JP6873654B2 - 硬化性ポリシロキサン組成物、該硬化性ポリシロキサン組成物を含む半導体発光装置用封止材及び、該封止材の硬化物を備えた半導体発光装置 - Google Patents
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Description
この半導体発光デバイス用部材としては、例えばエポキシ樹脂が用いられている。また、このエポキシ樹脂等の中に蛍光体などの顔料を含有させることによって、半導体発光素子からの発光波長を変換するものなどが知られている。
また近年、LEDの発光波長の短波長化に伴いエポキシ樹脂が劣化して着色するために、長時間の点灯及び高出力での使用においては半導体発光デバイスの輝度が著しく低下するという課題もあった。
(1)(A)シラノール基を一分子中に2個以上含有するシロキサン化合物、(B)ヒドロシリル基を一分子中に2個以上含有するシロキサン化合物、(C)白金族金属触媒、並びに、(D)有機カルボン酸金属塩、及びセリウム化合物からなる群から選択される1種以上の化合物、を含有し、前記(B)の化合物の有するヒドロシリル基の合計と、前記(A)の化合物の有するシラノール基の合計と、のモル比SiH/SiOHが1〜20であり、前記(D)の化合物における金属の含有量が、(A)の化合物と(B)の化合物の合計重量に対し1ppm以上であることを特徴とする硬化性ポリシロキサン組成物。
(2)更に(E)反応抑制剤を含有することを特徴とする(1)に記載の硬化性ポリシロキサン組成物;
(3) 前記(D)の化合物が、2−エチルヘキサン酸もしくはオクチル酸の金属塩を含むことを特徴とする(1)又は(2)に記載の硬化性ポリシロキサン組成物;
(4)前記(D)の化合物が、2-エチルヘキサン酸セリウムを含むことを特徴とする(1)〜(3)のいずれかに記載の硬化性ポリシロキサン組成物;
(5)温度20℃での屈折率が、1.46以下である(1)〜(4)のいずれかに記載の硬化性ポリシロキサン組成物;
(6)前記(D)の化合物が有機カルボン酸金属塩を含み、該有機カルボン酸金属塩と有機カルボン酸とを組成物中で共存させることを特徴とする(1)〜(5)のいずれかに記載の硬化性ポリシロキサン組成物;
(7)(1)〜(6)のいずれかに記載の硬化性ポリシロキサン組成物を含むことを特徴とする半導体発光装置用封止材;
(8)(7)に記載の封止材の硬化物を備えた半導体発光装置;である。
また、本発明の硬化性ポリシロキサン組成物の硬化物は、光線透過性(透明性)、耐光性、耐熱性、耐クラック性等が高く、発泡が抑制されているため、種々の光学部材に好適に用いることができる。
本実施形態においては、(A)成分として、シラノール基を一分子中に2個以上含有するシロキサン化合物を用いる。
シラノール基を一分子中に2個以上含有するシロキサン化合物とは、ヒドロシリル基を一分子中に2個以上含有するシロキサン化合物と脱水素縮合反応により組成物を硬化させる主剤として作用するものであり、1分子中に少なくとも2個以上のシラノール基を有する直鎖状、分岐状、3次元ネット状のオルガノポリシロキサンである。
5%程度以上がメチル基であることが好ましく、上記式中Rのうちの80%以上がメチル基であることがより好ましい。特に耐UV性が要求される場合には、水酸基を除く全有機基中99%以上がメチル基であることがより好ましい。
また(A)成分と(B)成分の合計重量に対する(A)成分の重量比の上限は、通常99%、好ましくは97%、より好ましくは95%であり、下限は通常20%、好ましくは40%、より好ましくは、60%である。(A)成分の(A)成分と(B)成分の合計重量に対する重量比が大きすぎると、組成物の硬化が遅くなったり、硬化物の硬度が低く機械強度が小さくなるおそれがあり、(A)成分の(A)成分と(B)成分の合計重量に対する重量比が小さすぎると、硬化物が脆くなる傾向にある。
