JP7088046B2

JP7088046B2 - 光ディスク装置及び光ディスク回転位置検出方法

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Publication number: JP7088046B2
Application number: JP2019009283A
Authority: JP
Inventors: 雅弘山本; 茂彦岩間; 敦齋藤
Original assignee: JVCKenwood Corp
Current assignee: JVCKenwood Corp
Priority date: 2019-01-23
Filing date: 2019-01-23
Publication date: 2022-06-21
Anticipated expiration: 2039-01-23
Also published as: JP2020118537A

Description

本発明は、光ディスク装置及び光ディスク回転位置検出方法に関する。

疾病に関連付けられた特定の抗原または抗体を検体として検出することで、疾病の発見や治療の効果等を定量的に分析する免疫検定法（immunoassay）が知られている。特許文献１及び特許文献２には、光ディスク上の反応領域に固定された抗体と試料中の抗原とを結合させ、抗体を有する微粒子によって抗原を標識する光ディスク装置が記載されている。

光ディスク装置は、光ピックアップから照射されるレーザ光を走査することにより、光ディスク上の反応領域に捕捉された微粒子を検出する。従って、特許文献１及び特許文献２に記載されている光ディスク装置は、検体検出用の分析装置として機能する。

特表２００２－５２１６６６号公報特開２００６－３２２８１９号公報

光ディスク装置は、光ディスクを回転させながら光ピックアップを光ディスクの半径方向に移動させる。光ディスク上には複数の反応領域が形成されているため、微粒子が検出された反応領域を特定する必要がある。特許文献１では光ディスクのアドレス情報を用いて反応領域を特定している。特許文献２では光ディスク内部に反応領域の位置情報を記録したピット群を形成している。

従って、特許文献１及び特許文献２に記載されている光ディスク及び光ディスク装置では、光ディスクに予め反応領域の位置を特定するためのアドレス情報を記録しておく必要がある。そのため、光ディスクの製造工程が煩雑になり、光ディスクの製造コストが高くなってしまう。

本発明は、光ディスクにアドレス情報が記録されていなくても、光ディスクの回転方向の基準位置を検出できる光ディスク装置及び光ディスク回転位置検出方法を提供することを目的とする。

本発明は、光通過部を有する光ディスクを回転させる回転駆動部と、前記光ディスクに検出光を照射し、出力信号を生成する光センサと、前記光ディスクが回転している状態において前記光通過部が通過する位置に配置され、前記光センサから照射され、かつ、前記光通過部を通過した前記検出光を反射する光反射部材と、前記回転駆動部及び前記光センサを制御する制御回路とを備え、前記光センサは、前記光反射部材及び前記光ディスクが前記検出光を反射することにより生成される第１の信号波形と第２の信号波形とを含む前記出力信号を生成し、前記制御回路は、前記出力信号から前記第１及び第２の信号波形を抽出し、前記第１及び第２の信号波形に基づいて前記光ディスクの回転基準位置を特定する光ディスク装置を提供する。

本発明は、光センサが、光通過部を有し、かつ、回転している光ディスクに検出光を照射し、前記光ディスクが回転している状態において前記光通過部が通過する位置に配置されている光反射部材が、前記光通過部を透過した前記検出光を反射し、前記光センサが、前記光ディスク及び前記光反射部材によって反射した前記検出光を検出し、前記光反射部材が前記検出光を反射することにより生成される第１の信号波形と第２の信号波形とを含む出力信号を生成し、制御回路が、前記出力信号から前記第１及び第２の信号波形を抽出し、前記第１及び第２の信号波形に基づいて前記光ディスクの回転基準位置を特定する光ディスク回転位置検出方法を提供する。

