JP7268205B2 - 情報処理装置、情報処理装置の作動方法、情報処理装置の作動プログラム - Google Patents

Description

本開示の技術は、情報処理装置、情報処理装置の作動方法、情報処理装置の作動プログラムに関する。

観察対象物体の微細な表面凹凸形状を計測する方法として、光干渉計測法が知られている。光干渉計測法は、まず、観察対象物体によって回折された照明光である物体光と、観察対象物体を経ない参照光との干渉縞の強度の二次元分布である干渉縞画像から、物体光と参照光との位相差の二次元分布である位相差画像を求める。そして、求めた位相差画像に基づいて、観察対象物体の形状として、照明光の照射方向に沿う観察対象物体の高さを求める方法である。

位相差画像の画素値は、ａｒｃｔａｎの関数として求められる。このため、位相差画像の画素値は、ａｒｃｔａｎの値域である－π～πの範囲に折り畳まれて（ラッピングされて）求められる。このため、例えば実際の位相差は５π／４であっても、求められる画素値はπ／４というように、画素値だけでは実際にどういった位相差であるのかがよく分からない。したがって、このように－π～πの範囲に画素値が折り畳まれて求められることによって、位相差画像には、所々で画素値に±２π程度の位相とびが生じる場合がある。

こうした位相とびがあると、観察対象物体の高さを正しく求めることができない。そこで、観察対象物体の高さを求めるに先立ち、位相差画像の位相とびがある部分に２πを加算したり減算したりして、位相を繋ぎ合わせる処理が行われる。こうした位相を繋ぎ合わせる処理は、位相接続と呼ばれる（あるいは位相アンラッピングとも呼ばれる）。位相接続は、位相差画像における位相接続の最適な経路を選択する等して試行錯誤を繰り返しながら行われるため、相応の時間が掛かる。

特開２００６－２８４１８６号公報には、観察対象物体のおおよその形状を実際に計測しておき、この計測結果を参照して、位相差画像に対して位相接続を施す技術が記載されている。特開２００６－２８４１８６号公報に記載の技術によれば、観察対象物体のおおよその形状の計測結果が有力な手掛かりとなるので、何の情報もなく位相接続を施す場合と比べて、位相接続の処理時間を短縮することができる。

しかしながら、特開２００６－２８４１８６号公報では、観察対象物体のおおよその形状を計測するための機構が必要となる。また、計測時間が余計に掛かる。

本開示の技術は、観察対象物体のおおよその形状を計測するための特別な機構を必要とせず、かつ、余計な計測時間を掛けることなく、位相接続の処理時間を短縮することが可能な情報処理装置、情報処理装置の作動方法、情報処理装置の作動プログラムを提供することを目的とする。

上記目的を達成するために、本開示の情報処理装置は、観察対象物体によって回折された照明光である物体光と、観察対象物体を経ない参照光との干渉縞の強度の二次元分布である干渉縞画像から、物体光と参照光との位相差の二次元分布である位相差画像を求め、位相差画像に基づいて、観察対象物体の形状を求める処理を行う情報処理装置において、少なくとも１つのプロセッサを備え、プロセッサは、観察対象物体に関する物体関連情報を取得し、物体関連情報と、観察対象物体の形状を示す形状プロファイルとが関連付けて記憶された記憶部から、取得した物体関連情報に対応した形状プロファイルを読み出し、読み出した形状プロファイルを参照して、位相差画像に対して位相接続を施す。

プロセッサは、干渉縞画像から観察対象物体の存在領域を抽出し、存在領域に対して選択的に位相接続を施すことが好ましい。

プロセッサは、観察対象物体の形状の算出結果を表示する制御を行うことが好ましい。

プロセッサは、干渉縞画像から、観察対象物体の任意の断層面を表す再生画像を生成し、再生画像に観察対象物体の形状の算出結果を重畳表示することが好ましい。

観察対象物体の形状は、照明光の照射方向に沿う観察対象物体の高さであることが好ましい。

観察対象物体は培養中の細胞であることが好ましい。この場合、プロセッサは、細胞の培養容器の底面から培養面までの高さに関する培養面高さ関連情報を取得することが好ましい。

物体関連情報は、細胞の種類および細胞の培養条件であることが好ましい。この場合、培養条件は、培養日数、培地の種類、培養環境の温度、および培養環境の二酸化炭素濃度のうちの少なくともいずれか１つを含むことが好ましい。

本開示の情報処理装置の作動方法は、観察対象物体によって回折された照明光である物体光と、観察対象物体を経ない参照光との干渉縞の強度の二次元分布である干渉縞画像から、物体光と参照光との位相差の二次元分布である位相差画像を求め、位相差画像に基づいて、観察対象物体の形状を求める処理を行う情報処理装置の作動方法において、観察対象物体に関する物体関連情報を取得する取得ステップと、物体関連情報と、観察対象物体の形状を示す形状プロファイルとが関連付けて記憶された記憶部から、取得ステップにおいて取得した物体関連情報に対応した形状プロファイルを読み出す読み出しステップと、読み出しステップにおいて読み出した形状プロファイルを参照して、位相差画像に対して位相接続を施す位相接続ステップと、を備える。

本開示の情報処理装置の作動プログラムは、観察対象物体によって回折された照明光である物体光と、観察対象物体を経ない参照光との干渉縞の強度の二次元分布である干渉縞画像から、物体光と参照光との位相差の二次元分布である位相差画像を求め、位相差画像に基づいて、観察対象物体の形状を求める処理を行う情報処理装置の作動プログラムにおいて、観察対象物体に関する物体関連情報を取得する取得部と、物体関連情報と、観察対象物体の形状を示す形状プロファイルとが関連付けて記憶された記憶部から、取得部において取得した物体関連情報に対応した形状プロファイルを読み出す読み出し部と、読み出し部において読み出した形状プロファイルを参照して、位相差画像に対して位相接続を施す位相接続部として、コンピュータを機能させる。

本開示の技術によれば、観察対象物体のおおよその形状を計測するための特別な機構を必要とせず、かつ、余計な計測時間を掛けることなく、位相接続の処理時間を短縮することが可能な情報処理装置、情報処理装置の作動方法、情報処理装置の作動プログラムを提供することができる。