本実施形態において(B)成分として使用されるヒドロシリル基を一分子中に2個以上含有するシロキサン化合物とは、1分子中に少なくとも2個、好ましくは3個以上のSiH結合を有するオルガノハイドロジェンシラン又は直鎖状、分岐状、3次元ネット状のオルガノハイドロジェンポリシロキサンである。なかでもオルガノハイドロジェンポリシロキサンが硬化時に揮発しにくく好ましい。このオルガノハイドロジェンポリシロキサンの置換基としては後述の基を用いることが出来るが、好ましくは脂肪族不飽和結合を有さないものが良い。
、両末端トリメチルシロキシ基封鎖メチルハイドロジェンポリシロキサン、両末端トリメチルシロキシ基封鎖ジメチルシロキサン・メチルハイドロジェンシロキサン共重合体、両末端ジメチルハイドロジェンシロキシ基封鎖ジメチルポリシロキサン、両末端ジメチルハイドロジェンシロキシ基封鎖ジメチルシロキサン・メチルハイドロジェンシロキサン共重合体、両末端トリメチルシロキシ基封鎖メチルハイドロジェンシロキサン・ジフェニルシロキサン共重合体、両末端トリメチルシロキシ基封鎖メチルハイドロジェンシロキサン・ジフェニルシロキサン・ジメチルシロキサン共重合体、(CH3)2HSiO1/2単位とSiO4/2単位とからなる共重合体、(CH3)2HSiO1/2単位とSiO4/2単位と(C6H5)SiO3/2単位とからなる共重合体などが挙げられる。
中でも前記一般式(2)で表される化合物を好ましく用いることが出来る。
R1〜R12のうち、少なくとも80mol%以上、好ましくは95mol%以上、さらに好ましくは99mol%以上がメチル基であることが好ましい。
前記ヒドロシリル基を一分子中に2個以上含有するシロキサン化合物中のヒドロシリル基含有量の上限は、通常20mmol/g、好ましくは15mmol/g、より好ましくは10mmol/g、下限は通常0.1mmol/g、好ましくは1mmol/g、より好ましくは、3mmol/gである。
そして(B)成分の化合物が有するヒドロシリル基の合計と、前記(A)成分の化合物の有するシラノール基と、の合計のモル比SiH/SiOHが1〜20である。モル比の下限は、好ましくは、1.5、より好ましくは2、上限は好ましくは15、より好ましくは10、更に好ましくは5である。モル比が1より小さくても、20より大きくても、組成物の硬化が不十分になる傾向にあり、残存するシラノール基やヒドロシリル基が多くなるため硬化物の耐熱性、耐光性、耐クラック性が低下する場合がある。
本実施形態の硬化性ポリシロキサン組成物は、脱水素縮合反応触媒として、(C)白金族金属触媒を含有する。白金族金属触媒としては、白金黒、塩化第2白金、塩化白金酸、塩化白金酸と一価アルコールとの反応物、塩化白金酸とオレフィン類との錯体、白金ビスアセトアセテート等の白金系触媒、パラジウム系触媒、ロジウム系触媒などが挙げられる。具体例としては、例えば、白金−ジビニルテトラメチルジシロキサン錯体、白金−2,4,6,8−テトラメチル−2,4,6,8−テトラビニルシクロテトラシロキサン錯体などを好適に用いることができる。
また、前記白金族金属触媒とは異なるシロキサン化合物脱水素縮合反応触媒を併用してもよく、錫、チタン、アルミニウム等、白金族金属以外の金属錯体、ヒドロキシルアミンを含有するアミノキシ化合物、などが挙げられる。
なお、前記の硬化触媒の含有率は、ICP分析により測定できる。
本実施形態の(D)成分は、有機カルボン酸金属塩、及びセリウム化合物からなる群から選択される1種以上の化合物である。
(D)成分として用いられる有機カルボン酸金属塩の金属としては、特に限定されないが、亜鉛、ジルコニウム、鉄、インジウム、ニッケル、マンガン、ランタン、サマリウム、プラセオジム、ネオジム、セリウムなどが挙げられる。好ましい金属としては、ランタン、サマリウム、プラセオジム、ネオジム、セリウム等の希土類金属とジルコニウム、インジウム、亜鉛であり、特に好ましくはセリウムである。