本発明の光ディスク装置及び光ディスク回転位置検出方法によれば、光ディスクにアドレス情報が記録されていなくても、光ディスクの回転方向の基準位置を検出できる。

一実施形態の光ディスク装置を側面から見た状態を示す構成図である。光ディスクの一例を示す平面図である。図２ＡのＡ－Ａで切断した光ディスクの断面図である。一実施形態の光ディスク装置における光センサと光ディスクと光反射部材との位置関係を示す部分拡大図である。光反射部材が配置されていない場合の光ディスクが回転している状態における検出領域と光通過部との位置関係を示す部分拡大図である。光反射部材が配置されていない場合の光ディスクが回転している状態における検出領域と光通過部との位置関係を示す部分拡大図である。光反射部材が配置されていない場合の光ディスクが回転している状態における検出領域と光通過部との位置関係を示す部分拡大図である。光反射部材が配置されていない場合の光センサの出力信号を示す図である。光反射部材が配置され、光ディスクが回転し、かつ、検出領域が基準位置に位置している状態における検出領域と光通過部との位置関係を示す部分拡大図である。光反射部材が配置され、光ディスクが回転し、かつ、検出領域が基準位置に位置している状態における検出領域と光通過部との位置関係を示す部分拡大図である。光反射部材が配置され、光ディスクが回転し、かつ、検出領域が基準位置に位置している状態における検出領域と光通過部との位置関係を示す部分拡大図である。光反射部材が配置され、光ディスクが回転し、かつ、検出領域が基準位置に位置している状態における光センサの出力信号を示す図である。光反射部材が配置され、光ディスクが回転し、かつ、検出領域が基準位置から光ディスクの回転方向側にずれた状態における検出領域と光通過部との位置関係を示す部分拡大図である。光反射部材が配置され、光ディスクが回転し、かつ、検出領域が基準位置から光ディスクの回転方向側にずれた状態における検出領域と光通過部との位置関係を示す部分拡大図である。光反射部材が配置され、光ディスクが回転し、かつ、検出領域が基準位置から光ディスクの回転方向側にずれた状態における検出領域と光通過部との位置関係を示す部分拡大図である。光反射部材が配置され、光ディスクが回転し、かつ、検出領域が基準位置から光ディスクの回転方向側にずれた状態における光センサの出力信号を示す図である。光反射部材が配置され、光ディスクが回転し、かつ、検出領域が基準位置から光ディスクの回転方向とは逆方向側にずれた状態における検出領域と光通過部との位置関係を示す部分拡大図である。光反射部材が配置され、光ディスクが回転し、かつ、検出領域が基準位置から光ディスクの回転方向とは逆方向側にずれた状態における検出領域と光通過部との位置関係を示す部分拡大図である。光反射部材が配置され、光ディスクが回転し、かつ、検出領域が基準位置から光ディスクの回転方向とは逆方向側にずれた状態における検出領域と光通過部との位置関係を示す部分拡大図である。光反射部材が配置され、光ディスクが回転し、かつ、検出領域が基準位置から光ディスクの回転方向とは逆方向側にずれた状態における光センサの出力信号を示す図である。一実施形態の光ディスク回転位置検出方法の一例を示すフローチャートである。光通過部の一例を示す光ディスクの部分拡大図である。光通過部の一例を示す光ディスクの部分拡大図である。光通過部の一例を示す光ディスクの部分拡大図である。光通過部の一例を示す光ディスクの部分拡大図である。

図１を用いて、一実施形態の光ディスク装置の構成例を説明する。光ディスク装置１は、筐体２と、トラバースメカ３と、防振部材４と、光センサ５と、制御回路６と、光反射部材２０とを備える。トラバースメカ３は、筐体２の内部に収容され、防振部材４を介して筐体２に固定されている。防振部材４としてダンパーゴムを用いてもよい。防振部材４は、筐体２の振動を吸収することにより、筐体２の振動がトラバースメカ３へ伝搬することを防止する。光センサ５は筐体２に固定されている。

制御回路６は、トラバースメカ３及び光センサ５と電気的に接続されている。制御回路６は、トラバースメカ３及び光センサ５を制御する。制御回路６として、光ディスクドライブ基板を用いてもよい。トラバースメカ３は、回転テーブル３１と、回転駆動部３２と、光ピックアップ３３とを有する。回転駆動部３２としてモータを用いてもよい。