デジタルホログラフィシステムを示す図である。 計測装置を示す図である。 撮像素子の撮像面付近における物体光および透過光の様子、並びに干渉縞画像を示す図である。 干渉縞の成り立ちを説明するための図であり、図４Ａは干渉縞の明部の成り立ち、図４Ｂは干渉縞の暗部の成り立ちをそれぞれ示す。 計測装置において干渉縞画像を得る様子を示す図であり、図５Ａはシフト量０の場合、図５Ｂはシフト量π／２の場合、図５Ｃはシフト量πの場合、図５Ｄはシフト量３π／２の場合をそれぞれ示す。 位相差画像の成り立ちを示す図である。 細胞の高さを示す図である。 情報処理装置を構成するコンピュータを示すブロック図である。 情報処理装置のＣＰＵを示すブロック図である。 情報入力画面を示す図である。 形状プロファイルテーブルを示す図である。 培養面高さテーブルを示す図である。 処理部の詳細を示す図である。 位相差画像生成部および位相接続部の処理の詳細を示す図である。 位相接続を説明するための図である。 実際の位相接続の様子を示す図である。 高さ算出部の処理の詳細を示す図である。 計測結果表示画面を示す図である。 情報処理装置の処理手順を示すフローチャートである。 本開示の技術の効果を説明するための図であり、図２０Ａは形状プロファイルを参照しない場合、図２０Ｂおよび図２０Ｃは形状プロファイルを参照する場合をそれぞれ示す。 物体関連情報の別の例を示す図である。 細胞の存在領域を抽出し、存在領域に対して選択的に位相接続を施す第２実施形態を示す図である。 干渉縞画像から再生画像を生成する第３実施形態を示す図である。 生成部による演算処理の概要を示す図である。 第３実施形態の計測結果表示画面を示す図である。

［第１実施形態］
図１において、デジタルホログラフィシステム２は、情報処理装置１０と計測装置１１とで構成される。情報処理装置１０は、例えばデスクトップ型のパーソナルコンピュータである。情報処理装置１０には計測装置１１が接続されている。計測装置１１には細胞１２の培養容器１３が導入される。細胞１２は、本開示の技術に係る「観察対象物体」の一例である。なお、本明細書において、「細胞」とは、１個で独立して存在している細胞はもちろん、複数個の細胞が塊として存在している細胞塊も含む。

図２において、計測装置１１は、光源２０、ステージ２１、および撮像素子２２を備えている。光源２０は、例えばレーザーダイオード（ＬＤ；Ｌａｓｅｒ Ｄｉｏｄｅ）である。あるいは、光源２０は、発光ダイオード（ＬＥＤ；Ｌｉｇｈｔ Ｅｍｉｔｔｉｎｇ Ｄｉｏｄｅ）とピンホールの組み合わせである。光源２０は、ステージ２１上に載置された培養容器１３に向けてコヒーレント光２３を出射する。コヒーレント光２３は、細胞１２および培養容器１３に入射する。コヒーレント光２３は、本開示の技術に係る「照明光」の一例である。なお、矢印で示すＺ方向は、コヒーレント光２３の照射方向である。

図３に示すように、細胞１２および培養容器１３に入射したコヒーレント光２３は、細胞１２および培養容器１３によって回折された物体光３０と、細胞１２および培養容器１３を経ずに透過した透過光３１とに分かれる。物体光３０と透過光３１とは、撮像素子２２の撮像面３２上で干渉し、干渉縞３３を生じる。撮像素子２２は、この干渉縞３３を撮像し、干渉縞画像３４を出力する。透過光３１は、本開示の技術に係る「参照光」の一例である。

干渉縞画像３４の各画素の画素値は、干渉縞３３の強度Ｉである。すなわち、干渉縞画像３４は、干渉縞３３の強度Ｉの二次元分布である。干渉縞３３の強度Ｉは、物体光３０と透過光３１との位相差をφとして、次式（１）で表される。
Ｉ（Ｘ、Ｙ）＝Ａ＋Ｂｃｏｓφ（Ｘ、Ｙ）・・・（１）
なお、Ａ、Ｂは定数である。また、（Ｘ、Ｙ）は、干渉縞画像３４の各画素のＸ座標およびＹ座標である。

図４にも示すように、物体光３０および透過光３１を表す線のうち、実線は物体光３０および透過光３１の最大振幅の波面を示す。対して破線は物体光３０および透過光３１の最小振幅の波面を示す。撮像面３２上に示す白点３５は、物体光３０および透過光３１の波面が揃って強め合う部分である（図４Ａ参照）。この白点３５の部分は、干渉縞３３においては明部３６として現れる。対して、撮像面３２上に示す黒点３７は、物体光３０および透過光３１の波面が半波長分ずれて弱め合う部分である（図４Ｂ参照）。この黒点３７の部分は、干渉縞３３においては暗部３８として現れる。

図５に示すように、計測装置１１においては、物体光３０と透過光３１の光路差をπ／２ずつシフトさせ、その都度、撮像素子２２から干渉縞画像３４を出力させる。具体的には、図５Ａに示すシフト量０、図５Ｂに示すシフト量π／２、図５Ｃに示すシフト量π、および図５Ｄに示すシフト量３π／２の計４回、光源２０によるコヒーレント光２３の照射と、撮像素子２２による干渉縞画像３４の撮像とを行う。これにより、図５Ａに示すシフト量０の場合の第１干渉縞画像３４Ａ、図５Ｂに示すシフト量π／２の場合の第２干渉縞画像３４Ｂ、図５Ｃに示すシフト量πの場合の第３干渉縞画像３４Ｃ、および図５Ｄに示すシフト量３π／２の場合の第４干渉縞画像３４Ｄが得られる。第１干渉縞画像３４Ａ、第２干渉縞画像３４Ｂ、第３干渉縞画像３４Ｃ、および第４干渉縞画像３４Ｄは、物体光３０と透過光３１の光路差が異なるため、同じ細胞１２および培養容器１３であっても、干渉縞３３の明部３６と暗部３８の幅が異なる（図１４参照）。

このように、物体光３０と透過光３１の光路差を規定量シフトさせつつ、干渉縞画像３４を出力させる方法は、位相シフト法と呼ばれる。特に、上記のように規定量をπ／２とし、計４枚の干渉縞画像３４を得る方法は、４ステップ法と呼ばれる。なお、以下の説明では、特に区別する必要がない場合は、第１干渉縞画像３４Ａ、第２干渉縞画像３４Ｂ、第３干渉縞画像３４Ｃ、および第４干渉縞画像３４Ｄを、まとめて干渉縞画像３４という。

