつけて前記数モード光ファイバに伝搬させ、前記数モード光ファイバを伝搬後の前記測定光の光強度を全てのLPモードについて一括して前記受光器に測定させる光強度測定を、前記光強度差を変えて、前記数モード光ファイバを伝送可能なLPモード数以上の回数だけ実施させ、
任意の位置で切断された前記数モード光ファイバについて、前記測定系に、再度前記光強度測定を前記回数だけ実施させ、
前記数モード光ファイバの切断前後の前記測定光の光強度から前記数モード光ファイバの前記光強度差毎の損失測定値を算出し、
前記測定系に、前記光源から前記パルス光を出力させ、同一の前記パルス光から発生させた、前記数モード光ファイバを互いに異なるLPモードで伝搬する前記試験パルス光について前記光強度差及び時間差をつけて前記試験パルス光を前記数モード光ファイバに伝搬させ、任意の位置で切断された前記数モード光ファイバを伝搬後の前記試験パルス光についてLPモード毎に積算光強度を測定させ、LPモード毎の前記積算光強度の比をモード励振比とするモード励振比測定を、任意の位置で切断された前記数モード光ファイバについて実施させ、
前記損失測定値が前記モード励振比を係数とした各LPモードの伝送損失の線形和であるとした、前記光強度差の種類の数の方程式からLPモード毎の伝送損失を計算する
ことを特徴とする。
本発明の測定原理を説明する。
測定対象のFMFに対して、入力光に対してのインパルス応答法によるモード励振比の測定と、カットバック法による光ファイバの損失測定を行う。その際、伝送可能なLPモード数をxとすると、入力光の各LPモードの励振条件をy種類の異なる条件に設定する。ただしyはx以上の数である。この際の励振条件の設定および各LPモードの励振比の調整には、例えば、各種のモード合分波器を用いれば良い。この時の損失の測定値α(y)は、理論的には各LPモードの励振比ax(y)と各LPモードの損失αxの線形和に一致する。ただし、ここでは、ファイバ途中でのモード変換の影響は無視している。従って、y種類の異なる励振条件について測定を行えば、このy種類の関係式を数学的に解くことによって、未定の定数であった各LPモードの損失αxを決定することが可能になる。励振条件数yは多ければ多いほど、最小二乗法などの計算処理によって、αxの評価精度を向上することができるが、測定の稼働も増えるため、現実的な範囲で決めれば良い。
本実施形態では、数モード光ファイバの損失測定システムの基本的な動作を説明する。
図1及び図2は、本実施形態の損失測定システムを説明する図である。実施形態の損失測定システムは、伝送可能なLPモード数が2以上の数モード光ファイバ100についてLPモード毎の伝送損失を測定する損失測定システムであって、
連続光又はパルス光を出力する光源11、
数モード光ファイバ100を伝送可能なLPモード数以上に光源11からの光を分岐するパワーカプラ12、
パワーカプラ12で分岐された光の光強度を減衰する光減衰器13、
光減衰器13で減衰された光を互いに異なるLPモードとして数モード光ファイバ100に入力するモード合分波器14、
数モード光ファイバ100から出力した光を受光する受光器15、及び
試験パルス光の時間差を発生させる時間差生成手段、
を備える測定系と、
受光器15が受光した光の光強度が入力され、パワーカプラ12で分岐された光に光強度差を発生させる減衰量を光減衰器15に設定する損失測定制御装置16と、
を有する。
励振比測定の際、図1〜図2に中に示したように、必要に応じて各LPモードのパルスを時間的に分離するためのダミーファイバ50を設置しても良い。図2のように、パワーカプラ12と光減衰器13との間にダミーファイバ50を設置する場合は、モード合分波器14から出力されるパルスを各モードに選別することが困難な場合に好適である。モード合分波器14の1つのポートに入力された光の出力光と、他のポートに入力された光の出力光に対して、時間的な分離が可能となる。パワーカプラ12と光減衰器13と間の伝送路が単一モードファイバ(SMF)で構成されている場合は、ダミーファイバ50としてSMFを挿入すればよい。