本実施形態において、硬化性ポリシロキサン組成物の常温での使用可能時間を延長する、脱水素反応の反応温度を高めに制御する、水素ガスの発生温度や発生速度を制御する、硬化物中の気泡の残存を抑制する、等の目的で反応抑制剤を添加することが好ましい。
本実施形態において(E)成分として使用される反応抑制剤としては、例えば脂肪族不飽和結合を含有する化合物が挙げられ、脂肪族不飽和結合を含有する化合物としては、3−ヒドロキシ−3−メチル−1−ブチン、3,5−ジメチル−1−ヘキシン−3−オール、3−ヒドロキシ−3−フェニル−1−ブチン、1−エチニル−1−シクロヘキサノール等のプロパギルアルコール類、エン−イン化合物類、ジメチルマレート等のマレイン酸エステル類等が例示される。脂肪族不飽和結合を含有する化合物の中でも、三重結合を有する化合物が好ましい。
その他の成分として、耐熱向上剤としての金属酸化物、難燃助剤、導電付与剤、帯電防止剤、加工助剤などを用いることができる。
また、アルコキシシリル基を含有するアルコキシシラン系化合物、シランカップリング剤、チタン系やジルコニウム系等のシロキサン化合物脱水縮合触媒などを架橋補助剤とし
て配合することもできる。
本実施形態の硬化性ポリシロキサン組成物を、半導体発光装置用封止材として用いる場合などにおいては、蛍光体や無機粒子などを含有させてもよい。
本実施形態の硬化性ポリシロキサン組成物の硬化物を少なくとも備えることを特徴とした光学部材を、半導体発光装置に使用する場合などにおいては、光学的特性や作業性を向上させるため、また、以下の<1>〜<5>の何れかの効果を得ることを目的として、更に無機粒子を含有させてもよい。
<1>硬化性ポリシロキサン組成物の硬化物に光散乱物質として無機粒子を混入し、半導体発光装置の光を散乱させることにより、蛍光体に当たる半導体発光素子の光量を増加させ、波長変換効率を向上させると共に、半導体発光装置から外部に放出される光の指向角を広げる。
<2>硬化性ポリシロキサン組成物の硬化物に結合剤として無機粒子を配合することにより、クラックの発生を防止する。
<3>硬化性ポリシロキサン組成物に、粘度調整剤として無機粒子を配合することにより、当該組成物液の粘度を高くする。
<4>硬化性ポリシロキサン組成物の硬化物に無機粒子を配合することにより、その収縮を低減する。
<5>硬化性ポリシロキサン組成物の硬化物に無機粒子を配合することにより、その屈折率を調整して、光取り出し効率を向上させる。
この場合は、硬化性ポリシロキサン組成物に、蛍光体の粉末と同様に、無機粒子を目的に応じて適量混合すればよい。
具体的には、例えば日本アエロジル株式会社製「アエロジル」(登録商標)が挙げられ、親水性アエロジル(登録商標)の例としては、「90」、「130」、「150」、「200」、「300」、疎水性アエロジル(登録商標)の例としては、「R8200」、「R972」、「R972V」、「R972CF」、「R974」、「R202」、「R
805」、「R812」、「R812S」、「RY200」、「RY200S」「RX200」が挙げられる。
本実施形態のポリシロキサン硬化物における無機粒子の含有率は、本発明の効果を著しく損なわない限り任意であるが、その適用形態により自由に選定できる。例えば、無機粒子を光散乱剤として用いる場合は、その含有率は組成物全体の0.01〜10重量%が好適である。また、例えば、無機粒子を骨材として用いる場合は、その含有率は1〜80重量%が好適である。また、例えば、無機粒子を増粘剤(チキソ剤)として用いる場合は、その含有率は0.1〜20重量%が好適である。また、例えば、無機粒子を屈折率調整剤として用いる場合は、その含有率は10〜80重量%が好適である。無機粒子の量が少なすぎると所望の効果が得られなくなる可能性があり、多すぎると硬化物の密着性、透明性、硬度等の諸特性に悪影響を及ぼす可能性がある。
