JP6823025B2 - 検査装置及び機械学習方法 - Google Patents
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Description
本発明の他の態様は、検査対象の検査を行う検査装置において、検査対象から取得された状態データと、該検査対象に係る検査結果を示すラベルデータとに基づいて機械学習を行うことで学習モデルを生成する機械学習装置と、前記機械学習装置が生成した学習モデルに関する、学習モデルの評価に用いられる評価指標である学習モデル評価指標を算出する学習モデル評価指標算出部と、前記検査において用いられる、異常なしと判断され加工に使用される工作機械群に含まれることが許容されうる不良機械の率を表す限界不良加工率及び異常ありと判断されメンテナンスに回される工作機械の率を表す限界メンテナンス率である検査指標を取得する検査指標取得部と、前記学習モデル評価指標と、前記検査指標とに基づいて、前記機械学習装置が生成した学習モデルが、前記検査指標を満足するか否かを判定し、該判定の結果を出力する指標値判定部と、を備えた検査装置である。
本発明の他の態様は、検査対象の検査を行う検査装置において、検査対象から取得された状態データと、該検査対象に係る検査結果を示すラベルデータとに基づいて機械学習を行うことで学習モデルを生成する機械学習装置と、前記機械学習装置が生成した学習モデルに関する、学習モデルの評価に用いられる評価指標である学習モデル評価指標を算出する学習モデル評価指標算出部と、前記検査において用いられる検査指標を取得する検査指標取得部と、前記学習モデル評価指標と、前記検査指標とに基づいて、前記機械学習装置が生成した学習モデルが、前記検査指標を満足するか否かを判定し、該判定の結果を出力し、更に、前記学習モデルが前記検査指標を満足する条件を算出し、算出した前記学習モデルが前記検査指標を満足する条件を出力する指標値判定部と、を備えた検査装置である。
本発明の他の態様は、検査対象から取得された状態データと、該検査対象に係る検査結果を示すラベルデータとに基づいて機械学習を行うことで学習モデルを生成する第1ステップと、前記第1ステップで生成された学習モデルに関する、学習モデルの評価に用いられる評価指標である学習モデル評価指標を算出する第2ステップと、検査において用いられる、異常なしと判断され加工に使用される工作機械群に含まれることが許容されうる不良機械の率を表す限界不良加工率及び異常ありと判断されメンテナンスに回される工作機械の率を表す限界メンテナンス率である検査指標を取得する第3ステップと、前記学習モデル評価指標と、前記検査指標とに基づいて、前記第1ステップで生成した学習モデルが、前記検査指標を満足するか否かを判定し、該判定の結果を出力する第4ステップと、を備えた機械学習方法である。
本発明の他の態様は、検査対象から取得された状態データと、該検査対象に係る検査結果を示すラベルデータとに基づいて機械学習を行うことで学習モデルを生成する第1ステップと、前記第1ステップで生成された学習モデルに関する、学習モデルの評価に用いられる評価指標である学習モデル評価指標を算出する第2ステップと、検査において用いられる検査指標を取得する第3ステップと、前記学習モデル評価指標と、前記検査指標とに基づいて、前記第1ステップで生成した学習モデルが、前記検査指標を満足するか否かを判定し、該判定の結果を出力し、更に、前記学習モデルが前記検査指標を満足する条件を算出し、算出した前記学習モデルが前記検査指標を満足する条件を出力する第4ステップと、を備えた機械学習方法である。
図1は本発明の一実施形態による検査装置の要部を示す概略的なハードウェア構成図である。本実施形態の検査装置1は、工場における製品検査の現場に設置されたコンピュータとして実装することができる。また、検査装置1は、工場における製品検査の現場に設置されたコンピュータとネットワークを介して接続されたセルコンピュータ、ホストコンピュータ、エッジコンピュータ、クラウドサーバ等のコンピュータとして実装することが出来る。図1は、工場における製品検査の現場に設置されたコンピュータとして検査装置1を実装した場合の例を示している。
前処理部110が作成する状態データSは、少なくとも検査対象を撮像して得られた検査対象画像データS1を含む。検査対象画像データS1は、例えば検査結果を撮像して得られた画像を構成する画素値の配列データを用いて良い。
また、前処理部110が作成するラベルデータLは、少なくとも検査対象の検査結果のラベルを含む検査結果データL1を含む。検査結果データL1は、例えば作業者が検査対象を目視で検査した結果を示すラベルであって良い。
