JP6965540B2 - 圧電デバイス、memsデバイス、液体噴射ヘッド、及び、液体噴射装置 - Google Patents
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Description
前記第1の配線とは異なる電気信号が印加される第2の配線を備えた第2の基板と、を有し、前記第1の配線と前記第2の配線とが対向する圧電デバイスであって、
前記第1の配線と前記第2の配線の少なくとも一方の配線の少なくとも一部が絶縁性を有する保護層で覆われたことを特徴とする。
前記保護層は、前記接着剤と同種の樹脂で形成されたことが望ましい。
前記第3の配線の端又は前記第2の配線における前記第3の配線の端に対向する部分の少なくとも何れか一方が前記保護層により覆われたことが望ましい。
隔は約20μmに設定され、下面側配線47の下面と圧電素子32上の上電極層39の上
面との間隔は約21μmに設定されている。また、圧電素子32を駆動した際(すなわち
、下面側配線47と圧電素子32上の上電極層39とに電圧を印加した際)において、他
側の個別バンプ電極40aに接続される下面側配線47の最大電位は約25[V]であり
、これに対向する一側の金属層44a及び圧電素子32上の上電極層39の電位は約5V
である。このため、下面側配線47の下面と一側の金属層44a及び圧電素子32上の上
電極層39との間の最大電位差は約20[V]となる。そして、下面側配線47の下面と
一側の金属層44aの上面との間に形成される最大電界強度は、約1.25[MV/m]
となる。一般的に、空気中において、放電が起こる電界強度は、約3[MV/m]であり
、このときの両電極間の最大電位差は、約63[V]である。また、下面側配線47の下
面と一側の金属層44aの上面との間の空間、すなわち、振動板31、封止板33、及び
、接着剤43で区画される空間は、空気の他に、インクに含まれる成分(水分や溶剤)の
一部が振動板31を透過し、気化した気体により充満され易い。このような環境下におい
ては、放電が起こる電界強度は、下がる傾向にある。例えば、空気中に水蒸気が飽和した
環境下においては、放電が起こる電界強度は、約1[MV/m]以下であり、このときの
両電極間の最大電位差は、約20[V]以下である。また、一側の金属層44aの一部は
駆動領域35に重なって配置され、駆動領域35の変位や外部からの衝撃等に応じて両電
極間の距離は変動する可能性があるため、両電極間の最大電位差が約10[V]の場合で
も放電が起こる可能性がある。このため、本実施形態における電界強度において、放電が
生じ易い。すなわち、他側の個別バンプ電極40aに接続される下面側配線47と金属層
44との間で、短絡(ショート)が生じ易くなっている。このような不具合を抑制するた
め、本発明においては封止板33の下面に絶縁性を有する保護層55を設けている。
40(より詳しくは、内部樹脂48)が形成された領域以外の略全面に形成されている。
このため、この保護層55によりバンプ電極40から外れた下面側配線47の略全てが覆
われることになる。なお、この保護層55の表面に接着剤43が密着する。このような保
護層55は、酸化物、窒化物、又は、樹脂の何れかで形成されることが望ましい。酸化物
の例としては、シリコン酸化膜(SiOx)や酸化ジルコニウム(ZrO2)等があげら
れ、窒化物の例としては、シリコン窒化膜(SiNx)や窒化アルミニウム(AlN)等
があげられる。これらは、スパッタリング法等の半導体において一般的に使用される成膜
方法を用いて成膜される。また、成膜後に、レジストを塗布し、露光工程、現像工程、エ
ッチング工程等を経て、所定の位置に保護層55を形成することができる。樹脂の例とし
ては、エポキシ樹脂、アクリル樹脂、フェノール樹脂、ポリイミド樹脂、シリコーン樹脂
、スチレン樹脂等を主成分に含む樹脂があげられる。これらは、スピンコーター等を用い
て封止板33の下面に塗布した後、加熱や光(例えば、紫外線)を照射することで成膜さ
れる。また、成膜後に、露光工程、現像工程等を経て、所定の位置に保護層55を形成す
ることもできる。このように、保護層55として酸化物、窒化物、又は、樹脂の何れかを
用いることで、保護層55の形成が容易になる。さらに、保護層55は、接着剤43と同
種の樹脂で形成されることが望ましい。このようにすれば、保護層55と接着剤43とが
密着し易くなる。これにより、第1の基板と第2の基板との接着強度(接合強度)を高め
ることができる。なお、ここでいう同種の樹脂とは、樹脂の組成が完全に一致する場合に
限られず、主成分の材料が同じであることを意味し、両者の添加物等が異なる場合も含む
。
子32上の上電極層39と対向する領域における下面側配線47を保護層55で覆ったの
で、この保護層55により下面側配線47と金属層44a又は上電極層39との間におけ
る短絡が抑制される。すなわち、保護層55が電子の流れに対するエネルギー障壁となり
、下面側配線47と金属層44a又は上電極層39との間における放電が抑制される。こ
れにより、下面側配線47と金属層44a(圧電素子32)との間隔を狭めることができ
、アクチュエーターユニット14、ひいては、記録ヘッド3が大型化することを抑制でき
る。また、下面側配線47を一側の金属層44a及び圧電素子32上の上電極層39と対
向しないように配置する必要が無いため、すなわち、下面側配線47と一側の金属層44
a及び圧電素子32上の上電極層39とを対向配置することが可能なため、設計の自由度