第１干渉縞画像３４Ａに映る干渉縞３３の強度Ｉ＿１（Ｘ、Ｙ）は、次式（２）で表される。
Ｉ＿１（Ｘ、Ｙ）＝Ａ＋Ｂｃｏｓφ（Ｘ、Ｙ）・・・（２）

同様に、第２干渉縞画像３４Ｂに映る干渉縞３３の強度Ｉ＿２（Ｘ、Ｙ）、第３干渉縞画像３４Ｃに映る干渉縞３３の強度Ｉ＿３（Ｘ、Ｙ）、および第４干渉縞画像３４Ｄに映る干渉縞３３の強度Ｉ＿４（Ｘ、Ｙ）は、次式（３）、（４）、（５）で表される。
Ｉ＿２（Ｘ、Ｙ）＝Ａ＋Ｂｃｏｓ｛φ（Ｘ、Ｙ）＋（π／２）｝・・・（３）
Ｉ＿３（Ｘ、Ｙ）＝Ａ＋Ｂｃｏｓ｛φ（Ｘ、Ｙ）＋π｝・・・（４）
Ｉ＿４（Ｘ、Ｙ）＝Ａ＋Ｂｃｏｓ｛φ（Ｘ、Ｙ）＋（３π／２）｝・・・（５）

式（３）、（４）、（５）は、次式（３Ａ）、（４Ａ）、（５Ａ）に書き換えられる。
Ｉ＿２（Ｘ、Ｙ）＝Ａ－Ｂｓｉｎφ（Ｘ、Ｙ）・・・（３Ａ）
Ｉ＿３（Ｘ、Ｙ）＝Ａ－Ｂｃｏｓφ（Ｘ、Ｙ）・・・（４Ａ）
Ｉ＿４（Ｘ、Ｙ）＝Ａ＋Ｂｓｉｎφ（Ｘ、Ｙ）・・・（５Ａ）

図６において、式（２）、（３Ａ）、（４Ａ）、（５Ａ）より、次式（６）が導き出される。
｛Ｉ＿４（Ｘ、Ｙ）－Ｉ＿２（Ｘ、Ｙ）｝／｛Ｉ＿１（Ｘ、Ｙ）－Ｉ＿３（Ｘ、Ｙ）｝＝ｔａｎφ（Ｘ、Ｙ）・・・（６）
したがって、物体光３０と透過光３１との位相差φ（Ｘ、Ｙ）は、次式（７）で表される。
φ（Ｘ、Ｙ）＝ａｒｃｔａｎ｛Ｉ＿４（Ｘ、Ｙ）－Ｉ＿２（Ｘ、Ｙ）｝／｛Ｉ＿１（Ｘ、Ｙ）－Ｉ＿３（Ｘ、Ｙ）｝・・・（７）
つまり、位相差φ（Ｘ、Ｙ）は、第１干渉縞画像３４Ａ～第４干渉縞画像３４Ｄの干渉縞３３の強度Ｉ＿１（Ｘ、Ｙ）～Ｉ＿４（Ｘ、Ｙ）を用いた単純な計算から求めることができる。こうして求めた位相差φ（Ｘ、Ｙ）を、干渉縞画像３４の画素に対応する画素の画素値とすることで、位相差φの二次元分布である位相差画像４０が得られる。

図７に示すように、コヒーレント光２３の照射方向Ｚに沿う細胞１２の高さＨ（Ｘ、Ｙ）は、次式（８）で表される。
Ｈ（Ｘ、Ｙ）＝｛λφ（Ｘ、Ｙ）／４π｝－ｈ・・・（８）
なお、λはコヒーレント光２３の波長であり、例えば６４０ｎｍである。また、ｈは、ステージ２１に載置される培養容器１３の底面１３Ａから、細胞１２が培養される培養容器１３の培養面１３Ｂまでの高さ（以下、単に培養面高さという）８３（図９参照）である。このように、位相差φ（Ｘ、Ｙ）等が分かれば、細胞１２の高さＨ（Ｘ、Ｙ）を求めることができる。なお、細胞１２の高さＨ（Ｘ、Ｙ）は、本開示の技術に係る「観察対象物体の形状」の一例である。

図８において、情報処理装置１０を構成するコンピュータは、ストレージデバイス５０、メモリ５１、ＣＰＵ（Ｃｅｎｔｒａｌ Ｐｒｏｃｅｓｓｉｎｇ Ｕｎｉｔ）５２、通信部５３、ディスプレイ５４、および入力デバイス５５を備えている。これらはバスライン５６を介して相互接続されている。

ストレージデバイス５０は、本開示の技術に係る「記憶部」の一例である。ストレージデバイス５０は、情報処理装置１０を構成するコンピュータに内蔵、またはケーブル、ネットワークを通じて接続されたハードディスクドライブである。もしくはストレージデバイス５０は、ハードディスクドライブを複数台連装したディスクアレイである。ストレージデバイス５０には、オペレーティングシステム等の制御プログラム、各種アプリケーションプログラム、およびこれらのプログラムに付随する各種データ等が記憶されている。なお、ハードディスクドライブに代えてソリッドステートドライブを用いてもよい。

メモリ５１は、ＣＰＵ５２が処理を実行するためのワークメモリである。ＣＰＵ５２は、ストレージデバイス５０に記憶されたプログラムをメモリ５１へロードして、プログラムにしたがった処理を実行することにより、コンピュータの各部を統括的に制御する。ＣＰＵ５２は、本開示の技術に係る「プロセッサ」の一例である。

通信部５３は、ＬＡＮ（Ｌｏｃａｌ Ａｒｅａ Ｎｅｔｗｏｒｋ）等のネットワークを介した各種情報の伝送制御を行うネットワークインターフェースである。ディスプレイ５４は各種画面を表示する。情報処理装置１０を構成するコンピュータは、各種画面を通じて、入力デバイス５５からの操作指示の入力を受け付ける。入力デバイス５５は、キーボード、マウス、タッチパネル等である。

図９において、情報処理装置１０のストレージデバイス５０には、作動プログラム６０が記憶されている。作動プログラム６０は、コンピュータを情報処理装置１０として機能させるためのアプリケーションプログラムである。すなわち、作動プログラム６０は、本開示の技術に係る「情報処理装置の作動プログラム」の一例である。ストレージデバイス５０には、干渉縞画像３４、形状プロファイルテーブル６１、培養面高さテーブル６２、および細胞１２の高さＨ（Ｘ、Ｙ）の算出結果（以下、高さ算出結果という）６３も記憶される。