制御回路６がトラバースメカ３を制御することにより、トラバースメカ３は、光ディスク１０を回転テーブル３１へ移動させ、さらに光ディスク１０を回転テーブル３１に装着する。さらに、トラバースメカ３は、回転テーブル３１に装着されている光ディスク１０をトラバースメカ３から排出する。制御回路６は、トラバースメカ３の回転駆動部３２及び光ピックアップ３３を制御する。トラバースメカ３は、回転テーブル３１を所定の回転数または角速度一定で回転させたり、光ピックアップ３３を光ディスク１０の半径方向における所定の位置へ移動させたりする。

回転駆動部３２は、光ディスク１０が回転テーブル３１に装着されている状態において、回転テーブル３１を回転させることにより、光ディスク１０を所定の回転数または角速度一定で回転させることができる。トラバースメカ３は、光ピックアップ３３から光ディスク１０へ照射されるレーザ光の焦点位置を調整することができる。

図２及び図３を用いて、光ディスク１０について説明する。図２は、図１に示す光ディスク１０を上方側から見た状態を示している。図３は、図２のＡ－Ａで切断した光ディスク１０の断面を示している。光ディスク１０は、第１の面１０ａと第２の面１０ｂとを有する。第１の面１０ａとは反対側の第２の面１０ｂには、情報を記録したり読み出したりするためのトラック、または、反応領域が形成されている。

光ディスク１０は、中心孔１１と所定の形状を有する光通過部１２とを有する。中心孔１１及び光通過部１２は光ディスク１０を貫通している。中心孔１１の中心Ｃ１１は、光ディスク１０の回転中心Ｃ１０と一致している。光通過部１２は所定の形状を有する切り欠きまたは貫通孔である。光通過部１２は光ディスク１０の外周部またはその近傍に形成されていることが望ましい。図２では、光通過部１２の一例として、Ｕ字の形状を有する切り欠き部が光ディスク１０の外周部に形成されている状態を示している。

光ピックアップ３３は、光ディスク１０の半径方向において、情報の記録または読み出しが可能な範囲内、または、反応領域を検出できる範囲内に移動自在に配置されている。

図１及び図４を用いて、光センサ５と光ディスク１０と光反射部材２０との位置関係を説明する。図４は、図２の光通過部１２及びその周辺を拡大して示している。図４に示す矢印は、光ディスク１０の回転方向を示している。図２及び図４では、光通過部１２の一例として、Ｕ字の形状を有する切り欠きが光ディスク１０の外周部に形成されている状態を示している。

光センサ５は、光ディスク１０の第１の面１０ａの上方に配置され、かつ、光ディスク１０の光通過部１２を検出できる位置に配置されている。光センサ５は、光ディスク１０の光通過部１２を含む領域に検出光を照射する。

光反射部材２０は、光ディスク１０の第２の面１０ｂの下方に、光センサ５と対向して配置されている。光ディスク１０が回転している状態において、光反射部材２０は、光通過部１２が光反射部材２０の上方を通過する位置に配置されている。光反射部材２０は、トラバースメカ３上またはトラバースメカ３の上方に配置されている。図１では、一例として、光反射部材２０がトラバースメカ３上に配置されている状態を示している。

光反射部材２０は、トラバースメカ３上に反射膜（例えばアルミニウム膜）を成膜（例えば蒸着）し、さらにフォトリソグラフィにより反射膜をパターン化することによって形成してもよい。光反射部材２０は、トラバースメカ３上に反射膜（例えばアルミニウム膜）をマスキングによりパターン化して成膜（例えば蒸着）することによって形成してもよい。

光反射部材２０は、トラバースメカ３上に反射部材を所定の形状に印刷または塗布することにより形成してもよいし、所定の形状の反射部材を貼り付けることにより形成してもよい。反射膜及び反射部材は、光反射性を有する材料であればよい。