前記測定系に、光源11から連続光を出力させ、前記連続光から発生させた、数モード光ファイバ100を互いに異なるLPモードで伝搬する測定光について前記光強度差をつけて数モード光ファイバ100に伝搬させ、数モード光ファイバ100を伝搬後の前記測定光の光強度を全てのLPモードについて一括して受光器15に測定させる光強度測定を、前記光強度差を変えて、数モード光ファイバ100を伝送可能なLPモード数以上の回数だけ実施させ、
任意の位置で切断された数モード光ファイバ100について、前記測定系に、再度前記光強度測定を前記回数だけ実施させ、
数モード光ファイバ100の切断前後の前記測定光の光強度から数モード光ファイバ100の前記光強度差毎の損失測定値を算出し、
前記測定系に、光源11からパルス光を出力させ、同一の前記パルス光から発生させた、数モード光ファイバ100を互いに異なるLPモードで伝搬する前記試験パルス光について前記光強度差及び時間差をつけて前記試験パルス光を数モード光ファイバ100に伝搬させ、任意の位置で切断された数モード光ファイバ100を伝搬後の前記試験パルス光についてLPモード毎に積算光強度を測定させ、LPモード毎の前記積算光強度の比をモード励振比とするモード励振比測定を、任意の位置で切断された数モード光ファイバ100について実施させ、
前記損失測定値が前記モード励振比を係数とした各LPモードの伝送損失の線形和であるとした、前記光強度差の種類の数の方程式からLPモード毎の伝送損失を計算する。
前記測定系に、光源11から連続光を出力させ、前記連続光から発生させた、数モード光ファイバ100を互いに異なるLPモードで伝搬する測定光について前記光強度差をつけて数モード光ファイバ100に伝搬させ、数モード光ファイバ100を伝搬後の前記測定光の光強度を全てのLPモードについて一括して受光器15に測定させる光強度測定を、前記光強度差を変えて、数モード光ファイバ100を伝送可能なLPモード数以上の回数だけ実施させ(ステップS02)、
任意の位置で切断された数モード光ファイバ100について、前記測定系に、再度前記光強度測定を前記回数だけ実施させ(ステップS03)、
数モード光ファイバ100の切断前後の前記測定光の光強度から数モード光ファイバ100の前記光強度差毎の損失測定値を算出し(ステップS05)、
前記測定系に、光源11からパルス光を出力させ、同一の前記パルス光から発生させた、数モード光ファイバ100を互いに異なるLPモードで伝搬する前記試験パルス光について前記光強度差及び時間差をつけて前記試験パルス光を数モード光ファイバ100に伝搬させ、任意の位置で切断された数モード光ファイバ100を伝搬後の前記試験パルス光についてLPモード毎に積算光強度を測定させ、LPモード毎の前記積算光強度の比をモード励振比とするモード励振比測定を、任意の位置で切断された数モード光ファイバ100について実施させ(ステップS04)、
前記損失測定値が前記モード励振比を係数とした各LPモードの伝送損失の線形和であるとした、前記光強度差の種類の数の方程式からLPモード毎の伝送損失を計算する(ステップS06)
ことを特徴とする。
本実施形態は、本発明による数モード光ファイバの損失測定評価方法の2LPモード光ファイバへの適用例に関する。
本実施形態は、本発明による数モード光ファイバの損失測定評価方法の4LPモード光ファイバへの適用例に関する。
本実施形態は、本発明による数モード光ファイバの損失測定評価方法の4LPモード光ファイバへの適用例に関する。
本発明の数モード光ファイバの各LPモードの損失の測定評価方法によれば、FMFの曲げ損失特性及びデバイス等におけるモード間消光比に依らず、従来技術では特に困難であった3LPモード以上を伝搬するFMFで各モードの損失を正確に評価することが可能になる。
12:パワーカプラ
13:光減衰器
14:モード合分波器
15:受光器
16:損失測定制御装置
50:ダミーファイバ
100:被測定光ファイバ(FUT)
Claims (6)
- 伝送可能なLPモード数が2以上の数モード光ファイバについてLPモード毎の伝送損失を測定する損失測定システムであって、
連続光又はパルス光を出力する光源、
前記数モード光ファイバを伝送可能なLPモード数以上に前記光源からの光を分岐するパワーカプラ、
前記パワーカプラで分岐された光の光強度を減衰する光減衰器、
前記光減衰器で減衰された光を互いに異なるLPモードとして前記数モード光ファイバに入力するモード合分波器、
前記数モード光ファイバから出力した光を受光する受光器、及び