作動プログラム６０が起動されると、情報処理装置１０を構成するコンピュータのＣＰＵ５２は、メモリ５１等と協働して、リードライト（以下、ＲＷ（Ｒｅａｄ Ｗｒｉｔｅ）と略す）制御部７０、取得部７１、処理部７２、および表示制御部７３として機能する。

ＲＷ制御部７０は、ストレージデバイス５０への各種データの記憶、およびストレージデバイス５０内の各種データの読み出しを制御する。例えば、ＲＷ制御部７０は、計測装置１１からの干渉縞画像３４を受け取り、ストレージデバイス５０に記憶する。また、ＲＷ制御部７０は、干渉縞画像３４をストレージデバイス５０から読み出し、処理部７２に出力する。

取得部７１は、入力デバイス５５を介してユーザにより入力される、物体関連情報８０と培養面高さ関連情報８１を取得する。物体関連情報８０は、観察対象物体である細胞１２に関する情報である。培養面高さ関連情報８１は、培養面高さ８３に関する情報である。取得部７１は、物体関連情報８０と培養面高さ関連情報８１をＲＷ制御部７０に出力する。

ＲＷ制御部７０は、取得部７１からの物体関連情報８０に対応した形状プロファイル８２を、ストレージデバイス５０の形状プロファイルテーブル６１から読み出す。つまり、ＲＷ制御部７０は、本開示の技術に係る「読み出し部」の一例である。ＲＷ制御部７０は、形状プロファイル８２を処理部７２に出力する。

また、ＲＷ制御部７０は、取得部７１からの培養面高さ関連情報８１に対応した培養面高さ８３を、ストレージデバイス５０の培養面高さテーブル６２から読み出す。ＲＷ制御部７０は、培養面高さ８３を処理部７２に出力する。

処理部７２は、干渉縞画像３４、形状プロファイル８２、および培養面高さ８３に基づいて、細胞１２の高さＨ（Ｘ、Ｙ）を算出する。処理部７２は、高さ算出結果６３をＲＷ制御部７０に出力する。

ＲＷ制御部７０は、処理部７２からの高さ算出結果６３をストレージデバイス５０に記憶する。また、ＲＷ制御部７０は、高さ算出結果６３をストレージデバイス５０から読み出し、表示制御部７３に出力する。

表示制御部７３は、ディスプレイ５４への各種画面の表示を制御する。各種画面には、物体関連情報８０と培養面高さ関連情報８１を入力する画面である情報入力画面９０（図１０参照）、高さ算出結果６３を表示する画面である計測結果表示画面１３０（図１８参照）等が含まれる。

図１０に示すように、情報入力画面９０には、３つのプルダウンメニュー９１、９２、および９３が設けられている。プルダウンメニュー９１は、物体関連情報８０として、細胞１２の種類を選択入力するためのＧＵＩ（Ｇｒａｐｈｉｃａｌ Ｕｓｅｒ Ｉｎｔｅｒｆａｃｅ）である。プルダウンメニュー９２は、物体関連情報８０として、培養日数を選択入力するためのＧＵＩである。プルダウンメニュー９３は、培養面高さ関連情報８１として、培養容器１３の種類を選択入力するためのＧＵＩである。なお、培養日数は、本開示の技術に係る「培養条件」の一例である。

ユーザは、プルダウンメニュー９１～９３を操作して所望の選択肢を選択し、ＯＫボタン９４を選択する。これにより、物体関連情報８０と培養面高さ関連情報８１が取得部７１において取得される。なお、図１０では、細胞１２の種類にＡ細胞、培養日数に１日目、培養容器１３の種類にＡ容器がそれぞれ選択入力された場合を例示している。

図１１において、形状プロファイルテーブル６１には、細胞１２の種類と培養日数毎に、形状プロファイル８２が登録されている。すなわち、形状プロファイルテーブル６１には、物体関連情報８０と形状プロファイル８２とが関連付けて記憶されている。形状プロファイル８２は、当該培養日数、当該種類の細胞１２が培養された場合に想定される細胞１２の典型的な形状を示すデータである。より詳しくは、形状プロファイル８２は、細胞１２の高さを含む三次元的なサイズを示すデータである。例えば形状プロファイル８２には、細胞１２の最大高さ、細胞１２のＸ方向およびＹ方向の幅、細胞１２に凹みがある場合はその深さと幅等、細胞１２の三次元的なサイズに関する数値が含まれる。

例えばヒトの赤血球の場合は中央部分が数μｍ凹んでいる、間葉系幹細胞の場合は核の領域が１０μｍ程度と厚く、細胞質の領域が数μｍ程度と薄い等、細胞１２の種類によってその形状は異なる。また、培養日数といった培養条件が異なれば、細胞１２の形状も当然ながら異なってくる。形状プロファイル８２は、こうした細胞１２の形状の特徴を表したデータである。

図１２において、培養面高さテーブル６２には、培養容器１３の種類毎に、培養面高さ８３が登録されている。

図１３において、処理部７２は、位相差画像生成部１００、位相接続部１０１、および高さ算出部１０２を有する。位相差画像生成部１００は、位相差画像４０を生成する。位相接続部１０１は、位相差画像４０に対して位相接続を施す。高さ算出部１０２は、位相接続後の位相差画像４０Ｐ（図１４参照）に基づいて、細胞１２の高さＨ（Ｘ、Ｙ）を算出する。

図１４に示すように、位相差画像生成部１００には、第１干渉縞画像３４Ａ～第４干渉縞画像３４Ｄが入力される。位相差画像生成部１００は、図６で示したように、第１干渉縞画像３４Ａ～第４干渉縞画像３４Ｄから位相差画像４０を生成する。位相差画像生成部１００は、位相差画像４０を位相接続部１０１に出力する。

位相差画像４０の画素値である位相差φ（Ｘ、Ｙ）は、式（７）で示したようにａｒｃｔａｎの関数である。このため、位相差φ（Ｘ、Ｙ）は、位相差画像４０のある行Ｙｓにおける位相差φ（Ｘ、Ｙｓ）のグラフに示すように、－π～πの範囲に折り畳まれて求められ、所々で±２π程度の位相とびが生じている。位相接続部１０１は、こうした位相とびがある位相差φ（Ｘ、Ｙ）を繋ぎ合わせる位相接続を、位相差画像４０に対して施す。この際、位相接続部１０１は、形状プロファイル８２を参照する。位相接続部１０１は、位相接続後の位相差画像４０Ｐを高さ算出部１０２に出力する。