本実施形態の硬化性ポリシロキサン組成物は、上記した各成分を均一に混合することによって得ることができる。その混合方法は特に限定されない。
この混合には一般のシリコーンゴム調製に使用される混合機を用いることができ、例えば、万能混練機、プラネタリミキサー、バンバリーミキサー、ニーダー、ゲートミキサー、品川ミキサー、加圧ニーダー、三本ロール、二本ロールを用いることができる。
本実施形態の硬化性ポリシロキサン組成物の屈折率は、該硬化性ポリシロキサン組成物の温度が20℃における波長589nmの光の屈折率が、通常1.56以下、好ましくは1.45以下、更に好ましくは1.42以下であり、通常1.35以上、好ましくは1.40以上である。光学部材に応用する場合には一般的な発光デバイスの屈折率が約2.5以下であるが、樹脂の光安定性の観点からも比較的屈折率の低いものを選択することが好ましい。
本実施形態の硬化性ポリシロキサン組成物の屈折率は、通常屈折計により測定することができる。具体的には、Abbe屈折計(ナトリウムD線(589nm)使用)を用いることができる。
本実施形態の硬化性ポリシロキサン組成物の粘度に制限は無いが、液温25℃において、通常20mPa・s以上、好ましくは100mPa・s以上、より好ましくは200mPa・s以上、また、通常20000mPa・s以下、好ましくは10000mPa・s以下、より好ましくは5000mPa・s以下である。なお、前記粘度はRV型粘度計(例えばブルックフィールド社製RV型粘度計「RVDV−II+Pro」により測定できる。
本実施形態の硬化性ポリシロキサン組成物は単独で用いてもよいが、粘度、硬化速度、硬化物の硬度、塗布しやすさの向上などの性状の調整を目的として、他の液状媒体と混合してもよい。使用される液状媒体としては無機系材料および/または有機系材料が使用できる。
無機系材料としては、例えば、金属アルコキシド、セラミック前駆体ポリマー若しくは金属アルコキシドを含有する溶液をゾル−ゲル法により加水分解重合して成る溶液、また
はこれらの組み合わせを固化した無機系材料(例えばシロキサン結合を有する無機系材料)等を挙げることができる。
有機系材料としては、熱可塑性樹脂、熱硬化性樹脂、光硬化性樹脂等が挙げられる。具体的には、例えば、ポリメタアクリル酸メチル等のメタアクリル樹脂;ポリスチレン、スチレン−アクリロニトリル共重合体等のスチレン樹脂;ポリカーボネート樹脂;ポリエステル樹脂;フェノキシ樹脂;ブチラール樹脂;ポリビニルアルコール;エチルセルロース、セルロースアセテート、セルロースアセテートブチレート等のセルロース系樹脂;エポキシ樹脂;フェノール樹脂;シリコーン樹脂等が挙げられる。特に照明など大出力の発光装置が必要な場合、耐熱性や耐光性等を目的として珪素含有化合物を使用することが好ましい。
シリコーン系材料とは、通常、シロキサン結合を主鎖とする重合体をいい、例えば一般組成式(3)で表される化合物及び/またはそれらの混合物が挙げられる。
(R21R22R23SiO1/2)M(R24R25SiO2/2)D(R26SiO3/2)T(SiO4/2)Q・・・式(3)
ここで、R21からR26は同じであっても異なってもよく、有機官能基、シリル基、水酸基、水素原子からなる群から選択される。またM、D、T及びQは0から1未満であり、M+D+T+Q=1を満足する数である。
本実施形態のポリシロキサン硬化物を製造する方法は、本実施形態の硬化性ポリシロキサン組成物を硬化させる工程を有していれば制限されない。なお、重縮合物が溶媒を含有している場合には、乾燥させる前に事前に溶媒を留去するようにしてもよい。