光センサ５から射出された検出光は、光ディスク１０によって反射し、戻り光として光センサ５へ戻る。検出光は光通過部１２を通過し、光反射部材２０によって反射する。光センサ５は、光ディスク１０及び光反射部材２０からの戻り光を検出する。光センサ５は、光ディスク１０からの戻り光を検出することにより、光通過部１２を検出することができる。

図４に示す符号ＤＡ５は、光センサ５の検出領域を示している。図４では、検出領域ＤＡ５を円形で示しているが、検出領域ＤＡ５の形状は、使用される光センサに応じて異なるものであり、円形に限定されるものではない。

図４に示すように、光ディスク１０の回転方向における光反射部材２０の一方の端部から他方の端部までの距離Ｌａ２０は、光ディスク１０の回転方向における検出領域ＤＡ５の一方の端部から他方の端部までの距離Ｌａ５よりも短く（Ｌａ２０＜Ｌａ５）なるように設計されている。光ディスク１０の半径方向における光反射部材２０の一方の端部から他方の端部までの距離Ｌｂ２０は、光ディスク１０の半径方向における検出領域ＤＡ５の一方の端部から他方の端部までの距離Ｌｂ５よりも長く（Ｌｂ２０＞Ｌｂ５）なるように設計されていることが望ましい。距離Ｌａ２０及びＬｂ２０は光反射部材２０の長さ及び幅に相当する。検出領域ＤＡ５が円形を有する場合、距離Ｌａ５及び距離Ｌｂ５は、検出領域ＤＡ５の直径に相当する。

図５Ａ～図５Ｃ、及び図６を用いて、比較例として光反射部材２０が配置されていない場合の光センサ５の出力信号について説明する。図５Ａ～図５Ｃは、光ディスク１０が回転している状態における検出領域ＤＡ５と光通過部１２との位置関係を示している。図６は光反射部材２０が配置されていない場合の光センサ５の出力信号ＵＳを示している。図４の縦軸は出力信号ＵＳの出力レベル（信号レベル）を示し、横軸は光ディスク１０が回転している状態における各時点を示している。

図５Ａは、図６に示す時点ｔａにおける検出領域ＤＡ５と光通過部１２との位置関係を示している。図５Ｂは、図６に示す時点ｔａ後の時点ｔｂにおける検出領域ＤＡ５と光通過部１２との位置関係を示している。図５Ｃは、図６に示す時点ｔｂ後の時点ｔｃにおける検出領域ＤＡ５と光通過部１２との位置関係を示している。

光ディスク１０は、光センサ５から照射された検出光を反射し、光通過部１２は検出光を透過させる。光センサ５は、光ディスク１０により反射された検出光を戻り光として受光し、出力信号ＵＳを生成する。光通過部１２が検出領域ＤＡ５内に移動すると、光センサ５から照射された検出光は光通過部１２を通過するため、光ディスク１０により反射された検出光の光量が減少する。従って、図６に示すように、光通過部１２が検出領域ＤＡ５内を移動している期間では、光センサ５の出力信号ＵＳは出力レベルが低下する。

図７Ａ～図７Ｃ、及び図８を用いて、光反射部材２０が配置されている場合の光センサ５の出力信号ＵＳについて説明する。図７Ａ～図７Ｃは、図５Ａ～図５Ｃに対応し、光ディスク１０が回転している状態における検出領域ＤＡ５と光通過部１２と光反射部材２０との位置関係を示している。図８は、図６に対応し、光反射部材２０が配置されている場合の光センサ５の出力信号ＵＳを示している。図８の縦軸は出力信号ＵＳの出力レベルを示し、横軸は光ディスク１０が回転している状態における各時点を示している。説明をわかりやすくするために、同じ時点には同じ符号を付す。図７Ａ～図７Ｃ、及び図８は、検出領域ＤＡ５が基準位置に位置している状態を示している。

図７Ａ～図７Ｃは、時点ｔａ～時点ｔｃにおける検出領域ＤＡ５と光通過部１２と光反射部材２０との位置関係を示している。光通過部１２が検出領域ＤＡ５内に移動すると、光センサ５から照射された検出光は光通過部１２を通過するため、光ディスク１０により反射された検出光の光量が減少する。光通過部１２が光反射部材２０に対応する領域に移動すると、光通過部１２を通過した検出光は、光反射部材２０により反射し、さらに光通過部１２を通過して光センサ５に照射される。そのため、光通過部１２により減少した検出光の光量は、光反射部材２０により増加する。