図１５に示すように、位相接続部１０１は、原理的には以下のようにして位相接続を行う。図１５では、位相差画像４０の各画素１１０において、位相接続を開始する画素１１０Ｓの画素値である位相差φＳを基準として、Ｘ方向に沿う経路１１１を辿った先の画素１１０Ｅの位相差φＥを求める場合を例に説明する。この場合、画素１１０Ｅの位相差φＥは、画素１１０Ｓの位相差φＳと、画素１１０Ｓ以外の、経路１１１で繋がれた隣接する２つの画素１１０の位相差φの差分Δφの総和とを加算することで得られる。すなわち、画素１１０Ｅの位相差φＥは、次式（９）で表される。
φＥ＝φＳ＋ΣΔφ・・・（９）

ただし、Δφは、経路１１１で繋がれた隣接する２つの画素１１０のうちの画素１１０Ｓ側の画素１１０の位相差をφｉ、画素１１０Ｅ側の画素１１０の位相差をφｊとした場合、φｊ－φｉの値によって、次式（１０）、（１１）、（１２）のように変化する。すなわち、
－π＜φｊ－φｉ≦πの場合、Δφ＝φｊ－φｉ・・・（１０）
φｊ－φｉ≦－πの場合、Δφ＝φｊ－φｉ＋２π・・・（１１）
φｊ－φｉ＞πの場合、Δφ＝φｊ－φｉ－２π・・・（１２）

式（１０）の場合は、経路１１１で繋がれた隣接する２つの画素１１０において位相とびが生じていない。このため、φｊ－φｉをそのままΔφとして採用する。対して式（１１）、（１２）の場合は、経路１１１で繋がれた隣接する２つの画素１１０において位相とびが生じている。このため、φｊ－φｉに２πを加算または減算する。

このように、位相接続は、経路１１１で繋がれた隣接する２つの画素１１０の位相差φの差分Δφを次々と加算していく処理である。このため、経路１１１の途中でΔφの算出を誤ると、位相差φＥの算出結果に影響を及ぼす。したがって、実際には、位相接続部１０１は、図１５で示した直線的な経路１１１ではなく、図１６に示すように、Δφの算出を誤る可能性がある箇所１２０を避けた経路１１１を選択する。こうした位相接続の最適な経路を選択する方法としては、例えば最小全域木（ＭＳＴ；Ｍｉｎｉｍｕｍ Ｓｐａｎｎｉｎｇ Ｔｒｅｅ）法が用いられる。

図１７において、高さ算出部１０２は、位相接続部１０１からの位相接続後の位相差画像４０Ｐ、および培養面高さ８３に基づいて、細胞１２の高さＨ（Ｘ、Ｙ）を算出する。高さ算出部１０２は、高さ算出結果６３をＲＷ制御部７０に出力する。

図１８に示すように、計測結果表示画面１３０には、情報表示領域１３１と計測結果表示領域１３２とが設けられている。情報表示領域１３１には、情報入力画面９０を通じて入力された細胞１２の種類、培養日数、および培養容器１３の種類が表示される。計測結果表示領域１３２には、細胞１２の高さＨ（Ｘ、Ｙ）の三次元カラーマップ１３３が表示される。三次元カラーマップ１３３は、細胞１２の形状を三次元的に表し、高さＨ（Ｘ、Ｙ）が同じ箇所に同じ色を付したものである。三次元カラーマップ１３３の高さＨ（Ｘ、Ｙ）のゼロ点は、培養容器１３の培養面１３Ｂである。計測結果表示画面１３０は、確認ボタン１３４が選択された場合に表示が消える。

次に、上記構成による作用について、図１９のフローチャートを参照して説明する。情報処理装置１０において作動プログラム６０が起動されると、図９で示したように、情報処理装置１０のＣＰＵ５２は、ＲＷ制御部７０、取得部７１、処理部７２、および表示制御部７３として機能される。

まず、図１０で示した情報入力画面９０を通じて、ユーザにより入力された物体関連情報８０と培養面高さ関連情報８１が、取得部７１において取得される（ステップＳＴ１００）。本例においては、物体関連情報８０は、細胞１２の種類と培養日数である。また、培養面高さ関連情報８１は、培養容器１３の種類である。物体関連情報８０および培養面高さ関連情報８１は、取得部７１からＲＷ制御部７０に出力される。なお、ステップＳＴ１００は、本開示の技術に係る「取得ステップ」の一例である。

ＲＷ制御部７０によって、取得部７１からの物体関連情報８０に対応した形状プロファイル８２が、ストレージデバイス５０の形状プロファイルテーブル６１から読み出される。同様に、ＲＷ制御部７０によって、取得部７１からの培養面高さ関連情報８１に対応した培養面高さ８３が、ストレージデバイス５０の培養面高さテーブル６２から読み出される（ステップＳＴ１１０）。形状プロファイル８２および培養面高さ８３は、ＲＷ制御部７０から処理部７２に出力される。なお、ステップＳＴ１１０は、本開示の技術に係る「読み出しステップ」の一例である。

計測装置１１においては、図５で示したように、物体光３０と透過光３１の光路差がπ／２ずつシフトされ、その都度、撮像素子２２から第１干渉縞画像３４Ａ～第４干渉縞画像３４Ｄが出力される。第１干渉縞画像３４Ａ～第４干渉縞画像３４Ｄは、計測装置１１から情報処理装置１０に送信され、ＲＷ制御部７０によりストレージデバイス５０に記憶される（ステップＳＴ１２０）。

ＲＷ制御部７０によって、第１干渉縞画像３４Ａ～第４干渉縞画像３４Ｄがストレージデバイス５０から読み出され、処理部７２に出力される（ステップＳＴ１３０）。処理部７２では、図１４で示したように、位相差画像生成部１００によって、第１干渉縞画像３４Ａ～第４干渉縞画像３４Ｄから、位相差画像４０が生成される（ステップＳＴ１４０）。位相差画像４０は、位相差画像生成部１００から位相接続部１０１に出力される。

図１４～図１６で示したように、位相接続部１０１によって、形状プロファイル８２が参照されつつ、位相差画像４０に対して位相接続が施される（ステップＳＴ１５０）。位相接続後の位相差画像４０Ｐは、位相接続部１０１から高さ算出部１０２に出力される。なお、ステップＳＴ１５０は、本開示の技術に係る「位相接続ステップ」の一例である。