本実施形態のポリシロキサン硬化物は、通常、空気中で、150℃にて6時間以内で硬化するが、好ましい硬化条件を以下に詳述する。硬化処理は、常圧で実施する場合、通常15℃以上、好ましくは50℃以上、より好ましくは100℃以上、また、通常300℃以下、好ましくは200℃以下、より好ましくは180℃以下の範囲で行なう。加圧下で液相を維持することでより高い温度で行なうことも可能である。
硬化時間は反応温度により異なるが、通常0.1時間以上、好ましくは0.5時間以上、更に好ましくは0.8時間以上、また、通常100時間以下、好ましくは20時間以下、更に好ましくは15時間以下の範囲で実施される。
また、硬化温度をステップ昇温とすると発泡を抑制することができる。硬化物中の気泡の残存を極力抑えた本実施形態のポリシロキサン硬化物の25℃での密度は概ね0.95g/cm3以上となる。
本実施形態のポリシロキサン硬化物を少なくとも備えてなる光学部材の例として、半導体発光装置を例に挙げて、実施形態を用いて説明する。なお、以下の各実施形態では、本実施形態の半導体発光装置を適宜「発光装置」と略称することがある。
さらに、本実施形態の半導体発光装置に用いる光学部材は、半導体発光装置用部材と呼ぶこととする。これらの実施形態はあくまでも説明の便宜のために用いるものであって、
本実施形態の光学部材を少なくとも備えてなる半導体発光装置の例は、これらの実施形態に限られるものではない。
本実施形態に係る半導体発光装置用部材を用いた半導体発光装置は、例えば、以下のA)、B)の適用例がある。本実施形態に係る半導体発光装置用部材は、何れの適用例においても、従来の半導体発光装置用の光学部材と比較して、優れた光耐久性及び熱耐久性を示し、クラックや剥離が起きにくく、輝度の低下が少ない。したがって、本実施形態に係る半導体発光装置用部材は、長期にわたって信頼性の高い部材である。
A)発光素子の発光色をそのまま利用する半導体発光装置。
B)発光素子の近傍に蛍光体部を配設し、発光素子からの光により蛍光体部中の蛍光体や蛍光体成分を励起させ、蛍光を利用して所望の波長の光を発光する半導体発光装置。
〔実施形態A〕
本実施形態の発光装置1Aは、図1に示すように、プリント配線17が施された絶縁基板16上に発光素子2が表面実装されている。この発光素子2は発光層部21のp形半導体層(図示せず)及びn形半導体層(図示せず)それぞれが、導電ワイヤ15,15を介してプリント配線17,17に電気的に接続されている。なお、導電ワイヤ15,15は、発光素子2から放射される光を妨げないように、断面積の小さいものが用いられている。
ここにおいて、発光素子2としては、紫外〜赤外域までどのような波長の光を発するものを用いてもよいが、ここでは、窒化ガリウム系のLEDチップを用いているものとする。また、この発光素子2は、図1における下面側にn形半導体層(図示せず)、上面側にp形半導体層(図示せず)が形成されており、p形半導体層側から光出力を取り出すから図1の上方を前方として説明する。
しかして、本実施形態の発光装置1Aは、発光素子2と、透明部材3Aとを備えているため、発光装置1Aの耐光性、耐熱性を向上させることができる。また、封止部3Aにクラックや剥離が起きにくいため、封止部3Aの透明性を高めることが可能となる。
〔実施形態B〕
実施形態Bは、封止部3Aに適宜蛍光体を添加して蛍光体部を形成する以外は、実施形態Aに準じた構成とすることができる。封止部3Aに添加する蛍光体の種類、量は、半導体発光装置に要求される出射光のスペクトルにより適宜選択される。なお、蛍光体部は発光装置1Aの上部に積層するように配置してもよい。
[実施例1]
(A)両末端がシラノール基で封鎖されたポリジメチルシロキサン(Si−OH:0.13mmol/g)100重量部、(B)両末端がトリメチルシリル基で封鎖されたメチルヒドロシロキサン−ジメチルシロキサン共重合体(粘度20mm2/s、Si−H:7.5mmol/g)7.23重量部、(C)白金錯体触媒としてモメンティブ製XC86−250 0.23重量部、(D−1)2−エチルヘキサン酸セリウム49% in 2−エチルヘキサン酸、Ce12%(和光純薬工業株式会社)0.003重量部、(E)1−エチニル−1−シクロヘキサノール0.006重量部、を秤量、混合し、硬化性ポリシロキサン組成物を得た。