従って、図８に示すように、光通過部１２が検出領域ＤＡ５内を移動している期間では、出力信号ＵＳは、出力レベルが低下した２つの信号波形ＳＷを有する。２つの信号波形ＳＷは、検出領域ＤＡ５と光通過部１２と光反射部材２０との相対的な位置関係に対応して生成されることになる。出力信号ＵＳにおいて、最初に生成される信号波形ＳＷを第１の信号波形ＳＷ１とし、次に生成される信号波形ＳＷを第２の信号波形ＳＷ２とする。

光センサ５側から光反射部材２０を見た状態において、光反射部材２０（具体的には光反射部材２０の中心線）に対して、光ディスク１０の回転方向とは反対側の検出領域ＤＡ５を第１の検出領域ＤＡ５１とし、光ディスク１０の回転方向側の検出領域ＤＡ５を第２の検出領域ＤＡ５２とする。

従って、第１の信号波形ＳＷ１は第１の検出領域ＤＡ５１に対応して生成され、第２の信号波形ＳＷ２は第２の検出領域ＤＡ５２に対応して生成されることになる。即ち、第１及び第２の信号波形ＳＷ１及びＳＷ２は、光センサ５により光通過部１２に対応して生成された出力信号ＵＳが光反射部材２０によって分割されることにより生成されることになる。

検出領域ＤＡ５が基準位置に位置している状態では、光通過部１２が第１の検出領域ＤＡ５１を通過する距離と、光通過部１２が第２の検出領域ＤＡ５２を通過する距離とが互いに等しくなる。そのため、第１の信号波形ＳＷ１の第１の波形幅Ｗ１と第２の信号波形ＳＷ２の第２の波形幅Ｗ２とは互いに等しくなる（Ｗ１＝Ｗ２）。言い換えれば、第１の波形幅Ｗ１と第２の波形幅Ｗ２との比率Ｗ１／Ｗ２は、Ｗ１／Ｗ２＝１となる。

アドレス情報を有さない光ディスク１０に対して、光ピックアップ３３の位置を検出することにより、光ディスク１０の半径方向の位置を特定することができる。しかし、光ディスク１０はアドレス情報を有さないため、光ディスク１０のトラック方向における位置を特定するためには、光ディスク１０の回転方向の基準位置を検出することが必要である。

図１に示すように、トラバースメカ３は防振部材４を介して筐体２に固定されているため、筐体２の振動はトラバースメカ３へ伝搬しない。従って、光ピックアップ３３と光ディスク１０とは筐体２の振動の影響を受けない。光センサ５をトラバースメカ３の内部に収容することができれば、光センサ５と光ディスク１０とは筐体２の振動の影響を受けない。

再生時または記録時の光ピックアップ３３と光ディスク１０との距離が決まっているため、通常、光ディスク１０に対応する領域におけるトラバースメカ３上には、光センサ５を収容できる空間を確保することは困難である。そのため、図１に示すように、光センサ５は筐体２に固定されることになる。

光センサ５は筐体２に固定されているため、筐体２の振動は光センサ５へ伝搬する。従って、光センサ５は筐体２の振動の影響を受けるため、光通過部１２に対する光センサ５の検出精度が筐体２の振動によって悪化する。

一実施形態の光ディスク回転位置検出方法について説明する。図９Ａ～図９Ｃ、及び図１０を用いて、光センサ５が筐体２の振動等の影響を受けることにより、例えば光センサ５（検出領域ＤＡ５）が基準位置から光ディスク１０の回転方向側にずれた場合の出力信号ＵＳについて説明する。