図１７で示したように、高さ算出部１０２によって、位相差画像４０Ｐおよび培養面高さ８３に基づいて、細胞１２の高さＨ（Ｘ、Ｙ）が算出される（ステップＳＴ１６０）。高さ算出結果６３は、高さ算出部１０２からＲＷ制御部７０に出力され、ＲＷ制御部７０によってストレージデバイス５０に記憶される。

ＲＷ制御部７０によって、高さ算出結果６３がストレージデバイス５０から読み出され、表示制御部７３に出力される。そして、表示制御部７３によって、図１８で示した計測結果表示画面１３０がディスプレイ５４に表示され、高さ算出結果６３を示す三次元カラーマップ１３３がユーザの閲覧に供される（ステップＳＴ１７０）。

以上説明したように、情報処理装置１０のＣＰＵ５２の取得部７１は、観察対象物体である細胞１２に関する物体関連情報８０を取得する。ＲＷ制御部７０は、取得した物体関連情報８０に対応した形状プロファイル８２を、ストレージデバイス５０の形状プロファイルテーブル６１から読み出す。処理部７２の位相接続部１０１は、細胞１２の高さＨ（Ｘ、Ｙ）を求めるに先立ち、読み出した形状プロファイル８２を参照して、位相差画像４０に対して位相接続を施す。このため、従来の特開２００６－２８４１８６号公報のように、細胞１２のおおよその形状を計測するための特別な機構を必要とせず、かつ、余計な計測時間を掛けることなく、位相接続の処理時間を短縮することが可能となる。

図２０は、位相接続の処理時間を短縮することが可能、という本開示の技術の効果を説明するための図である。まず、図２０Ａに示すように、形状プロファイル８２を参照しない場合、位相接続部１０１は、Δφの算出および経路１１１の選択に関わる処理１～処理Ｍを、何の指針もなく網羅的に実施しなければならない。対して図２０Ｂに示すように、本開示の技術では、形状プロファイル８２を参照することで、位相接続部１０１は、Δφの算出および経路１１１の選択に関わる処理１～処理Ｍのうちの一部の処理、例えば処理１～処理３を実施するだけで済む。あるいは図２０Ｃに示すように、位相接続部１０１は、形状プロファイル８２に応じて処理の優先順位を決める。そして、優先順位にしたがって処理を実施し、上位の処理、例えば１位～３位の処理１～処理３を実施した時点で、位相接続が満足のいく結果となったので、位相接続を終了する。このため、位相接続の処理時間を短縮することが可能となる。

ＣＰＵ５２は、細胞１２の高さ算出結果６３を表示する制御を行う。このため、高さ算出結果６３をユーザに知らしめることができる。

細胞培養の分野は、ｉＰＳ（Ｉｎｄｕｃｅｄ Ｐｌｕｒｉｐｏｔｅｎｔ Ｓｔｅｍ）細胞等の出現により、最近脚光を浴びている。このため、培養中の細胞１２を詳細に解析する技術が要望されている。本開示の技術では、観察対象物体を培養中の細胞１２としている。したがって、本開示の技術は、最近の要望に応えることができる技術であるといえる。

ＣＰＵ５２は、培養面高さ８３に関する培養面高さ関連情報８１を取得する。このため、細胞１２の高さＨ（Ｘ、Ｙ）の基準を培養面１３Ｂに定めることができ、細胞１２の高さＨ（Ｘ、Ｙ）をより正確に算出することができる。

物体関連情報８０は、細胞１２の種類および細胞の培養条件である。このため、細胞１２の種類および細胞の培養条件に見合った形状プロファイル８２を得ることができる。

なお、物体関連情報に含める細胞の培養条件は、例示した培養日数に限らない。図２１に示す物体関連情報１４０のように、培地の種類、培養環境の温度、および培養環境の二酸化炭素濃度を含んでいてもよい。培地は細胞１２の成長に必要な栄養素を与えるため、培地の種類は細胞１２の成長を左右する重要なパラメータである。培養環境の温度、および二酸化炭素濃度も、値によって細胞１２の成長を促進したり阻害したりするため、重要なパラメータである。培養日数も、言うまでもなく細胞１２の形状に関わる重要なパラメータである。このため、培養日数、培地の種類、培養環境の温度、および培養環境の二酸化炭素濃度を培養条件に含めておけば、より詳細かつ正確な形状プロファイル８２を得ることができる。なお、この場合、形状プロファイルテーブルの項目にも、培地の種類、培養環境の温度、および培養環境の二酸化炭素濃度が追加される。

物体関連情報に含める細胞の培養条件は、上記で例示した培養日数、培地の種類、培養環境の温度、および培養環境の二酸化炭素濃度のうちの少なくともいずれか１つを含んでいればよい。また、これらの他に、培養液の種類、ｐＨ、浸透圧、培養環境の酸素濃度等をさらに加えてもよい。

培養面高さ関連情報８１は、培養容器１３の型番等でもよい。また、培養面高さ関連情報８１は、培養面高さ８３そのものでもよい。この場合、培養面高さテーブル６２は不要である。

［第２実施形態］
上記第１実施形態では、位相差画像４０の全体に対して位相接続を施す例を示したが、これに限らない。図２２に示す第２実施形態のように、細胞１２の存在領域１５１に対して選択的に位相接続を施してもよい。

図２２において、第２実施形態の情報処理装置１０のＣＰＵ５２は、上記の各部７０～７３、１００～１０２に加えて、領域抽出部１５０として機能する。領域抽出部１５０は、干渉縞画像３４から細胞１２の存在領域１５１を抽出する。領域抽出部１５０は、例えば、干渉縞画像３４に映る干渉縞３３の中心ＣＰを中心とする、予め定められたサイズの正方形状の領域を、細胞１２の存在領域１５１として抽出する。領域抽出部１５０は、存在領域１５１の座標情報を位相接続部１０１に出力する。位相接続部１０１は、存在領域１５１に対応する位相差画像４０の領域に対して選択的に位相接続を施す。

このように、第２実施形態では、領域抽出部１５０は、干渉縞画像３４から細胞１２の存在領域１５１を抽出し、位相接続部１０１は、存在領域１５１に対して選択的に位相接続を施す。このため、位相接続の処理時間をさらに短縮することができる。

［第３実施形態］
上記第１実施形態では、高さ算出結果６３の表示方法として三次元カラーマップ１３３を例示したが、これに限らない。図２３～図２５に示す第３実施形態のように、細胞１２の任意の断層面１６６を表す再生画像１６１に、高さ算出結果６３を重畳表示してもよい。