硬化性ポリシロキサン組成物2.2gを直径5cmのポリテトラフルオロエチレン製シャーレに入れ、真空デシケーター内で数分間脱気した後、恒温器中、100℃にて1時間、150℃にて5時間保持し、厚さ約1mmのエラストマー状硬化物を得た。
D成分として、以下の化合物を用いた以外は、実施例1と同様にして、表1に示す組成の硬化性ポリシロキサン組成物と、厚さ約1mmのエラストマー状硬化物を得た。
(D−1)2-エチルヘキサン酸セリウム49% in 2-エチルヘキサン酸、Ce12%(和光純薬工業株式会社)
(D−2)8%オクチル酸インジウム(新興化学工業株式会社)
(D−3)Zirconyl 2−ethylhexanoate in mineral spirits(〜6%Zr)(STREM CHEMICALS)
(D−4)2−エチルヘキサン酸亜鉛ミネラルスピリット溶液(Zn:15%)(和光純薬工業株式会社)
(D−5)NanoTek Powder CeO2(シーアイ化成株式会社)
(D−6)UEP酸化ジルコニウム ZrO2(第一稀元素化学工業株式会社)
[ショアA硬度]
厚さ約1mmのエラストマー状硬化物を中心から放射線状に6等分したピースを6枚重ね、ショアA硬度を測定した。測定後のピースをテフロン(登録商標)板の上に円形に並べて230℃の恒温器で500時間保持した後、ピースを6枚重ね、ショアA硬度を測定した。
[重量変化]
厚さ約1mmのエラストマー状硬化物を230℃の恒温器で500時間保持した後、重量を測定し、初期値と比較した。
[クラック試験]
厚さ約1mmのエラストマー状硬化物を中心から放射線状に6等分した1/6のピースをアルミ板にのせ、260℃の電気炉で24時間保持し、室温に冷ました後、クラックの有無を目視観察した。
Ceを有効量添加した組成物は、230℃500時間経過後の重量変化が顕著に小さい。
Claims (8)
- (A)シラノール基を一分子中に2個以上含有するシロキサン化合物、(B)ヒドロシリル基を一分子中に2個以上含有するシロキサン化合物、(C)白金族金属触媒、並びに、(D)有機カルボン酸金属塩を含有し、
前記(B)の化合物が有するヒドロシリル基の合計と、前記(A)の化合物が有するシラノール基の合計と、のモル比SiH/SiOHが1〜20であり、前記(D)の化合物における金属の含有量が、(A)の化合物と(B)の化合物の合計重量に対し1ppm以上であることを特徴とする硬化性ポリシロキサン組成物。 - 更に(E)反応抑制剤を含有することを特徴とする、請求項1に記載の硬化性ポリシロキサン組成物。
- 前記(D)の化合物が、2−エチルヘキサン酸もしくはオクチル酸の金属塩を含むことを特徴とする請求項1又は2に記載の硬化性ポリシロキサン組成物。
- 前記(D)の化合物が、2−エチルヘキサン酸セリウムを含むことを特徴とする請求項1〜3のいずれか1項に記載の硬化性ポリシロキサン組成物。
- 温度20℃での屈折率が、1.46以下である請求項1〜4のいずれか1項に記載の硬化性ポリシロキサン組成物。
- 前記(D)の化合物が有機カルボン酸金属塩を含み、該有機カルボン酸金属塩と有機カルボン酸とを組成物中で共存させることを特徴とする請求項1〜5のいずれか1項に記載の硬化性ポリシロキサン組成物。
- 請求項1〜6のいずれか1項に記載の硬化性ポリシロキサン組成物を含むことを特徴とする半導体発光装置用封止材。
- 請求項7に記載の封止材の硬化物を備えた半導体発光装置。
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