例えば、上記した実施形態では、外観検査による出荷可否判断の例を用いて検査装置1の説明をしているが、検査装置1は他の検査に対しても適宜適用することができ、例えば、工作機械での加工可能性を判断するための検査等にも適用することができる。この様な場合、検査装置は、対象とする機械の工作時における温度や振動、音等に基づいて工作機械の故障の度合いを示すスコア(スコアが低ければ工作機械の動作が良好、スコアが高ければ故障乃至故障に近い状態)を出力するものとして構成できる。この時、検査装置1が作成するROC曲線図の縦軸として不良機械正解率、横軸として良好可動機械不正解率を設定し、また、検査装置1が扱う検査指標としては、例えば異常なしと判断され加工に使用される工作機械群に含まれることが実用上許容され得る不良機械の率を表す限界不良加工率と、異常ありと判断されメンテナンスに回される工作機械の率を表す限界メンテナンス率を用いるようにすれば良い。このように各パラメータを設定することで、上記した実施形態で示したのと同様に、工作機械が故障しているかを診断する場面において用いる適切な学習モデルを容易に選択できるようになる。
3 撮像センサ
5 コンピュータ
7 ネットワーク
11 CPU
12 ROM
13 RAM
14 不揮発性メモリ
17,18,19,20 インタフェース
22 バス
23 インタフェース
70 表示装置
71 入力装置
100 データ取得部
110 前処理部
120 学習モデル評価指標算出部
130 検査指標取得部
140 指標値判定部
200 学習データ記憶部
300 機械学習装置
301 プロセッサ
302 ROM
303 RAM
304 不揮発性メモリ
305 バス
310 学習部
320 推定部
330 学習モデル記憶部
Claims (6)
- 検査対象の検査を行う検査装置において、
検査対象から取得された状態データと、該検査対象に係る検査結果を示すラベルデータとに基づいて機械学習を行うことで学習モデルを生成する機械学習装置と、
前記機械学習装置が生成した学習モデルに関する、学習モデルの評価に用いられる評価指標である学習モデル評価指標を算出する学習モデル評価指標算出部と、
前記検査において用いられる、出荷される検査対象に含まれることが許容される不良品の率を表す限界不良品出荷率及び検査対象の総数における検査ではじいた検査対象の率を表す限界再検査率である検査指標を取得する検査指標取得部と、
前記学習モデル評価指標と、前記検査指標とに基づいて、前記機械学習装置が生成した学習モデルが、前記検査指標を満足するか否かを判定し、該判定の結果を出力する指標値判定部と、
た検査装置。 - 検査対象の検査を行う検査装置において、
検査対象から取得された状態データと、該検査対象に係る検査結果を示すラベルデータとに基づいて機械学習を行うことで学習モデルを生成する機械学習装置と、
前記機械学習装置が生成した学習モデルに関する、学習モデルの評価に用いられる評価指標である学習モデル評価指標を算出する学習モデル評価指標算出部と、
前記検査において用いられる、異常なしと判断され加工に使用される工作機械群に含まれることが許容されうる不良機械の率を表す限界不良加工率及び異常ありと判断されメンテナンスに回される工作機械の率を表す限界メンテナンス率である検査指標を取得する検査指標取得部と、
前記学習モデル評価指標と、前記検査指標とに基づいて、前記機械学習装置が生成した学習モデルが、前記検査指標を満足するか否かを判定し、該判定の結果を出力する指標値判定部と、
を備えた検査装置。 - 検査対象の検査を行う検査装置において、
検査対象から取得された状態データと、該検査対象に係る検査結果を示すラベルデータとに基づいて機械学習を行うことで学習モデルを生成する機械学習装置と、
前記機械学習装置が生成した学習モデルに関する、学習モデルの評価に用いられる評価指標である学習モデル評価指標を算出する学習モデル評価指標算出部と、
前記検査において用いられる検査指標を取得する検査指標取得部と、
前記学習モデル評価指標と、前記検査指標とに基づいて、前記機械学習装置が生成した学習モデルが、前記検査指標を満足するか否かを判定し、該判定の結果を出力し、更に、前記学習モデルが前記検査指標を満足する条件を算出し、算出した前記学習モデルが前記検査指標を満足する条件を出力する指標値判定部と、
を備えた検査装置。 - 検査対象から取得された状態データと、該検査対象に係る検査結果を示すラベルデータとに基づいて機械学習を行うことで学習モデルを生成する第1ステップと、
前記第1ステップで生成された学習モデルに関する、学習モデルの評価に用いられる評価指標である学習モデル評価指標を算出する第2ステップと、
検査において用いられる、出荷される検査対象に含まれることが許容される不良品の率を表す限界不良品出荷率及び検査対象の総数における検査ではじいた検査対象の率を表す限界再検査率である検査指標を取得する第3ステップと、