図２３において、第３実施形態の情報処理装置１０のＣＰＵ５２は、上記の各部７０～７３、１００～１０２に加えて、生成部１６０として機能する。生成部１６０は、例えばフーリエ反復位相回復法による演算処理等の周知の演算処理を用いて、干渉縞画像３４から再生画像１６１を生成する。生成部１６０は、再生画像１６１を表示制御部７３に出力する。

図２４に、生成部１６０による演算処理の概要を示す。生成部１６０は、まず、干渉縞画像３４から再生画像群１６５を生成する。再生画像群１６５は、複数枚の再生画像１６１の集まりである。これら複数枚の再生画像１６１はそれぞれ、Ｚ方向に沿う細胞１２および培養容器１３の高さ（厚み）方向に、等間隔で並んだ各断層面１６６を表す画像である。

生成部１６０は、再生画像群１６５の複数枚の再生画像１６１の中から、最もピントが合った１枚の再生画像１６１を選択する。生成部１６０は、選択した再生画像１６１を表示制御部７３に出力する。なお、最もピントが合った再生画像１６１を選択する方法としては、複数枚の再生画像１６１のそれぞれのコントラスト値を算出し、コントラスト値が最も高い再生画像１６１を、最もピントが合った再生画像１６１として選択する方法等を採用することができる。

図２５に示すように、第３実施形態の計測結果表示画面１７０の計測結果表示領域１３２には、三次元カラーマップ１３３の代わりに、再生画像１６１が表示される。そして、再生画像１６１には、細胞１２の高さＨ（Ｘ、Ｙ）に応じた色が付されている。つまり、再生画像１６１に高さ算出結果６３が重畳表示されている。計測結果表示領域１３２には、細胞１２の高さＨ（Ｘ、Ｙ）と色の対応関係を示すカラーバー１７１が表示されている。

このように、第３実施形態では、生成部１６０は、干渉縞画像３４から再生画像１６１を生成し、表示制御部７３は、再生画像１６１に高さ算出結果６３を重畳表示する。このためユーザは、再生画像１６１と併せて高さ算出結果６３を確認することができ、細胞１２の解析が捗る。

培養面高さ関連情報８１は、必ずしも取得しなくてもよい。培養面高さ関連情報８１を取得しない場合は、培養面高さ８３を含めた高さＨ（Ｘ、Ｙ）＋ｈを、細胞１２の高さとして算出する。

観察対象物体の形状は、例示のＺ方向に沿う高さＨ（Ｘ、Ｙ）に限らない。高さＨ（Ｘ、Ｙ）に代えて、あるいは加えて、Ｘ方向およびＹ方向の幅であってもよい。

位相シフト法の例として４ステップ法を挙げたが、これに限らない。３ステップ法、５ステップ法、７ステップ法等を用いてもよい。また、位相シフト法にも限らない。照明光を白色光とし、対物レンズをＺ方向に移動させつつ、複数枚の干渉縞画像３４を撮像する垂直走査法を用いてもよい。また、参照光の参照面を傾斜させてキャリア縞を生じさせる方法を用いてもよい。

観察対象物体は例示の細胞１２に限らない。細菌、ウイルス等を観察対象物体としてもよい。また、物体光は、観察対象物体を透過した物体光３０に限らず、観察対象物体を反射した物体光でもよい。さらに、光源２０からのコヒーレント光２３を、ビームスプリッタ等を用いて物体光用と参照光用とに分光してもよい。また、照明光はコヒーレント光２３でなくてもよく、観察に耐え得る干渉縞３３が生じるものであればよい。

情報処理装置１０を構成するコンピュータのハードウェア構成は種々の変形が可能である。例えば、情報処理装置１０を、処理能力および信頼性の向上を目的として、ハードウェアとして分離された複数台のコンピュータで構成することも可能である。例えば、ＲＷ制御部７０、取得部７１、および表示制御部７３の機能と、処理部７２の機能とを、２台のコンピュータに分散して担わせる。この場合は２台のコンピュータで情報処理装置１０を構成する。

このように、情報処理装置１０のコンピュータのハードウェア構成は、処理能力、安全性、信頼性等の要求される性能に応じて適宜変更することができる。さらに、ハードウェアに限らず、作動プログラム６０等のアプリケーションプログラムについても、安全性および信頼性の確保を目的として、二重化したり、あるいは、複数のストレージデバイスに分散して格納することももちろん可能である。

上記各実施形態において、例えば、ＲＷ制御部７０、取得部７１、処理部７２、表示制御部７３、位相差画像生成部１００、位相接続部１０１、高さ算出部１０２、領域抽出部１５０、および生成部１６０といった各種の処理を実行する処理部（Ｐｒｏｃｅｓｓｉｎｇ Ｕｎｉｔ）のハードウェア的な構造としては、次に示す各種のプロセッサ（Ｐｒｏｃｅｓｓｏｒ）を用いることができる。各種のプロセッサには、上述したように、ソフトウェア（作動プログラム６０）を実行して各種の処理部として機能する汎用的なプロセッサであるＣＰＵ５２に加えて、ＦＰＧＡ（Ｆｉｅｌｄ Ｐｒｏｇｒａｍｍａｂｌｅ Ｇａｔｅ Ａｒｒａｙ）等の製造後に回路構成を変更可能なプロセッサであるプログラマブルロジックデバイス（Ｐｒｏｇｒａｍｍａｂｌｅ Ｌｏｇｉｃ Ｄｅｖｉｃｅ:ＰＬＤ）、ＡＳＩＣ（Ａｐｐｌｉｃａｔｉｏｎ Ｓｐｅｃｉｆｉｃ Ｉｎｔｅｇｒａｔｅｄ Ｃｉｒｃｕｉｔ）等の特定の処理を実行させるために専用に設計された回路構成を有するプロセッサである専用電気回路等が含まれる。

１つの処理部は、これらの各種のプロセッサのうちの１つで構成されてもよいし、同種または異種の２つ以上のプロセッサの組み合わせ（例えば、複数のＦＰＧＡの組み合わせ、および／または、ＣＰＵとＦＰＧＡとの組み合わせ）で構成されてもよい。また、複数の処理部を１つのプロセッサで構成してもよい。