図９Ａ～図９Ｃは、図７Ａ～図７Ｃに対応し、光ディスク１０が回転している状態における検出領域ＤＡ５と光通過部１２と光反射部材２０との位置関係を示している。図１０は、図８に対応し、光センサ５の出力信号ＵＳを示している。図１０の縦軸は出力信号ＵＳの出力レベルを示し、横軸は光ディスク１０が回転している状態における各時点を示している。図９Ａ～図９Ｃ、及び図１０は、検出領域ＤＡ５が基準位置から光ディスク１０の回転方向側にずれた状態を示している。

図９Ａは、図１０に示す時点ｔｄにおける検出領域ＤＡ５と光通過部１２と光反射部材２０との位置関係を示している。図９Ｂは、図１０に示す時点ｔｄ後の時点ｔｅにおける検出領域ＤＡ５と光通過部１２と光反射部材２０との位置関係を示している。図９Ｃは、図１０に示す時点ｔｅ後の時点ｔｆにおける検出領域ＤＡ５と光通過部１２と光反射部材２０との位置関係を示している。

光反射部材２０は、トラバースメカ３上に配置されているため、筐体２の振動の影響を受けない。そのため、検出領域ＤＡ５が基準位置から光ディスク１０の回転方向側にずれた場合、図９Ａ～図９Ｃに示すように、光反射部材２０は、検出領域ＤＡ５に対して光ディスク１０の回転方向とは逆方向側にずれた状態となる。

従って、光センサ５が基準位置から光ディスク１０の回転方向側にずれた状態では、光通過部１２が第１の検出領域ＤＡ５１を通過する距離は、光通過部１２が第２の検出領域ＤＡ５２を通過する距離よりも短くなる。そのため、第１の波形幅Ｗ１は第２の波形幅Ｗ２よりも小さくなる（Ｗ１＜Ｗ２）。言い換えれば、比率Ｗ１／Ｗ２は、Ｗ１／Ｗ２＜１となる。

例えば、光ディスク１０の回転方向における検出領域ＤＡ５の一方の端部から他方の端部までの距離Ｌａ５に基づいて、距離Ｌａ５における波形幅Ｗ１またはＷ２の変化量に基づく比率により光センサ５のずれ量を近似して算出することができる。検出領域ＤＡ５を通過する光通過部１２の軌跡は円弧を描く。光ディスク１０の大きさに対して光通過部１２および検出領域ＤＡ５の大きさは十分に小さいので、距離Ｌａ５は、その円弧の長さを用いて近似することができる。即ち、光ディスク１０の角速度をω、半径をｒとすると、距離Ｌａ５はＷ１×ωｒ＋Ｗ２×ωｒ＋Ｌａ２０のように近似できる。よって、光センサ５のずれ量は、関係式１／２×（Ｗ１－Ｗ２）／（Ｗ１＋Ｗ２）×（Ｌａ５－Ｌａ２０）により近似して算出することができる。

図１１Ａ～図１１Ｃ、及び図１２を用いて、光センサ５が筐体２の振動等の影響を受けることにより、例えば光センサ５（検出領域ＤＡ５）が基準位置から光ディスク１０の回転方向とは逆方向側にずれた場合の出力信号ＵＳについて説明する。

図１１Ａ～図１１Ｃは、図７Ａ～図７Ｃに対応し、光ディスク１０が回転している状態における検出領域ＤＡ５と光通過部１２と光反射部材２０との位置関係を示している。図１２は、図８に対応し、光センサ５の出力信号ＵＳを示している。図１２の縦軸は出力信号ＵＳの出力レベルを示し、横軸は光ディスク１０が回転している状態における各時点を示している。図１１Ａ～図１１Ｃ、及び図１２は、検出領域ＤＡ５が基準位置から光ディスク１０の回転方向とは逆方向側にずれた状態を示している。

図１１Ａは、図１２に示す時点ｔｇにおける検出領域ＤＡ５と光通過部１２と光反射部材２０との位置関係を示している。図１１Ｂは、図１２に示す時点ｔｇ後の時点ｔｈにおける検出領域ＤＡ５と光通過部１２と光反射部材２０との位置関係を示している。図１１Ｃは、図１２に示す時点ｔｈ後の時点ｔｋにおける検出領域ＤＡ５と光通過部１２と光反射部材２０との位置関係を示している。