前記学習モデル評価指標と、前記検査指標とに基づいて、前記第1ステップで生成した学習モデルが、前記検査指標を満足するか否かを判定し、該判定の結果を出力する第4ステップと、
を備えた機械学習方法。 - 検査対象から取得された状態データと、該検査対象に係る検査結果を示すラベルデータとに基づいて機械学習を行うことで学習モデルを生成する第1ステップと、
前記第1ステップで生成された学習モデルに関する、学習モデルの評価に用いられる評価指標である学習モデル評価指標を算出する第2ステップと、
検査において用いられる、異常なしと判断され加工に使用される工作機械群に含まれることが許容されうる不良機械の率を表す限界不良加工率及び異常ありと判断されメンテナンスに回される工作機械の率を表す限界メンテナンス率である検査指標を取得する第3ステップと、
前記学習モデル評価指標と、前記検査指標とに基づいて、前記第1ステップで生成した学習モデルが、前記検査指標を満足するか否かを判定し、該判定の結果を出力する第4ステップと、
を備えた機械学習方法。 - 検査対象から取得された状態データと、該検査対象に係る検査結果を示すラベルデータとに基づいて機械学習を行うことで学習モデルを生成する第1ステップと、
前記第1ステップで生成された学習モデルに関する、学習モデルの評価に用いられる評価指標である学習モデル評価指標を算出する第2ステップと、
検査において用いられる検査指標を取得する第3ステップと、
前記学習モデル評価指標と、前記検査指標とに基づいて、前記第1ステップで生成した学習モデルが、前記検査指標を満足するか否かを判定し、該判定の結果を出力し、更に、前記学習モデルが前記検査指標を満足する条件を算出し、算出した前記学習モデルが前記検査指標を満足する条件を出力する第4ステップと、
を備えた機械学習方法。
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Families Citing this family (11)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP7442134B2 (ja) * | 2020-04-07 | 2024-03-04 | パナソニックIpマネジメント株式会社 | 部品実装方法及び部品実装システム |
| DE102021106999A1 (de) | 2020-04-24 | 2021-10-28 | Krones Aktiengesellschaft | Verfahren und Vorrichtung zur optischen Inspektion von Behältern in einer Getränkeverarbeitungsanlage |
| US20230224360A1 (en) * | 2020-06-15 | 2023-07-13 | Nippon Telegraph And Telephone Corporation | Processing system, and processing method |
| WO2021256141A1 (ja) * | 2020-06-16 | 2021-12-23 | コニカミノルタ株式会社 | 予測スコア算出装置、予測スコア算出方法、予測スコア算出プログラムおよび学習装置 |
| WO2022024985A1 (ja) * | 2020-07-27 | 2022-02-03 | ファナック株式会社 | 検査装置 |
| JP2023153431A (ja) * | 2020-08-27 | 2023-10-18 | マクセルフロンティア株式会社 | 画像処理装置、検査システムおよび検査方法 |
| TWI806004B (zh) * | 2021-02-09 | 2023-06-21 | 麗臺科技股份有限公司 | 自動化視覺檢測的ai流程管理系統及方法 |
| JP7491274B2 (ja) * | 2021-07-29 | 2024-05-28 | トヨタ自動車株式会社 | 検査装置および検査方法 |
| JP7619215B2 (ja) * | 2021-09-02 | 2025-01-22 | トヨタ自動車株式会社 | 検査システム、方法、及びプログラム |
| JP7643329B2 (ja) * | 2021-12-27 | 2025-03-11 | トヨタ自動車株式会社 | 評価方法 |
| US20250054131A1 (en) * | 2022-05-24 | 2025-02-13 | Mitsubishi Electric Corporation | Information processing device, information processing system, information processing method, and recording medium |