試験パルス光の時間差を発生させる時間差生成手段、
を備える測定系と、
前記受光器が受光した光の光強度が入力され、前記パワーカプラで分岐された光に光強度差を発生させる減衰量を前記光減衰器に設定する損失測定制御装置と、
を有し、
前記損失測定制御装置は、
前記測定系に、前記光源から前記連続光を出力させ、前記連続光から発生させた、前記数モード光ファイバを互いに異なるLPモードで伝搬する測定光について前記光強度差をつけて前記数モード光ファイバに伝搬させ、前記数モード光ファイバを伝搬後の前記測定光の光強度を全てのLPモードについて一括して前記受光器に測定させる光強度測定を、前記光強度差を変えて、前記数モード光ファイバを伝送可能なLPモード数以上の回数だけ実施させ、
任意の位置で切断された前記数モード光ファイバについて、前記測定系に、再度前記光強度測定を前記回数だけ実施させ、
前記数モード光ファイバの切断前後の前記測定光の光強度から前記数モード光ファイバの前記光強度差毎の損失測定値を算出し、
前記測定系に、前記光源から前記パルス光を出力させ、同一の前記パルス光から発生させた、前記数モード光ファイバを互いに異なるLPモードで伝搬する前記試験パルス光について前記光強度差及び時間差をつけて前記試験パルス光を前記数モード光ファイバに伝搬させ、任意の位置で切断された前記数モード光ファイバを伝搬後の前記試験パルス光についてLPモード毎に積算光強度を測定させ、LPモード毎の前記積算光強度の比をモード励振比とするモード励振比測定を、任意の位置で切断された前記数モード光ファイバについて実施させ、
前記損失測定値が前記モード励振比を係数とした各LPモードの伝送損失の線形和であるとした、前記光強度差の種類の数の方程式からLPモード毎の伝送損失を計算する
ことを特徴とする損失測定システム。 - 前記損失測定制御装置は、
前記測定系に、前記数モード光ファイバの切断前にも、前記モード励振比測定を行わせることを特徴とする請求項1に記載の損失測定システム。 - 前記モード励振比測定における前記積算光強度が、前記数モード光ファイバを伝搬後の前記試験パルス光について時間に対する光強度のグラフとした時にLPモード毎のパルスの面積であることを特徴とする請求項1又は2に記載の損失測定システム。
- 伝送可能なLPモード数が2以上の数モード光ファイバについてLPモード毎の伝送損失を測定する損失測定システムを制御する損失測定制御装置であって、
連続光又はパルス光を出力する光源、
前記数モード光ファイバを伝送可能なLPモード数以上に前記光源からの光を分岐するパワーカプラ、
前記パワーカプラで分岐された光の光強度を減衰する光減衰器、
前記光減衰器で減衰された光を互いに異なるLPモードとして前記数モード光ファイバに入力するモード合分波器、
前記数モード光ファイバから出力した光を受光する受光器、及び
試験パルス光の時間差を発生させる時間差生成手段、
を備える前記損失測定システムの測定系と接続され、
前記受光器が受光した光の光強度が入力され、前記パワーカプラで分岐された光に光強度差を発生させる減衰量を前記光減衰器に設定する機能を有しており、
前記測定系に、前記光源から前記連続光を出力させ、前記連続光から発生させた、前記数モード光ファイバを互いに異なるLPモードで伝搬する測定光について前記光強度差をつけて前記数モード光ファイバに伝搬させ、前記数モード光ファイバを伝搬後の前記測定光の光強度を全てのLPモードについて一括して前記受光器に測定させる光強度測定を、前記光強度差を変えて、前記数モード光ファイバを伝送可能なLPモード数以上の回数だけ実施させ、
任意の位置で切断された前記数モード光ファイバについて、前記測定系に、再度前記光強度測定を前記回数だけ実施させ、
前記数モード光ファイバの切断前後の前記測定光の光強度から前記数モード光ファイバの前記光強度差毎の損失測定値を算出し、
前記測定系に、前記光源から前記パルス光を出力させ、同一の前記パルス光から発生させた、前記数モード光ファイバを互いに異なるLPモードで伝搬する前記試験パルス光について前記光強度差及び時間差をつけて前記試験パルス光を前記数モード光ファイバに伝搬させ、任意の位置で切断された前記数モード光ファイバを伝搬後の前記試験パルス光についてLPモード毎に積算光強度を測定させ、LPモード毎の前記積算光強度の比をモード励振比とするモード励振比測定を、任意の位置で切断された前記数モード光ファイバについて実施させ、