光反射部材２０は、トラバースメカ３上に配置されているため、筐体２の振動の影響を受けない。そのため、検出領域ＤＡ５が基準位置から光ディスク１０の回転方向とは逆方向側にずれた場合、図１１Ａ～図１１Ｃに示すように、光反射部材２０は、検出領域ＤＡ５に対して光ディスク１０の回転方向側にずれた状態となる。

従って、光センサ５が基準位置から光ディスク１０の回転方向とは逆方向側にずれた状態では、光通過部１２が第１の検出領域ＤＡ５１を通過する距離は、光通過部１２が第２の検出領域ＤＡ５２を通過する距離よりも長くなる。そのため、第１の波形幅Ｗ１は第２の波形幅Ｗ２よりも大きくなる（Ｗ１＞Ｗ２）。言い換えれば、比率Ｗ１／Ｗ２は、Ｗ１／Ｗ２＞１となる。

図１３に示すフローチャートを用いて、光ディスク装置１による光ディスク回転位置検出方法の一例を説明する。図１３に示すフローチャートにおいて、制御回路６は、ステップＳ１にて、トラバースメカ３及び光センサ５を制御する。具体的には、制御回路６は、トラバースメカ３を制御することにより、光ディスク１０を回転させ、光ピックアップ３３から光ディスク１０に向けてレーザ光を照射させる。また、制御回路６は、光センサ５を制御することにより、光センサ５から検出光を光ディスク１０の光通過部１２が形成されている領域（検出領域ＤＡ５１）に向けて照射させる。

光センサ５は、ステップＳ２にて、光ディスク１０に照射された検出光の戻り光を検出し、出力信号ＵＳを生成する。図８、図１０、または図１２に示すように、制御回路６は、ステップＳ３にて、出力信号ＵＳと、出力信号ＵＳの信号レベルの最大値と最小値との間で所定の信号レベルに設定された閾値ＴＲとを比較する。さらに、制御回路６は、出力信号ＵＳから閾値ＴＲを下回った第１の信号波形ＳＷ１と第２の信号波形ＳＷ２とを抽出する。光ディスク１０の回転方向における光通過部１２及び光反射部材２０の一方の端部から他方の端部までの各距離は、第１及び第２の信号波形ＳＷ１及びＳＷ２の各振幅の最小値が閾値ＴＲを下回るように設定されている。

制御回路６は、ステップＳ４にて、第１の信号波形ＳＷ１の第１の波形幅Ｗ１、及び、第２の信号波形ＳＷ２の第２の波形幅Ｗ２を取得する。制御回路６は、所定の信号レベルにおける第１の信号波形ＳＷ１の第１の波形幅Ｗ１と第２の信号波形ＳＷ２の第２の波形幅Ｗ２とを取得する。図８、図１０、及び図１２では、閾値ＴＲに対応する信号レベルにおける第１の信号波形ＳＷ１の第１の波形幅Ｗ１と第２の信号波形ＳＷ２の第２の波形幅Ｗ２とを取得する場合を示している。

制御回路６は、ステップＳ５にて、第１の波形幅Ｗ１と第２の波形幅Ｗ２との比率Ｗ１／Ｗ２を算出する。制御回路６は、ステップＳ６にて、比率Ｗ１／Ｗ２に基づいて光ディスク１０の回転基準位置を特定する。

一実施形態の光ディスク装置及び光ディスク回転位置検出方法では、検出領域ＤＡ５に対応するトラバースメカ３上またはその上方の領域に、光反射部材２０が配置されている。光センサ５から照射された検出光が、光通過部１２を通過し、光反射部材２０で反射することにより、光センサ５の出力信号ＵＳには第１の信号波形ＳＷ１と第２の信号波形ＳＷ２とが生成される。即ち、光反射部材２０は、出力信号ＵＳに第１の信号波形ＳＷ１と第２の信号波形ＳＷ２とが生成される位置に配置されている。制御回路６は、第１の信号波形ＳＷ１の第１の波形幅Ｗ１と第２の信号波形ＳＷ２の第２の波形幅Ｗ２との比率Ｗ１／Ｗ２に基づいて光ディスク１０の回転基準位置を特定する。