複数の処理部を１つのプロセッサで構成する例としては、第１に、クライアントおよびサーバ等のコンピュータに代表されるように、１つ以上のＣＰＵとソフトウェアの組み合わせで１つのプロセッサを構成し、このプロセッサが複数の処理部として機能する形態がある。第２に、システムオンチップ（Ｓｙｓｔｅｍ Ｏｎ Ｃｈｉｐ:ＳｏＣ）等に代表されるように、複数の処理部を含むシステム全体の機能を１つのＩＣ（Ｉｎｔｅｇｒａｔｅｄ Ｃｉｒｃｕｉｔ）チップで実現するプロセッサを使用する形態がある。このように、各種の処理部は、ハードウェア的な構造として、上記各種のプロセッサの１つ以上を用いて構成される。

さらに、これらの各種のプロセッサのハードウェア的な構造としては、より具体的には、半導体素子等の回路素子を組み合わせた電気回路（ｃｉｒｃｕｉｔｒｙ）を用いることができる。

本開示の技術は、上述の種々の実施形態と種々の変形例を適宜組み合わせることも可能である。また、上記各実施形態に限らず、要旨を逸脱しない限り種々の構成を採用し得ることはもちろんである。さらに、本開示の技術は、プログラムに加えて、プログラムを非一時的に記憶する記憶媒体にもおよぶ。

以上に示した記載内容および図示内容は、本開示の技術に係る部分についての詳細な説明であり、本開示の技術の一例に過ぎない。例えば、上記の構成、機能、作用、および効果に関する説明は、本開示の技術に係る部分の構成、機能、作用、および効果の一例に関する説明である。よって、本開示の技術の主旨を逸脱しない範囲内において、以上に示した記載内容および図示内容に対して、不要な部分を削除したり、新たな要素を追加したり、置き換えたりしてもよいことはいうまでもない。また、錯綜を回避し、本開示の技術に係る部分の理解を容易にするために、以上に示した記載内容および図示内容では、本開示の技術の実施を可能にする上で特に説明を要しない技術常識等に関する説明は省略されている。

本明細書において、「Ａおよび／またはＢ」は、「ＡおよびＢのうちの少なくとも１つ」と同義である。つまり、「Ａおよび／またはＢ」は、Ａだけであってもよいし、Ｂだけであってもよいし、ＡおよびＢの組み合わせであってもよい、という意味である。また、本明細書において、３つ以上の事柄を「および／または」で結び付けて表現する場合も、「Ａおよび／またはＢ」と同様の考え方が適用される。

本明細書に記載された全ての文献、特許出願および技術規格は、個々の文献、特許出願および技術規格が参照により取り込まれることが具体的かつ個々に記された場合と同程度に、本明細書中に参照により取り込まれる。

Claims (11)

1. 観察対象物体によって回折された照明光である物体光と、前記観察対象物体を経ない参照光との干渉縞の強度の二次元分布である干渉縞画像から、前記物体光と前記参照光との位相差の二次元分布である位相差画像を求め、前記位相差画像に基づいて、前記観察対象物体の形状を求める処理を行う情報処理装置において、
   少なくとも１つのプロセッサを備え、
   前記プロセッサは、
   前記観察対象物体に関する物体関連情報を取得し、
   前記物体関連情報と、前記観察対象物体の形状を示す形状プロファイルとが関連付けて記憶された記憶部から、取得した前記物体関連情報に対応した前記形状プロファイルを読み出し、
   読み出した前記形状プロファイルを参照して、前記位相差画像に対して位相接続を施す、
   情報処理装置。
2. 前記プロセッサは、
   前記干渉縞画像から前記観察対象物体の存在領域を抽出し、
   前記存在領域に対して選択的に前記位相接続を施す請求項１に記載の情報処理装置。
3. 前記プロセッサは、前記観察対象物体の形状の算出結果を表示する制御を行う請求項１または請求項２に記載の情報処理装置。
4. 前記プロセッサは、
   前記干渉縞画像から、前記観察対象物体の任意の断層面を表す再生画像を生成し、
   前記再生画像に前記観察対象物体の形状の算出結果を重畳表示する請求項３に記載の情報処理装置。
5. 前記観察対象物体の形状は、前記照明光の照射方向に沿う前記観察対象物体の高さである請求項１から請求項４のいずれか１項に記載の情報処理装置。
6. 前記観察対象物体は培養中の細胞である請求項１から請求項５のいずれか１項に記載の情報処理装置。
7. 前記プロセッサは、前記細胞の培養容器の底面から培養面までの高さに関する培養面高さ関連情報を取得する請求項６に記載の情報処理装置。
8. 前記物体関連情報は、前記細胞の種類および前記細胞の培養条件である請求項６または請求項７に記載の情報処理装置。
9. 前記培養条件は、培養日数、培地の種類、培養環境の温度、および培養環境の二酸化炭素濃度のうちの少なくともいずれか１つを含む請求項８に記載の情報処理装置。
10. 観察対象物体によって回折された照明光である物体光と、前記観察対象物体を経ない参照光との干渉縞の強度の二次元分布である干渉縞画像から、前記物体光と前記参照光との位相差の二次元分布である位相差画像を求め、前記位相差画像に基づいて、前記観察対象物体の形状を求める処理を行う情報処理装置の作動方法において、
    前記観察対象物体に関する物体関連情報を取得する取得ステップと、
    前記物体関連情報と、前記観察対象物体の形状を示す形状プロファイルとが関連付けて記憶された記憶部から、前記取得ステップにおいて取得した前記物体関連情報に対応した前記形状プロファイルを読み出す読み出しステップと、
    前記読み出しステップにおいて読み出した前記形状プロファイルを参照して、前記位相差画像に対して位相接続を施す位相接続ステップと、
    を備える情報処理装置の作動方法。
11. 観察対象物体によって回折された照明光である物体光と、前記観察対象物体を経ない参照光との干渉縞の強度の二次元分布である干渉縞画像から、前記物体光と前記参照光との位相差の二次元分布である位相差画像を求め、前記位相差画像に基づいて、前記観察対象物体の形状を求める処理を行う情報処理装置の作動プログラムにおいて、
    前記観察対象物体に関する物体関連情報を取得する取得部と、
    前記物体関連情報と、前記観察対象物体の形状を示す形状プロファイルとが関連付けて記憶された記憶部から、前記取得部において取得した前記物体関連情報に対応した前記形状プロファイルを読み出す読み出し部と、
    前記読み出し部において読み出した前記形状プロファイルを参照して、前記位相差画像に対して位相接続を施す位相接続部として、
    コンピュータを機能させる情報処理装置の作動プログラム。

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