前記損失測定値が前記モード励振比を係数とした各LPモードの伝送損失の線形和であるとした、前記光強度差の種類の数の方程式からLPモード毎の伝送損失を計算する
ことを特徴とする損失測定制御装置。 - 伝送可能なLPモード数が2以上の数モード光ファイバについてLPモード毎の伝送損失を測定する損失測定方法であって、
連続光又はパルス光を出力する光源、
前記数モード光ファイバを伝送可能なLPモード数以上に前記光源からの光を分岐するパワーカプラ、
前記パワーカプラで分岐された光の光強度を減衰する光減衰器、
前記光減衰器で減衰された光を互いに異なるLPモードとして前記数モード光ファイバに入力するモード合分波器、
前記数モード光ファイバから出力した光を受光する受光器、及び
試験パルス光の時間差を発生させる時間差生成手段、
を備える測定系と、
前記受光器が受光した光の光強度が入力され、前記パワーカプラで分岐された光に光強度差を発生させる減衰量を前記光減衰器に設定する損失測定制御装置と、
を有する損失測定システムを用い、
前記損失測定制御装置が、
前記測定系に、前記光源から前記連続光を出力させ、前記連続光から発生させた、前記数モード光ファイバを互いに異なるLPモードで伝搬する測定光について前記光強度差をつけて前記数モード光ファイバに伝搬させ、前記数モード光ファイバを伝搬後の前記測定光の光強度を全てのLPモードについて一括して前記受光器に測定させる光強度測定を、前記光強度差を変えて、前記数モード光ファイバを伝送可能なLPモード数以上の回数だけ実施させ、
任意の位置で切断された前記数モード光ファイバについて、前記測定系に、再度前記光強度測定を前記回数だけ実施させ、
前記数モード光ファイバの切断前後の前記測定光の光強度から前記数モード光ファイバの前記光強度差毎の損失測定値を算出し、
前記測定系に、前記光源から前記パルス光を出力させ、同一の前記パルス光から発生させた、前記数モード光ファイバを互いに異なるLPモードで伝搬する前記試験パルス光について前記光強度差及び時間差をつけて前記試験パルス光を前記数モード光ファイバに伝搬させ、任意の位置で切断された前記数モード光ファイバを伝搬後の前記試験パルス光についてLPモード毎に積算光強度を測定させ、LPモード毎の前記積算光強度の比をモード励振比とするモード励振比測定を、任意の位置で切断された前記数モード光ファイバについて実施させ、
前記損失測定値が前記モード励振比を係数とした各LPモードの伝送損失の線形和であるとした、前記光強度差の種類の数の方程式からLPモード毎の伝送損失を計算する
ことを特徴とする損失測定方法。 - コンピュータに、請求項4に記載の損失測定制御装置として機能させるためのプログラム。
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|---|---|---|---|
| JP2016163643A JP6560647B2 (ja) | 2016-08-24 | 2016-08-24 | 損失測定システム、損失測定制御装置、損失測定方法、及びプログラム |
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| JP2016163643A JP6560647B2 (ja) | 2016-08-24 | 2016-08-24 | 損失測定システム、損失測定制御装置、損失測定方法、及びプログラム |
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| JP6560647B2 true JP6560647B2 (ja) | 2019-08-14 |
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| JP2016163643A Active JP6560647B2 (ja) | 2016-08-24 | 2016-08-24 | 損失測定システム、損失測定制御装置、損失測定方法、及びプログラム |
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