が増す。その結果、アクチュエーターユニット14、ひいては、記録ヘッド3が大型化す
ることを抑制できる。また、下面側配線47と金属層44a又は上電極層39との間の短
絡が抑制されるため、アクチュエーターユニット14、ひいては、記録ヘッド3の信頼性
が向上する。その結果、プリンター1の信頼性が向上する。なお、本実施形態では、一側
の金属層44aの一側の端及び圧電素子32上の上電極層39の一側の端を覆うように接
着剤43が設けられているため、当該部分における下面側配線47と一側の金属層44a
又は圧電素子32上の上電極層39との間における放電が一層抑制されている。
ンプ電極40が形成された領域以外の略全面に形成されたが、これには限られない。例え
ば、図4に示す第2の実施形態においては、保護層55が封止板33の下面における一部
の下面側配線47を覆うように配置されている。
交する方向において、圧電素子32の一側の端(すなわち、圧電素子32上の上電極層3
9の一側の端)よりも同側に外れた領域に対向する封止板33の下面の位置から、一側の
金属層44aに対向する位置よりも他側(共通バンプ電極40b側)に形成された下面側
配線47の端を覆う位置まで形成されている。すなわち、保護層55は、圧電素子32上
の上電極層39及び一側の金属層44aに対向する領域の下面側配線47を覆うように形
成されている。なお、その他の領域は、保護層55が形成されずに下面側配線47等が露
出した状態になっている。このように、封止板33側の配線のうち圧力室形成基板29側
の配線との間で電位差が生じる部分、具体的には、一側の金属層44a及び圧電素子32
上の上電極層39に対向する、個別バンプ電極40aに接続される下面側配線47を保護
層55で覆ったので、下面側配線47と一側の金属層44a又は圧電素子32上の上電極
層39との間における短絡が抑制される。特に、放電が生じやすい圧電素子32上の上電
極層39の一側の端に対向する下面側配線47が保護層55で覆われるため、上電極層3
9と下面側配線47との間における短絡が一層抑制される。また、放電が生じやすい一側
の金属層44aの他側の端に対向する下面側配線47が保護層55で覆われるため、上電
極層39と金属層44aとの間における短絡が一層抑制される。そして、その他の領域は
、保護層55が形成されていないため、保護層55の材料の選択の幅が広がる。すなわち
、保護層55が設けられていない領域に設けられた接着剤43により接着強度を確保する
ことができるため、保護層55として接着剤43との密着性が良い材料を選択する必要が
無くなる。なお、その他の構成は上記した第1の実施形態と同じであるため説明を省略す
る。
形成されたが、これには限られない。圧力室形成基板側に保護層を設けることもできる。
例えば、圧電素子上の上電極層の一側の端から一側の金属層の他側の端に亘って、これら
を覆うように保護層を設けることもできる。或いは、封止板側と圧力室形成基板側との両
方に保護層を設けることもできる。
Claims (9)
- 圧電体層及び少なくとも一部が前記圧電体層上に積層された第1の配線を備えた第1の
基板と、
前記第1の配線とは異なる電気信号が印加される第2の配線を備えた第2の基板と、を
有し、前記第1の配線と前記第2の配線とが対向する圧電デバイスであって、
前記第1の配線と前記第2の配線が対向している領域において、前記第2の配線の少な
くとも一部が絶縁性を有するシリコン酸化膜、酸化ジルコニウム、シリコン窒化膜、窒化
アルミニウム、の何れかで形成される保護層で覆われ、且つ前記第1の配線と前記第2の
配線が対向している領域において、前記保護層と第1の配線が接着剤で接着されており、
前記接着剤と前記保護層の積層方向において前記保護層と圧力室が重なることを特徴とす
る圧電デバイス。 - 前記接着剤と前記保護層の積層方向において、前記接着剤と前記圧力室が重なることを
特徴とする請求項1に記載の圧電デバイス。 - 少なくとも前記第1の配線又は前記第2の配線の何れか一方への電圧印加において、前
記第1の配線と前記第2の配線との間の最大電位差が10[V]以上であることを特徴と
する請求項1から請求項2の何れか一項に記載の圧電デバイス。 - 少なくとも前記第1の配線又は前記第2の配線の何れか一方への電圧印加において、前
記第1の配線と前記第2の配線との間に形成される最大電界強度が1[MV/m]以上で
あることを特徴とする請求項1から請求項2の何れか一項に記載の圧電デバイス。 - 前記第1の配線の端又は前記第2の配線における前記第1の配線の端に対向する部分の
少なくとも何れか一方が前記保護層により覆われたことを特徴とする請求項1から請求項
4の何れか一項に記載の圧電デバイス。 - 前記第1の基板は、前記第1の配線上に積層された第3の配線を備え、
前記第3の配線の端又は前記第2の配線における前記第3の配線の端に対向する部分の
少なくとも何れか一方が前記保護層により覆われたことを特徴とする請求項1から請求項
5の何れか一項に記載の圧電デバイス。 - 請求項1から請求項6の何れか一項に記載の圧電デバイスを備えたことを特徴とするM
EMSデバイス。 - 請求項1から請求項6の何れか一項に記載の圧電デバイスを備えたことを特徴とする液
体噴射ヘッド。 - 請求項8に記載の液体噴射ヘッドを備えたことを特徴とする液体噴射装置。
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