一実施形態の光ディスク装置及び光ディスク回転位置検出方法によれば、光センサ５が筐体２の振動の影響によって光ディスク１０の回転方向にずれたとしても、比率Ｗ１／Ｗ２に基づいて光ディスク１０の回転基準位置を特定することができる。従って、一実施形態の光ディスク装置及び光ディスク回転位置検出方法によれば、光ディスク１０にアドレス情報が記録されていなくても、光ディスク１０の回転方向の基準位置を検出することができる。

本発明は、上述した実施形態に限定されるものではなく、本発明の要旨を逸脱しない範囲において種々変更可能である。

上述した実施形態では、光ディスク１０の外周部に形成されているＵ字の形状を有する切り欠き部を光通過部１２として説明した。図１４Ａに示すように、光通過部１２は、光ディスク１０の外周部に形成されている矩形の形状を有する切り欠き部であってもよい。図１４Ｂに示すように、光通過部１２は、光ディスク１０の外周部の近傍に形成されている長孔または楕円形状を有する貫通孔であってもよい。図１４Ｃに示すように、光通過部１２は、光ディスク１０の外周部の近傍に形成されている円形状を有する貫通孔であってもよい。図１４Ｄに示すように、光通過部１２は、光ディスク１０の外周部の近傍に形成されている四角形状を有する貫通孔であってもよい。

１光ディスク装置
５光センサ
６制御回路
１０光ディスク
１２光通過部
２０光反射部材
３２回転駆動部
ＤＡ５検出領域
ＤＡ５１第１の検出領域
ＤＡ５２第２の検出領域
ＳＷ１第１の信号波形
ＳＷ２第２の信号波形
ＵＳ出力信号

Claims

光通過部を有する光ディスクを回転させる回転駆動部と、
前記光ディスクに検出光を照射し、出力信号を生成する光センサと、
前記光ディスクが回転している状態において前記光通過部が通過する位置に配置され、前記光センサから照射され、かつ、前記光通過部を通過した前記検出光を反射する光反射部材と、
前記回転駆動部及び前記光センサを制御する制御回路と、
を備え、
前記光センサは、前記光反射部材及び前記光ディスクが前記検出光を反射することにより生成される第１の信号波形と第２の信号波形とを含む前記出力信号を生成し、
前記制御回路は、前記出力信号から前記第１及び第２の信号波形を抽出し、前記第１及び第２の信号波形に基づいて前記光ディスクの回転基準位置を特定する、
光ディスク装置。
前記制御回路は、前記第１の信号波形の第１の波形幅と前記第２の信号波形の第２の波形幅とを取得し、前記第１の波形幅と前記第２の波形幅との変化量に基づく比率により前記光ディスクの前記回転基準位置を特定する、
請求項１に記載の光ディスク装置。
前記光ディスクの回転方向における前記光反射部材の一方の端部から他方の端部までの距離は、前記光ディスクの回転方向における前記光通過部を含む検出領域の一方の端部から他方の端部までの距離よりも短い、
請求項１または２に記載の光ディスク装置。
光センサが、光通過部を有し、かつ、回転している光ディスクに検出光を照射し、
前記光ディスクが回転している状態において前記光通過部が通過する位置に配置されている光反射部材が、前記光通過部を透過した前記検出光を反射し、
前記光センサが、前記光ディスク及び前記光反射部材によって反射した前記検出光を検出し、前記光反射部材が前記検出光を反射することにより生成される第１の信号波形と第２の信号波形とを含む出力信号を生成し、
制御回路が、前記出力信号から前記第１及び第２の信号波形を抽出し、前記第１及び第２の信号波形に基づいて前記光ディスクの回転基準位置を特定する、
光ディスク回転位置検出方法。