Family Cites Families (20)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US4580226A (en) * | 1984-04-06 | 1986-04-01 | Sanford H. Robbins | Random sampling system |
| JP3759881B2 (ja) * | 2001-03-08 | 2006-03-29 | 株式会社山武 | 加工診断監視システム |
| JP4227863B2 (ja) | 2003-08-04 | 2009-02-18 | 株式会社デンソー | 視覚検査装置の教示装置及び教示方法 |
| TWI239470B (en) * | 2004-07-12 | 2005-09-11 | Quanta Comp Inc | Production information managing system and method |
| JP4573036B2 (ja) * | 2005-03-16 | 2010-11-04 | オムロン株式会社 | 検査装置および検査方法 |
| JP2006293820A (ja) * | 2005-04-13 | 2006-10-26 | Sharp Corp | 外観検査装置、外観検査方法およびコンピュータを外観検査装置として機能させるためのプログラム |
| CN100523746C (zh) * | 2006-05-09 | 2009-08-05 | 欧姆龙株式会社 | 检查装置及检查方法 |
| JP5050607B2 (ja) | 2006-05-09 | 2012-10-17 | オムロン株式会社 | 検査装置、検査方法、検査プログラムおよびそれを記録したコンピュータ読み取り可能な記録媒体 |
| JP2008051781A (ja) * | 2006-08-28 | 2008-03-06 | I-Pulse Co Ltd | 基板の外観検査方法および装置 |
| JP5063632B2 (ja) * | 2009-03-10 | 2012-10-31 | 株式会社豊田中央研究所 | 学習モデル生成装置、対象物検出システム、及びプログラム |
| JP5168215B2 (ja) * | 2009-04-10 | 2013-03-21 | 株式会社デンソー | 外観検査装置 |
| US20110182495A1 (en) * | 2010-01-26 | 2011-07-28 | General Electric Company | System and method for automatic defect recognition of an inspection image |
| JP2013015964A (ja) * | 2011-07-01 | 2013-01-24 | Ricoh Co Ltd | 合格率推定装置、合格率推定方法、プログラム |
| JP5874398B2 (ja) | 2012-01-05 | 2016-03-02 | オムロン株式会社 | 画像検査装置の検査領域設定方法 |
| US9053390B2 (en) * | 2012-08-14 | 2015-06-09 | Kla-Tencor Corporation | Automated inspection scenario generation |
| JP6003783B2 (ja) * | 2013-04-11 | 2016-10-05 | トヨタ自動車株式会社 | 製品の品質検査方法 |
| JP6246513B2 (ja) | 2013-07-16 | 2017-12-13 | 株式会社キーエンス | 三次元画像処理装置、三次元画像処理方法及び三次元画像処理プログラム並びにコンピュータで読み取り可能な記録媒体及び記録した機器 |
| JP2017049974A (ja) | 2015-09-04 | 2017-03-09 | キヤノン株式会社 | 識別器生成装置、良否判定方法、およびプログラム |
| JP6470251B2 (ja) * | 2016-12-26 | 2019-02-13 | ファナック株式会社 | 数値制御装置及び機械学習装置 |
| JPWO2019239606A1 (ja) * | 2018-06-15 | 2020-06-25 | 三菱電機株式会社 | 工作機械の加工寸法予測装置、工作機械の加工寸法予測システム、工作機械の設備異常判定装置、工作機械の加工寸法予測方法及びプログラム |
-
2018
- 2018-09-12 JP JP2018170911A patent/JP6823025B2/ja active Active
-
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